JP7098474B2 - 非接触式変位計 - Google Patents
非接触式変位計 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7098474B2 JP7098474B2 JP2018148386A JP2018148386A JP7098474B2 JP 7098474 B2 JP7098474 B2 JP 7098474B2 JP 2018148386 A JP2018148386 A JP 2018148386A JP 2018148386 A JP2018148386 A JP 2018148386A JP 7098474 B2 JP7098474 B2 JP 7098474B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- measurement
- unit
- lens
- optical path
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 title claims description 88
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 246
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 134
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 99
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 84
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 40
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 32
- 238000000034 method Methods 0.000 description 23
- 230000008859 change Effects 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 10
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 7
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 6
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 6
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 6
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 6
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 5
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 3
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 3
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 3
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 1
- 239000000806 elastomer Substances 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01F—MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
- G01F23/00—Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm
- G01F23/22—Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm by measuring physical variables, other than linear dimensions, pressure or weight, dependent on the level to be measured, e.g. by difference of heat transfer of steam or water
- G01F23/28—Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm by measuring physical variables, other than linear dimensions, pressure or weight, dependent on the level to be measured, e.g. by difference of heat transfer of steam or water by measuring the variations of parameters of electromagnetic or acoustic waves applied directly to the liquid or fluent solid material
- G01F23/284—Electromagnetic waves
- G01F23/292—Light, e.g. infrared or ultraviolet
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/026—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/20—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle
- G01J1/28—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using variation of intensity or distance of source
- G01J1/30—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using variation of intensity or distance of source using electric radiation detectors
- G01J1/32—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using variation of intensity or distance of source using electric radiation detectors adapted for automatic variation of the measured or reference value
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Thermal Sciences (AREA)
- Fluid Mechanics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
一方、クロマティックポイントセンサは、白色共焦点方式を利用しており、白色光源を軸上色収差によって分散させることで、波長毎の合焦位置を変化させる。そして、波長毎の強度プロファイルを分析することで、測定対象物の表面で合焦した波長光を検出し、当該波長光に基づいて測定対象物の表面までの距離を求める(例えば特許文献2参照)。
レンズシステムは、圧電材料で形成された円筒状の振動部材を、透明な液体に浸漬して形成される。レンズシステムにおいて、振動部材の内周面と外周面とに交流電圧を印加すると、振動部材が厚み方向に伸縮し、振動部材の内側の液体を振動させる。液体の固有振動数に応じて印加電圧の周波数を調整することで、液体には同心円状の定在波が形成され、振動部材の中心軸線を中心として屈折率が異なる同心円状の領域が形成される。このため、レンズシステムにおいて、振動部材の中心軸線に沿って光を通せば、この光は同心円状の領域ごとの屈折率に従って、発散または収束する経路を辿ることになる。
通常の対物レンズに平行光を入射させると、レンズを通過した光は所定の焦点距離にある焦点位置に焦点を結ぶ。これに対し、対物レンズと同軸に配置されたレンズシステムに平行光を入射させると、この光はレンズシステムで発散または収束され、対物レンズを通過した光は元の(レンズシステムがなかった状態の)焦点位置よりも遠くまたは近くにずれた位置に焦点を結ぶ。
従って、焦点距離可変レンズにおいては、レンズシステムに入力される駆動信号(内部の液体に定在波を発生させる周波数の交流電圧)を印加し、この駆動信号の振幅を増減させることで、焦点距離可変レンズとしての焦点位置を一定の範囲内(対物レンズの焦点距離を基準としてレンズシステムにより増減できる所定の変化幅)で任意に制御することができる。
レーザ変位計では、対物レンズを駆動するレンズ駆動機構およびレンズ駆動機構の駆動量を測定するためのスケールが必須になり、その構造が複雑化してしまう。一方、クロマティックポイントセンサでは、レンズ駆動機構やスケールが必須でないものの、波長毎の強度プロファイルを分析するために、データ処理量が多くなる。
合焦タイミング算出部は、受光信号に基づき、測定光が測定対象物の表面で合焦した測定側合焦タイミング、参照光が第1参照部で合焦した第1参照側合焦タイミング、および、参照光が第2参照部で合焦した第2参照側合焦タイミングを算出する。
なお、測定側合焦タイミングおよび参照側合焦タイミングのそれぞれを求める方法は、共焦点法、ダブルピンホール法、非点収差法、ナイフエッジ法など、様々な焦点検出法を利用することができる。例えば、測定側合焦タイミングを求めるために共焦点法を利用する場合、液体レンズユニット、測定側対物レンズおよび受光部は、測定側焦点距離可変レンズによる合焦位置が測定対象物の表面に一致しているときに受光信号がピークとなるような光学系を構成する。これにより、合焦タイミング算出部は、測定光に起因する受光信号のピーク時刻を測定側合焦タイミングとして算出することができる。第1参照側合焦タイミングおよび第2参照側合焦タイミングを求める方法も同様である。
位置算出部は、駆動信号の周期に対する測定側合焦タイミングの位相および屈折率特性に基づいて、測定対象物の位置を算出する。すなわち、測定側合焦タイミングの位相に対応する測定対象物の位置を算出する際、屈折率特性に応じた補正を行うことにより、正確な測定対象物の位置を算出できる。
さらに、本発明では、液体レンズユニットが参照側対物レンズと共に参照側焦点距離可変レンズも構成しており、参照光に起因する受光信号を用いて、液体レンズユニットの屈折率特性を算出できる。このため、測定対象物の位置を算出する際、屈折率特性の変化に応じた補正を行うことにより、時間の経過や温度等の環境変化による影響を低減することができる(ロバスト性の向上)。
従って、本発明によれば、構成および処理を簡潔化でき、かつ、測定精度を向上させた非接触式変位計が提供される。
本発明では、複雑な演算を行わずとも、液体レンズユニットの屈折率特性および測定側合焦タイミングの位相を簡単に求めることができる。
本発明では、部分反射ミラーおよび反射ミラーを利用することにより、第1参照面と第2参照面との間の光路長、すなわち特性算出部が利用する光路長差を正確に設定することが容易である。
本発明では、第1光ファイバおよび第2光ファイバを利用することにより、ミラー等の光学部品を省略できるため、低コスト化が可能である。
本発明では、測定光に起因する受光信号と参照光に起因する受光信号とを容易に区別することができるため、信号処理部による演算が簡易化される。
〔第1実施形態〕
(非接触式変位計)
図1に示すように、非接触式変位計1は、周期的に屈折率が変化する液体レンズユニット2を含んで構成され、液体レンズユニット2を通る光軸OA1に交差して配置された測定対象物Wの表面の変位を測定するものである。また、非接触式変位計1は、液体レンズユニット2の特性を測定しながら測定対象物Wの表面の変位を測定するように構成され、測定対象物Wの測定結果に対する液体レンズユニット2の特性変化の影響を抑制している。
また、非接触式変位計1は、液体レンズユニット2の特性を測定するための参照系5を有し、当該参照系5は、参照光を出射する参照光源51と、参照光の光路を形成する光学系(コリメートレンズ52、導光部6および光分離部53,54)と、液体レンズユニット2と共に参照側焦点距離可変レンズ102を構成する参照側対物レンズ55と、参照側対物レンズ55を通過した参照光が入射される参照光路部7と、参照光路部7を経由した参照光を受光する参照光受光部56と、を備えている。
なお、測定光源31および参照光源51は、本発明の光源に相当するものであり、測定光受光部34および参照光受光部56は、本発明の受光部に相当するものである。
液体レンズユニット2および測定側対物レンズ33の組み合わせである測定側焦点距離可変レンズ101による合焦位置Pf1は、測定側対物レンズ33の焦点位置を基本としつつ、液体レンズユニット2の屈折率を変化させることで任意に変化させることができる。
一方、液体レンズユニット2および参照側対物レンズ55の組み合わせである参照側焦点距離可変レンズ102による合焦位置Pf2は、参照側対物レンズ55の焦点位置を基本としつつ、液体レンズユニット2の屈折率を変化させることで任意に変化させることができる。
図2を参照して、液体レンズユニット2および当該液体レンズユニット2を含んで構成される測定側焦点距離可変レンズ101について説明する。
図2において、液体レンズユニット2は、円筒形のケース21を有し、ケース21の内部には円筒状の振動部材22が設置されている。振動部材22は、その外周面23とケース21の内周面24との間に介装されたエラストマ製のスペーサ29で支持されている。
振動部材22は、圧電材料を円筒状に形成したものであり、外周面23と内周面24との間に駆動信号Cfの交流電圧が印加されることで、厚み方向に振動する。
ケース21の内部には、透過性の高い液体25が充填されており、振動部材22は全体を液体25に浸漬され、円筒状の振動部材22の内側は液体25で満たされている。駆動信号Cfの交流電圧は、振動部材22の内側にある液体25に定在波を発生させる周波数に調整されている。
このとき、液体レンズユニット2の中心軸線からの距離(半径)と液体25の屈折率との関係は、図3(C)部に示す屈折率分布Rのようになる。
図4(A)の状態では、屈折率分布Rの振れ幅が最大となり、液体レンズユニット2は通過する光を収束させ、合焦位置Pf1は測定側対物レンズ33に最も近くなっている。
図4(B)の状態では、屈折率分布Rが平坦となり、液体レンズユニット2は通過する光をそのまま通過させ、合焦位置Pf1は標準的な値となっている。
図4(C)の状態では、屈折率分布Rが図4(A)と逆極性で振れ幅が最大となり、液体レンズユニット2は通過する光を拡散させ、合焦位置Pf1は測定側対物レンズ33から最も遠くなっている。
図4(D)の状態では、再び屈折率分布Rが平坦となり、液体レンズユニット2は通過する光をそのまま通過させ、合焦位置Pf1は標準的な値となっている。
図4(E)の状態では、再び図4(A)の状態に戻っており、以下同様の変動を繰り返すことになる。
また、上述では測定側焦点距離可変レンズ101について説明したが、参照側焦点距離可変レンズ102についても同様の説明を適用できる。
図1を再び参照して、非接触式変位計1における測定系3の各構成について説明する。
測定光源31は、例えばレーザ光源等であり、測定光を出射する。
導光部4は、ファイバスプリッタ41および光ファイバ42~44を有する。ファイバスプリッタ41は、光ファイバ42~44のそれぞれの一端部が接合される光路を有しており、光ファイバ42から入射される光を光ファイバ43に導き、光ファイバ43から入射される光を光ファイバ44に導くように構成されている。
また、光ファイバ44の他端部は、測定光受光部34に接続されている。このため、光ファイバ43の端面43eに入射された測定光は、光ファイバ43、ファイバスプリッタ41および光ファイバ44を経由して測定光受光部34に入射される。
ここで、光ファイバ43の端面43eは、コリメートレンズ32の後側焦点に配置されている。すなわち、光ファイバ43の端面43eは、光軸OA1上において、測定側焦点距離可変レンズ101による合焦位置Pf1に対して共役関係を成す位置に配置されている。
なお、測定側対物レンズ33は、他の構成と一体化されておらず、倍率の異なる別個の測定側対物レンズ33に切り替え可能に構成されている。
ここで、測定側焦点距離可変レンズ101による合焦位置Pf1は、光軸OA1上で周期的に変化するものである。このため、合焦位置Pf1が測定対象物Wの表面に一致しているときのみ、当該表面で反射した測定光が、コリメートレンズ32の後側焦点にスポットを形成し、光ファイバ43の端面43eに入射される。
よって、測定光受光部34に入射される測定光は、合焦位置Pf1が測定対象物Wの表面に一致しているときに極大化する。すなわち、測定光受光部34が出力する受光信号Smは、合焦位置Pf1が測定対象物Wの表面に一致したときにピークを示す。
図1を参照して、非接触式変位計1における参照系5の各構成について説明する。
参照光源51は、例えばレーザ光源等であり、測定光とは波長の異なる参照光を出射する。
導光部6は、ファイバスプリッタ61および光ファイバ62~64を有する。ファイバスプリッタ61は、光ファイバ62~64のそれぞれの一端部が接合される光路を有しており、光ファイバ62から入射される光を光ファイバ63に導き、光ファイバ63から入射される光を光ファイバ64に導くように構成されている。
また、光ファイバ64の他端部は、参照光受光部56に接続されている。このため、光ファイバ63の端面63eに入射された測定光は、光ファイバ63、ファイバスプリッタ61および光ファイバ64を経由して参照光受光部56に入射される。
ここで、光ファイバ63の端面63eは、光軸OA2上におけるコリメートレンズ52の後側焦点に配置されている。すなわち、光ファイバ63の端面63eは、参照側焦点距離可変レンズ102による合焦位置Pf2に対して共役関係を成す位置に配置されている。
第1参照面71sおよび第2参照面72sの間の光路長、すなわち、参照側対物レンズ55から第1参照面71sまでの光路長と参照側対物レンズ55から第2参照面72sまでの光路長との差である光路長差Lには、既知の値が設定されている。
なお、第1参照面71sおよび第2参照面72sの各位置は、参照側焦点距離可変レンズ102による合焦位置Pf2の可変範囲VR2内であれば、任意の位置に設定可能である。
参照光路部7に入射された参照光は、第1参照面71sで反射される第1の参照光と、第1参照面71sを透過した後に第2参照面72sで反射される第2の参照光とに分離する。第1参照面71sまたは第2参照面72sで反射された第1および第2の参照光は、逆の径路をたどった後、コリメートレンズ52により集光される。
ここで、参照側焦点距離可変レンズ102による合焦位置Pf2は、光軸OA3方向に周期的に変化するものである。このため、合焦位置Pf2が第1参照面71sおよび第2参照面72sのいずれかの参照面に一致しているときのみ、当該参照面で反射された第1または第2の参照光が、コリメートレンズ52の後側焦点にスポットを形成し、光ファイバ63の端面63eに入射される。
よって、参照光受光部56に入射される参照光は、合焦位置Pf2が第1参照面71sおよび第2参照面72sのいずれか一方に一致しているときに極大化する。すなわち、参照光受光部56が出力する受光信号Srは、合焦位置Pf2が第1参照面71sおよび第2参照面72sのいずれか一方に一致しているときにピークを示す。
図5に示すように、レンズ制御部8は、液体レンズユニット2の動作を制御する制御ユニットとして構成され、液体レンズユニット2に対して正弦波状の駆動信号Cfを出力する駆動信号出力部81を有する。
また、レンズ制御部8は、制御部9に対して駆動信号Cfの周期に同期したパルス状の基準信号Scを出力する基準信号出力部82を有する。駆動信号Cfの周期に対する基準信号Scの出力タイミングは、任意に設定可能であるが、本実施形態では、駆動信号Cfが0レベルに交差する2回に1回のタイミング(例えば図7では合焦位置Pf1の変動波形Mf1が正のピークになるタイミング)で基準信号Scが立ち上がる。
制御部9は、例えばCPU(Central Precessing Unit)およびメモリ等を有するパーソナルコンピュータ等により構成される。制御部9は、所定のソフトウェアを実行することで所期の機能が実現されるものであり、レンズ制御部8の設定を行うレンズ設定部91と、入力される各種信号の処理を行う信号処理部92とを有する。また、制御部9は、メモリ等により構成される記憶部93を有する。
なお、液体レンズユニット2は、周囲温度の変化等により共振変化数が変化する。このため、レンズ設定部91は、フィードバック制御により駆動信号Cfの周波数をリアルタイムに変化させ、液体レンズユニット2の安定した動作を実現する。
図7,図8に示すように、液体レンズユニット2に正弦波状の駆動信号Cfが入力されると、駆動信号Cfの周期に同期し、基準信号Scがパルス状に出力される。
また、液体レンズユニット2に正弦波状の駆動信号Cfが入力されると、液体レンズユニット2の屈折率が周期的に変化することにより、各焦点距離可変レンズ101,102による合焦位置Pf1,Pf2は、駆動信号Cfに同期して周期的に変化する。
ここで、基準信号Scの立ち上がり時刻から、1回目および2回目の受光信号Smの各ピーク時刻(測定側合焦タイミングTm)までの時間を、遅延時間Δtm1,Δtm2とする。
なお、本実施形態では、遅延時間Δtm1,Δtm2の一方の値(例えばΔtm1)を用いた処理を行うが、後述する変形例では遅延時間Δtm1,Δtm2の両方を用いてもよい。
ここで、基準信号Scの立ち上がり時刻から1~4回目の受光信号Srの各ピーク時刻までの時間を、遅延時間Δtr1,Δtr2,Δtr3,Δtr4とする。
なお、1回目,4回目の受光信号Srの各ピーク時刻は、合焦位置Pf2が第1参照面71sに一致した参照側合焦タイミングTr(第1参照側合焦タイミング)に相当する。また、2回目,3回目の受光信号Srの各ピーク時刻は、合焦位置Pf2が第2参照面72sに一致した参照側合焦タイミングTr(第2参照側合焦タイミング)に相当する。
液体レンズユニット2が、時間の経過や温度変化等の影響を受けることにより、その屈折率特性が変化し、焦点距離可変レンズ101,102による各合焦位置Pf1,Pf2の可変範囲VR1,VR2などが変化する。このような場合、合焦位置Pf1,Pf2の変動波形Mf1,Mf2は、それぞれ、駆動信号Cfから計算される理想的な波形から変化する。
ここで、受光信号Srの遅延時間Δtr1,Δtr2,Δtr3,Δtr4、参照側対物レンズ55に対する第1参照面71sと第2参照面72sとの間の光路長差L、および、駆動信号Cfの周波数νを用いると、変動波形Mf2の振幅A、偏りBおよび位相遅れΦdは、以下の式(1)~(4)により表わされる。
L/2=B+Acos(2πνΔtr1+Φd) ・・・式(1)
-L/2=B+Acos(2πνΔtr2+Φd) ・・・式(2)
-L/2=B+Acos(2πνΔtr3+Φd) ・・・式(3)
L/2=B+Acos(2πνΔtr4+Φd) ・・・式(4)
A=L/{cos[πν(Δtr3-Δtr2)]-cos[πν(Δtr4-Δtr1)]}
・・・式(5)
B=(L/2){cos[πν(Δtr3-Δtr2)]+cos[πν(Δtr4-Δtr1)]}
/{cos[πν(Δtr3-Δtr2)]-cos[πν(Δtr4-Δtr1)]} ・・・式(6)
Φd=π[1-ν(Δtr1+Δtr4)] ・・・式(7)
Φd=π[1-ν(Δtr2+Δtr3)] ・・・式(8)
次に、非接触式変位計1の測定動作中における信号処理部92の信号処理について説明する。信号処理部92は、非接触式変位計1の測定動作開始後、図7,図8に示すような基準信号Scおよび受光信号Sm,Srを取得する。
Φmp1=2πνΔtm1 ・・・(式9)
Φm1=Φmp1-Φd ・・・(式10)
Zcalc=(Fm/Fr)(B+AcosΦm1) ・・・(式11)
具体的には、位置算出部924は、測定対象物位置Zcalcを間に挟む2つの測定対象物位置Zkと、当該測定対象物位置Zkに対応する測定対象物位置Zcalc,kとに基づき、線形二乗法などを利用して、測定対象物位置Zcalcに対応する測定対象物位置Zを算出する。
校正テーブル94の作成方法について説明する。校正テーブル94は、上述した変位測定を実施する前に、非接触式変位計1を用いて作成しておく。
まず、測定対象物Wの替わりにターゲットを配置し、干渉計等を用いてターゲットを光軸方向の複数の位置Zk(k=1~n)に高精度に順に位置決めする。ターゲットが位置決めされた状態で、非接触式変位計1により上述した測定を実施することにより、測定対象物位置Zcalc,kが算出される。
そして、高精度に位置決めしたターゲットの位置Zkを表す値である測定対象物位置Zkと、演算値である測定対象物位置Zcalc,kとを互いに関連付けて記憶部93に記憶させる。
以上により、図10に示すような校正テーブル94が作成される。
本実施形態では、液体レンズユニット2および測定側対物レンズ33によって測定側焦点距離可変レンズ101が構成されるため、従来のレーザ変位計で必須の構成であるレンズ駆動機構およびスケールを用いる必要がない。また、受光信号Smを用いて、測定対象物位置Zcalcを算出できるため、従来のクロマティックポイントセンサで行うような多量のデータ処理を行わないで済む。
さらに、本実施形態では、測定側焦点距離可変レンズ101を構成している液体レンズユニット2が、参照側対物レンズ55と共に参照側焦点距離可変レンズ102も構成しており、参照光による受光信号Srを用いて、液体レンズユニット2の屈折率特性を算出している。このため、屈折率特性の変化に応じた補正を行うことにより、測定結果が時間の経過や温度等の環境変化によって変化することを抑制できる(ロバスト性の向上)。
従って、本実施形態によれば、構成および処理を簡潔化でき、かつ、測定精度を向上させた非接触式変位計1が提供される。
具体的には、従来技術において、レーザ変位計では、対物レンズがレンズ駆動機構に組み込まれており、クロマティックポイントセンサでは、対物レンズが白色光を軸上色収差によって分散させる特殊レンズ群と共にモジュール化されている。このため、レーザ変位計およびクロマティックポイントセンサでは、対物レンズのみを倍率の異なる別個のものに交換することは困難であり、異なる測定範囲および分解能で測定するためには、別個の装置を準備することが必要であった。
これに対して、本実施形態の非接触式変位計1では、従来技術のように測定側対物レンズ33を他の構成と一体化する必要がないため、測定側対物レンズ33を倍率の異なる別個の測定側対物レンズ33に切り替え可能な構成とすることが容易である。
また、光ファイバ43,63を利用することにより、熱源となる光源(測定光源31,参照光源51)や受光部(測定光受光部34,参照光受光部56)を測定ヘッドとなる部分から離れて配置でき、測定への熱影響を低減できる。
さらに、光ファイバ43の端面43eおよび光ファイバ63の端面63eのそれぞれは、共焦点光学系の点光源および検出用ピンホールの両方の役割を果たしているため、製造時の調整工数を大幅に低減することができる。
上述した第1実施形態では、測定側合焦タイミングTmの遅延時間Δtm1を用いて、上記式(9)および式(10)の演算を行うことにより、測定側合焦タイミングTmの位相Φm1を算出しているが、これに限られない。
例えば、測定側合焦タイミングTmの遅延時間Δtm2を用いて、上記式(9)および式(10)と同様の演算を行うことにより、測定側合焦タイミングTmの位相Φm2を算出してもよい。
Φm1=π[1-ν(Δtm2-Δtm1)] ・・・式(12)
この方法によれば、第1実施形態における演算工程を一部省略できるため、演算時間の短縮による測定の高速化を図ることができる。
なお、式(12)において、「Δtm2-Δtm1」は、駆動信号Cfの1周期中に現れる2つの測定側合焦タイミングTmの時間差に相当する。このため、測定側合焦タイミングTmの遅延時間Δtm1,Δtm2を計測する替わりに、当該時間差を直接計測してもよい。
同様に、測定側合焦タイミングTmの遅延時間Δtm1,Δtm2に基づいて、測定側合焦タイミングTmの位相Φm1を算出しているが、本発明はこれに限られず、駆動信号Cfが示す正弦波に基づいて演算等により求めてもよい。
第2実施形態の非接触式変位計1Aについて、図11を参照して説明する。なお、第2実施形態において、第1実施形態と同様の構成には同一の符号を付し、その詳細な説明については省略する。
図11に示すように、非接触式変位計1Aでは、測定系3および参照系5のそれぞれにおいて、ピンホール式の共焦点光学系が構成されている。具体的には、非接触式変位計1Aは、第1実施形態の導光部4に替えて、ビームスプリッタ45およびピンホール部材46,47を備えている。また、非接触式変位計1Aは、第1実施形態の導光部6に替えて、ビームスプリッタ65およびピンホール部材66,67を備えている。
ピンホール部材46は、ビームスプリッタ45と測定光源31との間に配置されている。測定光源31は、ピンホール部材46のピンホールを介して測定光を出射することにより、当該ピンホールは点光源となる。
ピンホール部材47は、ビームスプリッタ45と測定光受光部34との間に配置され、コリメートレンズ32の後側焦点に配置されたピンホールを有している。測定対象物Wの表面で合焦して反射された測定光は、ピンホール部材47のピンホールを通過した後、測定光受光部34に入射される。
ピンホール部材66は、ビームスプリッタ65と参照光源51との間に配置されている。参照光源51は、ピンホール部材66のピンホールを介して参照光を出射することにより、当該ピンホールは点光源となる。
ピンホール部材67は、ビームスプリッタ65と参照光受光部56との間に配置され、コリメートレンズ52の後側焦点に配置されたピンホールを有している。測定対象物Wの表面で合焦して反射された参照光は、ピンホール部材67のピンホールを通過した後、参照光受光部56に入射される。
また、非接触式変位計1Aによれば、第1実施形態の光ファイバ42~44,62~64が省略されるため、これらの光ファイバを取りまわすためのスペースを必要とせず、非接触式変位計1A全体のコンパクト化を図ることができる。
第3実施形態の非接触式変位計1Bについて、図12を参照して説明する。なお、第3実施形態において、第1実施形態と同様の構成には同一の符号を付し、その詳細な説明については省略する。
具体的には、参照光路部7Bは、参照光を分離させる参照光路分離部73と、参照光路分離部73に分離された第1の参照光が向かう先に配置された光ファイバ74(第1光ファイバ)と、参照光路分離部73に分離された第2の参照光が向かう先に配置された光ファイバ75(第2光ファイバ)とを備える。
本実施形態では、参照側対物レンズ55から第1参照端面74eまでの光路長と参照側対物レンズ55から第2参照端面75eまでの光路長との差である光路長差Lが、既知の値に設定されている。
なお、光路長差Lは、参照光路分離部73から光ファイバ74の第1参照端面74eまでの光軸OA3上の距離Laと、参照光路分離部73から光ファイバ75の第2参照端面75eまでの光軸OA4上の距離Lbとの差をとった長さとなる。
ここで、参照側焦点距離可変レンズ102による合焦位置Pf2は、光軸OA3上および光軸OA4上のそれぞれで周期的に変化するものである。このため、合焦位置Pf2が第1参照端面74eに一致しているとき、集光された第1の参照光が第1参照端面74eに入射され、光ファイバ74,76を介して参照光受光部56に入射される。一方、合焦位置Pf2が第2参照端面75eに一致しているとき、集光された第2の参照光が第2参照端面75eに入射され、光ファイバ75,76を介して参照光受光部56に入射される。
よって、参照光受光部56に入射される参照光は、合焦位置Pf2が第1参照端面74eおよび第2参照端面75eのいずれか一方に一致しているときに極大化する。すなわち、参照光受光部56が出力する受光信号Smは、合焦位置Pf2が第1参照端面74eおよび第2参照端面75eのいずれか一方に一致しているときにピークを示す。
具体的には、導光部6Bは、一端部が参照光源51に接続された光ファイバ68を有する。参照光源51から出射された参照光は、光ファイバ68を経由して、光ファイバ68の他端部の端面68eから出射する。すなわち、光ファイバ68の端面68eは、参照光の点光源として機能する。
なお、光ファイバ68の端面68eは、参照光を受光することがないため、光軸OA2上における任意の位置に配置できる。
また、非接触式変位計1Bによれば、第1実施形態の部分反射ミラー71および反射ミラー72を省略できるため、光学部品の点数削減による低コスト化が可能である。
第3実施形態の参照光路部7Bは、光ファイバ74,75に替えて、光軸OA3,OA4上にそれぞれ配置されたピンホール部材と、各ピンホール部材の後側にそれぞれ配置された参照光受光部と、を備えてもよい。この場合、各ピンホール部材のピンホールが、本発明の第1参照部および第2参照部にそれぞれ相当する。
また、導光部4,6Bは、第2実施形態と同様、ピンホール部材を利用した構成に置き換えてもよい。
第4実施形態の非接触式変位計1Cについて、図13を参照して説明する。なお、第4実施形態において、第1実施形態と同様の構成には同一の符号を付し、その詳細な説明については省略する。
図13に示すように、非接触式変位計1Cでは、測定系3および参照系5のそれぞれにおいて、コリメートレンズ32,52が省略されており、有限補正光学系が構成されている。
このように構成された測定系3では、測定対象物Wで反射された測定光は、測定側対物レンズ33によって結像される。また、光ファイバ43の端面43eは、第1実施形態のようにコリメートレンズ32の後側焦点に配置されるのではなく、測定側対物レンズ33の後側焦点よりも後ろ側に、測定側対物レンズ33の焦点距離に結像倍率を乗じた距離だけ離れた位置に配置される。
一方、参照系5では、第1参照面71sおよび第2参照面72sのいずれか一方で反射された参照光は、参照側対物レンズ55によって結像される。また、光ファイバ63の端面63eは、第1実施形態のようにコリメートレンズ52の後側焦点に配置されるのではなく、参照側対物レンズ55の後側焦点よりも後ろ側に、参照側対物レンズ55の焦点距離に結像倍率を乗じた距離だけ離れた位置に配置される。
また、非接触式変位計1Cでは、第1実施形態のコリメートレンズ32,52が省略されることによるコストダウンを図ることができる。
第4実施形態では、測定系3および参照系5のそれぞれにおいて、有限補正光学系が構成されているが、いずれか一方において有限補正光学系が構成され、他方において第1実施形態のような無限補正光学系(コリメートレンズ32または52を含む)が構成されてもよい。
第5実施形態の非接触式変位計1Dについて、図14を参照して説明する。なお、第5実施形態において、第1実施形態と同様の構成には同一の符号を付し、その詳細な説明については省略する。
図14に示すように、非接触式変位計1Dでは、測定系3および参照系5において、光源35および受光部36を共有している。
具体的には、非接触式変位計1Dでは、第1実施形態の参照光源51、コリメートレンズ52、光分離部53、参照光受光部56および導光部6が省略されている。そして、第1実施形態の測定光源31および測定光受光部34が、測定系3および参照系5において共用の光源35および受光部36として構成されている。
光分離部54を透過した測定光は、第1実施形態と同様、測定対象物Wに照射され、逆の径路をたどった後、コリメートレンズ32により集光される。ここで、合焦位置Pf1が測定対象物Wの表面に一致しているときに測定対象物Wで反射された測定光が、光ファイバ43の端面43eに入射され、導光部4を介して受光部36に入射される。
一方、光分離部54に反射された参照光は、第1実施形態と同様、参照光路部7に入射される。そして、第1参照面71sまたは第2参照面72sで反射された参照光は、逆の径路をたどった後、コリメートレンズ32により集光される。ここで、合焦位置Pf2が第1参照面71sおよび第2参照面72sのいずれかの参照面に一致しているときに、当該参照面で反射された参照光が、光ファイバ43の端面43eに入射され、導光部4を介して受光部36に入射される。
よって、受光部36が出力する受光信号Smrは、合焦位置Pf1が測定対象物Wの表面に一致しているとき、ならびに、合焦位置Pf2が第1参照面71sおよび第2参照面72sのいずれか一方に一致しているときにピークを示す。
合焦タイミング算出部921は、受光部36が出力する受光信号Smrに基づき、受光信号Smrのピーク時刻を合焦タイミングTmrとして求める。
遅延時間算出部922は、算出された合焦タイミングTmrと基準信号Scとに基づいて、合焦タイミングTmrの遅延時間Δt1~Δt6を算出する。なお、遅延時間算出部922は、クロック信号等を用いてもよい。
よって、特性算出部923および位置算出部924は、駆動信号Cfの1周期中の合焦タイミングTmrの順番に基づいて、第1実施形態の遅延時間Δtm1,Δtm2,Δtr1,Δtr2,Δtr3,Δtr4を、これらに対応する遅延時間Δt1~Δt6に置き換えて扱う。
なお、第1実施形態の遅延時間Δtm1,Δtm2,Δtr1,Δtr2,Δtr3,Δtr4と、図15に示す遅延時間Δt1~Δt6との対応関係は、以下のようになるが、基準信号Scの位相に応じて変更されてもよい。
Δtm1→Δt2
Δtm2→Δt5
Δtr1→Δt1
Δtr2→Δt3
Δtr3→Δt4
Δtr4→Δt6
また、非接触式変位計1Dによれば、測定系3および参照系5において光源35および受光部36を共有するため、大幅な低コスト化を図ることができる。
本発明は、前述の各実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は、本発明に含まれる。例えば、上述した各実施形態の構成は、他の実施形態の構成と組み合わせてもよい。
液体レンズユニット2の具体的構成は、適宜変更してよく、ケース21および振動部材22は円筒状のほか六角筒状などであってもよく、これらの寸法や、液体25の属性も適宜選択することができる。
例えば、非接触式変位計1,1A~1Dが、測定系3において、ダブルピンホール形式による光学系を構成する場合、合焦位置Pf1と共役関係を成す集光位置の前後にそれぞれ受光部を設け、各受光部から出力される受光信号に基づいて演算を行うことにより、測定側合焦タイミングTmを求めることができる。参照系5において参照側合焦タイミングTrを求める場合も同様である。
なお、共焦点法では、各合焦タイミングTm,Tr,Tmrを求めるために受光信号Sm,Sr,Smrのピーク位置を検出する必要があり、この検出のための演算が複雑であるが、ダブルピンホール法、非点収差法、ナイフエッジ法は、共焦点法に比べて、各合焦タイミングTm,Tr,Tmrを求めるために要する演算が簡潔である。このため、これらの方法を採用することにより、演算時間を短縮し、測定の高速化を図ってもよい。
Claims (5)
- 光を出射する光源と、
入力される駆動信号に応じて屈折率が周期的に変化する液体レンズユニットと、
前記光源から出射されて前記液体レンズユニットを通過した光を測定光および参照光に分離させる光分離部と、
前記光分離部により分離された前記測定光を測定対象物に照射させる測定側対物レンズと、
前記光分離部により分離された前記参照光が入射される参照側対物レンズと、
前記参照側対物レンズからの光路長が互いに異なる第1参照部および第2参照部を有し、前記参照側対物レンズを透過した前記参照光を前記第1参照部および前記第2参照部のそれぞれに入射させる参照光路部と、
前記測定対象物で反射された前記測定光および前記参照光路部を経由した前記参照光を受光して受光信号を出力する受光部と、
前記受光信号に基づいて、前記測定光が前記測定対象物の表面で合焦した測定側合焦タイミング、前記参照光が前記第1参照部で合焦した第1参照側合焦タイミング、および、前記参照光が前記第2参照部で合焦した第2参照側合焦タイミングを算出する合焦タイミング算出部と、
前記第1参照側合焦タイミング、前記第2参照側合焦タイミング、および、前記参照側対物レンズから前記第1参照部までの光路長と前記参照側対物レンズから前記第2参照部までの光路長との差である光路長差に基づいて、前記液体レンズユニットの屈折率特性を算出する特性算出部と、
前記駆動信号の周期に対する前記測定側合焦タイミングの位相および前記屈折率特性に基づいて、前記測定対象物の位置を算出する位置算出部と、を備えることを特徴とする非接触式変位計。 - 請求項1に記載の非接触式変位計において、
前記駆動信号に同期した基準信号を出力する基準信号出力部をさらに備え、
前記特性算出部は、前記基準信号に対する前記第1参照側合焦タイミングの遅延時間および前記基準信号に対する前記第2参照側合焦タイミングの遅延時間に基づいて、前記液体レンズユニットの前記屈折率特性を算出し、
前記位置算出部は、前記基準信号に対する前記測定側合焦タイミングの遅延時間に基づいて、前記測定側合焦タイミングの位相を算出することを特徴とする非接触式変位計。 - 請求項1または請求項2に記載の非接触式変位計において、
前記参照光路部は、
前記参照光の一部が反射される第1参照面を、前記第1参照部として有する部分反射ミラーと、
前記第1参照面を透過した前記参照光が反射される第2参照面を、前記第2参照部として有する反射ミラーと、を備えることを特徴とする非接触式変位計。 - 請求項1または請求項2に記載の非接触式変位計において、
前記参照光路部は、
前記参照側対物レンズを通過した前記参照光を分離させる参照光路分離部と、
前記参照光路分離部により分離された第1の前記参照光が入射される第1参照端面を、前記第1参照部として有する第1光ファイバと、
前記参照光路分離部により分離された第2の前記参照光が入射される第2参照端面を、前記第2参照部として有する第2光ファイバと、を備えることを特徴とする非接触式変位計。 - 請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の非接触式変位計において、
前記光源は、前記測定光を出射する測定光源と、前記参照光を出射する参照光源とを有し、
前記受光部は、前記測定対象物で反射された前記測定光を受光して、前記測定光に起因する前記受光信号を出力する測定光受光部と、前記参照光路部を経由した前記参照光を受光して、前記参照光に起因する前記受光信号を出力する参照光受光部と、を有することを特徴とする非接触式変位計。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018148386A JP7098474B2 (ja) | 2018-08-07 | 2018-08-07 | 非接触式変位計 |
US16/527,486 US10948334B2 (en) | 2018-08-07 | 2019-07-31 | Non-contact displacement sensor |
CN201910706108.5A CN110823091B (zh) | 2018-08-07 | 2019-08-01 | 非接触式位移传感器 |
DE102019121197.2A DE102019121197A1 (de) | 2018-08-07 | 2019-08-06 | Nicht-kontakt-verlagerungssensor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018148386A JP7098474B2 (ja) | 2018-08-07 | 2018-08-07 | 非接触式変位計 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020024126A JP2020024126A (ja) | 2020-02-13 |
JP2020024126A5 JP2020024126A5 (ja) | 2021-10-07 |
JP7098474B2 true JP7098474B2 (ja) | 2022-07-11 |
Family
ID=69185976
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018148386A Active JP7098474B2 (ja) | 2018-08-07 | 2018-08-07 | 非接触式変位計 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10948334B2 (ja) |
JP (1) | JP7098474B2 (ja) |
CN (1) | CN110823091B (ja) |
DE (1) | DE102019121197A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7098474B2 (ja) * | 2018-08-07 | 2022-07-11 | 株式会社ミツトヨ | 非接触式変位計 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003097911A (ja) | 2001-09-21 | 2003-04-03 | Citizen Watch Co Ltd | 変位測定装置およびそれを用いた変位測定方法 |
JP2006330321A (ja) | 2005-05-26 | 2006-12-07 | Nikon Corp | レンズ系及び光学装置 |
JP2013180120A (ja) | 2012-03-02 | 2013-09-12 | Olympus Corp | 撮像装置及び撮像方法 |
JP2015114109A (ja) | 2013-12-09 | 2015-06-22 | パナソニック デバイスSunx株式会社 | 変位センサ |
JP2016095261A (ja) | 2014-11-17 | 2016-05-26 | 株式会社東京精密 | 形状測定装置及び方法 |
JP2018077461A (ja) | 2016-09-29 | 2018-05-17 | 株式会社ミツトヨ | 焦点監視及び制御を用いた可変焦点距離レンズシステム |
Family Cites Families (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2572515B1 (fr) * | 1984-10-25 | 1993-06-18 | Canon Kk | Dispositif de detection de position |
JPH06102025A (ja) * | 1992-09-18 | 1994-04-12 | Ricoh Co Ltd | 光学式変位計 |
JPH1123219A (ja) | 1997-07-01 | 1999-01-29 | Komatsu Eng Kk | 共焦点光学系による変位計測装置 |
WO2005106571A1 (ja) * | 2004-04-30 | 2005-11-10 | Asahi Glass Company, Limited | 液晶レンズ素子および光ヘッド装置 |
JP2008176078A (ja) * | 2007-01-19 | 2008-07-31 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 赤外線カメラ及び赤外線カメラの光学性能劣化の補償方法 |
WO2008106403A2 (en) | 2007-02-26 | 2008-09-04 | Trustees Of Princeton University | Turnable acoustic gradient index of refraction lens and system |
US7990522B2 (en) | 2007-11-14 | 2011-08-02 | Mitutoyo Corporation | Dynamic compensation of chromatic point sensor intensity profile data selection |
KR20090113076A (ko) * | 2008-04-25 | 2009-10-29 | 삼성디지털이미징 주식회사 | 디지털 영상 처리기에서 브라케팅 촬영 장치 및 방법 |
CN101769821A (zh) * | 2010-02-04 | 2010-07-07 | 北京理工大学 | 基于差动共焦技术的透镜折射率与厚度的测量方法及装置 |
JP6074926B2 (ja) * | 2012-07-05 | 2017-02-08 | カシオ計算機株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム |
US9726876B2 (en) * | 2013-11-27 | 2017-08-08 | Mitutoyo Corporation | Machine vision inspection system and method for obtaining an image with an extended depth of field |
US9602715B2 (en) * | 2015-07-09 | 2017-03-21 | Mitutoyo Corporation | Adaptable operating frequency of a variable focal length lens in an adjustable magnification optical system |
WO2017144482A1 (en) * | 2016-02-22 | 2017-08-31 | Koninklijke Philips N.V. | System for generating a synthetic 2d image with an enhanced depth of field of a biological sample |
JP6742783B2 (ja) * | 2016-04-01 | 2020-08-19 | 株式会社ミツトヨ | 撮像システム及び撮像方法 |
US9961253B2 (en) * | 2016-05-03 | 2018-05-01 | Mitutoyo Corporation | Autofocus system for a high speed periodically modulated variable focal length lens |
JP6831698B2 (ja) * | 2016-12-28 | 2021-02-17 | 株式会社ミツトヨ | 焦点距離可変レンズ装置 |
JP2018106127A (ja) * | 2016-12-28 | 2018-07-05 | 株式会社ミツトヨ | レンズシステムおよび焦点距離可変レンズ装置 |
JP6800797B2 (ja) * | 2017-03-31 | 2020-12-16 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、画像処理装置、撮像装置の制御方法およびプログラム |
JP2018189702A (ja) * | 2017-04-28 | 2018-11-29 | 株式会社ミツトヨ | 焦点距離可変レンズ装置 |
JP6925857B2 (ja) * | 2017-04-28 | 2021-08-25 | 株式会社ミツトヨ | 焦点距離可変レンズ装置および焦点距離可変レンズ制御方法 |
JP6845737B2 (ja) | 2017-04-28 | 2021-03-24 | 株式会社ミツトヨ | 焦点距離可変レンズ装置および焦点距離可変レンズ制御方法 |
JP7202066B2 (ja) * | 2017-10-19 | 2023-01-11 | 株式会社ミツトヨ | 焦点距離可変レンズ装置 |
JP2019152787A (ja) * | 2018-03-05 | 2019-09-12 | 株式会社ミツトヨ | 焦点距離可変レンズ制御方法および焦点距離可変レンズ装置 |
JP7169092B2 (ja) * | 2018-05-21 | 2022-11-10 | 株式会社ミツトヨ | 焦点距離可変レンズ装置および焦点距離可変レンズ制御方法 |
JP7118735B2 (ja) * | 2018-05-21 | 2022-08-16 | 株式会社ミツトヨ | 焦点距離可変レンズ装置および焦点距離可変レンズ制御方法 |
JP7057217B2 (ja) * | 2018-05-21 | 2022-04-19 | 株式会社ミツトヨ | 焦点距離可変レンズの校正方法および焦点距離可変レンズ装置 |
JP7224804B2 (ja) * | 2018-08-01 | 2023-02-20 | 株式会社ミツトヨ | 非接触式変位計 |
JP7175123B2 (ja) * | 2018-08-03 | 2022-11-18 | 株式会社ミツトヨ | 焦点距離可変レンズ装置 |
JP7098474B2 (ja) * | 2018-08-07 | 2022-07-11 | 株式会社ミツトヨ | 非接触式変位計 |
JP7189702B2 (ja) * | 2018-08-30 | 2022-12-14 | 株式会社ミツトヨ | 焦点距離可変レンズ装置および焦点距離可変レンズ制御方法 |
JP7249748B2 (ja) * | 2018-08-30 | 2023-03-31 | 株式会社ミツトヨ | 焦点距離可変レンズ装置および焦点距離可変レンズ制御方法 |
JP7390790B2 (ja) * | 2018-12-28 | 2023-12-04 | 株式会社ミツトヨ | 画像測定装置および非接触形状測定装置 |
-
2018
- 2018-08-07 JP JP2018148386A patent/JP7098474B2/ja active Active
-
2019
- 2019-07-31 US US16/527,486 patent/US10948334B2/en active Active
- 2019-08-01 CN CN201910706108.5A patent/CN110823091B/zh active Active
- 2019-08-06 DE DE102019121197.2A patent/DE102019121197A1/de active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003097911A (ja) | 2001-09-21 | 2003-04-03 | Citizen Watch Co Ltd | 変位測定装置およびそれを用いた変位測定方法 |
JP2006330321A (ja) | 2005-05-26 | 2006-12-07 | Nikon Corp | レンズ系及び光学装置 |
JP2013180120A (ja) | 2012-03-02 | 2013-09-12 | Olympus Corp | 撮像装置及び撮像方法 |
JP2015114109A (ja) | 2013-12-09 | 2015-06-22 | パナソニック デバイスSunx株式会社 | 変位センサ |
JP2016095261A (ja) | 2014-11-17 | 2016-05-26 | 株式会社東京精密 | 形状測定装置及び方法 |
JP2018077461A (ja) | 2016-09-29 | 2018-05-17 | 株式会社ミツトヨ | 焦点監視及び制御を用いた可変焦点距離レンズシステム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10948334B2 (en) | 2021-03-16 |
JP2020024126A (ja) | 2020-02-13 |
CN110823091B (zh) | 2022-06-14 |
US20200049545A1 (en) | 2020-02-13 |
DE102019121197A1 (de) | 2020-02-13 |
CN110823091A (zh) | 2020-02-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11793611B2 (en) | Apparatus for measuring surface topography of a patient's teeth | |
JP4062606B2 (ja) | 低可干渉測定/高可干渉測定共用干渉計装置およびその測定方法 | |
JP3665639B2 (ja) | 波面検出のための方法及び装置 | |
JP4885485B2 (ja) | 物体の光学的測定を行うための装置及びその装置を用いた測定方法 | |
US11525978B2 (en) | Variable focal length lens apparatus | |
JP5394317B2 (ja) | 回転対称非球面形状測定装置 | |
JP4151159B2 (ja) | 媒質の測定装置 | |
JP2018106126A (ja) | 焦点距離可変レンズ装置 | |
JP2010249808A (ja) | 分光透過率可変素子を備えた分光イメージング装置及び分光イメージング装置における分光透過率可変素子の調整方法 | |
JP6651032B2 (ja) | ファイバ−光学システムの作動方法及びファイバ−光学システム | |
JP7224804B2 (ja) | 非接触式変位計 | |
JP7098474B2 (ja) | 非接触式変位計 | |
JP2014202642A (ja) | 光学素子の面間隔測定装置および面間隔測定方法 | |
JP5741709B2 (ja) | 構造化照明装置、その構造化照明装置の調整方法、コンピュータ実行可能な調整プログラム、構造化照明顕微鏡装置、面形状測定装置 | |
JP2004354317A (ja) | 波面収差測定用干渉計 | |
JP2020012782A (ja) | 波面計測装置、波面計測方法、および、製造方法 | |
JP2011252769A (ja) | 光学素子の屈折率分布測定装置および測定方法 | |
CN112485225A (zh) | 基于激光干涉的光纤探头 | |
RU145923U1 (ru) | Устройство для компенсации световых потерь, вызванных сферическими аберрациями в системе с интерферометром фабри-перо | |
JP2021087973A (ja) | レーザ加工装置 | |
JPH07294249A (ja) | 光学装置 | |
JPS6325502A (ja) | 表面粗さ計 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210707 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210827 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220518 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220621 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220629 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7098474 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |