JP2001343283A - 紫外・可視光検出装置 - Google Patents
紫外・可視光検出装置Info
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- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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- G—PHYSICS
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 定期的な性能チェックを容易に行え、バリデ
ーション作業の省力化、自動化が可能な紫外・可視光検
出装置を提供する。 【解決手段】 紫外・可視光検出装置のグレーティング
と検出器の間に、透過孔１８、１９が光路上にくるよう
に設置する。回転ダイヤル１４により円盤１０を回転さ
せ、光路上にホルミウムフィルタ１を配置させ、ホルミ
ウムフィルタ１に照射する光の波長を１９０〜９００ｎ
ｍの範囲内でスキャンし、透過光強度の吸収極大波長を
求めることにより、波長の正確さを校正する。続いて、
光路上にオープン部７と、値付けされている光学フィル
タ４の透過光強度を測定し吸光度の正確さを校正する。
次に、光路上にオープン部７および光学フィルタ２、
３、４、５および６を順次配置させ、透過光強度を測定
し各測定値の直線状を判定し、直線性を校正する。ま
た、ホルミウムフィルタ１、光学フィルタ２〜６は円盤
１０から容易に取り外し検定できる。
ーション作業の省力化、自動化が可能な紫外・可視光検
出装置を提供する。 【解決手段】 紫外・可視光検出装置のグレーティング
と検出器の間に、透過孔１８、１９が光路上にくるよう
に設置する。回転ダイヤル１４により円盤１０を回転さ
せ、光路上にホルミウムフィルタ１を配置させ、ホルミ
ウムフィルタ１に照射する光の波長を１９０〜９００ｎ
ｍの範囲内でスキャンし、透過光強度の吸収極大波長を
求めることにより、波長の正確さを校正する。続いて、
光路上にオープン部７と、値付けされている光学フィル
タ４の透過光強度を測定し吸光度の正確さを校正する。
次に、光路上にオープン部７および光学フィルタ２、
３、４、５および６を順次配置させ、透過光強度を測定
し各測定値の直線状を判定し、直線性を校正する。ま
た、ホルミウムフィルタ１、光学フィルタ２〜６は円盤
１０から容易に取り外し検定できる。
Description
【０００１】
【発明の属する分野】本発明は、たとえば高速液体クロ
マトグラフ（ＨＰＬＣ）の検出装置として用いられる、
紫外・可視光検出装置に関する。
マトグラフ（ＨＰＬＣ）の検出装置として用いられる、
紫外・可視光検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＨＰＬＣの検出装置として、試料溶液に
紫外・可視光を照射し、試料溶液による吸光度を測定す
る紫外・可視光検出装置がある。図４に従来の紫外・可
視光検出装置の概略構成図を示す。この紫外・可視光検
出装置は、試料溶液をフローセル６５に導入し、光源６
１として重水素ランプおよびタングステンランプより得
られる波長１９０〜９００ｎｍの紫外・可視光を、レン
ズ６２およびスリット６３を透過させた後、グレーティ
ング６４により所定の波長の光を分光してフローセル６
５に照射し、フローセル６５からの透過光をフォトダイ
オード６６等の検出手段により測定することで、試料溶
液の吸光度を測定し定性、定量分析を行うものである。
ＨＰＬＣにおいては、検出器が常に正確な測定を行うこ
とができるように、定期的に装置の性能チェック（バリ
デーション）を行っている。紫外・可視光検出装置に対
しては、性能チェックの項目としては、波長の正確さ、
測光の正確さ（吸光度の正確さ）、直線性などがある。
紫外・可視光を照射し、試料溶液による吸光度を測定す
る紫外・可視光検出装置がある。図４に従来の紫外・可
視光検出装置の概略構成図を示す。この紫外・可視光検
出装置は、試料溶液をフローセル６５に導入し、光源６
１として重水素ランプおよびタングステンランプより得
られる波長１９０〜９００ｎｍの紫外・可視光を、レン
ズ６２およびスリット６３を透過させた後、グレーティ
ング６４により所定の波長の光を分光してフローセル６
５に照射し、フローセル６５からの透過光をフォトダイ
オード６６等の検出手段により測定することで、試料溶
液の吸光度を測定し定性、定量分析を行うものである。
ＨＰＬＣにおいては、検出器が常に正確な測定を行うこ
とができるように、定期的に装置の性能チェック（バリ
デーション）を行っている。紫外・可視光検出装置に対
しては、性能チェックの項目としては、波長の正確さ、
測光の正確さ（吸光度の正確さ）、直線性などがある。
【０００３】波長の正確さを測定する方法としては、ラ
ンプの輝線波長を用いる方法がある。例えば、低圧水銀
ランプの輝線は２５４ｎｍであり、重水素ランプの輝線
は６５６ｎｍである。これらのランプを光源として用
い、フォトダイオードにおいて輝線の波長で最大の測定
光量が得られるかどうかを調べるものである。また、光
学フィルタの吸収極大波長を用いる方法がある。
ンプの輝線波長を用いる方法がある。例えば、低圧水銀
ランプの輝線は２５４ｎｍであり、重水素ランプの輝線
は６５６ｎｍである。これらのランプを光源として用
い、フォトダイオードにおいて輝線の波長で最大の測定
光量が得られるかどうかを調べるものである。また、光
学フィルタの吸収極大波長を用いる方法がある。
【０００４】例えば、ホルミウムフィルタの吸収極大波
長は３６１ｎｍであり、この光学フィルタをグレーティ
ングとフローセルの間に設置し、フォトダイオードにお
いて吸収極大波長で測定光量が最小になるかどうかを調
べるものである。あるいは、特定のサンプルの吸収極大
波長を用いる方法がある。例えば、フローセル内にカフ
ェインを導入し、フォトダイオードにおいてカフェイン
の吸収極大波長で測定光量が最小になるかどうかを調べ
るものである。これらの方法の中では、光学フィルタを
用いる方法がもっとも簡便であり、装置に内蔵して自動
校正に使われることが多い。
長は３６１ｎｍであり、この光学フィルタをグレーティ
ングとフローセルの間に設置し、フォトダイオードにお
いて吸収極大波長で測定光量が最小になるかどうかを調
べるものである。あるいは、特定のサンプルの吸収極大
波長を用いる方法がある。例えば、フローセル内にカフ
ェインを導入し、フォトダイオードにおいてカフェイン
の吸収極大波長で測定光量が最小になるかどうかを調べ
るものである。これらの方法の中では、光学フィルタを
用いる方法がもっとも簡便であり、装置に内蔵して自動
校正に使われることが多い。
【０００５】測光の正確さ（吸光度の正確さ）を測定す
る方法としては、一定の吸光度を有する光学フィルタ
（値付けされたフィルタ）をグレーティングとフローセ
ルの間に設置し、フォトダイオードにおける測定光量を
検定する方法、あるいは一定の濃度のサンプル、すなわ
ち一定の吸光度を有するサンプル（値付けされたサンプ
ル）をフローセルに導入し、フォトダイオードにおける
測定光量を検定する方法がある。
る方法としては、一定の吸光度を有する光学フィルタ
（値付けされたフィルタ）をグレーティングとフローセ
ルの間に設置し、フォトダイオードにおける測定光量を
検定する方法、あるいは一定の濃度のサンプル、すなわ
ち一定の吸光度を有するサンプル（値付けされたサンプ
ル）をフローセルに導入し、フォトダイオードにおける
測定光量を検定する方法がある。
【０００６】直線性を測定する方法としては、測光の正
確さ（吸光度の正確さ）を測定する方法と同様の方法
で、５点ほど異なる吸光度を有する光学フィルタあるい
は異なる濃度を有するサンプルを用い、フォトダイオー
ドにおける測定光量と光学フィルタあるいはサンプルの
吸光度との関係を検定する方法がある。
確さ（吸光度の正確さ）を測定する方法と同様の方法
で、５点ほど異なる吸光度を有する光学フィルタあるい
は異なる濃度を有するサンプルを用い、フォトダイオー
ドにおける測定光量と光学フィルタあるいはサンプルの
吸光度との関係を検定する方法がある。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】波長の正確さ、測光の
正確さ、直線性を測定するためには、いずれの場合も光
学フィルタを用いる方法がもっとも簡便であるが、グレ
ーティングとフローセルの間に複数の光学フィルタを手
で挿入しなければならず、操作が煩雑である。また、フ
ィルタを内蔵した検出器はあるが、フィルタ自身の検定
（値付け）を行う際に、いったん検出器から取り外して
検定しなければならず、手数を要する。複数の検出器を
使用している場合は、検出器の台数分だけフィルタの検
定が必要であり、手数とコストが増加してしまう。
正確さ、直線性を測定するためには、いずれの場合も光
学フィルタを用いる方法がもっとも簡便であるが、グレ
ーティングとフローセルの間に複数の光学フィルタを手
で挿入しなければならず、操作が煩雑である。また、フ
ィルタを内蔵した検出器はあるが、フィルタ自身の検定
（値付け）を行う際に、いったん検出器から取り外して
検定しなければならず、手数を要する。複数の検出器を
使用している場合は、検出器の台数分だけフィルタの検
定が必要であり、手数とコストが増加してしまう。
【０００８】本発明は、定期的な性能チェックを容易に
行え、バリデーション作業の省力化、自動化が可能な紫
外・可視光検出装置を提供することを目的とする。
行え、バリデーション作業の省力化、自動化が可能な紫
外・可視光検出装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するために、複数の光学フィルタを有しグレーティン
グから検出器に至る光路上に所定の光学フィルタを選択
して位置させることができる性能チェック装置を設け、
紫外・可視光検出装置の性能チェックを行うようにした
ものである。性能チェック装置は、特定の極大吸収波長
を有している光学フィルタ、特定の波長において異なる
吸光度を有する複数の光学フィルタおよびフィルタの存
在しないオープンとなっている部分が、光路上に容易に
切り替えて配置できる構造を有している。さらに、複数
の光学フィルタは、容易に性能チェック装置に着脱可能
な構造が好適であり、光学フィルタの検定を容易に行う
ことができる。
決するために、複数の光学フィルタを有しグレーティン
グから検出器に至る光路上に所定の光学フィルタを選択
して位置させることができる性能チェック装置を設け、
紫外・可視光検出装置の性能チェックを行うようにした
ものである。性能チェック装置は、特定の極大吸収波長
を有している光学フィルタ、特定の波長において異なる
吸光度を有する複数の光学フィルタおよびフィルタの存
在しないオープンとなっている部分が、光路上に容易に
切り替えて配置できる構造を有している。さらに、複数
の光学フィルタは、容易に性能チェック装置に着脱可能
な構造が好適であり、光学フィルタの検定を容易に行う
ことができる。
【００１０】複数の光学フィルタおよびオープン部分
を、光路上に容易に切り替えて配置する構造としては、
複数のフィルタおよびオープン部分を円盤上の外周部分
に配置し、円盤を手動あるいはモータ等の手段で自動的
に回転させることにより、光路上に必要な光学フィルタ
を配置させる機構により実現できる。あるいは、複数の
光学フィルタのそれぞれにレバーを接続し、レバーの移
動により光学フィルタを上下に移動可能とし、光路上に
必要な光学フィルタを配置させる機構により実現でき
る。いずれの機構においても、光学フィルタを円盤上、
あるいはレバーから容易に着脱可能なように設置するこ
とにより、光学フィルタの検定を装置外で容易に行うこ
とができる。
を、光路上に容易に切り替えて配置する構造としては、
複数のフィルタおよびオープン部分を円盤上の外周部分
に配置し、円盤を手動あるいはモータ等の手段で自動的
に回転させることにより、光路上に必要な光学フィルタ
を配置させる機構により実現できる。あるいは、複数の
光学フィルタのそれぞれにレバーを接続し、レバーの移
動により光学フィルタを上下に移動可能とし、光路上に
必要な光学フィルタを配置させる機構により実現でき
る。いずれの機構においても、光学フィルタを円盤上、
あるいはレバーから容易に着脱可能なように設置するこ
とにより、光学フィルタの検定を装置外で容易に行うこ
とができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、本発明による紫外・可視光
検出装置について、実施の形態を示す図面に基づいて説
明する。図１は本発明の第一の実施例に用いられる性能
チェック装置の概略構成図であり、ホルミウムフィルタ
１、所定の波長において吸光度が直線的に変化する光学
フィルタ２、３、４、５および６とオープン部７が、円
盤１０の外周部に配置されている。光学フィルタとして
は、色ガラスフィルタ、基板上に金属膜あるいは干渉膜
がコーティングされたフィルタ、金網（メッシュ）のよ
うに一定の開口率（透過率）を有する材料、メッシュ形
状を基板上にコーティングあるいはエッチング等の手法
で形成した材料等を使用することができる。円盤１０の
側面には円盤１０自身が歯車として機能するように歯が
刻まれている。円盤１０には小歯車１２が接続されてお
り、小歯車１２には回転ダイヤル１４が接続されてい
る。円盤１０、小歯車１２および回転ダイヤル１４は支
持枠１６に回転可能に固定されている。支持枠１６には
グレーティングからの紫外・可視光がフローセルへ透過
できるよう、光路上に透過孔１８、１９が設けられてい
る。
検出装置について、実施の形態を示す図面に基づいて説
明する。図１は本発明の第一の実施例に用いられる性能
チェック装置の概略構成図であり、ホルミウムフィルタ
１、所定の波長において吸光度が直線的に変化する光学
フィルタ２、３、４、５および６とオープン部７が、円
盤１０の外周部に配置されている。光学フィルタとして
は、色ガラスフィルタ、基板上に金属膜あるいは干渉膜
がコーティングされたフィルタ、金網（メッシュ）のよ
うに一定の開口率（透過率）を有する材料、メッシュ形
状を基板上にコーティングあるいはエッチング等の手法
で形成した材料等を使用することができる。円盤１０の
側面には円盤１０自身が歯車として機能するように歯が
刻まれている。円盤１０には小歯車１２が接続されてお
り、小歯車１２には回転ダイヤル１４が接続されてい
る。円盤１０、小歯車１２および回転ダイヤル１４は支
持枠１６に回転可能に固定されている。支持枠１６には
グレーティングからの紫外・可視光がフローセルへ透過
できるよう、光路上に透過孔１８、１９が設けられてい
る。
【００１２】次に、動作について説明する。本発明の性
能チェック装置を図４における、紫外・可視光検出装置
のグレーティング６４とフローセル６５の間に、透過孔
１８、１９が光路上にくるように設置する。まず、波長
の正確さを測定し、紫外・可視光検出装置の校正を行
う。回転ダイヤル１４を手動で回転させることにより円
盤１０を回転させ、光路上にオープン部７を位置させ
る。この状態でグレーティング６４を動作させ、フロー
セル６５に照射する光の波長を１９０〜９００ｎｍの範
囲内でスキャンし、フォトダイオード６６で検出し、各
部品の動作が正常であるかどうかを確認する。次に、回
転ダイヤル１４を回転させ、光路上にホルミウムフィル
タ１を位置させる。この状態でグレーティング６４を作
動させ、ホルミウムフィルタ１に照射する光の波長を１
９０〜９００ｎｍの範囲内でスキャンし、透過光強度を
フォトダイオード６６で検出し吸収極大波長を求める。
この吸収極大波長が３６１ｎｍであるかどうかを判定
し、紫外・可視光検出装置の校正を行う。
能チェック装置を図４における、紫外・可視光検出装置
のグレーティング６４とフローセル６５の間に、透過孔
１８、１９が光路上にくるように設置する。まず、波長
の正確さを測定し、紫外・可視光検出装置の校正を行
う。回転ダイヤル１４を手動で回転させることにより円
盤１０を回転させ、光路上にオープン部７を位置させ
る。この状態でグレーティング６４を動作させ、フロー
セル６５に照射する光の波長を１９０〜９００ｎｍの範
囲内でスキャンし、フォトダイオード６６で検出し、各
部品の動作が正常であるかどうかを確認する。次に、回
転ダイヤル１４を回転させ、光路上にホルミウムフィル
タ１を位置させる。この状態でグレーティング６４を作
動させ、ホルミウムフィルタ１に照射する光の波長を１
９０〜９００ｎｍの範囲内でスキャンし、透過光強度を
フォトダイオード６６で検出し吸収極大波長を求める。
この吸収極大波長が３６１ｎｍであるかどうかを判定
し、紫外・可視光検出装置の校正を行う。
【００１３】続いて、測光の正確さを測定する。まず、
グレーティング６４を作動させ、所定の波長が照射され
るように設定する。次に、回転ダイヤル１４を手動で回
転させることにより円盤１０を回転させ、光路上にオー
プン部７を位置させる。この状態で透過光強度をフォト
ダイオード６６で測定し、この時の測定値を吸光度０と
する。次に、回転ダイヤル１４を回転させ、光路上に吸
光度が中程度で、値ずけされている光学フィルタ４を位
置させ、フォトダイオード６６で透過光強度を測定す
る。この時の測定値が所定の値であるかどうかを判定
し、フォトダイオード６６の校正を行う。
グレーティング６４を作動させ、所定の波長が照射され
るように設定する。次に、回転ダイヤル１４を手動で回
転させることにより円盤１０を回転させ、光路上にオー
プン部７を位置させる。この状態で透過光強度をフォト
ダイオード６６で測定し、この時の測定値を吸光度０と
する。次に、回転ダイヤル１４を回転させ、光路上に吸
光度が中程度で、値ずけされている光学フィルタ４を位
置させ、フォトダイオード６６で透過光強度を測定す
る。この時の測定値が所定の値であるかどうかを判定
し、フォトダイオード６６の校正を行う。
【００１４】次に、直線性の測定を行う、まず、グレー
ティング６４を作動させ、所定の波長が照射されるよう
に設定する。次に、回転ダイヤル１４を手動で回転させ
ることにより円盤１０を回転させ、光路上にオープン部
７を位置させる。この状態で透過光強度をフォトダイオ
ード６６で測定し、この時の測定値を吸光度０とする。
次に、回転ダイヤル１４を回転させ、光路上に吸光度が
もっとも小さな光学フィルタ２を位置させ、フォトダイ
オード６６で透過光強度を測定する。続いて、回転ダイ
ヤル１４を回転させ、光路上に吸光度が順に大きくなる
ように光学フィルタ３、４、５および６を順次位置さ
せ、フォトダイオード６６で透過光強度を測定し、各測
定値が直線状であるかどうかを判定し、フォトダイオー
ド６６の校正を行う。
ティング６４を作動させ、所定の波長が照射されるよう
に設定する。次に、回転ダイヤル１４を手動で回転させ
ることにより円盤１０を回転させ、光路上にオープン部
７を位置させる。この状態で透過光強度をフォトダイオ
ード６６で測定し、この時の測定値を吸光度０とする。
次に、回転ダイヤル１４を回転させ、光路上に吸光度が
もっとも小さな光学フィルタ２を位置させ、フォトダイ
オード６６で透過光強度を測定する。続いて、回転ダイ
ヤル１４を回転させ、光路上に吸光度が順に大きくなる
ように光学フィルタ３、４、５および６を順次位置さ
せ、フォトダイオード６６で透過光強度を測定し、各測
定値が直線状であるかどうかを判定し、フォトダイオー
ド６６の校正を行う。
【００１５】ホルミウムフィルタ１、光学フィルタ２〜
６は円盤１０から容易に取り外して装置外で検定を行う
ことができる。また、紫外・可視光検出装置が複数台あ
る場合でも、性能チェック装置は一台でよく、各検出器
にフィルタを内蔵している場合と比べ、フィルタの検定
に要する手数、コストは削減できる。
６は円盤１０から容易に取り外して装置外で検定を行う
ことができる。また、紫外・可視光検出装置が複数台あ
る場合でも、性能チェック装置は一台でよく、各検出器
にフィルタを内蔵している場合と比べ、フィルタの検定
に要する手数、コストは削減できる。
【００１６】図２は本発明の第二の実施例の概略構成図
であり、ホルミウムフィルタ２１、所定の波長において
吸光度が直線的に変化する光学フィルタ２２、２３、２
４、２５および２６のそれぞれにレバー３１、３２、３
３、３４、３５および３６が接続されている。ホルミウ
ムフィルタ２１および光学フィルタ２２〜２６は上下可
動可能に支持枠３８に固定されている。支持枠３８には
グレーティングからの紫外・可視光が透過できるよう、
光路上に透過孔３９、４０が設けられている。
であり、ホルミウムフィルタ２１、所定の波長において
吸光度が直線的に変化する光学フィルタ２２、２３、２
４、２５および２６のそれぞれにレバー３１、３２、３
３、３４、３５および３６が接続されている。ホルミウ
ムフィルタ２１および光学フィルタ２２〜２６は上下可
動可能に支持枠３８に固定されている。支持枠３８には
グレーティングからの紫外・可視光が透過できるよう、
光路上に透過孔３９、４０が設けられている。
【００１７】次に、動作について説明する。本実施例の
性能チェック装置を図４における、紫外・可視光検出装
置のグレーティング６４とフローセル６５の間に、透過
孔３９、４０が光路上にくるように設置する。ホルミウ
ムフィルタ２１および光学フィルタ２２〜２６はそれぞ
れレバー３１、３２、３３、３４、３５および３６の一
端に保持されている。なお、各レバー３１〜３６は回動
支持部Ｓを中心に回動自在で、他端の掴部がガイド孔Ｇ
を介して支持枠３８の外方に突出している。したがっ
て、レバー３１〜３６をガイド孔Ｇに沿って上下させる
と、レバー３１〜３６の回動によりホルミウムフィルタ
２１および光学フィルタ２２〜２６が光路上に位置され
るように構成されている。まず、光路上にフィルタが存
在しない状態でグレーティング６４を動作させ、フロー
セル６５に照射する光の波長を１９０〜９００ｎｍの範
囲内でスキャンし、フォトダイオード６６で検出し、各
部品の動作が正常であるかどうかを確認する。次に、レ
バー３１〜３６を上下することで、ホルミウムフィルタ
２１および光学フィルタ２２〜２６を上下させ、第一の
実施例と同様に、順次ホルミウムフィルタ２１および光
学フィルタ２２〜２６を光路上に位置させることによ
り、波長の正確さ、測光の正確さおよび直線性を測定
し、紫外・可視光検出装置の性能チェック（バリデーシ
ョン）を行う。ホルミウムフィルタ２１、光学フィルタ
２２〜２６はレバー３１、３２、３３、３４、３５およ
び３６から容易に取り外して装置外で検定を行うことが
できる。
性能チェック装置を図４における、紫外・可視光検出装
置のグレーティング６４とフローセル６５の間に、透過
孔３９、４０が光路上にくるように設置する。ホルミウ
ムフィルタ２１および光学フィルタ２２〜２６はそれぞ
れレバー３１、３２、３３、３４、３５および３６の一
端に保持されている。なお、各レバー３１〜３６は回動
支持部Ｓを中心に回動自在で、他端の掴部がガイド孔Ｇ
を介して支持枠３８の外方に突出している。したがっ
て、レバー３１〜３６をガイド孔Ｇに沿って上下させる
と、レバー３１〜３６の回動によりホルミウムフィルタ
２１および光学フィルタ２２〜２６が光路上に位置され
るように構成されている。まず、光路上にフィルタが存
在しない状態でグレーティング６４を動作させ、フロー
セル６５に照射する光の波長を１９０〜９００ｎｍの範
囲内でスキャンし、フォトダイオード６６で検出し、各
部品の動作が正常であるかどうかを確認する。次に、レ
バー３１〜３６を上下することで、ホルミウムフィルタ
２１および光学フィルタ２２〜２６を上下させ、第一の
実施例と同様に、順次ホルミウムフィルタ２１および光
学フィルタ２２〜２６を光路上に位置させることによ
り、波長の正確さ、測光の正確さおよび直線性を測定
し、紫外・可視光検出装置の性能チェック（バリデーシ
ョン）を行う。ホルミウムフィルタ２１、光学フィルタ
２２〜２６はレバー３１、３２、３３、３４、３５およ
び３６から容易に取り外して装置外で検定を行うことが
できる。
【００１８】図３は本発明の第三の実施例の概略構成図
であり、ホルミウムフィルタ４１、所定の波長において
吸光度が直線的に変化する光学フィルタ４２、４３、４
４、４５および４６とオープン部４７が、円盤５０の外
周部に配置されている。円盤５０の側面には円盤５０自
身が歯車として機能するように歯が刻まれている。円盤
５０には小歯車５２が接続されており、小歯車５２には
モータ５４が接続されている。モータ５４には制御装置
５６が接続され、制御装置５６には出力装置５7が接続
されている。円盤５０、小歯車５２およびモータ５４は
支持枠５5に回転可能に固定されている。支持枠５６に
はグレーティングからの紫外・可視光がフローセルへ透
過できるよう、光路上に透過孔５８、５９が設けられて
いる。
であり、ホルミウムフィルタ４１、所定の波長において
吸光度が直線的に変化する光学フィルタ４２、４３、４
４、４５および４６とオープン部４７が、円盤５０の外
周部に配置されている。円盤５０の側面には円盤５０自
身が歯車として機能するように歯が刻まれている。円盤
５０には小歯車５２が接続されており、小歯車５２には
モータ５４が接続されている。モータ５４には制御装置
５６が接続され、制御装置５６には出力装置５7が接続
されている。円盤５０、小歯車５２およびモータ５４は
支持枠５5に回転可能に固定されている。支持枠５６に
はグレーティングからの紫外・可視光がフローセルへ透
過できるよう、光路上に透過孔５８、５９が設けられて
いる。
【００１９】次に、動作について説明する。本実施例の
性能チェック装置を図４における、紫外・可視光検出装
置のグレーティング６４とフローセル６５の間に、透過
孔５８、５９が光路上にくるように設置する。ホルミウ
ムフィルタ４１および光学フィルタ４２〜４６はモータ
５４の回転により、光路上に位置される。モータ５４は
制御装置５６により制御され、所定のフィルタが光路上
に位置されるように回転する。さらに、制御装置５６は
所定の波長の光をフローセル６５に照射するようにグレ
ーティング６４を制御し、フォトダイオード６６で検出
される光量から吸光度を測定する。このような構成で、
第一の実施例と同様に、順次ホルミウムフィルタ４１お
よび光学フィルタ４２〜４６を光路上に位置させること
により、波長の正確さ、測光の正確さおよび直線性を測
定し、紫外・可視光検出装置の性能チェック（バリデー
ション）を行う。得られた測定結果は出力装置５８に表
示され、必要に応じてグレーティング６４およびフォト
ダイオード６６が制御装置５６により校正される。ホル
ミウムフィルタ４１、光学フィルタ４２〜４６は円盤５
０から容易に取り外して検定を行うことができる。
性能チェック装置を図４における、紫外・可視光検出装
置のグレーティング６４とフローセル６５の間に、透過
孔５８、５９が光路上にくるように設置する。ホルミウ
ムフィルタ４１および光学フィルタ４２〜４６はモータ
５４の回転により、光路上に位置される。モータ５４は
制御装置５６により制御され、所定のフィルタが光路上
に位置されるように回転する。さらに、制御装置５６は
所定の波長の光をフローセル６５に照射するようにグレ
ーティング６４を制御し、フォトダイオード６６で検出
される光量から吸光度を測定する。このような構成で、
第一の実施例と同様に、順次ホルミウムフィルタ４１お
よび光学フィルタ４２〜４６を光路上に位置させること
により、波長の正確さ、測光の正確さおよび直線性を測
定し、紫外・可視光検出装置の性能チェック（バリデー
ション）を行う。得られた測定結果は出力装置５８に表
示され、必要に応じてグレーティング６４およびフォト
ダイオード６６が制御装置５６により校正される。ホル
ミウムフィルタ４１、光学フィルタ４２〜４６は円盤５
０から容易に取り外して検定を行うことができる。
【００２０】以上、本発明の実施例を説明したが、本発
明は上記実施例に限定されるものではなく、特許請求の
範囲に記載された本発明の要旨の範囲内で種々の変更を
行うことができる。例えば、性能チェック装置は吸光度
の異なる２種類以上の光学フィルタを有していればよ
く、必ずしも図示例のように多数個の設置を必要とする
ものではない。また、図示例ではフィルタの選択を回転
式あるいは回動式にて行う機構例を示したが、直線上に
複数個配列した光学フィルタを左右ないし上下に移動さ
せて選択させる機構とすることもできる。
明は上記実施例に限定されるものではなく、特許請求の
範囲に記載された本発明の要旨の範囲内で種々の変更を
行うことができる。例えば、性能チェック装置は吸光度
の異なる２種類以上の光学フィルタを有していればよ
く、必ずしも図示例のように多数個の設置を必要とする
ものではない。また、図示例ではフィルタの選択を回転
式あるいは回動式にて行う機構例を示したが、直線上に
複数個配列した光学フィルタを左右ないし上下に移動さ
せて選択させる機構とすることもできる。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る紫外
・可視光検出装置は複数の光学フィルタを選択（切り替
え）可能に光路上に位置させてチェックが行えるように
した性能チェック装置を紫外・可視光検出装置の光路上
のグレーティングと検出器の間に設置し、検出装置の性
能チェックを行うようにしたものである。性能チェック
装置は、特定の極大吸収波長を有している光学フィルタ
と、特定の波長において異なる吸光度を有する複数の光
学フィルタおよびフィルタの存在しないオープンとなっ
ている部分が、光路上に容易に切り替えて位置できる構
造を有し、さらに、複数の光学フィルタは、容易に着脱
できる構造であるので、紫外・可視光検出装置の定期的
な性能チェックを容易に行え、バリデーション作業の省
力化、自動化が可能となる。さらに、性能チェック装置
内の複数の光学フィルタの検定を容易に行うことがで
き、検定作業の省力化が可能となる。また、紫外・可視
光検出装置が複数台ある場合でも、性能チェック装置は
一台でよく、各検出装置にフィルタを内蔵している場合
と比べ、フィルタの検定に要する手数、コストは削減で
きる。
・可視光検出装置は複数の光学フィルタを選択（切り替
え）可能に光路上に位置させてチェックが行えるように
した性能チェック装置を紫外・可視光検出装置の光路上
のグレーティングと検出器の間に設置し、検出装置の性
能チェックを行うようにしたものである。性能チェック
装置は、特定の極大吸収波長を有している光学フィルタ
と、特定の波長において異なる吸光度を有する複数の光
学フィルタおよびフィルタの存在しないオープンとなっ
ている部分が、光路上に容易に切り替えて位置できる構
造を有し、さらに、複数の光学フィルタは、容易に着脱
できる構造であるので、紫外・可視光検出装置の定期的
な性能チェックを容易に行え、バリデーション作業の省
力化、自動化が可能となる。さらに、性能チェック装置
内の複数の光学フィルタの検定を容易に行うことがで
き、検定作業の省力化が可能となる。また、紫外・可視
光検出装置が複数台ある場合でも、性能チェック装置は
一台でよく、各検出装置にフィルタを内蔵している場合
と比べ、フィルタの検定に要する手数、コストは削減で
きる。
【図１】本発明の紫外・可視光検出装置の第一の実施例
に用いる性能チェック装置の概略構成図である。
に用いる性能チェック装置の概略構成図である。
【図２】本発明の紫外・可視光検出装置の第二の実施例
に用いる性能チェック装置の概略構成図である。
に用いる性能チェック装置の概略構成図である。
【図３】本発明の紫外・可視光検出装置の第三の実施例
に用いる性能チェック装置の概略構成図である。
に用いる性能チェック装置の概略構成図である。
【図４】従来の紫外・可視光検出装置の概略構成図であ
る。
る。
１、２１、４１---ホルミウムフィルタ ２、３、４、５、６、２２、２３、２４、２５、２６、
４２、４３、４４、４５、４６---光学フィルタ ７、４７---オープン部 １０、５０---円盤 １２、５２---小歯車 １４---回転ダイヤル １６、３８、５５---支持枠 １８、１９、３９、４０、５８、５９---透過孔 ３１、３２、３３、３４、３５、３６---レバー ５４---モータ Ｓ---回動支持部 Ｇ---ガイド孔
４２、４３、４４、４５、４６---光学フィルタ ７、４７---オープン部 １０、５０---円盤 １２、５２---小歯車 １４---回転ダイヤル １６、３８、５５---支持枠 １８、１９、３９、４０、５８、５９---透過孔 ３１、３２、３３、３４、３５、３６---レバー ５４---モータ Ｓ---回動支持部 Ｇ---ガイド孔
Claims (1)
- 【請求項１】 紫外・可視光を発する光源と、この光源
からの光を分光するグレーティングと、試料溶液が導入
され前記グレーティングからの光が照射されるフローセ
ルと、このフローセルを透過した光を検出する検出器か
らなる紫外・可視光検出装置において、波長の正確さ、
測光の正確さおよび直線性を測定するための複数の光学
フィルタを有し前記グレーティングから検出器に至る光
路上に所定の光学フィルタを選択して位置させることが
できる性能チェック装置を設けたことを特徴とする紫外
・可視光検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000165465A JP2001343283A (ja) | 2000-06-02 | 2000-06-02 | 紫外・可視光検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000165465A JP2001343283A (ja) | 2000-06-02 | 2000-06-02 | 紫外・可視光検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001343283A true JP2001343283A (ja) | 2001-12-14 |
Family
ID=18668930
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000165465A Pending JP2001343283A (ja) | 2000-06-02 | 2000-06-02 | 紫外・可視光検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001343283A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002228557A (ja) * | 2001-01-29 | 2002-08-14 | Shimadzu Corp | 装置バリデーションシステム |
| JP2007187445A (ja) * | 2006-01-11 | 2007-07-26 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| CN111596504A (zh) * | 2020-05-22 | 2020-08-28 | 季华实验室 | 一种多光谱led光源成像用折射光采集装置 |
| US10782186B2 (en) | 2018-11-09 | 2020-09-22 | Shimadzu Corporation | Monochromator |
| CN115389538A (zh) * | 2022-08-09 | 2022-11-25 | 深圳市埃芯半导体科技有限公司 | X射线分析装置及方法 |
-
2000
- 2000-06-02 JP JP2000165465A patent/JP2001343283A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002228557A (ja) * | 2001-01-29 | 2002-08-14 | Shimadzu Corp | 装置バリデーションシステム |
| JP2007187445A (ja) * | 2006-01-11 | 2007-07-26 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| US10782186B2 (en) | 2018-11-09 | 2020-09-22 | Shimadzu Corporation | Monochromator |
| CN111596504A (zh) * | 2020-05-22 | 2020-08-28 | 季华实验室 | 一种多光谱led光源成像用折射光采集装置 |
| CN111596504B (zh) * | 2020-05-22 | 2021-11-16 | 季华实验室 | 一种多光谱led光源成像用折射光采集装置 |
| CN115389538A (zh) * | 2022-08-09 | 2022-11-25 | 深圳市埃芯半导体科技有限公司 | X射线分析装置及方法 |
| CN115389538B (zh) * | 2022-08-09 | 2023-12-29 | 深圳市埃芯半导体科技有限公司 | X射线分析装置及方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070125 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090113 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090203 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20091027 |