JP6965494B2 - センサデータ検出に基づくインピーダンス補償 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 12
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 370
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 47
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 25
- 230000035939 shock Effects 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 24
- 230000008569 process Effects 0.000 description 20
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 15
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 15
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 14
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 13
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 12
- 230000006870 function Effects 0.000 description 11
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 6
- 230000009471 action Effects 0.000 description 5
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 5
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 3
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 description 3
- 238000003032 molecular docking Methods 0.000 description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 101100498818 Arabidopsis thaliana DDR4 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000010295 mobile communication Methods 0.000 description 1
- 239000002070 nanowire Substances 0.000 description 1
- 230000002085 persistent effect Effects 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 238000011112 process operation Methods 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 230000002207 retinal effect Effects 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000036962 time dependent Effects 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
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- G06F11/3089—Monitoring arrangements determined by the means or processing involved in sensing the monitored data, e.g. interfaces, connectors, sensors, probes, agents
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/3003—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored
- G06F11/3037—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored where the computing system component is a memory, e.g. virtual memory, cache
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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- G06F11/30—Monitoring
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- G06F13/38—Information transfer, e.g. on bus
- G06F13/42—Bus transfer protocol, e.g. handshake; Synchronisation
- G06F13/4204—Bus transfer protocol, e.g. handshake; Synchronisation on a parallel bus
- G06F13/4234—Bus transfer protocol, e.g. handshake; Synchronisation on a parallel bus being a memory bus
- G06F13/4243—Bus transfer protocol, e.g. handshake; Synchronisation on a parallel bus being a memory bus with synchronous protocol
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- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/02—Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
- G11C29/021—Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters in voltage or current generators
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- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/02—Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
- G11C29/022—Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters in I/O circuitry
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- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
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- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
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- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C29/46—Test trigger logic
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/50—Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing
- G11C29/50008—Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing of impedance
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
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- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
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- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
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Description
[著作権表示/許可]
メモリデバイスに対するI/Oインピーダンスに影響を与える性能状態の変化を、メモリデバイス上のロジックによって検出する工程と、
変化を検出する工程に応答して、関連したメモリコントローラに対する補償フラグ信号を始動する工程と、
補償フラグ信号に応答して、メモリデバイスのI/Oインピーダンス補償の変更を始動するインピーダンス補償信号を、メモリコントローラからメモリデバイスにて受信する工程と
を含む。
センサ測定値の変化を示すメモリデバイスからのデータを読み取る、メモリデバイスに結合されるI/O(入出力)ハードウェアと、
メモリデバイスに対するI/Oインピーダンスに影響を与える性能状態が、メモリデバイスからのデータの読み取りに基づく閾値を超えて変わったことを決定し、性能状態が閾値を超えて変わったとの決定に応答して、メモリデバイスのI/Oインピーダンス補償の変更を始動させるメモリデバイスに対するインピーダンス補償信号を生成するスケジューラと
を含む。
メモリコントローラは、センサ測定値の変化を示すDRAMからのデータを読み取るDRAMに結合されるI/O(入出力)ハードウェアと、DRAMに対するI/Oインピーダンスに影響を与える性能状態が、メモリデバイスからのデータの読み取りに基づく閾値を超えて変わったことを決定し、性能状態が閾値を超えて変わったとの決定に応答して、DRAMのI/Oインピーダンス補償の変更を始動させるDRAMに対するインピーダンス補償信号を生成するスケジューラとを有する。電子デバイスは、メモリデバイスに結合されるメモリコントローラに関して上記に説明される任意の実施形態によるDRAMに結合されるメモリコントローラを含み得る。
を含む動作を機械に実行させる。製造物品は、上記に説明される方法の任意の実施形態による動作を実行するためのコンテンツを含み得る。
Claims (19)
- メモリデバイスであって、
インピーダンスキャリブレーションの更新の必要性をメモリコントローラに示すインピーダンスキャリブレーション更新フラグを、当該メモリデバイスにより選択的に書き込み可能なレジスタと、
前記メモリコントローラに結合された場合に、前記インピーダンスキャリブレーション更新フラグが設定されていることを前記メモリコントローラが検出したことに応じて、当該メモリデバイスに新たなキャリブレーション設定を設定するためのインピーダンスキャリブレーションラッチ信号(ZQCAL LATCH)を含むコマンドを前記メモリコントローラから受信するI/O(入力/出力)ハードウェアと、
を備えるメモリデバイス。 - 前記I/Oハードウェアは、前記インピーダンスキャリブレーション更新フラグをチェックするためのポーリング要求を前記メモリコントローラから周期的に受信する、請求項1に記載のメモリデバイス。
- 前記レジスタはモードレジスタを有し、
前記I/Oハードウェアは、前記モードレジスタを読み取り前記インピーダンスキャリブレーション更新フラグをチェックするためのコマンドを周期的に受信する、請求項1または2に記載のメモリデバイス。 - 前記I/Oハードウェアは、第1のインピーダンスキャリブレーション起動信号(ZQCAL START)の受信とともに、前記インピーダンスキャリブレーションラッチ信号を受信する、請求項1から3の何れか一項に記載のメモリデバイス。
- 当該メモリデバイスは、以前のインピーダンスキャリブレーション設定と更新されたキャリブレーション設定とを比較演算し、前記更新されたキャリブレーション設定が前記以前のインピーダンスキャリブレーション設定から閾値よりも大きく異なる場合に、前記インピーダンスキャリブレーション更新フラグのみを設定する、請求項1から4のいずれか一項に記載のメモリデバイス。
- 前記新たなキャリブレーション設定は、ドライバインピーダンスの設定を含む、請求項1から5のいずれか一項に記載のメモリデバイス。
- 前記新たなキャリブレーション設定は、オンダイターミネーション(ODT)設定を含む、請求項1から6のいずれか一項に記載のメモリデバイス。
- 当該メモリデバイスの性能状態の変化を検出するオンダイセンサをさらに備え、
当該メモリデバイスは、前記オンダイセンサを用いた前記変化の検出に基づいて前記インピーダンスキャリブレーションを設定する、請求項1から7のいずれか一項に記載のメモリデバイス。 - ローパワーダブルデータレート(LPDDR)規格と互換性を有するダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)デバイスをさらに備える、請求項1から8のいずれか一項に記載のメモリデバイス。
- メモリコントローラであって、
メモリデバイスに結合して前記メモリデバイスからインピーダンスキャリブレーション更新フラグを読み取るI/O(入力/出力)ハードウェアであって、前記インピーダンスキャリブレーション更新フラグはインピーダンスキャリブレーションの更新の必要性を示す、I/Oハードウェアと、
設定された前記インピーダンスキャリブレーション更新フラグの検出に応じて、固定スケジュールでのインピーダンスキャリブレーション信号に代えてインピーダンスキャリブレーションラッチ信号(ZQCAL LATCH)をスケジューリングするスケジューラと、
を備え、
前記I/Oハードウェアは、前記メモリデバイスに新たなキャリブレーション設定を設定するための前記インピーダンスキャリブレーションラッチ信号を前記メモリデバイスに送信する、メモリコントローラ。 - 前記I/Oハードウェアは、前記インピーダンスキャリブレーション更新フラグをチェックするためのポーリング要求を前記メモリデバイスに周期的に送信する、請求項10に記載のメモリコントローラ。
- 前記メモリデバイスはモードレジスタを有し、
前記I/Oハードウェアは、前記モードレジスタを読み取り前記インピーダンスキャリブレーション更新フラグをチェックするためのコマンドを周期的に送信する、請求項10または11に記載のメモリコントローラ。 - 前記I/Oハードウェアは、始めにインピーダンスキャリブレーション起動信号(ZQCAL START)を送信することなく、前記インピーダンスキャリブレーションラッチ信号を送信する、請求項10から12の何れか一項に記載のメモリコントローラ。
- 前記メモリデバイスは、以前のインピーダンスキャリブレーション設定と更新されたキャリブレーション設定とを比較演算し、前記更新されたキャリブレーション設定が前記以前のインピーダンスキャリブレーション設定から閾値よりも大きく異なる場合に、前記インピーダンスキャリブレーション更新フラグのみを設定する、請求項10から13のいずれか一項に記載のメモリコントローラ。
- 前記新たなキャリブレーション設定は、ドライバインピーダンスの設定を含む、請求項10から14のいずれか一項に記載のメモリコントローラ。
- 前記新たなキャリブレーション設定は、オンダイターミネーション(ODT)設定を含む、請求項10から15のいずれか一項に記載のメモリコントローラ。
- 前記メモリデバイスの性能状態の変化を検出するオンダイセンサをさらに備え、
前記メモリデバイスは、前記オンダイセンサを用いた前記変化の検出に基づいて前記インピーダンスキャリブレーションを設定する、請求項10から16のいずれか一項に記載のメモリコントローラ。 - 前記メモリデバイスは、当該メモリコントローラに並列に結合された複数のメモリデバイスのうちの1つであり、
当該メモリコントローラは、複数の異なるメモリデバイスからの複数の異なるインピーダンスキャリブレーション更新フラグに基づいて、複数の異なるインピーダンスキャリブレーション更新を管理する、請求項10から17のいずれか一項に記載のメモリコントローラ。 - 前記メモリデバイスは、ローパワーダブルデータレート(LPDDR)規格と互換性を有するダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)デバイスを備える、請求項10から18のいずれか一項に記載のメモリコントローラ。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US14/670,411 US10025685B2 (en) | 2015-03-27 | 2015-03-27 | Impedance compensation based on detecting sensor data |
US14/670,411 | 2015-03-27 | ||
JP2017541939A JP6729940B2 (ja) | 2015-03-27 | 2016-03-07 | センサデータ検出に基づくインピーダンス補償 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017541939A Division JP6729940B2 (ja) | 2015-03-27 | 2016-03-07 | センサデータ検出に基づくインピーダンス補償 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020170532A JP2020170532A (ja) | 2020-10-15 |
JP6965494B2 true JP6965494B2 (ja) | 2021-11-10 |
Family
ID=56974261
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017541939A Active JP6729940B2 (ja) | 2015-03-27 | 2016-03-07 | センサデータ検出に基づくインピーダンス補償 |
JP2020112055A Active JP6965494B2 (ja) | 2015-03-27 | 2020-06-29 | センサデータ検出に基づくインピーダンス補償 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017541939A Active JP6729940B2 (ja) | 2015-03-27 | 2016-03-07 | センサデータ検出に基づくインピーダンス補償 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US10025685B2 (ja) |
EP (2) | EP3657506B1 (ja) |
JP (2) | JP6729940B2 (ja) |
KR (2) | KR102581206B1 (ja) |
CN (2) | CN110059048B (ja) |
TW (1) | TWI643206B (ja) |
WO (1) | WO2016160276A1 (ja) |
Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10325655B2 (en) * | 2015-04-10 | 2019-06-18 | Hewlett Packard Enterprise Development Lp | Temperature compensation circuits |
US10141935B2 (en) * | 2015-09-25 | 2018-11-27 | Intel Corporation | Programmable on-die termination timing in a multi-rank system |
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US9653144B1 (en) | 2016-06-28 | 2017-05-16 | Intel Corporation | Apparatuses, methods, and systems for package on package memory refresh and self-refresh rate management |
JP6640677B2 (ja) | 2016-08-19 | 2020-02-05 | キオクシア株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP2018045743A (ja) * | 2016-09-13 | 2018-03-22 | 東芝メモリ株式会社 | 半導体装置及びメモリシステム |
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CN112817884A (zh) * | 2019-11-15 | 2021-05-18 | 安徽寒武纪信息科技有限公司 | 一种存储器以及包括该存储器的设备 |
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2015
- 2015-03-27 US US14/670,411 patent/US10025685B2/en active Active
-
2016
- 2016-02-04 TW TW105103783A patent/TWI643206B/zh active
- 2016-03-07 JP JP2017541939A patent/JP6729940B2/ja active Active
- 2016-03-07 CN CN201910052999.7A patent/CN110059048B/zh active Active
- 2016-03-07 KR KR1020177023566A patent/KR102581206B1/ko active IP Right Grant
- 2016-03-07 EP EP19211469.2A patent/EP3657506B1/en active Active
- 2016-03-07 WO PCT/US2016/021153 patent/WO2016160276A1/en active Application Filing
- 2016-03-07 KR KR1020187037130A patent/KR102617628B1/ko active IP Right Grant
- 2016-03-07 EP EP16773699.0A patent/EP3274994B1/en active Active
- 2016-03-07 CN CN201680019113.3A patent/CN107408099B/zh active Active
-
2018
- 2018-05-30 US US15/993,245 patent/US10552285B2/en active Active
-
2020
- 2020-06-29 JP JP2020112055A patent/JP6965494B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3274994B1 (en) | 2019-12-04 |
US10025685B2 (en) | 2018-07-17 |
KR20170131371A (ko) | 2017-11-29 |
KR20190000387A (ko) | 2019-01-02 |
US10552285B2 (en) | 2020-02-04 |
KR102581206B1 (ko) | 2023-09-21 |
CN110059048A (zh) | 2019-07-26 |
TWI643206B (zh) | 2018-12-01 |
EP3274994A4 (en) | 2018-11-21 |
US20160284386A1 (en) | 2016-09-29 |
JP6729940B2 (ja) | 2020-07-29 |
US20190004919A1 (en) | 2019-01-03 |
CN107408099A (zh) | 2017-11-28 |
WO2016160276A1 (en) | 2016-10-06 |
EP3657506A1 (en) | 2020-05-27 |
EP3657506B1 (en) | 2022-01-12 |
KR102617628B1 (ko) | 2023-12-27 |
CN110059048B (zh) | 2024-02-02 |
EP3274994A1 (en) | 2018-01-31 |
CN107408099B (zh) | 2021-04-20 |
TW201642257A (zh) | 2016-12-01 |
JP2018511108A (ja) | 2018-04-19 |
JP2020170532A (ja) | 2020-10-15 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200630 |
|
A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |