JPH01146926A - 光ディスク用ポリカーボネート成形材料 - Google Patents
光ディスク用ポリカーボネート成形材料Info
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- JPH01146926A JPH01146926A JP62305850A JP30585087A JPH01146926A JP H01146926 A JPH01146926 A JP H01146926A JP 62305850 A JP62305850 A JP 62305850A JP 30585087 A JP30585087 A JP 30585087A JP H01146926 A JPH01146926 A JP H01146926A
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- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
- Polyesters Or Polycarbonates (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、レーザー光の反射や透過によって信号の記録
や読み取りを行う光ディスク用のポリカーボネート成形
材料であり、高温多湿環境下において信号読み取りエラ
ーとなるディスク基板中の白点の生成を大幅に改善した
ものである。
や読み取りを行う光ディスク用のポリカーボネート成形
材料であり、高温多湿環境下において信号読み取りエラ
ーとなるディスク基板中の白点の生成を大幅に改善した
ものである。
光ディスクの基板材料としては、ガラス、エポキシ樹脂
等が当初用いられていたが、射出成形により容易に基板
が得られる熱可塑性樹脂が求められている。
等が当初用いられていたが、射出成形により容易に基板
が得られる熱可塑性樹脂が求められている。
この要求を満たす光学用熱可塑性樹脂としては、メチル
メタクリレート樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリカー
ボネート−ポリスチレン共重合体、ポリメチルペンテン
樹脂、ポリノルボルネン系樹脂などが挙げられる。
メタクリレート樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリカー
ボネート−ポリスチレン共重合体、ポリメチルペンテン
樹脂、ポリノルボルネン系樹脂などが挙げられる。
これらの中でポリカーボネート樹脂は、コンパクトディ
スクにおける実績などより最も可能性のある材料として
開発、改良が行われているが、ディスクの長期信頼性を
問題とする場合、記録膜の腐食やディスク基板中の白点
の発生等の問題があり、特に高温多湿環境におけるポリ
カーボネート性基板中の白点の発生は信号読み取りエラ
ーとなり大きな問題であることが分かった。
スクにおける実績などより最も可能性のある材料として
開発、改良が行われているが、ディスクの長期信頼性を
問題とする場合、記録膜の腐食やディスク基板中の白点
の発生等の問題があり、特に高温多湿環境におけるポリ
カーボネート性基板中の白点の発生は信号読み取りエラ
ーとなり大きな問題であることが分かった。
本発明者らは、このディスク基板の白点の生成原因につ
いて鋭意検討し、白点がポリカーボネート樹脂の加水分
解により生成したビスフェノールモノマー又は末端が水
酸基であるビスフェノールオリゴマーであることを見出
した。更にこの加水分解を誘発する物質がポリカーボネ
ート樹脂中に含まれる未反応ビスフェノールと低分子量
体であり、特に重合度(n=ビスフェノールの繰り返し
単位数)が1〜3の低分子量体の含有率が白点の生成に
大きな影響があることが分かった。
いて鋭意検討し、白点がポリカーボネート樹脂の加水分
解により生成したビスフェノールモノマー又は末端が水
酸基であるビスフェノールオリゴマーであることを見出
した。更にこの加水分解を誘発する物質がポリカーボネ
ート樹脂中に含まれる未反応ビスフェノールと低分子量
体であり、特に重合度(n=ビスフェノールの繰り返し
単位数)が1〜3の低分子量体の含有率が白点の生成に
大きな影響があることが分かった。
従来のビスフェノールとホスゲンとを用いる界面重合反
応によって得られる芳香族ポリカーボネート樹脂は、G
PCによる分子量分布測定を行うと分子量分布係数(U
値=重量平均分子量/数平均分子量)が1.5〜3.5
の分布を示し、重合度が1〜3程度の低分子量体は0.
5〜5重量%あり、それらの末端基は通常、水酸基、ク
ロロホーメート基、或いは末端停止剤として使用した化
合物の対応する残基からなっている。
応によって得られる芳香族ポリカーボネート樹脂は、G
PCによる分子量分布測定を行うと分子量分布係数(U
値=重量平均分子量/数平均分子量)が1.5〜3.5
の分布を示し、重合度が1〜3程度の低分子量体は0.
5〜5重量%あり、それらの末端基は通常、水酸基、ク
ロロホーメート基、或いは末端停止剤として使用した化
合物の対応する残基からなっている。
重合後のポリカーボネート樹脂は、通常ハロゲン化炭化
水素溶媒の溶液として得られ、樹脂溶液は重合反応の副
生成物である食塩、炭酸ソーダ、及び未反応ビスフェノ
ール等を含むのでこれを水洗によって除去したのち、微
量に含有される水酸化ナトリウムを中和するためにリン
酸、塩酸、硫酸等の鉱酸を添加混合し、さらに水洗を繰
り返して精製される。
水素溶媒の溶液として得られ、樹脂溶液は重合反応の副
生成物である食塩、炭酸ソーダ、及び未反応ビスフェノ
ール等を含むのでこれを水洗によって除去したのち、微
量に含有される水酸化ナトリウムを中和するためにリン
酸、塩酸、硫酸等の鉱酸を添加混合し、さらに水洗を繰
り返して精製される。
しかし、これらの精製によっては、低分子量体は除去さ
れず樹脂溶液中に残存している。
れず樹脂溶液中に残存している。
上記により精製された樹脂溶液より粉末状のポリカーボ
ネートを得る方法としては、樹脂の良溶媒溶液或いはこ
れに貧溶媒を沈澱が生じない程度に加えてなる樹脂溶液
を濃縮ゲル化する方法(“ゲル濃縮法” ;溶媒留去ゲ
ル化、フラッシュ濃縮ゲル化等)、該樹脂溶液を温水中
に滴下し溶媒を留去しゲル化する方法(“温水滴下法”
)等の濃縮法(a)と貧溶媒中に該樹脂溶液を滴下する
方法或いは該樹脂溶液中に貧溶媒を滴下する方法である
沈澱法(5)がある。しかし、前者の濃縮法(a)では
低分子量体の除去はできず、又、後者の沈澱法(b)は
、低分子量体を除去出来る可能性を有するものであるが
、操作性を考慮した従来の方法においてはやはり低分子
量体を除去することは殆ど出来ず、樹脂中には低分子量
体が0.5重量%以上存在し、このようなポリカーボネ
ート成形材料を使用したディスク基板を高温多湿環境下
に放置すると、低分子量体が加水分解し白点を生じる。
ネートを得る方法としては、樹脂の良溶媒溶液或いはこ
れに貧溶媒を沈澱が生じない程度に加えてなる樹脂溶液
を濃縮ゲル化する方法(“ゲル濃縮法” ;溶媒留去ゲ
ル化、フラッシュ濃縮ゲル化等)、該樹脂溶液を温水中
に滴下し溶媒を留去しゲル化する方法(“温水滴下法”
)等の濃縮法(a)と貧溶媒中に該樹脂溶液を滴下する
方法或いは該樹脂溶液中に貧溶媒を滴下する方法である
沈澱法(5)がある。しかし、前者の濃縮法(a)では
低分子量体の除去はできず、又、後者の沈澱法(b)は
、低分子量体を除去出来る可能性を有するものであるが
、操作性を考慮した従来の方法においてはやはり低分子
量体を除去することは殆ど出来ず、樹脂中には低分子量
体が0.5重量%以上存在し、このようなポリカーボネ
ート成形材料を使用したディスク基板を高温多湿環境下
に放置すると、低分子量体が加水分解し白点を生じる。
例えば、80℃、90%RHの環境下に200〜300
時間後に目視で判別出来る白点が生じ、500時間程度
となると、直径12cm程度のディスク中に直径100
AIv以上の白点が10個以上存在し、もはや光ディス
クとしての信頼は消失するものである。
時間後に目視で判別出来る白点が生じ、500時間程度
となると、直径12cm程度のディスク中に直径100
AIv以上の白点が10個以上存在し、もはや光ディス
クとしての信頼は消失するものである。
また、ポリカーボネート樹脂粉末を貧溶媒で洗浄して低
分子量体を抽出することも知られているが、これには極
めて多量の貧溶剤が必要となる他、抽出される樹脂粉末
の粒度によって抽出効率が大きく影響され、確実な手法
ではなかった。
分子量体を抽出することも知られているが、これには極
めて多量の貧溶剤が必要となる他、抽出される樹脂粉末
の粒度によって抽出効率が大きく影響され、確実な手法
ではなかった。
本発明者らは、未反応ビスフェノールと低分子量体を除
去したポリカーボネート樹脂を工業的に効率良く製造す
る方法について鋭意検討した結果、重合後の樹脂溶液を
1〜10重量%の苛性ソーダ水溶液と乳化状態を形成し
ながら撹拌し、クロロホーメート、その他の反応中間体
や副生物である末端基を分解すると共に未反応ビスフェ
ノールと低分子量体の一部を抽出した後、水洗及びリン
酸等の鉱酸の水溶液での洗浄を繰り返して精製した樹脂
溶液を得、これから精密濾過等により「ダスト」を除き
、これをポリカーボネートの非溶媒或いは貧溶媒中に滴
下するか、又は該樹脂溶液に非溶媒或いは貧溶媒中に滴
下することによって樹脂を沈澱化させると低分子量体が
効率よく分離され、このようにして得られたポリカーボ
ネート樹脂を用いた光ディスクは、高温多湿環境下に放
置しても白点を生じにくく、極めて信頼性に優れたもの
であることを見出し、本発明を完成させた。
去したポリカーボネート樹脂を工業的に効率良く製造す
る方法について鋭意検討した結果、重合後の樹脂溶液を
1〜10重量%の苛性ソーダ水溶液と乳化状態を形成し
ながら撹拌し、クロロホーメート、その他の反応中間体
や副生物である末端基を分解すると共に未反応ビスフェ
ノールと低分子量体の一部を抽出した後、水洗及びリン
酸等の鉱酸の水溶液での洗浄を繰り返して精製した樹脂
溶液を得、これから精密濾過等により「ダスト」を除き
、これをポリカーボネートの非溶媒或いは貧溶媒中に滴
下するか、又は該樹脂溶液に非溶媒或いは貧溶媒中に滴
下することによって樹脂を沈澱化させると低分子量体が
効率よく分離され、このようにして得られたポリカーボ
ネート樹脂を用いた光ディスクは、高温多湿環境下に放
置しても白点を生じにくく、極めて信頼性に優れたもの
であることを見出し、本発明を完成させた。
すなわち、本発明は、界面重合法でビスフェノールとホ
スゲンとの反応によって製造されるポリカーボネート樹
脂であって、下記一般式(1)で表される重合鎖の繰り
返し単位数nが1〜3の低分子量体の含有率が0.2重
量%以下であり、未反応ビスフェノールが10pμm以
下である光ディスク用ポリカーボネート成形材料である
。
スゲンとの反応によって製造されるポリカーボネート樹
脂であって、下記一般式(1)で表される重合鎖の繰り
返し単位数nが1〜3の低分子量体の含有率が0.2重
量%以下であり、未反応ビスフェノールが10pμm以
下である光ディスク用ポリカーボネート成形材料である
。
一般式(1);
(式中のXは、炭素数1〜3のアルキレン基、炭素数2
〜3のアルキリデン基、酸素原子、硫黄原子、カルボニ
ル基、スルフィニル基、又はスルホン基を示す。) 本発明のポリカーボネート樹脂としては、通常のビスフ
ェノール類を使用してなるホモ−、コーポリカーボネー
ト樹脂、更に分岐化されたもの、末端に長鎖アルキル基
を導入したもの等の平均分子量が13.000〜30.
000程度のもの;コーモノマーや末端停止剤として炭
素−炭素不飽和二重結合を有するビスフェノールやビニ
ルフェノールなどを用いて得た変性ポリカーボネート樹
脂にスチレンなどをグラフトしたもの、又はフェノール
性水酸基等をコーモノマーとして使用してなる変性ポリ
スチレンにポリカーボネート樹脂をグラフト重合したも
のなど何れでも使用可能なものとして例示される。
〜3のアルキリデン基、酸素原子、硫黄原子、カルボニ
ル基、スルフィニル基、又はスルホン基を示す。) 本発明のポリカーボネート樹脂としては、通常のビスフ
ェノール類を使用してなるホモ−、コーポリカーボネー
ト樹脂、更に分岐化されたもの、末端に長鎖アルキル基
を導入したもの等の平均分子量が13.000〜30.
000程度のもの;コーモノマーや末端停止剤として炭
素−炭素不飽和二重結合を有するビスフェノールやビニ
ルフェノールなどを用いて得た変性ポリカーボネート樹
脂にスチレンなどをグラフトしたもの、又はフェノール
性水酸基等をコーモノマーとして使用してなる変性ポリ
スチレンにポリカーボネート樹脂をグラフト重合したも
のなど何れでも使用可能なものとして例示される。
又、重合反応等に使用する良溶媒としては、クロロホル
ム、四塩化炭素、ジクロロメタン(=塩化メチレン、メ
チレンクロライド)、ジクロロエタン、トリクロロエタ
ン等ハロゲン化炭化水素とはであり、特に塩化メチレン
が好適である。
ム、四塩化炭素、ジクロロメタン(=塩化メチレン、メ
チレンクロライド)、ジクロロエタン、トリクロロエタ
ン等ハロゲン化炭化水素とはであり、特に塩化メチレン
が好適である。
上記で得たポリカーボネート樹脂溶液を苛性ソーダ水溶
液による抽出を行い、精製、「ダスト」除去をした後、
非或いは貧溶媒を用いた沈澱固形化とを行うことにより
製造される。
液による抽出を行い、精製、「ダスト」除去をした後、
非或いは貧溶媒を用いた沈澱固形化とを行うことにより
製造される。
重合後の樹脂液の抽出に用いる苛性ソーダ水溶液は通常
、濃度1〜10重量%の範囲、このましくは4〜8重量
%の範囲で、樹脂液100重量部に対して5〜200重
量部の範囲、好ましくは10〜50重量部の範囲で使用
することが樹脂液と乳化状態を形成し易く、抽出効率も
良好であり、抽出時間5〜60分間、好ましくは10〜
40分間の範囲で温度10〜50℃の範囲で行う。
、濃度1〜10重量%の範囲、このましくは4〜8重量
%の範囲で、樹脂液100重量部に対して5〜200重
量部の範囲、好ましくは10〜50重量部の範囲で使用
することが樹脂液と乳化状態を形成し易く、抽出効率も
良好であり、抽出時間5〜60分間、好ましくは10〜
40分間の範囲で温度10〜50℃の範囲で行う。
ついで、この樹脂液をリン酸水溶液等の鉱酸による中和
、水洗等を繰り返して精製をした後、精密濾過、遠心分
離により精製等の「ダスト」除去操作をして含水率の低
下され、低ダスト化された樹脂濃度が通常10〜25重
量%の精製されたポリカーボネート樹脂溶液とし、沈澱
化を行う。゛沈澱化を行う際に用いる非或いは貧溶媒と
しては、通常、アルコール、ケトン、脂肪族炭化水素、
脂環式炭化水素等を用いるが、アルコールやケトンは樹
脂中に残存した場合アリコルシス分解の原因となるので
好ましくなく、n−へブタン、n−ヘキサン、シクロヘ
キサン等の脂肪族又は脂環式炭化水素が好ましい。また
、沈澱化に使用するこれらの非或いは貧溶媒の使用量は
、樹脂液中の溶媒(良溶媒)/即成いは貧溶媒=4/6
〜6/4 (容量比)となる範囲で、ポリカーボネート
樹脂の回収率は75〜95重量%の範囲とするのが好ま
しく、適宜、温度、溶媒比等を制御する。
、水洗等を繰り返して精製をした後、精密濾過、遠心分
離により精製等の「ダスト」除去操作をして含水率の低
下され、低ダスト化された樹脂濃度が通常10〜25重
量%の精製されたポリカーボネート樹脂溶液とし、沈澱
化を行う。゛沈澱化を行う際に用いる非或いは貧溶媒と
しては、通常、アルコール、ケトン、脂肪族炭化水素、
脂環式炭化水素等を用いるが、アルコールやケトンは樹
脂中に残存した場合アリコルシス分解の原因となるので
好ましくなく、n−へブタン、n−ヘキサン、シクロヘ
キサン等の脂肪族又は脂環式炭化水素が好ましい。また
、沈澱化に使用するこれらの非或いは貧溶媒の使用量は
、樹脂液中の溶媒(良溶媒)/即成いは貧溶媒=4/6
〜6/4 (容量比)となる範囲で、ポリカーボネート
樹脂の回収率は75〜95重量%の範囲とするのが好ま
しく、適宜、温度、溶媒比等を制御する。
上記により得たポリカーボネート樹脂の湿潤粉体は、こ
のまま出来るだけ「ダスト」が増加しない条件で乾燥し
て溶媒であるハロゲン化炭化水素溶媒を好ましくは10
pμm以下とした乾燥粉体とし、適宜、所望の添加剤類
を配合して押出して、本発明の成形材料とすることもで
きる。
のまま出来るだけ「ダスト」が増加しない条件で乾燥し
て溶媒であるハロゲン化炭化水素溶媒を好ましくは10
pμm以下とした乾燥粉体とし、適宜、所望の添加剤類
を配合して押出して、本発明の成形材料とすることもで
きる。
しかし、乾燥後の粉体の嵩比重は0.2〜0.3程度、
沈澱化法を制御することによっても0.4程度以下と小
さく、かつ多量の微粉末を含むために「ダスト」を増加
させないように工業的に効率よく乾燥し押出ペレット化
することは困難である。従って、本発明においては、好
適には、この湿潤粉末をそのまま、又はポリカーボネー
ト樹脂の非或いは貧溶媒で洗浄するか或いは非或いは貧
溶媒を添加して処理した後、湿潤粉末の5容量倍以上の
水を加えて45〜100℃に加熱し、適宜湿式粉砕しつ
つ、溶媒を留去して微粉末が多孔質状に凝集した粉粒体
の水スラリーとし、水を分離して微粉末が減少した嵩比
重の高いものとして乾燥し、上記と同様に押出するか、
又は、水を分離した後の良溶媒、貧溶媒及び水を含む湿
潤粉末をそのまま又は適宜、所望の添加剤類を配合して
ベント部の樹脂の表面更新頻度の大きい、好ましくは1
50以上のベント付の押出機に供給して減圧により良溶
媒、貧溶媒及び水を押出と共に除去しペレットとする。
沈澱化法を制御することによっても0.4程度以下と小
さく、かつ多量の微粉末を含むために「ダスト」を増加
させないように工業的に効率よく乾燥し押出ペレット化
することは困難である。従って、本発明においては、好
適には、この湿潤粉末をそのまま、又はポリカーボネー
ト樹脂の非或いは貧溶媒で洗浄するか或いは非或いは貧
溶媒を添加して処理した後、湿潤粉末の5容量倍以上の
水を加えて45〜100℃に加熱し、適宜湿式粉砕しつ
つ、溶媒を留去して微粉末が多孔質状に凝集した粉粒体
の水スラリーとし、水を分離して微粉末が減少した嵩比
重の高いものとして乾燥し、上記と同様に押出するか、
又は、水を分離した後の良溶媒、貧溶媒及び水を含む湿
潤粉末をそのまま又は適宜、所望の添加剤類を配合して
ベント部の樹脂の表面更新頻度の大きい、好ましくは1
50以上のベント付の押出機に供給して減圧により良溶
媒、貧溶媒及び水を押出と共に除去しペレットとする。
以下、実施例等により本発明を説明する。
なお、実施例等中の%、部などは特に断らない限り重量
基準である。
基準である。
実施例1および比較例1
ポリカーボネートの重合。
容量5m3の反応槽に、ビスフェノールA (=BPA
) 300kg、 10%苛性ソーダ1.400 A
、塩化メチレン(=MC) 6501.ハイドロサル
ファイド0.5kgを仕込み撹拌した。これにp−te
rt−ブチルフェノール 12.3kgを投入し、ホス
ゲン147kgを約45分間で吹き込んだ。
) 300kg、 10%苛性ソーダ1.400 A
、塩化メチレン(=MC) 6501.ハイドロサル
ファイド0.5kgを仕込み撹拌した。これにp−te
rt−ブチルフェノール 12.3kgを投入し、ホス
ゲン147kgを約45分間で吹き込んだ。
ホスゲン吹き込み終了後0.2kgのトリエチルアミン
を加え、強撹拌下で30℃に保ちつつ60分間重合した
。
を加え、強撹拌下で30℃に保ちつつ60分間重合した
。
重合液の抽出・洗浄・濾過。
重合終了後、反応液を遠心分離機に送り、5000Gの
遠心力で水層を分離した。
遠心力で水層を分離した。
得られた樹脂溶液に3001の4%苛性ソーダ水溶液を
加えて30分間撹拌し、撹拌終了後、前記と同様に水層
を分離し、リン酸中和槽に送り、1%リン酸水溶液30
01を加えて撹拌し、撹拌終了後、前記と同様に水層を
分離した。
加えて30分間撹拌し、撹拌終了後、前記と同様に水層
を分離し、リン酸中和槽に送り、1%リン酸水溶液30
01を加えて撹拌し、撹拌終了後、前記と同様に水層を
分離した。
ついで最終段階の水洗槽に送り、純水3001を加えて
撹拌、遠心分離した。
撹拌、遠心分離した。
上記で得た樹脂溶液を孔系1.2−のポリーパーフロロ
エチレン製のメンプランフィルターテ濾過した。
エチレン製のメンプランフィルターテ濾過した。
ポリカーボネート樹脂の分離。
撹拌機と還流冷却器とを有する反応槽に上記で得た芳香
族ポリカーボネート樹脂のMC溶液を導入し、30℃に
保ちなから n−へブタン(=nH)をMC/nH=
5 / 5 (容量比)となる量滴下してポリカーボネ
ート樹脂の沈澱を生成させた後、濾過分離し、次いでこ
の湿潤粉体を120℃で8時間乾燥して乾燥粉体295
kg (回収率85.3%)を得た。
族ポリカーボネート樹脂のMC溶液を導入し、30℃に
保ちなから n−へブタン(=nH)をMC/nH=
5 / 5 (容量比)となる量滴下してポリカーボネ
ート樹脂の沈澱を生成させた後、濾過分離し、次いでこ
の湿潤粉体を120℃で8時間乾燥して乾燥粉体295
kg (回収率85.3%)を得た。
この粉末中のnHは2000PμmSMC250pμm
であり、BPAは認められず、繰り返し数n=1〜3の
低分子量体は 0.05%であった。
であり、BPAは認められず、繰り返し数n=1〜3の
低分子量体は 0.05%であった。
成形材料の製造。
上記で得たポリカーボネート乾燥粉体に、ベヘニルベヘ
ネート0.1%を添加混合した後、L/D=28のベン
ト付き押出機で樹脂温度270℃で押出してペレット化
し光ディスク用成形材料を得た。
ネート0.1%を添加混合した後、L/D=28のベン
ト付き押出機で樹脂温度270℃で押出してペレット化
し光ディスク用成形材料を得た。
ディスクの製造および環境試験。
上記のペレットを使用し、射出成形して片面に螺旋状の
グループをもつ厚み1.2mmのデータファイル用光デ
ィスク基板を得た。
グループをもつ厚み1.2mmのデータファイル用光デ
ィスク基板を得た。
この基板上に光磁化膜であるTe/Fe/Co合金をス
パッタリングにより300〜500人蒸着し、記録膜上
には光硬化型のアクリル系樹脂をコートし、紫外線で硬
化させた。
パッタリングにより300〜500人蒸着し、記録膜上
には光硬化型のアクリル系樹脂をコートし、紫外線で硬
化させた。
このディスクを80℃、90%RH,500hrs放置
する環境試験を行い、信号読み取り面からみて50.c
a以上の白点が全ディスク表面に何個存在するかを光学
顕微鏡で100時間毎に調べた結果を第1表に示した。
する環境試験を行い、信号読み取り面からみて50.c
a以上の白点が全ディスク表面に何個存在するかを光学
顕微鏡で100時間毎に調べた結果を第1表に示した。
比較例。
又、比較のため、重合終了後の苛性ソーダ水溶液による
抽出を行わなず、樹脂分離を樹脂溶液を温水中に滴下し
て固形化する方法により分離する他は同様として得た材
料を製造し、試験した結果を第1表に示した。
抽出を行わなず、樹脂分離を樹脂溶液を温水中に滴下し
て固形化する方法により分離する他は同様として得た材
料を製造し、試験した結果を第1表に示した。
尚、ペレット中のBPA及び低分子量体の定量はWat
ers社製)IPLCM600マルチソルベントシステ
ムを使用し、逆相グラジェント法を用いて行った。
ers社製)IPLCM600マルチソルベントシステ
ムを使用し、逆相グラジェント法を用いて行った。
使用溶媒は水/テトラヒドロフラン=25/75→0/
100 (容量比)とし、検出器は波長254nmの
UV検出器とした。
100 (容量比)とし、検出器は波長254nmの
UV検出器とした。
また、第1表中の低分子量体の含有率は、繰り返し単位
数n=1〜3のものの合計量で示した。
数n=1〜3のものの合計量で示した。
注)ND:検出できず。
実施例2〜4右よび比較例2.3
実施例1において、重合液の抽出に使用する苛性ソーダ
水溶液の濃度を2%とすること、沈澱固形化に使用する
nHの使用容量比を変更すること、nHに代えてシクロ
ヘキサン(=CH)を第2表に記載のように用いる他は
実施例1と同様にした。
水溶液の濃度を2%とすること、沈澱固形化に使用する
nHの使用容量比を変更すること、nHに代えてシクロ
ヘキサン(=CH)を第2表に記載のように用いる他は
実施例1と同様にした。
結果を第2表に示した。なお、環境試験結果は1、00
0時間後のものである。
0時間後のものである。
また、比較の為に、実施例1において、重合液の抽出に
使用する苛性ソーダ水溶液の濃度を2%とし、沈澱化に
用いるnHの量比を多くすることの他は同様としたもの
(比較例2)及び苛性ソーダ抽出処理無しの場合(比較
例3)について試験した結果を第2表に示した。
使用する苛性ソーダ水溶液の濃度を2%とし、沈澱化に
用いるnHの量比を多くすることの他は同様としたもの
(比較例2)及び苛性ソーダ抽出処理無しの場合(比較
例3)について試験した結果を第2表に示した。
第2表
注)N口:検出できず。
以上、本発明のポリカーボネート樹脂成形材料による光
ディスクは、長期に渡って白点の発生の少ない信頼性の
優れたものであることが明瞭である。従って、高温多湿
環境下に右いて使用することを余儀無くされる場合にも
、安心して使用可能なものであり、その工業的意義は極
めて高いものである。
ディスクは、長期に渡って白点の発生の少ない信頼性の
優れたものであることが明瞭である。従って、高温多湿
環境下に右いて使用することを余儀無くされる場合にも
、安心して使用可能なものであり、その工業的意義は極
めて高いものである。
特許出願人 三菱瓦斯化学株式会社
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 界面重合法でビスフェノールとホスゲンとの反応によ
って製造されるポリカーボネート樹脂であって、下記一
般式(1)で表される重合鎖の繰り返し単位数nが1〜
3の低分子量体の含有率が0.2重量%以下であり、未
反応ビスフェノールが10pμm以下である光ディスク
用ポリカーボネート成形材料。 一般式(1); ▲数式、化学式、表等があります▼・・・(1) (式中のXは、炭素数1〜3のアルキレン基、炭素数2
〜3のアルキリデン基、酸素原子、硫黄原子、カルボニ
ル基、スルフィニル基、又はスルホン基を示す。)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62305850A JP2621890B2 (ja) | 1987-12-04 | 1987-12-04 | 光ディスク用ポリカーボネート成形材料 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62305850A JP2621890B2 (ja) | 1987-12-04 | 1987-12-04 | 光ディスク用ポリカーボネート成形材料 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01146926A true JPH01146926A (ja) | 1989-06-08 |
JP2621890B2 JP2621890B2 (ja) | 1997-06-18 |
Family
ID=17950115
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62305850A Expired - Lifetime JP2621890B2 (ja) | 1987-12-04 | 1987-12-04 | 光ディスク用ポリカーボネート成形材料 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2621890B2 (ja) |
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