JP4777794B2 - 測定装置 - Google Patents

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Description

本発明は、例えば、部品の選別等に用いられる設定値を設定可能に構成された測定装置に関するものである。
この種の測定装置として、特開平9−80114号公報に開示されたICテスタの電流測定装置が知られている。このICテスタの電流測定装置は、測定回路(同公報におけるIddp測定回路およびIddq測定回路)、測定値メモリ回路、基準値メモリ回路および比較器(同公報におけるロウ側比較器およびハイ側比較器)を備えている。このICテスタの電流測定装置では、測定回路が、DUTに供給される電源電流(同公報におけるIddpおよびIddq)の電流値を測定し、測定値メモリ回路が、測定回路に測定された電源電流の電流値を保存する。また、基準値メモリ回路は、外部から入力される比較基準値の設定値を保存する。一方、比較器は、測定値メモリ回路に記憶されている電源電流の電流値と、比較基準値に基づく比較値とを比較する。これにより、使用者は、比較結果(同公報における比較判定結果に相当)に基づいてDUTの良否を判定する。ところで、このICテスタの電流測定装置を初めとする一般的な測定装置は、上記の比較基準値のような設定値の入力用として、その操作量に応じた値を入力可能に構成された操作部(アップダウンキー等)、および入力中の設定値を確認できるように各設定値を表示する表示部等を備えている。この場合、使用者は、各設定値の初期値として表示部に表示された値(例えば、「0」)のうちの所望の設定値を変更可能状態とした後に、入力すべき所望の設定値と初期値との差分に応じた操作量だけ操作部を操作することにより、各設定値に所望の値を入力することが可能となっている。
特開平9−80114号公報(第2−4頁、第1,2図)
ところが、従来の測定装置には、以下の問題点がある。すなわち、従来の測定装置では、設定値が予測されていないため、設定値の初期値として0の数値が予め設定される。したがって、使用者は、その数値を0から所望の設定値となるように例えばアップダウンキーをその値に応じた回数だけ繰り返して操作しなければならず、この従来の測定装置には、設定値の入力操作が煩雑であるという問題点がある。
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、部品の選別等に用いられる設定値を迅速かつ容易に入力し得る測定装置を提供することを主目的とする。
上記目的を達成すべく請求項1記載の測定装置は、測定対象体について測定した測定値に基づいて当該測定対象体のランク分けを行う際に用いる設定値を複数のランク毎に設定可能に構成された測定装置であって、入力された前記各設定値を記憶可能に構成された記憶部と、前記入力された複数の設定値に基づいて予測式を決定すると共に当該予測式を用いて所定の予測値を算出し、当該予測値を前記入力された複数の設定値のランクとは異なる新たなランクの設定値として決定する演算制御部とを備え、前記演算制御部は、n+1個のランクの前記設定値が入力されたときに、前記ランクを示す値を独立変数とし前記設定値を従属変数とするn次方程式を前記予測式として決定すると共に、当該記憶部に記憶されている設定値を解とするように前記n次方程式に含まれる係数を決定する
また、請求項2記載の測定装置は、測定対象体について測定した測定値に基づいて当該測定対象体のランク分けを行う際に用いる設定値を複数のランク毎に設定可能に構成された測定装置であって、入力された前記各設定値を記憶可能に構成された記憶部と、操作部と、前記入力された複数の設定値に基づいて予測式を決定すると共に当該予測式を用いて所定の予測値を算出し、前記操作部の操作によって前記予測値が修正された修正値を前記入力された複数の設定値のランクとは異なる新たなランクの設定値として決定する演算制御部とを備え、前記演算制御部は、n+1個のランクの前記設定値が入力されたときに、前記ランクを示す値を独立変数とし前記設定値を従属変数とするn次方程式を前記予測式として決定すると共に、当該記憶部に記憶されている設定値を解とするように前記n次方程式に含まれる係数を決定する
また、請求項3記載の測定装置は、請求項2記載の測定装置において、前記操作部は、前記予測値を修正するときに、その回転操作量に応じた操作信号を出力する回転操作型ダイヤルを備え、前記演算制御部は、前記回転操作型ダイヤルから出力される前記操作信号に基づいて前記予測値を前記修正値に修正する。
請求項1記載の測定装置によれば、演算制御部が、複数の設定値に基づいて決定した予測式を用いて所定の予測値を算出すると共にその予測値を新たな設定値として決定することにより、過去に入力された設定値の値が推移する増減傾向に合致する予測式を用いて予測値を算出することができるため、予測値を所望の設定値の近傍に近づけることができる。したがって、初期値としての0から所望の設定値となるように入力操作する従来の装置と比較して、所望の設定値を迅速かつ容易に入力することができる。
また、請求項2記載の測定装置によれば、演算制御部が、複数の設定値に基づいて決定した予測式を用いて所定の予測値を算出すると共に操作部によって予測値が修正された修正値を新たな設定値として決定することにより、設定値として入力すべき値と算出した予測値とが一致していないときには、所望の設定値に近い値として算出される予測値を修正するだけで新たな設定値を設定することができる。また、設定値として入力すべき値と予測値とが一致しているときには、予測値の修正を不要にすることができる。このため、上記した従来の測定装置と比較して、設定値を入力する際の操作量を少なくすることができる結果、所望の設定値を迅速かつ容易に入力することができる。
また、請求項3記載の測定装置によれば、回転操作型ダイヤルが、その回転操作量に応じた操作信号を出力することにより、所望の設定値を入力するために所定回数だけ押圧する操作を繰り返さなければ予測値を修正することができないアップダウンキーなどと比較して、回転操作型ダイヤルを回転させるだけで予測値を修正することができるため、予測値を迅速かつ容易に修正することができる結果、所望の設定値を迅速かつ容易に入力することができる。
さらに、上記の測定装置によれば、演算制御部が、予測式をn次方程式として決定したときに、記憶部に記憶されている複数の設定値を解とするように予測式の次数および係数を決定することにより、過去に入力された設定値の値が推移する増減傾向に合致する予測式を用いて予測値を算出することができるため、所望の設定値に一層近い値を予測値として算出することができる結果、所望の設定値を一層迅速かつ容易に入力することができる。この場合、n次方程式として2次方程式または3次方程式に決定することで、予測式の係数を迅速かつ容易に決定することができる。
以下、本発明に係る測定装置の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。
最初に、測定装置1の構成について、図面を参照して説明する。
測定装置1は、測定対象体の抵抗値を測定すると共に測定した例えば抵抗値に基づいて被測定体を選別(例えば、ランク分け)するのに用いられる装置であって、図1に示すように、測定部2、A/Dコンバータ3、演算制御部4、操作部5、記憶部6および表示部7を備えて構成されている。この場合、測定装置1は、測定対象体としての抵抗100の抵抗値をランク分けするための抵抗値の範囲を決定するランクRを複数設定可能に構成されると共に測定した抵抗100の抵抗値が複数のランクRのいずれに属するかを判別可能に構成されている。
測定部2は、電圧源2a、演算増幅器2b、および抵抗値がRsの抵抗2cを備えて構成されている。この場合、電圧源2aは例えば電圧値Vsの定電圧を抵抗2cを介して抵抗100に供給する。A/Dコンバータ3は、演算増幅器2bから出力された出力信号S1をアナログ−デジタル(A/D)変換することでデジタル信号S2を生成して演算制御部4に出力する。
演算制御部4は、A/Dコンバータ3から出力されたデジタル信号S2の示す電圧値と、抵抗2cの抵抗値Rsと、電圧源2aの出力電圧Vsとに基づいて抵抗100の抵抗値(Ω)を算出する。また、演算制御部4は、抵抗100の抵抗値をランク分けするのに用いられる複数のランクRを設定するために、図3に示すランク設定処理20を実行する。この場合、演算制御部4は、各ランクRにおける所定範囲の下限を規定する設定値Sl、およびその上限を規定する設定値Suの各々が操作部5を用いて入力されたときには、各設定値Sl,Su(以下、区別しないときは「設定値S」ともいう)を示す設定値データDsを記憶部6に記憶させる。
また、このランク設定処理20において、演算制御部4は、複数(例えば、2つ)のランクRについての各設定値Sが入力されたときには、入力された各設定値Sに基づいて所定の予測値El,Euを算出するための予測式Fを決定する。ここで、予測値Elは、入力されたランクRとは異なる新たなランクRの下限の設定値Slを予測した値であり、予測値Euは、その新たなランクRの上限の設定値Suを予測した値である。また、演算制御部4は、各ランクRについての設定値Sを解とするように、予測式Fの次数Deおよび係数Coを決定する。この場合、演算制御部4は、設定値Sの入力されたランクRの数が(n+1)個のときには予測式Fとしてn次方程式を決定する。例えば、演算制御部4は、設定値Sの入力されたランクRの数が2つのときには、予測式Fの次数Deを「1」に決定し、設定値Sの入力されたランクRの数が3つのときには、予測式Fの次数Deを「2」に決定する。なお、ランクRの数が4つ以上のときには、予測式Fの次数Deを「2」に決定することもできる。
また、演算制御部4は、図6に示す予測値表示処理40において、算出した予測値El,Euを設定値Sl,Suの候補として表示部7に表示させる。この場合、演算制御部4は、表示された予測値Eが操作部5によって所望の修正値Mに修正されたときには、修正値Mを新たなランクRの設定値Sとして決定する。また、演算制御部4は、表示された予測値Eが修正されなかったときには、その予測値Eを新たなランクRの設定値Sとして決定する。この際に、演算制御部4は、決定した新たな設定値Sを示す設定値データDsを記憶部6に記憶させる。
操作部5は、図2に示すように、本発明における回動操作型ダイヤルに相当するジョグダイヤル5a、および確定キー5bを備えて構成されている。ジョグダイヤル5aは、ランクRの設定数N(同図における「ランク数」)および設定値Sが入力されるとき、並びに予測値Eが修正されるときに、その回転操作量に応じた操作信号Soを演算制御部4に出力する。一方、確定キー5bは、ジョグダイヤル5aを用いて入力された各値を確定するときに操作されて、その旨の操作信号Soを演算制御部4に出力する。記憶部6は、演算制御部4の制御に従い、設定値データDsを記憶可能に構成されている。表示部7は、演算制御部4の制御に従い、ランクRの設定数Nおよび各設定値Sを入力可能な入力画面P(図2参照)と、測定した抵抗100の抵抗値およびその抵抗100の抵抗値の属するランクRを表示可能な結果表示画面(図示せず)とを表示する。
次に、測定装置1の全体的な動作について図面を参照して説明する。
まず、演算制御部4が、図3に示すランク設定処理20を実行する。ここで、AランクRaからDランクRdまでの下限の各設定値Sla,Slb,Slc,Sldを「0Ω、200Ω、400Ωおよび600Ω」に設定すると共に、上限の設定値Sua,Sub,Suc,Sudを「100Ω、400Ω、600Ωおよび700Ω」に設定する例について具体的に説明する。この場合、このランク設定処理20では、演算制御部4は、まず、入力画面P(図2参照)を表示部7に表示させる。なお、この段階の入力画面Pでは、同図に示すように、設定数Nまたは設定値Sが入力されていない入力箇所に各値の初期値としての「0」が表示されると共に、最初に入力可能な項目としての設定数Nの入力箇所にカーソル(同図における設定数Nの入力箇所の下側の下線)が表示されている。この際に、使用者は、ジョグダイヤル5aを所定の回転操作量だけ操作して設定数Nの入力箇所に表示された値(表示値)を初期値から所望の設定値(この場合、「4」)まで増やした後に、確定キー5bを操作して設定数Nを「4」に確定する。この際に、ジョグダイヤル5aが、その回転操作量に応じた操作信号Soを演算制御部4に出力し、確定キー5bが、カーソルのある入力箇所(この場合、設定数N)の値が確定された旨の操作信号Soを演算制御部4に出力する。これにより、演算制御部4は、ジョグダイヤル5aから出力される操作信号Soに基づいて、現在カーソルのある設定数Nを「4」に設定する(ステップ21)と共に、図4に示すように、表示部7を制御してカーソルを次の入力項目(この場合、Aランクの下限の設定値Sla)の位置に移動させる。
この場合、使用者は、次に入力すべき下限の設定値Sla(0Ω)と初期値(0Ω)とが一致していると判断して、ジョグダイヤル5aを操作することなく確定キー5bを操作して設定値Slaを「0Ω」に確定する。この際に、演算制御部4は、確定キー5bから出力される操作信号Soに応じて、表示部7を制御してカーソルを次の入力項目(この場合、Aランクの上限の設定値Sua)の位置に移動させる。ここで、使用者は、入力すべき上限の設定値Sua(100Ω)と初期値とが一致していないと判断して、ジョグダイヤル5aを所定の回転操作量だけ操作して設定値Suaの表示値を初期値から所望の設定値(この場合、100Ω)まで増やした後に、確定キー5bを操作して設定値Suaを「100Ω」に確定する。これに応じて、演算制御部4は、表示部7を制御してカーソルを次の入力項目(この場合、Bランクの下限の設定値Slb)の位置に移動させる。この場合、演算制御部4は、ジョグダイヤル5aから出力された操作信号Soに基づいて、各設定値Sla,Suaを「0Ω」および「100Ω」にそれぞれ設定する(ステップ22)。続いて、演算制御部4は、設定値Sla,Suaを示すAランクRaの設定値データDsaを記憶部6に記憶させる(ステップ23)。
次いで、演算制御部4は、2つ以上のランクRの設定値Sl,Suを設定したか否かを判別する(ステップ24)。この段階では、AランクRaの設定値データDsaしか設定していないため、演算制御部4は、次の設定値Slb,Subが入力されるまで待機し、入力されたときには、ステップ22〜ステップ24を再度実行する。この際に、使用者は、ジョグダイヤル5aおよび確定キー5bを用いた上記の操作と同様に操作することにより、図5に示すように、BランクRbの設定値Slb,Sub(この場合、200Ωおよび400Ω)を入力する。この際に、ジョグダイヤル5aおよび確定キー5bは、上記の動作と同様に動作して、各操作信号Soを演算制御部4に出力する。これにより、演算制御部4は、ジョグダイヤル5aから出力される操作信号Soに基づいて、各設定値Slb,Subを「200Ω」および「400Ω」にそれぞれ設定する(ステップ22)。続いて、演算制御部4は、設定値Slb,Subを示すBランクRbの設定値データDsbを記憶部6に記憶させる(ステップ23)。この場合、AランクRaおよびBランクRbの設定値データDsa,Dsbが記憶部6に記憶されているため、演算制御部4は、ステップ24において2つ以上のランクRの設定値Sl,Suを設定したと判別して、図6に示す予測値表示処理40を実行する(ステップ25)。
この予測値表示処理40では、演算制御部4は、2つのランクRの設定値Sが入力されているため、入力されたランクRの設定値S(つまり、記憶部6に記憶されている設定値データDsの示す設定値S)を解とするように、予測式Fの次数Deを「1」に決定する(ステップ41)ことにより、予測式Fを1次方程式(この場合、y=ax+b)に決定する。なお、この方程式Fにおいて、従属変数(この場合、y)が、設定値Sを示し、独立変数(この場合、x)が、設定値Sに対応するランクの値(AランクRaは「1」、BランクRbは「2」、CランクRcは「3」、およびDランクRdは「4」)を示している。続いて、演算制御部4は、入力されたランクRの設定値Sを解とするように各予測式Fl,Fuの係数Coをそれぞれ決定する(ステップ42)。この場合、2つのランクRa,Rbについて下限の設定値Sla,Slb(0Ωおよび200Ω)が入力されているため、演算制御部4は、両設定値Sla,Slbを解とするように予測式Fl(y=ax+b)の係数Co(この場合、aおよびb)を決定する。具体的には、演算制御部4は、各設定値Sla,Slbと対応するランクの値(「1」または「2」)とをランク毎に予測式Flの従属変数および独立変数に代入することにより、係数Coを未知数とする2つの方程式(「0=a+b」および「200=2a+b」)を決定して、決定した2つの方程式で構成される連立方程式を解くことによって係数Coを決定する。この場合、係数Coが「a=200,b=−200」となるため、演算制御部4は、決定した次数Deおよび係数Coを用いて予測式Flを「y=200x−200」に決定する。
また、2つのランクRa,Rbについて上限の設定値Sua,Sub(100Ωおよび400Ω)が入力されているため、演算制御部4は、両設定値Sua,Subを解とするように予測式Fuの係数Coを決定する。この場合、演算制御部4は、上記の動作と同様に動作して、両設定値Sua,Subおよび対応するランクの値に基づく2つの方程式(「100=a+b」および「400=2a+b」)で構成される連立方程式を解くことによって係数Coを決定する。この場合、係数Coが「a=300,b=−200」となるため、演算制御部4は、決定した次数Deおよび係数Coを用いて予測式Fuを「y=300x−200」に決定する。
次いで、演算制御部4は、予測式Fl,Fuを用いて未設定のランクRcの各予測値El,Euをそれぞれ算出する(ステップ43)。この場合、演算制御部4は、決定した下限の予測式Fl(y=200x−200)の独立変数に未設定のランクRcの値(この場合、「3」)を代入することにより、予測値Elcとして「400Ω」を算出する。また、演算制御部4は、決定した上限の予測式Fu(y=300x−200)の独立変数に未設定のランクRcの値を代入することにより、予測値Eucとして「700Ω」を算出する。続いて、演算制御部4は、表示部7を制御して、図7に示すように、算出したランクRcの各予測値El(400Ω),Eu(700Ω)を入力画面Pに表示させて(ステップ44)、予測値表示処理40を終了する。
この場合、使用者は、次に入力すべきCランクRcの下限の設定値Slcと表示された予測値Elcとが一致していると判断して、ジョグダイヤル5aを操作することなく確定キー5bを操作して設定値Slcを「400Ω」に確定する。これに応じて、演算制御部4は、表示部7を制御してカーソルを次の入力項目(この場合、Cランクの上限の設定値Suc)の位置に移動させる。次いで、使用者は、次に入力すべき上限の設定値Suc(600Ω)と、表示された予測値Euc(700Ω)とが一致していないと判断して、ジョグダイヤル5aを操作して設定値Sucの表示値を予測値Eucから所望の設定値(この場合、600Ω)まで減らす修正を行った後に、予測値Elcを修正した修正値Muc(図8参照)を設定値Sucとして確定する。これに応じて、演算制御部4は、表示部7を制御してカーソルを次の入力項目(この場合、Dランクの下限の設定値Sld)の位置に移動させる。このように、下限の設定値Slcについては予測値Elcと設定値Slcとが一致しているのでジョグダイヤル5aを操作することなく設定可能であり、上限の設定値Sucについては設定値Sucの近傍の予測値Eucを修正するだけで設定可能となる。このため、初期値を修正することで設定値Slc,Sucを入力するのと比較して、設定値Slc,Sucを設定する際のジョグダイヤル5aの操作量が極めて少なくなる。
次いで、演算制御部4は、ジョグダイヤル5aからの操作信号Soが出力されたか否かを判別する(ステップ26)。この場合、その操作信号Soが予測値Eucの確定前に出力されているため、演算制御部4は、ジョグダイヤル5aから出力された操作信号Soに基づいて、その操作信号Soが出力されたときにカーソルのあったCランクRcの予測値Eucが修正された修正値Muc(600Ω)を算出する(ステップ27)。この場合、演算制御部4は、予測値Elc(400Ω)を設定値Slcとして決定すると共に修正値Muc(600Ω)を設定値Sucとして決定する(ステップ28)。続いて、演算制御部4は、設定値Slc,Sucを示すCランクRcの設定値データDscを記憶部6に記憶させる(ステップ29)。次いで、演算制御部4は、設定数N(この場合、4つ)の設定値データDsが記憶部6に記憶されているか否かを判別する(ステップ30)。この場合、AランクRaからCランクRcまでの設定値データDsa〜Dscが記憶されているため、演算制御部4は、ステップ25の予測値表示処理40を再度実行する。
この予測値表示処理40では、演算制御部4は、3つのランクRの設定値Sが入力されているため、入力されたランクRの設定値Sを解とするように予測式Fの次数Deを「2」に決定する(ステップ41)ことにより、予測式Fを2次方程式(この場合、y=ax+bx+c)に決定する。続いて、演算制御部4は、入力されたランクRの設定値Sを解とするように各予測式Fl,Fuの係数Coをそれぞれ決定する(ステップ42)。この場合、3つのランクRa〜Rcについて下限の設定値Sla〜Slc(0Ω、200Ωおよび400Ω)が入力されているため、演算制御部4は、これらの設定値Sla〜Slcを解とするように予測式Fl(y=ax+bx+c)の係数Co(この場合、a、bおよびc)を決定する。具体的には、演算制御部4は、各設定値Sla〜Slcと各ランクの値(この場合、「1」、「2」または「3」)とをランク毎に予測式Flの従属変数および独立変数に代入することにより、係数Coを未知数とする3つの方程式(「0=a+b+c」、「200=4a+2b+c」および「400=9a+3b+c」)を決定して、決定した3つの方程式で構成される連立方程式を解くことによって係数Coを決定する。この場合、係数Coが「a=0,b=200,c=−200」となるため、演算制御部4は、決定した次数Deおよび係数Coを用いて予測式Flを「y=200x−200」に決定する。
また、3つのランクRa〜Rcについて上限の設定値Sua〜Sucが入力されているため、演算制御部4は、設定値Sua〜Suc(100Ω、400Ωおよび600Ω)を解とするように予測式Fu(y=ax+bx+c)の係数Coを決定する。この場合、演算制御部4は、上記の動作と同様に動作して、これらの設定値Sua〜Sucおよび各ランクの値に基づく3つの方程式(「100=a+b+c」、「400=4a+2b+c」および「600=9a+3b+c」)で構成される連立方程式を解くことによって係数Coを決定する。この場合、係数Coが「a=−50,b=450,c=300」となるため、演算制御部4は、決定した次数Deおよび係数Coを用いて予測式Fuを「y=−50x+450x+300」に決定する。このように、設定値Sを解とするように予測式Fの次数Deおよび係数Coを決定することにより、過去に入力された設定値Sの値が推移する増減傾向に合致する予測式Fを用いて予測値Eを算出することができるため、所望の設定値Sに一層近い値が予測値Eとして算出される。
次いで、演算制御部4は、予測式Fl,Fuを用いて未設定のDランクRdの各予測値Eld,Eudをそれぞれ算出する(ステップ43)。具体的には、演算制御部4は、決定した下限の予測式Fl(y=200x−200)および上限の予測式Fu(y=−50x+450x+300)のそれぞれの独立変数にDランクRdの値(この場合、「4」)を代入することにより、各設定値Sld,Sudの各予測値Eld,Eudとして「600Ω」および「700Ω」を算出する。続いて、演算制御部4は、表示部7を制御し、図9に示すように、算出した各予測値Eld,Eudを入力画面Pに表示させて(ステップ44)、予測値表示処理40を終了する。
この場合、使用者は、次に入力すべきDランクRdの下限の設定値Sldと表示された予測値Eldとが一致していると判断して、ジョグダイヤル5aを操作することなく確定キー5bを操作して設定値Sldを「600Ω」に確定する。これに応じて、演算制御部4は、表示部7を制御してカーソルを次の入力項目(この場合、Dランクの上限の設定値Sud)の位置に移動させる。次いで、使用者は、上限の設定値Sudと表示された予測値Eudとが一致していると判断して、ジョグダイヤル5aを操作することなく確定キー5bを操作して設定値Sudを「700Ω」に確定する。
この場合、演算制御部4は、ステップ26においてジョグダイヤル5aからの操作信号Soが出力されていないと判別して、ステップ27を実行することなく、各予測値Eld,EudをDランクRdの各設定値Sld,Sudとしてそれぞれ設定する(ステップ28)。続いて、演算制御部4は、設定値Sld,Sudを示すDランクRdの設定値データDsdを記憶部6に記憶させる(ステップ29)。次いで、AランクRaからDランクRdまでの設定値データDsa〜Dsdが記憶されているため、演算制御部4は、ステップ30において設定数Nの設定値データDsが記憶されていると判別し、入力画面Pの表示を終了させてランク設定処理20を終了する。
次いで、使用者は、測定対象の抵抗100を測定部2にセットする。この際に、電圧源2aが、抵抗2cを介して抵抗100に定電圧を供給し、A/Dコンバータ3が、演算増幅器2bから出力された出力信号S1をA/D変換することでデジタル信号S2を生成して演算制御部4に出力する。この場合、演算制御部4は、上記したように、デジタル信号S2の示す電圧値と、抵抗2cの抵抗値Rsと、電圧源2aの出力電圧Vsとに基づいて抵抗100の抵抗値(Ω)を算出する。次いで、演算制御部4は、設定値データDsa〜Dsdを記憶部6から読み込むと共に設定値データDsa〜Dsdの示す4つのランクRa〜Rdのうちのいずれに抵抗100の抵抗値が属するかを判別して、その判別結果を表示部7に表示させる。例えば、測定した抵抗100の抵抗値が「500Ω」のときには、演算制御部4は、表示部7を制御して、その抵抗値を表示すると共にその抵抗値の属するランクがCランクRc(400Ωから600Ωまでの範囲)である旨を結果表示画面(図示せず)に表示させる。これにより、使用者は、表示されたランクに応じた抵抗100の選別を行う。
このように、この測定装置1によれば、演算制御部4が、複数の設定値Sに基づいて決定した予測式Fを用いて所定の予測値Eを算出すると共にその予測値Eを新たな設定値Sとして決定することにより、過去に入力された設定値Sの値が推移する増減傾向に合致する予測式Fを用いて予測値Eを算出することができるため、予測値Eを所望の設定値Sの近傍に近づけることができる。したがって、初期値としての0から所望の設定値Sとなるように入力操作する従来の装置と比較して、所望の設定値Sを迅速かつ容易に入力することができる。
また、この測定装置1によれば、演算制御部4が、複数の設定値Sに基づいて決定した予測式Fを用いて所定の予測値Eを算出すると共に操作部5によって予測値Eが修正された修正値Mを新たな設定値Sとして決定することにより、設定値Sとして入力すべき値と予測値Eとが一致していないときには、所望の設定値Sに近い値として算出される予測値Eを修正するだけで新たな設定値Sを設定することができる。また、設定値Sとして入力すべき値と予測値Eとが一致しているときには、予測値Eの修正を不要にすることができる。このため、上記した従来の測定装置と比較して、設定値Sを入力する際の操作量を極めて少なくすることができる結果、所望の設定値Sを迅速かつ容易に入力することができる。
さらに、この測定装置1によれば、ジョグダイヤル5aが、その回転操作量に応じた操作信号Soを出力することにより、所望の設定値Sを入力するために所定回数だけ押圧する操作を繰り返さなければ予測値Eを修正することができないアップダウンキーなどと比較して、ジョグダイヤル5aを回転させるだけで予測値Eを修正することができるため、予測値Eを迅速かつ容易に修正することができる結果、所望の設定値Sを迅速かつ容易に入力することができる。
また、この測定装置1によれば、演算制御部4が、予測式Fをn次方程式として決定したときに、設定値データDsの示す設定値Sを解とするように予測式Fの次数Deおよび係数Coを決定することにより、過去に入力された設定値Sの値が推移する増減傾向に合致する予測式Fを用いて予測値Eを算出することができるため、所望の設定値Sに一層近い値を予測値Eとして算出することができる結果、所望の設定値Sを一層迅速かつ容易に入力することができる。
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、複数の設定値Sを解とするように次数Deおよび係数Coを決定したn次方程式の予測式Fを用いて予測値Eを算出する例について説明したが、これに限定されない。例えば、3つ以上の設定値Sを設定したときに、各設定値Sに対する誤差の総和が最も小さくなるような1次方程式の予測式Fを最小2乗法を用いて決定すると共に、決定した予測式Fを用いて予測値Eを算出する構成を採用することもできる。この構成によれば、簡易な予測式Fで予測値Eを算出することができるため、予測値Eを迅速に算出することができる。また、複数の設定値Sを解とするように次数Deおよび係数Coを決定したn次方程式、および最小2乗法を用いて決定した1次方程式のいずれを予測式Fに決定するかを使用者に対して選択させる構成を採用することもできる。この構成によれば、使用者がいずれの方程式を予測式Fに適用するかを決定することができるため、所望の設定値Sに一層近い値を予測値Eとして算出することができる。また、AランクからDランクに向けて設定値Sl,Suを順に設定する例について説明したが、設定する順序は、これに限らず、任意の順序で設定可能な構成を採用することもできる。
さらに、予測式Fを用いて予測値Eを算出するか否かを使用者に対して決定させる構成を採用することもできる。この構成によれば、例えば、使用者が、所望の設定値Sと予測値Eを修正することによって設定値Sを入力するよりも、初期値を修正することによって設定値Sを入力する方が操作部5の操作量が少なくなると判断したときには、初期値を修正することによって設定値Sを入力することにより、ジョグダイヤル5aの操作量を少なくすることができる。また、本例ではその値が共に増える複数のランクRを規定する上下限の設定値Sl,Suを設定する例を挙げて説明したが、本発明における設定値の種類はこれには限定されない。例えば、所定の基準値に対する正の偏差(例えば、10%、20%および32%)として設定値が入力されると共に、負の偏差(例えば、−5%、−12%および−20%)として設定値が入力されたときには、各設定値に基づく予測式を決定して、その予測式を用いて予測値を算出することにより、正負の偏差の新たな設定値を設定することができる。同様にして、所定の基準値に対して正負が同じ複数の偏差(例えば、±10%、±20%および±32%)として設定値が入力されたときにも、上記の動作と同様に動作することにより、入力された設定値とは異なる偏差の新たな設定値を算出することができる。
測定装置1の構成図である。 測定装置1の正面図である。 ランク設定処理20のフローチャートである。 設定数Nが入力された状態の入力画面Pを示す表示画面図である。 設定値Subが入力された状態の入力画面Pを示す表示画面図である。 予測値表示処理40のフローチャートである。 ランクRcの予測値Elc,Eucが表示された状態の入力画面Pの一例を示す表示画面図である。 予測値Eucを修正した修正値Mucが表示された状態の入力画面Pを示す表示画面図である。 予測値Eld,Eudが入力された状態の入力画面Pを示す表示画面図である。
符号の説明
1 測定装置
2 測定部
4 演算制御部
5 操作部
5a ジョグダイヤル
6 記憶部
8 表示部
Co 係数
De 次数
Dsa〜Dsd 設定値データ
Elc,Eld,Euc,Eud 予測値
Fl,Fu 予測式
Muc 修正値
Sla〜Sld,Sua〜Sud 設定値

Claims (3)

  1. 測定対象体について測定した測定値に基づいて当該測定対象体のランク分けを行う際に用いる設定値を複数のランク毎に設定可能に構成された測定装置であって、
    入力された前記各設定値を記憶可能に構成された記憶部と、
    前記入力された複数の設定値に基づいて予測式を決定すると共に当該予測式を用いて所定の予測値を算出し、当該予測値を前記入力された複数の設定値のランクとは異なる新たなランクの設定値として決定する演算制御部とを備え、
    前記演算制御部は、n+1個のランクの前記設定値が入力されたときに、前記ランクを示す値を独立変数とし前記設定値を従属変数とするn次方程式を前記予測式として決定すると共に、当該記憶部に記憶されている設定値を解とするように前記n次方程式に含まれる係数を決定する測定装置。
  2. 測定対象体について測定した測定値に基づいて当該測定対象体のランク分けを行う際に用いる設定値を複数のランク毎に設定可能に構成された測定装置であって、
    入力された前記各設定値を記憶可能に構成された記憶部と、
    操作部と、
    前記入力された複数の設定値に基づいて予測式を決定すると共に当該予測式を用いて所定の予測値を算出し、前記操作部の操作によって前記予測値が修正された修正値を前記入力された複数の設定値のランクとは異なる新たなランクの設定値として決定する演算制御部とを備え、
    前記演算制御部は、n+1個のランクの前記設定値が入力されたときに、前記ランクを示す値を独立変数とし前記設定値を従属変数とするn次方程式を前記予測式として決定すると共に、当該記憶部に記憶されている設定値を解とするように前記n次方程式に含まれる係数を決定する測定装置。
  3. 前記操作部は、前記予測値を修正するときに、その回転操作量に応じた操作信号を出力する回転操作型ダイヤルを備え、
    前記演算制御部は、前記回転操作型ダイヤルから出力される前記操作信号に基づいて前記予測値を前記修正値に修正する請求項2記載の測定装置。
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