JPH10170339A - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
- Publication number
- JPH10170339A JPH10170339A JP35272496A JP35272496A JPH10170339A JP H10170339 A JPH10170339 A JP H10170339A JP 35272496 A JP35272496 A JP 35272496A JP 35272496 A JP35272496 A JP 35272496A JP H10170339 A JPH10170339 A JP H10170339A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cell
- spectrophotometer
- holder
- standard sample
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 自動的に、且つ、実際の分析と同じ条件下で
検定を行なうことができるようにする。 【解決手段】 標準試料を封入した標準試料セル２５を
セルラック２１に載置しておく。オートサンプラ１２の
リフタ２３が、指定された標準試料セル２５をセルラッ
ク２１から持ち上げ、光路上に置かれたセルホルダ１７
の所へ移動して、そこに挿入する。その前後の光量を測
定することにより、光量、迷光等に関する検定を行な
う。制御部１６は所定のプログラムに従ってこれらの制
御を行なう。制御部１６は更に、波長の正確さ等、その
他の検定項目についても自動的に検定を行なう。
検定を行なうことができるようにする。 【解決手段】 標準試料を封入した標準試料セル２５を
セルラック２１に載置しておく。オートサンプラ１２の
リフタ２３が、指定された標準試料セル２５をセルラッ
ク２１から持ち上げ、光路上に置かれたセルホルダ１７
の所へ移動して、そこに挿入する。その前後の光量を測
定することにより、光量、迷光等に関する検定を行な
う。制御部１６は所定のプログラムに従ってこれらの制
御を行なう。制御部１６は更に、波長の正確さ等、その
他の検定項目についても自動的に検定を行なう。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、透明なセルの中に
液体試料を入れ、そこに赤外線、可視光線等を通してそ
の透過率を測定することにより試料の分析を行なうセル
式の分光光度計に関し、特に、検定を自動的に行なうこ
とのできる分光光度計に関する。
液体試料を入れ、そこに赤外線、可視光線等を通してそ
の透過率を測定することにより試料の分析を行なうセル
式の分光光度計に関し、特に、検定を自動的に行なうこ
とのできる分光光度計に関する。
【０００２】
【従来の技術】分析装置では一般に、分析結果の適正さ
を保証するために定期的或いは適宜の時期に装置の感度
や分解能の検定（例えば、米国食品医薬品局ＦＤＡ及び
国際標準化機構ＩＳＯが規定するＧＬＰ=Good Laborato
ry PracticeやＧＭＰ=Good Manufacturer Practice）を
行なう必要がある。分光光度計では、次のような項目に
ついて検定を行なうことが要求される。
を保証するために定期的或いは適宜の時期に装置の感度
や分解能の検定（例えば、米国食品医薬品局ＦＤＡ及び
国際標準化機構ＩＳＯが規定するＧＬＰ=Good Laborato
ry PracticeやＧＭＰ=Good Manufacturer Practice）を
行なう必要がある。分光光度計では、次のような項目に
ついて検定を行なうことが要求される。
【０００３】１．波長測定の正確さ ２．波長測定の再現性 ３．波長測定の分解能 ４．迷光の量 ５．光量測定の正確さ ６．光量測定の再現性 ７．ベースラインの安定度 ８．ベースラインの平坦度 ９．ノイズレベル
【０００４】これらのうち、１（波長測定の正確さ）、
２（同再現性）、３（同分解能）、７（ベースラインの
安定度）、８（同平坦度）、９（ノイズレベル）につい
ては、分光光度計に装備されている重水素ランプやタン
グステンランプの輝線を利用することにより検定作業を
行なうことができる。４（迷光の量）については、通
常、ヨウ化ナトリウム又は亜硝酸ナトリウムの規定濃度
の水溶液を用いる。これらの水溶液は、所定波長以下の
短波長域では透過率がほぼゼロとなるため、その領域に
おけるフォトセンサの出力により迷光量を測定する。ま
た、５（光量測定の正確さ）及び６（同再現性）につい
ては、所定の透過率を有するフィルタをセルホルダに入
れた場合とセルホルダに何も入れない場合との透過光量
の比により検定を行なう。
２（同再現性）、３（同分解能）、７（ベースラインの
安定度）、８（同平坦度）、９（ノイズレベル）につい
ては、分光光度計に装備されている重水素ランプやタン
グステンランプの輝線を利用することにより検定作業を
行なうことができる。４（迷光の量）については、通
常、ヨウ化ナトリウム又は亜硝酸ナトリウムの規定濃度
の水溶液を用いる。これらの水溶液は、所定波長以下の
短波長域では透過率がほぼゼロとなるため、その領域に
おけるフォトセンサの出力により迷光量を測定する。ま
た、５（光量測定の正確さ）及び６（同再現性）につい
ては、所定の透過率を有するフィルタをセルホルダに入
れた場合とセルホルダに何も入れない場合との透過光量
の比により検定を行なう。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記の通り、迷光量を
検定する場合には所定の標準溶液試料を角形セルに注入
してセルホルダに挿入するか、又は、フローセルに標準
溶液試料を流して上記のような測定を行なう必要があ
る。しかし、前者の場合、操作者の介在が必要になるた
め分析を自動化することができない。後者の場合には
「セルホルダを用いる」という条件の下での分光光度計
の検定とはならない。同様に、光量測定の正確さ及び再
現性に関する検定を正しく行なうためには、セルホルダ
を使用するという条件の下での測定を行なわなければな
らない。
検定する場合には所定の標準溶液試料を角形セルに注入
してセルホルダに挿入するか、又は、フローセルに標準
溶液試料を流して上記のような測定を行なう必要があ
る。しかし、前者の場合、操作者の介在が必要になるた
め分析を自動化することができない。後者の場合には
「セルホルダを用いる」という条件の下での分光光度計
の検定とはならない。同様に、光量測定の正確さ及び再
現性に関する検定を正しく行なうためには、セルホルダ
を使用するという条件の下での測定を行なわなければな
らない。
【０００６】本発明はこのような課題を解決するために
成されたものであり、その目的とするところは、セルホ
ルダを用いて分光測定を行なう場合に正しい検定を行な
うことができ、しかもそれを自動的に行なうことができ
る分光光度計を提供することにある。
成されたものであり、その目的とするところは、セルホ
ルダを用いて分光測定を行なう場合に正しい検定を行な
うことができ、しかもそれを自動的に行なうことができ
る分光光度計を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された本発明に係る分光光度計は、 a)標準試料を封入した標準試料セルと、 b)光路上に置かれたセルホルダと、 c)標準試料セルをセルホルダに着脱するためのハンドリ
ング機構と、 d)所定のプログラムに従い、ハンドリング機構を制御し
て標準試料セルをセルホルダに着脱するとともに、標準
試料セルを通過する光量を測定することにより本分光光
度計の検定を行なう制御部と、を備えることを特徴とし
ている。
に成された本発明に係る分光光度計は、 a)標準試料を封入した標準試料セルと、 b)光路上に置かれたセルホルダと、 c)標準試料セルをセルホルダに着脱するためのハンドリ
ング機構と、 d)所定のプログラムに従い、ハンドリング機構を制御し
て標準試料セルをセルホルダに着脱するとともに、標準
試料セルを通過する光量を測定することにより本分光光
度計の検定を行なう制御部と、を備えることを特徴とし
ている。
【０００８】
【発明の実施の形態】光量に関する検定を行なう際、制
御部は、ハンドリング機構を制御することにより既知の
透過率を有する標準試料セルをセルホルダに挿入し、こ
の状態でセルを通過する光の量を測定する。その後、又
はその前に、制御部はハンドリング機構を制御して上記
試料セルをセルホルダから取り外し、同様に光の量を測
定する。これら両光量測定値に基づき、光量の正確さ、
再現性の検定を行なう。この場合に用いる標準試料セル
は、溶液を封入したセルであって、透過率を別途測定し
たものであってもよいし、セルホルダに挿入可能な固体
フィルタを用いてもよい。
御部は、ハンドリング機構を制御することにより既知の
透過率を有する標準試料セルをセルホルダに挿入し、こ
の状態でセルを通過する光の量を測定する。その後、又
はその前に、制御部はハンドリング機構を制御して上記
試料セルをセルホルダから取り外し、同様に光の量を測
定する。これら両光量測定値に基づき、光量の正確さ、
再現性の検定を行なう。この場合に用いる標準試料セル
は、溶液を封入したセルであって、透過率を別途測定し
たものであってもよいし、セルホルダに挿入可能な固体
フィルタを用いてもよい。
【０００９】また、上記ヨウ化ナトリウムや亜硝酸ナト
リウム等の規定濃度の水溶液を封入した標準試料セルを
用意しておくことにより、迷光に関する検定も行なうこ
とができる。
リウム等の規定濃度の水溶液を封入した標準試料セルを
用意しておくことにより、迷光に関する検定も行なうこ
とができる。
【００１０】なお、上記１〜３、７〜９のその他の検定
項目についても、制御部が自動的に検定を行なうような
プログラムを用意しておくことが望ましい。
項目についても、制御部が自動的に検定を行なうような
プログラムを用意しておくことが望ましい。
【００１１】
【発明の効果】本発明に係る分光光度計では上記の通
り、セルホルダを用いた実際の測定条件と同じ条件の下
で検定を行なう。そして、このような検定を、操作者を
介在させることなく自動的に行なうことができる。従っ
て、検定及び未知試料の分析という一連の測定操作全般
を自動化することができ、多数の試料を無人で分析する
ことが可能になる。これにより、ルーチン作業として行
なわれる分析作業の効率が大幅に向上し、分析コストを
下げることができる。
り、セルホルダを用いた実際の測定条件と同じ条件の下
で検定を行なう。そして、このような検定を、操作者を
介在させることなく自動的に行なうことができる。従っ
て、検定及び未知試料の分析という一連の測定操作全般
を自動化することができ、多数の試料を無人で分析する
ことが可能になる。これにより、ルーチン作業として行
なわれる分析作業の効率が大幅に向上し、分析コストを
下げることができる。
【００１２】
【実施例】本発明の一実施例である自動検定機能付分光
光度計１０を説明する。本実施例の分光光度計１０は図
１に示すように、分光光度計部１１とオートサンプラ部
１２とから成る。分光光度計部１１は通常の分光光度計
と同様、光源部１３、分光測定部１４、試料セル部１
５、及び制御部１６から成る。試料セル部１５は光源部
１３と分光測定部１４の間にあり、そこには測定の種類
に応じてセルホルダ１７又はフローセルが固定される。
オートサンプラ部１２は、試料セル部１５においてセル
ホルダ１７を使用する場合に、そのセルホルダ１７に角
形試料セル２０を自動的に装着、取り外すために用いる
ものであり、複数の角形試料セル２０を載置するセルラ
ック２１、セルラック２１に平行に敷設されたレール２
２上を走行するリフタ２３、そしてリフタ２３の動きを
制御するオートサンプラ制御部２４等から構成される。
セルラック２１には、予め標準試料を封入した各種検定
用標準試料セル２５、及び角形試料セル２０と同じ形状
を有するフレームに固定された所定透過率を有する減光
フィルタ２７が載置されている。オートサンプラ制御部
２４は分光光度計部１１の制御部１６に接続されてお
り、その指示を受けて後述の動作を行なう。
光度計１０を説明する。本実施例の分光光度計１０は図
１に示すように、分光光度計部１１とオートサンプラ部
１２とから成る。分光光度計部１１は通常の分光光度計
と同様、光源部１３、分光測定部１４、試料セル部１
５、及び制御部１６から成る。試料セル部１５は光源部
１３と分光測定部１４の間にあり、そこには測定の種類
に応じてセルホルダ１７又はフローセルが固定される。
オートサンプラ部１２は、試料セル部１５においてセル
ホルダ１７を使用する場合に、そのセルホルダ１７に角
形試料セル２０を自動的に装着、取り外すために用いる
ものであり、複数の角形試料セル２０を載置するセルラ
ック２１、セルラック２１に平行に敷設されたレール２
２上を走行するリフタ２３、そしてリフタ２３の動きを
制御するオートサンプラ制御部２４等から構成される。
セルラック２１には、予め標準試料を封入した各種検定
用標準試料セル２５、及び角形試料セル２０と同じ形状
を有するフレームに固定された所定透過率を有する減光
フィルタ２７が載置されている。オートサンプラ制御部
２４は分光光度計部１１の制御部１６に接続されてお
り、その指示を受けて後述の動作を行なう。
【００１３】本実施例の分光光度計１０の概略の動作は
次の通りである。電源が投入されると、分光光度計制御
部１６は所定の手順に従って各部に電源を供給し、分光
光度計１０のウォームアップを行なう。次に、制御部１
６内に設けられた不揮発記憶装置（ＥＥＰＲＯＭ、フラ
ッシュメモリ、ハードディスク等）に蓄積されている本
装置の稼働記録データを読み出し、現時点が所定の定期
検定を行なう時期に至っているか否かを判定する。例え
ば、上記検定項目のうち１〜４は毎日行なう必要はな
く、月１回又は数カ月に１回程度行なえば十分である。
定期検定が終了すると、次に、起動毎に実行することが
要求される項目の検定を行なう。例えば、上記検定項目
中７〜９は、通常、起動毎に行なうとされている。その
後、分析毎に行なう必要のある検定、又は分析条件とし
て分析前又は後に行なうことと指定された検定を行な
う。これらの検定を行なった後、試料の分析を行なう。
次の通りである。電源が投入されると、分光光度計制御
部１６は所定の手順に従って各部に電源を供給し、分光
光度計１０のウォームアップを行なう。次に、制御部１
６内に設けられた不揮発記憶装置（ＥＥＰＲＯＭ、フラ
ッシュメモリ、ハードディスク等）に蓄積されている本
装置の稼働記録データを読み出し、現時点が所定の定期
検定を行なう時期に至っているか否かを判定する。例え
ば、上記検定項目のうち１〜４は毎日行なう必要はな
く、月１回又は数カ月に１回程度行なえば十分である。
定期検定が終了すると、次に、起動毎に実行することが
要求される項目の検定を行なう。例えば、上記検定項目
中７〜９は、通常、起動毎に行なうとされている。その
後、分析毎に行なう必要のある検定、又は分析条件とし
て分析前又は後に行なうことと指定された検定を行な
う。これらの検定を行なった後、試料の分析を行なう。
【００１４】これらの検定の結果のデータ、及び検定を
行なった日時のデータは上記不揮発記憶装置に格納さ
れ、今後の検定スケジュール決定の際に参照される。ま
た、検定結果が所定の限界値以上であった場合には、警
告メッセージを表示したり、一連の自動分析動作を停止
させる等の措置をとる。不揮発記憶装置に格納された検
定結果データは、所定の操作により読み出し、画面上に
表示させたりプリンタにより印字させることも可能であ
る。これらを分光測定結果のデータに付随させることに
より、分光測定結果の信頼性の判断に資することができ
る。
行なった日時のデータは上記不揮発記憶装置に格納さ
れ、今後の検定スケジュール決定の際に参照される。ま
た、検定結果が所定の限界値以上であった場合には、警
告メッセージを表示したり、一連の自動分析動作を停止
させる等の措置をとる。不揮発記憶装置に格納された検
定結果データは、所定の操作により読み出し、画面上に
表示させたりプリンタにより印字させることも可能であ
る。これらを分光測定結果のデータに付随させることに
より、分光測定結果の信頼性の判断に資することができ
る。
【００１５】次に、検定の動作を詳しく説明する。ま
ず、上記項目のうち１〜３（波長）の検定を行なう場合
は、セルホルダ１７には何も入れず、光源２６を点灯す
る。そして、その光源２６の輝線の近傍のピークの波長
を検出し、それを輝線の正しい波長と比較する。また、
近接した波長を有する２本の輝線の分離度により、分解
能を検定する。
ず、上記項目のうち１〜３（波長）の検定を行なう場合
は、セルホルダ１７には何も入れず、光源２６を点灯す
る。そして、その光源２６の輝線の近傍のピークの波長
を検出し、それを輝線の正しい波長と比較する。また、
近接した波長を有する２本の輝線の分離度により、分解
能を検定する。
【００１６】上記項目４（迷光）の検定を行なう場合
は、ヨウ化ナトリウム又は亜硝酸ナトリウムの規定濃度
の水溶液を封入した標準試料セル２５を用いる。分光光
度計制御部１６からの指示により、オートサンプラ制御
部２４は次のような制御を行なう。まず、リフタ２３を
その標準試料セル２５が載置されている場所へ移動さ
せ、その標準試料セル２５を持ち上げる。そして、標準
試料セル２５を保持したままリフタ２３をホームポジシ
ョン（分光光度計部１１の試料セル部１５の横の位置）
まで移動し、そこでリフタ２３の腕を伸ばして標準試料
セル２５をセルホルダ１７の真上に持ってくる。その
後、図２に示すように標準試料セル２５を降ろしてセル
ホルダ１７内に入れる。以上の動作が終了するとオート
サンプラ制御部２４から分光光度計制御部１６にセット
完了信号が送られ、分光光度計制御部１６は迷光量の検
定を行なう。終了後は上記とは逆の動作で標準試料セル
２５をセルホルダ１７から抜き出し、セルラック２１の
元の位置に戻しておく。
は、ヨウ化ナトリウム又は亜硝酸ナトリウムの規定濃度
の水溶液を封入した標準試料セル２５を用いる。分光光
度計制御部１６からの指示により、オートサンプラ制御
部２４は次のような制御を行なう。まず、リフタ２３を
その標準試料セル２５が載置されている場所へ移動さ
せ、その標準試料セル２５を持ち上げる。そして、標準
試料セル２５を保持したままリフタ２３をホームポジシ
ョン（分光光度計部１１の試料セル部１５の横の位置）
まで移動し、そこでリフタ２３の腕を伸ばして標準試料
セル２５をセルホルダ１７の真上に持ってくる。その
後、図２に示すように標準試料セル２５を降ろしてセル
ホルダ１７内に入れる。以上の動作が終了するとオート
サンプラ制御部２４から分光光度計制御部１６にセット
完了信号が送られ、分光光度計制御部１６は迷光量の検
定を行なう。終了後は上記とは逆の動作で標準試料セル
２５をセルホルダ１７から抜き出し、セルラック２１の
元の位置に戻しておく。
【００１７】光量に関する項目（５、６）の検定を行な
う場合は、セルラック２１上に載置されている減光フィ
ルタ２７を上記同様にセルホルダ１７に挿入及び取り外
し、挿入前後の光量測定値を比較することにより検定を
行なう。
う場合は、セルラック２１上に載置されている減光フィ
ルタ２７を上記同様にセルホルダ１７に挿入及び取り外
し、挿入前後の光量測定値を比較することにより検定を
行なう。
【００１８】上記実施例では、試料セル２０、２５、２
７の位置が固定され、リフタ２３がレール２２上を移動
して所望の試料セル２０、２５、２７をセルホルダ１７
に挿入する機構を採用したが、逆にリフタ２３を分光光
度計部１１の試料セル部１５の近傍に固定し、セルラッ
ク２１を移動して所望の試料セル２０、２５、２７をリ
フタ２３の所に持ってくるという方法を採用することも
できる。また、セルラック２１も図に示したようなリニ
アなものではなく、円板状のものであってもよい。
７の位置が固定され、リフタ２３がレール２２上を移動
して所望の試料セル２０、２５、２７をセルホルダ１７
に挿入する機構を採用したが、逆にリフタ２３を分光光
度計部１１の試料セル部１５の近傍に固定し、セルラッ
ク２１を移動して所望の試料セル２０、２５、２７をリ
フタ２３の所に持ってくるという方法を採用することも
できる。また、セルラック２１も図に示したようなリニ
アなものではなく、円板状のものであってもよい。
【図１】 本発明の一実施例である自動検定機能付分光
光度計の概略構成図。
光度計の概略構成図。
【図２】 実施例の分光光度計のセルホルダとセルとの
関係を示す斜視図。
関係を示す斜視図。
【符号の説明】 １０…自動検定機能付分光光度計 １１…分光光度計部 １２…オートサンプラ部 １３…光源部 １４…分光測定部 １５…試料セル部 １６…分光光度計制御部 １７…セルホルダ ２０…角形試料セル ２１…セルラック ２２…レール ２３…リフタ ２４…オートサンプラ制御部 ２５…標準試料セル ２６…光源 ２７…減光フィルタ
Claims (1)
- 【請求項１】 a)標準試料を封入した標準試料セルと、 b)光路上に置かれたセルホルダと、 c)標準試料セルをセルホルダに着脱するためのハンドリ
ング機構と、 d)所定のプログラムに従い、ハンドリング機構を制御し
て標準試料セルをセルホルダに着脱するとともに、標準
試料セルを通過する光量を測定することにより本分光光
度計の検定を行なう制御部と、 を備えることを特徴とする分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35272496A JPH10170339A (ja) | 1996-12-12 | 1996-12-12 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35272496A JPH10170339A (ja) | 1996-12-12 | 1996-12-12 | 分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10170339A true JPH10170339A (ja) | 1998-06-26 |
Family
ID=18426006
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35272496A Pending JPH10170339A (ja) | 1996-12-12 | 1996-12-12 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10170339A (ja) |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004294267A (ja) * | 2003-03-27 | 2004-10-21 | Shimadzu Corp | 分析機器の制御装置 |
| KR100670943B1 (ko) * | 2005-07-27 | 2007-01-19 | 주식회사 신코 | 싱글빔 분광광도계용 자동 베이스라인 측정장치 및 이를구비한 분광광도계 |
| JP2007178325A (ja) * | 2005-12-28 | 2007-07-12 | Toshiba Corp | 光学測定装置検査用チップ、光学測定装置の検査方法、光学測定装置の製造方法、及び光学測定装置の使用方法 |
| JP2007187445A (ja) * | 2006-01-11 | 2007-07-26 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| KR100745395B1 (ko) | 2006-02-10 | 2007-08-02 | 삼성전자주식회사 | 분광 검사 방법 및 이를 수행하기 위한 분광 검사 장치 |
| JP2007522446A (ja) * | 2004-01-30 | 2007-08-09 | アルテル、インコーポレイテッド | 分光光度計を較正するための装置及び方法 |
| JP2009293977A (ja) * | 2008-06-03 | 2009-12-17 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光光度計および分光光度計の検定方法 |
| JP2010169444A (ja) * | 2009-01-20 | 2010-08-05 | Toshiba Corp | エアロゾル分光分析装置およびその較正方法 |
| JP2013221763A (ja) * | 2012-04-13 | 2013-10-28 | Shimadzu Corp | 分光分析装置、分光分析方法及び分光分析装置用プログラム |
| JP2013540997A (ja) * | 2010-09-01 | 2013-11-07 | アナロジック コーポレイション | 光学的キャリブレーション検証システム |
| US9423302B2 (en) | 2014-09-02 | 2016-08-23 | Shimadzu Corporation | Spectroscopic analysis device, spectroscopic analysis method and program for spectroscopic analysis device |
-
1996
- 1996-12-12 JP JP35272496A patent/JPH10170339A/ja active Pending
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004294267A (ja) * | 2003-03-27 | 2004-10-21 | Shimadzu Corp | 分析機器の制御装置 |
| JP2007522446A (ja) * | 2004-01-30 | 2007-08-09 | アルテル、インコーポレイテッド | 分光光度計を較正するための装置及び方法 |
| KR100670943B1 (ko) * | 2005-07-27 | 2007-01-19 | 주식회사 신코 | 싱글빔 분광광도계용 자동 베이스라인 측정장치 및 이를구비한 분광광도계 |
| JP2007178325A (ja) * | 2005-12-28 | 2007-07-12 | Toshiba Corp | 光学測定装置検査用チップ、光学測定装置の検査方法、光学測定装置の製造方法、及び光学測定装置の使用方法 |
| JP2007187445A (ja) * | 2006-01-11 | 2007-07-26 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| KR100745395B1 (ko) | 2006-02-10 | 2007-08-02 | 삼성전자주식회사 | 분광 검사 방법 및 이를 수행하기 위한 분광 검사 장치 |
| US7646478B2 (en) | 2006-02-10 | 2010-01-12 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus and method for examining spectral characteristics of transmitted light through an object |
| JP2009293977A (ja) * | 2008-06-03 | 2009-12-17 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光光度計および分光光度計の検定方法 |
| JP2010169444A (ja) * | 2009-01-20 | 2010-08-05 | Toshiba Corp | エアロゾル分光分析装置およびその較正方法 |
| JP2013540997A (ja) * | 2010-09-01 | 2013-11-07 | アナロジック コーポレイション | 光学的キャリブレーション検証システム |
| JP2013221763A (ja) * | 2012-04-13 | 2013-10-28 | Shimadzu Corp | 分光分析装置、分光分析方法及び分光分析装置用プログラム |
| US9423302B2 (en) | 2014-09-02 | 2016-08-23 | Shimadzu Corporation | Spectroscopic analysis device, spectroscopic analysis method and program for spectroscopic analysis device |
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