JPH01102894A - 電界発光素子及びその製造方法 - Google Patents
電界発光素子及びその製造方法Info
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- JPH01102894A JPH01102894A JP62258792A JP25879287A JPH01102894A JP H01102894 A JPH01102894 A JP H01102894A JP 62258792 A JP62258792 A JP 62258792A JP 25879287 A JP25879287 A JP 25879287A JP H01102894 A JPH01102894 A JP H01102894A
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Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、照明、デイスプレィあるいはOA機器用等の
光源に応用される電界発光素子に関する。
光源に応用される電界発光素子に関する。
蛍光体に交流電界を印加した時に発光するエレクトロル
ミネッセンスを応用した電界発光素子(EL素子)は、
低温面発光体として表示素子等への応用が期待され、一
部実用化もされている。EL素子は、ガラス等の透明基
体上に透明電極を形成し、その上に第1絶縁層、発光層
、第2絶縁層、電極層を順次積層することにより構成さ
れる。
ミネッセンスを応用した電界発光素子(EL素子)は、
低温面発光体として表示素子等への応用が期待され、一
部実用化もされている。EL素子は、ガラス等の透明基
体上に透明電極を形成し、その上に第1絶縁層、発光層
、第2絶縁層、電極層を順次積層することにより構成さ
れる。
従来、EL素子の発光層として、水素を含む非単結晶S
iやSiCなどのIV族元素からなる材料を使用した例
が知られている。
iやSiCなどのIV族元素からなる材料を使用した例
が知られている。
このような材料は、成膜しやすい等の製造上の利点があ
るものの、この材料を用いたEL素子は、駆動に高電圧
が必要であったり、輝度が不充分であったり、発光寿命
が短いといった欠点があった。
るものの、この材料を用いたEL素子は、駆動に高電圧
が必要であったり、輝度が不充分であったり、発光寿命
が短いといった欠点があった。
そこで本発明の目的は、前述した従来技術の欠点を克服
した電界発光素子を提供するものであって、製造が容易
であり、しかも高輝度で発光強度の大きな新規の電界発
光素子を提供することにある。
した電界発光素子を提供するものであって、製造が容易
であり、しかも高輝度で発光強度の大きな新規の電界発
光素子を提供することにある。
更に本発明の目的は、低電圧で駆動し、発光寿命が十分
長い電界発光素子を提供することにある。
長い電界発光素子を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段及び作用〕上記の目的は
、以下の本発明によって達成される。
、以下の本発明によって達成される。
゛ 即ち本発明は、少なくとも1対の電極と発光層と
を有する電界発光素子に於いて、前記発光層がIV族元
素を主体とする微粒子を含むことを特徴とする電界発光
素子である。
を有する電界発光素子に於いて、前記発光層がIV族元
素を主体とする微粒子を含むことを特徴とする電界発光
素子である。
本発明のEL素子は、発光層がC,Si、 Geを代表
とするIV族元素を主とする微粒子を含有する層あるい
は微粒子を層状に堆積した微粒子膜で構成される。さら
には前記微粒子あるいは微粒子膜はその一部が酸化され
た発光層で構成されるEL素子である。
とするIV族元素を主とする微粒子を含有する層あるい
は微粒子を層状に堆積した微粒子膜で構成される。さら
には前記微粒子あるいは微粒子膜はその一部が酸化され
た発光層で構成されるEL素子である。
以下、第1図の構成図を用い、本発明のEL素子を説明
する。基板1としてはガラス、ポリエステル、ポリカー
ボネイト等光を透過する電気絶縁材料が用いられる。発
光を基板側から放射しない構成のEL素子においては不
透明なセラミック等も利用可能である。基板1上に形成
される透明電極2はITOのスパッタ蒸着膜などである
。第1絶縁層3および第2絶縁層5はSi3 N4 、
Y203 、5i02 。
する。基板1としてはガラス、ポリエステル、ポリカー
ボネイト等光を透過する電気絶縁材料が用いられる。発
光を基板側から放射しない構成のEL素子においては不
透明なセラミック等も利用可能である。基板1上に形成
される透明電極2はITOのスパッタ蒸着膜などである
。第1絶縁層3および第2絶縁層5はSi3 N4 、
Y203 、5i02 。
5rTi03 、 BaTa203等の誘電率が大きく
、絶縁耐圧の大きい誘電体材料であり、スパッタ蒸着。
、絶縁耐圧の大きい誘電体材料であり、スパッタ蒸着。
CVD法等の薄膜堆積層で形成される。第1絶縁層3と
第2絶縁層5は各々別の材料でも、また複数の材料の積
層膜でも良い。第2絶縁層5上にはA1等の金属導電材
料からなる上部電極6が形成される。
第2絶縁層5は各々別の材料でも、また複数の材料の積
層膜でも良い。第2絶縁層5上にはA1等の金属導電材
料からなる上部電極6が形成される。
本発明のEL素子の発光層4を構成する微粒子あるいは
微粒子膜は主としてIV族元素からなり、その大きさが
発光波長と同程度またはそれ以下のものであれば良い。
微粒子膜は主としてIV族元素からなり、その大きさが
発光波長と同程度またはそれ以下のものであれば良い。
可視光の発光の場合には大体1μm以下、望ましくは0
.1μm以下、さらに望ましくは500Å以下である。
.1μm以下、さらに望ましくは500Å以下である。
我々は鋭意研究の結果、発光層を上記の様な微粒子又は
微粒子の集合体とする事により、その発光強度を増大さ
せる事が出来る事を見出した。上記の微粒子の形は特に
重要ではなく何でも良いが、比較的球に近く、大きさの
そろったものを用いる場合の方が効果的である。大きさ
の下限は不明であるが、透過電子顕微鏡(TEM)及び
電界放射型走査電子顕微鏡による観察結果によれば10
0Å以下、数10人の平均粒径を持つ超微粒子であって
も効果が認められる。
微粒子の集合体とする事により、その発光強度を増大さ
せる事が出来る事を見出した。上記の微粒子の形は特に
重要ではなく何でも良いが、比較的球に近く、大きさの
そろったものを用いる場合の方が効果的である。大きさ
の下限は不明であるが、透過電子顕微鏡(TEM)及び
電界放射型走査電子顕微鏡による観察結果によれば10
0Å以下、数10人の平均粒径を持つ超微粒子であって
も効果が認められる。
本発明に係る発光層を製造する装置としては、例えは第
2図に示す装置を使用する事が出来る。第2図の中で7
は縮小拡大ノズル、8はノズルののど部、9は磁気コイ
ル、10は下流室、11は空胴共振器、12は基体ホル
ダー、13は基体、14はマイクロ波投入窓、15はマ
イクロ波の導波管、16はガス導電 入口である。反応ガスを16から空刺共振器内12へ導
入した時、反応は12の中で起き、12は反応室として
働く。
2図に示す装置を使用する事が出来る。第2図の中で7
は縮小拡大ノズル、8はノズルののど部、9は磁気コイ
ル、10は下流室、11は空胴共振器、12は基体ホル
ダー、13は基体、14はマイクロ波投入窓、15はマ
イクロ波の導波管、16はガス導電 入口である。反応ガスを16から空刺共振器内12へ導
入した時、反応は12の中で起き、12は反応室として
働く。
例えばA−8iの粒子膜をつくる場合にはガス導入口1
6よりSiH4ガスと、必要ならばH2ガスを送り込み
、反応室内でプラズマを発生させて、ガスを分解して反
応させ、微粒子を形成させる。そしてこれを一部未反応
の気体状の活性種とともにノズル7から吹き出させ基体
13の上に吹きつけて固定する。プラズマにエネルギー
を与える手段としてはマイクロ波や紫外線あるいはRF
などの高周波などの電磁波や低周波や直流などの電場印
加などが使える。実用上置も使い易いのは紫外線又はマ
イクロ波であり、この時は反応室の形状を工夫する必要
はあるが、反応室内に電極などの構造物を置(必要はな
く、エネルギー投入用の窓があれば良い。マイクロ波プ
ラズマを用いる場合にも色々なやり方があ切、同軸管を
用いる方法(JapaneseJ、A、P 21 (8
) 1470 (1982))や(Journalof
、 Non−Crystalline 5olid
s チヲ6」813 (1985))に見られる方法
などがあるが、効率的な微粒子形成を行う立場からみれ
ば、反応室日をマイクロ波の空胴共振器とする方法が非
常に有効である。
6よりSiH4ガスと、必要ならばH2ガスを送り込み
、反応室内でプラズマを発生させて、ガスを分解して反
応させ、微粒子を形成させる。そしてこれを一部未反応
の気体状の活性種とともにノズル7から吹き出させ基体
13の上に吹きつけて固定する。プラズマにエネルギー
を与える手段としてはマイクロ波や紫外線あるいはRF
などの高周波などの電磁波や低周波や直流などの電場印
加などが使える。実用上置も使い易いのは紫外線又はマ
イクロ波であり、この時は反応室の形状を工夫する必要
はあるが、反応室内に電極などの構造物を置(必要はな
く、エネルギー投入用の窓があれば良い。マイクロ波プ
ラズマを用いる場合にも色々なやり方があ切、同軸管を
用いる方法(JapaneseJ、A、P 21 (8
) 1470 (1982))や(Journalof
、 Non−Crystalline 5olid
s チヲ6」813 (1985))に見られる方法
などがあるが、効率的な微粒子形成を行う立場からみれ
ば、反応室日をマイクロ波の空胴共振器とする方法が非
常に有効である。
プラズマ励起手段がマイクロ波であろうとそれ以外の方
法であろうと、投入パワーは基体上に堆積させた微粒子
膜の発光強度をある程度左右する。
法であろうと、投入パワーは基体上に堆積させた微粒子
膜の発光強度をある程度左右する。
強い発光を得るためにはプラズマ中の発光種Haの65
6nm付近の発光の発光強度IHとSiHの414nm
付近の発光の発光強度Isとの比I s / I Hが
0.2以下となる様な大きなパワー投入をすると効果が
ある。反応室内の圧力を1.0Torr以上にすれば1
μ/ sec程度の高速堆積も可能である。ノズルはプ
ラズマ内で出来た微粒子を一部の活性種とともに高速で
吹き出し、基体に吹きつけて固定化するために設けであ
る。ノズルの形状は一般的には何でも良いが、微粒子の
基体への付着力を高め、また微粒子をビーム化して基体
上に効率的に集めるためには、上流側から下流側へ、い
わゆる縮少拡大型の口径変化をもつ超音速ノズルを使用
する事が望ましい。その断面形状は円形だけでなく特開
昭61−221377号公報に示されている様な様々な
変形が目的に応じて使用可能である。ノズルより下流側
の基体室付近は通常10−8T o r r以下程度に
圧力を比 下げて使用する。ノズル上流と下流との圧力停は数10
位から100位程度ある事が望ましい。
6nm付近の発光の発光強度IHとSiHの414nm
付近の発光の発光強度Isとの比I s / I Hが
0.2以下となる様な大きなパワー投入をすると効果が
ある。反応室内の圧力を1.0Torr以上にすれば1
μ/ sec程度の高速堆積も可能である。ノズルはプ
ラズマ内で出来た微粒子を一部の活性種とともに高速で
吹き出し、基体に吹きつけて固定化するために設けであ
る。ノズルの形状は一般的には何でも良いが、微粒子の
基体への付着力を高め、また微粒子をビーム化して基体
上に効率的に集めるためには、上流側から下流側へ、い
わゆる縮少拡大型の口径変化をもつ超音速ノズルを使用
する事が望ましい。その断面形状は円形だけでなく特開
昭61−221377号公報に示されている様な様々な
変形が目的に応じて使用可能である。ノズルより下流側
の基体室付近は通常10−8T o r r以下程度に
圧力を比 下げて使用する。ノズル上流と下流との圧力停は数10
位から100位程度ある事が望ましい。
微粒子堆積中に基体の加熱をすれば発光は若干増加する
が、200℃以上の加熱では逆に強度が弱まる事がある
ので、基体の温度を高くし過ぎる事は必ずしも望ましく
ない。
が、200℃以上の加熱では逆に強度が弱まる事がある
ので、基体の温度を高くし過ぎる事は必ずしも望ましく
ない。
このようにして形成された微粒子膜は、ESRで測定し
たスピン密度が10−17c m−”以下となり、発光
は室内灯の下で肉眼で確認出来る。粒径は条件にもよる
が100〜200人程度が普通である。
たスピン密度が10−17c m−”以下となり、発光
は室内灯の下で肉眼で確認出来る。粒径は条件にもよる
が100〜200人程度が普通である。
上述の微粒子生成装置を用いて作製した微粒子はポリシ
ランもしくはアモルファスSiである。EL。
ランもしくはアモルファスSiである。EL。
素子を使用する場合、アモルファスSiの方がより強(
発光するために望ましい。また作製した微粒子あるいは
微粒子膜をそのまま使用するより、酸素あるいは水蒸気
雰囲気中で加熱する等の酸化処理を施こした微粒子ある
いは微粒子膜を使用するとより強い発光輝度のEL素子
が得られる。
発光するために望ましい。また作製した微粒子あるいは
微粒子膜をそのまま使用するより、酸素あるいは水蒸気
雰囲気中で加熱する等の酸化処理を施こした微粒子ある
いは微粒子膜を使用するとより強い発光輝度のEL素子
が得られる。
またSiH4だけでな(通常A−Si成膜に使われるシ
ラン誘導体例えばSi2 H6やSiF4なども使用可
能である。さらに他のIV族系のガス、例えばCH4,
CH30H,C2H6その他の炭化水素系ガスを用いれ
ばアモルファスの炭素膜ができるし、GeH4などによ
りA−Ge膜も全く同様の装置を用いて微粒子構造の発
光層が形成出来る。
ラン誘導体例えばSi2 H6やSiF4なども使用可
能である。さらに他のIV族系のガス、例えばCH4,
CH30H,C2H6その他の炭化水素系ガスを用いれ
ばアモルファスの炭素膜ができるし、GeH4などによ
りA−Ge膜も全く同様の装置を用いて微粒子構造の発
光層が形成出来る。
またSi系ガスとC系のガス、Si系のガスとGe系の
ガスの様に2種、3種のガスを混合して使用することも
可能である。
ガスの様に2種、3種のガスを混合して使用することも
可能である。
次に実施例によりさらに具体的に本発明を説明する。
実施例1
ガラス基板上に透明電極としてITOを0.2μm1第
1絶縁層としてSi3 N4を0.3μmそれぞれスパ
ッタ法およびCVDで形成した。その上に第2図に示す
微粒子形成装置を用い、原料ガスとしてSiH4をH2
で3%に稀釈した混合ガスより微粒子膜を0.25μm
形成した。この微粒子膜の形成条件は、マイクロ波出力
が150W、空胴共振器の圧力は0.4Torrs下流
室の圧力は4.5mTorrであった。この時のガス流
量は約11008CCである。
1絶縁層としてSi3 N4を0.3μmそれぞれスパ
ッタ法およびCVDで形成した。その上に第2図に示す
微粒子形成装置を用い、原料ガスとしてSiH4をH2
で3%に稀釈した混合ガスより微粒子膜を0.25μm
形成した。この微粒子膜の形成条件は、マイクロ波出力
が150W、空胴共振器の圧力は0.4Torrs下流
室の圧力は4.5mTorrであった。この時のガス流
量は約11008CCである。
また、ガラス基体を取り付けた基体ホルダーは水冷した
。この様に形成した微粒子の粒径は100〜200人の
範囲にあった。赤外分光分析の結果1! 2090cm”強いヒータがみられ、この微粒子が主と
してSiH2からなることが推測される。上述の作製法
で形成した素子を100℃、3時間酸化処理したのち、
第2絶縁層としてSi3 N4を0.3μm1AI!の
上部電極を0.5μm積層し、EL素子を作製した。
。この様に形成した微粒子の粒径は100〜200人の
範囲にあった。赤外分光分析の結果1! 2090cm”強いヒータがみられ、この微粒子が主と
してSiH2からなることが推測される。上述の作製法
で形成した素子を100℃、3時間酸化処理したのち、
第2絶縁層としてSi3 N4を0.3μm1AI!の
上部電極を0.5μm積層し、EL素子を作製した。
比較のために発光層をCVD法で形成したアモルファス
SiC膜とした他は実施例1と同一材料と同一構成のE
L嵜子を作製した。このSiC膜表面を実施例1と同様
FE−3EMで観察したが、実施例1に見られた微粒子
構造はみられなかった。
SiC膜とした他は実施例1と同一材料と同一構成のE
L嵜子を作製した。このSiC膜表面を実施例1と同様
FE−3EMで観察したが、実施例1に見られた微粒子
構造はみられなかった。
前述の実施例1のEL素子と比較例のEL素子をIKH
zで駆動した時の発光スペクトル18.19を第3図に
示す。
zで駆動した時の発光スペクトル18.19を第3図に
示す。
第3図に示す如く、本発明のEL素子は、比較例のもの
より発光強度が格段に大きいことがわかる。
より発光強度が格段に大きいことがわかる。
実施例2
発光層形成の原料ガスとしてSiH4とCH4を1:l
に混合したガスを使用した他は実施例1と同一の材料お
よび作製法でEL素子を作製した。このEL素子も実施
例1と同様に明るく発光したが、ビーり波長は実施例1
よりも短波長側にシフトし、白・色に近い光を発した。
に混合したガスを使用した他は実施例1と同一の材料お
よび作製法でEL素子を作製した。このEL素子も実施
例1と同様に明るく発光したが、ビーり波長は実施例1
よりも短波長側にシフトし、白・色に近い光を発した。
実施例3
発光層形成の原料ガスとしてSiH4とGeH4を2:
1に混合したガスを使用した他は実施例1と同一構成の
EL素子を作製した。このEL素子も実施例1と同様に
明る(発光したが、発光波長ピークは実施例1よりも長
波長側にシフトし、赤色の発光を示した。
1に混合したガスを使用した他は実施例1と同一構成の
EL素子を作製した。このEL素子も実施例1と同様に
明る(発光したが、発光波長ピークは実施例1よりも長
波長側にシフトし、赤色の発光を示した。
以上説明した様に、本発明によればC,Si、 Ge等
IV族元素を主成分とする微粒子あるいは微粒子膜を発
光層とすることにより、低駆動電圧で高輝度の発光が可
能となる。
IV族元素を主成分とする微粒子あるいは微粒子膜を発
光層とすることにより、低駆動電圧で高輝度の発光が可
能となる。
また本発明によれば、ショットキー結合型の構造のEL
素子にも適用される。
素子にも適用される。
第1図は本発明の電界発光素子の断面構造を示す図、
第2−図は本発明電界発光素子の発光層形成のための製
造装置の概略図、 第3図は本発明実施例1および比較例の電界発光素子の
発光スペクトルを表わす図である。 1・・・基体 2・・・透明電極計・・第1
絶縁層 4・・・発光層重・・第2絶縁層 6
・・・上部電極7・・・ノズル 8・・・ノズ
ルのど部9・・・磁気コイル lO・・・下流室1
1・・・空胴共振器 12・・・基体ホルダ13・
・・基体 14・・・マイクロ波投入窓 15・・・マイクロ波導波管 16・・・ガス導入管 17・・・排気系
造装置の概略図、 第3図は本発明実施例1および比較例の電界発光素子の
発光スペクトルを表わす図である。 1・・・基体 2・・・透明電極計・・第1
絶縁層 4・・・発光層重・・第2絶縁層 6
・・・上部電極7・・・ノズル 8・・・ノズ
ルのど部9・・・磁気コイル lO・・・下流室1
1・・・空胴共振器 12・・・基体ホルダ13・
・・基体 14・・・マイクロ波投入窓 15・・・マイクロ波導波管 16・・・ガス導入管 17・・・排気系
Claims (4)
- (1)少なくとも1対の電極と発光層とを有する電界発
光素子に於いて、前記発光層がIV族元素を主体とする微
粒子を含むことを特徴とする電界発光素子。 - (2)前記発光層が、微粒子を層状に堆積した微粒子膜
を含む特許請求の範囲第1項記載の電界発光素子。 - (3)前記微粒子の少なくとも1部が酸化されている特
許請求の範囲第1項記載の電界発光素子。 - (4)前記微粒子がアモルフアス構造をなす特許請求の
範囲第1項記載の電界発光素子。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62258792A JPH0752670B2 (ja) | 1987-10-14 | 1987-10-14 | 電界発光素子及びその製造方法 |
US07/256,472 US4931692A (en) | 1987-10-14 | 1988-10-12 | Luminescing member, process for preparation thereof, and electroluminescent device employing same |
EP88309643A EP0312383B1 (en) | 1987-10-14 | 1988-10-14 | Luminescing member, process for preparation thereof, and electroluminescent device employing same |
DE8888309643T DE3869542D1 (de) | 1987-10-14 | 1988-10-14 | Lumineszentes material, verfahren zur herstellung desselben und dasselbe verwendende elektrolumineszente vorrichtung. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62258792A JPH0752670B2 (ja) | 1987-10-14 | 1987-10-14 | 電界発光素子及びその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01102894A true JPH01102894A (ja) | 1989-04-20 |
JPH0752670B2 JPH0752670B2 (ja) | 1995-06-05 |
Family
ID=17325138
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62258792A Expired - Fee Related JPH0752670B2 (ja) | 1987-10-14 | 1987-10-14 | 電界発光素子及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0752670B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5949729A (en) * | 1996-07-24 | 1999-09-07 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Memory device with current limiting feature |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5956477A (ja) * | 1982-09-27 | 1984-03-31 | Toshiba Corp | 薄膜el素子およびその製造方法 |
JPS5956391A (ja) * | 1982-09-27 | 1984-03-31 | 株式会社東芝 | Elデイスプレイ装置 |
JPS59175592A (ja) * | 1983-03-25 | 1984-10-04 | 株式会社東芝 | 薄膜el素子 |
JPS61105834A (ja) * | 1984-10-29 | 1986-05-23 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 発光材料 |
-
1987
- 1987-10-14 JP JP62258792A patent/JPH0752670B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5956477A (ja) * | 1982-09-27 | 1984-03-31 | Toshiba Corp | 薄膜el素子およびその製造方法 |
JPS5956391A (ja) * | 1982-09-27 | 1984-03-31 | 株式会社東芝 | Elデイスプレイ装置 |
JPS59175592A (ja) * | 1983-03-25 | 1984-10-04 | 株式会社東芝 | 薄膜el素子 |
JPS61105834A (ja) * | 1984-10-29 | 1986-05-23 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 発光材料 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5949729A (en) * | 1996-07-24 | 1999-09-07 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Memory device with current limiting feature |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0752670B2 (ja) | 1995-06-05 |
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