JP7045890B2 - パターン描画装置およびパターン描画方法 - Google Patents
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Description
図1は、第1実施形態のパターン描画装置1を示す概略側面図である。パターン描画装置1は、レジストなどの層が形成された基板9の上面に、CADデータなどに応じて空間変調した光(描画光)を照射して、パターン(例えば、回路パターン)を露光(描画)する装置である。パターン描画装置1で処理対象とされる基板9は、例えば、プリント基板、半導体基板、液晶表示装置または有機EL(Electroluminescence)表示装置などのFPD(Flat Panel Display)用基板、光ディスク用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板、フォトマスク用基板、セラミック基板、太陽電池用基板などである。以下の説明では、基板9は矩形板状に形成されているものとする。
ステージ駆動機構3は、ステージ2を基台15に対して相対的に移動させる。ステージ駆動機構3は、基台15上に配置されている。
ステージ位置計測部4は、ステージ2の位置を計測する。ステージ位置計測部4は、具体的には、例えば、ステージ2外からステージ2に向けてレーザ光を出射するとともにその反射光を受光する。ステージ位置計測部4は、当該反射光と出射光との干渉からステージ2の位置(具体的には、主走査方向に沿うY位置、および、回転方向に沿うθ位置)を計測する、干渉式のレーザ測長器を構成する。
カメラ5は、ステージ2に保持された基板9の上面を撮影する光学機器である。カメラ5は、支持フレーム16に支持される。カメラ5は、例えば、鏡筒と、フォーカシングレンズと、CCDイメージセンサと、駆動部とを備える。鏡筒は、撮影用の照明光(ただし、照明光としては、基板9上のレジストなどを感光させない波長の光が選択されている)を供給する照明ユニット500と、ファイバケーブルなどを介して接続されている。CCDイメージセンサは、エリアイメージセンサ(二次元イメージセンサ)などにより構成される。また、駆動部は、モータなどにより構成され、フォーカシングレンズを駆動してその高さ位置を変更する。駆動部が、フォーカシングレンズの高さ位置を調整することによって、オートフォーカスが行われる。
次に、第2実施形態について説明する。なお、以降の説明において、既に説明した要素と同様の機能を有する要素については、同じ符号又はアルファベット文字を追加した符号を付して、詳細な説明を省略する場合がある。
2 ステージ
3 ステージ駆動機構
35 主走査機構(スキャン方向移動機構)
5a,5d カメラ(第1カメラ群)
5b,5e カメラ(第2カメラ群)
5c,5f カメラ(第3カメラ群)
52a,52a1 連結具(第1連結具)
52b 連結具(第2連結具)
52c 連結具
54a~54c 配列方向移動機構
541 ボールネジ
542 回転駆動部
543H 挿通孔
543a,543b スライド部
544 ガイド部
6 描画ユニット
60 描画ヘッド
7 制御部
711 基板データ処理部
713 配列方向移動制御部
715 スキャン方向移動制御部
9 基板
91 マーク
92a~92f マーク列
Claims (4)
- 複数のマークが表面に形成された基板にパターンを描画するパターン描画装置であって、
前記基板を保持する基板保持部と、
前記基板における前記マークを撮影する複数のカメラを含む第1カメラ群と、
前記第1カメラ群の前記複数のカメラを配列方向に配列された状態で連結する第1連結具と、
前記第1連結具により連結された前記第1カメラ群を、前記配列方向へ一体的に移動させる配列方向移動機構と、
前記第1カメラ群を、前記基板保持部に対して、前記配列方向に交差するスキャン方向に相対移動させるスキャン方向移動機構と、
を備え、
前記基板保持部が複数の前記基板を前記配列方向に並べた状態で保持可能であり、
前記第1カメラ群は、前記第1連結具によって、前記基板保持部に保持された複数の基板の各々の同一位置に形成された前記マーク各々を撮影可能な間隔で連結されている、パターン描画装置。 - 複数のマークが表面に形成された基板にパターンを描画するパターン描画装置であって、
前記基板を保持する基板保持部と、
前記基板における前記マークを撮影する複数のカメラを含む第1カメラ群と、
前記第1カメラ群の前記複数のカメラを配列方向に配列された状態で連結する第1連結具と、
前記第1連結具により連結された前記第1カメラ群を、前記配列方向へ一体的に移動させる配列方向移動機構と、
前記第1カメラ群を、前記基板保持部に対して、前記配列方向に交差するスキャン方向に相対移動させるスキャン方向移動機構と、
前記基板における前記マークを撮影する複数のカメラを含む第2カメラ群と、
前記第2カメラ群の前記複数のカメラを前記配列方向に配列された状態で連結する第2連結具と、
を備え、
前記配列方向移動機構は、前記第2カメラ群に対して前記第1カメラ群を前記配列方向に相対的に移動させるとともに、
前記スキャン方向移動機構は、前記第1カメラ群および前記第2カメラ群を前記スキャン方向へ一体的に移動させる、パターン描画装置。 - 請求項1または請求項2のパターン描画装置であって、
前記第1連結具は、前記第1カメラ群の前記複数のカメラの間隔を変更可能にする間隔可変機構を備える、パターン描画装置。 - 複数のマークが表面に形成された基板を処理するパターン描画方法であって、
(a) 基板保持部が前記基板を保持する工程と、
(b) 前記工程(a)の後、第1連結具によって配列方向に配列された状態で連結された複数のカメラを含む第1カメラ群を、前記基板における前記複数のマークの位置に合わせて前記配列方向に一体的に移動させる工程と、
(c) 前記工程(b)の後、前記第1カメラ群を、前記基板に対して、前記配列方向に交差するスキャン方向に相対移動させる工程と、
を含み、
前記基板保持部が複数の前記基板を前記配列方向に並べた状態で保持可能であり、
前記第1カメラ群は、前記第1連結具によって、前記基板保持部に保持された複数の基板の各々の同一位置に形成された前記マーク各々を撮影可能な間隔で連結されている、パターン描画方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018052209A JP7045890B2 (ja) | 2018-03-20 | 2018-03-20 | パターン描画装置およびパターン描画方法 |
TW107146798A TWI700550B (zh) | 2018-03-20 | 2018-12-24 | 圖案描繪裝置以及圖案描繪方法 |
CN201910040947.8A CN110308626B (zh) | 2018-03-20 | 2019-01-16 | 图案描画装置及图案描画方法 |
KR1020190015593A KR102212541B1 (ko) | 2018-03-20 | 2019-02-11 | 패턴 묘화 장치 및 패턴 묘화 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018052209A JP7045890B2 (ja) | 2018-03-20 | 2018-03-20 | パターン描画装置およびパターン描画方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019164264A JP2019164264A (ja) | 2019-09-26 |
JP7045890B2 true JP7045890B2 (ja) | 2022-04-01 |
Family
ID=68066091
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018052209A Active JP7045890B2 (ja) | 2018-03-20 | 2018-03-20 | パターン描画装置およびパターン描画方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7045890B2 (ja) |
KR (1) | KR102212541B1 (ja) |
CN (1) | CN110308626B (ja) |
TW (1) | TWI700550B (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7386742B2 (ja) * | 2020-03-24 | 2023-11-27 | 株式会社Screenホールディングス | 露光装置 |
JP7458950B2 (ja) * | 2020-09-23 | 2024-04-01 | 株式会社Screenホールディングス | 描画システム |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000068192A (ja) | 1998-08-18 | 2000-03-03 | Nikon Corp | 露光装置、露光方法及び位置検出方法 |
JP2006128693A (ja) | 2004-10-28 | 2006-05-18 | Asml Netherlands Bv | 光学的に位置を評価する機器及び方法 |
US20060170934A1 (en) | 2005-01-28 | 2006-08-03 | Picciotto Carl E | Sensing a dimensional change in a surface |
JP2006267191A (ja) | 2005-03-22 | 2006-10-05 | Pentax Industrial Instruments Co Ltd | 露光装置 |
JP2006308996A (ja) | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Fuji Photo Film Co Ltd | 露光装置 |
JP2008203556A (ja) | 2007-02-20 | 2008-09-04 | Fujifilm Corp | デジタル露光装置 |
JP2008306109A (ja) | 2007-06-11 | 2008-12-18 | Nsk Ltd | 露光装置用基板搬送機構 |
JP2014006433A (ja) | 2012-06-26 | 2014-01-16 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | パターン描画装置 |
JP2018173468A (ja) | 2017-03-31 | 2018-11-08 | ウシオ電機株式会社 | 露光装置および露光方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3537202B2 (ja) * | 1994-12-19 | 2004-06-14 | オリンパス株式会社 | 複数ヘッド顕微鏡装置 |
JP3758832B2 (ja) * | 1997-09-17 | 2006-03-22 | ペンタックス株式会社 | 位置決めマーク照明装置 |
US6701197B2 (en) | 2000-11-08 | 2004-03-02 | Orbotech Ltd. | System and method for side to side registration in a printed circuit imager |
TWI264532B (en) * | 2001-11-05 | 2006-10-21 | Olympus Corp | Substrate inspection device |
JP2006235204A (ja) * | 2005-02-24 | 2006-09-07 | Fuji Photo Film Co Ltd | 描画装置の校正方法 |
JP4485381B2 (ja) * | 2005-02-25 | 2010-06-23 | 富士フイルム株式会社 | 画像形成装置および画像形成方法 |
TW200702940A (en) * | 2005-04-28 | 2007-01-16 | Fuji Photo Film Co Ltd | Exposure apparatus |
JP4606990B2 (ja) * | 2005-10-07 | 2011-01-05 | 富士フイルム株式会社 | デジタル露光装置 |
JP2009192693A (ja) * | 2008-02-13 | 2009-08-27 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | パターン描画装置 |
CN203658731U (zh) * | 2013-12-27 | 2014-06-18 | 东莞市华恒工业自动化集成有限公司 | 菲林对位机用ccd视觉对位装置 |
CN204347441U (zh) * | 2015-01-13 | 2015-05-20 | 苏州微影光电科技有限公司 | 直写式光刻装置 |
-
2018
- 2018-03-20 JP JP2018052209A patent/JP7045890B2/ja active Active
- 2018-12-24 TW TW107146798A patent/TWI700550B/zh active
-
2019
- 2019-01-16 CN CN201910040947.8A patent/CN110308626B/zh active Active
- 2019-02-11 KR KR1020190015593A patent/KR102212541B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000068192A (ja) | 1998-08-18 | 2000-03-03 | Nikon Corp | 露光装置、露光方法及び位置検出方法 |
JP2006128693A (ja) | 2004-10-28 | 2006-05-18 | Asml Netherlands Bv | 光学的に位置を評価する機器及び方法 |
US20060170934A1 (en) | 2005-01-28 | 2006-08-03 | Picciotto Carl E | Sensing a dimensional change in a surface |
JP2006267191A (ja) | 2005-03-22 | 2006-10-05 | Pentax Industrial Instruments Co Ltd | 露光装置 |
JP2006308996A (ja) | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Fuji Photo Film Co Ltd | 露光装置 |
JP2008203556A (ja) | 2007-02-20 | 2008-09-04 | Fujifilm Corp | デジタル露光装置 |
JP2008306109A (ja) | 2007-06-11 | 2008-12-18 | Nsk Ltd | 露光装置用基板搬送機構 |
JP2014006433A (ja) | 2012-06-26 | 2014-01-16 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | パターン描画装置 |
JP2018173468A (ja) | 2017-03-31 | 2018-11-08 | ウシオ電機株式会社 | 露光装置および露光方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201940966A (zh) | 2019-10-16 |
JP2019164264A (ja) | 2019-09-26 |
KR20190110429A (ko) | 2019-09-30 |
TWI700550B (zh) | 2020-08-01 |
CN110308626B (zh) | 2021-12-21 |
CN110308626A (zh) | 2019-10-08 |
KR102212541B1 (ko) | 2021-02-04 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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