JPH08271519A - 自動化学分析装置における測光系の精度確認方法 - Google Patents
自動化学分析装置における測光系の精度確認方法Info
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- JPH08271519A JPH08271519A JP7110395A JP7110395A JPH08271519A JP H08271519 A JPH08271519 A JP H08271519A JP 7110395 A JP7110395 A JP 7110395A JP 7110395 A JP7110395 A JP 7110395A JP H08271519 A JPH08271519 A JP H08271519A
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Abstract
(57)【要約】
【構成】反応ディスク５とその円周上に複数個の光学セ
ルをかねた反応容器３，反応容器３を分析開始前、およ
び終了後、に洗浄するための洗浄機構６，光源ランプ１
と光を単色光に分ける分光器７、および光量を検出する
ための検出器４からなる。 【効果】光学セルの汚れ，傷，気泡の付着などを受けな
い状態で、光源ランプの光量を確認することができ、ま
た、光学セルの汚れ，傷，気泡の付着などを確認するこ
とができる。
ルをかねた反応容器３，反応容器３を分析開始前、およ
び終了後、に洗浄するための洗浄機構６，光源ランプ１
と光を単色光に分ける分光器７、および光量を検出する
ための検出器４からなる。 【効果】光学セルの汚れ，傷，気泡の付着などを受けな
い状態で、光源ランプの光量を確認することができ、ま
た、光学セルの汚れ，傷，気泡の付着などを確認するこ
とができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、生化学検査，免疫血清
学検査などに用いられる自動化学分析装置に係り、特
に、自動化学分析装置におけるランプを備えた測光系の
精度確認方法に関する。
学検査などに用いられる自動化学分析装置に係り、特
に、自動化学分析装置におけるランプを備えた測光系の
精度確認方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の自動化学分析装置における光源ラ
ンプの光量変動や光学セルの汚れ・傷などの測光系の精
度確認方法は、まず、光源ランプの光量確認方法とし
て、光学セルを兼ねた反応容器中に自動的に精製水を分
注後、水ブランク吸光度を計測し、その光量を確認する
という方法である。しかし、この方法は、光量変動の要
因として光学セルの汚れ・傷・気泡なども含むため、光
源ランプ単独での光量変動の確認ができないという欠点
がある。
ンプの光量変動や光学セルの汚れ・傷などの測光系の精
度確認方法は、まず、光源ランプの光量確認方法とし
て、光学セルを兼ねた反応容器中に自動的に精製水を分
注後、水ブランク吸光度を計測し、その光量を確認する
という方法である。しかし、この方法は、光量変動の要
因として光学セルの汚れ・傷・気泡なども含むため、光
源ランプ単独での光量変動の確認ができないという欠点
がある。
【０００３】また、光学セルの汚れ・傷・気泡などの確
認方法は、予めディスクに有する光学セルの全てについ
て、水ブランク吸光度を計測し、コンピュータに基準値
として記憶しておき、次に実際に分析を行うときに、使
用する光学セルの水ブランク吸光度を計測して基準値と
比較する方法である。しかし、光源ランプや光学セルな
ども徐々に劣化するため、この方法は定期的に基準値を
更新しなければならないという欠点がある。
認方法は、予めディスクに有する光学セルの全てについ
て、水ブランク吸光度を計測し、コンピュータに基準値
として記憶しておき、次に実際に分析を行うときに、使
用する光学セルの水ブランク吸光度を計測して基準値と
比較する方法である。しかし、光源ランプや光学セルな
ども徐々に劣化するため、この方法は定期的に基準値を
更新しなければならないという欠点がある。
【０００４】また、総合的な測光系の精度確認方法とし
て、水測定がある。この方法は、検体として精製水を、
試薬として精製水を用いてノイズレベルの測定を行い、
その測定結果から光源ランプの光量や光学セルの汚れ・
傷などを確認する方法である。しかし、この方法では、
一旦、分析を中断しなければならず、また、分析中に行
うと処理能力が低下するという欠点がある。また、試薬
がチューブ等の試薬流路から順次一定量添加する方法の
自動化学分析装置では、試薬を水に置き換えなければな
らず、手間がかかるという欠点があった。また、チュー
ブ等が試薬で汚れていると、測定結果がばらつくため測
光系の確認ができないという問題があった。
て、水測定がある。この方法は、検体として精製水を、
試薬として精製水を用いてノイズレベルの測定を行い、
その測定結果から光源ランプの光量や光学セルの汚れ・
傷などを確認する方法である。しかし、この方法では、
一旦、分析を中断しなければならず、また、分析中に行
うと処理能力が低下するという欠点がある。また、試薬
がチューブ等の試薬流路から順次一定量添加する方法の
自動化学分析装置では、試薬を水に置き換えなければな
らず、手間がかかるという欠点があった。また、チュー
ブ等が試薬で汚れていると、測定結果がばらつくため測
光系の確認ができないという問題があった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来の方法では、反応
容器中に精製水を分注し、水ブランク吸光度を測定して
光源ランプや光学セルなどの測光系の確認を行うもので
あり、ランプ単独での確認については考慮されておら
ず、測光系に問題が生じた場合、光源ランプが原因なの
か、あるいは光学セルが原因なのかが的確に把握ができ
ず、信頼性の高い分析結果を提供できない臨床上致命的
欠陥をもつていた。
容器中に精製水を分注し、水ブランク吸光度を測定して
光源ランプや光学セルなどの測光系の確認を行うもので
あり、ランプ単独での確認については考慮されておら
ず、測光系に問題が生じた場合、光源ランプが原因なの
か、あるいは光学セルが原因なのかが的確に把握ができ
ず、信頼性の高い分析結果を提供できない臨床上致命的
欠陥をもつていた。
【０００６】本発明の目的は、反応容器間に光源ランプ
からの光を通し、その光量を計測することで反応容器の
影響（汚れ，傷，気泡の付着など）を受けない状態で光
源ランプの光量を確認することにある。また、水ブラン
ク吸光度と比較することにより、光学セルの汚れ，傷，
気泡の付着などの確認を行うことにある。
からの光を通し、その光量を計測することで反応容器の
影響（汚れ，傷，気泡の付着など）を受けない状態で光
源ランプの光量を確認することにある。また、水ブラン
ク吸光度と比較することにより、光学セルの汚れ，傷，
気泡の付着などの確認を行うことにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は以下の技術的手段を用いる。
に本発明は以下の技術的手段を用いる。
【０００８】(1）従来のパラメータの他に、測光系のチ
ェック用の波長を選択する。また、チェックする際の許
容値を入力する。
ェック用の波長を選択する。また、チェックする際の許
容値を入力する。
【０００９】(2）図１に示すように、ディスク回転時
に、光源ランプ１から照射された光束２を、水ブランク
吸光度測定用光学セル３ａが通過するときに(1）で選択
した波長について水ブランク吸光度を検出器４で計測す
る。続いて、水ブランク吸光度測定用光学セル３ａが光
束２を通過した後、次の水ブランク吸光度測定用光学セ
ル３ｂが通過する前に光源ランプ１の光量を検出器４で
(1）で選択した波長について計測する機能を設ける。
に、光源ランプ１から照射された光束２を、水ブランク
吸光度測定用光学セル３ａが通過するときに(1）で選択
した波長について水ブランク吸光度を検出器４で計測す
る。続いて、水ブランク吸光度測定用光学セル３ａが光
束２を通過した後、次の水ブランク吸光度測定用光学セ
ル３ｂが通過する前に光源ランプ１の光量を検出器４で
(1）で選択した波長について計測する機能を設ける。
【００１０】(3）(2）で得られる光源ランプの光量と水
ブランク吸光度をコンピュータに記憶させる機能と数値
の変化量を算出するための演算器を設ける。
ブランク吸光度をコンピュータに記憶させる機能と数値
の変化量を算出するための演算器を設ける。
【００１１】(4）(3）で求めた変化量をチェックする機
能を設け、異常が確認された場合に、操作画面上に表示
させる。また、警報を鳴らす。
能を設け、異常が確認された場合に、操作画面上に表示
させる。また、警報を鳴らす。
【００１２】
【作用】本発明では、はじめにパラメータとして、チェ
ックに用いる波長を選択する。また、チェックする際の
許容値を入力する。次に分析開始用スタートキーを押し
て、ディスクが回転動作をはじめる。まずはじめに、分
析に使用する反応容器を洗浄し、洗浄後精製水を自動的
に分注し、パラメータで選択した波長について水ブラン
ク吸光度Ｂ１を測定する。続いて、水ブランク吸光度Ｂ
１を測定した反応容器が光束を通過し、次の反応容器が
通過する前に光源から照射された光を反応容器と反応容
器との間に通し、パラメータで選択した波長について光
量Ｂ２の測定を行う。このＢ１，Ｂ２の測定は、それ以
後分析が停止されるまで続き、その値はコンピュータに
順次記憶される。次にＢ１，Ｂ２の数値から数１，数
２，数３よりΔＢ，ΔＢＳＤ，Ｂ２ＳＤを求める。
ックに用いる波長を選択する。また、チェックする際の
許容値を入力する。次に分析開始用スタートキーを押し
て、ディスクが回転動作をはじめる。まずはじめに、分
析に使用する反応容器を洗浄し、洗浄後精製水を自動的
に分注し、パラメータで選択した波長について水ブラン
ク吸光度Ｂ１を測定する。続いて、水ブランク吸光度Ｂ
１を測定した反応容器が光束を通過し、次の反応容器が
通過する前に光源から照射された光を反応容器と反応容
器との間に通し、パラメータで選択した波長について光
量Ｂ２の測定を行う。このＢ１，Ｂ２の測定は、それ以
後分析が停止されるまで続き、その値はコンピュータに
順次記憶される。次にＢ１，Ｂ２の数値から数１，数
２，数３よりΔＢ，ΔＢＳＤ，Ｂ２ＳＤを求める。
【００１３】
【数１】 ΔＢ＝Ｂ１−Ｂ２ …（数１）
【００１４】
【数２】 ΔＢＳＤ＝｛Σ（ΔＢｘ−ΔＢ）2／（Ｎ−１）｝1 2 …（数２）
【００１５】
【数３】 Ｂ２ＳＤ＝｛Σ（Ｂ２ｘ−Ｂ２）2／（Ｎ−１）｝1 2 …（数３） 以上のΔＢ，ΔＢＳＤ，Ｂ２ＳＤをパラメータで入力し
た許容値と数４，数５，数６のように比較判定を行う。
た許容値と数４，数５，数６のように比較判定を行う。
【００１６】
【数４】 ΔＢ ＜許容値 …（数４）
【００１７】
【数５】 ΔＢＳＤ＜許容値 …（数５）
【００１８】
【数６】 Ｂ２ＳＤ＜許容値 …（数６） それによって、光源ランプの光量を光学セルの影響（汚
れ，傷，気泡の付着）を受けない状態で確認を行うこと
ができる。水ブランク吸光度と比較することにより光学
セルの汚れ，傷，気泡の付着などの確認を行うことがで
きる。
れ，傷，気泡の付着）を受けない状態で確認を行うこと
ができる。水ブランク吸光度と比較することにより光学
セルの汚れ，傷，気泡の付着などの確認を行うことがで
きる。
【００１９】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図２に示す。
【００２０】図２に示した本発明の自動化学分析装置に
は、反応ディスク５はその円周上に複数個の光学セルを
かねた反応容器３を有し、サイクル毎に半回点＋１ピッ
チ（１反応容器分）進行して停止するように制御されて
いる。反応容器３は分析開始前、および終了後、洗浄機
構６で洗浄される。洗浄機構６は、反応終了液の排出お
よび反応容器の水洗浄６ａ，反応容器の水洗浄６ｂ，反
応容器中の水の排出６ｃ，水ブランク測定用精製水の反
応容器への吐出６ｄ，反応容器中の水の排出６ｄと四つ
役割がある。分光器７は多波長同時測光形であり、光源
ランプ１と相対し反応ディスク５が回転状態にあると
き、反応容器３の列が光源ランプ１からの光束２を通過
するように構成されている。この様な機構における動作
原理を次に説明する。
は、反応ディスク５はその円周上に複数個の光学セルを
かねた反応容器３を有し、サイクル毎に半回点＋１ピッ
チ（１反応容器分）進行して停止するように制御されて
いる。反応容器３は分析開始前、および終了後、洗浄機
構６で洗浄される。洗浄機構６は、反応終了液の排出お
よび反応容器の水洗浄６ａ，反応容器の水洗浄６ｂ，反
応容器中の水の排出６ｃ，水ブランク測定用精製水の反
応容器への吐出６ｄ，反応容器中の水の排出６ｄと四つ
役割がある。分光器７は多波長同時測光形であり、光源
ランプ１と相対し反応ディスク５が回転状態にあると
き、反応容器３の列が光源ランプ１からの光束２を通過
するように構成されている。この様な機構における動作
原理を次に説明する。
【００２１】分析開始用スタートスィッチを押すと反応
ディスク５が回転動作をはじめる。分析に使用する反応
容器３ｃは洗浄機構６ａの位置で停止し（３ｃ−１）、
反応容器３ｃの水洗浄を行う。反応ディスク５が１回転
すると反応容器３ｃは洗浄機構６ｂの位置で停止し（３
ｃ−２）、反応容器３ｃの水洗浄を行う。更に反応ディ
スク５が１回転すると反応容器３ｃは洗浄機構６ｃの位
置で停止し(３ｃ−３)、反応容器の補正のための水ブラ
ンク測定用の精製水が反応容器３ｃに吐出される。そこ
で反応ディスク５が回転し、光束２を通過する際、分析
に使用する波長における水ブランク吸光度を測定する。
このとき、任意に選択した波長についても水ブランク吸
光度Ｂ１を測定する。
ディスク５が回転動作をはじめる。分析に使用する反応
容器３ｃは洗浄機構６ａの位置で停止し（３ｃ−１）、
反応容器３ｃの水洗浄を行う。反応ディスク５が１回転
すると反応容器３ｃは洗浄機構６ｂの位置で停止し（３
ｃ−２）、反応容器３ｃの水洗浄を行う。更に反応ディ
スク５が１回転すると反応容器３ｃは洗浄機構６ｃの位
置で停止し(３ｃ−３)、反応容器の補正のための水ブラ
ンク測定用の精製水が反応容器３ｃに吐出される。そこ
で反応ディスク５が回転し、光束２を通過する際、分析
に使用する波長における水ブランク吸光度を測定する。
このとき、任意に選択した波長についても水ブランク吸
光度Ｂ１を測定する。
【００２２】続いて、図３に示すように、水ブランク吸
光度を測定した反応容器３ｃが光束２を通過した後、次
の反応容器が光軸を通過する前に、光源ランプ１からの
光を、反応容器間に通し、任意に選択した波長で光源ラ
ンプ１の光量Ｂ２を測定する。このＢ１，Ｂ２の測定は
反応ディスク５が回転動作をしている間は続き、コンピ
ュータに順次記憶される。次にこの測定したＢ１とＢ２
の値から、それぞれ差ΔＢ（＝Ｂ２−Ｂ１）と標準偏差
ΔＢＳＤ，Ｂ２ＳＤをコンピュータで算出し、許容値と
比較判定する。Ｂ２ＳＤが大きくなった場合、光源ラン
プの光量変動が大きくなったことが起因される。またΔ
Ｂ、ΔＢＳＤが大きくなった場合は光学セルの汚れ，
傷，気泡の付着などが起因される。比較判定後、異常が
確認された場合、操作画面上に表示する。本実施例によ
れば、光源ランプの光量は、光学セルの影響（汚れ，
傷，気泡の付着）を受けることなく、光源ランプ単独で
確認することができる。また、光源ランプの光量を単独
で確認することができれば、水ブランク吸光度との比較
により光学セルの汚れ，傷，気泡の付着などの影響の確
認を分析中、常に行うことが可能となる。
光度を測定した反応容器３ｃが光束２を通過した後、次
の反応容器が光軸を通過する前に、光源ランプ１からの
光を、反応容器間に通し、任意に選択した波長で光源ラ
ンプ１の光量Ｂ２を測定する。このＢ１，Ｂ２の測定は
反応ディスク５が回転動作をしている間は続き、コンピ
ュータに順次記憶される。次にこの測定したＢ１とＢ２
の値から、それぞれ差ΔＢ（＝Ｂ２−Ｂ１）と標準偏差
ΔＢＳＤ，Ｂ２ＳＤをコンピュータで算出し、許容値と
比較判定する。Ｂ２ＳＤが大きくなった場合、光源ラン
プの光量変動が大きくなったことが起因される。またΔ
Ｂ、ΔＢＳＤが大きくなった場合は光学セルの汚れ，
傷，気泡の付着などが起因される。比較判定後、異常が
確認された場合、操作画面上に表示する。本実施例によ
れば、光源ランプの光量は、光学セルの影響（汚れ，
傷，気泡の付着）を受けることなく、光源ランプ単独で
確認することができる。また、光源ランプの光量を単独
で確認することができれば、水ブランク吸光度との比較
により光学セルの汚れ，傷，気泡の付着などの影響の確
認を分析中、常に行うことが可能となる。
【００２３】
【発明の効果】本発明によれば、分析中常に、反応容器
と反応容器との間に光源ランプからの光を通し、その光
量を計測することで光学セルの影響（汚れ，傷，気泡の
付着など）を受けない状態で、光源ランプの光量を確認
することができ、また、水ブランク吸光度と比較するこ
とにより、光学セルの汚れ，傷，気泡の付着などを確認
することができる。また、光源ランプや光学セルなどメ
ンテナンスにおける部品交換、清掃時期の目安にするこ
とが可能となる。
と反応容器との間に光源ランプからの光を通し、その光
量を計測することで光学セルの影響（汚れ，傷，気泡の
付着など）を受けない状態で、光源ランプの光量を確認
することができ、また、水ブランク吸光度と比較するこ
とにより、光学セルの汚れ，傷，気泡の付着などを確認
することができる。また、光源ランプや光学セルなどメ
ンテナンスにおける部品交換、清掃時期の目安にするこ
とが可能となる。
【図１】本発明における光源ランプの光量測定法を示す
説明図。
説明図。
【図２】本発明における自動化学分析装置の一実施例を
示す説明図。
示す説明図。
【図３】本発明における自動化学分析装置の光源ランプ
の光量測定法一の実施例を示す説明図。
の光量測定法一の実施例を示す説明図。
１…光源ランプ、２…光束、３ａ，３ｂ，３ｃ…反応容
器、４…検出器、５…反応ディスク、６ａ，６ｂ，６
ｃ，６ｄ…洗浄機構、７…分光器。
器、４…検出器、５…反応ディスク、６ａ，６ｂ，６
ｃ，６ｄ…洗浄機構、７…分光器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 斉藤 清孝 茨城県ひたちなか市堀口字長久保832番地 ２ 日立計測エンジニアリング株式会社内 (72)発明者 菅原 研之 茨城県ひたちなか市大字市毛882番地 株 式会社日立製作所計測器事業部内
Claims (2)
- 【請求項１】円形のディスクに配置した複数個の光学セ
ルを兼ねた反応容器中に、検体と前記検体中の目的成分
と反応させるための試薬を分注し、前記ディスクが回転
して前記反応容器が光度計の前を通過する際、吸光度を
計測する自動化学分析装置において、光源ランプから照
射される光を前記反応容器の相互間に通し、直接検出器
に入射する光量を計測する機能を設け、前記光源ランプ
の光量を監視することを特徴とする自動化学分析装置に
おける測光系の精度確認方法。 - 【請求項２】請求項１において、計測した前記光源ラン
プの光量と、水ブランク吸光度とを比較する自動化学分
析装置における測光系の精度確認方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7110395A JPH08271519A (ja) | 1995-03-29 | 1995-03-29 | 自動化学分析装置における測光系の精度確認方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7110395A JPH08271519A (ja) | 1995-03-29 | 1995-03-29 | 自動化学分析装置における測光系の精度確認方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08271519A true JPH08271519A (ja) | 1996-10-18 |
Family
ID=13450889
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7110395A Pending JPH08271519A (ja) | 1995-03-29 | 1995-03-29 | 自動化学分析装置における測光系の精度確認方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08271519A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006189282A (ja) * | 2005-01-05 | 2006-07-20 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| JP2009031202A (ja) * | 2007-07-30 | 2009-02-12 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| JP2011085599A (ja) * | 2011-01-17 | 2011-04-28 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
| JP2012255727A (ja) * | 2011-06-09 | 2012-12-27 | Jeol Ltd | 分析方法及び分析装置 |
| JP2017198623A (ja) * | 2016-04-28 | 2017-11-02 | シャープライフサイエンス株式会社 | 測定装置及び測定方法 |
| US11226346B2 (en) | 2016-07-21 | 2022-01-18 | Siemens Healthcare Diagnostics Inc. | Eliminating source lamp intensity drift effect using reference measurement between cuvettes |
-
1995
- 1995-03-29 JP JP7110395A patent/JPH08271519A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006189282A (ja) * | 2005-01-05 | 2006-07-20 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| JP2009031202A (ja) * | 2007-07-30 | 2009-02-12 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
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| JP2012255727A (ja) * | 2011-06-09 | 2012-12-27 | Jeol Ltd | 分析方法及び分析装置 |
| JP2017198623A (ja) * | 2016-04-28 | 2017-11-02 | シャープライフサイエンス株式会社 | 測定装置及び測定方法 |
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