WO2011090173A1 - 自動分析装置 - Google Patents

自動分析装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2011090173A1
WO2011090173A1 PCT/JP2011/051127 JP2011051127W WO2011090173A1 WO 2011090173 A1 WO2011090173 A1 WO 2011090173A1 JP 2011051127 W JP2011051127 W JP 2011051127W WO 2011090173 A1 WO2011090173 A1 WO 2011090173A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
reaction
automatic analyzer
reaction vessel
detector
absorbance
Prior art date
Application number
PCT/JP2011/051127
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
悟郎 吉田
Original Assignee
株式会社日立ハイテクノロジーズ
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社日立ハイテクノロジーズ filed Critical 株式会社日立ハイテクノロジーズ
Priority to US13/516,006 priority Critical patent/US20120282137A1/en
Priority to CN2011800069548A priority patent/CN102713637A/zh
Priority to EP11734779.9A priority patent/EP2530469A4/en
Publication of WO2011090173A1 publication Critical patent/WO2011090173A1/ja

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/251Colorimeters; Construction thereof
    • G01N21/253Colorimeters; Construction thereof for batch operation, i.e. multisample apparatus
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00594Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
    • G01N35/00613Quality control
    • G01N35/00623Quality control of instruments
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/025Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations having a carousel or turntable for reaction cells or cuvettes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/03Cuvette constructions
    • G01N2021/0325Cells for testing reactions, e.g. containing reagents
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • G01N21/9018Dirt detection in containers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/04Batch operation; multisample devices
    • G01N2201/0415Carrusel, sequential

Definitions

  • the present invention relates to an automatic analyzer for analyzing a biological sample such as blood and urine, and in particular, a reaction disk in which a plurality of reaction containers for reacting a sample and a reagent are arranged on the circumference, a light source sandwiching the reaction container,
  • the present invention relates to an automatic analyzer in which a spectroscopic detector is arranged.
  • a nozzle for discharging a predetermined amount of sample and reagent is inserted in the reaction vessel, and there are a stirring rod for stirring the mixed solution, a washing nozzle for washing the reaction vessel containing the waste liquid after the analysis is completed, etc. Inserted. For some reason, if the nozzle and the stirring rod are inserted into the reaction vessel while being deformed, the inner surface of the reaction vessel may be damaged.
  • the technique described in Patent Document 1 can detect scratches and dirt in the reaction vessel, but cannot distinguish between dirt and scratches. Since scratches and dirt have different effects on measurement, detecting them separately leads to further improvement in reliability.
  • An object of the present invention is to improve measurement reliability by providing an automatic analyzer that can distinguish between contamination and scratches in a reaction vessel.
  • the configuration of the present invention for achieving the above object is as follows.
  • a reaction vessel that mixes a sample and a reagent, a light source that irradiates light to the reaction vessel, a detector that measures light from the light source that has passed through the reaction vessel, and a plurality of reaction vessels on the circumference
  • the circumferential length of the reaction vessel is divided into at least two regions, A control mechanism for controlling at least one of the detector and the reaction disk drive mechanism so as to measure the absorbance in each area; and a storage mechanism for storing the absorbance measured in each divided area.
  • Automatic analyzer equipped.
  • a reaction vessel and a reaction vessel detection mechanism are arranged on the circumference of the reaction disk, at least one detector for detecting the position of the reaction vessel is arranged on the track, and a light source and a spectroscopic detector are arranged with the reaction vessel in between.
  • the reaction disk is repeatedly operated and stopped at a fine resolution, photometry is performed during the stop, and the absorbance distribution of the reaction container is acquired.
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing the overall structure of the automatic analyzer.
  • I will explain the automatic analyzer and outline the flow of photometry.
  • FIG. 1 when an analysis measurement item of a sample is selected from the operation unit 101 and is executed by pressing a start button, it is transmitted from the interface 102 to the analysis unit 103.
  • the reaction disk 104 is rotated in accordance with the analysis instruction, and the sample dispensing by the sample dispensing probe 106, the reagent dispensing by the reagent dispensing probe 109, and the stirring by the stirring mechanism 112 are sequentially performed in the reaction container 105.
  • the analysis unit 103 transmits the concentration calculation result of the analysis item of the sample to the operation unit 101 from the interface 102, so that the user can know the concentration of the requested analysis item of the sample.
  • FIG. 2 is a schematic diagram of the reaction disk 201, the detector 204, and the reaction vessel (cell) 203.
  • FIG. 3 shows the absorbance distribution when passing through the reaction vessel at a normal speed, and also shows the case where there are dirt and scratches.
  • FIG. 4 shows a case where the absorbance distribution is measured by repeating the stepping motor operation for one pulse, then stopping and measuring, and then sending another pulse and measuring. When the measurement is stopped, the amount of change becomes abrupt at the site of the flaw as shown in FIG. Using this feature amount, the presence or absence of a flaw is detected. Since the measurement system has a response time, it can be easily characterized by stopping and measuring.
  • the data to be used is the absorbance measurement result of the flat part of the reaction vessel.
  • Abnormalities to be extracted include that the slope (count / mm) of the absorbance distribution of the reaction vessel is a certain value or more and the difference from the absorbance before 1 pulse. May exceed a certain value.
  • a typical reaction disk drive system has a resolution of several tens of ⁇ m / pulse, which is a level that can be sufficiently detected.
  • the analysis unit When the analysis unit detects a scratch, it notifies the user of the corresponding reaction vessel number and registers it in a reaction vessel that is not used for analysis. If there is no problem as a result of the remeasurement, the registration is canceled. In this example, one pulse is sent. However, if the number of pulses is changed to two or more, the measurement time is shortened accordingly, so the determination is made in consideration of the luminous flux and the amount of movement per pulse. Further, as shown in FIG. 5, the measurement unnecessary region is skipped, and only the necessary region and the necessary reaction vessel are measured, thereby further reducing the measurement time. Further, depending on the degree of response, the same effect can be obtained only by reducing the speed.
  • the present invention can be used not only for automatic analysis but also for confirming the quality of a reaction container by applying it to an inspection apparatus used for an inspection process at the time of manufacturing the reaction container.

Abstract

 反応ディスク外周の円周上に反応容器と反応容器検出機構を配置し、反応容器位置を検出する検出器を軌道上に少なくとも一つ配置し、反応容器を挟んで光源と分光検出器を配置して反応容器の光量を測定する測定方式において、反応ディスクを細かい分解能で動作と停止を繰り返し、停止中に測光を行い、反応容器の吸光度分布を取得する測定方式を備える。これにより、血液,尿などの生体サンプル中の分析対象成分の測定を行う自動分析装置において、反応容器の汚れとキズをわけて検出し、反応容器品質確保の精度を上げる。

Description

自動分析装置
 本発明は血液,尿などの生体サンプルの分析を行う自動分析装置に係り、特にサンプルと試薬を反応させる反応容器を、円周上に複数個配置した反応ディスクと、反応容器を挟んで光源と分光検出器を配置する自動分析装置に関する。
 血液,尿などの生体サンプル中の測定対象成分の分析を行う自動分析装置、特にサンプルと試薬の反応液の色の変化を測定して分析を行う、比色分析装置は、透明は反応容器に光を照射し、反応液の色の変化により生ずる、吸光度の変化を測定することで分析を行うようになっている。この場合、反応容器に汚れなどが付着すると、正確な測定値が得られなくなる可能性があるため、反応容器の汚れを監視して、汚れにより正確な測定ができない反応容器を割り出して測定に使用しないようにする技術が特許文献1に記載されている。
特開昭61-25064号公報
 反応容器には、サンプル,試薬を所定量吐出するためのノズルが挿入され、また混合液を撹拌するための撹拌棒,分析終了後の廃液が入った反応容器を洗浄するための洗浄ノズルなどが挿入される。何らかの原因で、これらノズル,攪拌棒が変形したまま、反応容器に挿入されると反応容器内面にキズがつくことがある。特許文献1記載の技術では、反応容器のキズや汚れを検出できるが、汚れとキズの区別はできない。キズと汚れでは測定への影響が異なるため、区別して検出することにより、さらなる信頼性向上につながる。本発明は反応容器の汚れとキズの区別が可能な自動分析装置を提供することにより、測定の信頼性向上を図ることを目的とする。
 上記目的を達成するための本発明の構成は以下の通りである。
 サンプルと試薬を混合する反応容器と、該反応容器に光を照射する光源と、前記反応容器を透過した前記光源からの光を測定する検出器と、前記反応容器を円周上に複数個搭載した反応ディスクと、該反応ディスクを円周方向に回転させる反応ディスク駆動機構と、を備えた自動分析装置において、前記反応容器の円周方向長さを、少なくとも2つ以上の領域に分割し、それぞれの領域で吸光度を測定するように、前記検出器または前記反応ディスク駆動機構の少なくともいずれかを制御する制御機構と、分割したそれぞれの領域で測定された吸光度を、記憶する記憶機構と、を備えた自動分析装置。
 具体的な手段としては例えば、以下のように構成することもできる。
 反応ディスク外周の円周上に反応容器と反応容器検出機構を配置し、反応容器位置を検出する検出器を軌道上に少なくとも一つ配置し、反応容器を挟んで光源と分光検出器を配置して反応容器の光量を測定する測定方式において、反応ディスクを細かい分解能で動作と停止を繰り返し、停止中に測光を行い、反応容器の吸光度分布を取得する。
 以上のように、本発明によれば、汚れとキズの区別が可能になるため、測定の信頼性をさらに向上させることができる。
自動分析装置の概要図である。 反応ディスクと検知器,反応容器の概要図である。 通常の速度で反応容器を通過した時の吸光度分布(汚れやキズがある場合も示す)。 1パルス送りで測定した結果。 測定領域。
 図1は、自動分析装置の原理的な全体構成概略図である。まずは、自動分析装置の説明と測光の流れについての概要を解説する。図1において、操作部101から検体の分析測定項目を選択し、スタートボタンを押下して実行すると、インターフェース102より、分析部103に送信される。分析装置では、分析指示に従い、反応ディスク104を回転させて、反応容器105に順番に検体分注プローブ106による検体分注,試薬分注プローブ109による試薬分注,攪拌機構112による攪拌を行う。そして、光源113,後分光多波長光度計114を用いて、通過する反応容器105の吸光度を測定し、濃度演算を行う。測定後の反応容器105は洗浄機構115により、洗浄される。分析部103は検体の分析項目の濃度演算結果を、インターフェース102より、操作部101に送信することで、ユーザは依頼した検体の分析項目の濃度を知ることができる。
 図2は、反応ディスク201と検知器204,反応容器(セル)203の概要図である。図3は通常の速度で反応容器を通過した時の吸光度分布であり、汚れやキズがある場合も示している。図4はステッピングモータを1パルス動作、その後停止し測定、その後にさらに1パルス送りして測定、を繰り返して吸光度分布を測定した場合を示している。停止させて測定した場合は、図4のようにキズの部位で変化量が急激になるため測定結果に特有の特徴をもつ。この特徴量を利用してキズ有無の検出を行う。測定系は応答時間を持つため、停止して測定することで特徴を出しやすくできる。
 使用するデータは反応容器の平坦部の吸光度測定結果とし、摘出すべき異常としては反応容器の吸光度分布の傾き(カウント/mm)が一定値以上であることや、1パルス前の吸光度との差分が一定値以上になることなどがある。一般的な反応ディスクの駆動系であれば分解能が数10μm/パルスのとなり、十分検出が可能なレベルとなる。
 分析部はキズを検出すると、該当する反応容器番号をユーザに知らせるとともに、分析に使用しない反応容器に登録する。再測定の結果問題なければ登録は解除される。本例では1パルス送りとしたが、2パルス以上に変更すると、その分測定時間が短縮されるので、光束と1パルスあたりの移動量を考慮して決定する。また、図5に示すように測定不要な領域はスキップし、必要な領域と必要な反応容器のみ測定することで、さらに測定時間が短縮される。また、応答の程度によっては速度を落とすだけでも同様の効果を得ることができる。
 また、本発明は自動分析上のみならず、反応容器の製造時の検査工程に用いる検査装置に適用することで反応容器の品質確認にも利用可能である。
101 操作部
102 インターフェース
103 分析部
104,201 反応ディスク
105,203 反応容器
106 検体分注プローブ
107 検体ディスク
108 検体容器
109 試薬分注プローブ
110 試薬ディスク
111 試薬ボトル
112 攪拌機構
113 光源
114 後分光多波長光度計
115 洗浄機構
202 検知板
204 検出器

Claims (9)

  1.  サンプルと試薬を混合する反応容器(105,203)と、該反応容器に光を照射する光源(113)と、前記反応容器を透過した前記光源からの光を測定する検出器(114)と、前記反応容器を円周上に複数個搭載した反応ディスク(104,201)と、該反応ディスクを円周方向に回転させる反応ディスク駆動機構と、
    を備えた自動分析装置において、
     前記反応容器の円周方向長さを、少なくとも2つ以上の領域に分割し、それぞれの領域で吸光度を測定するように、前記検出器または前記反応ディスク駆動機構の少なくともいずれかを制御する制御機構(101)と、分割したそれぞれの領域で測定された吸光度を、記憶する記憶機構と、
    を備えたことを特徴とする自動分析装置。
  2.  請求項1記載の自動分析装置において、
     前記記憶機構に記憶された、分割したそれぞれの領域で測定された吸光度の変化パターンを、予め定めた変化パターンと比較して、キズの有無を判断する判断機構(101)を備えたことを特徴とする自動分析装置。
  3.  請求項1または2記載の自動分析装置において、
     前記反応ディスク駆動機構の制御をする制御機構(101)は、分割したそれぞれの領域の長さのピッチで反応ディスクを回転動作と停止を繰り返すことを特徴とする自動分析装置。
  4.  請求項3記載の自動分析装置において、
     前記反応ディスク(104,201)が停止した時に、吸光度を測定するように前記検出器(114)を制御する制御手段(101)を備えたことを特徴とする自動分析装置。
  5.  請求項1~4のいずれかに記載の自動分析装置において、
     分割する領域の大きさを、前記反応ディスク(104,201)の1サイクルあたりの回転ピッチ,測光面積の少なくともいずれかに応じて変更できる変更機構(101)を備えたことを特徴とする自動分析装置。
  6.  請求項1~4のいずれかに記載の自動分析装置において、
     分割した領域で測定する対象の反応容器(105,203)を選択する選択機構(101)を備えたことを特徴とする自動分析装置。
  7.  請求項1記載の自動分析装置において、
     前記検出器(114)での測光を、領域を分割して行うように前記制御機構(101)が制御することを特徴とする自動分析装置。
  8.  請求項1~7のいずれかの自動分析装置において、
     前記反応容器(105,203)の吸光度分布に何らかの異常があると判断された後に、ユーザが異常と判断された反応容器を認識できるように通知する制御、ユーザが使用を回避できる制御、の少なくともいずれかの制御をすることを特徴とする自動分析装置。
  9.  請求項1~8のいずれかの特徴をもった反応容器検査装置。
PCT/JP2011/051127 2010-01-25 2011-01-21 自動分析装置 WO2011090173A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/516,006 US20120282137A1 (en) 2010-01-25 2011-01-21 Automatic analyzer
CN2011800069548A CN102713637A (zh) 2010-01-25 2011-01-21 自动分析装置
EP11734779.9A EP2530469A4 (en) 2010-01-25 2011-01-21 AUTOMATIC ANALYZER

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010012732A JP2011149885A (ja) 2010-01-25 2010-01-25 自動分析装置
JP2010-012732 2010-01-25

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2011090173A1 true WO2011090173A1 (ja) 2011-07-28

Family

ID=44306973

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2011/051127 WO2011090173A1 (ja) 2010-01-25 2011-01-21 自動分析装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20120282137A1 (ja)
EP (1) EP2530469A4 (ja)
JP (1) JP2011149885A (ja)
CN (1) CN102713637A (ja)
WO (1) WO2011090173A1 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102445414B (zh) * 2011-09-21 2013-06-05 艾康生物技术(杭州)有限公司 医学检验用的测试装置
CN102401835B (zh) * 2011-09-21 2015-05-06 艾康生物技术(杭州)有限公司 生化分析仪
CN103969459B (zh) * 2014-04-22 2015-08-19 深圳市库贝尔生物科技有限公司 一种全自动生化分析方法
DE102016209710A1 (de) * 2016-06-02 2017-12-07 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Inspektion von Behältnissen
CN108180950B (zh) * 2018-03-27 2024-03-19 上海科华实验系统有限公司 检验生化反应容器品质检测系统及方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6125064A (ja) * 1984-07-14 1986-02-03 Shimadzu Corp 自動化学分析装置
JP2007198739A (ja) * 2006-01-23 2007-08-09 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2009162719A (ja) * 2008-01-10 2009-07-23 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2009210275A (ja) * 2008-02-29 2009-09-17 Olympus Corp 自動分析装置
JP2009281941A (ja) * 2008-05-23 2009-12-03 Olympus Corp 分析方法及び分析装置

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5630650A (en) * 1979-08-22 1981-03-27 Hitachi Ltd Automatic chemical analyzer
JPS587545A (ja) * 1981-07-08 1983-01-17 Olympus Optical Co Ltd 分析装置
WO1988002120A1 (en) * 1986-09-16 1988-03-24 Nittec Co., Ltd Automatic analyzer
JPH01127960A (ja) * 1987-11-13 1989-05-19 Shimadzu Corp 自動化学分析装置
JPH01126565U (ja) * 1988-02-22 1989-08-29
JPH01277760A (ja) * 1988-04-30 1989-11-08 Shimadzu Corp 自動化学分析装置
JP2977692B2 (ja) * 1993-03-08 1999-11-15 日本電子株式会社 回転反応器の測定方式
US5623415A (en) * 1995-02-16 1997-04-22 Smithkline Beecham Corporation Automated sampling and testing of biological materials
JP2798080B2 (ja) * 1997-04-04 1998-09-17 株式会社日立製作所 自動分析装置
JP3620258B2 (ja) * 1997-12-26 2005-02-16 株式会社島津製作所 自動試料交換機能を備えた測定装置
JP3794012B2 (ja) * 1999-03-10 2006-07-05 日本電子株式会社 回転反応器の測定方式
JP2002365211A (ja) * 2001-04-02 2002-12-18 Fuji Photo Film Co Ltd 測定装置
JP2004317269A (ja) * 2003-04-16 2004-11-11 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2007225339A (ja) * 2006-02-21 2007-09-06 Olympus Corp 分析装置
JP5350811B2 (ja) * 2009-01-09 2013-11-27 ベックマン コールター, インコーポレイテッド 自動分析装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6125064A (ja) * 1984-07-14 1986-02-03 Shimadzu Corp 自動化学分析装置
JP2007198739A (ja) * 2006-01-23 2007-08-09 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2009162719A (ja) * 2008-01-10 2009-07-23 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2009210275A (ja) * 2008-02-29 2009-09-17 Olympus Corp 自動分析装置
JP2009281941A (ja) * 2008-05-23 2009-12-03 Olympus Corp 分析方法及び分析装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP2530469A4 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN102713637A (zh) 2012-10-03
EP2530469A1 (en) 2012-12-05
EP2530469A4 (en) 2013-06-19
JP2011149885A (ja) 2011-08-04
US20120282137A1 (en) 2012-11-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101520465A (zh) 自动分析装置
CN109416319B (zh) 自动分析装置及自动分析方法
EP2667182B1 (en) Automatic analysis device taking into account thermal drift
WO2017122455A1 (ja) 自動分析装置及びその制御方法
WO2013125386A1 (ja) 自動分析装置
WO2011090173A1 (ja) 自動分析装置
WO2007119785A1 (ja) 自動分析装置の分析支援用液体の品質管理方法および自動分析装置
JP5996350B2 (ja) 自動分析装置
WO2017138285A1 (ja) 自動分析装置
JP6766155B2 (ja) 自動分析装置
JP2008175731A (ja) 自動分析装置及びその保守方法
JP5271929B2 (ja) 自動分析装置
JP2009281802A (ja) 自動分析装置および検体検索システム
US7961324B2 (en) Wavelength identification method and analyzer
JPS6125064A (ja) 自動化学分析装置
JP6012367B2 (ja) 自動分析装置
JPH03183955A (ja) 自動分析装置
JP6165555B2 (ja) 自動分析装置及びその分注性能確認方法
JP6758821B2 (ja) 自動分析装置
JPH03181862A (ja) 自動分析装置
JPH085562A (ja) 自動分析方法
JP6675226B2 (ja) 自動分析装置
JP2000180368A (ja) 化学分析装置
JP7109967B2 (ja) 自動分析装置
JP2016224003A (ja) 自動分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 201180006954.8

Country of ref document: CN

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 11734779

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2011734779

Country of ref document: EP

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 13516006

Country of ref document: US