JP6991673B2 - 剥離方法 - Google Patents

剥離方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6991673B2
JP6991673B2 JP2018033502A JP2018033502A JP6991673B2 JP 6991673 B2 JP6991673 B2 JP 6991673B2 JP 2018033502 A JP2018033502 A JP 2018033502A JP 2018033502 A JP2018033502 A JP 2018033502A JP 6991673 B2 JP6991673 B2 JP 6991673B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
support plate
substrate
holding
peeling
starting point
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018033502A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2019149470A (ja
Inventor
克彦 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Corp filed Critical Disco Corp
Priority to JP2018033502A priority Critical patent/JP6991673B2/ja
Priority to KR1020190007365A priority patent/KR102670600B1/ko
Priority to SG10201901152VA priority patent/SG10201901152VA/en
Priority to CN201910125779.2A priority patent/CN110197794B/zh
Priority to US16/281,872 priority patent/US10998196B2/en
Priority to TW108106101A priority patent/TWI782189B/zh
Priority to DE102019202564.1A priority patent/DE102019202564B4/de
Publication of JP2019149470A publication Critical patent/JP2019149470A/ja
Priority to US17/180,295 priority patent/US11764066B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6991673B2 publication Critical patent/JP6991673B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6835Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/77Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate
    • H01L21/78Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices
    • H01L21/7806Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices involving the separation of the active layers from a substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • H01L21/304Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
    • H01L21/3043Making grooves, e.g. cutting
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/36Removing material
    • B23K26/38Removing material by boring or cutting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/56Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
    • H01L21/561Batch processing
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/56Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
    • H01L21/568Temporary substrate used as encapsulation process aid
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/71Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
    • H01L21/76Making of isolation regions between components
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/71Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
    • H01L21/768Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
    • H01L21/76838Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the conductors
    • H01L21/76841Barrier, adhesion or liner layers
    • H01L21/76853Barrier, adhesion or liner layers characterized by particular after-treatment steps
    • H01L21/76865Selective removal of parts of the layer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/77Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate
    • H01L21/78Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/67Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L2221/683Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L2221/68304Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L2221/68327Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support used during dicing or grinding
    • H01L2221/68331Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support used during dicing or grinding of passive members, e.g. die mounting substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/67Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L2221/683Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L2221/68304Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L2221/6834Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support used to protect an active side of a device or wafer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/67Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L2221/683Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L2221/68304Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L2221/68381Details of chemical or physical process used for separating the auxiliary support from a device or wafer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/67Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L2221/683Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L2221/68304Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L2221/68381Details of chemical or physical process used for separating the auxiliary support from a device or wafer
    • H01L2221/68386Separation by peeling

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Laser Beam Processing (AREA)
  • Dicing (AREA)

Description

本発明は、剥離層を介して支持板の表面に設けられた基板等を支持板から剥離する剥離方法に関する。
携帯電話機やパーソナルコンピュータに代表される電子機器では、電子回路等のデバイスを備えるデバイスチップが必須の構成要素になっている。デバイスチップは、例えば、シリコン等の半導体材料でなるウェーハの表面を分割予定ライン(ストリート)で複数の領域に区画し、各領域にデバイスを形成した後、この分割予定ラインに沿ってウェーハを分割することにより得られる。
上述のような方法で得られたデバイスチップは、例えば、CSP(Chip Size Package)用のマザー基板に固定され、ワイヤボンディング等の方法で電気的に接続された後にモールド樹脂で封止される。このように、モールド樹脂によってデバイスチップを封止してパッケージデバイスを形成することで、衝撃、光、熱、水等の外的な要因からデバイスチップを保護できるようになる。
近年では、ウェーハレベルの再配線技術を用いてデバイスチップの領域外にパッケージ端子を形成するFOWLP(Fan-Out Wafer Level Package)と呼ばれるパッケージ技術が採用され始めている(例えば、特許文献1参照)。また、ウェーハよりサイズの大きいパネル(代表的には、液晶パネルの製造に用いられるガラス基板)のレベルでパッケージデバイスを一括して製造するFOPLP(Fan-Out Panel Level Packaging)と呼ばれるパッケージ技術も提案されている。
FOPLPでは、例えば、仮の基板となる支持板(キャリア板)の表面に剥離層(仮接着層)を介して配線層(RDL:Redistribution Layer)を形成し、この配線層にデバイスチップを接合する。次に、デバイスチップをモールド樹脂で封止して、封止基板(パッケージパネル)を得る。その後、封止基板を研削等の方法によって薄くした上で、この封止基板を分割することにより、パッケージデバイスが完成する。
特開2016-201519号公報
上述したFOPLPでは、例えば、封止基板をパッケージデバイスへと分割した後に、このパッケージデバイスから支持板が除去される。具体的には、支持板から各パッケージデバイスをピックアップする。ところが、剥離層の接着力はある程度に強いので、パッケージデバイス中の配線層等を損傷させることなく支持板からパッケージデバイスを剥離するのが難しかった。
一方で、封止基板をパッケージデバイスへと分割する前に、封止基板から支持板を剥離、除去することも考えられる。しかしながら、この場合にも、配線層等を含む封止基板や支持板を損傷させることなく支持板から封止基板を剥離するのは難しかった。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、基板等を支持板から容易に剥離できる剥離方法を提供することである。
本発明の一態様によれば、支持板の表面に剥離層を介して設けられた基板を、該支持板から剥離する剥離方法であって、該支持板と該基板との一方を第1保持ユニットで保持する第1保持工程と、該支持板と該基板との端部で露出する該剥離層の端部に流体を吹き付け、該基板を該支持板から剥離する際の起点となる起点領域を形成する起点領域形成工程と、該支持板と該基板との他方を第2保持ユニットで保持する第2保持工程と、該第1保持ユニットと該第2保持ユニットとを互いに離れる方向に相対的に移動させて該基板を該支持板から剥離する剥離工程と、を含み、該支持板の端部の該表面側には、該剥離層を構成する金属膜又は樹脂膜の一部が被覆しており、該起点領域形成工程の前に、該支持板の端部の該表面側を覆う該金属膜又は樹脂膜を切削ブレード又はレーザービームによって除去する除去工程を含む剥離方法が提供される。
本発明の別の一態様によれば、支持板の表面に剥離層を介して設けられた基板を、複数の小片へと分割した上で該支持板から剥離する剥離方法であって、該支持板を第1保持ユニットで保持する第1保持工程と、該基板に設定された分割予定ラインに沿って該基板側から切削ブレードを切り込ませ、又は該基板に対して吸収性を有する波長のレーザービームを照射して、該基板を該複数の小片に分割する分割工程と、該小片の端部で露出する該剥離層に流体を吹き付け、該小片を該支持板から剥離する際の起点となる起点領域を形成する起点領域形成工程と、該小片を第2保持ユニットで保持する第2保持工程と、該第1保持ユニットと該第2保持ユニットとを互いに離れる方向に相対的に移動させて該小片を該支持板から剥離する剥離工程と、を含む剥離方法が提供される。
本発明の一態様及び別の一態様に係る剥離方法では、剥離層の端部に流体を吹き付け、基板又は基板を分割して得られる小片を支持板から剥離する際の起点となる起点領域を形成するので、この起点領域を起点として基板や小片を支持板から容易に剥離できる。
図1(A)は、支持板と基板とを含む複合基板の構成例を示す断面図であり、図1(B)は、第1保持工程について示す断面図である。 図2(A)は、起点領域形成工程について示す一部断面側面図であり、図2(B)は、第2保持工程について示す一部断面側面図である。 剥離工程について示す一部断面側面図である。 図4(A)は、除去工程が行われる前の支持板の端部の様子を拡大して示す断面図であり、図4(B)は、除去工程について示す一部断面側面図である。 図5(A)は、変形例に係る剥離方法に用いられる複合基板の構成例を示す断面図であり、図5(B)は、変形例に係る剥離方法の第1保持工程及び分割工程について示す一部断面側面図である。 図6(A)は、変形例に係る剥離方法の起点領域形成工程及び第2保持工程について示す一部断面側面図であり、図6(B)は、変形例に係る剥離方法の剥離工程について示す一部断面側面図である。
添付図面を参照して、本発明の一態様に係る実施形態について説明する。本実施形態に係る剥離方法は、支持板(キャリア板)の表面に剥離層(仮接着層)を介して設けられた基板(封止基板)を支持板から剥離するための剥離方法であって、第1保持工程(図1(B)参照)、起点領域形成工程(図2(A)参照)、第2保持工程(図2(B)参照)、及び剥離工程(図3参照)を含む。
第1保持工程では、支持板と基板との一方(本実施形態では、基板)をチャックテーブル(第1保持ユニット)で保持して他方側(本実施形態では、支持板)を露出させる。起点領域形成工程では、剥離層の端部に流体を吹き付け、基板を支持板から剥離する際の起点となる起点領域を形成する。
第2保持工程では、支持板と基板との他方(支持板)を吸着パッド(第2保持ユニット)で保持する。剥離工程では、第1保持ユニットと第2保持ユニットとを互いに離れる方向に相対的に移動させて、基板を支持板から剥離する。以下、本実施形態に係る剥離方法について詳述する。
図1(A)は、本実施形態で使用される複合基板1の構成例を示す断面図である。複合基板1は、例えば、ソーダガラス、ホウケイ酸ガラス、石英ガラス等の絶縁体材料で形成された支持板(キャリア板)3を含んでいる。この支持板3は、例えば、概ね平坦な第1面(表面)3aと、第1面3aとは反対側の第2面(裏面)3bとを有し、第1面3a側又は第2面3b側から見た平面視で矩形状に構成される。支持板3の厚みは、例えば、2mm以下、代表的には、1.1mmである。
なお、本実施形態では、ソーダガラス、ホウケイ酸ガラス、石英ガラス等の絶縁体材料でなる支持板3を用いているが、支持板3の材質、形状、構造、大きさ等に特段の制限はない。例えば、半導体、セラミックス、樹脂、金属等の材料でなる基板等を支持板3として用いることもできる。円盤状の半導体ウェーハ等を支持板3としても良い。
支持板3の第1面3a側には、剥離層(仮接着層)5を介して基板(封止基板)7が設けられている。剥離層5は、例えば、金属膜や絶縁体膜等を重ねることによって第1面3aの概ね全体に設けられ、支持板3と基板7とを接着する機能を持つ。また、剥離層5は、接着剤として機能する樹脂膜等によって構成されることもある。
剥離層5の厚みは、例えば、20μm以下、代表的には、5μmである。後述する剥離工程で基板7を支持板3から剥離する際には、この剥離層5が、支持板3側に密着した第1部分5a(図3等参照)と、基板7側に密着した第2部分5b(図3等参照)とに分離される。
基板7は、例えば、パッケージパネルやパッケージウェーハ等とも呼ばれ、剥離層5に接する配線層(RDL)(不図示)と、配線層に接合された複数のデバイスチップ9と、各デバイスチップを封止する封止材(モールド樹脂層)11とを含む。この基板7は、平面視で支持板3と概ね同じ大きさ、形状に構成される。基板7の厚みは、例えば、1.5mm以下、代表的には、0.6mmである。
なお、この基板7の第1面(表面)7a側は、研削等の方法で加工されても良い。また、基板7において隣接するデバイスチップ9の間の領域には、分割予定ライン(切断予定ライン)が設定される。任意の分割予定ラインに沿って基板7を切断することで、基板7は、それぞれ1又は複数のデバイスチップ9を含む複数の小片に分割される。
全ての分割予定ラインに沿って基板7(又は小片)を切断すれば、各デバイスチップ9に対応する複数のパッケージデバイスが得られる。ただし、基板7の材質、形状、構造、大きさ等に特段の制限はない。例えば、基板7は、主に配線層で構成され、デバイスチップ9や封止材11等を含まないこともある。
本実施形態に係る支持板の除去方法では、まず、上述した複合基板1の基板7側を保持して支持板3側を露出させる第1保持工程を行う。図1(B)は、第1保持工程について示す断面図である。なお、図1(B)では、一部の構成要素を機能ブロックで示している。
この第1保持工程は、図1(B)等に示す剥離装置2を用いて行われる。剥離装置2は、複合基板1を保持するためのチャックテーブル(第1保持ユニット)4を備えている。チャックテーブル4は、例えば、ステンレスに代表される金属材料でなる円筒状の枠体6と、多孔質材料でなり枠体6の上部に配置される保持板8とを含む。
保持板8の上面は、複合基板1の基板7側を吸引、保持するための保持面8aになっている。この保持板8の下面側は、枠体6の内部に設けられた流路6aやバルブ10等を介して吸引源12に接続されている。そのため、バルブ10を開けば、吸引源12の負圧を保持面8aに作用させることができる。
このチャックテーブル4(枠体6)は、モータ等の回転駆動源(不図示)に連結されており、上述した保持面8aに対して概ね平行な回転軸の周りに回転する。また、チャックテーブル4(枠体6)は、移動機構(不図示)によって支持されており、上述した保持面8aに対して概ね平行な方向に移動する。
第1保持工程では、図1(B)に示すように、例えば、基板7の第1面7aをチャックテーブル4の保持面8aに接触させる。そして、バルブ10を開いて、吸引源12の負圧を保持面8aに作用させる。これにより、複合基板1の基板7側がチャックテーブル4に吸引、保持される。すなわち、支持板3の第2面3b側は露出した状態となる。
第1保持工程の後には、剥離層5の端部に流体を吹き付け、基板7を支持板3から剥離する際の起点(きっかけ)となる起点領域を形成する起点領域形成工程を行う。図2(A)は、起点領域形成工程について示す一部断面側面図である。なお、図2(A)でも、一部の構成要素を機能ブロックで示している。
起点領域形成工程は、引き続き剥離装置2を用いて行われる。図2(A)に示すように、チャックテーブル4の上方には、流体を噴射するためのノズル14が配置されている。このノズル14は、例えば、移動機構(不図示)によって支持されており、保持面8aに対して概ね垂直な方向と、保持面8aに対して概ね平行な方向とに移動する。
起点領域形成工程では、例えば、複合基板1を保持したチャックテーブル4を回転させて、ノズル14の噴射口を剥離層5の端部(すなわち、支持板3や基板7の端部)へと向ける。また、チャックテーブル4とノズル14とを相対的に移動させて、複合基板1とノズル14との距離を調整する。
その後、ノズル14の噴射口から剥離層5の端部へと向けて流体を噴射しながら、このノズル14が剥離層5の端部に沿って移動するようにチャックテーブル4とノズル14とを相対的に移動させる。これにより、剥離の際の起点となる起点領域を剥離層5の端部に沿って形成できる。
この起点領域は、複合基板1の全周(すなわち、剥離層5の端部の全体)に形成されることが望ましい。これにより、基板7を支持板3から適切に剥離できるようになる。ただし、基板7を支持板3から適切に剥離できる範囲内で、起点領域を剥離層5の端部の一部にのみ形成しても良い。
ノズル14から噴射する流体としては、例えば、空気等の気体や、水等の液体、気体と液体とを混合した混合流体等が用いられる。特に、空気と水とを混合した二流体を流体として用いる場合には、適切な起点領域を形成し易くなる。チャックテーブル4とノズル14との距離は、剥離層5の材質、ノズル14から噴射する流体の種類、流体を噴射する圧力等の条件に応じて、起点領域を適切に形成できる範囲内で調整される。
起点領域形成工程の後には、チャックテーブル4によって基板7側が保持されている複合基板1の支持板3側を更に保持する第2保持工程を行う。図2(B)は、第2保持工程について示す一部断面側面図である。なお、図2(B)でも、一部の構成要素を機能ブロックで示している。
第2保持工程は、引き続き剥離装置2を用いて行われる。図2(B)に示すように、チャックテーブル4の上方には、複合基板1を保持するための吸引パッド(第2保持ユニット)16が配置されている。吸引パッド16の下面は、複合基板1の支持板3側を吸引、保持するための保持面16aになっている。
保持面16aは、流路(不図示)やバルブ(不図示)等を介して吸引源(不図示)に接続されている。そのため、バルブを開けば、吸引源の負圧を保持面16aに作用させることができる。この吸引パッド16は、例えば、移動機構(不図示)によって支持されており、保持面8aに対して概ね垂直な方向と、保持面8aに対して概ね平行な方向とに移動する。
第2保持工程では、例えば、複合基板1を保持したチャックテーブル4と吸引パッド16とを相対的に移動させて、この吸引パッド16の保持面16aを支持板3の第2面3bに接触させる。そして、バルブを開いて、吸引源の負圧を保持面16aに作用させる。これにより、複合基板1の基板7側がチャックテーブル4に吸引、保持された状態で、支持板3側が吸引パッド16に吸引、保持される。
第2保持工程の後には、チャックテーブル4と吸引パッド16とを互いに離れる方向に相対的に移動させて、基板7を支持板3から剥離する剥離工程を行う。図3は、剥離工程について示す一部断面側面図である。なお、図3でも、一部の構成要素を機能ブロックで示している。
剥離工程では、図3に示すように、例えば、吸着パッド16が保持面8aに対して概ね垂直且つチャックテーブル4から離れる方向に移動するように、移動機構で吸着パッド16に力を加える。上述のように、チャックテーブル4には、複合基板1の基板7が吸引、保持されており、吸引パッド16には、複合基板1の支持板3が吸引、保持されている。また、剥離層5の端部には、剥離の際の起点となる起点領域が形成されている。
そのため、保持面8aに概ね垂直且つチャックテーブル4から離れる方向の力を吸着パッド16に加えると、剥離層5は、上述した起点領域を起点として、支持板3側に密着した第1部分5aと、基板7側に密着した第2部分5bとに分離される。そして、吸着パッド16は、保持面8aに概ね垂直且つチャックテーブル4から離れる方向に移動し、基板7が支持板3から剥離される。
以上のように、本実施形態に係る剥離方法では、剥離層5の端部に流体を吹き付け、基板(封止基板)7を支持板3から剥離する際の起点となる起点領域を形成するので、この起点領域を起点として、基板7を支持板3から容易に剥離できる。すなわち、この剥離の際に基板7や支持板3が損傷する可能性を低く抑えられる。
なお、本発明は、上記実施形態の記載に制限されず種々変更して実施可能である。例えば、上記実施形態では、第1保持工程において複合基板1の基板7側をチャックテーブル4で保持し、第2保持工程において複合基板1の支持板3側を吸引パッド16で保持しているが、第1保持工程において複合基板1の支持板3側をチャックテーブル4で保持し、第2保持工程において複合基板1の基板7側を吸引パッド16で保持しても良い。
また、上記実施形態の第1保持工程では、チャックテーブル4によって基板7側を吸引することで複合基板1を保持しているが、例えば、基板7の第1面7aをチャックテーブル4に接触させ、この基板7の縁等を任意の部材で上方又は側方から抑えることによって複合基板1を保持することもできる。
なお、この場合には、少なくとも剥離工程の前に基板7の縁等を上方又は側方から抑えれば良い。また、同様の方法で複合基板1の支持板3側を保持する際には、支持板3の第2面3bをチャックテーブル4に接触させ、この支持板3の縁等を任意の部材で上方又は側方から抑えることになる。
また、例えば、上記実施形態で使用される支持板3の端部の第1面3a側には、剥離層5を構成する金属膜や樹脂膜の一部が被覆していることも考えられる。その場合には、剥離層5の端部に起点領域が形成され難く、基板7を支持板3から容易に剥離できない可能性が高くなる。
そこで、このような場合には、起点領域形成工程の前に、支持板3の端部の第1面3a側を覆う金属膜や樹脂膜を除去する除去工程を行うと良い。図4(A)は、除去工程が行われる前の支持板の端部の様子を拡大して示す断面図であり、図4(B)は、除去工程について示す一部断面側面図である。
図4(A)に示すように、変形例に係る剥離方法で使用される支持板3の端部の第1面3a側は、剥離層5を構成する金属膜又は樹脂膜の一部5aによって被覆されている。そこで、この変形例では、金属膜又は樹脂膜の一部5aを除去し、後の起点領域形成工程において、剥離層5の端部に起点領域を形成し易くする。
具体的には、図4(B)に示すように、剥離装置2に設けられている切削ユニット18を用いて、この金属膜又は樹脂膜の一部5aを除去する。切削ユニット18は、例えば、チャックテーブル4の保持面8aに対して概ね平行な回転軸となるスピンドル20を備えている。スピンドル20の一端側には、結合材に砥粒が分散されてなる環状の切削ブレード22が装着されている。
スピンドル20の他端側には、モータ等の回転駆動源(不図示)が連結されており、スピンドル20の一端側に装着された切削ブレード22は、回転駆動源から伝わる力によって回転する。この切削ユニット18は、例えば、移動機構(不図示)によって支持されており、保持面8aに対して概ね垂直な方向と、保持面8aに対して概ね平行な方向とに移動する。
除去工程では、まず、複合基板1を保持したチャックテーブル4を回転させて、支持板3の端部を含む外周縁を、切削ブレード22の回転軸(スピンドル20)に対して平面視で垂直にする。そして、チャックテーブル4と切削ユニット18とを相対的に移動させて、上述した支持板3の端部を含む外周縁の延長線上方に切削ブレード22を位置付ける。また、切削ブレード22の下端を、支持板3の第1面3aより低い位置に位置付ける。
その後、切削ブレード22を回転させながら、支持板3の端部を含む外周縁と平行な方向にチャックテーブル4を移動させる。これにより、支持板3の端部の第1面3a側を被覆する金属膜又は樹脂膜の一部5aに切削ブレード22を切り込ませ、この金属膜又は樹脂膜の一部5aを除去できる。
その結果、剥離層5の端部には、剥離層5の適切な積層構造等が露出して、後の起点領域形成工程において剥離層5の端部に起点領域を形成し易くなる。このような動作を繰り返し、支持板3の端部の第1面3a側を被覆する金属膜又は樹脂膜の一部5aが全て除去されると、除去工程は終了する。
なお、ここでは、切削ブレード22を切り込ませる方法で支持板3の端部の第1面3a側を被覆する金属膜又は樹脂膜の一部5aを除去しているが、金属膜又は樹脂膜の一部5aに対して吸収性を有する波長のレーザービームを照射する方法でこれらを除去することもできる。
また、上記実施形態では、基板7を各デバイスチップ9に対応するパッケージデバイス等の小片へと分割する前に、基板7を支持板3から剥離しているが、基板7をパッケージデバイス等の小片へと分割した上で、この小片を支持板3から剥離しても良い。
図5(A)は、変形例に係る剥離方法に用いられる複合基板1の構成例を示す断面図である。図5(A)に示すように、この変形例で用いられる複合基板1の基本的な構成は、上記実施形態に係る複合基板1と概ね同じである。ただし、この変形例では、複合基板1の不要な領域(例えば、端部)が切削ブレードを用いるダイシング等の方法であらかじめ除去される。
複合基板1の不要な領域が除去された後には、この複合基板1の支持板3側を保持して基板7側を露出させる第1保持工程を行う。図5(B)は、変形例に係る剥離方法の第1保持工程及び分割工程について示す一部断面側面図である。なお、図5(B)では、一部の構成要素を機能ブロックで示している。
この第1保持工程は、上記実施形態に係る第1保持工程と同様に剥離装置2を用いて行われる。具体的には、図5(B)に示すように、例えば、支持板3の第2面3bをチャックテーブル4の保持面8aに接触させる。そして、バルブ10を開いて、吸引源12の負圧を保持面8aに作用させる。これにより、複合基板1の支持板3側がチャックテーブル4に吸引、保持される。すなわち、基板7の第1面7a側は露出した状態となる。
第1保持工程の後には、分割予定ラインに沿って基板7を複数の小片へと分割する分割工程を行う。この分割工程は、図5(B)に示すように、例えば、剥離装置2の切削ユニット18を用いて行われる。切削ユニット18の基本的な構成は、上述した除去工程で使用される切削ユニット18と概ね同じで良いが、この分割工程では、基板7の切削加工に適した切削ブレード22が使用される。
分割工程では、まず、複合基板1を保持したチャックテーブル4を回転させて、基板7に設定されている分割予定ラインを、切削ブレード22の回転軸(スピンドル20)に対して平面視で垂直にする。そして、チャックテーブル4と切削ユニット18とを相対的に移動させて、対象の分割予定ラインの延長線上方に切削ブレード22を位置付ける。
また、切削ブレード22の下端を、基板7を完全に切断できる高さに位置付ける。すなわち、切削ブレード22の下端を、少なくとも剥離層5に切り込ませることができる高さに位置付ける。その後、切削ブレード22を回転させながら、対象の分割予定ラインと平行な方向にチャックテーブル4を移動させる。
これにより、対象の分割予定ラインに沿って基板7側から少なくとも剥離層5まで切削ブレード22を切り込ませ、この基板7を切断できる。このような動作を必要に応じて繰り返し、基板7が任意の大きさの小片に分割されると分割工程は終了する。なお、この変形例では、全ての分割予定ラインに沿って基板7を切断し、各デバイスチップ9に対応する複数のパッケージデバイス(小片)13を形成している。
分割工程の後には、剥離層5の端部に流体を吹き付け、パッケージデバイス13を支持板3から剥離する際の起点(きっかけ)となる起点領域を形成する起点領域形成工程を行う。図6(A)は、変形例に係る剥離方法の起点領域形成工程及び第2保持工程について示す一部断面側面図である。なお、図6(A)でも、一部の構成要素を機能ブロックで示している。
この起点領域形成工程は、上記実施形態に係る起点領域形成工程と同様に、引き続き剥離装置2を用いて行われる。具体的には、例えば、複合基板1を保持したチャックテーブル4を回転させて、ノズル14の噴射口を剥離層5の端部(すなわち、パッケージデバイス13の端部)へと向ける。また、チャックテーブル4とノズル14とを相対的に移動させて、パッケージデバイス13とノズル14との距離を調整する。
その後、ノズル14の噴射口から剥離層5の端部へと向けて流体を噴射しながら、このノズル14が剥離層5の端部に沿って移動するようにチャックテーブル4とノズル14とを相対的に移動させる。これにより、剥離の際の起点となる起点領域を剥離層5の端部に沿って形成できる。なお、この変形例に係る起点領域形成工程の諸条件は、上記実施形態に係る起点領域形成工程と同様で良い。
起点領域形成工程の後には、チャックテーブル4によって支持板3側が保持されている状態で、パッケージデバイス13を更に保持する第2保持工程を行う。第2保持工程は、引き続き剥離装置2を用いて行われる。図6(A)に示すように、チャックテーブル4の上方には、パッケージデバイス13を保持するためのコレット(ピックアップツール、第2保持ユニット)24が配置されている。コレット24の下面は、パッケージデバイス13を吸引、保持するための保持面24aになっている。
保持面24aは、流路(不図示)やバルブ(不図示)等を介して吸引源(不図示)に接続されている。そのため、バルブを開けば、吸引源の負圧を保持面24aに作用させることができる。このコレット24は、例えば、移動機構(不図示)によって支持されており、保持面8aに対して概ね垂直な方向と、保持面8aに対して概ね平行な方向とに移動する。
第2保持工程では、例えば、複合基板1を保持したチャックテーブル4とコレット24とを相対的に移動させて、このコレット24の保持面24aをパッケージデバイス13の上面等に接触させる。そして、バルブを開いて、吸引源の負圧を保持面24aに作用させる。これにより、複合基板1の基板7側がチャックテーブル4に吸引、保持された状態で、パッケージデバイス13側がコレット24に吸引、保持される。
第2保持工程の後には、チャックテーブル4とコレット26とを互いに離れる方向に相対的に移動させて、パッケージデバイス13を支持板3から剥離する剥離工程を行う。図6(B)は、変形例に係る剥離方法の剥離工程について示す一部断面側面図である。なお、図6(B)でも、一部の構成要素を機能ブロックで示している。
剥離工程では、図3に示すように、例えば、コレット24が保持面8aに対して概ね垂直且つチャックテーブル4から離れる方向に移動するように、移動機構でコレット24に力を加える。上述のように、チャックテーブル4には、複合基板1の基板7が吸引、保持されており、コレット24には、パッケージデバイス13が吸引、保持されている。また、パッケージデバイス13の端部に対応する剥離層5の端部には、剥離の際の起点となる起点領域が形成されている。
そのため、保持面8aに概ね垂直且つチャックテーブル4から離れる方向の力をコレット24に加えると、剥離層5は、上述した起点領域を起点として、支持板3側に密着した第1部分5aと、パッケージデバイス13側に密着した第2部分5bとに分離される。そして、コレット24は、保持面8aに概ね垂直且つチャックテーブル4から離れる方向に移動し、パッケージデバイス13が支持板3から剥離される。
なお、この変形例に係る剥離方法では、例えば、全てのパッケージデバイス13が支持板3から剥離されるまで、起点領域形成工程、第2保持工程、及び剥離工程を繰り返し行うことが望ましい。この場合、起点領域形成工程では、直後の剥離工程で剥離の対象とするパッケージデバイス13の端部に対応する剥離層5の端部にのみ、起点領域を形成すれば良い。
また、この変形例では、各デバイスチップ9に対応するパッケージデバイス13を支持板3から剥離しているが、同様の方法で、複数のデバイスチップ9を含む任意の大きさに分割された小片を支持板3から剥離することもできる。また、この変形例に係る分割工程では、切削ブレード22を切り込ませる方法で基板7を小片へと分割しているが、基板7に対して吸収性を有する波長のレーザービームを照射する方法で基板7を切断し、小片へと分割しても良い。
また、上記実施形態及び変形例では、平面視で矩形状に構成された複合基板1を用いる場合を示しているが、円盤状の複合基板を用いる場合等には、複合基板の形状等に合わせて各部の動作等が変更される。例えば、起点形成工程や除去工程では、チャックテーブル4を回転させながら、剥離層5の端部に流体を吹き付けたり、金属膜の一部5aに切削ブレード22を切り込ませたりすれば良い。
その他、上記実施形態に係る構造、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。
1 複合基板
3 支持板(キャリア板)
3a 第1面(表面)
3b 第2面(裏面)
5 剥離層(仮接着層)
7 基板(封止基板)
7a 第1面(表面)
9 デバイスチップ
11 封止材(モールド樹脂層)
13 パッケージデバイス(小片)
2 剥離装置
4 チャックテーブル(第1保持ユニット)
6 枠体
6a 流路
8 保持板
8a 保持面
10 バルブ
12 吸引源
14 ノズル
16 吸引パッド(第2保持ユニット)
16a 保持面
18 切削ユニット
20 スピンドル
22 切削ブレード
24 コレット(ピックアップツール、第2保持ユニット)
24a 保持面

Claims (2)

  1. 支持板の表面に剥離層を介して設けられた基板を、該支持板から剥離する剥離方法であって、
    該支持板と該基板との一方を第1保持ユニットで保持する第1保持工程と、
    該支持板と該基板との端部で露出する該剥離層の端部に流体を吹き付け、該基板を該支持板から剥離する際の起点となる起点領域を形成する起点領域形成工程と、
    該支持板と該基板との他方を第2保持ユニットで保持する第2保持工程と、
    該第1保持ユニットと該第2保持ユニットとを互いに離れる方向に相対的に移動させて該基板を該支持板から剥離する剥離工程と、を含み、
    該支持板の端部の該表面側には、該剥離層を構成する金属膜又は樹脂膜の一部が被覆しており、
    該起点領域形成工程の前に、該支持板の端部の該表面側を覆う該金属膜又は樹脂膜を切削ブレード又はレーザービームによって除去する除去工程を含むことを特徴とする剥離方法。
  2. 支持板の表面に剥離層を介して設けられた基板を、複数の小片へと分割した上で、該支持板から剥離する剥離方法であって、
    該支持板を第1保持ユニットで保持する第1保持工程と、
    該基板に設定された分割予定ラインに沿って該基板側から切削ブレードを切り込ませ、又は該基板に対して吸収性を有する波長のレーザービームを照射して、該基板を該複数の小片に分割する分割工程と、
    該小片の端部で露出する該剥離層に流体を吹き付け、該小片を該支持板から剥離する際の起点となる起点領域を形成する起点領域形成工程と、
    該小片を第2保持ユニットで保持する第2保持工程と、
    該第1保持ユニットと該第2保持ユニットとを互いに離れる方向に相対的に移動させて該小片を該支持板から剥離する剥離工程と、を含むことを特徴とする剥離方法。
JP2018033502A 2018-02-27 2018-02-27 剥離方法 Active JP6991673B2 (ja)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018033502A JP6991673B2 (ja) 2018-02-27 2018-02-27 剥離方法
KR1020190007365A KR102670600B1 (ko) 2018-02-27 2019-01-21 박리 방법
SG10201901152VA SG10201901152VA (en) 2018-02-27 2019-02-11 Peeling method for peeling off substrate from support plate
CN201910125779.2A CN110197794B (zh) 2018-02-27 2019-02-20 剥离方法
US16/281,872 US10998196B2 (en) 2018-02-27 2019-02-21 Peeling method for peeling off substrate from support plate
TW108106101A TWI782189B (zh) 2018-02-27 2019-02-22 剝離方法
DE102019202564.1A DE102019202564B4 (de) 2018-02-27 2019-02-26 Ablöseverfahren zum Ablösen eines Substrats von einer Trägerplatte
US17/180,295 US11764066B2 (en) 2018-02-27 2021-02-19 Peeling method for peeling off substrate from support plate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018033502A JP6991673B2 (ja) 2018-02-27 2018-02-27 剥離方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019149470A JP2019149470A (ja) 2019-09-05
JP6991673B2 true JP6991673B2 (ja) 2022-01-12

Family

ID=67550228

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018033502A Active JP6991673B2 (ja) 2018-02-27 2018-02-27 剥離方法

Country Status (7)

Country Link
US (2) US10998196B2 (ja)
JP (1) JP6991673B2 (ja)
KR (1) KR102670600B1 (ja)
CN (1) CN110197794B (ja)
DE (1) DE102019202564B4 (ja)
SG (1) SG10201901152VA (ja)
TW (1) TWI782189B (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7025171B2 (ja) * 2017-10-12 2022-02-24 株式会社ディスコ 被加工物の研削方法
CN114323827A (zh) * 2020-09-30 2022-04-12 中国科学院微电子研究所 透射电镜样品的制备方法及装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015217421A (ja) 2014-05-19 2015-12-07 株式会社ディスコ リフトオフ方法
JP2016021464A (ja) 2014-07-14 2016-02-04 株式会社ディスコ リフトオフ方法及び超音波ホーン
JP2016063057A (ja) 2014-09-18 2016-04-25 ファスフォードテクノロジ株式会社 ダイボンダ並びにボンディング方法及びピックアップ装置
US20160343601A1 (en) 2015-05-21 2016-11-24 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Method of preparing laminate, and method of separating support
JP2016207801A (ja) 2015-04-21 2016-12-08 株式会社ディスコ リフトオフ方法及び超音波ホーン
JP2017208453A (ja) 2016-05-18 2017-11-24 東京応化工業株式会社 封止体の製造方法、及び、積層体

Family Cites Families (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR0165467B1 (ko) * 1995-10-31 1999-02-01 김광호 웨이퍼 디본더 및 이를 이용한 웨이퍼 디본딩법
FR2752332B1 (fr) * 1996-08-12 1998-09-11 Commissariat Energie Atomique Dispositif de decollement de plaquettes et procede de mise en oeuvre de ce dispositif
SG68035A1 (en) * 1997-03-27 1999-10-19 Canon Kk Method and apparatus for separating composite member using fluid
JP3031904B2 (ja) * 1998-02-18 2000-04-10 キヤノン株式会社 複合部材とその分離方法、及びそれを利用した半導体基体の製造方法
TW437078B (en) * 1998-02-18 2001-05-28 Canon Kk Composite member, its separation method, and preparation method of semiconductor substrate by utilization thereof
US6391743B1 (en) * 1998-09-22 2002-05-21 Canon Kabushiki Kaisha Method and apparatus for producing photoelectric conversion device
JP4365920B2 (ja) * 1999-02-02 2009-11-18 キヤノン株式会社 分離方法及び半導体基板の製造方法
JP2000223683A (ja) * 1999-02-02 2000-08-11 Canon Inc 複合部材及びその分離方法、貼り合わせ基板及びその分離方法、移設層の移設方法、並びにsoi基板の製造方法
US6375738B1 (en) * 1999-03-26 2002-04-23 Canon Kabushiki Kaisha Process of producing semiconductor article
JP4708577B2 (ja) * 2001-01-31 2011-06-22 キヤノン株式会社 薄膜半導体装置の製造方法
JP4803884B2 (ja) * 2001-01-31 2011-10-26 キヤノン株式会社 薄膜半導体装置の製造方法
JP2002353423A (ja) 2001-05-25 2002-12-06 Canon Inc 板部材の分離装置及び処理方法
TW564471B (en) * 2001-07-16 2003-12-01 Semiconductor Energy Lab Semiconductor device and peeling off method and method of manufacturing semiconductor device
TW558743B (en) * 2001-08-22 2003-10-21 Semiconductor Energy Lab Peeling method and method of manufacturing semiconductor device
FR2850390B1 (fr) * 2003-01-24 2006-07-14 Soitec Silicon On Insulator Procede d'elimination d'une zone peripherique de colle lors de la fabrication d'un substrat composite
JP4838504B2 (ja) 2004-09-08 2011-12-14 キヤノン株式会社 半導体装置の製造方法
TWI463580B (zh) * 2007-06-19 2014-12-01 Renesas Electronics Corp Manufacturing method of semiconductor integrated circuit device
JP5122893B2 (ja) * 2007-09-14 2013-01-16 株式会社ディスコ デバイスの製造方法
JP2010103416A (ja) 2008-10-27 2010-05-06 Sumitomo Metal Fine Technology Co Ltd 半導体ウエハ製造方法
US8507322B2 (en) * 2010-06-24 2013-08-13 Akihiro Chida Semiconductor substrate and method for manufacturing semiconductor device
JP5752933B2 (ja) * 2010-12-17 2015-07-22 株式会社ディスコ 光デバイスウエーハの加工方法
WO2014003056A1 (ja) * 2012-06-29 2014-01-03 日立化成株式会社 半導体装置の製造方法
KR102029646B1 (ko) * 2013-01-31 2019-11-08 삼성전자 주식회사 반도체 장치 제조 방법
KR101503325B1 (ko) * 2013-06-27 2015-03-18 코스텍시스템(주) 디바이스 웨이퍼와 캐리어 웨이퍼의 디본딩 방법 및 본딩/디본딩 장치
JP2015145306A (ja) 2014-02-04 2015-08-13 旭硝子株式会社 積層体の剥離開始部作成方法及び剥離開始部作成装置並びに電子デバイスの製造方法
JP2016063012A (ja) 2014-09-17 2016-04-25 株式会社東芝 半導体装置の製造方法
JP2016127232A (ja) 2015-01-08 2016-07-11 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
JP6529321B2 (ja) 2015-04-14 2019-06-12 株式会社ディスコ デバイスパッケージの製造方法
US20180233385A1 (en) 2015-08-11 2018-08-16 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Support body separating device and support body separating method
US9337098B1 (en) * 2015-08-14 2016-05-10 Semiconductor Components Industries, Llc Semiconductor die back layer separation method
US9997391B2 (en) * 2015-10-19 2018-06-12 QROMIS, Inc. Lift off process for chip scale package solid state devices on engineered substrate
JP2017103406A (ja) * 2015-12-04 2017-06-08 株式会社ディスコ ウエーハの加工方法
JP6695227B2 (ja) * 2016-07-19 2020-05-20 東京応化工業株式会社 支持体分離装置および支持体分離方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015217421A (ja) 2014-05-19 2015-12-07 株式会社ディスコ リフトオフ方法
JP2016021464A (ja) 2014-07-14 2016-02-04 株式会社ディスコ リフトオフ方法及び超音波ホーン
JP2016063057A (ja) 2014-09-18 2016-04-25 ファスフォードテクノロジ株式会社 ダイボンダ並びにボンディング方法及びピックアップ装置
JP2016207801A (ja) 2015-04-21 2016-12-08 株式会社ディスコ リフトオフ方法及び超音波ホーン
US20160343601A1 (en) 2015-05-21 2016-11-24 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Method of preparing laminate, and method of separating support
JP2017208453A (ja) 2016-05-18 2017-11-24 東京応化工業株式会社 封止体の製造方法、及び、積層体

Also Published As

Publication number Publication date
DE102019202564A1 (de) 2019-08-29
US11764066B2 (en) 2023-09-19
SG10201901152VA (en) 2019-09-27
US20190267245A1 (en) 2019-08-29
CN110197794B (zh) 2024-02-20
TWI782189B (zh) 2022-11-01
TW201936476A (zh) 2019-09-16
KR20190102990A (ko) 2019-09-04
US10998196B2 (en) 2021-05-04
JP2019149470A (ja) 2019-09-05
CN110197794A (zh) 2019-09-03
KR102670600B1 (ko) 2024-05-29
DE102019202564B4 (de) 2024-03-07
US20210175085A1 (en) 2021-06-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7187112B2 (ja) キャリア板の除去方法
JP7146354B2 (ja) キャリア板の除去方法
US11764066B2 (en) Peeling method for peeling off substrate from support plate
JP7511980B2 (ja) キャリア板の除去方法
JP7262904B2 (ja) キャリア板の除去方法
TWI831886B (zh) 裝置晶片的製造方法
TWI845749B (zh) 載板之除去方法
JP7511979B2 (ja) キャリア板の除去方法
JP2023018321A (ja) キャリア板の除去方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20201209

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210927

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20211005

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20211126

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20211207

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20211207

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6991673

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150