JP7186335B1 - 多孔質体、該多孔質体を含む吸着材並びに該吸着材を使用した金属及び/又は金属イオンの除去方法 - Google Patents
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Abstract
Description
[A]メソ孔を含むセラミックス骨格とマクロ孔とによって形成された共連続構造を有する多孔質体であって、前記セラミックス骨格の表面が、金属及び/又は金属イオンを吸着可能な窒素原子含有基で修飾されており、前記窒素原子含有基が、1級アミノ基、2級アミノ基、3級アミノ基、4級アンモニウム基、イミノ基、ニトリロ基及び窒素原子含有複素環基から選択される少なくとも1種であり、前記多孔質体に含まれる前記窒素原子含有基の量が、1.5mmol/g以上5.4mmol/g以下である、多孔質体。
[B][A]に記載の多孔質体を含む吸着材。
[C]金属及び/又は金属イオンを含む溶液から前記金属及び/又は前記金属イオンを除去する方法であって、前記溶液と[B]に記載の吸着材とを接触させる工程を含む、方法。
以下、本発明の多孔質体について説明する。
多孔質体の形態は特に限定されない。多孔質体の形態としては、例えば、粒子、塊、成型体等が挙げられる。また、多孔質体の形状は特に限定されない。多孔質体の形状としては、例えば、柱状体、球状(例えば、真球状、楕円球状等)、針状、鱗片状(フレーク状)、多面体状、扁平状、破砕状、塊状等が挙げられる。
柱状体1のアスペクト比=柱状体1の長さL/柱状体1の平均径
以下、図3を参照して、窒素原子含有基で修飾される前の多孔質体の構造について説明する。図3は、本発明の一実施形態に係る多孔質体の表面の一部の拡大図である。多孔質体が図1に示す柱状体1である場合、図3は図1中の領域Rの拡大図に対応する。
セラミックス骨格2を構成するセラミックスは、例えば、半金属元素又は金属元素を含む酸化物セラミックスである。
多孔質体は、例えば、下記工程:
(a)ゾル-ゲル法によりポリメタロキサンゲルを製造する工程;
(b)工程(a)で製造されたポリメタロキサンゲルの骨格に細孔を形成する工程;並びに
(c)工程(b)に供されたポリメタロキサンゲルを、必要に応じて洗浄及び/又は乾燥した後、焼成し、セラミックスモノリスを製造する工程
を含む方法により製造することができる。以下、各工程について説明する。
工程(a)では、ゾル-ゲル法によりポリメタロキサンゲルを製造する。
≡Si-OH + HO-Si≡ → ≡Si-O-Si≡ + H2O・・・(1)
≡Si-OR + HO-Si≡ → ≡Si-O-Si≡ + ROH・・・(2)
工程(b)では、工程(a)で製造されたポリメタロキサンゲルの骨格に細孔を形成する。
工程(c)では、工程(b)に供されたポリメタロキサンゲルを、必要に応じて洗浄及び/又は乾燥した後、焼成し、セラミックスモノリスを製造する。
多孔質体において、セラミックス骨格2の表面は、金属及び/又は金属イオンを吸着可能な窒素原子含有基で修飾されていることが好ましい。セラミックス骨格2の表面は、金属及び/又は金属イオンを吸着可能な2種以上の窒素原子含有基で修飾されていてもよい。窒素原子含有基は、直接、セラミックス骨格2の表面に結合していてもよいし、リンカーを介してセラミックス骨格2の表面に結合していてもよい。
式A:Ra-Rd-Si(-Rb)n(-Rc)3-n
式B:Ra-Rd-NH-Re-Si(-Rb)n(-Rc)3-n
式C:Ra-Rd-NH-Re-NH-Rf-Si(-Rb)n(-Rc)3-n
本発明の吸着材は、本発明の多孔質体を含む。本発明の吸着材において、セラミックス骨格2の表面は、金属及び/又は金属イオンを吸着可能な窒素原子含有基で修飾されている。
本発明の吸着材の使用方法は、金属及び/又は金属イオンを含む溶液から金属及び/又は金属イオンを除去する方法であり、金属及び/又は金属イオンを含む溶液(以下「処理対象液」という。)と本発明の吸着材とを接触させる工程を含む。
(1)シリカモノリスペレットの作製
150mLの反応容器に、ポリエチレングリコール10000(SIGMA-ALDRICH社製) 9.10g、尿素 7.80g及び6.06質量%の酢酸水溶液 86.7gを加え、室温で10分間攪拌した。反応容器を氷浴に入れ、15分間攪拌しながら反応溶液を冷却した。冷却した反応溶液にテトラメトキシシラン 43.3gを加え、氷浴中で冷却しながら30分間攪拌した。平均径4.6mmの円柱状のシリカモノリスペレットを形成するための鋳型を反応容器に加え、反応溶液を30℃の温浴で加温した後、30℃のインキュベーター内で一晩静置し、ポリシロキサンゲルを作製した。
上記(1)で得られたシリカモノリスペレットの表面の構造を、走査型電子顕微鏡(JEOL製のJSM-7900F)で観察した。観察結果を図4A及び図4Bに示す。図4A及び図4Bに示すように、シリカモノリスペレットは、メソ孔を含むシリカ骨格とマクロ孔とによって形成された共連続構造を有していた。なお、図4B中の符号は、図3中の符号と同意義である。
比表面積及びメソ孔の最頻細孔径の測定は、マイクロトラック・ベル社製の比表面積・細孔分布測定装置「BELSORP-miniX」を使用して行った。400℃で3時間、減圧脱気したシリカモノリスペレットに対して、液体窒素を使用して77Kの温度での窒素吸脱着量を多点法で測定し、吸脱着等温線を求め、吸脱着等温線に基づいて、比表面積及び最頻細孔径を算出した。比表面積は、BET法により算出し、細孔最頻径は、BJH法により算出した。
水銀ポロシメータ(Micromeritics社製「AutoPore IV 9520」)を使用して、水銀圧入法により全細孔容積、マクロ孔の最頻細孔径及び気孔率の測定を行った。水銀圧入法では、シリカモノリスペレットの細孔に圧力を加えて水銀を浸入させ、圧力と圧入された水銀量から細孔容積及び比表面積を求め、細孔を円筒と仮定したときの細孔容積と比表面積との関係から細孔直径を算出した。本発明においては、水銀圧入法にて50nm~500μmの直径を有する細孔範囲で分析した。測定は下記条件及び手順で行った。
・水銀パラメータ
前進接触角:130.0°
後退接触角:130.0°
表面張力:485.0mN/m(485.0dynes/cm)
水銀密度:13.5335g/mL
・低圧パラメータ
排気圧力:50μmHg
排気時間:5.0分
水銀注入圧力:0.0035MPa
平衡時間:10秒
・高圧パラメータ
平衡時間:10秒
・圧入体積:25%以上90%以下になるように調節
・測定環境:20℃
(i)サンプルを、約0.5g秤量し試料セルに入れ、秤量値を入力。
(ii)低圧部で0.0048~0.2068MPaの範囲を測定。
(iii)高圧部で0.2068~255.1060MPaの範囲を測定。
(ii)、(iii)は装置付属のソフトウエアにて、自動で行った。
平均径1.2mm、1.5mm、3.0mm、3.7mm、6.0mm、11.0mm又は20.0mmの円柱状のシリカモノリスペレットを形成するための鋳型を使用した点、及び、得られた平均径1.2mm、1.5mm、3.0mm、3.7mm、6.0mm、11.0mm又は20.0mmの円柱状のシリカモノリスペレットの長さをアスペクト比が1.6となるように表2に記載の通り調整した点を除き、製造例1と同様にして、円柱状のシリカモノリスペレットを作製した。
アスペクト比が0.5、0.9、1.0、1.9又は3.3となるように、シリカモノリスペレットの長さを表3に記載の通り調整した点を除き、製造例1と同様にして、円柱状のシリカモノリスペレットを作製した。
製造例1~13で得られた乾燥状態のシリカモノリスペレットの側面を、藤原製作所製デジタル硬度計KHT-40N(加圧直径3mm)を使用して加圧し、破壊された際の圧力(N)を測定した。また、純水に30分間入れ、吸水状態となったシリカモノリスペレットに関しても、上記と同様にして、破壊された際の圧力(N)を測定した。なお、各製造例のシリカモノリスペレットの強度試験は、5個のペレットを使用して行い、5つの測定値の算術平均値を求めた。測定結果を表2及び3に示す。
製造例1で得られたシリカモノリスペレット 10.0gを反応容器に加え、トルエン 60mL、3-アミノプロピルトリメトキシシラン 7.45gを加えた後、110℃、12時間で加熱還流した。ろ過によりシリカモノリスペレットをトルエン溶液から分離し、エタノール 30mLで3回洗浄し、減圧乾燥し、シリカモノリス吸着材 12.0gを得た。
製造例1で得られたシリカモノリスペレットに代えて、製造例4で得られたシリカモノリスペレットを使用した点を除き、製造例14と同様にして、シリカモノリス吸着材を作製した。製造例15で得られたシリカモノリス吸着材に含まれる窒素原子含有基(-NH2)量を、製造例14と同様にして定量した。定量結果を表5Aに示す。
製造例1で得られたシリカモノリスペレットに代えて、製造例6で得られたシリカモノリスペレットを使用した点を除き、製造例14と同様にして、シリカモノリス吸着材を作製した。製造例16で得られたシリカモノリス吸着材に含まれる窒素原子含有基(-NH2)量を、製造例14と同様にして定量した。定量結果を表5Aに示す。
製造例1で得られたシリカモノリスペレットに代えて、製造例7で得られたシリカモノリスペレットを使用した点を除き、製造例14と同様にして、シリカモノリス吸着材を作製した。製造例17で得られたシリカモノリス吸着材に含まれる窒素原子含有基(-NH2)量を、製造例14と同様にして定量した。定量結果を表5Aに示す。
製造例14~17のそれぞれのシリカモノリス吸着材 0.5gを、硝酸白金、硝酸パラジウム及び硝酸ロジウムをそれぞれ100ppm含む水溶液 30mLに浸漬し、室温で30分間攪拌した。反応終了後、シリカモノリス吸着材をろ過により分離し、得られたろ液に含まれる金属元素量をICP発光分析装置(HITACHI社製 PS3520 UVDD)を使用して分析した。水溶液に当初含まれていた白金元素の量に対する、シリカモノリス吸着材に吸着された白金元素の量の百分率(以下「白金吸着率」という。)、水溶液に当初含まれていたパラジウム元素の量に対する、シリカモノリス吸着材に吸着されたパラジウム元素の量の百分率(以下「パラジウム吸着率」という。)、及び、水溶液に当初含まれていたロジウム元素の量に対する、シリカモノリス吸着材に吸着されたロジウム元素の量の百分率(以下「ロジウム吸着率」という。)を算出した。白金吸着率、パラジウム吸着率及びロジウム吸着率を表5Aに示す。なお、表5Aにおける「>95」は、分析保証値である95%を超えていたことを示す。
製造例14のシリカモノリス吸着材 2.5gを、TraceCERT Transition metal mix 1 for ICP溶液(SIGMA-ALDRICH社製)を純水で10倍希釈した水溶液(Cd、Cr、Co、Cu、Fe、Mn、Ni、Ag、V、Znの各金属元素を10ppm含む) 50mLに浸漬し、室温で24時間静置した。反応終了後、シリカモノリス吸着材をろ過により分離し、得られたろ液に含まれる金属元素量をICP発光分析装置(HITACHI社製 PS3520 UVDD)を使用して分析した。各金属元素に関し、水溶液に当初含まれていた金属元素の量に対する、シリカモノリス吸着材に吸着された金属元素の量の百分率(以下「吸着率」という。)を算出した。各金属元素の吸着率を表5Bに示す。
製造例14のシリカモノリス吸着材 2.5gを、TraceCERT Transition metal mix 3 for ICP溶液(SIGMA-ALDRICH社製)を純水で10倍希釈した水溶液(Au、Ir、Os、Pd、Pt、Rh、Ruの各金属元素を10ppm含む) 50mLに浸漬し、室温で24時間静置した。反応終了後、シリカモノリス吸着材をろ過により分離し、得られたろ液に含まれる金属元素量をICP発光分析装置(HITACHI社製 PS3520 UVDD)を使用して分析した。各金属元素に関し、水溶液に当初含まれていた金属元素の量に対する、シリカモノリス吸着材に吸着された金属元素の量の百分率(以下「吸着率」という。)を算出した。各金属元素の吸着率を表5Cに示す。なお、表5Cにおける「>95」は、本測定条件における分析保証値である95%を超えていたことを示す。
シリカモノリスペレットの作製において、ポリエチレングリコール10000(SIGMA-ALDRICH社製)の使用量を8.7gに変更した点を除き、製造例1と同様の操作を行い、シリカモノリスペレットを作製した。得られたシリカモノリスペレットを使用して、製造例14と同様にして、シリカモノリス吸着材を作製した。
シリカモノリスペレットの作製において、ポリエチレングリコール10000(SIGMA-ALDRICH社製)の使用量を9.5gに変更した点を除き、製造例1と同様にして、シリカモノリスペレットを作製した。得られたシリカモノリスペレットを使用して、製造例14と同様にして、シリカモノリス吸着材を作製した。
シリカモノリスペレットの作製において、3mol/Lの尿素水を使用した24時間の加熱還流に代えて、1.5mol/Lの尿素水を使用した12時間の加熱還流を行った点を除き、製造例1と同様にして、シリカモノリスペレットを作製した。得られたシリカモノリスペレットを使用して、製造例14と同様にして、シリカモノリス吸着材を作製した。
シリカモノリスペレットの作製において、3mol/Lの尿素水を使用した24時間の加熱還流に代えて、1.5mol/Lの尿素水を使用した4時間の加熱還流を行った点を除き、製造例1と同様にして、シリカモノリスペレットを作製した。得られたシリカモノリスペレットを使用して、製造例14と同様にして、シリカモノリス吸着材を作製した。
製造例14及び18~21で得られたシリカモノリス吸着材について、試験例2Aと同様にして金属吸着試験を行った。白金吸着率、パラジウム吸着率及びロジウム吸着率を表7に表す。なお、表7における「>95」は、分析保証値である95%を超えていたことを示す。
製造例14、18、19及び21のそれぞれで得られた平均径4.6mmのシリカペレット吸着材 3.0gをステンレスカラム(直径20mm、長さ50mm)に充填し、ステンレス配管を介して送液ポンプに接続することにより、図6に示す流通吸着装置を作製した。
(1)シリカモノリスの作製
150mLの反応容器に、ポリエチレングリコール10000(SIGMA-ALDRICH社製) 8.67g、尿素 7.80g及び6.06質量%の酢酸水溶液 86.7gを加え、室温で10分間攪拌した。反応容器を氷浴に入れ、15分間攪拌しながら反応溶液を冷却した。冷却した反応溶液にテトラメトキシシラン 44.7gを加え、氷浴中で冷却しながら30分間攪拌した。平均径4.6mmの円柱状のシリカモノリスペレットを形成するための鋳型を反応容器に加え、反応溶液を30℃の温浴で加温した後、30℃のインキュベーター内で一晩静置し、ポリシロキサンゲルを作製した。
製造例1と同様にして、比表面積及びメソ孔の最頻細孔径の測定を行った。測定結果を表9Aに示す。
製造例1と同様にして、全細孔容積、マクロ孔の最頻細孔径及び気孔率の測定を行った。測定結果を表9Aに示す。
得られたシリカモノリス 5.0gを反応容器に加え、純水 35mL、3-アミノプロピルトリメトキシシラン 3.73gを加えた後、100℃で4時間、加熱還流した。ろ過によりシリカモノリスを溶液から分離し、純水 500mLで洗浄し、乾燥させ、シリカモノリス吸着材 6.44gを得た。
シリカモノリス吸着材に含まれる窒素原子含有基(-NH2)量は、酸素窒素水素分析装置(LECOジャパン合同会社製 ONH836)を使用して測定した。測定結果を表9Aに示す。
シリカモノリス吸着材の作製において、3-アミノプロピルトリメトキシシランの使用量を5.97gに変更した点を除き、製造例22と同様にして、シリカモノリスの作製、比表面積、メソ孔の最頻細孔径、全細孔容積、マクロ孔の最頻細孔径及び気孔率の測定、シリカモノリス吸着材の作製、並びに、窒素原子含有基(-NH2)量の測定を行った。測定結果を表9Aに示す。
シリカモノリス吸着材の作製において、シランカップリング剤として、3-アミノプロピルトリメトキシシラン 3.73gに代えて、3-(2-アミノエチルアミノ)プロピルトリメトキシシラン 4.63gを使用した点を除き、製造例22と同様にして、シリカモノリスの作製、比表面積、メソ孔の最頻細孔径、全細孔容積、マクロ孔の最頻細孔径及び気孔率の測定、シリカモノリス吸着材の作製、並びに、窒素原子含有基(-NH2及び-NH-)量の測定を行った。測定結果を表9Aに示す。
シリカモノリス吸着材の作製において、シランカップリング剤として、3-アミノプロピルトリメトキシシラン 3.73gに代えて、3-[2-(2-アミノエチルアミノ)エチルアミノ]プロピルトリメトキシシラン 5.52gを使用した点を除き、製造例22と同様にして、シリカモノリスの作製、比表面積、メソ孔の最頻細孔径、全細孔容積、マクロ孔の最頻細孔径及び気孔率の測定、シリカモノリス吸着材の作製、並びに、窒素原子含有基(-NH2及び-NH-)量の測定を行った。測定結果を表9Aに示す。
シリカモノリス吸着材を以下の通り作製した点を除き、製造例22と同様にして、シリカモノリスの作製、比表面積、メソ孔の最頻細孔径、全細孔容積、マクロ孔の最頻細孔径及び気孔率の測定、並びに、窒素原子含有基(-NH2、-NH-及び-N<)量の測定を行った。測定結果を表9Aに示す。
シリカモノリスの作製において、ポリエチレングリコール10000(SIGMA-ALDRICH社製)の使用量を8.25gに変更した点を除き、製造例24と同様にして、シリカモノリスの作製、比表面積、メソ孔の最頻細孔径、全細孔容積、マクロ孔の最頻細孔径及び気孔率の測定、並びに、窒素原子含有基(-NH2及び-NH-)量の測定を行った。測定結果を表9Aに示す。
シリカモノリスの作製において、ポリエチレングリコール10000(SIGMA-ALDRICH社製)の使用量を9.08gに変更した点を除き、製造例24と同様にして、シリカモノリスの作製、比表面積、メソ孔の最頻細孔径、全細孔容積、マクロ孔の最頻細孔径及び気孔率の測定、並びに、窒素原子含有基(-NH2及び-NH-)量の測定を行った。測定結果を表9Bに示す。
シリカモノリスの作製において、3mol/Lの尿素水中での加熱還流時間を5時間に変更した点を除き、製造例24と同様にして、シリカモノリスの作製、比表面積、メソ孔の最頻細孔径、全細孔容積、マクロ孔の最頻細孔径及び気孔率の測定、並びに、窒素原子含有基(-NH2及び-NH-)量の測定を行った。測定結果を表9Bに示す。
シリカモノリスの作製において、3mol/Lの尿素水中での加熱還流時間を24時間に変更した点を除き、製造例24と同様にして、シリカモノリスの作製、比表面積、メソ孔の最頻細孔径、全細孔容積、マクロ孔の最頻細孔径及び気孔率の測定、並びに、窒素原子含有基(-NH2及び-NH-)量の測定を行った。測定結果を表9Bに示す。
製造例22~30で得られた各シリカモノリス吸着材 2.5gを、TraceCERT Transition metal mix 3 for ICP溶液(SIGMA-ALDRICH社製)を純水で10倍希釈した水溶液(Au、Ir、Os、Pd、Pt、Rh、Ruの各金属元素を10ppm含む) 50mLに浸漬し、室温で24時間静置した。反応終了後、シリカモノリス吸着材をろ過により分離し、得られたろ液に含まれる金属元素量をICP発光分析装置(HITACHI社製 PS3520 UVDD)を使用して分析した。各金属元素に関し、水溶液に当初含まれていた金属元素の量に対する、シリカモノリス吸着材に吸着された金属元素の量の百分率(以下「吸着率」という。)を算出した。全ての金属元素の合計吸着率(%)を表9A及び9Bに示す。
製造例22~30で得られた各シリカモノリス吸着材を乳鉢で粒子径が300μm以上1000μm以下になるように粉砕した。粉砕後の吸着材 300mgを、TraceCERT Transition metal mix 3 for ICP溶液(SIGMA-ALDRICH社製)を純水で10倍希釈した水溶液(Au、Ir、Os、Pd、Pt、Rh、Ruの各金属元素を10ppm含む) 30mLに浸漬し、25℃で30分間撹拌した。反応終了後、シリカモノリス吸着材をろ過により分離し、得られたろ液に含まれる金属元素量をICP発光分析装置(HITACHI社製 PS3520 UVDD)を使用して分析した。各金属元素に関し、水溶液に当初含まれていた金属元素の量に対する、シリカモノリス吸着材に吸着された金属元素の量の百分率(以下「吸着率」という。)を算出した。全ての金属元素の合計吸着率(%)を表9A及び9Bに示す。
製造例22~30で得られた各シリカモノリス吸着材を乳鉢で粒子径が38μm以上75μm以下になるように粉砕した。粉砕後の吸着材 30mgを金標準原液(Auを1000ppm含む)(関東化学社製)を純水で20倍希釈した水溶液(Auを50ppm含む) 30mLに浸漬し、25℃で5分間又は15分間撹拌した。反応終了後、シリカモノリス吸着材をろ過により分離し、得られたろ液に含まれる金元素量をICP発光分析装置(HITACHI社製 PS3520 UVDD)を使用して分析し、吸着された金元素の量を算出した。得られた金元素の吸着量(mg)を吸着時間(5分又は15分)で除し、金元素の吸着速度(mg/分)を算出した。算出された吸着速度を表9A及び9Bに示す。
シリカモノリス吸着材の作製において、3-アミノプロピルトリメトキシシランの使用量を0.75gに変更した点を除き、製造例22と同様にして、シリカモノリスの作製、比表面積、メソ孔の最頻細孔径、全細孔容積、マクロ孔の最頻細孔径及び気孔率の測定、並びに、窒素原子含有基(-NH2)量の測定を行った。測定結果を表9Bに示す。
シリカモノリス吸着材の作製において、3-アミノプロピルトリメトキシシランの使用量を1.49gに変更した点を除き、製造例22と同様にして、シリカモノリスの作製、比表面積、メソ孔の最頻細孔径、全細孔容積、マクロ孔の最頻細孔径及び気孔率の測定、並びに、窒素原子含有基(-NH2)量の測定を行った。測定結果を表9Bに示す。
シリカモノリス吸着材の作製において、ポリエチレンイミン存在下での加熱温度を100℃に変更した点を除き、製造例26と同様にして、シリカモノリスの作製、比表面積、メソ孔の最頻細孔径、全細孔容積、マクロ孔の最頻細孔径及び気孔率の測定、並びに、窒素原子含有基(-NH2、-NH-及び-N<)量の測定を行った。測定結果を表9Bに示す。
シリカモノリス吸着材に代えて、市販のアミン修飾シリカ 3-Aminopropyl Silica Gel(東京化成工業社製)を使用した点を除き、試験例5A~5Cと同様にして金属吸着試験を行った。結果を表9Cに示す。
シリカモノリス吸着材に代えて、市販のアミン修飾シリカ Wakogel 50NH2(富士フイルム和光純薬社製)を使用した点を除き、試験例5A~5Cと同様にして金属吸着試験を行った。結果を表9Cに示す。
シリカモノリス吸着材に代えて、市販のアミン修飾シリカ R-Cat-Sil AP(関東化学社製)を使用した点を除き、試験例5A~5Cと同様にして金属吸着試験を行った。結果を表9Cに示す。
シリカモノリス吸着材に代えて、市販品のイオン交換樹脂 (Aminomethyl)polystyrene(SIGMA-ALDRICH社製)を使用した点を除き、試験例5A~5Cと同様にして金属吸着試験を行った。結果を表9Cに示す。
2・・・セラミックス骨格
3・・・マクロ孔
4・・・メソ孔
60・・・流通吸着装置
61・・・ステンレスカラム
62・・・ステンレス配管
63・・・送液ポンプ
64・・・回収容器
Claims (16)
- メソ孔を含むセラミックス骨格とマクロ孔とによって形成された共連続構造を有する多孔質体であって、
前記セラミックス骨格の表面が、金属及び/又は金属イオンを吸着可能な窒素原子含有基で修飾されており、
前記窒素原子含有基が、1級アミノ基、2級アミノ基、3級アミノ基、4級アンモニウム基、イミノ基及びニトリロ基から選択される少なくとも1種であり、
前記多孔質体に含まれる前記窒素原子含有基の量が、1.5mmol/g以上5.4mmol/g以下である、多孔質体。 - 前記窒素原子含有基がアミン化合物に含まれ、前記アミン化合物が前記セラミックス骨格の表面に固定されることにより、前記セラミックス骨格の表面が前記窒素原子含有基で修飾されており、
前記アミン化合物が、モノアミン、ジアミン、トリアミン及びポリアミンから選択される少なくとも1種である、請求項1に記載の多孔質体。 - 前記アミン化合物が、
式A:R a -R d -Si(-R b ) n (-R c ) 3-n で表されるモノアミン、
式B:R a -R d -NH-R e -Si(-R b ) n (-R c ) 3-n で表されるジアミン、
式C:R a -R d -NH-R e -NH-R f -Si(-R b ) n (-R c ) 3-n で表されるトリアミン、
重量平均分子量が146以上30000以下であるポリアルキレンイミン、
重量平均分子量が174以上25000以下であるポリビニルアミン、及び、
重量平均分子量が230以上150000以下であるポリアリルアミン
[式A、B及びC中、
R a は、1級アミノ基、2級アミノ基、3級アミノ基又は4級アンモニウム基を表し、
n個のR b は、それぞれ独立して、炭素数1以上10以下のアルキル基を表し、
(3-n)個のR c は、それぞれ独立して、炭素数1以上10以下のアルコキシ基又はハロゲン基を表し、
R d 、R e 及びR f は、それぞれ独立して、炭素数1以上10以下のアルキレン基、炭素数4以上14以下のアリーレン基又はそれらの組み合わせを表し、
nは、0~2の整数を表す。]
から選択される少なくとも1種である、請求項2に記載の多孔質体。 - R a で表される2級アミノ基が、式:-NHR 1 で表され、
R a で表される3級アミノ基が、式:-NR 1 R 2 で表され、
R a で表される4級アンモニウム基が、式:-N + R 1 R 2 R 3 で表され、
R 1 、R 2 及びR 3 が、それぞれ独立して、炭素数1以上10以下のアルキル基を表す、請求項3に記載の多孔質体。 - 前記窒素原子含有基の量が、1.5mmol/g以上4.5mmol/g以下である、請求項4に記載の多孔質体。
- 前記アミン化合物が、
式A:R a -R d -Si(-R b ) n (-R c ) 3-n で表されるモノアミン、
式B:R a -R d -NH-R e -Si(-R b ) n (-R c ) 3-n で表されるジアミン、
式C:R a -R d -NH-R e -NH-R f -Si(-R b ) n (-R c ) 3-n で表されるトリアミン、及び
重量平均分子量が146以上30000以下であるポリアルキレンイミン
[式A、B及びC中、
R a は、1級アミノ基、2級アミノ基、3級アミノ基又は4級アンモニウム基を表し、
n個のR b は、それぞれ独立して、炭素数1以上10以下のアルキル基を表し、
(3-n)個のR c は、それぞれ独立して、炭素数1以上10以下のアルコキシ基又はハロゲン基を表し、
R d 、R e 及びR f は、それぞれ独立して、炭素数1以上10以下のアルキレン基、炭素数4以上14以下のアリーレン基又はそれらの組み合わせを表し、
nは、0~2の整数を表す。]
から選択される少なくとも1種である、請求項2に記載の多孔質体。 - R a で表される2級アミノ基が、式:-NHR 1 で表され、
R a で表される3級アミノ基が、式:-NR 1 R 2 で表され、
R a で表される4級アンモニウム基が、式:-N + R 1 R 2 R 3 で表され、
R 1 、R 2 及びR 3 が、それぞれ独立して、炭素数1以上10以下のアルキル基を表す、請求項6に記載の多孔質体。 - R a が、1級アミノ基を表し、
n個のR b が、それぞれ独立して、炭素数1以上6以下のアルキル基を表し、
(3-n)個のR c が、それぞれ独立して、炭素数1以上6以下のアルコキシ基を表し、
R d 、R e 及びR f が、それぞれ独立して、炭素数1以上6以下のアルキレン基を表し、
前記ポリアルキレンイミンの重量平均分子量が146以上5000以下である、請求項6に記載の多孔質体。 - 前記窒素原子含有基の量が、1.5mmol/g以上4.5mmol/g以下である、請求項8に記載の多孔質体。
- 前記窒素原子含有基による修飾前の前記マクロ孔の最頻細孔径が0.20μm以上4.0μm以下であり、前記窒素原子含有基による修飾前の前記メソ孔の最頻細孔径が2.0nm以上50nm以下である、請求項1~9に記載の多孔質体。
- 前記窒素原子含有基による修飾前の前記メソ孔の最頻細孔径に対する、前記窒素原子含有基による修飾前の前記マクロ孔の最頻細孔径の比が15以上200以下である、請求項1~10のいずれか一項に記載の多孔質体。
- 前記セラミックス骨格が、ケイ素、アルミニウム、スズ、セリウム、チタン及びジルコニウムから選択される元素を含む、請求項1~11のいずれか一項に記載の多孔質体。
- 前記セラミックス骨格を構成するセラミックスが、ケイ素、アルミニウム、スズ、セリウム、チタン及びジルコニウムから選択される元素を含む酸化物セラミックスである、請求項12に記載の多孔質体。
- 前記金属が遷移金属であり、前記金属イオンが遷移金属イオンである、請求項1~13のいずれか一項に記載の多孔質体。
- 請求項1~14のいずれか一項に記載の多孔質体を含む吸着材。
- 金属及び/又は金属イオンを含む溶液から前記金属及び/又は前記金属イオンを除去する方法であって、
前記溶液と請求項15に記載の吸着材とを接触させる工程を含む、方法。
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