JP5797038B2 - 等価回路解析装置及び等価回路解析方法 - Google Patents
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Q=ωp/(ω2−ω1)
C=Q/(ωp×P)
L=(2×Q2)/(ωp2×C×(2×Q2−1))
R=L/(C×P)
Q=ωm/(ω2−ω1)
L=Q/(ωm×M)
C=(2×Q2)/(ωm2×L×(2×Q2−1))
R=(L×M)/C
Claims (8)
- 画像を表示可能な表示部と、
測定対象物の複素インピーダンスの周波数特性を測定して、該表示部にグラフで表示させる測定部と、
該測定部の測定した該測定対象物の周波数特性に基づいて、複数の電気素子を組み合わせた所定の等価回路の各素子定数を推定する推定部と、
該素子定数を該表示部に表示させると共に、該各素子定数を個々に変更設定可能な素子定数変更部と、
該推定部の推定した該各素子定数、及び、該素子定数変更部によって変更設定された該各素子定数で、該等価回路の理論的な複素インピーダンスの周波数特性を算出して、該表示部にグラフで表示させる理論特性演算部と、
いずれの該素子定数の大小を変化させたらよいかを示すガイド情報を予め記憶するガイド情報記憶部と、
該表示部に表示された、該測定対象物及び/又は該等価回路の周波数特性のグラフの部位を選択するための選択部と、
該選択部によって選択された該部位に対応するガイド情報を該ガイド情報記憶部から読み出して、そのガイド情報を該表示部に表示させるガイド情報処理部とを備え、
該選択部が、前記測定対象物の周波数特性と前記等価回路の周波数特性との差を演算して該差が所定差よりも大きい該測定対象物及び/又は該等価回路の周波数特性のグラフの前記部位を選択する選択用演算部であることを特徴とする等価回路解析装置。 - 前記選択部が、前記表示部となるタッチパネルにより、前記測定対象物の周波数特性と前記等価回路の周波数特性との差を演算して該差が所定差よりも大きい該測定対象物及び/又は該等価回路の周波数特性のグラフの前記部位を選択する、選択用演算部であることを特徴とする請求項1に記載の等価回路解析装置。
- 前記素子定数変更部が、前記各々の素子定数を個別に、一操作で増加又は減少させて増減設定可能な増減手段を有しており、該増減手段が操作されるたびに増減設定された該素子定数で、前記理論特性演算部が、該等価回路の該理論的な複素インピーダンスの周波数特性を直ちに再演算して、そのグラフを該表示部に表示させることを特徴とする請求項1又は2に記載の等価回路解析装置。
- 前記各素子定数の各々の上限許容値及び下限許容値を予め記憶する許容値記憶部と、該上限許容値及び該下限許容値の範囲内に前記素子定数が入っているか否かを判定し、その判定結果を前記表示部に表示させる比較部とを備えることを特徴とする請求項1から3のいずれかにに記載の等価回路解析装置。
- 測定対象物の複素インピーダンスの周波数特性を測定して、表示部にグラフで表示させる測定ステップと、
該測定ステップで測定した該測定対象物の周波数特性に基づいて、複数の電気素子を組み合わせた所定の等価回路の各素子定数を推定する推定ステップと、
該等価回路の理論的な複素インピーダンスの周波数特性を算出して、表示部にグラフで表示させる理論特性演算ステップと、
該表示部に表示された、該測定対象物及び/又は該等価回路の周波数特性のグラフの部位を選択する選択ステップと、
いずれの該素子定数の大小を変化させたらよいかを示すガイド情報を予め記憶するガイド情報記憶部から、該選択ステップによって選択された該部位に対応する該ガイド情報を読み出して、そのガイド情報を該表示部に表示させるガイド情報処理ステップとを含み、
前記選択ステップで、前記測定対象物の周波数特性と前記等価回路の周波数特性との差を算出して該差が所定差よりも大きい該測定対象物及び/又は該等価回路の周波数特性のグラフの前記部位を選択することを特徴とすることを特徴とする等価回路解析方法。 - 前記選択ステップで、前記表示部となるタッチパネルが操作されて前記部位が選択され、前記測定対象物の周波数特性と前記等価回路の周波数特性との差を算出して該差が所定差よりも大きい該測定対象物及び/又は該等価回路の周波数特性のグラフの前記部位を選択することを特徴とする請求項5に記載の等価回路解析方法。
- 前記各々の素子定数を個別に一操作で増加又は減少させて増減設定可能な増減手段が操作されるたびに、前記理論特性演算ステップを実行して、増減設定された該素子定数で該等価回路の該理論的な複素インピーダンスの周波数特性を直ちに再演算して、そのグラフを該表示部に表示させることを特徴とする請求項5又は6に記載の等価回路解析方法。
- 上限許容値及び下限許容値の範囲内に前記素子定数が入っているか否かを判定し、その判定結果を前記表示部に表示させることを特徴とする請求項5から7のいずれかに記載の等価回路解析方法。
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