JPS61116627A - 分光蛍光光度計 - Google Patents
分光蛍光光度計Info
- Publication number
- JPS61116627A JPS61116627A JP59238987A JP23898784A JPS61116627A JP S61116627 A JPS61116627 A JP S61116627A JP 59238987 A JP59238987 A JP 59238987A JP 23898784 A JP23898784 A JP 23898784A JP S61116627 A JPS61116627 A JP S61116627A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fluorescence
- detection system
- shutter
- light
- slit plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims abstract description 19
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 9
- 238000001917 fluorescence detection Methods 0.000 claims abstract description 8
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 abstract description 10
- 238000012937 correction Methods 0.000 abstract description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000000695 excitation spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000002189 fluorescence spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/44—Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
- G01J3/4406—Fluorescence spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
- G01J1/1626—Arrangements with two photodetectors, the signals of which are compared
- G01J2001/1636—Arrangements with two photodetectors, the signals of which are compared one detector directly monitoring the source, e.g. also impulse time controlling
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/04—Slit arrangements slit adjustment
- G01J2003/042—Slit wheel
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J2003/2866—Markers; Calibrating of scan
- G01J2003/2873—Storing reference spectrum
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、データ処理機能を有する分光蛍光光度計に係
プ、特にスペクトル補正処理を必要とする測定に好適な
分光蛍光光度計に関する。
プ、特にスペクトル補正処理を必要とする測定に好適な
分光蛍光光度計に関する。
蛍光光度計で、試料の励起または蛍光スペクトルを測定
すると、試料固有のスペクトルに光源など、光度計の波
長特性が重畳する。このため、試料固有のスペクトルの
みを取り出すためには、光度計の波長特性を除去するス
ペクトル補正処理が必要である。従来は、特開昭５３−
５０８８５号公報に示されているように、光源の波長特
性を除去するために、光源光量をモニタ検知系で測定し
蛍光検知系で測定した蛍光強度との比を取っている。
すると、試料固有のスペクトルに光源など、光度計の波
長特性が重畳する。このため、試料固有のスペクトルの
みを取り出すためには、光度計の波長特性を除去するス
ペクトル補正処理が必要である。従来は、特開昭５３−
５０８８５号公報に示されているように、光源の波長特
性を除去するために、光源光量をモニタ検知系で測定し
蛍光検知系で測定した蛍光強度との比を取っている。
ここで、モニタ信号（ＩＭ）は、光源光量に比例した成
分ＩＭ’とモニタ検知系の０点のずれＩｓ＜ｏに、蛍光
信号（Ｉｓ ）は、蛍光残置に比例した成分Ｉｓ’と蛍
光検知系の０点ずれＩ＋ｏに分けられる。
分ＩＭ’とモニタ検知系の０点のずれＩｓ＜ｏに、蛍光
信号（Ｉｓ ）は、蛍光残置に比例した成分Ｉｓ’と蛍
光検知系の０点ずれＩ＋ｏに分けられる。
この中で％Ｉ＃＠については、試料セルへの入射光を遮
断して測定し、Ｉｇから差し引いている。従って、演算
器による比演算後の測光値Ｉは、Ｉ＝（Ｉｓ Ｉ真
０）／工菖＝（Ｉａ’＋Ｉｍｏ Ｌ＋ｏ）／（Ｉｍ
’＋Ｉｍｅ）＝工麿′／（工誠’＋Ｉ輩Ｇ） となる。上式から、ＩＭ’がｌ１ｌｌ＞に比べて十分大
きい時には、力源の波長特性は測光値工に影響しないが
％ＩＭ’がＩＩＩ＠と同程度またけＩＭ’＜ＩＭ（１と
なった場合には、Ｉｖ◎が無視できず、補正精度が悪く
なる欠点があった。
断して測定し、Ｉｇから差し引いている。従って、演算
器による比演算後の測光値Ｉは、Ｉ＝（Ｉｓ Ｉ真
０）／工菖＝（Ｉａ’＋Ｉｍｏ Ｌ＋ｏ）／（Ｉｍ
’＋Ｉｍｅ）＝工麿′／（工誠’＋Ｉ輩Ｇ） となる。上式から、ＩＭ’がｌ１ｌｌ＞に比べて十分大
きい時には、力源の波長特性は測光値工に影響しないが
％ＩＭ’がＩＩＩ＠と同程度またけＩＭ’＜ＩＭ（１と
なった場合には、Ｉｖ◎が無視できず、補正精度が悪く
なる欠点があった。
本発明の目的は、光度計の波長特性を精度よく補正し、
試料固有のスペクトルをより精度よく測定できる分光蛍
光光度計を提供することにおる。
試料固有のスペクトルをより精度よく測定できる分光蛍
光光度計を提供することにおる。
本発明は、従来の分光蛍光光度計による実験中にスペク
トル補正精度が悪化する原因について検討した結果、従
来無視していたモニタ検知系００点ずれが原因であるこ
とを見い出し、参照光検知系と蛍光検知系への入射光を
遮断するシャッターを設けるようにしたものである。
トル補正精度が悪化する原因について検討した結果、従
来無視していたモニタ検知系００点ずれが原因であるこ
とを見い出し、参照光検知系と蛍光検知系への入射光を
遮断するシャッターを設けるようにしたものである。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。第
１図において％Ｘｅ−ランプから出射された光束は、レ
ンズ１２によシ集光され、励起側スリット板１４０入射
スリツ）１４Ａを通って、励起側グレーティング１６に
よシ分光される。分光された励起光は、励起側スリット
板１４の出射スリット１４Ｂ１ミラー２０、レンズ２２
を通って、試料セル２４に照射される。一方励起光の一
部は、ビームスプリッタ１８、ミラー２６、励起側スリ
ット板に設けた窓２８を通って、モニタ検知器３０によ
シ、その光量が測定される。試料セル２４で発生した蛍
光はレンズ３２により集光され、蛍光側スリット板３４
０入射スリツト３４Ａを通って、蛍光側グレーティング
３６により分光される。分光された蛍光は、蛍光側スリ
ット板３４の出射スリット３４Ｂ１ ミラー３８ｔｌ−
通って蛍光検知器４０で強度が測定される。また、スリ
ット板１４，３４、シャッター４８は、制御系４２によ
〕制御されており、励起光のモニタ信号ＩＮ、蛍光信号
ニーはそれぞれ増幅器４４人。
１図において％Ｘｅ−ランプから出射された光束は、レ
ンズ１２によシ集光され、励起側スリット板１４０入射
スリツ）１４Ａを通って、励起側グレーティング１６に
よシ分光される。分光された励起光は、励起側スリット
板１４の出射スリット１４Ｂ１ミラー２０、レンズ２２
を通って、試料セル２４に照射される。一方励起光の一
部は、ビームスプリッタ１８、ミラー２６、励起側スリ
ット板に設けた窓２８を通って、モニタ検知器３０によ
シ、その光量が測定される。試料セル２４で発生した蛍
光はレンズ３２により集光され、蛍光側スリット板３４
０入射スリツト３４Ａを通って、蛍光側グレーティング
３６により分光される。分光された蛍光は、蛍光側スリ
ット板３４の出射スリット３４Ｂ１ ミラー３８ｔｌ−
通って蛍光検知器４０で強度が測定される。また、スリ
ット板１４，３４、シャッター４８は、制御系４２によ
〕制御されており、励起光のモニタ信号ＩＮ、蛍光信号
ニーはそれぞれ増幅器４４人。
４４Ｂを通して演算器４６に送られ、測光値工が算出さ
れる。蛍光測定時には、最初に、検知系のゼロ点ずれＩ
ＭＯ，ｌｌ（１を測定するために、シャッター４８を閉
じ、励起側スリット板１４を５ｘｅ−ランプの光がモニ
タ検知器忙入射・しない位置まで回転させる。この時の
モニタ検知器、蛍光検知器の測定値をＩｍｏ、Ｉｓｏと
して、演算器４６内に記憶する。次に、シャッター４８
を開き、励起側スリット板１４を図の状態に戻して、モ
ニタ信号Ｉ ｗ 、蛍光信号Ｉｓを測定し、次式によシ
測光値Ｉを算出する。
れる。蛍光測定時には、最初に、検知系のゼロ点ずれＩ
ＭＯ，ｌｌ（１を測定するために、シャッター４８を閉
じ、励起側スリット板１４を５ｘｅ−ランプの光がモニ
タ検知器忙入射・しない位置まで回転させる。この時の
モニタ検知器、蛍光検知器の測定値をＩｍｏ、Ｉｓｏと
して、演算器４６内に記憶する。次に、シャッター４８
を開き、励起側スリット板１４を図の状態に戻して、モ
ニタ信号Ｉ ｗ 、蛍光信号Ｉｓを測定し、次式によシ
測光値Ｉを算出する。
Ｉ ＝ （Ｉｓ Ｉｇｏ ）／（ＩＭ ＩＭＯ）＝
（Ｉν 十工麿＠ Ｉｍｏ ）／（１誠’＋Ｉ 誠
◎−ＩＭ◎）＝工麿’／Ｉ麗′ 上式より、モニタ信号（励起光の強度）に関係なくＸｅ
−ランプの波長特性を精度よく除去できることがわかる
。
（Ｉν 十工麿＠ Ｉｍｏ ）／（１誠’＋Ｉ 誠
◎−ＩＭ◎）＝工麿’／Ｉ麗′ 上式より、モニタ信号（励起光の強度）に関係なくＸｅ
−ランプの波長特性を精度よく除去できることがわかる
。
第２図は、従来例と、本発明との比較を示したものであ
る。（イ）が従来例、（ロ）が本発明を示す。従来例で
は、モニタ検知系の０点ずれＩＭ６を差し引いていない
ために、ランプの光量が小さい波長域で補正誤差が目立
つのに対して、本発明では、測光値が試料のスペクトル
と一致する。また、本発明ではモニタ検知器への入射光
を遮断してＩＭＯを測定するため釦、分光器に不可欠な
スリット機構を利用しているため、補正精度は、大幅に
向上しているにもかかわらず、機構的には従来と同じで
ある。尚、本発明においては、′蛍光検知系への入射光
の遮断にシャッター４８を使用しているが、蛍光側スリ
ット板３４を回転させて行っても同様の効果が得られる
。
る。（イ）が従来例、（ロ）が本発明を示す。従来例で
は、モニタ検知系の０点ずれＩＭ６を差し引いていない
ために、ランプの光量が小さい波長域で補正誤差が目立
つのに対して、本発明では、測光値が試料のスペクトル
と一致する。また、本発明ではモニタ検知器への入射光
を遮断してＩＭＯを測定するため釦、分光器に不可欠な
スリット機構を利用しているため、補正精度は、大幅に
向上しているにもかかわらず、機構的には従来と同じで
ある。尚、本発明においては、′蛍光検知系への入射光
の遮断にシャッター４８を使用しているが、蛍光側スリ
ット板３４を回転させて行っても同様の効果が得られる
。
本発明によれば、光源の光量（励起光強度）に関係なく
、蛍光光度計によって得られたスペクト ・ルから、
光源の波長特性を除去することができる。
、蛍光光度計によって得られたスペクト ・ルから、
光源の波長特性を除去することができる。
これにより、蛍光光度計にとって、最大の問題である、
スペクトル補正の精度を向上させ、試料固有のスペクト
ルをより簡単に測定できる効果がある。
スペクトル補正の精度を向上させ、試料固有のスペクト
ルをより簡単に測定できる効果がある。
第１図は本発明の一実施例を説明した図、第２図は従来
例と本発明の一実施例とのデータ比較を示す図である。 ｌＯ・・・Ｘｅ−ランプ、１４・・・励起側スリット板
、１６・・・励起側グレーティング、１８・・・ビーム
スプリッタ、２４・・・試料セル、３０・・・モニタ検
知器、３４・・・蛍光側スリット板、３６・・・蛍光側
グレーティング、４０・・・蛍光検知器、４２・・・制
御系、４６・・・演算器。 第１閉 第２辺
例と本発明の一実施例とのデータ比較を示す図である。 ｌＯ・・・Ｘｅ−ランプ、１４・・・励起側スリット板
、１６・・・励起側グレーティング、１８・・・ビーム
スプリッタ、２４・・・試料セル、３０・・・モニタ検
知器、３４・・・蛍光側スリット板、３６・・・蛍光側
グレーティング、４０・・・蛍光検知器、４２・・・制
御系、４６・・・演算器。 第１閉 第２辺
Claims (1)
- １、光源と励起側分光器と励起光量をモニタする参照光
検知系と、蛍光側分光器と蛍光検知系と参照信号値と蛍
光信号値から測光値を算出する演算器とからなる分光蛍
光光度計において、参照光検知系と蛍光検知系への入射
光を遮断するシャッターを設けたことを特徴とする分光
蛍光光度計。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59238987A JPS61116627A (ja) | 1984-11-12 | 1984-11-12 | 分光蛍光光度計 |
| DE19853539977 DE3539977A1 (de) | 1984-11-12 | 1985-11-11 | Spektrofluorophotometer |
| US06/796,808 US4779982A (en) | 1984-11-12 | 1985-11-12 | Spectrofluorophotometer with monitor detector for light source |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59238987A JPS61116627A (ja) | 1984-11-12 | 1984-11-12 | 分光蛍光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61116627A true JPS61116627A (ja) | 1986-06-04 |
Family
ID=17038237
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59238987A Pending JPS61116627A (ja) | 1984-11-12 | 1984-11-12 | 分光蛍光光度計 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4779982A (ja) |
| JP (1) | JPS61116627A (ja) |
| DE (1) | DE3539977A1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6317423U (ja) * | 1986-07-17 | 1988-02-05 | ||
| US7875658B2 (en) | 2003-04-17 | 2011-01-25 | Wacker Chemie Ag | Expansible mixtures devoid of isocyanates exhibiting improved fire behaviour |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3915421C2 (de) * | 1989-05-11 | 1995-03-02 | Bayer Ag | Vorrichtung zur Messung der Fluoreszenzanregung biologischer Zellen bei zwei verschiedenen Wellenlängen |
| US6155489A (en) * | 1998-11-10 | 2000-12-05 | Ncr Corporation | Item checkout device including a bar code data collector and a produce data collector |
| US6332573B1 (en) | 1998-11-10 | 2001-12-25 | Ncr Corporation | Produce data collector and produce recognition system |
| US6431446B1 (en) | 1999-07-28 | 2002-08-13 | Ncr Corporation | Produce recognition system and method |
| US7151270B2 (en) * | 2003-05-02 | 2006-12-19 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Method for classifying object image regions of an object to be detected using a scanning microscope |
| US8760645B2 (en) | 2011-05-24 | 2014-06-24 | Idexx Laboratories Inc. | Method of normalizing a fluorescence analyzer |
| WO2022256582A1 (en) | 2021-06-04 | 2022-12-08 | Idexx Laboratories Inc. | Method for callibrating sensitivity of a photometer |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4831989A (ja) * | 1971-08-27 | 1973-04-26 | ||
| JPS5192677A (ja) * | 1974-12-05 | 1976-08-13 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3832555A (en) * | 1973-04-10 | 1974-08-27 | Hitachi Ltd | Fluorescence spectrophotometer |
| DE2535398A1 (de) * | 1975-08-08 | 1977-02-24 | Applied Photophysics Ltd | Spektralfluoreszenzmesser |
| US4022529A (en) * | 1975-12-11 | 1977-05-10 | White John U | Feature extraction system for extracting a predetermined feature from a signal |
| US4203670A (en) * | 1977-04-21 | 1980-05-20 | Bromberg Nathan S | System and method of fluorescence polarimetry |
| US4198567A (en) * | 1977-10-25 | 1980-04-15 | Peter Eneroth | Method and apparatus for discrimination between scattered excitation radiation and low level fast decaying fluorescent radiation |
| JPS5979819A (ja) * | 1982-10-29 | 1984-05-09 | Shimadzu Corp | 分光器におけるスリツト機構 |
| JPS5981520A (ja) * | 1982-10-30 | 1984-05-11 | Shimadzu Corp | 分光器スリツト機構 |
| US4647199A (en) * | 1984-09-14 | 1987-03-03 | The Perkin-Elmer Corporation | Automatic shutter system |
| US4622468A (en) * | 1985-07-15 | 1986-11-11 | Sequoia-Turner Corporation | Fluorescence intensity compensation method and device |
-
1984
- 1984-11-12 JP JP59238987A patent/JPS61116627A/ja active Pending
-
1985
- 1985-11-11 DE DE19853539977 patent/DE3539977A1/de active Granted
- 1985-11-12 US US06/796,808 patent/US4779982A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4831989A (ja) * | 1971-08-27 | 1973-04-26 | ||
| JPS5192677A (ja) * | 1974-12-05 | 1976-08-13 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6317423U (ja) * | 1986-07-17 | 1988-02-05 | ||
| US7875658B2 (en) | 2003-04-17 | 2011-01-25 | Wacker Chemie Ag | Expansible mixtures devoid of isocyanates exhibiting improved fire behaviour |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3539977A1 (de) | 1986-05-22 |
| US4779982A (en) | 1988-10-25 |
| DE3539977C2 (ja) | 1989-10-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US2847899A (en) | Method of and apparatus for spectrochemical analysis | |
| EP2381240B1 (en) | Spectrometer, spectrometry, and spectrometry program | |
| US4531834A (en) | Fluorimeter | |
| JPH0915156A (ja) | 分光測定方法及び測定装置 | |
| JPS61116627A (ja) | 分光蛍光光度計 | |
| US4921351A (en) | Spectrophotometer comprising a xenon flashtube as a light source | |
| JP2010197358A (ja) | 分光分析装置及び元素分析装置 | |
| JP3207882B2 (ja) | 分光蛍光光度計のスペクトル補正方法及びスペクトル補正機能付分光蛍光光度計 | |
| CN111829971A (zh) | 一种减小宽光谱透过率测量误差的方法 | |
| JPS6394136A (ja) | 蛍光分析方法及び装置 | |
| JP2007218860A (ja) | 歪み測定装置及び歪み測定方法 | |
| GB2070765A (en) | Spectrophotometry | |
| Treytl et al. | Spatial differentiation of optical emission in Q-switched laser-induced plasmas and effects on spectral line analytical sensitivity | |
| JP3102485B2 (ja) | 分光光度計 | |
| JPH0222334B2 (ja) | ||
| Sansonetti et al. | High-resolution observations of the infrared spectrum of neutral neon | |
| JPS6212842A (ja) | 螢光分析装置 | |
| JPS6280522A (ja) | 分光螢光光度計 | |
| JPS62278436A (ja) | 蛍光測定法及び装置 | |
| JPH09203706A (ja) | 溶液中に含まれる複数成分の濃度分析方法 | |
| JPS60263838A (ja) | 光度計 | |
| JPS6073407A (ja) | 膜厚モニタ | |
| JPS6038656B2 (ja) | 発光分光分析装置 | |
| SU1732189A1 (ru) | Способ определени температуры | |
| JPS5992318A (ja) | 分光測定方法 |