JPS6280522A - 分光螢光光度計 - Google Patents
分光螢光光度計Info
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- JPS6280522A JPS6280522A JP22011685A JP22011685A JPS6280522A JP S6280522 A JPS6280522 A JP S6280522A JP 22011685 A JP22011685 A JP 22011685A JP 22011685 A JP22011685 A JP 22011685A JP S6280522 A JPS6280522 A JP S6280522A
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- fluorescence
- light
- slit
- excitation
- detector
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Links
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- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 8
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 abstract description 17
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- 238000012937 correction Methods 0.000 description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 9
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 3
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- PYWVYCXTNDRMGF-UHFFFAOYSA-N rhodamine B Chemical compound [Cl-].C=12C=CC(=[N+](CC)CC)C=C2OC2=CC(N(CC)CC)=CC=C2C=1C1=CC=CC=C1C(O)=O PYWVYCXTNDRMGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/04—Slit arrangements slit adjustment
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/44—Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
- G01J3/4406—Fluorescence spectrometry
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、データ処理機能を有する分光蛍光光計底に係
り、特にスペクトル補正処理を必要とする測定に好適な
分光蛍光光度計に関する。
り、特にスペクトル補正処理を必要とする測定に好適な
分光蛍光光度計に関する。
蛍光光度計を用いて試料の励起または蛍光スペクトルを
測定すると、試料固有のスペクトルに光源２分光器、検
知器等、光度計の波長特性が重畳する。従って、試料固
有のスペクトルを得るためには、光度計の波長特性の影
響を除去する処理が必要である。このため、特開昭５３
−５０８８５号公報に示されているように、光源からの
光束をビームスプリッタで分離し、モニタ検知系と蛍光
検知系で測定した蛍光強度の比を取り、光源の波長特性
の影響を除去している。
測定すると、試料固有のスペクトルに光源２分光器、検
知器等、光度計の波長特性が重畳する。従って、試料固
有のスペクトルを得るためには、光度計の波長特性の影
響を除去する処理が必要である。このため、特開昭５３
−５０８８５号公報に示されているように、光源からの
光束をビームスプリッタで分離し、モニタ検知系と蛍光
検知系で測定した蛍光強度の比を取り、光源の波長特性
の影響を除去している。
また、分光器、検知器の波長特性の影響を除去するため
には、あらかじめ波長特性が既知の試料を測定して分光
器、検知器の波長特性を求めておき、未知試料の測定後
スペクトル補正を行って試料固有のスペクトルを算出し
ている。
には、あらかじめ波長特性が既知の試料を測定して分光
器、検知器の波長特性を求めておき、未知試料の測定後
スペクトル補正を行って試料固有のスペクトルを算出し
ている。
ところで１分光器の波長特性は、スリット幅によって変
化するため、スペクトル補正に際しては、分光器の波長
特性を求める時と試料測定時とではスリット幅を等しく
設定して行っている。
化するため、スペクトル補正に際しては、分光器の波長
特性を求める時と試料測定時とではスリット幅を等しく
設定して行っている。
しかし′ながら、近年、スペクトル補正処理が広く行わ
れるようになるに従って、スリット幅を変化させた場合
も精度良く補正できることが強く望まれできた。
れるようになるに従って、スリット幅を変化させた場合
も精度良く補正できることが強く望まれできた。
本発明の目的は、スリット幅を変化させた場合でも光度
計の波長特性を精度良く補正し、試料固有のスペクトル
をより精度よく測定できる分光蛍光光度計を提供するに
ある。
計の波長特性を精度良く補正し、試料固有のスペクトル
をより精度よく測定できる分光蛍光光度計を提供するに
ある。
このため、スペクトル補正の処理について検討した結果
、従来、光源の波長特性の除去のため比演算処理を行っ
ており、光度計の零点を調整する目的で蛍光検知系の零
点ずれを測定し補正している。しかし、モニタ検知系の
零点ずれについては、直接測定値に影響しないため考慮
されておらず、このためスリット幅を変化させた場合、
スペクトル補正の精度が良くならない主原因であること
が判明した。
、従来、光源の波長特性の除去のため比演算処理を行っ
ており、光度計の零点を調整する目的で蛍光検知系の零
点ずれを測定し補正している。しかし、モニタ検知系の
零点ずれについては、直接測定値に影響しないため考慮
されておらず、このためスリット幅を変化させた場合、
スペクトル補正の精度が良くならない主原因であること
が判明した。
従って本発明は、蛍光検知系への入射光を遮断する手段
と、モニタ検知系への入射光を遮断する手段を設け、蛍
光検知系および、モニタ検知系の零点補正を行うように
したものである。
と、モニタ検知系への入射光を遮断する手段を設け、蛍
光検知系および、モニタ検知系の零点補正を行うように
したものである。
第１図において、Ｘｅ−ランプ１ｏから出射された光束
はレンズ１２により集光され、励起側スリット１４の入
射スリット１４Ａを通って励起側分光器１６により分光
される。分光された励起光は、励起側スリット板１４の
出射スリット１４Ｂ。
はレンズ１２により集光され、励起側スリット１４の入
射スリット１４Ａを通って励起側分光器１６により分光
される。分光された励起光は、励起側スリット板１４の
出射スリット１４Ｂ。
ミラー２０．レンズ２２を通って、試料セル２４に照射
される。一方励起光の一部は、ビームスプリッタ１８で
分割され、ミラー２６．励起側スリット板に設けたモニ
タ用窓２８を通って、モニタ検知器３０でその光量が測
定される。試料セル２４で発生した蛍光はレンズ３２に
より集光され、蛍光側スリット板３４の入射スリット３
４Ａを通って、蛍光側分光器３６により分光される。分
光された蛍光は、蛍光側スリット板３４に出射スリット
３４Ｂ、ミラー３８を通って蛍光検知器４０で強度が測
定される。また、スリット板１４，３４、シャッタ４８
は、制御系４２により制御されており、励起光のモニタ
信号工に蛍光信号Ｉｓはそれぞれ増幅器４４Ａ、４４Ｂ
を介して演算器４６に送られ、測光値が算出される。
される。一方励起光の一部は、ビームスプリッタ１８で
分割され、ミラー２６．励起側スリット板に設けたモニ
タ用窓２８を通って、モニタ検知器３０でその光量が測
定される。試料セル２４で発生した蛍光はレンズ３２に
より集光され、蛍光側スリット板３４の入射スリット３
４Ａを通って、蛍光側分光器３６により分光される。分
光された蛍光は、蛍光側スリット板３４に出射スリット
３４Ｂ、ミラー３８を通って蛍光検知器４０で強度が測
定される。また、スリット板１４，３４、シャッタ４８
は、制御系４２により制御されており、励起光のモニタ
信号工に蛍光信号Ｉｓはそれぞれ増幅器４４Ａ、４４Ｂ
を介して演算器４６に送られ、測光値が算出される。
励起側スリット板１４および蛍光側スリット板３４は、
回転可能な円板で栂成されており、入射スリット１４Ａ
、３４Ａ、出射スリット１４Ｂ。
回転可能な円板で栂成されており、入射スリット１４Ａ
、３４Ａ、出射スリット１４Ｂ。
３４Ｂは、それぞれ複数対設けられている。また励起側
スリット板１４には、入射スリット１４Ａ。
スリット板１４には、入射スリット１４Ａ。
出射スリット１４Ｂと共にモニタ用窓も複数設けられて
いる。
いる。
第２図は、スペクトル補正を含めた測定手順を示すもの
である。最初に、検知系の零点ずれＩｓｏ＋ＩＳＯを測
定するためにシャッタ４８を閉じ、励起側スリット板１
４をＸｅ−ランプ１０の光がモニタ検知器３０に入射し
ない位置まで回転させる。
である。最初に、検知系の零点ずれＩｓｏ＋ＩＳＯを測
定するためにシャッタ４８を閉じ、励起側スリット板１
４をＸｅ−ランプ１０の光がモニタ検知器３０に入射し
ない位置まで回転させる。
この時のモニタ検知器３０．蛍光検知器４０の測定値を
ＩＭＯ，Ｉ３０として、演算器４６内に記憶する。次に
、シャッタ４８を開き、励起側スリット板１４を第１図
の状態に戻す。２００〜６００ｎｍの波長域では、励起
光強度に比例した蛍光を出すローダミンＢを入れた試料
セルをセットし、蛍光波長をローダミンＢの蛍光波長に
合わせる。
ＩＭＯ，Ｉ３０として、演算器４６内に記憶する。次に
、シャッタ４８を開き、励起側スリット板１４を第１図
の状態に戻す。２００〜６００ｎｍの波長域では、励起
光強度に比例した蛍光を出すローダミンＢを入れた試料
セルをセットし、蛍光波長をローダミンＢの蛍光波長に
合わせる。
励起波長を走査すると得られたスペクトルは励起側の分
光器、検知器の波長特性ｌ５ｘ（λ）を表わすため、こ
れを記憶しておく。ここでＩＥＸ（λ）は、波長λにお
ける特性値を表わす。次に、波長に関係なく励起光の一
定の部分を蛍光側分光器に導く拡散素子を試料セルにセ
ットし励起側、蛍光画の波長を同時に走査する。この時
得られたスペクトルＩ！（λ）と、前に求めた励起側の
波長特性ＩＥＸ（λ）から、蛍光側の分光器、検知器の
波長特性Ｉａｘ（λ）はＩＥ！Ｘ（λ）＝Ｉｓ（λ）／
ＩＥＸ（λ）により求めることができる。この工［：Ｘ
（λ）も記憶しておく。次に、測定しようとする試料を
試料セルにセットし、蛍光強度■（λ）を測定する。以
上より試料固有の補正されたスペクトルＩＣ（λ）は、
ＩＣ（λ）＝工（λ）’／ （ＩＥＸ（λ）ＸＩＥ！Ｍ
（λ））となる。ここで、Ｉ（λ）は、モニタ信号ＩＮ
（λ）と蛍光信号ＩＳ（λ）との比であるので、ｒｃ（
λ）は、 ＩＣ（λ）＝Ｉｓ（λ）／ＩＭ（λ）Ｘ（ＩＥＸ（λ）
ＸＩＥＭ（λ））となる。本発明では、蛍光側検知系の
ゼロ点ずれＩｓｏ、モニタ側検知系のゼロ点ずれＩＭ。
光器、検知器の波長特性ｌ５ｘ（λ）を表わすため、こ
れを記憶しておく。ここでＩＥＸ（λ）は、波長λにお
ける特性値を表わす。次に、波長に関係なく励起光の一
定の部分を蛍光側分光器に導く拡散素子を試料セルにセ
ットし励起側、蛍光画の波長を同時に走査する。この時
得られたスペクトルＩ！（λ）と、前に求めた励起側の
波長特性ＩＥＸ（λ）から、蛍光側の分光器、検知器の
波長特性Ｉａｘ（λ）はＩＥ！Ｘ（λ）＝Ｉｓ（λ）／
ＩＥＸ（λ）により求めることができる。この工［：Ｘ
（λ）も記憶しておく。次に、測定しようとする試料を
試料セルにセットし、蛍光強度■（λ）を測定する。以
上より試料固有の補正されたスペクトルＩＣ（λ）は、
ＩＣ（λ）＝工（λ）’／ （ＩＥＸ（λ）ＸＩＥ！Ｍ
（λ））となる。ここで、Ｉ（λ）は、モニタ信号ＩＮ
（λ）と蛍光信号ＩＳ（λ）との比であるので、ｒｃ（
λ）は、 ＩＣ（λ）＝Ｉｓ（λ）／ＩＭ（λ）Ｘ（ＩＥＸ（λ）
ＸＩＥＭ（λ））となる。本発明では、蛍光側検知系の
ゼロ点ずれＩｓｏ、モニタ側検知系のゼロ点ずれＩＭ。
の両方を補正しているため、上式のようになるが、従来
は、モニタ側検知系のゼロ点ずれＩＭＯの測定を行って
いないため、ＩＣ（λ）は。
は、モニタ側検知系のゼロ点ずれＩＭＯの測定を行って
いないため、ＩＣ（λ）は。
工ｅ（λ）＝ＩＳ（λ）／（ＩＮ（λ）＋Ｉ Ｎｏ）
Ｘ （Ｉ ＥＸ（λ）ＸＩＥＭ（λ））となっていた。
Ｘ （Ｉ ＥＸ（λ）ＸＩＥＭ（λ））となっていた。
このため、モニタ光強度が弱く、ＩＭＯが無視できない
場合、具体的には、Ｘｅ−ランプを光源としている蛍光
光度計では、３００ｎｍ以下の波長域では、ＩＭＯの影
響で、比演算による、光源の波長特性の除去が精度よく
できない。
場合、具体的には、Ｘｅ−ランプを光源としている蛍光
光度計では、３００ｎｍ以下の波長域では、ＩＭＯの影
響で、比演算による、光源の波長特性の除去が精度よく
できない。
即ち、光度計の波長特性ＩＥＸ（λ）、 ＩＩ！Ｍ（λ
）を測定する時と、試料の測定をする時とで、分光器の
スリット幅が同じになっている場合には、ＩＭＯの影響
もＩＥＸ（λ）の中に含まれるため問題とはならないが
、スリット幅を変化させると、工に０の影響で、補正精
度が悪くなることとなる。これに対して、本発明では、
ＩＭＯの補正も行っているため。
）を測定する時と、試料の測定をする時とで、分光器の
スリット幅が同じになっている場合には、ＩＭＯの影響
もＩＥＸ（λ）の中に含まれるため問題とはならないが
、スリット幅を変化させると、工に０の影響で、補正精
度が悪くなることとなる。これに対して、本発明では、
ＩＭＯの補正も行っているため。
分光器のスリット幅を変化させても３００ｎｍ以下の波
長域でさえ、補正精度はほとんど変化しない。第３図は
１以上を示すため、従来例（Ａ）と本発明（Ｂ）につい
て、スリット幅を変化させた時の補正精度を表わしたも
のである。第３図では、平坦な程精度がよいことを表わ
している。また、本発明ではモニタ検知器への入射光を
遮断してＩｓｏを測定するために、新たにシャッタを追
加するのではなく、分光器に不可欠なスリット機構を活
用している。このため補正精度は大幅に向上しているに
もかかわらず、機構的には従来と同じである。さらに、
ＩＭＯの補正を行う場合にモニタ信号ＩＮ（λ）がほと
んど０になった時には、わずかなモニタ信号の変動でも
、測定値に大きく影響するため、スリット幅を狭くした
時には、モニタ信号の取込み窓が大きくなるようにし、
モニタ信号ＩＭ（λ）が極端に小さくならないようにし
た。尚、上記実施例においては、蛍光検知系への入射光
の遮断にシャッタ４８を使用しているが、蛍光側スリッ
ト板３４を回転させて行っても同様の効果が得られる。
長域でさえ、補正精度はほとんど変化しない。第３図は
１以上を示すため、従来例（Ａ）と本発明（Ｂ）につい
て、スリット幅を変化させた時の補正精度を表わしたも
のである。第３図では、平坦な程精度がよいことを表わ
している。また、本発明ではモニタ検知器への入射光を
遮断してＩｓｏを測定するために、新たにシャッタを追
加するのではなく、分光器に不可欠なスリット機構を活
用している。このため補正精度は大幅に向上しているに
もかかわらず、機構的には従来と同じである。さらに、
ＩＭＯの補正を行う場合にモニタ信号ＩＮ（λ）がほと
んど０になった時には、わずかなモニタ信号の変動でも
、測定値に大きく影響するため、スリット幅を狭くした
時には、モニタ信号の取込み窓が大きくなるようにし、
モニタ信号ＩＭ（λ）が極端に小さくならないようにし
た。尚、上記実施例においては、蛍光検知系への入射光
の遮断にシャッタ４８を使用しているが、蛍光側スリッ
ト板３４を回転させて行っても同様の効果が得られる。
ただし、シャッタ４８はスリット板を利用したシャッタ
より応答が速いので、例えば、試料への励起光を瞬間的
に遮断し、蛍光の減衰を測定する場合などに有効である
。また、Ｘｅ−ランプ１０と励起側スリット板１４の間
にシャッタを設け、モニタ検知系、蛍光検知系への入射
光を同時に遮断するようにしても、同様の効果が得られ
る。
より応答が速いので、例えば、試料への励起光を瞬間的
に遮断し、蛍光の減衰を測定する場合などに有効である
。また、Ｘｅ−ランプ１０と励起側スリット板１４の間
にシャッタを設け、モニタ検知系、蛍光検知系への入射
光を同時に遮断するようにしても、同様の効果が得られ
る。
本発明によれば、光源の光量（励起光強度）に関係なく
、蛍光光度計によって得られたスペクトルから、光源の
波長特性を除去することができる。
、蛍光光度計によって得られたスペクトルから、光源の
波長特性を除去することができる。
これにより、蛍光光度計にとって最大の問題である、ス
ペクトル補正の精度を向上させ、試料固有のスペクトル
をより簡単に測定できる効果がある。
ペクトル補正の精度を向上させ、試料固有のスペクトル
をより簡単に測定できる効果がある。
第１図は本発明に係る分光蛍光光度計の全体構成図、第
２図はスペクトル補正の測定手順を示すフローチャート
、第３図は従来例と本発明のデータ比較を示す図である
。 １０・・・Ｘｅ−ランプ、１４・・・励起側スリット板
、１６・・・励起側分光器、１８・・・ビームスプリッ
タ。
２図はスペクトル補正の測定手順を示すフローチャート
、第３図は従来例と本発明のデータ比較を示す図である
。 １０・・・Ｘｅ−ランプ、１４・・・励起側スリット板
、１６・・・励起側分光器、１８・・・ビームスプリッ
タ。
Claims (1)
- １、光源、光源からの光を分光する励起側分光器、この
励起側分光器からの光をモニタするモニタ検知器、前記
励起側分光器からの光が照射される試料、この試料から
の蛍光を分光する蛍光側分光器、この蛍光側分光器から
の光を検知する蛍光検知器、前記モニタ検知器および蛍
光検知器からの信号を処理する演算器、前記モニタ検知
器および蛍光検知器への光源からの光の入射を遮断する
手段とより構成したことを特徴とする分光蛍光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22011685A JPS6280522A (ja) | 1985-10-04 | 1985-10-04 | 分光螢光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22011685A JPS6280522A (ja) | 1985-10-04 | 1985-10-04 | 分光螢光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6280522A true JPS6280522A (ja) | 1987-04-14 |
Family
ID=16746164
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22011685A Pending JPS6280522A (ja) | 1985-10-04 | 1985-10-04 | 分光螢光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6280522A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002538427A (ja) * | 1999-02-26 | 2002-11-12 | ジェネラル・スキャンニング・インコーポレイテッド | 光学式スキャナ較正装置 |
| JP2012026731A (ja) * | 2010-07-20 | 2012-02-09 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光蛍光光度計、および分光蛍光光度計のスペクトル補正方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5350885A (en) * | 1976-10-20 | 1978-05-09 | Hitachi Ltd | Fluorescence photometer |
| JPS56145323A (en) * | 1980-04-14 | 1981-11-12 | Toshiba Corp | Spectrophotometer |
| JPS5981520A (ja) * | 1982-10-30 | 1984-05-11 | Shimadzu Corp | 分光器スリツト機構 |
-
1985
- 1985-10-04 JP JP22011685A patent/JPS6280522A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5350885A (en) * | 1976-10-20 | 1978-05-09 | Hitachi Ltd | Fluorescence photometer |
| JPS56145323A (en) * | 1980-04-14 | 1981-11-12 | Toshiba Corp | Spectrophotometer |
| JPS5981520A (ja) * | 1982-10-30 | 1984-05-11 | Shimadzu Corp | 分光器スリツト機構 |
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|---|---|---|---|---|
| JP2002538427A (ja) * | 1999-02-26 | 2002-11-12 | ジェネラル・スキャンニング・インコーポレイテッド | 光学式スキャナ較正装置 |
| JP2012026731A (ja) * | 2010-07-20 | 2012-02-09 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光蛍光光度計、および分光蛍光光度計のスペクトル補正方法 |
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