JPS58174833A - 蛍光光度計 - Google Patents

蛍光光度計

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JPS58174833A
JPS58174833A JP57056550A JP5655082A JPS58174833A JP S58174833 A JPS58174833 A JP S58174833A JP 57056550 A JP57056550 A JP 57056550A JP 5655082 A JP5655082 A JP 5655082A JP S58174833 A JPS58174833 A JP S58174833A
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • GPHYSICS
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    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N2021/6491Measuring fluorescence and transmission; Correcting inner filter effect

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は蛍光光度計の改良に係り、特に低濃度試料にお
いては光源変動による悪影Wt−精度よく補正し、高濃
度試料においては検量線の曲り全補正するようにした蛍
光光度計に関する。
蛍光光度計における光源としては、キセノンランプが広
く用いられているが、キセノンランプのアーク位置の移
動による光源変動全補正しなければならない。又特に高
濃度試料の測定においては試料内での消光による検を特
性の劣下を防止しなければならない。
このため従来の蛍光光度針においては、光源からの光を
試料前においてビームスプリッタ音用いて二元路に分割
し一方ケ試料に当て試料の発する蛍光を検出し、一方?
モニタ信号とし、試料側(蛍光)信号音モニタ910信
号で割s金する方式がとられていた。
しかしながらこの従来の方式においては、上記のような
補正は不完全であった。
Mlに、キセノンランプのアーク位置の移動がしばしは
問題となる。蛍光光度針においてはこれか元軸のずれと
なり最薊的には1a号レベルの変動となる。上記従来の
装置のごとく励起′yt、葡二光路に分割した場合、モ
ニタ測光路と試料側光路では光源変動による動性が異な
るため比演′117−紫行なっても出力変動全完全に補
正することが出来なかった。第2に、試料濃度が読くな
った場合、試料内分子間の相互作用による消光の外に、
励起光が試料セルの中心に達するまでに無視できない量
の吸収を受けることがある。このため高濃度領域での検
量線が劣下し上記従来の二元路方式ではこれ全完全に補
正することができなかった。第1図、第2図はこの検量
特性全説明するための図である。
例えば、第1図において、セルの内壁間のmtws試料
位置における像の11@ f 1a:とじ、励起光の光
軸の方向にX@全とり、Xの位置における励起光強度■
(λ、X)’(r求めると次式の通りとなる。
■(λ、XJ−I(λ+ 0)exp[g(λ)c−x
 ) =・・(1)但し■(λ、0)は、試料に入射直
前の励起光強度、6(λ)はモル吸光係数、Cは濃度で
ある。
dXの部分で吸収される光は、 d)(λ、 x)=I(λ、x)g(λ)cdx   
 ・・・・・・・・・(2)となる。
aXの部分の発する蛍光で蛍光側分光器に取し込捷れる
ものは、 dF(λ、 x)=(g/n”)Ql (λ、x)g(
λ)cdx  ・”−−となる。但しgは幾何学的定数
、■は溶液の屈折率、Qは試料の量子収率である。
実際には、第1図におけるaの区間の部分の発する蛍光
が、蛍光側分光器に取り込まれるわけなので、観測さ扛
る蛍元強#は次式のようになる。
0式に基づき、濃度Cと蛍光強度F(λ)の関係全図示
すると、第2図のようになり、高濃度領域で検量線が者
しく劣下することがわかる。
本発明は上記従来の二元路方式では不完全であった光源
変動による出力信号レベルの補正、高濃度試料における
検量特性の補正を高精度かつ完全に行うことt目的とす
るものである。
本発明の性徴は上記目的達成のために励起九會試料前に
おいてに分割しないで、モニタ用検知器を試料セルの後
方に設けて試料透過光を検知し、これ全補正用のモニタ
信号とすることにある。通常の試料すなわち希薄な試料
においては、該透過光強度で蛍光強度を演算する構成と
した。又、尚濃度試料においては透過光強度の平方根で
割算する構成とした。
以下、本発明の一実施例全図面音用いて説明する。m3
図は本発明の基本原理を示す図である。
光源100よシ出た光はレンズ102で集光され入射ス
リット104、凹面回折格子106、出射スリット10
8よりなる励起側分光器により分光され、トロイドミラ
ー110、レンズ112により来光されて70−セル2
00に入射する。フローセル中の試料の発する蛍光は、
レンズ302により集光され、入射スリット304、凹
面回折格子306、出射スリット308よシなる蛍光側
分光器によシ分元されて、蛍光測定用検知器402に入
射し蛍光強度に応じた信号が得られる。他方、フローセ
ル200を透過した励起光は、フォトセル404に入射
し、透過光強度に応じた信号が得られる。これ等蛍光強
度に応じた信号と透過光強度に応じた信号は、処理ユニ
ット406で処理される。処理ユニット406には割算
器498が内在されており、蛍光強度に応じた信号が透
過光強度に応じた信号で演算する比演算が行われる。処
理ユニット406の出力は出力表示装置410によp表
示される。液り日用蛍光光度計が本来濃度の低い試料會
対象とするのに加え、第3図の構成においては、励起光
が試料全通過する際の光路長が極めて短かいため、励起
光に対する吸光度は、0、O1〜0.001程度の小さ
い値となる。従って、光源変動補正のため透過光で比演
算全行なっても、試料による光の吸収の影#は無視でき
る。試料の透過光をモニタ信号として用いるため、従来
の二元路方式のごとく光源変動の影響の不一致による補
正の不完全さも解消され、光源変動による影響會n贋よ
く補正することができる。本実施例においては液り日用
蛍光光度計を取り上げたが、通常の試料セル全開いた蛍
i元度計においても多くの場合おてはまる。
第4図は本発明の他の実施例を示す図である。
光源100より出た元は、励起側分光器1で分光され集
光鏡112で集光されfc後試料セル200に入射する
。試料セル内の試料の発する蛍光は、集光@302で集
光された後蛍光側分元器3で分光されて、蛍光測定用検
知器402によ勺蛍光強度に応じた信号が検知される。
一方、試料セル200を透過した光はフォトセル404
に入射し、入力される。透過元側信号は増幅器414で
増幅された後、開平演算器416で平方根に変換されて
スイッチ418を介して演算器418へ入力される。割
算器408においては、蛍光側出力が透過光側出力の平
方根で割算され、割算の結果は係数掛算器420で定数
がかけられた後出力表示装置410にて表示される。m
1図顛示した如く試料セルの内壁間隔=1wとすると、
蛍元元学系の元@がセル中心を通ることから、光が試料
中ThW/2の距離進んだ点で蛍光が、蛍光側分光光度
計に取り込まれる。他方透過元側フ第1・セル404に
取り込まれる光は試料中iWの距離進んだ光である。
セル中心の試料を励起する光の強度を■(λ、W)とす
ると、 ■(λ、W/2)=I(λ、0)exp[g(λ)CW
/2]  ・−・・−■(礼W)=I(λ、01exp
[−g(λ) c W]    −−−−−−−−−弐
 式から I(λ、w/2)=v’TTT7Fl +vTT 耳1
Y=KV’I(αr W)     ・・・・・・・・
・但し、Kは定数 従って、透過光の平方根は試料中心における励起光に比
例していることが理解される。即ち、透過光を開平演算
器416で平方根に変換した値で蛍光強度に応じた信号
を比演算することは、試料中心における励起光強度I(
λ、W/2)に比例した値で割算を行うことを意味し、
励起光が試料中でうける消光、吸収に無関係な蛍光強度
を得ることができる。この値は、とりもなおさず試料濃
度に比例する値であり、高濃度領域まで検量線全直線に
保つこと全意味する。第5図はこの状態會示す図である
。同図において実線で示した如く、蛍光強度F調音透過
元強度の平方根V111■了で比演算した値は高m度領
域においても直線性を保っていることが理解できる。
AI 従って、m4図実施例によれば試料の高S度領域まで検
量特性を劣下させることなく信号レベル全補正すること
が出来る。
又、低濃度試料の測定に当っては、スイッチ418を切
り換えることによって透過光強度の平方根をとらずに割
算器408に入力することが出来るように構成されてい
る。
次に、透過光側フォトセル404の出力は、増幅された
後対数変換器422で対数変換されスイッチ424を介
して蛍光測定結果と同時に出力表示することも可能であ
る。これにより吸光度と蛍光強度を同時に測定すること
が可能となる。従来は蛍光測定における検量線の曲がり
のために、吸光測定を行う濃度領域においては、蛍光測
定は不OJ能であったが、本実施例においては、上述の
ごとく同時測定が可能となる。これにjp、同一試料濃
度における吸光度と蛍光度全比較することが出来、定性
分析のための多くの情報が得られる。
又、本実施例に必要な演算手段−を追加することにより
量子収率の算出も可能となる。
(10) 以上のごとく本発明によれば、通常の試料においては、
光源変動補正の効果が著しく向上する。
特に光源の発光点の移動が問題となる場合には、従来の
比測光に対し数倍補正精度を向上させることが出来る。
又、高濃度試料においては検量線の曲がり葡幼釆的に補
正することができる。この結果、定量分析の濃度領域が
拡大するのみならず、吸光度と蛍光強度の同時測定が可
能となる。これにより定性分析をより正確なものにする
ことができるとともに量子収率の宵出會よシ容易にする
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、試料セルにおける測光状態を示す図、第2図
は、従来の蛍光光度計における試料濃度に対する検量特
性金示す図、第3図は、本発明の一実施例である蛍光光
度計の基本原理を示す図、第4図は、本発明の他の実施
例で、特に高濃度試料の測定に適した蛍光光度計の構成
を示す図、m5図は、第4図に示した実施例における試
料濃度に対する検量特性を示す図である。 (11) 1・・・励起側分光器、3・・・蛍光側分光器、100
・・・光源、200・・・試料セル、402・・・蛍光
測定用検知器、404・・・フォトセル、406・・・
処理ユニッ)、408・・・割算器、410・・・出力
表示装置、11 (12) 竿 j 図 OK−+  W 第 2 図 茶 3 図 「

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、%定波長の励起光を試料に照射する励起光学知手段
    と、試料を透過した透過光を検知する透過光検知手段と
    、該蛍光検知手段の出力金該透過元検知手段の出力で比
    演算する割算手段を有すること’に%徴とする蛍光光度
    針。 2、特定波長の励起光を試料に照射する励起光字m、試
    料の発する蛍光を検知する蛍光検知手段と、試料を透過
    した透過光を検知する透過光検知手段と、該透過光検知
    手段の出力信号を開平演算する開平演算器と、前記蛍光
    検知手段の出力′t−該開平演算器出力で比演算する割
    算器を有することを特徴とする蛍光光度計。 3、%定波長の励起光全試料に照射する励起光学a 、試料の発する蛍光を検知する蛍光検 知手段と、試料を透過した透過光を検知する透過光検知
    手段と、該透過光検知手段出力を開平演算する開平演算
    器と、前記蛍光検知手段の出力を該開平演算器出力で比
    演算する割算器と、該透過光検知手段出力金対数演算す
    る対数変換器を有することt%徴とする蛍光光度計。
JP57056550A 1982-04-07 1982-04-07 蛍光光度計 Granted JPS58174833A (ja)

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