JPH1082733A - 基準反射体の汚れ検出方法、反射率測定装置、および記憶媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 基準反射体の汚れを誤検知なく正確に検出で
きる基準反射体の汚れ検出方法、およびその基準反射体
の汚れ検出方法を採用した反射率測定装置、ならびにそ
の反射率測定装置を動作させるためのプログラムを格納
した記憶媒体を提供する。 【解決手段】 互いに異なる反射率を有する複数の基準
反射体からの反射光をそれぞれ測定し（Ｓ１１）、それ
らの測定値を補正した補正後の測定値と予め求めておい
た基準反射体の反射率とから検量線を求め（Ｓ１２）、
その検量線と予め求めておいた基準検量線とを比較し
て、反射率を縦軸とし補正後の測定値を横軸として検量
線および基準検量線を描いたときに、検量線が縦軸と交
わる点と基準検量線が縦軸と交わる点とを求め、それら
両点の関係に基づいて基準反射体が汚れているか否かを
判断する（Ｓ１４）。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本願発明は、被測定体からの
反射光の強度に応じた補正後の測定値と被測定体の反射
率との関係を表す検量線を校正するために用いられる基
準反射体の汚れを検出する基準反射体の汚れ検出方法、
およびこの基準反射体の汚れ検出方法を採用した反射率
測定装置、ならびにこの反射率測定装置を動作させるた
めのプログラムを格納した記憶媒体に関する。

【０００２】

【従来の技術】被測定体に光源からの光を照射してその
反射率を測定する反射率測定装置は、各種の分析などに
広く応用されている。

【０００３】たとえば、液体などの検体中に含まれる特
定物質を、定性分析あるいは定量分析するために呈色試
験紙が使われており、この呈色試験紙を用いる分析方法
は、操作が簡単なために血液中成分の測定などに広く採
用されている。そして、そのような測定に際して、呈色
試験紙の呈色具合を目視で評価することには精度的に限
界があるため、呈色試験紙の呈色具合を自動的かつ高精
度に測定する反射率測定装置を備えた臨床検査装置が一
般に用いられている。

【０００４】このような反射率測定装置においては、被
測定体からの反射光の強度に応じた補正後の測定値と被
測定体の反射率との関係を表す検量線を利用して被測定
体の反射率を演算している。

【０００５】そして従来の反射率測定装置では、検量線
を求めるために、予め反射率を別の反射率測定装置で測
定した白板と黒板とを基準反射体として装置内に設けて
いた。すなわち、それら反射率が既知の白板と黒板との
反射率を測定することにより、それらの補正後の測定値
と既知の反射率とから検量線を求めていた。ここで、補
正後の測定値とは、光電変換手段の出力から光源の照度
変化やアンプのオフセットなどの影響を除去した測定値
のことをいうが、これについては後に詳述する。

【０００６】このように、基準反射体としての白板およ
び黒板は検量線を求める基準となるので、それらが汚れ
た場合、検量線に誤差が生じ、それに起因して測定結果
に誤差を生じることになる。このような白板および黒板
の汚れは、たとえば検体の極僅かな飛散や、使用者の手
の油脂分などが付着することにより生じることがあり、
それらは目視では確認できない場合が多い。

【０００７】このため従来の反射率測定装置では、検量
線の校正時に、白板および黒板の反射率を測定し、その
反射率と基準反射率との差が所定値を越えた場合に汚れ
ていると判断し、その旨を表示などにより使用者に報知
して、被測定体の反射率の測定を開始せずに、使用者に
よる清掃作業を待っていた。なお、基準反射率とは、装
置の出荷時において、白板および黒板の反射率の測定結
果をＥＥＰＲＯＭなどの不揮発性メモリに記憶させた値
である。

【０００８】しかし、上記従来の反射率測定装置では、
白板や黒板が汚れていないにも拘らず汚れていると誤検
知することがあった。

【０００９】たとえば、照射光を光ファイバケーブルに
より光源から測定位置まで誘導している反射率測定装置
では、光ファイバケーブルを構成する光ファイバ素線の
一部の切断や曲率の変化などにより照射光の光量が変化
するが、この場合、当然に白板や黒板からの反射光の強
度も変化し、測定される反射率も変化して、その度合い
が一定以上になると、汚れていると誤検知される。ま
た、反射光を測定する光電変換手段の感度が変化した場
合にも、同様の結果が生じる。

【００１０】このような誤検知が発生すると、使用者は
白板や黒板を清掃することになるが、白板や黒板が汚れ
ているわけではないので、清掃しても再度誤検知を繰り
返す結果となり、いつまでも被測定体の測定を行えず、
労力および時間を無駄に費やしてしまう。特に、臨床検
査装置の場合、緊急に測定を行う必要のある場合が多い
ので、このような誤検知は非常に不都合である。

【００１１】

【発明の開示】本願発明は、上記した事情のもとで考え
出されたものであって、基準反射体の汚れを誤検知なく
正確に検出できる基準反射体の汚れ検出方法、およびそ
の基準反射体の汚れ検出方法を採用した反射率測定装
置、ならびにその反射率測定装置を動作させるためのプ
ログラムを格納した記憶媒体を提供することを、その課
題とする。

【００１２】上記の課題を解決するため、本願発明で
は、次の技術的手段を講じている。

【００１３】本願発明の第１の側面によれば、互いに異
なる反射率を有する複数の基準反射体からの反射光をそ
れぞれ測定し、それらの測定値を補正した補正後の測定
値と予め求めておいた基準反射体の反射率とから検量線
を求める検量線算出ステップと、検量線算出ステップで
求めた検量線と予め求めておいた基準検量線とを比較し
て、反射率を縦軸とし補正後の測定値を横軸として検量
線および基準検量線を描いたときに、検量線が縦軸と交
わる点と基準検量線が縦軸と交わる点とを求め、それら
両点の関係に基づいて基準反射体が汚れているか否かを
判断する汚れ判定ステップとを実行することを特徴とす
る、基準反射体の汚れ検出方法が提供される。

【００１４】この基準反射体の汚れ検出方法によれば、
検量線が縦軸と交わる点と基準検量線が縦軸と交わる点
との関係に基づいて基準反射体が汚れているか否かを判
断するので、誤検知を防止できる。

【００１５】すなわち、光ファイバケーブルの一部の損
傷や光電変換手段の感度変化の場合、検量線は、基準検
量線と比較して、傾きは変化するが、縦軸との交点はあ
まり変化しない。これは、光ファイバケーブルの一部の
損傷や光電変換手段の感度変化が生じた場合、複数の基
準反射体の補正後の測定値が全て同じ比率で変化するた
めである。これに対し、実際に基準反射体が汚れている
場合、検量線は、基準検量線と比較して、縦軸との交点
が大きく変化する。これは、実際に基準反射体が汚れて
いる場合、複数の基準反射体の補正後の測定値が全て同
じ比率で変化するようなことは通常考えられず、補正後
の測定値の変化比率が基準反射体毎に相違するためであ
る。たとえば、基準反射体が黒板と白板とであり、白板
の反射率が９０％から５０％になるように汚れ、これと
同時に黒板の反射率が９％から５％になるように汚れた
と仮定すると、光ファイバケーブルの一部の損傷や光電
変換手段の感度変化の場合と同様に、検量線は、基準検
量線と比較して、傾きは変化するが、縦軸との交点はあ
まり変化しないので、基準反射体の汚れが検知できない
ことになる。しかし、たとえば白板の反射率が高くなる
ように汚れることや、黒板の反射率が低くなるように汚
れることは、通常殆ど考えられず、このような誤検知は
実用上あり得ない。したがって、検量線の縦軸との交点
と基準検量線の縦軸との交点との差を求めて、その差が
所定値を越えていれば、実際に基準反射体が汚れている
と判断できる。

【００１６】このように誤検知を防止できる結果、使用
者に無駄な労力や時間を費やさせることがない。特に、
緊急に測定する必要のある場合が多い臨床検査装置に採
用すれば、誤検知による測定不能状態を回避でき、極め
て有効である。

【００１７】被測定体としては、呈色試験紙が考えられ
るが、もちろんこれに限るものではなく、あらゆる被測
定体の反射率を測定するに際して本願発明を適用でき
る。

【００１８】補正後の測定値とは、光電変換手段の出力
から各種の誤差要因を除去した値であり、たとえば、被
測定体からの反射光を受光した光電変換素子の出力値か
らアンプなどのオフセットを減算した値と、光源の光を
直接受光した光電変換素子の出力値からアンプなどのオ
フセットを減算した値との比を用いることができる。も
ちろん、オフセットには、アンプの暗電流ばかりでな
く、光電変換素子の暗電流も含まれる。

【００１９】基準反射体としては、従来と同様に白板と
黒板とを用いることができるが、必ずしもこのような色
に限定されるものではなく、また設置数も３個以上であ
ってもよい。なお、基準反射体の反射率は、検量線を求
める基準となるので、安定度が極力高いことが望まし
い。また、基準反射体相互間の反射率の差が大きいこと
が望ましい。

【００２０】基準検量線は、たとえば反射率が既知の複
数の反射体を測定することにより得ることができる。

【００２１】好ましい実施の形態によれば、基準検量線
は、互いに異なる反射率を有しかつ反射率が既知の複数
の反射体からの反射光をそれぞれ測定し、それらの測定
値を補正した補正後の測定値と既知の反射率とを用いて
求められる。

【００２２】このようにすれば、容易に基準検量線を求
めることができる。

【００２３】反射体としては、ＮＤペーパーなどのいわ
ゆるキャリブレーションスティックを用いることができ
るが、これに限るものではなく、正確に反射率が判明し
ているものであればよい。また、反射体の色は黒色およ
び白色に限るものではなく、さらに、反射体の使用数は
２個に限らず、３個以上の反射体を用いてもよい。これ
ら反射体は、呈色試験紙などの被測定体と同一形状およ
び同一面高さであって、反射体相互間の反射率の差が大
きいことが望ましい。

【００２４】好ましい他の実施の形態によれば、基準反
射体の反射率は、基準反射体からの反射光をそれぞれ測
定し、それらの測定値を補正した補正後の測定値と予め
求めておいた基準検量線とを用いて求められる。

【００２５】このようにすれば、基準反射体を実際に測
定することから、基準反射体の取り付け精度や面高さな
どの誤差が反射率に反映され、後の検量線の校正時には
上記の誤差が反映された結果としての反射率を用いるこ
とになるので、基準反射体の取り付け精度や面高さなど
の誤差に起因する測定結果の誤差を吸収できる。

【００２６】好ましい他の実施の形態によれば、検量線
算出ステップと汚れ判定ステップとを、相互に異なる複
数の測定位置毎に実行する。

【００２７】このようにすれば、基準反射体の位置によ
る反射率や面高さなどの誤差に拘らず、各測定位置毎に
正確に基準反射体の汚れを検出できる。

【００２８】好ましい他の実施の形態によれば、検量線
算出ステップと汚れ判定ステップとを、相互に異なる複
数の測定位置毎に、予め決められた複数種類の波長の照
射光により実行する。

【００２９】このようにすれば、基準反射体の位置によ
る反射率や面高さなどの誤差に拘らず、各測定位置毎に
複数の波長によって正確に基準反射体の汚れを検出でき
る。このように複数の波長を用いるのは、被反射体の色
に応じて照射光の波長が異なり、照射光の波長が異なる
と汚れ検出の結果も異なるからである。

【００３０】本願発明の第２の側面によれば、被測定体
からの反射光の強度に応じた補正後の測定値と被測定体
の反射率との関係を表す検量線情報を利用して被測定体
の反射率を演算する反射率測定装置であって、被測定体
からの反射光の強度に応じた検出信号を出力する光電変
換手段と、測定値を補正するための補正情報、予め求め
られた基準検量線情報、および予め求められた複数の基
準反射体の反射率を記憶している記憶手段と、基準反射
体からの反射光を光電変換手段にそれぞれ測定させ、そ
れらの測定値を記憶手段に記憶されている補正情報に基
づいて補正し、その補正後の測定値と記憶手段に記憶さ
れている基準反射体の反射率とから検量線情報を演算す
る検量線算出手段と、検量線算出手段により演算された
検量線情報と記憶手段に記憶されている基準検量線情報
とを比較して、反射率を縦軸とし補正後の測定値を横軸
として検量線および基準検量線を描いたときに、検量線
が縦軸と交わる点と基準検量線が縦軸と交わる点とを演
算し、それらの演算値の関係に基づいて基準反射体が汚
れているか否かを判断する汚れ判定手段とを備えたこと
を特徴とする、反射率測定装置が提供される。

【００３１】この反射率測定装置によれば、検量線が縦
軸と交わる点と基準検量線が縦軸と交わる点との関係に
基づいて基準反射体が汚れているか否かを判断するの
で、誤検知を防止できる。

【００３２】すなわち、光ファイバケーブルの一部の損
傷や光電変換手段の感度変化の場合、検量線は、基準検
量線と比較して、傾きは変化するが、縦軸との交点はあ
まり変化しない。これに対し、実際に基準反射体が汚れ
ている場合、検量線は、基準検量線と比較して、縦軸と
の交点が大きく変化する。したがって、検量線の縦軸と
の交点と基準検量線の縦軸との交点とを演算して、それ
らの差が所定値を越えていれば、実際に基準反射体が汚
れていると判断できる。この理由については既述したの
で、再度の説明は省略する。

【００３３】このように誤検知を防止できる結果、使用
者に無駄な労力や時間を費やさせることがない。特に、
緊急に測定する必要のある場合が多い臨床検査装置に採
用すれば、誤検知による測定不能状態を回避でき、極め
て有効である。

【００３４】光電変換手段としては、たとえばホトダイ
オードが考えられるが、これに限らず、ホトトランジス
タなどを用いてもよい。

【００３５】記憶手段としては、たとえばＥＥＰＲＯＭ
などの書換え可能な不揮発性メモリが考えられるが、こ
れに限らず、電源バックアップが施されたＲＡＭなどを
用いてもよい。

【００３６】検量線算出手段および汚れ判定手段は、た
とえば所定のプログラムによりＣＰＵを動作させること
により実現できる。

【００３７】好ましい実施の形態によれば、光電変換手
段からの出力を増幅し、かつ増幅率を変更可能な増幅手
段と、検量線算出手段により演算された検量線情報と記
憶手段に記憶されている基準検量線情報とを比較して、
反射率を縦軸とし補正後の測定値を横軸として検量線お
よび基準検量線を描いたときに、検量線の傾きと基準検
量線の傾きとを演算し、それらの演算値の関係に基づい
て増幅手段の増幅率を変更させる増幅率制御手段とを備
えている。

【００３８】このようにすれば、検量線の傾きと基準検
量線の傾きとを演算し、それらの演算値の関係に基づい
て増幅手段の増幅率を変更させるので、光ファイバケー
ブルの一部の損傷や光電変換手段の感度の変化などによ
り光電変換手段の出力が変化した場合でも、その出力を
適正に増幅できることから、基準反射体の汚れ以外の原
因により光電変換手段の出力が適正範囲から逸脱するこ
とによる反射率測定の中断を極力なくすことができる。

【００３９】たとえば、基準反射体の汚れを検出しない
にも拘らず、検量線の傾きと基準検量線の傾きとの差が
所定値以上である場合、検量線の傾きが基準検量線の傾
きと所定の誤差の範囲で一致するように増幅手段の増幅
率を変更することにより、検量線の校正を支障無く行
え、反射率の測定を中断させずに済む。

【００４０】増幅手段としては、たとえば演算増幅器を
用いることができるが、もちろんこれに限るものではな
い。

【００４１】増幅率制御手段は、たとえば所定のプログ
ラムに基づいてＣＰＵを動作させることにより実現でき
る。

【００４２】好ましい実施の形態によれば、光電変換手
段は、相互に異なる複数の測定位置毎に設置されてお
り、検量線情報算出手段は、各測定位置毎に検量線情報
を演算し、汚れ判定手段は、各測定位置毎に基準反射体
の汚れを判定する。

【００４３】このようにすれば、各測定位置毎に正確に
基準反射体の汚れを検出できる。すなわち、各測定位置
における、基準反射体の反射率や面高さのばらつきなど
に起因する誤検知をなくすことができる。

【００４４】好ましい他の実施の形態によれば、検量線
情報算出手段は、各測定位置毎に予め決められた複数種
類の波長の照射光により検量線情報を演算し、汚れ判定
手段は、各測定位置毎に予め決められた複数種類の照射
光の波長により基準反射体の汚れを判定する。

【００４５】このようにすれば、基準反射体の位置によ
る反射率や面高さなどの誤差に拘らず、各測定位置毎に
複数の波長によって正確に基準反射体の汚れを検出でき
る。このように複数の波長を用いるのは、被測定体の色
に応じて照射光の波長が異なり、照射光の波長が異なる
と汚れ検出の結果も異なるからである。

【００４６】好ましい他の実施の形態によれば、互いに
異なる反射率を有しかつ反射率が既知の複数の反射体か
らの反射光を光電変換手段にそれぞれ測定させ、それら
の測定値を記憶手段に記憶されている補正情報に基づい
て補正し、それら補正後の測定値と既知の反射率とを用
いて基準検量線情報を演算し、その基準検量線情報を記
憶手段に記憶させる基準検量線情報算出手段を備えてい
る。

【００４７】このようにすれば、容易に基準検量線情報
を求めることができ、その基準検量線情報を記憶手段に
記憶させていつでも使えるようにできる。

【００４８】好ましい他の実施の形態によれば、基準反
射体からの反射光を光電変換手段にそれぞれ測定させ、
それらの測定値を記憶手段に記憶されている補正情報に
基づいて補正し、その補正後の測定値と記憶手段に記憶
されている基準検量線とに基づいて基準反射体の反射率
を演算し、その演算結果を記憶手段に記憶させる基準反
射率算出手段を備えている。

【００４９】このようにすれば、容易に基準反射体の反
射率を求めることができ、その反射率を記憶手段に記憶
させていつでも使えるようにできる。

【００５０】本願発明の第３の側面によれば、被測定体
からの反射光の強度に応じた補正後の測定値と被測定体
の反射率との関係を表す検量線情報を利用して被測定体
の反射率を演算する反射率測定装置を動作させるための
プログラムを格納した記憶媒体であって、基準反射体か
らの反射光を光電変換手段にそれぞれ測定させ、それら
の測定値を記憶手段に記憶されている補正情報に基づい
て補正し、その補正後の測定値と記憶手段に記憶されて
いる基準反射体の反射率とから検量線情報を演算する検
量線算出プログラムと、検量線算出プログラムにより演
算された検量線情報と記憶手段に記憶されている基準検
量線情報とを比較して、反射率を縦軸とし補正後の測定
値を横軸として検量線および基準検量線を描いたとき
に、検量線が縦軸と交わる点と基準検量線が縦軸と交わ
る点とを演算し、それらの演算値の関係に基づいて基準
反射体が汚れているか否かを判断する汚れ判定プログラ
ムとを含むプログラムを格納していることを特徴とす
る、記憶媒体が提供される。

【００５１】この記憶媒体によれば、格納されているプ
ログラムをＣＰＵなどに実行させることにより、本願発
明の基準反射体の汚れ検出方法を実施でき、また本願発
明の反射率測定装置を実現できる。なお、記憶媒体とし
ては、たとえばＲＯＭが考えられるが、これに限らず、
フレキシブルディスク、ハードディスク、あるいはＣＤ
−ＲＯＭなどを用いることができる。また、記憶媒体と
して、ＥＥＰＲＯＭなどの不揮発性メモリを用いてもよ
い。

【００５２】本願発明のその他の特徴および利点は、添
付図面を参照して以下に行う詳細な説明によって、より
明らかとなろう。

【００５３】

【発明の実施の形態】以下、本願発明の好ましい実施の
形態を、図面を参照して具体的に説明する。

【００５４】図１は、本願発明に係る反射率測定装置を
備えた臨床検査装置の外観斜視図で、この臨床検査装置
は、たとえば血液や尿などを分析するものである。この
臨床検査装置は、本体部１と、この本体部１の前面に上
端部を中心として開閉自在に取り付けられた蓋部２とに
より構成されている。本体部１の前面上部は、フロント
パネル３により覆われており、本体部１の前面下部に
は、テーブルカバー４が開閉可能に設置されている。蓋
部２の裏面には、ＬＣＤなどからなる表示装置５が設置
されている。この表示装置５の表示画面は、タッチパネ
ルを構成しており、使用者による各種の入力指示が可能
なようになされている。

【００５５】図２は図１に示す臨床検査装置の要部の外
観斜視図で、本体部１のテーブルカバー４を取り外した
状態を示している。テーブルカバー４の下方には、試薬
テーブル１１が前後方向に移動可能に設置されており、
試薬テーブル１１上の所定位置には、基準反射体として
の黒板１２と白板１３とが設置されている。

【００５６】図３は図１に示す臨床検査装置の光学系の
概略構成図で、光源としてのランプ２１からの白色光
は、フィルタロータ２２に設置されたフィルタを通過す
ることにより、そのフィルタによって決定される所定波
長の単色光となって、光ファイバ２３の一端面に入射す
る。光ファイバ２３の他端部はたとえば７本に分岐して
おり、それらのうち６本は他端面が相互に異なる測定位
置に各別に配置されており、残りの１本は参照用として
用いられている。すなわち図示しないが、参照用の光フ
ァイバ２３の他端面は、参照用の光電変換手段としての
ホトダイオードの受光面と対向した状態で樹脂などによ
りモールドされており、参照用の光ファイバ２３の他端
面から出射した光が全て参照用のホトダイオードの受光
面に入射するように、かつ外部からの光が参照用のホト
ダイオードの受光面に入射しないようになされている。
なお、フィルタロータ２２には、通過光の波長が相互に
異なるたとえば６個のフィルタが、周方向所定間隔おき
に取り付けられている。

【００５７】図４は図１に示す臨床検査装置の各測定位
置における光学系の概略構成図で、光ファイバ２３の他
端面から出射した光は、被測定体としての試薬パッド２
４の表面に当たって反射し、光電変換手段としてのホト
ダイオード２５ａ，２５ｂの受光面に入射する。各測定
位置におけるこれらホトダイオード２５ａ，２５ｂの設
置個数は任意であるが、複数個設ける場合は、それらの
平均あるいは合計の出力をその測定位置での出力とす
る。

【００５８】図５は被測定体としての試薬パッド２４を
備えた試験紙の外観斜視図で、この試験紙２６は、図１
に示す臨床検査装置の試薬テーブル１１上に載置され
る。試薬テーブル１１上には、試験紙２６をたとえば２
個まで載置可能である。この試験紙２６は、一方の主面
に複数の試薬パッド２４が長手方向適当間隔おきに配置
されたいわゆるマルチタイプであって、隣接する試薬パ
ッド２４間にはバーコード２７が印刷されている。この
バーコード２７は、試験紙２６に関する各種情報を表し
ている。試験紙２６の一方の主面には、さらに、試験項
目名称２８が印刷されている。試薬パッド２４は、たと
えば血液や尿を含浸させることにより、その特定の成分
によって色彩が変化するものであって、各試薬パッド２
４毎に反応する成分および呈色が異なっており、１つの
試験紙２６で複数の検査項目を検査できる。なお試薬テ
ーブル１１上には、図６に示すように、一方の主面に１
つの試薬パッド２４が配置されたいわゆるシングルタイ
プの試験紙３１も載置可能である。

【００５９】図７は図１に示す臨床検査装置の回路ブロ
ック図で、ＣＰＵ４１、ＲＯＭ４２、ＲＡＭ４３、ＥＥ
ＰＲＯＭ４４、および入出力インターフェイス４５はバ
ス線４６により相互に接続されている。バス線４６に
は、アドレスバス、データバス、および制御信号線が含
まれる。入出力インターフェイス４５には、各測定位置
に設置された光電変換手段としてのホトダイオード２５
ａ，２５ｂ、参照用のホトダイオード４７、光源として
のランプ２１、フィルタロータ２２を回転駆動するため
のモータ４８、試薬テーブル１１を移動させるためのモ
ータ４９、および表示装置５が接続されている。各ホト
ダイオード２５ａ，２５ｂと入出力インターフェイス４
５との間にはそれぞれアンプ５０ａ，５０ｂが介装され
ており、ホトダイオード４７と入出力インターフェイス
４５との間にはアンプ５１が介装されている。

【００６０】ＣＰＵ４１は、臨床検査装置全体を制御す
る。ＲＯＭ４２には、ＣＰＵ４１を動作させるプログラ
ムなどが格納されている。ＲＡＭ４３には、各種のデー
タなどが格納される。ＥＥＰＲＯＭ４４には、電源オフ
時にも記憶している必要のあるデータなどが格納され
る。入出力インターフェイス４５は、入出力のタイミン
グ制御、Ａ／Ｄ変換、およびシリアル−パラレル変換な
どを行う。ホトダイオード２５ａ，２５ｂは、各測定位
置にそれぞれ設置されて、試薬パッド２４からの反射光
に応じた電流を出力する。アンプ５０ａ，５０ｂは、ホ
トダイオード２５ａ，２５ｂからの電流をそれぞれ増幅
し、かつ電圧に変換する。そして、これらアンプ５０
ａ，５０ｂの出力電圧は入出力インターフェイス４５に
よりディジタルデータに変換され、ＣＰＵ４１によりホ
トダイオード２５ａ，２５ｂの出力の平均値あるいは合
計値が各測定位置毎に演算される。アンプ５１は、参照
用のホトダイオード４７からの電流を増幅し、かつ電圧
に変換する。そして、このアンプ５１の出力電圧は入出
力インターフェイス４５によりディジタルデータに変換
される。

【００６１】すなわち、ホトダイオード２５ａ，２５ｂ
は、試薬パッド２４からの反射光の強度に応じた検出信
号を出力する光電変換手段を構成している。ＥＥＰＲＯ
Ｍ４４は、アンプ５０ａ，５０ｂ，５１からの測定値を
補正するための補正情報、予め求められた基準検量線情
報、および予め求められた黒板１２および白板１３の反
射率を記憶している記憶手段を構成している。アンプ５
０ａ，５０ｂは、ホトダイオード２５ａ，２５ｂからの
出力を増幅し、かつ増幅率を変更可能な増幅手段を構成
している。ＣＰＵ４１は、黒板１２および白板１３から
の反射光をホトダイオード２５ａ，２５ｂにそれぞれ測
定させ、それらの測定値をＥＥＰＲＯＭ４４に記憶され
ている補正情報に基づいて補正し、その補正後の測定値
とＥＥＰＲＯＭ４４に記憶されている黒板１２および白
板１３の反射率とから検量線情報を演算する検量線算出
手段を構成している。さらにＣＰＵ４１は、検量線算出
手段により演算された検量線情報とＥＥＰＲＯＭ４４に
記憶されている基準検量線情報とを比較して、反射率を
縦軸とし補正後の測定値を横軸として検量線および基準
検量線を描いたときに、検量線が縦軸と交わる点と基準
検量線が縦軸と交わる点とを演算し、それらの演算値の
関係に基づいて黒板１２および白板１３が汚れているか
否かを判断する汚れ判定手段を構成している。さらにＣ
ＰＵ４１は、検量線算出手段により演算された検量線情
報とＥＥＰＲＯＭ４４に記憶されている基準検量線情報
とを比較して、反射率を縦軸とし補正後の測定値を横軸
として検量線および基準検量線を描いたときに、検量線
の傾きと基準検量線の傾きとを演算し、それらの演算値
の関係に基づいてアンプ５０ａ，５０ｂの増幅率を変更
させる増幅率制御手段を構成している。さらにＣＰＵ４
１は、互いに異なる反射率を有しかつ反射率が既知の複
数の反射体からの反射光をホトダイオード２５ａ，２５
ｂにそれぞれ測定させ、それらの測定値をＥＥＰＲＯＭ
４４に記憶されている補正情報に基づいて補正し、それ
ら補正後の測定値と既知の反射率とを用いて基準検量線
情報を演算し、その基準検量線情報をＥＥＰＲＯＭ４４
に記憶させる基準検量線情報算出手段を構成している。
さらにＣＰＵ４１は、黒板１２および白板１３からの反
射光をホトダイオード２５ａ，２５ｂにそれぞれ測定さ
せ、それらの測定値をＥＥＰＲＯＭ４４に記憶されてい
る補正情報に基づいて補正し、その補正後の測定値とＥ
ＥＰＲＯＭ４４に記憶されている基準検量線とに基づい
て黒板１２および白板１３の反射率を演算し、その演算
結果をＥＥＰＲＯＭ４４に記憶させる基準反射率算出手
段を構成している。

【００６２】次に、上記臨床検査装置における検量線校
正準備処理の手順について、図８に示すフローチャート
を参照しながら説明する。

【００６３】先ず、基準検量線情報を得るために、試薬
テーブル１１上の試験紙セット位置に１対の反射体を載
置し、その反射体の反射率を測定する（Ｓ１）。具体的
には、使用者が試薬テーブル１１上の試験紙セット位置
に１対の反射体を載置し、表示装置５の表示画面に対し
て所定の操作を行うと、ＣＰＵ４１が、ランプ２１を制
御して点灯させ、フィルタロータ２２の駆動源であるモ
ータ４８を制御して所定波長のフィルタを光路に挿入す
る。さらに、ＣＰＵ４１が、試薬テーブル１１の駆動源
であるモータ４９を制御して一方の反射体が全ての測定
位置に位置するように、試薬テーブル１１を移動させ
る。これにより、所定波長の光が光ファイバ２３の一端
面に入射し、７箇所に分岐した光ファイバ２３の他端面
から出射される。これらの光は、各測定位置にて、一方
の反射体に当たって反射し、ホトダイオード２５ａ，２
５ｂの受光面に入射すると共に、参照用の光がホトダイ
オード４７の受光面に入射する。そして、ホトダイオー
ド２５ａ，２５ｂ，４７からの出力電流は、アンプ５０
ａ，５０ｂ，５１により増幅され、かつ電圧に変換され
て、入出力インターフェイス４５に入力される。入出力
インターフェイス４５は、これらの電圧をディジタルデ
ータに変換し、これらのディジタルデータは、ＣＰＵ４
１によりＲＡＭ４３に格納される。

【００６４】そして、ＣＰＵ４１が、フィルタロータ２
２の駆動源であるモータ４８を制御して、次のフィルタ
に切替え、上記と同様の動作により各測定位置でのディ
ジタルデータがＲＡＭ４３に格納される。以下同様に、
フィルタロータ２２に設けられた全てのフィルタにより
得られる波長の光により、各測定位置における一方の反
射体の測定が行われ、測定結果がＲＡＭ４３に格納され
る。

【００６５】さらに、ＣＰＵ４１が、試薬テーブル１１
の駆動源であるモータ４９を制御して他方の反射体が全
ての測定位置に位置するように、試薬テーブル１１を移
動させ、一方の反射体の場合と同様の動作により各測定
位置における測定を各波長について行い、その結果得ら
れたディジタルデータをＲＡＭ４３に格納する。なお、
１対の反射体の反射率は、予め正確に測定されており、
既知であって、ＥＥＰＲＯＭ４４に格納されている。

【００６６】そして、ＣＰＵ４１が、１対の反射体の測
定結果に基づいて、基準検量線情報を演算する（Ｓ
２）。すなわち、１対の反射体の反射率の測定値であ
る、ホトダイオード２５ａ，２５ｂの出力電流値に応じ
たディジタルデータの値をα１，β１、その補正出力値
をａ１，ｂ１とし、１対の反射体の既知の反射率をＡ
１，Ｂ１とすると、補正出力値ａ１，ｂ１と反射率Ａ
１，Ｂ１とから、図９に示すような基準検量線５２を表
す数式を演算できることは明らかである。この数式の演
算は、各測定位置および各波長毎にＲＡＭ４３およびＥ
ＥＰＲＯＭ４４から所定のデータが読み出されて実行さ
れる。ここで、α１，β１からａ１，ｂ１への補正は、
下記数式１により演算される。

【００６７】

【数１】

【００６８】なお、上記数式１において、Ｒ１，Ｒ２は
参照用のホトダイオード４７の出力電流に応じたディジ
タルデータの値、ＯＳ１，ＯＳ２はホトダイオード２５
ａ，２５ｂの出力電流を増幅するアンプ５０ａ，５０ｂ
などのオフセットのディジタルデータの値、ＯＳＲ１，
ＯＳＲ２は参照用のホトダイオード４７の出力電流を増
幅するアンプ５１などのオフセットのディジタルデータ
の値である。オフセット値ＯＳ１，ＯＳ２，ＯＳＲ１，
ＯＳＲ２は、ランプ２１を消灯させた状態、若しくはラ
ンプ２１からの光を遮った状態でホトダイオード２５
ａ，２５ｂ，４７の出力電流を増幅するアンプ５０ａ，
５０ｂ，５１からの出力電圧をディジタルデータに変換
することにより求めることができる。このように測定値
を補正することにより、経年変化や電源電圧の変動など
に起因するランプ２１の光量の変化、およびホトダイオ
ード２５ａ，２５ｂ，４７やアンプ５０ａ，５０ｂ，５
１の暗電流による誤差をなくすことができる。

【００６９】ところで、Ｒ１，Ｒ２，ＯＳ１，ＯＳ２，
ＯＳＲ１，ＯＳＲ２に相当する値は、後述の補正出力値
ａ２，ｂ２，ａ３，ｂ３，ｃの演算時にも毎回測定す
る。すなわち、補正出力値ａ１，ｂ１，ａ２，ｂ２，ａ
３，ｂ３，ｃを求めるためにＥＥＰＲＯＭ４４に記憶さ
れている補正情報とは、Ｒ１，Ｒ２，ＯＳ１，ＯＳ２，
ＯＳＲ１，ＯＳＲ２あるいはそれらに相当する値の具体
的な数値ではなく、上記数式１で示されるような演算式
自体である。

【００７０】さらにＣＰＵ４１が、Ｓ２において演算し
た基準検量線情報をＥＥＰＲＯＭ４４に格納する（Ｓ
３）。すなわち、基準検量線５２の傾きθ１と縦軸との
交点γ１とをＥＥＰＲＯＭ４４に格納する。

【００７１】次に、基準反射体としての黒板１２および
白板１３の反射率を測定する（Ｓ４）。具体的には、使
用者が表示装置５の表示画面に対して所定の操作を行う
と、ＣＰＵ４１が、ランプ２１を制御して点灯させ、フ
ィルタロータ２２の駆動源であるモータ４８を制御して
所定波長のフィルタを光路に挿入する。さらに、ＣＰＵ
４１が、試薬テーブル１１の駆動源であるモータ４９を
制御して黒板１２が全ての測定位置に位置するように、
試薬テーブル１１を移動させる。これにより、所定波長
の光が光ファイバ２３の一端面に入射し、７箇所に分岐
した光ファイバ２３の他端面から出射される。これらの
光は、各測定位置にて、黒板１２に当たって反射し、ホ
トダイオード２５ａ，２５ｂの受光面に入射すると共
に、参照用の光がホトダイオード４７の受光面に入射す
る。そして、ホトダイオード２５ａ，２５ｂ，４７から
の出力電流は、アンプ５０ａ，５０ｂ，５１により増幅
され、かつ電圧に変換されて、入出力インターフェイス
４５に入力される。入出力インターフェイス４５は、こ
れらの電圧をディジタルデータに変換し、これらのディ
ジタルデータは、ＣＰＵ４１によりＲＡＭ４３に格納さ
れる。

【００７２】そして、ＣＰＵ４１が、フィルタロータ２
２の駆動源であるモータ４８を制御して、次のフィルタ
に切替え、各測定位置でのディジタルデータがＲＡＭ４
３に格納される。以下同様に、フィルタロータ２２に設
けられた全てのフィルタにより得られる波長の光によ
り、各測定位置における黒板１２の測定が行われ、測定
結果がＲＡＭ４３に格納される。

【００７３】さらに、ＣＰＵ４１が、試薬テーブル１１
の駆動源であるモータ４９を制御して白板１３が全ての
測定位置に位置するように、試薬テーブル１１を移動さ
せ、黒板１２の場合と同様の動作により各測定位置にお
ける測定を全ての波長について行い、その結果得られた
ディジタルデータをＲＡＭ４３に格納する。

【００７４】そして、ＣＰＵ４１が、黒板１２および白
板１３の測定結果に基づいて、黒板１２および白板１３
の反射率を演算する（Ｓ５）。すなわち、黒板１２およ
び白板１３の測定により得られたディジタルデータを各
測定位置および各波長毎にＲＡＭ４３から読み出し、上
記数式１と同様の数式により補正して補正出力値ａ２，
ｂ２を演算し、これらの値とＥＥＰＲＯＭ４４に記憶さ
せた基準検量線５２の数式とにより、黒板１２の反射率
Ａ２と白板１３の反射率Ｂ２とを演算する。基準検量線
５２は、図１０に示すように、補正出力値ａ２，ｂ２と
反射率Ａ２，Ｂ２との関係を表したものであり、補正出
力値ａ２，ｂ２と基準検量線５２の数式とから反射率Ａ
２，Ｂ２を演算できるのは明らかである。

【００７５】さらに、ＣＰＵ４１が、演算した黒板１２
および白板１３の反射率Ａ２，Ｂ２を各測定位置および
各波長毎にＥＥＰＲＯＭ４４に格納する（Ｓ６）。

【００７６】以上の手順により、検量線校正準備処理が
終了する。すなわち、この臨床検査装置により測定した
黒板１２および白板１３の反射率が各測定位置および各
波長毎に得られたことになる。

【００７７】次に、検量線校正処理の手順について、図
１１に示すフローチャートを参照しながら説明する。黒
板１２および白板１３の汚れ検出は、この検量線校正処
理の一部として実行される。

【００７８】先ず、基準反射体としての黒板１２および
白板１３の反射率を測定する（Ｓ１１）。具体的には、
使用者が表示装置５の表示画面に対して所定の操作を行
うと、ＣＰＵ４１が、ランプ２１を制御して点灯させ、
フィルタロータ２２の駆動源であるモータ４８を制御し
て所定波長のフィルタを光路に挿入する。さらに、ＣＰ
Ｕ４１が、試薬テーブル１１の駆動源であるモータ４９
を制御して黒板１２が全ての測定位置に位置するよう
に、試薬テーブル１１を移動させる。これにより、所定
波長の光が光ファイバ２３の一端面に入射し、７箇所に
分岐した光ファイバ２３の他端面から出射される。これ
らの光は、各測定位置にて、黒板１２に当たって反射
し、ホトダイオード２５ａ，２５ｂの受光面に入射する
と共に、参照用の光がホトダイオード４７の受光面に入
射する。そして、ホトダイオード２５ａ，２５ｂ，４７
からの出力電流は、アンプ５０ａ，５０ｂ，５１により
増幅され、かつ電圧に変換されて、入出力インターフェ
イス４５に入力される。入出力インターフェイス４５
は、これらの電圧をディジタルデータに変換し、これら
のディジタルデータは、ＣＰＵ４１によりＲＡＭ４３に
格納される。

【００７９】そして、ＣＰＵ４１が、フィルタロータ２
２の駆動源であるモータ４８を制御して、次のフィルタ
に切替え、上記と同様の動作により各測定位置でのディ
ジタルデータがＲＡＭ４３に格納される。以下同様に、
フィルタロータ２２に設けられた全てのフィルタにより
得られる波長の光について、各測定位置における黒板１
２の測定が行われ、測定結果がＲＡＭ４３に格納され
る。

【００８０】さらに、ＣＰＵ４１が、試薬テーブル１１
の駆動源であるモータ４９を制御して白板１３が全ての
測定位置に位置するように、試薬テーブル１１を移動さ
せ、黒板１２の場合と同様の動作により各測定位置およ
び各波長における測定を行い、その結果得られたディジ
タルデータをＲＡＭ４３に格納する。

【００８１】そして、ＣＰＵ４１が、ＲＡＭ４３に格納
された黒板１２および白板１３の測定結果に基づいて、
各測定位置および各波長毎に検量線情報を演算する（Ｓ
１２）。すなわち、黒板１２および白板１３の反射率の
測定値である、ホトダイオード２５ａ，２５ｂの出力電
流値に応じたディジタルデータの値を上記数式１と同様
な数式で補正した補正出力値をａ３，ｂ３とすると、黒
板１２および白板１３の反射率Ａ２，Ｂ２は図８のＳ６
において既にＥＥＰＲＯＭ４４に記憶されているので、
これらから図１２に示すような検量線５３を表す数式を
演算できることは明らかである。なお、基準検量線５２
とは別に検量線５３を求めるのは、各種の要因により検
量線５３が基準検量線５２と一致しなくなることがある
ためである。

【００８２】さらに、ＣＰＵ４１が、Ｓ１２において演
算した検量線情報をＲＡＭ４３に格納する（Ｓ１３）。
すなわち、各測定位置毎に各波長における検量線５３の
傾きθ２と縦軸との交点γ２とをＲＡＭ４３に格納す
る。

【００８３】そして、ＣＰＵ４１が、検量線５３の傾き
が所定範囲に入っているか否かを判断する（Ｓ１４）。
すなわち、ＥＥＰＲＯＭ４４に記憶されている基準検量
線５２の傾きθ１と検量線５３の傾きθ２との差が所定
値以下であるかどうかを調べる。もちろんこれらの演算
は、各測定位置について各波長毎に実行される。このよ
うに検量線５３の傾きを調べるのは、光ファイバ２３や
ホトダイオード２５ａ，２５ｂに異常が発生していない
かどうかを判断するためである。たとえば、光ファイバ
２３の異常により参照用の照射光の光量が減少すると、
補正出力値ａ３，ｂ３が大きくなり、検量線５３の傾き
θ２が小さくなる。また、光ファイバ２３の異常により
いずれかの測定位置における照射光の光量が減少する
と、補正出力値ａ３，ｂ３が小さくなり、その位置にお
ける検量線５３の傾きθ２が大きくなる。また、参照用
のホトダイオード４７の異常により出力が低下すると、
補正出力値ａ３，ｂ３が大きくなり、検量線５３の傾き
θ２が小さくなる。また、いずれかの測定位置における
ホトダイオード２５ａ，２５ｂの異常により出力が低下
すると、補正出力値ａ３，ｂ３が小さくなり、その位置
における検量線５３の傾きθ２が大きくなる。

【００８４】全ての測定位置および波長において基準検
量線５２の傾きθ１と検量線５３の傾きθ２との差が所
定値以下であれば、検量線５３の傾きが所定範囲に入っ
ていると判断し（Ｓ１４：ＹＥＳ）、ＣＰＵ４１が、黒
板１２あるいは白板１３が汚れているか否かを判断する
（Ｓ１５）。すなわち、ＥＥＰＲＯＭ４４に記憶されて
いる基準検量線５２の縦軸との交点γ１とＲＡＭ４３に
記憶されている検量線５３の縦軸との交点γ２との差が
所定値以下であるかどうかを調べる。黒板１２が汚れた
場合、補正出力値ａ３が大きくなり、白板１３が汚れた
場合、補正出力値ｂ３が小さくなるので、いずれにして
も検量線５３と縦軸との交点γ２が大きくなり、汚れが
許容範囲を越えれば、基準検量線５２の縦軸との交点γ
１と検量線５３の縦軸との交点γ２との差が所定値を越
えることになる。これらの演算は、各測定位置について
各波長毎に実行される。

【００８５】全ての測定位置および波長において基準検
量線５２の縦軸との交点γ１とＲＡＭ４３に記憶されて
いる検量線５３の縦軸との交点γ２との差が所定値以下
であれば、黒板１２および白板１３が汚れていないと判
断し（Ｓ１５：ＮＯ）、このルーチンを終了する。すな
わち、黒板１２および白板１３に汚れがなく、光ファイ
バ２３およびホトダイオード２５ａ，２５ｂ，４７にも
異常がないので、検体測定処理に移行可能な状態になる
のである。

【００８６】Ｓ１４において、いずれかの測定位置にお
いて検量線５３の傾きが所定範囲に入っていなければ
（Ｓ１４：ＮＯ）、光ファイバ２３あるいはホトダイオ
ード２５ａ，２５ｂ，４７に異常があり、このままでは
正確な測定を行えないので、ＣＰＵ４１が、その測定位
置におけるアンプ５０ａ，５０ｂの増幅率を制御すべ
く、そのアンプ５０ａ，５０ｂの増幅率が変更可能であ
るか否かを判断する（Ｓ１６）。すなわち、検量線５３
の傾きを小さくしたい場合に、アンプ５０ａ，５０ｂの
増幅率が既にほぼ最大になっていたり、検量線５３の傾
きを大きくしたい場合に、アンプ５０ａ，５０ｂの増幅
率が既にほぼ最小になっていたりすれば、検量線５３の
傾きを適正範囲にできるような増幅率の変更が不可能な
場合があるので、そのような状況であるか否かを調べる
のである。なお、参照用の光ファイバ２３あるいはホト
ダイオード４７に異常がある場合、全ての測定位置にお
いて検量線５３の傾きが所定範囲に入らないので、ＣＰ
Ｕ４１が容易にそのことを判断し、アンプ５１の増幅率
を調べることになる。

【００８７】調整すべきアンプ５０ａ，５０ｂ，５１の
増幅率が変更可能であれば（Ｓ１６：ＹＥＳ）、ＣＰＵ
４１が、そのアンプ５０ａ，５０ｂ，５１の増幅率を変
更して、検量線５３の傾きが適正範囲になるようにし
（Ｓ１７）、Ｓ１１に戻る。すなわち、アンプ５０ａ，
５０ｂ，５１の増幅率を調整して、検量線５３を再度校
正する。

【００８８】Ｓ１６において、調整すべきアンプ５０
ａ，５０ｂ，５１の増幅率が変更不可能であれば（Ｓ１
６：ＮＯ）、ＣＰＵ４１が、その旨を表示装置５の表示
画面に表示させ（Ｓ１８）、このルーチンを終了する。
すなわち、アンプ５０ａ，５０ｂ，５１の増幅率の変更
による補正可能範囲を越えているので、その旨を使用者
に報知して、光ファイバ２３あるいはホトダイオード２
５ａ，２５ｂ，４７の交換を促すのである。使用者が光
ファイバ２３あるいはホトダイオード２５ａ，２５ｂ，
４７を交換し、表示装置５の表示画面に対して所定の操
作を施せば、検量線校正処理が再度実行される。

【００８９】Ｓ１５において、黒板１２あるいは白板１
３が汚れていると判断すれば（Ｓ１５：ＹＥＳ）、ＣＰ
Ｕ４１が、その旨を表示装置５の表示画面上に表示させ
（Ｓ１９）、このルーチンを終了する。使用者が黒板１
２あるいは白板１３を清掃し、表示装置５の表示画面に
対して所定の操作を施せば、検量線校正処理が再度実行
される。

【００９０】次に、試験紙２６上の試薬パッド２４の反
射率を測定する検体測定処理の手順について、図１３に
示すフローチャートを参照しながら説明する。

【００９１】先ず、被測定体としての試験紙２６上の各
試薬パッド２４の反射率を測定する（Ｓ２１）。具体的
には、使用者が試薬テーブル１１上の所定位置にサンプ
ルボトルおよび試験紙２６を載置し、表示装置５の表示
画面に対して所定の操作を行うと、ＣＰＵ４１が、図外
のポンプおよびノズルを駆動制御して、血液あるいは尿
をサンプルボトルから吸引させ、試験紙２６上の各試薬
パッド２４に滴下させる。これにより各試薬パッド２４
が、血液あるいは尿に含まれる所定の成分の量に応じて
呈色する。そしてＣＰＵ４１が、ランプ２１を制御して
点灯させ、フィルタロータ２２の駆動源であるモータ４
８を制御して所定の測定位置の検査項目に対応した所定
波長のフィルタを光路に挿入する。さらに、ＣＰＵ４１
が、試薬テーブル１１の駆動源であるモータ４９を制御
して試験紙２６上の各試薬パッド２４がそれぞれ対応す
る測定位置に位置するように、試薬テーブル１１を移動
させる。これにより、所定波長の光が光ファイバ２３の
一端面に入射し、７箇所に分岐した光ファイバ２３の他
端面から出射される。これらの光は、各測定位置にて、
試薬パッド２４に当たって反射し、ホトダイオード２５
ａ，２５ｂの受光面に入射すると共に、参照用の光がホ
トダイオード４７の受光面に入射する。そして、ホトダ
イオード２５ａ，２５ｂ，４７からの出力電流は、アン
プ５０ａ，５０ｂ，５１により増幅され、かつ電圧に変
換されて、入出力インターフェイス４５に入力される。
入出力インターフェイス４５は、これらの電圧のうち、
所定の測定位置に対応するホトダイオード２５ａ，２５
ｂと、参照用のホトダイオード４７とに対応する電圧を
ディジタルデータに変換し、これらのディジタルデータ
は、ＣＰＵ４１によりＲＡＭ４３に格納される。

【００９２】そして、ＣＰＵ４１が、フィルタロータ２
２の駆動源であるモータ４８を制御して、次の測定位置
に対応したフィルタに切替え、上記と同様の動作により
次の測定位置でのディジタルデータがＲＡＭ４３に格納
される。以下同様に、全ての測定位置において、各測定
位置の検査項目に対応する波長の光により、各測定位置
における試薬パッド２４の測定が行われ、測定結果がＲ
ＡＭ４３に格納される。

【００９３】そして、ＣＰＵ４１が、ＲＡＭ４３に格納
された試験紙２６上の各試薬パッド２４の測定結果に基
づいて、各試薬パッド２４の反射率を演算する（Ｓ２
２）。すなわち、各試薬パッド２４の測定により得られ
たディジタルデータを上記数式１と同様の数式により補
正して補正出力値ｃを演算し、この値とＲＡＭ４３に記
憶させた検量線５３の数式とにより、各試薬パッド２４
の反射率Ｃを順次演算する。検量線５３は、図１４に示
すように、補正出力値ｃと反射率Ｃとの関係を表したも
のであり、補正出力値ｃと検量線５３の数式とから反射
率Ｃを演算できるのは明らかである。

【００９４】さらに、ＣＰＵ４１が、演算した各試薬パ
ッド２４の反射率ＣをＥＥＰＲＯＭ４４に格納する（Ｓ
２３）。

【００９５】そして、ＣＰＵ４１が、測定が終了したか
否かを判断する（Ｓ２４）。具体的には、試薬テーブル
１１上に載置された全ての試験紙２６についての測定が
完了したかどうかを調べる。全ての試験紙２６について
測定が終了していれば（Ｓ２４：ＹＥＳ）、このルーチ
ンを終了する。未測定の試験紙２６が試薬テーブル１１
上に残っていれば（Ｓ２４：ＮＯ）、ＣＰＵ４１がモー
タ４９を制御して試薬テーブル１１を移動させ、Ｓ２１
に戻って測定を継続する。

【００９６】以上の手順により、検体測定処理が終了す
る。すなわち、試薬テーブル１１上の全ての試験紙２６
上の各試薬パッド２４について、呈色試験が実行され、
各種の検査項目の検査が行われたのである。

【００９７】かくして得られたデータすなわち検査結果
は、図外のプリンタにより記録紙上に印刷され、また必
要に応じて表示装置５の表示画面上に表示される。

【図面の簡単な説明】

【図１】本願発明に係る反射率測定装置を備えた臨床検
査装置の外観斜視図である。

【図２】図１に示す臨床検査装置の要部の外観斜視図で
ある。

【図３】図１に示す臨床検査装置の光学系の概略構成図
である。

【図４】図１に示す臨床検査装置の各測定位置における
光学系の概略構成図である。

【図５】被測定体としての試薬パッドを備えた試験紙の
一例を示す外観斜視図である。

【図６】被測定体としての試薬パッドを備えた試験紙の
別の例を示す外観斜視図である。

【図７】図１に示す臨床検査装置の回路ブロック図であ
る。

【図８】図１に示す臨床検査装置における検量線校正準
備処理の手順を説明するフローチャートである。

【図９】反射体の補正出力値と反射体の反射率と基準検
量線との関係を説明する説明図である。

【図１０】基準反射体の補正出力値と基準反射体の反射
率と基準検量線との関係を説明する説明図である。

【図１１】図１に示す臨床検査装置における検量線校正
処理の手順を説明するフローチャートである。

【図１２】基準反射体の補正出力値と基準反射体の反射
率と検量線との関係を説明する説明図である。

【図１３】図１に示す臨床検査装置における検体測定処
理の手順を説明するフローチャートである。

【図１４】被測定体の補正出力値と被測定体の反射率と
検量線との関係を説明する説明図である。

【符号の説明】

１１ 試薬テーブル １２ 黒板 １３ 白板 ２４ 試薬パッド ２５ａ，２５ｂ ホトダイオード ２６ 試験紙 ３１ 試験紙 ４１ ＣＰＵ ４２ ＲＯＭ ４３ ＲＡＭ ４４ ＥＥＰＲＯＭ ４７ ホトダイオード ５０ａ，５０ｂ アンプ ５１ アンプ

Claims (12)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 互いに異なる反射率を有する複数の基準
   反射体からの反射光をそれぞれ測定し、それらの測定値
   を補正した補正後の測定値と予め求めておいた前記基準
   反射体の反射率とから検量線を求める検量線算出ステッ
   プと、 前記検量線算出ステップで求めた検量線と予め求めてお
   いた基準検量線とを比較して、前記反射率を縦軸とし前
   記補正後の測定値を横軸として前記検量線および前記基
   準検量線を描いたときに、前記検量線が縦軸と交わる点
   と前記基準検量線が縦軸と交わる点とを求め、それら両
   点の関係に基づいて前記基準反射体が汚れているか否か
   を判断する汚れ判定ステップとを実行することを特徴と
   する、基準反射体の汚れ検出方法。
2. 【請求項２】 前記基準検量線は、互いに異なる反射率
   を有しかつ反射率が既知の複数の反射体からの反射光を
   それぞれ測定し、それらの測定値を補正した補正後の測
   定値と既知の反射率とを用いて求められる、請求項１に
   記載の基準反射体の汚れ検出方法。
3. 【請求項３】 前記基準反射体の反射率は、前記基準反
   射体からの反射光をそれぞれ測定し、それらの測定値を
   補正した補正後の測定値と予め求めておいた基準検量線
   とを用いて求められる、請求項１または請求項２に記載
   の基準反射体の汚れ検出方法。
4. 【請求項４】 前記検量線算出ステップと前記汚れ判定
   ステップとを、相互に異なる複数の測定位置毎に実行す
   る、請求項１ないし請求項３のいずれかに記載の基準反
   射体の汚れ検出方法。
5. 【請求項５】 前記検量線算出ステップと前記汚れ判定
   ステップとを、相互に異なる複数の測定位置毎に、予め
   決められた複数種類の波長の照射光により実行する、請
   求項４に記載の基準反射体の汚れ検出方法。
6. 【請求項６】 被測定体からの反射光の強度に応じた補
   正後の測定値と前記被測定体の反射率との関係を表す検
   量線情報を利用して前記被測定体の反射率を演算する反
   射率測定装置であって、 前記被測定体からの反射光の強度に応じた検出信号を出
   力する光電変換手段と、 前記測定値を補正するための補正情報、予め求められた
   基準検量線情報、および予め求められた複数の基準反射
   体の反射率を記憶している記憶手段と、 前記基準反射体からの反射光を前記光電変換手段にそれ
   ぞれ測定させ、それらの測定値を前記記憶手段に記憶さ
   れている補正情報に基づいて補正し、その補正後の測定
   値と前記記憶手段に記憶されている前記基準反射体の反
   射率とから検量線情報を演算する検量線算出手段と、 前記検量線算出手段により演算された検量線情報と前記
   記憶手段に記憶されている基準検量線情報とを比較し
   て、前記反射率を縦軸とし前記補正後の測定値を横軸と
   して前記検量線および前記基準検量線を描いたときに、
   前記検量線が縦軸と交わる点と前記基準検量線が縦軸と
   交わる点とを演算し、それらの演算値の関係に基づいて
   前記基準反射体が汚れているか否かを判断する汚れ判定
   手段とを備えたことを特徴とする、反射率測定装置。
7. 【請求項７】 前記光電変換手段からの出力を増幅し、
   かつ増幅率を変更可能な増幅手段と、 前記検量線算出手段により演算された検量線情報と前記
   記憶手段に記憶されている基準検量線情報とを比較し
   て、前記反射率を縦軸とし前記補正後の測定値を横軸と
   して前記検量線および前記基準検量線を描いたときに、
   前記検量線の傾きと前記基準検量線の傾きとを演算し、
   それらの演算値の関係に基づいて前記増幅手段の増幅率
   を変更させる増幅率制御手段とを備えた、請求項６に記
   載の反射率測定装置。
8. 【請求項８】 前記光電変換手段は、相互に異なる複数
   の測定位置毎に設置されており、 前記検量線情報算出手段は、各測定位置毎に前記検量線
   情報を演算し、 前記汚れ判定手段は、各測定位置毎に前記基準反射体の
   汚れを判定する、請求項６に記載の反射率測定装置。
9. 【請求項９】 前記検量線情報算出手段は、各測定位置
   毎に予め決められた複数種類の波長の照射光により前記
   検量線情報を演算し、 前記汚れ判定手段は、各測定位置毎に予め決められた複
   数種類の照射光の波長により前記基準反射体の汚れを判
   定する、請求項８に記載の反射率測定装置。
10. 【請求項１０】 互いに異なる反射率を有しかつ反射率
    が既知の複数の反射体からの反射光を前記光電変換手段
    にそれぞれ測定させ、それらの測定値を前記記憶手段に
    記憶されている補正情報に基づいて補正し、それら補正
    後の測定値と既知の反射率とを用いて前記基準検量線情
    報を演算し、その基準検量線情報を前記記憶手段に記憶
    させる基準検量線情報算出手段を備えている、請求項６
    ないし請求項９のいずれかに記載の反射率測定装置。
11. 【請求項１１】 前記基準反射体からの反射光を前記光
    電変換手段にそれぞれ測定させ、それらの測定値を前記
    記憶手段に記憶されている補正情報に基づいて補正し、
    その補正後の測定値と前記記憶手段に記憶されている基
    準検量線とに基づいて前記基準反射体の反射率を演算
    し、その演算結果を前記記憶手段に記憶させる基準反射
    率算出手段を備えている、請求項６ないし請求項１０の
    いずれかに記載の反射率測定装置。
12. 【請求項１２】 被測定体からの反射光の強度に応じた
    補正後の測定値と前記被測定体の反射率との関係を表す
    検量線情報を利用して前記被測定体の反射率を演算する
    反射率測定装置を動作させるためのプログラムを格納し
    た記憶媒体であって、 前記基準反射体からの反射光を光電変換手段にそれぞれ
    測定させ、それらの測定値を記憶手段に記憶されている
    補正情報に基づいて補正し、その補正後の測定値と前記
    記憶手段に記憶されている前記基準反射体の反射率とか
    ら検量線情報を演算する検量線算出プログラムと、 前記検量線算出プログラムにより演算された検量線情報
    と前記記憶手段に記憶されている基準検量線情報とを比
    較して、前記反射率を縦軸とし前記補正後の測定値を横
    軸として前記検量線および前記基準検量線を描いたとき
    に、前記検量線が縦軸と交わる点と前記基準検量線が縦
    軸と交わる点とを演算し、それらの演算値の関係に基づ
    いて前記基準反射体が汚れているか否かを判断する汚れ
    判定プログラムとを含むプログラムを格納していること
    を特徴とする、記憶媒体。