JP7401030B1 - 層状ケイ酸塩の製造方法、及びシリカナノシートの製造等におけるその応用 - Google Patents
層状ケイ酸塩の製造方法、及びシリカナノシートの製造等におけるその応用 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7401030B1 JP7401030B1 JP2023539070A JP2023539070A JP7401030B1 JP 7401030 B1 JP7401030 B1 JP 7401030B1 JP 2023539070 A JP2023539070 A JP 2023539070A JP 2023539070 A JP2023539070 A JP 2023539070A JP 7401030 B1 JP7401030 B1 JP 7401030B1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- silicate
- cage
- sio
- layered silicate
- layered
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N Orthosilicate Chemical compound [O-][Si]([O-])([O-])[O-] BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 235
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 55
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 164
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 title claims description 81
- 239000002135 nanosheet Substances 0.000 title claims description 62
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 claims abstract description 87
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 80
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 claims abstract description 30
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 claims abstract description 22
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims abstract 2
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims abstract 2
- 125000001453 quaternary ammonium group Chemical group 0.000 claims description 38
- RMAQACBXLXPBSY-UHFFFAOYSA-N silicic acid Chemical class O[Si](O)(O)O RMAQACBXLXPBSY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 30
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 claims description 27
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims description 21
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 20
- 239000012736 aqueous medium Substances 0.000 claims description 18
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 claims description 17
- 229910052910 alkali metal silicate Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 238000002156 mixing Methods 0.000 claims description 8
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 47
- 150000004760 silicates Chemical class 0.000 abstract description 15
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract description 3
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 27
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 26
- -1 cation ions Chemical class 0.000 description 25
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 19
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 19
- 238000000634 powder X-ray diffraction Methods 0.000 description 19
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 18
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 17
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 15
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 14
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 14
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 description 11
- 230000008961 swelling Effects 0.000 description 11
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 10
- BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N propan-1-ol Chemical compound CCCO BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 9
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 8
- 239000003729 cation exchange resin Substances 0.000 description 8
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 8
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 8
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 8
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 8
- NTHWMYGWWRZVTN-UHFFFAOYSA-N sodium silicate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-][Si]([O-])=O NTHWMYGWWRZVTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 7
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 7
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 7
- 239000006228 supernatant Substances 0.000 description 7
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000005481 NMR spectroscopy Methods 0.000 description 6
- 239000004115 Sodium Silicate Substances 0.000 description 6
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 6
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 229910052911 sodium silicate Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 6
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 6
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 6
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 6
- 238000001291 vacuum drying Methods 0.000 description 6
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 5
- 238000005384 cross polarization magic-angle spinning Methods 0.000 description 5
- NWUYHJFMYQTDRP-UHFFFAOYSA-N 1,2-bis(ethenyl)benzene;1-ethenyl-2-ethylbenzene;styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1.CCC1=CC=CC=C1C=C.C=CC1=CC=CC=C1C=C NWUYHJFMYQTDRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N Tetraethyl orthosilicate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)OCC BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 description 4
- 238000000089 atomic force micrograph Methods 0.000 description 4
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 4
- 229940023913 cation exchange resins Drugs 0.000 description 4
- KVFVBPYVNUCWJX-UHFFFAOYSA-M ethyl(trimethyl)azanium;hydroxide Chemical compound [OH-].CC[N+](C)(C)C KVFVBPYVNUCWJX-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 description 4
- 239000000047 product Substances 0.000 description 4
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 4
- LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M Bisulfite Chemical compound OS([O-])=O LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WMFOQBRAJBCJND-UHFFFAOYSA-M Lithium hydroxide Chemical compound [Li+].[OH-] WMFOQBRAJBCJND-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 3
- 239000003463 adsorbent Substances 0.000 description 3
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 3
- 229920001429 chelating resin Polymers 0.000 description 3
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 3
- 239000012459 cleaning agent Substances 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 238000005469 granulation Methods 0.000 description 3
- 230000003179 granulation Effects 0.000 description 3
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- HTKPDYSCAPSXIR-UHFFFAOYSA-N octyltrimethylammonium ion Chemical compound CCCCCCCC[N+](C)(C)C HTKPDYSCAPSXIR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 235000019353 potassium silicate Nutrition 0.000 description 3
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 3
- 238000001694 spray drying Methods 0.000 description 3
- 238000000108 ultra-filtration Methods 0.000 description 3
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 3
- LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N N-Butanol Chemical compound CCCCO LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L Sodium Carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C([O-])=O CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 235000002597 Solanum melongena Nutrition 0.000 description 2
- 229910021536 Zeolite Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 2
- 239000003125 aqueous solvent Substances 0.000 description 2
- IJRVQAXSAHHCNH-UHFFFAOYSA-M butyl(trimethyl)azanium;hydroxide Chemical compound [OH-].CCCC[N+](C)(C)C IJRVQAXSAHHCNH-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
- 238000005119 centrifugation Methods 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 239000008119 colloidal silica Substances 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 239000003599 detergent Substances 0.000 description 2
- 238000011026 diafiltration Methods 0.000 description 2
- HNPSIPDUKPIQMN-UHFFFAOYSA-N dioxosilane;oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Si]=O.O=[Al]O[Al]=O HNPSIPDUKPIQMN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YOMFVLRTMZWACQ-UHFFFAOYSA-N ethyltrimethylammonium Chemical compound CC[N+](C)(C)C YOMFVLRTMZWACQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 2
- DRFAYKHQCXTCER-UHFFFAOYSA-M heptyl(trimethyl)azanium;hydroxide Chemical compound [OH-].CCCCCCC[N+](C)(C)C DRFAYKHQCXTCER-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- LYYFCMKDHSQLMB-UHFFFAOYSA-M hexyl(trimethyl)azanium;hydroxide Chemical compound [OH-].CCCCCC[N+](C)(C)C LYYFCMKDHSQLMB-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 238000005342 ion exchange Methods 0.000 description 2
- 239000002609 medium Substances 0.000 description 2
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 2
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 2
- 239000005871 repellent Substances 0.000 description 2
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 2
- WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M tetramethylammonium hydroxide Chemical compound [OH-].C[N+](C)(C)C WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- STYCVOUVPXOARC-UHFFFAOYSA-M trimethyl(octyl)azanium;hydroxide Chemical compound [OH-].CCCCCCCC[N+](C)(C)C STYCVOUVPXOARC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- ZMEFBTCKVCNTBG-UHFFFAOYSA-M trimethyl(pentyl)azanium;hydroxide Chemical compound [OH-].CCCCC[N+](C)(C)C ZMEFBTCKVCNTBG-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- OLNCQUXQEJCISO-UHFFFAOYSA-M trimethyl(propyl)azanium;hydroxide Chemical compound [OH-].CCC[N+](C)(C)C OLNCQUXQEJCISO-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 239000010457 zeolite Substances 0.000 description 2
- ASRSBXRMOCLKQC-UHFFFAOYSA-N 2-(4-chloro-2-methylphenoxy)-n-methoxyacetamide Chemical compound CONC(=O)COC1=CC=C(Cl)C=C1C ASRSBXRMOCLKQC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OTOMCGZQGBZDMC-UHFFFAOYSA-N 5-fluoro-2-methoxypyridine-4-carbaldehyde Chemical compound COC1=CC(C=O)=C(F)C=N1 OTOMCGZQGBZDMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L Carbonate Chemical compound [O-]C([O-])=O BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical group C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical group [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910017855 NH 4 F Inorganic materials 0.000 description 1
- LGRFSURHDFAFJT-UHFFFAOYSA-N Phthalic anhydride Natural products C1=CC=C2C(=O)OC(=O)C2=C1 LGRFSURHDFAFJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical group [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004111 Potassium silicate Substances 0.000 description 1
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 1
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 1
- OLBVUFHMDRJKTK-UHFFFAOYSA-N [N].[O] Chemical compound [N].[O] OLBVUFHMDRJKTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 229910001413 alkali metal ion Inorganic materials 0.000 description 1
- WNROFYMDJYEPJX-UHFFFAOYSA-K aluminium hydroxide Chemical compound [OH-].[OH-].[OH-].[Al+3] WNROFYMDJYEPJX-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000889 atomisation Methods 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- 150000003842 bromide salts Chemical class 0.000 description 1
- JHIWVOJDXOSYLW-UHFFFAOYSA-N butyl 2,2-difluorocyclopropane-1-carboxylate Chemical compound CCCCOC(=O)C1CC1(F)F JHIWVOJDXOSYLW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YGGIZRRNXQJOTI-UHFFFAOYSA-M butyl(trimethyl)azanium;bromide Chemical compound [Br-].CCCC[N+](C)(C)C YGGIZRRNXQJOTI-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- PRPYYONSDGAROU-UHFFFAOYSA-L butyl(trimethyl)azanium;carbonate Chemical compound [O-]C([O-])=O.CCCC[N+](C)(C)C.CCCC[N+](C)(C)C PRPYYONSDGAROU-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000001354 calcination Methods 0.000 description 1
- 150000004649 carbonic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 150000001732 carboxylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 239000002738 chelating agent Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 150000003841 chloride salts Chemical class 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 239000002537 cosmetic Substances 0.000 description 1
- 239000000490 cosmetic additive Substances 0.000 description 1
- 238000009295 crossflow filtration Methods 0.000 description 1
- 239000000645 desinfectant Substances 0.000 description 1
- JQDCIBMGKCMHQV-UHFFFAOYSA-M diethyl(dimethyl)azanium;hydroxide Chemical compound [OH-].CC[N+](C)(C)CC JQDCIBMGKCMHQV-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- OSSXLTCIVXOQNK-UHFFFAOYSA-M dimethyl(dipropyl)azanium;hydroxide Chemical compound [OH-].CCC[N+](C)(C)CCC OSSXLTCIVXOQNK-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- KPUWHANPEXNPJT-UHFFFAOYSA-N disiloxane Chemical class [SiH3]O[SiH3] KPUWHANPEXNPJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000921 elemental analysis Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- UMSGVWVBUHUHEH-UHFFFAOYSA-M ethyl(trimethyl)azanium;bromide Chemical compound [Br-].CC[N+](C)(C)C UMSGVWVBUHUHEH-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- GOALBGSIDOWJHL-UHFFFAOYSA-L ethyl(trimethyl)azanium;carbonate Chemical compound [O-]C([O-])=O.CC[N+](C)(C)C.CC[N+](C)(C)C GOALBGSIDOWJHL-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- UXYBXUYUKHUNOM-UHFFFAOYSA-M ethyl(trimethyl)azanium;chloride Chemical compound [Cl-].CC[N+](C)(C)C UXYBXUYUKHUNOM-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 238000007710 freezing Methods 0.000 description 1
- 230000008014 freezing Effects 0.000 description 1
- 238000004817 gas chromatography Methods 0.000 description 1
- 239000000499 gel Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- WNIOUYDRYSHYOA-UHFFFAOYSA-L heptyl(trimethyl)azanium carbonate Chemical compound C([O-])([O-])=O.C(CCCCCC)[N+](C)(C)C.C(CCCCCC)[N+](C)(C)C WNIOUYDRYSHYOA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- HCFQUUYOZKJEDC-UHFFFAOYSA-M heptyl(trimethyl)azanium;bromide Chemical compound [Br-].CCCCCCC[N+](C)(C)C HCFQUUYOZKJEDC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- QMGPXBPMUADRMC-UHFFFAOYSA-M heptyl(trimethyl)azanium;chloride Chemical compound [Cl-].CCCCCCC[N+](C)(C)C QMGPXBPMUADRMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- WJLUBOLDZCQZEV-UHFFFAOYSA-M hexadecyl(trimethyl)azanium;hydroxide Chemical compound [OH-].CCCCCCCCCCCCCCCC[N+](C)(C)C WJLUBOLDZCQZEV-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- JYVPKRHOTGQJSE-UHFFFAOYSA-M hexyl(trimethyl)azanium;bromide Chemical compound [Br-].CCCCCC[N+](C)(C)C JYVPKRHOTGQJSE-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- CBNSCSBVIKDLNY-UHFFFAOYSA-L hexyl(trimethyl)azanium;carbonate Chemical compound [O-]C([O-])=O.CCCCCC[N+](C)(C)C.CCCCCC[N+](C)(C)C CBNSCSBVIKDLNY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- FZCCKDYTOZQJJR-UHFFFAOYSA-M hexyl(trimethyl)azanium;chloride Chemical compound [Cl-].CCCCCC[N+](C)(C)C FZCCKDYTOZQJJR-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000000017 hydrogel Substances 0.000 description 1
- 230000007062 hydrolysis Effects 0.000 description 1
- 238000006460 hydrolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003301 hydrolyzing effect Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-M hydroxide Chemical compound [OH-] XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 150000004679 hydroxides Chemical class 0.000 description 1
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000011256 inorganic filler Substances 0.000 description 1
- 229910003475 inorganic filler Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009830 intercalation Methods 0.000 description 1
- 238000004255 ion exchange chromatography Methods 0.000 description 1
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- PAZHGORSDKKUPI-UHFFFAOYSA-N lithium metasilicate Chemical compound [Li+].[Li+].[O-][Si]([O-])=O PAZHGORSDKKUPI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052912 lithium silicate Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 239000013335 mesoporous material Substances 0.000 description 1
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012229 microporous material Substances 0.000 description 1
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XCOHAFVJQZPUKF-UHFFFAOYSA-M octyltrimethylammonium bromide Chemical compound [Br-].CCCCCCCC[N+](C)(C)C XCOHAFVJQZPUKF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 description 1
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 1
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011591 potassium Chemical group 0.000 description 1
- 229910052913 potassium silicate Inorganic materials 0.000 description 1
- NNHHDJVEYQHLHG-UHFFFAOYSA-N potassium silicate Chemical compound [K+].[K+].[O-][Si]([O-])=O NNHHDJVEYQHLHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000746 purification Methods 0.000 description 1
- 238000011002 quantification Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000005372 silanol group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000029 sodium carbonate Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001415 sodium ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 238000000967 suction filtration Methods 0.000 description 1
- 230000002522 swelling effect Effects 0.000 description 1
- SSEGNMJSEROZIF-UHFFFAOYSA-M trimethyl(nonyl)azanium;bromide Chemical compound [Br-].CCCCCCCCC[N+](C)(C)C SSEGNMJSEROZIF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- WPMCDVVXDDCJCT-UHFFFAOYSA-L trimethyl(nonyl)azanium;carbonate Chemical compound [O-]C([O-])=O.CCCCCCCCC[N+](C)(C)C.CCCCCCCCC[N+](C)(C)C WPMCDVVXDDCJCT-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- QUQLLFLTYCLVFS-UHFFFAOYSA-M trimethyl(nonyl)azanium;chloride Chemical compound [Cl-].CCCCCCCCC[N+](C)(C)C QUQLLFLTYCLVFS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- CQWSTAYSWPCOSI-UHFFFAOYSA-M trimethyl(nonyl)azanium;hydroxide Chemical compound [OH-].CCCCCCCCC[N+](C)(C)C CQWSTAYSWPCOSI-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- AQZSPJRLCJSOED-UHFFFAOYSA-M trimethyl(octyl)azanium;chloride Chemical compound [Cl-].CCCCCCCC[N+](C)(C)C AQZSPJRLCJSOED-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- DFEBZUPHJOVJKO-UHFFFAOYSA-M trimethyl(pentyl)azanium;bromide Chemical compound [Br-].CCCCC[N+](C)(C)C DFEBZUPHJOVJKO-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- XLCUKGVWQHJDNL-UHFFFAOYSA-L trimethyl(pentyl)azanium;carbonate Chemical compound [O-]C([O-])=O.CCCCC[N+](C)(C)C.CCCCC[N+](C)(C)C XLCUKGVWQHJDNL-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- GOVIUHPOWVHXMZ-UHFFFAOYSA-M trimethyl(pentyl)azanium;chloride Chemical compound [Cl-].CCCCC[N+](C)(C)C GOVIUHPOWVHXMZ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- FCGQIZKUTMUWDC-UHFFFAOYSA-M trimethyl(propyl)azanium;bromide Chemical compound [Br-].CCC[N+](C)(C)C FCGQIZKUTMUWDC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- VBDRMYTXBBNSTN-UHFFFAOYSA-L trimethyl(propyl)azanium;carbonate Chemical compound [O-]C([O-])=O.CCC[N+](C)(C)C.CCC[N+](C)(C)C VBDRMYTXBBNSTN-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- NRWCNEBHECBWRJ-UHFFFAOYSA-M trimethyl(propyl)azanium;chloride Chemical compound [Cl-].CCC[N+](C)(C)C NRWCNEBHECBWRJ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000012690 zeolite precursor Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B33/00—Silicon; Compounds thereof
- C01B33/113—Silicon oxides; Hydrates thereof
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B39/00—Compounds having molecular sieve and base-exchange properties, e.g. crystalline zeolites; Their preparation; After-treatment, e.g. ion-exchange or dealumination
- C01B39/02—Crystalline aluminosilicate zeolites; Isomorphous compounds thereof; Direct preparation thereof; Preparation thereof starting from a reaction mixture containing a crystalline zeolite of another type, or from preformed reactants; After-treatment thereof
- C01B39/04—Crystalline aluminosilicate zeolites; Isomorphous compounds thereof; Direct preparation thereof; Preparation thereof starting from a reaction mixture containing a crystalline zeolite of another type, or from preformed reactants; After-treatment thereof using at least one organic template directing agent, e.g. an ionic quaternary ammonium compound or an aminated compound
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B33/00—Silicon; Compounds thereof
- C01B33/20—Silicates
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B33/00—Silicon; Compounds thereof
- C01B33/113—Silicon oxides; Hydrates thereof
- C01B33/12—Silica; Hydrates thereof, e.g. lepidoic silicic acid
- C01B33/18—Preparation of finely divided silica neither in sol nor in gel form; After-treatment thereof
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B33/00—Silicon; Compounds thereof
- C01B33/20—Silicates
- C01B33/36—Silicates having base-exchange properties but not having molecular sieve properties
- C01B33/38—Layered base-exchange silicates, e.g. clays, micas or alkali metal silicates of kenyaite or magadiite type
- C01B33/44—Products obtained from layered base-exchange silicates by ion-exchange with organic compounds such as ammonium, phosphonium or sulfonium compounds or by intercalation of organic compounds, e.g. organoclay material
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B37/00—Compounds having molecular sieve properties but not having base-exchange properties
- C01B37/005—Silicates, i.e. so-called metallosilicalites or metallozeosilites
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B37/00—Compounds having molecular sieve properties but not having base-exchange properties
- C01B37/02—Crystalline silica-polymorphs, e.g. silicalites dealuminated aluminosilicate zeolites
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B39/00—Compounds having molecular sieve and base-exchange properties, e.g. crystalline zeolites; Their preparation; After-treatment, e.g. ion-exchange or dealumination
- C01B39/02—Crystalline aluminosilicate zeolites; Isomorphous compounds thereof; Direct preparation thereof; Preparation thereof starting from a reaction mixture containing a crystalline zeolite of another type, or from preformed reactants; After-treatment thereof
- C01B39/026—After-treatment
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B39/00—Compounds having molecular sieve and base-exchange properties, e.g. crystalline zeolites; Their preparation; After-treatment, e.g. ion-exchange or dealumination
- C01B39/50—Zeolites wherein inorganic bases or salts occlude channels in the lattice framework, e.g. sodalite, cancrinite, nosean, hauynite
- C01B39/52—Sodalites
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y40/00—Manufacture or treatment of nanostructures
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01P—INDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
- C01P2004/00—Particle morphology
- C01P2004/20—Particle morphology extending in two dimensions, e.g. plate-like
- C01P2004/24—Nanoplates, i.e. plate-like particles with a thickness from 1-100 nanometer
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Geology (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Silicates, Zeolites, And Molecular Sieves (AREA)
Abstract
Description
例えば特許文献1には、熱分解シリカとジメチルジプロピルアンモニウムヒドロキシドとを混合し、そこにケイ酸塩の種晶となるゼオライトを添加し、オートクレーブ容器において150℃で84~252時間保持することで、RUB-39構造の層状ケイ酸塩を得る方法が開示されている。
また、特許文献2には、NH4F水溶液をテトラエトキシシランのエタノール溶液に滴下し、500℃で5日間加熱することで含水ゲルを合成し、これをジエチルジメチルアンモニウムヒドロキシド溶液に添加してオートクレーブ容器において140℃で48時間保持することでRUB-56構造の層状ケイ酸塩を得る方法が開示されている。
更に、例えば非特許文献1には、テトラエトキシシランとテトラメチルアンモニウムヒドロキシドとを混合し、得られた結晶をオートクレーブ容器において150℃で7日間保持することによりRUB-15構造の層状ケイ酸塩を得る方法が開示されている。
また、非特許文献2には、エチルトリメチルアンモニウムヒドロキシドに水酸化アルミニウムを溶解し、1,4-ビスメチルピロリジニウムブタンジブロミドとコロイダルシリカを添加し、さらに水酸化リチウムを添加して100℃で5~7か月間保持することでULS-1構造の層状ケイ酸塩を得る方法が開示されている。
また、Si源にコロイダルシリカを用いた場合も層状ケイ酸塩を合成するために長時間を要していた。
本発明は、上記従来技術の制約や問題点に鑑みてなされたものであり、簡便に短時間で層状ケイ酸塩を製造できる方法を提供することを課題とする。
すなわち、本発明は、
[1]
下記(a)、及び(b)工程を含む層状ケイ酸塩の製造方法である。
(a)下記式(1)で表わされるアニオン成分と下記式(2)で表わされるカチオン成分を含み、且つ、該アニオン成分のSiO2換算のモル数に対する水のモル数の比(H2O/SiO2)が0.7~30である、かご型ケイ酸塩を提供する工程
(b)前記(a)工程により得られたかご型ケイ酸塩をオートクレーブ処理する工程
[2]
前記(a)工程において提供されるかご型ケイ酸塩中の、前記アニオン成分のSiO2換算のモル数に対する水のモル数の比(H2O/SiO2)が1.5~15.0である、[1]に記載の層状ケイ酸塩の製造方法。
[3]
前記(a)工程において、前記かご型ケイ酸塩を真空下又は減圧下にて20℃以上80℃未満の温度で30分以上10時間以下保持し、水分を除去する、[1]又は[2]に記載の層状ケイ酸塩の製造方法。
[4]
前記(a)工程において提供されるかご型ケイ酸塩中の、前記アニオン成分のSiO2換算のモル数に対する、式(2)で表わされるカチオン成分の第4級アンモニウム換算のモル数の比(第4級アンモニウム/SiO2)が0.7~1.5である、[1]乃至[3]のいずれか一項に記載の層状ケイ酸塩の製造方法。
[5]
前記(b)工程におけるオートクレーブ処理が、耐圧容器内で80℃以上300℃未満の温度で行われる、[1]乃至[4]のいずれか1項に記載の層状ケイ酸塩の製造方法。
[6]
前記(a)工程の前に、下記(c)工程を含む[1]乃至[5]のいずれか一項に記載の層状ケイ酸塩の製造方法:
(c)活性ケイ酸と第4級アンモニウムとを混合し、混合溶液からかご型ケイ酸塩を晶析させる工程。
[7]
前記活性ケイ酸が、無水ケイ酸アルカリを溶解して得られたケイ酸アルカリ溶液から陽イオンを除去することにより得られたものである[6]に記載の層状ケイ酸塩の製造方法。
[8]
[1]乃至[7]のいずれか一項に記載の製造方法で得られた層状ケイ酸塩と水性媒体とを接触させる工程を含む、シリカナノシートの製造方法。
[9]
水性媒体100質量部に対して層状ケイ酸を0.1質量部~15質量部の割合で接触させる[8]に記載のシリカナノシートの製造方法。
[10]
前記水性媒体が、水、有機溶媒又はこれら混合物である[8]又は[9]に記載のシリカナノシートの製造方法。
[11]
[1]乃至[7]のいずれか一項に記載の製造方法で得られた層状ケイ酸と水性媒体とを接触させる工程を含む、シリカナノシート分散液の製造方法。
また、本発明の一形態の製造方法により得られた層状ケイ酸塩は、水性媒体と接触することでシリカナノシートを得ることができるので、触媒や吸着材等の、層状ケイ酸塩としての各種用途に加えて、シリカナノシートの原料等の用途においても、高い技術的価値を有する。
(a)下記式(1)で表わされるアニオン成分と下記式(2)で表わされるカチオン成分を含み、且つ、該アニオン成分のSiO2換算のモル数に対する水のモル数の比(H2O/SiO2)が0.7~30である、かご型ケイ酸塩を提供する工程
(b)前記(a)工程により得られたかご型ケイ酸塩をオートクレーブ処理する工程
上記(a)工程及び(b)工程以外の工程は、上記(a)工程及び(b)工程の前に行われるものであってもよいし、上記(a)工程及び(b)工程の後に行われるものであってもよいし、上記(a)工程と(b)工程との間に行われるものであってもよい。例えば、上述の(c)活性ケイ酸と第4級アンモニウムとを混合し、混合溶液からかご型ケイ酸塩を晶析させる工程は、上記(a)工程及び(b)工程の前に行われる。
前記(a)工程で提供されるかご型ケイ酸塩は、下記式(1)で表わされるアニオン成分と、下記(2)で表わされるカチオン成分を含み、且つ、該アニオン成分のSiO2換算のモル数に対する水のモル数の比(H2O/SiO2)が0.7~30である、かご型ケイ酸塩である。
前記式(2)で表わされるカチオン成分は第4級アンモニウムイオンであり、例えば、エチルトリメチルアンモニウムイオン、プロピルトリメチルアンモニウムイオン、ブチルトリメチルアンモニウムイオン、ペンチルトリメチルアンモニウムイオン、へキシルトリメチルアンモニウムイオン、ヘプチルトリメチルアンモニウムイオン、オクチルトリメチルアンモニウムイオン、ノニルトリメチルアンモニウムイオン等が挙げられる。特に、エチルトリメチルアンモニウムイオン、プロピルトリメチルアンモニウムイオン、ブチルトリメチルアンモニウムイオン、ペンチルトリメチルアンモニウムイオン、へキシルトリメチルアンモニウムイオン、ヘプチルトリメチルアンモニウムイオン、及びオクチルトリメチルアンモニウムイオンが好ましい。
また、ケイ酸塩化合物がかご型であることの同定は、固体29Si-NMR測定により行うことができる。具体的には、固体29Si-NMR測定にてCross Polarization Magic Angle Spinning(CP-MAS)法によりSiの結合状態を評価することで構造を同定することができる。かご型ケイ酸塩を構成するSi原子は、上記式(1)及び下記式(3)に示すように、一つのOH基、及び3つのO原子と結合しているQ3構造を取っている。CP-MAS法による固体29Si-NMR測定では、Q3構造を示すピークが-92ppm~-100ppm付近に現れることから、得られるピークが全て-92ppm~-100ppm付近のQ3構造に由来するものであれば、生成物はかご型構造を有していると同定することができる。
前記水分(質量)は、前記かご型ケイ酸塩に含まれる第4級アンモニウム量、及び二酸化ケイ素量、を定量し、かご型ケイ酸塩の質量からそれぞれの質量を差し引いたものを水の質量とすることで算出でき、これから水のモル数を計算する。
前記第4級アンモニウム量は、元素分析装置を用いて窒素量を定量し、その定量値に基づき第4級アンモニウム量に換算することで求めることができる。
前記二酸化ケイ素量は、焼成法により求めることができる。
より具体的には例えば本願実施例に記載の方法により測定することができる。
(a)工程において提供されるかご型ケイ酸塩の(H2O/SiO2)比が0.7~30であることにより、後述の(b)工程の寄与も併せて、簡便に短時間で層状ケイ酸塩を製造することができ、コスト削減できる等の、顕著な技術的効果を実現することができる。
(a)工程において提供されるかご型ケイ酸塩の(H2O/SiO2)比は、1.5から15.0であることが好ましく、1.5から12.0であることが特に好ましい。
かご型ケイ酸塩は公知の方法により合成することができる。例えば、テトラエトキシシランを第4級アンモニウム存在下で加水分解することで合成することができる。また後述の様に、(c)活性ケイ酸と第4級アンモニウムとを混合し、混合溶液からかご型ケイ酸塩を晶析させる工程により、かご型ケイ酸塩を合成してもよい。
かご型ケイ酸塩の水分量を調整する方法にも特に制限は無いが、例えば合成、入手等したかご型ケイ酸塩から水分を除去することで、かご型ケイ酸塩の水分量を調整することができる。
保持時間は、30分以上10時間以下で行なうことができる。特に、1時間以上6時間以下が好ましい。30分以上の乾燥で適切に水分を除去することができるので、30分以上の保持時間が好ましい。10時間を越えて保持することもできるが、水分量が一定となりそれ以上保持した際の除去効果が低くなるので、10時間以下の保持時間が効率的である。
(第4級アンモニウム/SiO2)比が、0.7~1.5であるかご型ケイ酸塩は、製造が比較的容易であり、特に後述のアルコールの生成を抑制できる製造方を適用する際に有利である等の点で、好ましい。また、層状ケイ酸塩の製造にあたって層状形状が成長し易くなるので、この点からも(第4級アンモニウム/SiO2)比が、0.7~1.5であることが好ましい。
第4級アンモニウム量の測定方法としては、公知の方法を用いることができ、例えば、ガスクロマトグラフ法、イオンクロマトグラフ法、元素分析法などが挙げられる。より具体的には、例えば本願実施例に記載の方法によって測定することができる。
SiO2濃度の測定方法は、(H2O/SiO2)比の測定方法に関連して上記にて説明したとおりである。
かご型ケイ酸塩中の該アニオン成分のSiO2換算のモル数に対する第4級アンモニウム換算の式(2)で表わされるカチオン成分のモル数の比(第4級アンモニウム/SiO2)は、上述の様に0.7~1.5であることが好ましいが、特に0.8~1.3のものを用いることが好ましい。
特に、かご型ケイ酸塩中の該アニオン成分のSiO2換算のモル数に対する水のモル数の比(H2O/SiO2)が3.6以上7.0未満になるように水分を除去等することで、(b)工程を経てULS-1構造を有する層状ケイ酸塩を得ることができる。ULS-1構造を有する層状ケイ酸塩を得る観点からは、(H2O/SiO2)比は、3.6以上5.0未満であることが特に好ましい。
また、かご型ケイ酸塩中の該アニオン成分のSiO2換算のモル数に対する水のモル数の比(H2O/SiO2)が1.5以上3.6未満もしくは5.0以上12.0未満になるように水分を除去等することで新規な結晶構造を有する層状ケイ酸塩を得ることができる。新規な結晶構造を有する層状ケイ酸塩を得る観点からは、(H2O/SiO2)比は、3.0以上3.6未満、もしくは8.5以上11.0未満であることが特に好ましい。
モル比(H2O/SiO2)が1.5以上3.6未満、もしくは5.0以上12.0未満であるときに得られる新規な結晶構造の層状ケイ酸塩(以下、「層状ケイ酸塩A」ともいう。)は、2θ=6.0°、7.7°、及び/又は8.7°、並びに18.0°付近に主たる回折ピークを有する粉末X線回折パターン(CuKα線)により特徴づけられ、より典型的には、図2(a)、(b)及び(f)に表す粉末X線回折パターンを示す。
ここで、2θ=7.7°付近の回折ピーク、及び8.7°付近の回折ピークは、両方が観測される場合もそのいずれか一方のみが観測される場合もある。したがって、層状ケイ酸塩Aは、2θ=6.0°、7.7°、8.7°、及び18.0°付近に主たる回折ピークを有する粉末X線回折パターン(例えば図2(a)及び(b)に表す粉末X線回折パターン)、2θ=6.0°、7.7°、及び18.0°付近に主たる回折ピークを有する粉末X線回折パターン、又は2θ=6.0°、8.7°、及び18.0°付近に主たる回折ピークを有する粉末X線回折パターン(例えば図2(f)に表す粉末X線回折パターン)のいずれかによって特徴づけられる。
層状ケイ酸塩AのX線回折パターン(CuKα線)は、より一般的には下表記載の回折パターンによって特徴づけられる。
本発明の製造方法を構成する(b)工程においては、前記(a)工程により得られたかご型ケイ酸塩をオートクレーブ処理する。
前記(a)工程で得られたかご型ケイ酸塩をオートクレーブ処理する工程は、耐圧容器内の加圧加熱処理であればよく、その具体的な条件や操作に特に制限は無いが、例えば耐圧容器に該かご型ケイ酸塩を充填し、80℃以上300℃未満の温度で行なうことができる。また例えば、テフロン(登録商標)製のオートクレーブ容器にて、所定の温度で保持することができる。
一定の温度で保持してもよく、2段階、あるいは3段階で温度を変更して保持してもよい。本(b)工程を行うことにより、かご型ケイ酸塩を層状化合物へ成長させることができる。
前記層状ケイ酸塩の粒子形状は、通常薄片状(層状、平板状、板状、円盤状と呼ぶこともある)であり、走査型電子顕微鏡により観察することで、確認することができる。走査型電子顕微鏡での観察において、該層状ケイ酸塩は、単独の薄片状粒子として、及び/又は複数の薄片状粒子が集合した集合体として確認することできる。集合体の形状としては、例えば、花弁状として観察することができる。
また、前記層状ケイ酸塩の粒子径は、平均長径、及び最大長径に直行する幅を走査型電子顕微鏡又は透過型電子顕微鏡により観察することで、確認することができる。平均長径は通常100nm~10μmであり、最大長径に直行する幅は通常平均50nm~10μmである。また、前記層状ケイ酸塩の厚さは原子間力顕微鏡で測定することができる。平均厚さは通常3nm~5μmである。
層状構造であれば、粉末XRD測定により得られる回折パターンにおいて、底面間隔に由来するピークが2θ=6°付近に現れるので、この場合に層状構造であると確認することができる。
以上の様に、本発明において層状ケイ酸塩が形成されていることは、SEM又はTEMにて形状や粒子径を観察すること、粉末XRD測定により上記の回折パターンを有していることを確認すること、又はその結晶構造が上述のものであることを確認すること、により確認することができる。
同じく上述の様に、(a)工程で提供されるかご型ケイ酸塩中の該アニオン成分のSiO2換算のモル数に対する水のモル数の比(H2O/SiO2)を1.5以上3.6未満もしくは5.0以上12.0未満とすることで、水性媒体と接触させるだけで、後述するナノシートを生成可能な層状ケイ酸塩(層状ケイ酸塩A)を得ることができる。より収率を上げて得るためには8.5以上12.0未満が好ましい。
一実施形態によれば、層状ケイ酸塩は、オートクレーブから回収した層状ケイ酸塩を含む懸濁液から少なくとも1工程で好適な方法により分離される。この分離は、例えば、ろ過、限外ろ過、ダイアフィルトレーション又は遠心分離法、又は、例えば噴霧乾燥及び噴霧造粒法によって達成することができる。噴霧乾燥又はろ過による分離が好ましい。オートクレーブから回収した懸濁液それ自体、該懸濁液を濃縮することにより得られた懸濁液を、例えば、噴霧法による分離にかけることができる。濃縮は、例えば、蒸発、例えば減圧下での蒸発、又はクロスフローろ過により実現することができる。同様に、オートクレーブから回収した懸濁液を2つの画分に分離し、2つの画分の1つに含まれる固体を、ろ過、限外ろ過、ダイアフィルトレーション、又は遠心分離法により分離し、任意の洗浄工程及び/又は乾燥工程の後に、懸濁液の他の画分において懸濁することによって濃縮することができる。分離及び乾燥法としての噴霧乾燥又は噴霧造粒乾燥、例えば、流動床噴霧造粒乾燥によって得られた噴霧材料は、固体及び/又は中空球を含むことができ、それぞれ実質的に球からなり得、例えば、5~500μm、又は5~300μmの範囲の直径を有する。スプレーノズルとしての噴霧の間、単一成分又は複数成分のノズルを用いることができる。ロータリーアトマイザーの使用も考えられる。用いたキャリアーガスの可能な吸気口の温度は、例えば、200~600℃の範囲、好ましくは225~550℃の範囲、更に好ましくは300~500℃の範囲である。キャリアーガスの排気口の温度は、例えば50~200℃の範囲である。キャリアーガスとして、空気、薄い空気、又は酸素含有量が10容量%以下、好ましくは5容量%以下、更に好ましくは5容量%未満、例えば2容量%以下の酸素-窒素混合ガスが挙げられる。噴霧法は、向流又は並流において実施することができる。
ここで、乾燥温度は、好ましくは室温から150℃の範囲であり、更に好ましくは60~140℃、更に好ましくは80~130℃、更に好ましくは100~120℃の範囲である。
乾燥の時間は好ましくは、6~48時間、更に好ましくは、12~36時間の範囲である。
用いられる洗浄剤には特に制限はなく、層状ケイ酸塩の膨潤性を考慮して選択することができる。例えば、水、アルコール、ケトン例えば、メタノール、エタノール、1-プロパノール、2-プロパノール又はアセトン、又はそれらの2種以上の混合物であってもよい。例えば、2種以上のアルコール、例えばメタノール及びエタノール、又はメタノール及びプロパノール、又はエタノール及びプロパノール、又はメタノール及びエタノール及びプロパノール、又は水と、少なくとも1種のアルコールとの混合物、例えば、水及びメタノール、又は水及びエタノール、又は水及びプロパノール、又は水及びメタノール及びエタノール、又は水及びメタノール及びプロパノール、又は水及びエタノール及びプロパノール、又は水及びメタノール及びエタノール及びプロパノールが混合物として挙げられる。
層状ケイ酸塩A等の膨潤性のある層状ケイ酸塩の場合は、水で洗浄するとナノシートが生成する場合が有るので、アセトン等を用いることが好ましい。
ULS-1等の膨潤性のない層状ケイ酸塩の場合は水、アセトンをはじめとする各種洗浄剤をいずれも好ましく使用することができる。
更に、本発明の製造方法により得られた層状ケイ酸塩は、シリカナノシートの原料としても好適である。本発明の製造方法の中でも、(a)工程おいて、SiO2換算の該アニオン成分のモル数に対する水のモル数の比(H2O/SiO2)が1.5以上3.6未満、若しくは5.0以上12.0未満であるかご型ケイ酸塩が提供される実施形態の製造方法により得られた層状ケイ酸塩は、シリカナノシートの原料として特に好適に使用することができる。
さらに、本発明の一実施形態で得られる上記の新規な層状ケイ酸塩は高い膨潤力を有する。
膨潤力(mL/g)は、透明で円筒状のガラス容器に所定量の層状ケイ酸塩の粉末、純水を添加し、室温にて24時間放置し、放置後に粉末が膨潤した見かけの体積を、仕込みの粉末の質量で割ることで評価することができる。膨潤力が10mL/g以上、特に20mL/g以上であれば高い膨潤力を有するものと評価できる。
上記の新規な層状ケイ酸塩は、通常20mL/g以上の膨潤力を有する。膨潤力が20mL/g以上であることにより、新規な層状ケイ酸塩は水のみで膨潤、剥離することが可能であり、後述のシリカナノシートの形成が容易である等の技術的効果を有する。
また、本発明の製造方法は前記(a)工程の前に、(c)活性ケイ酸と第4級アンモニウムとを混合して混合溶液からかご型ケイ酸塩を晶析させる工程を含むことが好ましい。(c)工程により得たかご型ケイ酸塩を使用することで、(a)工程及び(b)工程を経て一層効率的に(短時間で)層状ケイ酸塩を製造することができる。
活性ケイ酸 は、ケイ酸イオン及び/又はケイ酸イオンモノマーを含有し、好ましくは主成分とするものである。テトラエトキシシランなどの加水分解性シラン化合物の加水分解により得られたもの、あるいは無水ケイ酸アルカリを溶解して得られたケイ酸アルカリ溶液の陽イオンの除去により得られたものも、本実施形態における活性ケイ酸に含まれる。
中でも、無水ケイ酸アルカリを溶解して得られたケイ酸アルカリ溶液の陽イオンを除去することにより得られた活性ケイ酸を使用することが、(c)工程におけるかご型ケイ酸塩の製造効率の向上やコストの改善を通じて、(c)工程から(a)工程を経て(b)工程に至る、層状ケイ酸塩の製造の全工程にわたる製造効率等を向上することができるので、特に好ましい。
ケイ酸アルカリ溶液は市販品を用いることができ、例えば、株式会社トクヤマ、愛知珪曹工業株式会社、オリエンタルシリカコーポレーションなどより入手することができる。
また、通液時のケイ酸アルカリ溶液のSiO2濃度は0.5質量%~15質量%で行なうことができ、特に1質量%~10質量%で行なうことが好ましい。
また、エチルトリメチルアンモニウムカーボネート、プロピルトリメチルアンモニウムカーボネート、ブチルトリメチルアンモニウムカーボネート、ペンチルトリメチルアンモニウムカーボネート、へキシルトリメチルアンモニウムカーボネート、ヘプチルトリメチルアンモニウムカーボネート、オクチルトリメチルアンモニウムカーボネート、ノニルトリメチルアンモニウムカーボネート、などの炭酸塩が挙げられる。
また、エチルトリメチルアンモニウムクロリド、プロピルトリメチルアンモニウムクロリド、ブチルトリメチルアンモニウムクロリド、ペンチルトリメチルアンモニウムクロリド、へキシルトリメチルアンモニウムクロリド、ヘプチルトリメチルアンモニウムクロリド、オクチルトリメチルアンモニウムクロリド、ノニルトリメチルアンモニウムクロリドなどの塩化物が挙げられる。
また、エチルトリメチルアンモニウムブロミド、プロピルトリメチルアンモニウムブロミド、ブチルトリメチルアンモニウムブロミド、ペンチルトリメチルアンモニウムブロミド、へキシルトリメチルアンモニウムブロミド、ヘプチルトリメチルアンモニウムブロミド、オクチルトリメチルアンモニウムブロミド、ノニルトリメチルアンモニウムブロミドなどの臭化物が挙げられる。
特に、エチルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、プロピルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、ブチルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、ペンチルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、へキシルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、ヘプチルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、オクチルトリメチルアンモニウムヒドロキシドが好ましい。
また、本発明の一実施形態では、前記(a)工程おいて、(水分の除去等により、)前記かご型ケイ酸塩中のSiO2換算の該アニオン成分のモル数に対する水のモル数の比(H2O/SiO2)を1.5以上3.6未満、若しくは5.0以上12.0未満とし、前記(b)工程においてオートクレーブ処理することで得られた層状ケイ酸塩と水性媒体とを接触させる工程を含むシリカナノシートの製造方法が提供される。
シリカナノシート とは、SiO2のみからなる単層の薄片状(層状、平板状、板状、円盤状と呼ぶこともある)の粒子のことであり、最大径が0.1μm~5μm、厚さが1nm~50nm、1nm~10nm、又は1nm~3nmのサイズを有する。該シリカナノシートの最大径の長さは透過型電子顕微鏡、あるいは走査型電子顕微鏡で観察し測定することができる。該シリカナノシートの厚さは原子間力顕微鏡で測定することができる。
従来技術によるシリカナノシートの製造においては一般的には剥離剤を必要とするが、本実施形態においては上記の特定の層状ケイ酸塩を用いることにより、このような剥離剤を要せず、シリカナノシートを得ることができる。
上記の特定の層状ケイ酸塩を用いることにより、剥離剤を要さずに、水性媒体と層状ケイ酸塩とを接触させるだけでシリカナノシートを得ることができるメカニズムは必ずしも明らかではないが、上記特定の層状ケイ酸塩((a)工程において提供されるかご型ケイ酸塩中のSiO2換算の該アニオン成分のモル数に対する水のモル数の比(H2O/SiO2)が1.5以上3.6未満、若しくは5.0以上12.0未満である製造方法によって製造された層状ケイ酸塩)が、上述の様に高い膨潤力を示す新規な結晶構造を有する層状ケイ酸塩であるところ、この高い膨潤力がシリカ層の間の剥離を生じ易くし得ることと何らかの関係が有ることが推定される。
上記接触工程は、例えば、容器に所定量の水性媒体、及び層状ケイ酸塩を添加し、室温にて保持することで行うことができる。シリカナノシート生成の効率化を目的に、水性媒体の沸点以下の範囲で加熱してもよく、撹拌や、超音波等によるキャビテーション効果を利用してもよい。
水性媒体にも特に制限は無いが、水、有機溶媒又はこれらの混合物を好ましく用いることができる。有機溶媒としては、親水性有機溶媒が挙げられ、メタノール、エタノール、イソプロパノール、ブタノール等の低級アルコールを特に好ましく用いることができる。
(1)活性ケイ酸、及びかご型ケイ酸塩のSiO2濃度の定量
活性ケイ酸、及びかご型ケイ酸塩を1000℃で焼成し、得られた焼成残分の質量からSiO2濃度を算出した。
(2)かご型ケイ酸塩の構造の同定(CP-MAS法)
得られたケイ酸塩の粉末を、固体29Si-NMR装置AVANCE3500(Bruker製)にて、CP-MAS法にて測定した。かご型ケイ酸塩の同定は、Q3構造のSiに由来するシグナルが-92ppm~-100ppm付近のみに現れることを確認することにより行った。
(3)かご型ケイ酸塩の水分量の測定
得られたかご型ケイ酸塩に含まれる第4級アンモニウム量、及び二酸化ケイ素量(上記(1)のSiO2濃度)を定量し、かご型ケイ酸塩の質量からそれらを差し引いたものをかご型ケイ酸塩の水分量とした。
この水分量と、上記(1)で測定したかご型ケイ酸塩のSiO2濃度から、かご型ケイ酸塩中の該アニオン成分のSiO2換算のモル数に対する水のモル数の比(H2O/SiO2)を算出した。
(4)かご型ケイ酸塩の第4級アンモニウム量の測定
得られたかご型ケイ酸塩の粉末を、元素分析装置Perkin Elmer 2400 Series2 CHNS/O Analyzer((株式会社パーキンエルマージャパン社製)にて窒素量を定量し、その窒素量をもとに第4級アンモニウム量に換算した。
(5)層状ケイ酸塩の観察
走査型電子顕微鏡S-4300(株式会社日立ハイテク製)を用いて観察した。
(6)層状ケイ酸塩の層状構造の有無の確認、及び結晶構造の測定
粉末X線回折装置PINT-Ultima(株式会社リガク製)を用いてX線回折パターン(CuKα線)を測定し、これから結晶構造を同定した。また、2θ=6°付近にピークが認められる場合に層状構造を有するものと判断した。
(7)シリカナノシートの観察
透過型電子顕微鏡 JEM-1400Flash(日本電子株式会社製)を用いて観察した。シート状の粒子が認められたとき、シリカナノシートが生成していると判断した。
(8)シリカナノシートの厚さの測定
原子間力顕微鏡(AFM) Cypher VRS(Asylum research社製)を用いて観察した。プローブにはRTESPA-150を用いた。1cm角のSiウェハ(GlobalWafers Co., Ltd.社製)をJEOL製iON CLEANER(JIC-410)を用いて、グロー放電を3分間施すことにより親水化処理した。純水10mlに層状ケイ酸塩粉末を10mg添加して部分膨潤分散させ、12時間静置し、上澄みをAFM測定用シリカナノシート分散液とした。このシリカナノシートの分散液をSiウェハに滴下した後、ホットプレートで100℃にて乾燥後、マウンティングワックス(日本電子株式会社製、無水フタル酸:60~90質量%、エチレングリコール:10~40質量%)で台座に固定した。AFMにてばね定数は約6N/m、共振周波数は約120kHz、走査速度は1.5HzとしてSiウェハ上に塗布したシリカナノシートの厚さを観察した。
4号水ガラス(日本化学工業株式会社製、SiO2:Na2O:H2Oモル比は3.9:1:39.0、SiO2濃度は23.44質量%、Na2O濃度は6.3質量%)450.00gを3.6%に純水で希釈し、陽イオン交換樹脂(オルガノ株式会社製、アンバーライト120B)にて陽イオン交換することで活性ケイ酸3004.95g(SiO2収率:98%)を得た。得られた活性ケイ酸(SiO2濃度:3.4%)1764.71g(1.01mol)及びエチルトリメチルアンモニウムヒドロキシド(セイケムジャパン合同会社製、濃度:20wt%)水溶液525.00g(1.00mol)を3Lナスフラスコに加え、室温で24hrプロペラ翼にて撹拌した。混合溶液をエバポレーターで全体質量の20%まで減圧濃縮した後、5℃で12hr静置することで、結晶を析出させた。結晶を含む混合溶液を、定量ろ紙5B(ADVANTEC製)を用いて吸引ろ過し、固液分離することで、かご型ケイ酸塩297.4g(SiO2濃度:16.20wt%、SiO2:ETMA+:H2Oモル比は1.0:0.9 :12.8)を回収した。また、生成物がかご型ケイ酸塩であることを固体29Si-NMR装置を用いたCP-MS法により確認した。
合成例1と同様の手順で得られた活性ケイ酸(SiO2濃度:3.4%)88.2g(0.05mol)及びセチルトリメチルアンモニウムヒドロキシド(東京化成工業株式会社製、濃度:10wt%)水溶液150.8g(0.05mol)を3Lナスフラスコに加え、室温で24hrプロペラ翼にて攪拌した。5℃で12hr静置することで、結晶を析出させた。結晶を含む混合溶液を、定量ろ紙5Bを用いて吸引ろ過し、固液分離することで、かご型ケイ酸塩14.2g(SiO2濃度:9.1wt%、SiO2:CTMA+:H2Oモル比は1.0:0.6:4.4)を回収した。また、生成物がかご型ケイ酸塩であることを溶液29Si-NMR装置を用いて確認した。
合成例1で得られたかご型ケイ酸塩40.0gを耐熱容器に入れ、真空乾燥機にて真空度(6.7×10-2Pa)、60℃にて1時間乾燥することで、かご型ケイ酸塩の水分を除去し、前駆体1を作製した。また、この時のSiO2:ETMA+:H2Oモル比は1.0:0.9:10.7であった。得られた前駆体1の2.0gをステンレス鋼(SUS304)製密閉容器に封入し、150℃で13日間静置加熱してオートクレーブ処理することで白色固体を得た。得られた白色固体をアセトンで洗浄し、吸引濾過にて余剰のアセトンを除去した後、真空乾燥機にて60℃にて真空乾燥し、白色粉体を得た。得られた白色粉体の粉末X線回折測定を行ったところ、層状化合物特有なピークが観測された(図2(a))。また、走査型電子顕微鏡により観察したところ、複数の円盤状粒子の集合体が認められ、層状ケイ酸塩が生成したことが確認された(図1-1(a))。
合成例1で得られたかご型ケイ酸塩の真空乾燥時間を2時間に変更したこと以外は、実施例1と同様の手順を行い、層状ケイ酸塩を作製した。また、このときの前駆体のSiO2:ETMA+:H2Oモル比は1.0:0.9:8.8であった。
さらに、得られた白色粉体を、粉末X線回折測定を行ったところ、層状化合物特有なピークが観測された(図2(b))。また、走査型電子顕微鏡により観察したところ、複数の円盤状粒子の集合体が認められ、層状ケイ酸塩が生成したことが確認された(図1-1(b)) 。
合成例1で得られたかご型ケイ酸塩の真空乾燥時間を3時間に変更したこと以外は、実施例1と同様の手順を行い、層状ケイ酸塩を作製した。また、このときの前駆体のSiO2:ETMA+:H2Oモル比は1.0:0.9:5.9であった。さらに、得られた白色粉体の粉末X線回折測定を行ったところ、層状化合物特有なピーク、及びUSL―1構造が観測された(図2(c))。また、走査型電子顕微鏡により観察したところ、複数の円盤状粒子の集合体が認められ、層状ケイ酸塩が生成したことが確認された(図1-1(c))。
合成例1で得られたかご型ケイ酸塩の真空乾燥時間を4時間に変更したこと以外は、実施例1と同様の手順を行い、層状ケイ酸塩を作製した。また、このときの前駆体のSiO2:ETMA+:H2Oモル比は1.0:0.9:4.5であった。さらに、得られた白色粉体を、粉末X線回折測定を行ったところ、ULS-1構造をすることが分かった(図2(d))。また、走査型電子顕微鏡により観察したところ、複数の円盤状粒子の集合体が認められ、層状ケイ酸塩が生成したことが確認された(図1-2(d))。
合成例1で得られたかご型ケイ酸塩の真空乾燥時間を5時間に変更したこと以外は、実施例1と同様の手順を行い、層状ケイ酸塩を作製した。また、このときの前駆体のSiO2:ETMA+:H2Oモル比は1.0:0.9:3.7であった。さらに、得られた白色粉体を、粉末X線回折測定を行ったところ、ULS-1構造をすることが分かった(図2(e))。また、走査型電子顕微鏡により観察したところ、複数の円盤状粒子の集合体が認められ、層状ケイ酸塩が生成したことが確認された(図1-2(e))。
合成例1で得られたかご型ケイ酸塩の真空乾燥時間を6時間に変更したこと以外は、実施例1と同様の手順を行い、層状ケイ酸塩を作製した。また、このときの前駆体のSiO2:ETMA+:H2Oモル比は1.0:0.9:3.5であった。また得られた白色粉体の粉末X線回折測定を行ったところ、層状化合物特有なピークが観測された(図2(f))。また、走査型電子顕微鏡により観察したところ、複数の円盤状粒子の集合体が認められ、層状ケイ酸塩が生成したことが確認された(図1-2(f))。
10mLのサンプル瓶に、実施例1乃至実施例6の層状ケイ酸塩の粉末0.1g、及び純水10mLを入れ、室温にて24時間放置した。放置後の層状ケイ酸塩の膨潤した見かけの体積を読み取り、見かけの体積を粉末の質量で割ったものを膨潤力(mL/g)とした。結果を表1に示す。
合成例1で得られたかご型ケイ酸塩に代えて合成例2で得られたかご型ケイ酸塩を使用したこと、及び真空乾燥を行わなかったこと以外は、実施例1と同様にして、層状ケイ酸塩の作製を試みた。
得られた白色粉体の粉末X線回折測定を行ったところ、層状化合物特有なピークが観測できず、層状ケイ酸塩は生成しなかったと推定される(図2(g))。
10mLのサンプル瓶に、実施例1で得られた層状ケイ酸塩0.1g、及び純水10g添加し、室温にて24時間放置した。このとき、純水100質量部に対して層状ケイ酸塩は1質量部であった。放置後の上澄み液の一部を採取し、透過型電子顕微鏡にて観察したところ、シリカナノシートが生成していることを確認した(図3-1(a))。また、「シリカナノシートの厚さの測定」に記載した手順にて観察したところ、シリカナノシートの最大径は2.24μm、厚さは2.7nmであった(図4-1)。
10mLのサンプル瓶に、実施例2で得られた層状ケイ酸塩0.1g、及び純水10g添加し、室温にて24時間放置した。このとき、純水100質量部に対して層状ケイ酸塩は1質量部であった。放置後の上澄み液の一部を採取し、透過型電子顕微鏡にて観察したところ、シリカナノシートが生成していることを確認した(図3-1(b))。また、「シリカナノシートの厚さの測定」に記載した手順にて観察したところ、シリカナノシートの最大径は1.71μm、厚さは4.5nmであった(図4-2)。
10mLのサンプル瓶に、実施例3で得られた層状ケイ酸塩0.1g、及び純水10g添加し、室温にて24時間放置した。このとき、純水100質量部に対して層状ケイ酸塩は1質量部であった。放置後の上澄み液の一部を採取し、透過型電子顕微鏡にて観察したところ、シリカナノシートが生成していることを確認した(図3-2(c))。また、「シリカナノシートの厚さの測定」に記載した手順にて観察したところ、シリカナノシートの最大径は1.00μm、厚さは8.1nmであった(図4-3)。
10mLのサンプル瓶に、実施例4で得られた層状ケイ酸塩0.1g、及び純水10g添加し、室温にて24時間放置した。このとき、純水100質量部に対して層状ケイ酸塩は1質量部であった。放置後の上澄み液の一部を採取し、透過型電子顕微鏡にて観察したところ、シリカナノシートは生成していなかった。
10mLのサンプル瓶に、実施例5で得られた層状ケイ酸塩0.1g、及び純水10g添加し、室温にて24時間放置した。このとき、純水100質量部に対して層状ケイ酸塩は1質量部であった。放置後の上澄み液の一部を採取し、透過型電子顕微鏡にて観察したところ、シリカナノシートは生成していなかった。
Claims (8)
- 下記(a)、及び(b)工程を含む層状ケイ酸塩の製造方法であって:
(a)下記式(1)で表わされるアニオン成分と下記式(2)で表わされるカチオン成分を含み、且つ、該アニオン成分のSiO2換算のモル数に対する水のモル数の比(H2O/SiO2)が0.7~30である、かご型ケイ酸塩を提供する工程;
(式(2)中、Rは炭素原子数2~9のアルキル基を示す。)
(b)前記(a)工程により得られたかご型ケイ酸塩をオートクレーブ処理する工程;
前記(a)工程において提供されるかご型ケイ酸塩中の、前記アニオン成分のSiO 2 換算のモル数に対する、式(2)で表わされるカチオン成分の第4級アンモニウム換算のモル数の比(第4級アンモニウム/SiO 2 )が0.7~1.5であり、
前記(b)工程におけるオートクレーブ処理が、耐圧容器内で80℃以上300℃未満の温度で行われる、
上記層状ケイ酸塩の製造方法。 - 前記(a)工程において提供されるかご型ケイ酸塩中の、前記アニオン成分のSiO2換算のモル数に対する水のモル数の比(H2O/SiO2)が1.5~15.0である、請求項1に記載の層状ケイ酸塩の製造方法。
- 前記(a)工程において、前記かご型ケイ酸塩を真空下又は減圧下にて20℃以上80℃未満の温度で30分以上10時間以下保持し、水分を除去する、請求項1又は請求項2に記載の層状ケイ酸塩の製造方法。
- 前記(a)工程の前に、下記(c)工程を含む請求項1又は請求項2に記載の層状ケイ酸塩の製造方法:
(c)活性ケイ酸と第4級アンモニウムとを混合し、10℃以下の温度において混合溶液からかご型ケイ酸塩を晶析させる工程。 - 前記活性ケイ酸が、無水ケイ酸アルカリを溶解して得られたケイ酸アルカリ溶液から陽イオンを除去することにより得られたものである請求項4に記載の層状ケイ酸塩の製造方法。
- 請求項1又は請求項2に記載の製造方法で得られた層状ケイ酸塩と水性媒体とを接触させる工程を含む、シリカナノシートの製造方法。
- 水性媒体100質量部に対して層状ケイ酸を0.1質量部~15質量部の割合で接触させる請求項6に記載のシリカナノシートの製造方法。
- 前記水性媒体が、水、有機溶媒又はこれら混合物である請求項6に記載のシリカナノシートの製造方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022053848 | 2022-03-29 | ||
JP2022053848 | 2022-03-29 | ||
PCT/JP2023/005176 WO2023188930A1 (ja) | 2022-03-29 | 2023-02-15 | 層状ケイ酸塩の製造方法、及びシリカナノシートの製造等におけるその応用 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2023188930A1 JPWO2023188930A1 (ja) | 2023-10-05 |
JP7401030B1 true JP7401030B1 (ja) | 2023-12-19 |
JPWO2023188930A5 JPWO2023188930A5 (ja) | 2024-03-08 |
Family
ID=87929388
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2023539070A Active JP7401030B1 (ja) | 2022-03-29 | 2023-02-15 | 層状ケイ酸塩の製造方法、及びシリカナノシートの製造等におけるその応用 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20240051834A1 (ja) |
EP (1) | EP4276067A4 (ja) |
JP (1) | JP7401030B1 (ja) |
KR (1) | KR102656777B1 (ja) |
CN (1) | CN117440929A (ja) |
TW (1) | TW202400517A (ja) |
WO (1) | WO2023188930A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7401031B1 (ja) * | 2022-03-29 | 2023-12-19 | 日産化学株式会社 | かご型ケイ酸塩、及びその製造方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000334881A (ja) | 1999-05-28 | 2000-12-05 | Konica Corp | かご状シルセスキオキサン含有皮膜 |
JP2013040066A (ja) | 2011-08-12 | 2013-02-28 | Osaka Prefecture Univ | 層状ケイ酸塩化合物の製造方法 |
WO2014188934A1 (ja) | 2013-05-20 | 2014-11-27 | 日産化学工業株式会社 | シリカゾル及びシリカ含有エポキシ樹脂組成物 |
JP2017512132A (ja) | 2014-02-07 | 2017-05-18 | サーモ エレクトロン マニュファクチュアリング リミテッド | クロマトグラフィー材料及びその合成方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4689207A (en) * | 1985-03-06 | 1987-08-25 | Chevron Research Company | Process for the preparation of crystalline microporous organosilicates using magadiite as a silica source |
JP3700182B2 (ja) * | 1993-12-28 | 2005-09-28 | コープケミカル株式会社 | 粘土−有機複合体、その組成物、用途および粘土−有機複合体の製造方法 |
JP2004051904A (ja) * | 2002-07-23 | 2004-02-19 | Asahi Kasei Chemicals Corp | ケイ素化合物含有ポリフェニレンエーテル−エポキシ系樹脂組成物 |
DE102005049362A1 (de) | 2005-10-12 | 2007-04-19 | Basf Ag | Verfahren zur Herstellung eines Silikates |
JP2008063228A (ja) * | 2006-09-04 | 2008-03-21 | Tokyo Univ Of Science | アルコキシ基を有するかご状シルセスキオキサンの製造方法 |
JP2008270584A (ja) * | 2007-04-23 | 2008-11-06 | Nippon Chem Ind Co Ltd | 半導体ウエハ研磨用組成物及び研磨加工方法 |
JP2009269820A (ja) * | 2008-04-30 | 2009-11-19 | Showa Denko Kk | かご型シロキサン化合物の製造方法 |
CN101974225B (zh) * | 2010-09-21 | 2013-03-27 | 苏州大学 | 一种微孔硅/双马来酰亚胺-三嗪树脂复合材料及其制备方法 |
CN101967230B (zh) * | 2010-09-21 | 2012-08-22 | 苏州大学 | 一种基于笼型倍半硅氧烷结构的有机/无机微孔硅及制备方法 |
US20210061824A1 (en) * | 2017-04-20 | 2021-03-04 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Silanol compound and method for producing silanol compound |
US20210101800A1 (en) | 2018-02-22 | 2021-04-08 | Basf Se | A layered silicate |
-
2023
- 2023-02-15 EP EP23744034.2A patent/EP4276067A4/en active Pending
- 2023-02-15 CN CN202380009820.4A patent/CN117440929A/zh active Pending
- 2023-02-15 KR KR1020237026016A patent/KR102656777B1/ko active IP Right Grant
- 2023-02-15 JP JP2023539070A patent/JP7401030B1/ja active Active
- 2023-02-15 WO PCT/JP2023/005176 patent/WO2023188930A1/ja active Application Filing
- 2023-02-15 US US18/274,953 patent/US20240051834A1/en active Pending
- 2023-03-02 TW TW112107486A patent/TW202400517A/zh unknown
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000334881A (ja) | 1999-05-28 | 2000-12-05 | Konica Corp | かご状シルセスキオキサン含有皮膜 |
JP2013040066A (ja) | 2011-08-12 | 2013-02-28 | Osaka Prefecture Univ | 層状ケイ酸塩化合物の製造方法 |
WO2014188934A1 (ja) | 2013-05-20 | 2014-11-27 | 日産化学工業株式会社 | シリカゾル及びシリカ含有エポキシ樹脂組成物 |
JP2017512132A (ja) | 2014-02-07 | 2017-05-18 | サーモ エレクトロン マニュファクチュアリング リミテッド | クロマトグラフィー材料及びその合成方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20240051834A1 (en) | 2024-02-15 |
WO2023188930A1 (ja) | 2023-10-05 |
KR20230141780A (ko) | 2023-10-10 |
TW202400517A (zh) | 2024-01-01 |
CN117440929A (zh) | 2024-01-23 |
EP4276067A1 (en) | 2023-11-15 |
EP4276067A4 (en) | 2024-04-03 |
JPWO2023188930A1 (ja) | 2023-10-05 |
KR102656777B1 (ko) | 2024-04-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6254845B1 (en) | Synthesis method of spherical hollow aluminosilicate cluster | |
TWI520904B (zh) | 由鹼金屬矽酸鹽溶液製備高純度水性膠體矽石溶膠的方法 | |
JP4478766B2 (ja) | 球状シリカ多孔質粒子及びその製造方法 | |
US20070104643A1 (en) | Mesoporous nanocrystaline zeolite composition and preparation from amorphous colloidal metalosilicates | |
BRPI0509859B1 (pt) | Método para controlar uma localização de um metal dentro de um colóide de sílica contendo metal | |
JP7469725B2 (ja) | 金属含有cha型ゼオライト及びその製造方法 | |
JP7401030B1 (ja) | 層状ケイ酸塩の製造方法、及びシリカナノシートの製造等におけるその応用 | |
WO2012108300A1 (ja) | シリカ系キラルナノ構造体及びその製造方法 | |
JP2017527520A (ja) | 回収可能かつリサイクル可能なメソポア−鋳型剤を含むメソポーラス・ミクロポーラス結晶質材料の製造方法 | |
JP4222582B2 (ja) | 高純度シリカゾルの製造方法 | |
JPH0834607A (ja) | メソポーラスシリカおよびその製造方法 | |
US7781369B2 (en) | Mesoporous silica thick-film, process for producing the same, adsorption apparatus and adsorbing film | |
JP5431120B2 (ja) | コロイダルシリカの製造方法 | |
JP3577681B2 (ja) | メソポーラスメタロシリケートの製造方法 | |
CN102602959B (zh) | 一种纳米纯硅zsm-5沸石的制备方法 | |
JP3758391B2 (ja) | 高純度シリカ水性ゾル及びその製造方法 | |
JP3577679B2 (ja) | メソポーラスアルミノシリケートの製造方法 | |
JP4488191B2 (ja) | 球状シリカ系メソ多孔体の製造方法 | |
JP5230109B2 (ja) | 結晶性リン酸アルミニウム多孔質構造体およびその製造方法 | |
JP5341613B2 (ja) | コロイダルシリカおよびその製造方法 | |
JP2006232594A (ja) | メソ細孔無機多孔体およびその製造方法 | |
JP6203625B2 (ja) | シリカ粒子の製造方法 | |
JP5678648B2 (ja) | Zsm−5微粒子及びその製造方法 | |
JP5377135B2 (ja) | コロイダルシリカの製造方法 | |
TW201615551A (zh) | 結晶性矽鈦酸鹽的製造方法、銫的吸附材及鍶的吸附材 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230623 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20230623 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20230623 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20230626 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230725 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230913 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20231107 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20231120 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 7401030 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |