JP7050840B2 - ボイラにおける蒸発管の腐食疲労の抑制方法 - Google Patents
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Description
例えば腐食の抑制は、ボイラの蒸気発生部内の水(以降、ボイラ水)のpHを管理基準値の上限に保持することや脱酸素剤の濃度を管理基準値の高めに保持すること、缶底ブローは運転終了直後ではなく起動直前に行い高濃度の酸素の混入や低pH化を抑制すること、などが対策として挙げられる。
またスケールの抑制は、ボイラ給水の逆浸透膜処理又は軟化処理を行うこと、スケールの生成を抑制するためにスケール分散剤や清缶剤を添加すること(例えば特許文献1,2)や、スケール成分の排除のためのボイラ水のブロー管理を行うこと、などが対策として挙げられる。
本発明者らが腐食疲労の原因を探求した結果、蒸発管のような伝熱負荷が高い部位にスケールが付着すると、蒸発管の管壁温度が上昇し、ボイラの起動及び停止に応じて蒸発管が伸縮する結果、応力が大きくなって腐食疲労によって蒸発管が破裂して、水漏れに到る場合が多いことがわかった。このことから、本発明者らは、ボイラの蒸発管の腐食疲労は、腐食環境だけでなく、スケールの存在も大きく関連していることを見出した。
本実施形態において、ボイラ水の腐食性イオン濃度は低い程好ましく、それぞれ1.0mg/L以下となるように管理することが好ましい。
原水水質が変動する場合は、逆浸透膜装置を用いる方法では処理後の補給水も水質変動しやすいため、電気脱イオン装置の併用がより望ましい。
シリカ濃度についても、上記腐食性イオン濃度と同様、イオン交換装置、逆浸透膜装置、又は電気脱イオン装置による処理や、復水回収率の制御により低減することができる。
小型貫流ボイラの種類には、丸型缶体と角型缶体がある。丸型缶体とは、中央部に燃焼室を備え、上部にバーナーを配置している缶体である。角型缶体とは、燃焼室が無く、水管側面に隣接してガスバーナーを配置している缶体である。
丸型缶体よりも角型缶体の方が蒸発管の腐食疲労がより発生し易いが、本発明によれば、ボイラ水の塩化物イオン濃度及び硫酸イオン濃度を管理することにより、更にはスケール分散剤を用いることにより、角型の小型貫流ボイラであっても蒸発管の腐食疲労を十分に抑制することができる。
なお、角型缶体で腐食疲労がより発生し易い理由は、角型缶体は、丸型缶体よりも構造上、熱負荷が不均一になるため、蒸発管の伸展が起きやすく、腐食を起点とした、腐食疲労がより発生し易いためと考えられる。
なお、以下において、塩化物イオン、硫酸イオン、シリカ濃度は、「JIS B8224ボイラの給水及びボイラ水試験方法」に則って予め分析した。
腐食疲労試験によって塩類が腐食疲労に及ぼす影響を評価した。試験液は軟水を想定し、塩化物イオン、硫酸イオン、シリカを含む水質とした。
まず用いた試験片での破断条件を求めるため、以下の準備を行った。
材質STB340の試験片を円弧状疲労試験用に加工した。具体的には、平行部とR部(円弧部)とを有する形状に加工し、平行部及びR部を#800研磨した。
この試験片を使用して大気中における引張試験を実施したところ、弾性域最大荷重に対応する応力は220MPaと求められたため、この値を腐食疲労試験の最大応力として設定した。
試験液はイオン交換水に、特級試薬の塩化物ナトリウム、硫酸ナトリウム及び、48%苛性ソーダ、3号ケイ酸ナトリウムを用いて、下記試験液組成及びpHとなるように調整した。試験液の温度は85℃に調整した。
溶存酸素濃度が一定になったら、試験時間96時間を目標に最大応力を220MPaに設定し、腐食疲労試験装置にて試験を実施した。
試験条件は以下の通りである。
試験片:STB340より作製した円弧状疲労試験片(ASTM E466-96参考)
試験片の前処理:平行部およびR部を#800仕上げ
制御:荷重制御
波形:正弦波
最大応力:220MPa
周波数:4.0Hz
試験期間:最大96時間
試験液温度:85℃
試験液組成:塩化物イオン、硫酸イオン及びシリカ濃度は表1の通りとした。
No.1では、軟水給水で各物質をそれぞれ10mg/Lとしたとき、蒸気発生器内で10倍濃縮したと想定し、それぞれ100mg/Lとした。
No.2では、軟水給水で復水回収率が90%以上と高い場合に想定される水質とした。
No.3では、イオン交換水の給水で、濃縮50倍以上を想定される水質とした。イオン交換水では、塩類よりもシリカは微量リークしやすいためシリカ濃度のみ10mg/Lとした。
試験液pH:11.0
試験液溶存酸素濃度:8.0mg/L
試験液量:1L
結果を表1に示す。
表1より次のことが分かる。
腐食性イオン濃度が低くなるに従って、試験片の破断に至るまでの引張回数が上がり、各腐食性イオン濃度が10mg/L以下では、試験片が破断し難いことが確認された。特に各腐食性イオン濃度が1mg/L以下では破断が発生しないことが確認された。
これは腐食性イオン濃度が低くなると、試験片の表面での腐食が発生し難くなり、あるいは微小亀裂内での腐食の進行が抑制されたことによると推定された。
<実施例I-1~5、比較例I-1~3>
図1に示すボイラ水系において、ボイラ給水の腐食性イオン濃度及びスケール分散剤の添加の有無と蒸発管の腐食疲労の状況との相関を調べた。
このボイラ水系では、原水をイオン交換装置又は軟化器1で処理した水が、給水タンク2を経由してボイラ4に給水され、ボイラ4で発生した復水が給水タンク2に戻される。溶存酸素濃度は給水タンク2の出口直後で測定した。スケール分散剤、及び苛性系のpH調整剤をボイラ3の手前の給水ラインに注入した。
このボイラ水系では、腐食性イオン濃度の管理を行わない場合、運転開始から8年以内に腐食疲労で蒸発管に亀裂が発生し、漏えいする事故が起きていた。
対象ボイラ:小型貫流ボイラ
運転圧力:1.0MPa以下
給水種類:軟水、軟水+復水、イオン交換水、イオン交換水+復水のいずれか。
ボイラ水水質:pH=11.0~11.8
電気伝導率=50~400mS/m
溶存酸素濃度=8.0mg/L
塩化物イオン、硫酸イオン、及びシリカ濃度は表2に示す通りである。
スケール分散剤:下記のポリアクリル酸ナトリウム(PANa)、ポリメタクリル酸ナトリウム(PMNa)又は正リン酸塩を使用した。添加量はボイラ水中でポリマーは純分として30mg/L、正リン酸塩はリン酸イオンとして30mg/Lとした。
PANa(4,000):重量平均分子量4,000のポリアクリル酸ナトリウム
PANa(60,000):重量平均分子量60,000のポリアクリル酸ナトリウム
PMNa(10,000):重量平均分子量10,000のポリメタクリル酸ナトリウム
正リン酸塩:正リン酸のナトリウム塩
調査対象のボイラ缶数:559缶
運転期間は8年間とし、8年間の運転期間内の蒸発管の亀裂発生数と亀裂発生割合とを調べた結果を表2に示した。
表2より次のことが分かる。
腐食疲労の発生は、腐食性イオン濃度が高く、さらにスケール分散剤が使用されない場合(比較例I-1)が最も多かった。
スケール分散剤の添加が無い場合では、各腐食性イオン濃度が1mg/Lと低い実施例I-1は、各腐食性イオン濃度が80~100mg/Lと高い比較例I-1に比べて、腐食が抑制され、引張応力が増加し難く、腐食疲労の発生が抑制されたと推測される。各腐食性イオン濃度が1mg/Lでスケール分散剤を使用した実施例I-2~5では、スケール付着が殆ど無く、亀裂の発生は少なかった。これはスケール付着による引張応力が低く抑えられたことと、塩類濃度が低いことで腐食による疲労の発生、進展が起き難い環境であったためと推測された。
以上より、腐食疲労の発生を抑制するには、蒸発菅の腐食を抑えるだけでなく、スケール付着の発生も抑えることでより一層の効果が見出されることが確認された。
2 給水タンク
3 ボイラ
Claims (4)
- ボイラの蒸発管の腐食疲労を抑制する方法において、該ボイラの蒸気発生部内の水(以下、「ボイラ水」と称す。)の塩化物イオン濃度及び硫酸イオン濃度を、それぞれ10mg/L以下に管理すると共に、該ボイラ水にスケール分散剤を存在させる方法であって、
該スケール分散剤が、重量平均分子量20,000を超え170,000以下のポリアクリル酸及びその塩、並びに、重量平均分子量1,000を超え100,000以下のポリメタクリル酸及びその塩からなる群より選ばれる少なくとも一種のポリ(メタ)アクリル酸化合物である、ボイラにおける蒸発管の腐食疲労の抑制方法。 - 前記ボイラへの給水に用いる原水をイオン交換装置、逆浸透膜装置又は電気脱イオン装置で脱塩処理するか、或いは、前記ボイラのボイラ復水の回収率を上げることにより、前記ボイラ水の塩化物イオン濃度及び硫酸イオン濃度を管理する、請求項1に記載のボイラにおける蒸発管の腐食疲労の抑制方法。
- 前記ボイラ水における前記スケール分散剤の濃度が1~1,000mg/Lである、請求項1又は2に記載のボイラにおける蒸発管の腐食疲労の抑制方法。
- 前記ボイラが小型貫流ボイラである、請求項1ないし3のいずれか1項に記載のボイラにおける蒸発管の腐食疲労の抑制方法。
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