JP6991652B2 - 測定器およびその制御方法 - Google Patents
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Description
これに対して、安定化処理とは、丸め処理やヒステリシス処理のことをいう。丸め処理は、表示手段に表示される表示値をある一定の丸め幅の整数倍の数値に置き換えることであり、ヒステリシス処理は、丸め処理の丸め幅に対してヒステリシスを与える処理のことである。
P'n=αn×Pn+(1-αn)×Pn-1 …(1)
式(1)を用いて算出し、平滑化表示値P'nを第1の記憶部が記憶する表示値Pnと置き換えて、
Pn=P'n …(2)
式(2)を満たすように平滑化表示値P'nを表示値Pnとして第1の記憶部に記憶させることが好ましい。
αn=1/2βn …(3)
式(3)を満たすことが好ましい。
αn=1/2βn …(3)
式(3)を満たすことが好ましい。
偏差=|Pn-Pn-1| …(4)
式(4)を用いて偏差を算出することが好ましい。
偏差=k×標準偏差(Pn,Pn-1,…,P1,P0) …(5)
式(5)を用いて偏差を算出することが好ましい。
以下、本発明の第1実施形態を図面に基づいて説明する。
図1は、本発明の第1実施形態に係る測定器を示す正面図である。
測定器1は、図1に示すように、測定対象物から測定結果を算出するための測定情報を取得する測定手段2と、測定結果を表示する表示手段3と、を備えるダイヤルゲージである。
表示手段3は、本体部21の正面の略中央に設けられた液晶パネルである。表示手段3は、測定結果などの表示値Pを表示する。なお、表示手段3は、液晶パネルに限らず有機EL(Electro-Luminescence)や電子ペーパーであってもよい。また、表示手段3は、本体部21の正面の略中央に設けられていなくてもよく、測定器1と有線や無線で接続された状態にて本体部21の外部に設けられていてもよい。要するに、表示手段3は、測定結果などの情報を表示することができれば、どのようなものであってもよい。
測定器1は、スピンドル22の測定子23を図示しない測定対象物に接触させて測定子23の変動から測定対象物の寸法等を測定する。
測定器1は、図2に示すように、測定器1に関する情報を記憶する記憶手段4と、測定結果を算出する制御手段5と、をさらに備える。
図2に示すように、記憶手段4は、表示手段3に表示される表示値Pnを記憶する第1の記憶部41と、表示手段3に表示された過去の表示値Pn-1を記憶する第2の記憶部42と、を有する。
第2の記憶部42は、表示桁Pおよび非表示桁を有する過去の表示値Pn-1を記憶する。過去の表示値Pn-1とは、具体的には、表示値Pnに更新される前に表示手段3に表示されていた表示値Pnの一つ前の過去の表示値Pn-1(前回の表示値Pn-1)である。
偏差算出部51は、第1の記憶部41に記憶された表示値Pnと第2の記憶部42に記憶された前回のPn-1とに基づいて偏差を算出する。
ここで、フィルタ処理とは、表示値Pnの変化を抑制して表示桁Pを安定させる処理であり、本実施形態では、平滑化処理のことをいう。
フィルタ処理判定部52にてフィルタ処理である平滑化処理を実行すると判定された場合、フィルタ処理実行部53は平滑化処理を実行し、平滑化された表示値Pnである平滑化表示値P'nを算出する。具体的には、フィルタ処理実行部53は、表示値Pnにおける非表示桁の最小桁の値に対して平滑化処理を実行し、平滑化された非表示桁を有する平滑化表示値P'nを算出する。
以下、測定器1の制御方法について、図3を参照して説明する。
測定器1の制御手段5における偏差算出部51は、先ず、偏差算出工程にて第1の記憶部41に記憶された表示値Pnおよび第2の記憶部42に記憶された前回の表示値Pn-1の偏差を算出する。具体的には、偏差算出部51は、表示桁Pおよび非表示桁を有する表示値Pnと表示桁Pおよび非表示桁を有する前回の表示値Pn-1とに基づいて式(4)を用いて偏差を算出する(ステップST01)。
フィルタ処理判定部52は、偏差が表示値Pnの非表示桁の最小桁の分解能より小さいと判定した場合(ステップST02でYES)、フィルタ処理実行部53によるフィルタ処理実行工程を実行する(ステップST03)。フィルタ処理判定部52は、偏差が表示値Pnの非表示桁の最小桁の分解能より大きいと判定した場合(ステップST02でNO)、安定化処理部54による安定化処理工程を実行する(ステップST05)。
(1)制御手段5は、表示手段3に表示される表示値Pnの変化を抑制して表示桁Pを安定させる平滑化処理を実行するか否かを判定するフィルタ処理判定部52と、フィルタ処理判定部52にて平滑化処理を実行すると判定された場合、平滑化処理を実行するフィルタ処理実行部53と、を備えることで、表示値Pnの表示桁Pを安定させる必要がある場合に平滑化処理を実行することができる。このため、測定器1は、平滑化処理が追いつかないこと等を原因として表示手段3に表示される表示値Pnの更新が遅くなることを防止することができる。したがって、測定器1は、表示手段3に表示される表示値Pnの表示桁Pのちらつきを抑制するとともに測定器1の応答性の向上を図ることができる。
(4)フィルタ処理実行部53は、平滑化表示値P'nについて、表示値Pnと、前回の表示値Pn-1と、0<αn<1を満たす平滑化係数αnと、に基づいて簡単な積和演算である式(1)を用いて平滑化表示値P'nを算出することができる。したがって、測定器1は、フィルタ処理実行部53を容易に実装することができる。
(7)偏差算出部51は、表示値Pnと、前回の表示値Pn-1と、に基づいて、式(4)を用いて偏差を算出することで、演算能力に制限のある制御手段5を用いた場合であっても、偏差算出部51を実装することができる。したがって、測定器1は、低コスト化を図りつつ表示値Pnの表示桁Pのちらつきを抑制することができる。
(10)制御手段5は、偏差算出工程(ステップST01)と、フィルタ処理判定工程(ステップST02)と、フィルタ処理実行工程(ステップST03)と、安定化処理工程(ステップST05)と、を備え、表示手段3は、安定化処理工程(ステップST05)により安定化された表示値Pnの表示桁Pを表示する。これにより、測定器1は、表示手段3に表示される表示値Pnの表示桁Pのちらつきを抑制するとともに測定器1の応答性の向上を図ることができる。
以下、本発明の第2実施形態を図面に基づいて説明する。なお、以下の説明では、既に説明した部分については、同一符号を付してその説明を省略する。
図4は、本発明の第2実施形態に係る測定器の制御手段を示すブロック図である。
本実施形態の測定器1Aは、制御手段5Aを除き、前記第1実施形態の測定器1と略同様の構成を備える。
本実施形態では、制御手段5Aは、前記第1実施形態のフィルタ処理実行部53が用いた平滑化係数αnとは異なる平滑化係数αnを用いて平滑化表示値P'nを算出するフィルタ処理実行部53Aを備える点で、前記第1実施形態と異なる。
以下、測定器1Aの制御方法について、図5を参照して説明する。
測定器1Aにおける制御手段5Aのフィルタ処理実行部53Aは、図5に示すように、ステップST02でYESの場合、表示桁Pおよび非表示桁を有する表示値Pnと、表示桁Pおよび非表示桁を有する前回の表示値Pn-1と、0<αn<1を満たす平滑化係数αnと、に基づいて、式(1)を用いて平滑化処理が実行された平滑化表示値P'nを算出する(ステップST13)。
(11)平滑化係数αnは、フィルタ処理判定部にて平滑化処理を実行すると判定された回数nについて、n,n+1の場合はβn=1、n+2,n+3の場合はβn=2、n+4以上の場合はβn=3、とするとき式(3)を満たすことで、フィルタ処理実行部による平滑化処理の平滑化の強さを段階的に変更することができる。したがって、フィルタ処理実行部は、平滑化表示値P'nについて収束性を向上させて高分解能化を図ることができる。
(12)制御手段5Aは、偏差算出工程(ステップST01)と、フィルタ処理判定工程(ステップST02)と、フィルタ処理実行工程(ステップST13)と、安定化処理工程(ステップST05)と、を備え、表示手段3は、安定化処理工程(ステップST05)により安定化された表示値Pnの表示桁Pを表示する。これにより、測定器1Aは、表示手段3に表示される表示値Pnの表示桁Pのちらつきを抑制するとともに測定器1Aの応答性の向上を図ることができる。
以下、本発明の第3実施形態を図面に基づいて説明する。なお、以下の説明では、既に説明した部分については、同一符号を付してその説明を省略する。
図6は、本発明の第3実施形態に係る測定器の制御手段を示すブロック図である。
本実施形態の測定器1Bは、制御手段5Bを除き、前記第1実施形態の測定器1と略同様の構成を備える。
本実施形態では、制御手段5Bは、前記第1実施形態の偏差算出部51が用いた式(4)とは異なる算出方法を用いて偏差を算出する偏差算出部51Bと、偏差算出部51Bにて算出された偏差に基づいて平滑化処理を実行するか否かを判定するフィルタ処理判定部52Bと、を備える点で、前記第1実施形態と異なる。
以下、測定器1Bの制御方法について、図7を参照して説明する。
測定器1Bにおける制御手段5Bの偏差算出部51Bは、図7に示すように、正の整数kと、表示桁Pおよび非表示桁を有する表示値Pnと、表示桁Pおよび非表示桁を有する前回の表示値Pn-1と、に基づいて、式(5)を用いて偏差を算出する(ステップST21)。
(13)偏差算出部51Bは、正の整数kと、表示桁Pおよび非表示桁を有する表示値Pnと、表示桁Pおよび非表示桁を有する前回の表示値Pn-1と、に基づいて、式(5)を用いて偏差を算出することで、フィルタ処理判定部52Bに平滑化処理を実行するか否かを適正に判定させることができる。したがって、制御手段5Bは、表示値Pnの非表示桁に対して適切なタイミングにて平滑化処理を実行することができる。
なお、本発明は、前記各実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
例えば、前記各実施形態では、測定器1,1A~1Bはダイヤルゲージであったが、ノギスやインジケータ、リニアスケール等であってもよい。また、測定器1,1A~1Bは、形式や方式などについて特に限定されるものではなく、測定結果などを表示する表示手段を備えた測定器であれば、その他の測定器などにおいても利用可能である。
また、制御手段は、前記各実施形態に記載された偏差算出部や、フィルタ処理判定部、フィルタ処理実行部、安定化処理実行部について任意の組み合わせにて備えていてもよく、どのような組み合わせで制御手段を構成してもよい。要するに、制御手段は、フィルタ処理を実行するか否かを判定するフィルタ処理判定部と、フィルタ処理判定部にてフィルタ処理を実行すると判定された場合、フィルタ処理を実行するフィルタ処理実行部と、を備えていればよい。
また、前記第1実施形態および前記第3実施形態では、フィルタ処理実行部53は、0より大きい整数βnに基づき式(3)を満たす平滑化係数αnを用いて平滑化処理を実行し、前記第2実施形態では、フィルタ処理実行部53Aは、フィルタ処理判定部52にて平滑化処理を実行すると判定された回数nについて、n,n+1の場合はβn=1、n+2,n+3の場合はβn=2、n+4以上の場合はβn=3、とするとき式(3)を満たす平滑化係数αnを用いて平滑化処理を実行していたが、フィルタ処理判定部は、平滑化処理においてどのような平滑化係数αnを用いてフィルタ処理を実行してもよい。
前記第1実施形態および前記第2実施形態では、偏差算出部51は式(4)を用いて偏差を算出し、前記第3実施形態では、偏差算出部51Bは、式(5)を用いて偏差を算出したが、偏差算出部は、表示値と過去の表示値との偏差を算出することができれば、どのような算出方法にて偏差を算出してもよい。
前記各実施形態では、表示手段3は、表示値Pnの表示桁Pについて具体的な数字にて測定結果を表示していた。測定器1Cにおける表示手段3Cは、図8(A)に示すように、本発明にて処理された表示値Pnをインジケータの針F1の動作として表示している点で前記各実施形態と異なる。また、測定器1Dにおける表示手段3Dは、図8(B)に示すように、本発明にて処理された表示値Pnを目盛F2の増減として表示している点で前記各実施形態と異なる。要するに、表示手段は、制御手段により算出された測定結果を表示することができれば、どのような構成であってもよい。
2 測定手段
3,3C~3D 表示手段
4 記憶手段
5 制御手段
41 第1の記憶部
42 第2の記憶部
51,51B 偏差算出部
52,52B フィルタ処理判定部
53,53A フィルタ処理実行部
54 安定化処理部
P 表示桁
Pn 表示値
Pn-1 前回の表示値(過去の表示値)
Claims (7)
- 測定器に関する情報を記憶する記憶手段と、測定結果を算出する制御手段と、前記制御手段により算出された前記測定結果を表示する表示手段と、を備える測定器であって、
前記制御手段は、
前記表示手段に表示される表示値の変化を抑制するフィルタ処理を実行するか否かを判定するフィルタ処理判定部と、
前記フィルタ処理判定部にて前記フィルタ処理を実行すると判定された場合、前記フィルタ処理を実行するフィルタ処理実行部と、
前記表示値を安定させる安定化処理を実行する安定化処理部とを備え、
前記安定化処理は、前記表示値を所定の丸め幅の整数倍の数値に置き換える丸め処理と、前記丸め処理の前記丸め幅に対してヒステリシスを与えるヒステリシス処理とを含み、
前記表示手段は、前記安定化処理部により安定化された前記表示値を表示し、
前記記憶手段は、
前記表示値を記憶する第1の記憶部と、
前記表示手段に表示された過去の表示値を記憶する第2の記憶部と、を有し、
前記制御手段は、
前記表示値と前記過去の表示値との偏差を算出する偏差算出部を備え、
前記フィルタ処理判定部は、
前記偏差算出部にて算出された前記偏差に基づき前記フィルタ処理を実行するか否かを判定し、
前記フィルタ処理実行部は、
前記フィルタ処理が実行された表示値である平滑化表示値P' n について、
前記表示値P n と、前記過去の表示値P n-1 と、0<α n <1を満たす平滑化係数α n と、に基づいて、
P' n =α n ×P n +(1-α n )×P n-1 …(1)
式(1)を用いて算出し、
前記平滑化表示値P' n を前記第1の記憶部が記憶する前記表示値P n と置き換えて、
P n =P' n …(2)
式(2)を満たすように前記平滑化表示値P' n を前記表示値P n として前記第1の記憶部に記憶させることを特徴とする測定器。 - 請求項1に記載された測定器において、
前記平滑化係数αnは、0より大きい整数βnに基づき、
αn=1/2βn …(3)
式(3)を満たすことを特徴とする測定器。 - 請求項1に記載された測定器において、
前記平滑化係数αnは、
前記フィルタ処理判定部にて前記フィルタ処理を実行すると判定された回数nについて、
n,n+1の場合はβn=1、
n+2,n+3の場合はβn=2、
n+4以上の場合はβn=3、とするとき、
αn=1/2βn …(3)
式(3)を満たすことを特徴とする測定器。 - 請求項1から請求項3のいずれかに記載された測定器において、
前記偏差算出部は、
前記表示値Pnと、前記過去の表示値Pn-1と、に基づいて、
偏差=|Pn-Pn-1| …(4)
式(4)を用いて前記偏差を算出することを特徴とする測定器。 - 請求項1から請求項3のいずれかに記載された測定器において、
前記偏差算出部は、
正の整数kと、前記表示値Pnと、前記過去の表示値Pn-1と、に基づいて、
偏差=k×標準偏差(Pn,Pn-1,…,P1,P0) …(5)
式(5)を用いて前記偏差を算出することを特徴とする測定器。 - 請求項1から請求項5のいずれかに記載された測定器において、
前記表示値および前記過去の表示値は、
前記表示手段に表示される表示桁と、前記表示桁よりも下位の桁であり前記表示手段には表示されない非表示桁と、を有し、
前記フィルタ処理実行部は、前記非表示桁に対してフィルタ処理を実行し、
前記安定化処理部は、前記非表示桁に対して安定化処理を実行することを特徴とする測定器。 - 測定器に関する情報を記憶する記憶手段と、測定結果を算出する制御手段と、前記制御手段により算出された前記測定結果を表示する表示手段と、を備える測定器の制御方法であって、
前記記憶手段は、
前記表示手段に表示される表示値を記憶する第1の記憶部と、
前記表示手段に表示された過去の表示値を記憶する第2の記憶部と、を有し、
前記制御手段は、
前記表示値と前記過去の表示値との偏差を算出する偏差算出工程と、
前記偏差算出工程にて算出された前記偏差に基づき前記表示手段に表示される表示値の変化を抑制するフィルタ処理を実行するか否かを判定するフィルタ処理判定工程と、
前記フィルタ処理判定工程にて前記フィルタ処理を実行すると判定された場合、前記フィルタ処理を実行するフィルタ処理実行工程と、
前記表示値を安定させる安定化処理を実行する安定化処理工程と、を実行し、
前記フィルタ処理実行工程において、
前記フィルタ処理が実行された表示値である平滑化表示値P' n について、
前記表示値P n と、前記過去の表示値P n-1 と、0<α n <1を満たす平滑化係数α n と、に基づいて、
P' n =α n ×P n +(1-α n )×P n-1 …(1)
式(1)を用いて算出し、
前記平滑化表示値P' n を前記第1の記憶部が記憶する前記表示値P n と置き換えて、
P n =P' n …(2)
式(2)を満たすように前記平滑化表示値P' n を前記表示値P n として前記第1の記憶部に記憶させ、
前記安定化処理は、前記表示値を所定の丸め幅の整数倍の数値に置き換える丸め処理と、前記丸め処理の前記丸め幅に対してヒステリシスを与えるヒステリシス処理とを含み、
前記表示手段は、
前記安定化処理工程による前記安定化処理にて安定化された前記表示値を表示することを特徴とする測定器の制御方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017181643A JP6991652B2 (ja) | 2017-09-21 | 2017-09-21 | 測定器およびその制御方法 |
DE102018216168.2A DE102018216168A1 (de) | 2017-09-21 | 2018-09-21 | Messvorrichtung und verfahren zum steuern derselben |
CN201811110584.2A CN109540056B (zh) | 2017-09-21 | 2018-09-21 | 测量装置及其控制方法 |
US16/138,229 US10830609B2 (en) | 2017-09-21 | 2018-09-21 | Measuring device and method of controlling the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017181643A JP6991652B2 (ja) | 2017-09-21 | 2017-09-21 | 測定器およびその制御方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019056641A JP2019056641A (ja) | 2019-04-11 |
JP6991652B2 true JP6991652B2 (ja) | 2022-01-12 |
Family
ID=65526772
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017181643A Active JP6991652B2 (ja) | 2017-09-21 | 2017-09-21 | 測定器およびその制御方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10830609B2 (ja) |
JP (1) | JP6991652B2 (ja) |
CN (1) | CN109540056B (ja) |
DE (1) | DE102018216168A1 (ja) |
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JP6115533B2 (ja) * | 2014-09-22 | 2017-04-19 | トヨタ自動車株式会社 | メータの表示制御装置 |
-
2017
- 2017-09-21 JP JP2017181643A patent/JP6991652B2/ja active Active
-
2018
- 2018-09-21 US US16/138,229 patent/US10830609B2/en active Active
- 2018-09-21 DE DE102018216168.2A patent/DE102018216168A1/de active Pending
- 2018-09-21 CN CN201811110584.2A patent/CN109540056B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20190086232A1 (en) | 2019-03-21 |
DE102018216168A1 (de) | 2019-03-21 |
CN109540056A (zh) | 2019-03-29 |
US10830609B2 (en) | 2020-11-10 |
JP2019056641A (ja) | 2019-04-11 |
CN109540056B (zh) | 2021-10-22 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210618 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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