JP6477205B2 - 分析システム、分光蛍光光度計、演算処理装置および演算処理装置用プログラム - Google Patents

Description

本発明は、励起側分光部において分光した励起光を試料に向けて出射し、試料から放出される蛍光を波長ごとに蛍光側分光部で分光して蛍光検出部で検出する分析システム、当該分析システムに用いられる分光蛍光光度計および演算処理装置、ならびに、当該演算処理装置に用いられる演算処理装置用プログラムに関するものである。

従来から、光源部と、励起側分光器と、蛍光側分光器と、検出器とを備える分光蛍光光度計が知られている（例えば、下記特許文献１参照）。

分光蛍光光度計においては、光源部から出射された光が、励起側分光器に導入されることにより分光され、特定波長の光が取り出される。その取り出された特定波長の光は、励起光として分光蛍光光度計内の試料に向けて出射される。励起光を受けた試料は、蛍光を放出する。試料から放出される蛍光は、蛍光側分光器に導入されることにより分光され、波長ごとの蛍光が検出器により検出される。検出器は、検出される蛍光に応じて検出信号を出力する。これにより、蛍光の波長と検出信号の強度との関係を表す測定データが得られる。

このような分光蛍光光度計では、一般的に、光源部、励起側分光器、蛍光側分光器および検出器などの各構成部品についての補正係数に基づいて、上記測定データが補正される。これにより、各構成部品自体の光学特性に起因する測定データの誤差を少なくでき、精度のよい測定データを得ることができる。

特許第５１５２０８３号公報

上記のような従来の分光蛍光光度計を用いた分析方法では、通常、分光蛍光光度計から出力される測定データが、演算処理装置に一旦記憶される。そして、ユーザが演算処理装置を操作することにより、演算処理装置において、各構成部品についての補正係数に基づいて測定データが補正され、補正後の測定データが記憶される。そのため、分光蛍光光度計から測定データが得られるたびに、ユーザが演算処理装置を操作して補正を行わなければならず、操作ミスが発生するおそれがある。そして、操作ミスが発生すれば、誤った測定データが記憶されるという不具合がある。また、ユーザは、補正後の全波長の測定データを一度に確認することはできるが、波長ごとに補正された精度のよい検出信号をリアルタイムで確認することはできないという不具合がある。

本発明は、上記実情に鑑みてなされたものであり、精度のよい検出信号をリアルタイムで自動的に得ることができる分析システム、分光蛍光光度計、演算処理装置および演算処理用プログラムを提供することを目的とする。

（１）本発明に係る分析システムは、分光蛍光光度計と、当該分光蛍光光度計に電気的に接続される演算処理装置とを備える。前記分光蛍光光度計は、光源部と、試料設置部と、励起側分光部と、蛍光側分光部と、蛍光検出部と、第１記憶部と、第１補正処理部とを備える。前記光源部は、励起光を出射する。前記試料設置部は、試料が設置される。前記励起側分光部は、前記光源部から出射される励起光を分光し、当該分光した励起光を試料に向けて出射する。前記蛍光側分光部は、試料から放出される蛍光を波長ごとに分光して出射する。前記蛍光検出部は、前記蛍光側分光部から出射される蛍光を波長ごとに検出し、当該検出した蛍光に応じて検出信号を出力する。前記第１記憶部は、前記励起側分光部についての補正係数を含む励起側補正係数、および、前記蛍光側分光部についての補正係数を含む蛍光側補正係数を記憶する。前記第１補正処理部は、前記第１記憶部が記憶する前記励起側補正係数に基づいて、前記蛍光検出部からの検出信号を波長ごとに補正する。前記演算処理装置は、補正係数受信部と、第２補正処理部とを備える。前記補正係数受信部は、前記第１記憶部が記憶する前記蛍光側補正係数を受信する。前記第２補正処理部は、前記補正係数受信部が受信する前記蛍光側補正係数に基づいて、前記第１補正処理部による補正後の検出信号を波長ごとに補正する。

このような構成によれば、分光蛍光光度計は、第１補正処理部を備える。第１補正処理部は、励起側補正係数に基づいて、蛍光検出部からの検出信号を補正する。そのため、検出信号に含まれる励起側の構成部品が持つ光学特性に起因する誤差を精度よく補正できる。上記光学特性は、例えば光の反射／透過率の波長ごとの違い、あるいは波長によって異なることなどを意味している。

また、演算処理装置は、第２補正処理部を備える。第２補正処理部は、補正係数受信部が受信する蛍光側補正係数に基づいて、第１補正処理部による補正後の検出信号を自動的に補正する。そのため、ユーザによる演算処理装置の操作作業を省くことができ、操作ミスの可能性も排除できる。その結果、精度のよい検出信号をリアルタイムで自動的に得ることができる。

さらに、蛍光側補正係数が分光蛍光光度計から演算処理装置に受信されるため、蛍光側の構成部品として付属品を設けた場合などでも、演算処理装置において蛍光側補正係数に適切な補正係数を加え、それに基づいて検出信号を補正すれば、一層精度のよい検出信号をリアルタイムで自動的に得ることができる。

（２）また、分光蛍光光度計は、励起光検出部をさらに備えてもよい。前記励起光検出部は、前記励起側分光部が分光した後の励起光の一部を検出し、当該検出した励起光に応じて検出信号を出力する。前記第１補正処理部は、前記励起側補正係数、および、前記励起光検出部が出力する検出信号に基づいて、前記蛍光検出部からの検出信号を波長ごとに補正してもよい。

このような構成によれば、第１補正処理部は、励起側補正係数に加えて、励起光検出部が出力する検出信号に基づいて、蛍光検出部からの検出信号を補正する。そのため、光源部から出射される励起光の微小変動などに起因する検出信号の誤差を精度よく補正することができる。その結果、一層精度のよい検出信号を得ることができる。上記微小変動は、例えば光源部によって出射された光のうち、励起側分光部で分光された波長の光の強度の時間的な変動を意味している。

（３）また、前記試料設置部には、複数の付属品から選択した少なくとも１つの付属品を設置可能であってもよい。前記演算処理装置は、第２記憶部と、選択受付部とをさらに備えてもよい。前記第２記憶部は、前記複数の付属品のそれぞれについての補正係数を記憶する。前記選択受付部は、前記試料設置部に設置される付属品の選択操作を受け付ける。前記第２補正処理部は、前記第２記憶部が記憶する前記補正係数のうち、前記選択受付部により選択操作が受け付けられた付属品についての補正係数に基づいて、前記第１補正処理部による補正後の検出信号を波長ごとに補正してもよい。

このような構成によれば、第２補正処理部は、分光蛍光光度計から演算処理装置に受信される蛍光側補正係数に加えて、試料設置部に設置される付属品に応じた補正係数に基づいて、第１補正処理部による補正後の検出信号を補正する。そのため、付属品の光学特性も考慮して検出信号を補正することができる。その結果、一層精度のよい検出信号を得ることができる。

（４）また、前記演算処理装置は、第２記憶部をさらに備えてもよい。前記第２記憶部は、前記第１補正処理部による補正後の検出信号を第１補正後データとして記憶するとともに、前記第２補正処理部による補正後の検出信号を第２補正後データとして前記第１補正後データに対応づけて記憶する。

このような構成によれば、演算処理装置において、第２補正処理部による補正前の第１補正後データ、および、第２補正処理部による補正後の第２補正後データが、互いに対応づけて一元管理される。そのため、演算処理装置におけるトレーサビリティを向上できる。

（５）また、前記演算処理装置は、接続切替受付部をさらに備えてもよい。前記接続切替受付部は、前記分光蛍光光度計に対する接続状態の切替操作を受け付ける。前記補正係数受信部は、前記接続切替受付部が前記接続状態の切替操作を受け付けることに応じて前記蛍光側補正係数を受信してもよい。

このような構成によれば、分光蛍光光度計に対する演算処理装置の接続状態を切り替えるだけで、補正係数受信部によって容易に蛍光側補正係数を受信することができる。そして、その蛍光側補正係数に基づいて、第１補正処理部による補正後の検出信号を第２補正処理部によって補正できる。そのため、検出信号を容易に補正できる。

また、分光蛍光光度計と演算処理装置とが接続されていないときに蛍光側補正係数が変更された場合であっても、補正係数受信部によって変更後の蛍光側補正係数を受信することができる。そのため、適切な蛍光側補正係数を用いて検出信号を補正することができる。その結果、一層精度のよい検出信号を得ることができる。

（６）また、前記演算処理装置は、表示部と、表示制御部とをさらに備えてもよい。前記表示制御部は、表示部に対する表示を制御する。前記表示制御部は、前記第２補正処理部による補正後の検出信号が波長ごとに得られるたびに、当該補正後の検出信号に基づいて表示部の表示を更新する。

このような構成によれば、表示制御部によって、補正後の検出信号が波長ごとに得られるたびに、それらの検出信号に基づくデータをリアルタイムで更新して表示部に表示できる。そのため、補正後の検出信号に基づくデータをリアルタイムで確認できる。

（７）本発明に係る分光蛍光光度計は、演算処理装置に電気的に接続される。前記分光蛍光光度計は、光源部と、試料設置部と、励起側分光部と、蛍光側分光部と、蛍光検出部と、第１記憶部と、第１補正処理部と、補正係数送信部とを備える。前記光源部は、励起光を出射する。前記試料設置部は、試料が設置される。前記励起側分光部は、前記光源部から出射される励起光を分光し、当該分光した励起光を試料に向けて出射する。前記蛍光側分光部は、試料から放出される蛍光を波長ごとに分光して出射する。前記蛍光検出部は、前記蛍光側分光部から出射される蛍光を波長ごとに検出し、当該検出した蛍光に応じて検出信号を出力する。前記第１記憶部は、前記励起側分光部についての補正係数を含む励起側補正係数、および、前記蛍光側分光部についての補正係数を含む蛍光側補正係数を記憶する。前記第１補正処理部は、前記第１記憶部が記憶する前記励起側補正係数に基づいて、前記蛍光検出部からの検出信号を波長ごとに補正する。前記補正係数送信部は、前記第１記憶部が記憶する前記励起側補正係数を、前記演算処理装置に向けて送信する。

（８）本発明に係る演算処理装置は、励起側分光部において分光した励起光を試料に向けて出射し、試料から放出される蛍光を波長ごとに蛍光側分光部で分光して蛍光検出部で検出するとともに、前記励起側分光部についての補正係数を含む励起側補正係数、および、前記蛍光側分光部についての補正係数を含む蛍光側補正係数を第１記憶部に記憶し、前記第１記憶部が記憶する前記励起側補正係数に基づいて、第１補正処理部が前記蛍光検出部からの検出信号を波長ごとに補正する分光蛍光光度計に電気的に接続される。前記演算処理装置は、補正係数受信部と、第２補正処理部とを備える。前記補正係数受信部は、前記第１記憶部が記憶する前記蛍光側補正係数を受信する。前記第２補正処理部は、前記補正係数受信部が受信する前記蛍光側補正係数に基づいて、前記第１補正処理部による補正後の検出信号を波長ごとに補正する。

（９）本発明に係る演算処理装置用プログラムは、励起側分光部において分光した励起光を試料に向けて出射し、試料から放出される蛍光を波長ごとに蛍光側分光部で分光して蛍光検出部で検出するとともに、前記励起側分光部についての補正係数を含む励起側補正係数、および、前記蛍光側分光部についての補正係数を含む蛍光側補正係数を第１記憶部に記憶し、前記第１記憶部が記憶する前記励起側補正係数に基づいて、第１補正処理部が前記蛍光検出部からの検出信号を波長ごとに補正する分光蛍光光度計に電気的に接続される演算処理装置に用いられる。前記演算処理装置用プログラムは、補正係数受信部と、第２補正処理部としてコンピュータを機能させる。前記補正係数受信部は、前記第１記憶部が記憶する前記蛍光側補正係数を受信する。前記第２補正処理部は、前記補正係数受信部が受信する前記蛍光側補正係数に基づいて、前記第１補正処理部による補正後の検出信号を波長ごとに補正する。

本発明によれば、検出信号に含まれる励起側の構成部品が持つ光学特性に起因する誤差を精度よく補正できるとともに、ユーザによる演算処理装置の操作作業を省くことができ、操作ミスの可能性も排除できるため、精度のよい検出信号をリアルタイムで自動的に得ることができる。

本発明の一実施形態に係る分析システムの構成例を示した概略図である。 図１の分光蛍光光度計の記憶部および制御部の具体的構成を示したブロック図である。 図１の演算処理装置の記憶部および制御部の具体的構成を示したブロック図である。 分光蛍光光度計の制御部による処理の一例を示したフローチャートである。 演算処理装置の制御部による処理の一例を示したフローチャートである。 表示部の表示画面の一例を示した図である。

１．分析システムの全体構成
図１は、本発明の一実施形態に係る分析システム１の構成例を示した概略図である。
分析システム１は、分光蛍光光度計２と、演算処理装置３とを備えている。分光蛍光光度計２と、演算処理装置３とは、電気的に接続されている。

分光蛍光光度計２は、光源部４と、励起側分光部５と、試料設置部６と、ハーフミラー７と、励起光検出部８と、蛍光側分光部９と、蛍光検出部１０と、第１記憶部の一例としての記憶部１１と、制御部１２とを備えている。
光源部４は、例えば、キセノンランプからなる。光源部４は、励起光としての白色光を出射するように構成されている。

励起側分光部５には、光源部４から白色光が導入される。励起側分光部５は、導入される白色光を分光することにより特定波長の光を取り出し、当該分光した励起光を出射するように構成されている。
試料設置部６には、試料が設置される。励起側分光部５からの励起光は、試料設置部６に設置された試料に向けて出射される。

ハーフミラー７は、励起側分光部５と、試料設置部６との間に配置されている。ハーフミラー７は、入射する光の一部を反射しつつ、入射する光の残りを透過することが可能な鏡である。この例では、ハーフミラーを透過した励起側分光部５からの励起光が、試料設置部６に入射する。

励起光検出部８には、ハーフミラー７で反射した励起光が入射する。励起光検出部８は、入射される光を検出し、検出した光の強度に応じて検出信号を出力するように構成されている。

蛍光側分光部９には、試料設置部６内の試料から放出される蛍光が導入される。蛍光側分光部９は、導入される蛍光を波長ごとに分光して出射するように構成されている。

蛍光検出部１０には、蛍光側分光部９から出射される蛍光が入射する。蛍光検出部１０は、入射される蛍光を検出し、検出した蛍光の強度に応じて検出信号を出力するように構成されている。

記憶部１１は、例えば、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）およびハードディスクなどにより構成されている。

制御部１２は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）を含む構成である。制御部１２は、光源部４と、励起側分光部５と、蛍光側分光部９と、記憶部１１とを制御するように構成されている。また、制御部１２は、励起光検出部８、蛍光検出部１０および記憶部１１からの電気信号を受け取るように構成されている。
演算処理装置３は、操作部２１と、表示部２２と、第２記憶部の一例としての記憶部２３と、制御部２４とを備えている。

操作部２１は、例えば、キーボードおよびマウスを含む構成である。
表示部２２は、例えば、液晶表示器などにより構成されている。
記憶部２３は、例えば、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）およびハードディスクなどにより構成されている。

制御部２４は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）を含む構成である。制御部２４は、表示部２２と、記憶部２３とを制御するように構成されている。また、制御部２４は、操作部２１および記憶部２３からの電気信号を受け取るように構成されている。制御部２４は、分光蛍光光度計２の制御部１２との間で、電気信号の入出力が可能である。

分析システム１において試料の分析を行う際は、ユーザは、まず、分析対象となる試料を試料設置部６に設置する。そして、ユーザは、後述するように、演算処理装置３の操作部２１を操作する。これにより、制御部２４は、分光蛍光光度計２に対する制御信号を制御部１２に送信する。そして、制御部１２は、分光蛍光光度計２内の各部材を制御する。

具体的には、まず、光源部４が、励起側分光部５に向けて白色光（励起光）を出射する。そして、励起側分光部５が、回折格子（図示せず）により白色光から特定波長の励起光を分光して、試料設置部６に設置された試料に向けて出射する。

このとき、励起光の一部は、ハーフミラー７によって反射し、励起光検出部８に入射する。また、励起光の残りは、ハーフミラー７を透過して試料設置部６の試料に入射する。

これにより、励起光検出部８は、入射された励起光に応じた検出信号を制御部１２に対して出力する。また、試料設置部６の試料は、照射された励起光に応じた蛍光を放出する。

そして、蛍光側分光部９は、試料から放出された蛍光を波長ごとに分光し、当該分光した蛍光を波長ごとに蛍光検出部１０に向けて出射する。具体的には、蛍光側分光部９は、回折格子（図示せず）を回転させて試料から放出される蛍光をスキャンすることにより、波長ごとに分光された蛍光を連続的に蛍光検出部１０に向けて出射する。
蛍光検出部１０は、蛍光側分光部９から波長ごとに分光された蛍光が入射するたびに、波長ごとの蛍光の強度に応じた検出信号を制御部１２に対して出力する。

また、制御部１２は、蛍光検出部１０から入力された検出信号を波長ごとに補正係数を用いて補正する。さらに、制御部１２は、補正した後の検出信号を、演算処理装置３の制御部２４に向けて波長ごとに出力する。このような検出信号の補正および補正後の検出信号の出力は、波長ごとの蛍光が連続的に蛍光検出部１０に入射して、波長ごとの蛍光の検出信号が制御部１２に入力されるたびに、順次行われる。

そして、制御部２４は、制御部１２から順次入力される波長ごとの検出信号を補正する。当該制御部２４による補正は、分光蛍光光度計２の制御部１２による補正とは異なる補正係数を用いて行われる。さらに、制御部２４は、補正後の検出信号が波長ごとに得られるたびに、当該補正後の検出信号に基づくデータを、表示部２２に更新して表示する。

２．分光蛍光光度計の記憶部および制御部、ならびに、演算処理装置の記憶部および制御部の具体的構成
図２Ａは、図１の分光蛍光光度計２の記憶部１１および制御部１２の具体的構成を示したブロック図である。
分光蛍光光度計２の記憶部１１は、励起側補正係数３１と、蛍光側補正係数３２とを記憶している。

励起側補正係数３１は、励起側の部材、すなわち、図１に示すように、試料設置部６よりも励起光の通過方向の上流側に配置される部材についての光学特性に関する補正係数である。具体的には、励起側補正係数３１は、主に光源部４と、励起側分光部５とに関する補正係数であって、分光蛍光光度計２が工場から出荷される際に、記憶部１１に記憶される。励起側補正係数３１には、光源部４や励起側分光部５だけでなく、励起側の各種部品（例えばミラー、レンズ、シャッターなど）に関する補正係数が含まれていてもよい。

蛍光側補正係数３２は、蛍光側の部材、すなわち、試料設置部６よりも蛍光の通過方向の下流側に配置される部材についての光学特性に関する補正係数である。具体的には、蛍光側補正係数３２は、主に蛍光側分光部９と、蛍光検出部１０とに関する補正係数であって、分析システム１が工場から出荷される際に、記憶部１１に記憶される。蛍光側補正係数３２には、蛍光側分光部９や蛍光検出部１０だけでなく、蛍光側の各種部品（例えばミラー、レンズ、シャッターなど）に関する補正係数が含まれていてもよい。

このように、図２Ａに示すように、記憶部１１では、励起側の部材についての補正係数である励起側補正係数３１と、蛍光側の部材についての補正係数である蛍光側補正係数３２とが、別々に記憶されている。

分光蛍光光度計２の制御部１２は、ＣＰＵがプログラムを実行することにより、例えば、補正係数読出部３３、補正係数送信部３４、第１補正処理部３５および検出信号送信部３６として機能する。
補正係数読出部３３は、記憶部１１から励起側補正係数３１または蛍光側補正係数３２を読み出す。

補正係数送信部３４は、補正係数読出部３３が読み出した補正係数を、演算処理装置３に向けて送信する。具体的には、補正係数送信部３４は、補正係数読出部３３が蛍光側補正係数３２を読み出した場合に、蛍光側補正係数３２を演算処理装置３の補正係数受信部４７（後述する）に向けて送信する。

第１補正処理部３５には、励起光検出部８からの検出信号、および、蛍光検出部１０からの検出信号が入力される。そして、第１補正処理部３５は、励起光検出部８から入力された検出信号、および、補正係数読出部３３が読み出した補正係数に基づいて、蛍光検出部１０から入力された検出信号を補正する処理を行う。具体的には、第１補正処理部３５は、励起光検出部８から入力された検出信号に基づいて、励起光のゆらぎなどの微小変動に応じた補正係数を算出する。そして、第１補正処理部３５は、補正係数読出部３３が読み出した励起側補正係数３１、および、励起光の微小変動に応じた補正係数に基づいて、蛍光検出部１０から入力された検出信号を波長ごとに補正する処理を行う。第１補正処理部３５は、例えば、波長ごとの検出信号の強度を各補正係数で除算することにより補正を行う。上記微小変動は、例えば光源部４によって出射された光のうち、励起側分光部５で分光された波長の光の強度の時間的な変動を意味している。

検出信号送信部３６は、第１補正処理部３５で補正された後の波長ごとの検出信号を、演算処理装置３の検出信号受信部４９（後述する）に向けて順次送信する。

図２Ｂは、図１の演算処理装置３の記憶部２３および制御部２４の具体的構成を示したブロック図である。

演算処理装置３の記憶部２３は、複数の付属品補正係数４１を記憶している。具体的には、試料設置部６（図１参照）には、図示しない積分球などの複数の付属品の中から任意の付属品を選択して設置可能である。そして、記憶部２３は、試料設置部６に設置可能な複数の付属品に応じて、複数の付属品補正係数４１が記憶されている。すなわち、複数の付属品補正係数４１のそれぞれは、試料設置部６に設置可能な複数の付属品のそれぞれに関する補正係数である。複数の付属品補正係数４１のそれぞれは、例えば、ユーザが操作部２１を操作して入力設定を行うことにより、予め記憶部２３に記憶されている。また、記憶部２３は、後述するように、蛍光側補正係数３２、および、補正後の検出信号に基づくデータを新たに記憶可能である。

演算処理装置３の制御部２４は、ＣＰＵがプログラムを実行することにより、例えば、選択受付部４５、接続切替受付部４６、補正係数受信部４７、補正係数読出部４８、検出信号受信部４９、第２補正処理部５０および表示制御部５３として機能する。

選択受付部４５には、操作部２１の操作に応じた電気信号が入力される。具体的には、操作部２１では、試料設置部６に設置可能な複数の付属品の中から、実際に設置した少なくとも１つの付属品を選択する操作が可能である。そして、選択受付部４５は、操作部２１における選択操作に応じた電気信号を受け付ける。換言すれば、選択受付部４５は、試料設置部６に設置された付属品に応じた電気信号を受け付ける。

接続切替受付部４６には、操作部２１の操作に応じた電気信号が入力される。具体的には、操作部２１では、分光蛍光光度計２と演算処理装置３との接続状態（オンライン状態／オフライン状態）を切り替える操作が可能である。そして、接続切替受付部４６は、操作部２１における切替操作に応じた電気信号を受け付ける。

補正係数受信部４７は、分光蛍光光度計２の補正係数送信部３４から送信される蛍光側補正係数３２（図２Ａ参照）を受信する。また、補正係数受信部４７は、受信した蛍光側補正係数３２を記憶部２３に格納する。

補正係数読出部４８は、選択受付部４５により選択操作が受け付けられた付属品に応じた付属品補正係数４１を記憶部２３から読み出す。また、補正係数読出部４８は、記憶部２３から蛍光側補正係数３２を読み出す。

検出信号受信部４９は、分光蛍光光度計２の検出信号送信部３６からの検出信号を受信する。また、検出信号受信部４９は、受信した検出信号に基づくデータを記憶部２３に格納する。具体的には、検出信号受信部４９は、分光蛍光光度計２の第１補正処理部３５（図２Ａ参照）において補正された後の波長ごとの検出信号を検出信号送信部３６から受信する。そして、検出信号受信部４９は、受信した全波長の検出信号に基づくデータを、第１補正後データ５１として記憶部２３に格納する。

第２補正処理部５０は、補正係数読出部４８が読み出した付属品補正係数４１および蛍光側補正係数３２に基づいて、検出信号受信部４９で連続的に受信する波長ごとの検出信号を順次補正する処理を行う。すなわち、第２補正処理部５０では、分光蛍光光度計２において一度補正処理が行われた検出信号に対して、さらに別の補正係数を用いて補正処理が行われる。第２補正処理部５０は、例えば、検出信号受信部４９で連続的に受信する波長ごとの検出信号の強度を各補正係数で除算することにより補正を行う。また、第２補正処理部５０は、補正した後の全波長の検出信号に基づくデータを、第２補正後データ５２として記憶部２３に格納する。なお、付属品が選択されていない場合には、第２補正処理部５０は、補正係数読出部４８が読み出した蛍光側補正係数３２のみに基づいて補正を行う。

表示制御部５３は、表示部２２の表示を制御する。具体的には、表示制御部５３は、第２補正処理部５０が補正した後の検出信号に基づくデータを、表示部２２に表示する。すなわち、表示制御部５３は、第２補正処理部５０において、補正された検出信号が得られるたびに、その検出信号に基づくデータを表示部２２にリアルタイムに表示する。また、表示制御部５３は、記憶部２３に記憶されている第１補正後データ５１および第２補正後データ５２の少なくとも一方を読み出して、表示部２２に表示させることも可能である。

３．分析システムにおける制御動作
図３は、分光蛍光光度計２の制御部１２による処理の一例を示したフローチャートである。図４は、演算処理装置３の制御部２４による処理の一例を示したフローチャートである。図５は、表示部２２の表示画面の一例を示した図である。

この例では、図１に示すように、ユーザは、まず、試料設置部６に積分球などの必要な付属品を設置する。また、図示しないが、演算処理装置３において、表示部２２には、試料設置部６に設置可能な付属品の選択画面が表示される。この状態において、分光蛍光光度計２と演算処理装置３とは、制御信号の入出力ができないオフライン状態となっている。
そして、ユーザは、表示部２２を確認しながら、操作部２１を操作して試料設置部６に設置した付属品を選択する。

すると、図２Ｂに示すように、選択受付部４５は、試料設置部６に設置された付属品に応じた電気信号を受け付け、その受け付けられた付属品に対応する補正係数が補正係数読出部４８により記憶部２３から読み出される。

この状態から、図１に示すように、ユーザは、表示部２２を確認しながら、操作部２１を操作して分光蛍光光度計２と演算処理装置３とを、制御信号の入出力が可能なオンライン状態にする。具体的には、図５に示すように、表示部２２には、接続ボタン６１と、測定ボタン６２と、停止ボタン６３とが表示されている。そして、ユーザは、操作部２１（図１参照）を操作して接続ボタン６１を選択する。接続ボタン６１が選択されると、測定ボタン６２および停止ボタン６３が選択可能になる。

すると、図２Ｂに示すように、接続切替受付部４６は、分光蛍光光度計２と演算処理装置３とをオンライン状態にするための電気信号を受け付ける（ステップＳ２０１でＹｅｓ）。そして、補正係数受信部４７は、接続切替受付部４６が電気信号を受け付けたことに応じて、蛍光側補正係数３２の送信要求の電気信号を分光蛍光光度計２に向けて出力する（ステップＳ２０２）。

そして、図２Ａに示すように、分光蛍光光度計２において、蛍光側補正係数３２の送信要求があったことに応じて（ステップＳ１０１でＹｅｓ）、補正係数読出部３３は、記憶部１１から蛍光側補正係数３２を読み出す（ステップＳ１０２）。

次いで、補正係数送信部３４は、補正係数読出部３３が読み出した蛍光側補正係数３２を、演算処理装置３の補正係数受信部４７に向けて送信する（ステップＳ１０３）。

さらに、図２Ｂに示すように、演算処理装置３において、補正係数受信部４７は、蛍光側補正係数３２を受信したことに応じて（ステップＳ２０３でＹｅｓ）、受信した蛍光側補正係数３２を記憶部２３に格納する（ステップＳ２０４）。

この状態から、図５に示すように、ユーザは、表示部２２を確認しながら、操作部２１を操作して測定ボタン６２を選択する。測定ボタン６２が選択されると、演算処理装置３は、測定開始要求の電気信号を分光蛍光光度計２に向けて出力する。

すると、図１に示すように、分光蛍光光度計２において、測定開始要求があったことに応じて（ステップＳ１０４でＹｅｓ）、光源部４から励起光が出射されることにより測定処理が開始される（ステップＳ１０５）。励起光は励起側分光部５で分光され、その一部が試料設置部６に設置された試料に照射されるとともに、残りの励起光が励起光検出部８に入射し、励起光検出部８は、入射された励起光に応じて検出信号を第１補正処理部３５（図２Ａ参照）に対して出力する。そして、蛍光検出部１０が、試料から放出された蛍光を波長ごとに検出し、波長ごとの検出信号を第１補正処理部３５に対して順次出力する。

そして、図２Ａに示すように、補正係数読出部３３が、記憶部１１に記憶されている励起側補正係数３１を読み出す。第１補正処理部３５は、励起光検出部８からの検出信号により、励起光の微小変動に応じた補正係数を算出するとともに、その算出した補正係数、および、補正係数読出部３３が読み出した励起側補正係数３１に基づいて、蛍光検出部１０から入力された検出信号を補正する処理を波長ごとに行う（ステップＳ１０６）。

次いで、検出信号送信部３６は、第１補正処理部３５において補正後の検出信号が得られるたびに、補正後の検出信号を波長ごとに演算処理装置３の検出信号受信部４９に対して送信する（ステップＳ１０７）。

さらに、図２Ｂに示すように、演算処理装置３において、検出信号受信部４９は、第１補正処理部３５による補正後の検出信号を検出信号送信部３６から受信したことに応じて（ステップＳ２０５でＹｅｓ）、受信した波長ごとの検出信号を第２補正処理部５０に対して順次出力するとともに、それらの全波長の検出信号に基づくデータを第１補正後データ５１として記憶部２３に格納する。

そして、補正係数読出部４８が、記憶部２３に記憶されている付属品補正係数４１および蛍光側補正係数３２を読み出す。第２補正処理部５０は、補正係数読出部４８が読み出した付属品補正係数４１および蛍光側補正係数３２に基づいて、検出信号受信部４９からの検出信号を補正する処理を波長ごとに行うとともに（ステップＳ２０６）、それらの補正された全波長の検出信号に基づくデータを第２補正後データ５２として、第１補正後データ５１に対応づけて記憶部２３に格納する。

表示制御部５３は、第２補正処理部５０において、補正された検出信号が得られるたびに、図５に示すように、その検出信号に基づくデータをスペクトルデータとして表示部２２にリアルタイムに更新して表示する。具体的には、表示部２２には、グラフ表示画面６４と、データ格納画面６５とが表示されている。そして、グラフ表示画面６４には、図５に破線で示すように、スペクトルデータが更新されながら表示される。すなわち、スペクトルデータは、自動的にリアルタイムでグラフ表示画面６４に表示される。

また、データ格納画面６５には、第１補正後データ５１および第２補正後データ５２（図２Ｂ参照）のデータ格納状況がツリー状に表示される。すなわち、一度の測定作業において、第１補正後データ５１および第２補正後データ５２は、互いに対応づけられて格納される。そして、これらの第１補正後データ５１および第２補正後データ５２の格納状況が、データ格納画面６５に表示される。

その後は、図２Ａおよび図２Ｂに示すように、蛍光検出部１０において、全波長の蛍光が検出されるまで、上記動作が繰り返される（ステップＳ１０５〜Ｓ１０８、ステップＳ２０６〜Ｓ２０８）。

そして、蛍光検出部１０において、全波長の蛍光が検出されると（ステップＳ１０８でＹｅｓ、ステップＳ２０８でＹｅｓ）、表示部２２のグラフ表示画面６４に全波長のスペクトルデータが表示されて、分析システム１における試料の分析処理が終了する。

なお、図示しないが、データ格納画面６５に表示された第１補正後データ５１または第２補正後データ５２が選択された場合には、表示制御部５３が選択された第１補正後データ５１または第２補正後データ５２（図２Ｂ参照）を記憶部２３から読み出すことにより、表示部２２のグラフ表示画面６４において、リアルタイムで表示されるスペクトルデータに、過去に取得したスペクトルデータを重ねるように表示することができる。
また、ユーザは、分析処理の途中であっても、表示部２２の停止ボタン６３を選択することにより、分析処理を途中で終了させることができる。

４．作用効果
（１）本実施形態では、図２Ａに示すように、分光蛍光光度計２は、第１補正処理部３５を備える。第１補正処理部３５は、励起側補正係数３１に基づいて、蛍光検出部１０からの検出信号を補正する。そのため、検出信号に含まれる励起側の部材、すなわち、試料設置部６よりも励起光の通過方向の上流側に配置される部材である光源部４および励起側分光部５などが持つ光学特性に起因する誤差を精度よく補正できる。

また、図２Ｂに示すように、演算処理装置３は、第２補正処理部５０を備える。第２補正処理部５０は、補正係数受信部４７が受信し、記憶部２３に格納された蛍光側補正係数３２に基づいて、第１補正処理部３５による補正後の検出信号を自動的に補正する。そのため、ユーザによる演算処理装置３の操作作業を省くことができ、操作ミスの可能性も排除できる。その結果、精度のよい検出信号をリアルタイムで自動的に得ることができる。

さらに、蛍光側補正係数３２が、補正係数送信部３４から送信されて補正係数受信部４７に受信されるため、蛍光側の構成部品として付属品を設けた場合などでも、演算処理装置３において蛍光側補正係数３２に適切な補正係数を加え、それに基づいて検出信号を補正すれば、一層精度のよい検出信号をリアルタイムで自動的に得ることができる。

（２）また、本実施形態では、図２Ａに示すように、第１補正処理部３５は、励起側補正係数３１に加えて、励起光検出部８が出力する検出信号から算出された補正係数に基づいて、蛍光検出部１０からの検出信号を補正する。そのため、光源部４から出射される励起光の微小変動などに起因する検出信号の誤差を精度よく補正することができる。その結果、一層精度のよい検出信号を得ることができる。上記微小変動は、例えば光源部４によって出射された光のうち、励起側分光部５で分光された波長の光の強度の時間的な変動を意味している。

（３）また、本実施形態では、図２Ｂに示すように、第２補正処理部５０は、補正係数送信部３４から補正係数受信部４７に受信される蛍光側補正係数３２に加えて、試料設置部６に設置される付属品に応じた付属品補正係数４１に基づいて、第１補正処理部３５による補正後の検出信号を補正する。そのため、試料設置部６に設置される付属品の光学特性も考慮して検出信号を補正することができる。その結果、一層精度のよい検出信号を得ることができる。

（４）また、本実施形態では、図２Ｂに示すように、演算処理装置３において、第２補正処理部５０による補正前の第１補正後データ、および、第２補正処理部５０による補正後の第２補正後データが、互いに対応づけて一元管理される。そのため、演算処理装置３におけるトレーサビリティを向上できる。

（５）また、本実施形態では、図２Ｂに示すように、操作部２１によって、分光蛍光光度計２と演算処理装置３との間をオンライン状態に切り替えるだけで、補正係数受信部４７によって容易に蛍光側補正係数３２を受信することができる。そして、その蛍光側補正係数３２に基づいて、第１補正処理部３５による補正後の検出信号を第２補正処理部５０によって補正できる。そのため、検出信号を容易に補正できる。

また、分光蛍光光度計２と演算処理装置３とがオフライン状態のときに蛍光側補正係数３２が変更された場合であっても、補正係数受信部４７によって変更後の蛍光側補正係数３２を受信することができる。そのため、適切な蛍光側補正係数３２を用いて検出信号を補正することができる。その結果、一層精度のよい検出信号を得ることができる。

（６）また、本実施形態では、図２Ｂに示すように、表示制御部５３によって、第２補正処理部５０において補正後の検出信号が波長ごとに得られるたびに、それらの検出信号に基づくスペクトルデータをリアルタイムで更新して表示部２２に表示できる。そのため、補正後の検出信号に基づくスペクトルデータをリアルタイムで確認できる。

５．変形例
以上の実施形態では、補正係数読出部３３は、接続切替受付部４６が分光蛍光光度計２と演算処理装置３とをオンライン状態にするための電気信号を受け付けたことに応じて、記憶部１１から蛍光側補正係数３２を読み出すとして説明したが、補正係数読出部３３が蛍光側補正係数３２を読み出すタイミングは、これに限られない。例えば、ユーザは、操作部２１を操作することにより、記憶部１１から蛍光側補正係数３２を読み出す操作が可能であって、操作部２１において当該操作が行われたことに応じて、記憶部１１から蛍光側補正係数３２が読み出されてもよい。あるいは、操作部２１の操作によらず、記憶部１１から蛍光側補正係数３２が自動的に読み出されてもよい。

また、以上の実施形態では、試料設置部６には、付属品として積分球が設置されるとして説明したが、積分球に代えて、または、積分球とともに、その他の付属品が試料設置部６に設置されてもよい。

また、以上の実施形態では、演算処理装置用プログラムが組み込まれた演算処理装置３について説明したが、コンピュータを演算処理装置３として機能させるためのプログラム（演算処理装置用プログラム）を提供することも可能である。この場合、上記プログラムは、記憶媒体に記憶された状態で提供されるような構成であってもよいし、プログラム自体が提供されるような構成であってもよい。

１ 分析システム
２ 分光蛍光光度計
３ 演算処理装置
４ 光源部
５ 励起側分光部
６ 試料設置部
８ 励起光検出部
９ 蛍光側分光部
１０ 蛍光検出部
１１ 記憶部
２３ 記憶部
３１ 励起側補正係数
３２ 蛍光側補正係数
３４ 補正係数送信部
３５ 第１補正処理部
４１ 付属品補正係数
４５ 選択受付部
４６ 接続切替受付部
４７ 補正係数受信部
５０ 第２補正処理部
５１ 第１補正後データ
５２ 第２補正後データ
５３ 表示制御部

Claims (6)

1. 分光蛍光光度計と、当該分光蛍光光度計に電気的に接続される演算処理装置とを備える分析システムであって、
   前記分光蛍光光度計は、
   励起光を出射する光源部と、
   試料が設置される試料設置部と、
   前記光源部から出射される励起光を分光し、当該分光した励起光を試料に向けて出射する励起側分光部と、
   試料から放出される蛍光を波長ごとに分光して出射する蛍光側分光部と、
   前記蛍光側分光部から出射される蛍光を波長ごとに検出し、当該検出した蛍光に応じて検出信号を出力する蛍光検出部と、
   前記励起側分光部についての補正係数を含む励起側補正係数、および、前記蛍光側分光部についての補正係数を含む蛍光側補正係数を記憶する第１記憶部と、
   前記第１記憶部が記憶する前記励起側補正係数に基づいて、前記蛍光検出部からの検出信号を波長ごとに補正する第１補正処理部とを備え、
   前記演算処理装置は、
   前記第１記憶部が記憶する前記蛍光側補正係数を受信する補正係数受信部と、
   前記補正係数受信部が受信する前記蛍光側補正係数に基づいて、前記第１補正処理部による補正後の検出信号を波長ごとに補正する第２補正処理部とを備えることを特徴とする分析システム。
2. 前記分光蛍光光度計は、前記励起側分光部が分光した後の励起光の一部を検出し、当該検出した励起光に応じて検出信号を出力する励起光検出部をさらに備え、
   前記第１補正処理部は、前記励起側補正係数、および、前記励起光検出部が出力する検出信号に基づいて、前記蛍光検出部からの検出信号を波長ごとに補正することを特徴とする請求項１に記載の分析システム。
3. 前記試料設置部には、複数の付属品から選択した少なくとも１つの付属品を設置可能であり、
   前記演算処理装置は、
   前記複数の付属品のそれぞれについての補正係数を記憶する第２記憶部と、
   前記試料設置部に設置される付属品の選択操作を受け付ける選択受付部とをさらに備え、
   前記第２補正処理部は、前記第２記憶部が記憶する前記補正係数のうち、前記選択受付部により選択操作が受け付けられた付属品についての補正係数に基づいて、前記第１補正処理部による補正後の検出信号を波長ごとに補正することを特徴とする請求項１または２に記載の分析システム。
4. 前記演算処理装置は、前記第１補正処理部による補正後の検出信号を第１補正後データとして記憶するとともに、前記第２補正処理部による補正後の検出信号を第２補正後データとして前記第１補正後データに対応づけて記憶する第２記憶部をさらに備えることを特徴とする請求項１または２に記載の分析システム。
5. 前記演算処理装置は、前記分光蛍光光度計に対する接続状態の切替操作を受け付ける接続切替受付部をさらに備え、
   前記補正係数受信部は、前記接続切替受付部が前記接続状態の切替操作を受け付けることに応じて前記蛍光側補正係数を受信することを特徴とする請求項１〜４のいずれか一項に記載の分析システム。
6. 前記演算処理装置は、
   表示部と、
   前記表示部に対する表示を制御する表示制御部とをさらに備え、
   前記表示制御部は、前記第２補正処理部による補正後の検出信号が波長ごとに得られるたびに、当該補正後の検出信号に基づいて表示部の表示を更新することを特徴とする請求項１〜５のいずれか一項に記載の分析システム。

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