JP6957579B2 - ウエハ上の欠陥を検出するためのシステムおよび方法 - Google Patents
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Description
本発明は、たとえば、以下のような態様で実現することもできる。
適用例1:
ウエハ上の欠陥を検出する方法であって、
検査システムの第1の光学状態と第2の光学状態とを用いて前記検査システムにより前記ウエハを走査することにより前記ウエハのための出力を生成するステップであって、前記第1の光学状態と前記第2の光学状態とは、前記検査システムの少なくとも1つの光学パラメータのための個別の値によって定義されるステップと、
前記第1の光学状態を用いて生成された前記出力を用いて前記ウエハのための第1の画像データと、前記第2の光学状態を用いて生成された前記出力を用いて前記ウエハのための第2の画像データとを生成するステップと、
前記第1の画像データと、前記ウエハ上の実質的に同一の位置に対応する前記第2の画像データとを組み合わせるステップであって、それによって、前記ウエハのための付加的な画像データを生成するステップと、
前記付加的な画像データを用いて前記ウエハ上の欠陥を検出するステップと
を備えることを特徴とする方法。
適用例2:
前記個別の値は、前記走査中に光が前記ウエハに対して方向づけられる照射の個別の角度を含むことを特徴とする適用例1の方法。
適用例3:
前記第1の光学状態と前記第2の光学状態とを用いて前記検査システムにより前記ウエハを走査することは、干渉性光により実行されることを特徴とする適用例1の方法。
適用例4:
前記第1の光学状態と前記第2の光学状態とは、前記走査中に前記ウエハから光を収集するために用いられる前記検査システムの光学パラメータのための同一の値によってさらに定義されることを特徴とする適用例1の方法。
適用例5:
前記個別の値は、個別の撮像モード、個別の偏光状態、個別の波長、個別のピクセルサイズ、またはそれらのいくつかの組み合わせを含むことを特徴とする適用例1の方法。
適用例6:
前記個別の値は、前記検査システムの個別のチャネルを含むことを特徴とする適用例1の方法。
適用例7:
前記個別の値は、前記検査システムの個別のチャネルを含み、前記第1の光学状態と前記第2の光学状態とを用いて前記出力を生成するステップは、並列に実行されることを特徴とする適用例1の方法。
適用例8:
前記出力を生成するステップは、1つのパスにおいて実行され、
前記方法は、
前記検査システムの前記第1の光学状態または前記第2の光学状態を用いて前記検査システムにより個別のパスにおける前記ウエハを走査することにより、前記ウエハのための付加的な出力を生成するステップと、
前記個別のパスにおいて生成された前記付加的な出力を用いて前記ウエハのための個別の画像データを生成するステップと、
前記第1の光学状態を用いて前記個別のパスが実行されるならば前記第1の画像データと、または、前記ウエハ上の実質的に同一の位置に対応する前記第2の光学状態を用いて前記個別のパスが実行されるならば前記第2の画像データと、前記個別の画像データとを組み合わせるステップであって、それによって、前記ウエハのためのさらなる付加的な画像データを生成するステップと、
前記さらなる付加的な画像データを用いて前記ウエハ上の欠陥を検出するステップと
をさらに備えることを特徴とする適用例1の方法。
適用例9:
個別の検査システムにより前記ウエハを走査することにより前記ウエハのための出力を生成するステップと、
前記個別の検査システムを用いて生成された前記出力を用いて前記ウエハのための第3の画像データを生成するステップと、
前記ウエハ上の同一の位置に実質的に対応する前記第1の画像データまたは前記第2の画像データに、前記第3の画像データを組み合わせるステップであって、それによって、前記ウエハのためのさらなる付加的な画像データを生成するステップと、
前記さらなる付加的な画像データを用いて前記ウエハ上の欠陥を検出するステップと
をさらに備えることを特徴とする適用例1の方法。
適用例10:
前記第1の画像データと前記第2の画像データとは、差分画像データを含むことを特徴とする適用例1の方法。
適用例11:
前記組み合わせるステップは、前記第1の画像データと、前記ウエハ上の実質的に同一の位置に対応する前記第2の画像データとの上で画像相関を実行することを含むことを特徴とする適用例1の方法。
適用例12:
前記組み合わせるステップは、前記第1の画像データおよび第2の画像データの画素レベルで実行されることを特徴とする適用例1の方法。
適用例13:
欠陥検出は、前記組み合わせるステップに先立って実行されないことを特徴とする適用例1の方法。
適用例14:
前記欠陥に対応する前記付加的な画像データの一部は、前記付加的な画像データの前記一部を生成するために組み合わせられる前記第1の画像データおよび前記第2の画像データの一部より大きな信号対ノイズ比を有することを特徴とする適用例1の方法。
適用例15:
前記付加的な画像データは、前記第1の画像データおよび前記第2の画像データより少ないノイズを有することを特徴とする適用例1の方法。
適用例16:
前記付加的な画像データは、前記第1の画像データおよび前記第2の画像データより少ないスペックルノイズを有することを特徴とする適用例1の方法。
適用例17:
前記第1の画像データを用いて前記ウエハ上の欠陥を検出するステップと、
前記第2の画像データを用いて前記ウエハ上の欠陥を検出するステップと、
前記第1の画像データ、前記第2の画像データ、および前記付加的な画像データのいずれかを用いて検出された前記欠陥の組み合わせとして、前記ウエハ上で検出された前記欠陥を報告するするステップと
をさらに備えることを特徴とする適用例1の方法。
適用例18:
前記付加的な画像データを用いて前記欠陥の特徴のための値を判定するステップをさらに備えることを特徴とする適用例1の方法。
適用例19:
前記第1の画像データ、前記第2の画像データ、および前記付加的な画像データのいくつかの組み合わせを用いて、前記欠陥の特徴のための値を判定するステップをさらに備えることを特徴とする適用例1の方法。
適用例20:
前記欠陥を検出するステップは、
前記付加的な画像データを用いて前記ウエハ上の潜在的な欠陥を識別するステップと、
前記第1の画像データ、前記第2の画像データ、および前記付加的な画像データ、またはそれらのいくつかの組み合わせを用いて判定された前記潜在的な欠陥に関する画素レベル情報を用いて、前記潜在的な欠陥の擬似欠陥フィルタリングを実行することにより前記欠陥を識別するステップと
を含むことを特徴とする適用例1の方法。
適用例21:
前記欠陥を検出するステップは、
前記付加的な画像データを用いて前記ウエハ上の潜在的な欠陥を識別するステップと、
前記第1の画像データ、前記第2の画像データ、および前記付加的な画像データ、またはそれらのいくつかの組み合わせを用いて判定された前記潜在的な欠陥の特徴の値を用いて、前記潜在的な欠陥の擬似欠陥フィルタリングを実行することにより前記欠陥を識別するステップと
を含むことを特徴とする適用例1の方法。
適用例22:
前記第1の画像データ、前記第2の画像データ、前記付加的な画像データ、またはそれらのいくつかの組み合わせを用いて判定された前記欠陥に関する画素レベルの情報を用いて、前記欠陥をビニングするステップをさらに備えることを特徴とする適用例1の方法。
適用例23:
前記第1の画像データ、前記第2の画像データ、前記付加的な画像データ、またはそれらのいくつかの組み合わせを用いて判定された前記欠陥の特徴の値を用いて、前記欠陥をビニングするステップをさらに備えることを特徴とする適用例1の方法。
適用例24:
ウエハ上の欠陥を検出するためのコンピュータで実現される方法を実行するためのコンピュータシステム上で実行可能なプログラム命令を含むコンピュータ読み取り可能な媒体であって、前記コンピュータで実現される方法は、
検査システムの第1の光学状態と第2の光学状態とを用いて前記検査システムにより前記ウエハを走査することにより生成された前記ウエハのための出力を取得するステップであって、前記第1の光学状態と前記第2の光学状態とは、前記検査システムの少なくとも1つの光学パラメータのための個別の値によって定義されるステップと、
前記第1の光学状態を用いて生成された前記出力を用いて前記ウエハのための第1の画像データと、前記第2の光学状態を用いて生成された前記出力を用いて前記ウエハのための第2の画像データとを生成するステップと、
前記第1の画像データと、前記ウエハ上の実質的に同一の位置に対応する前記第2の画像データとを組み合わせるステップであって、それによって、前記ウエハのための付加的な画像データを生成するステップと、
前記付加的な画像データを用いて前記ウエハ上の欠陥を検出するステップと
を備えることを特徴とするコンピュータ読み取り可能な媒体。
適用例25:
ウエハ上の欠陥を検出するように構成されたシステムであって、
検査サブシステムの第1の光学状態および第2の光学状態を用いてウエハを走査することにより、前記ウエハのための出力を生成するように構成された検査サブシステムであって、前記第1の光学状態と前記第2の光学状態とは、前記検査サブシステムの少なくとも1つの光学パラメータのための個別の値によって定義される前記検査サブシステムと、
前記第1の光学状態を用いて生成された前記出力を用いて前記ウエハのための第1の画像データと、前記第2の光学状態を用いて生成された前記出力を用いて前記ウエハのための第2の画像データとを生成し、前記第1の画像データと、前記ウエハ上の実質的に同一の位置に対応する前記第2の画像データとを組み合わせ、それにより、前記ウエハのための付加的な画像データを生成し、前記付加的な画像データを用いて前記ウエハ上の欠陥を検出するように構成されたコンピュータサブシステムと
を備えることを特徴とするシステム。
適用例26:
ウエハ上の欠陥を検出する方法であって、
検査システムの第1の光学状態を用いて、第1のパスおよび第2のパスにおいて前記検査システムによりウエハを走査することにより、前記ウエハのための出力を生成するステップと、
前記第1のパスを用いて生成された前記出力を用いて前記ウエハのための第1の画像データと、前記第2のパスを用いて生成された前記出力を用いて前記ウエハのための第2の画像データとを生成するステップと、
前記第1の画像データと、前記ウエハ上の実質的に同一の位置に対応する前記第2の画像データとを組み合わせるステップであって、それによって、前記ウエハのための付加的な画像データを生成するステップと、
前記付加的な画像データを用いて前記ウエハ上の欠陥を検出するステップと
を備えることを特徴とする方法。
適用例27:
ウエハ上の欠陥を検出する方法であって、
第1の検査システムおよび第2の検査システムによりウエハを走査することにより、前記ウエハのための出力を生成するステップと、
前記第1の検査システムを用いて生成された前記出力を用いて前記ウエハのための第1の画像データと、前記第2の検査システムを用いて生成された前記出力を用いて前記ウエハのための第2の画像データとを生成するステップと、
前記第1の画像データと、前記ウエハ上の実質的に同一の位置に対応する前記第2の画像データとを組み合わせるステップであって、それによって、前記ウエハのための付加的な画像データを生成するステップと、
前記付加的な画像データを用いて前記ウエハ上の欠陥を検出するステップと
を備えることを特徴とする方法。
Claims (21)
- ウエハ上の欠陥を検出するように構成されたシステムであって、
干渉性の光に関する第1の光学状態および第2の光学状態を用いてウエハを走査し、その結果生じる光を収集または検出することにより、前記ウエハに応じた出力を生成するように構成された検査サブシステムであって、前記第1の光学状態と前記第2の光学状態とは、前記検査サブシステムの少なくとも1つの光学パラメータの個別の値によって定義され、前記個別の値は、前記走査中に前記光が前記ウエハに対して方向づけられる照射の個別の角度を含む検査サブシステムと、
前記第1の光学状態を用いて生成された前記出力を用いて前記ウエハの表面の第1の画像データを生成し、前記第2の光学状態を用いて生成された前記出力を用いて前記ウエハの前記表面の第2の画像データを生成し、前記ウエハと対応づけられた付加的な画像データを生成するために、前記ウエハ上の実質的に同一の位置に対応する前記第1の画像データと前記第2の画像データとを組み合わせ、前記付加的な画像データを用いて前記ウエハ上の欠陥を検出するように構成されたコンピュータサブシステムと
を備え、
前記第1の画像データと前記第2の画像データとを組み合わせることは、前記第1の画像データと前記第2の画像データについて画像相関を行うことによって前記付加的な画像データを生成することを含む、システム。 - 前記照射の個別の角度は、個別の仰角を含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記照射の個別の角度は、個別の方位角を含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記照射の個別の角度は、前記ウエハ上の表面の粗さからの散乱光の位相関係を変化させる、請求項1に記載のシステム。
- 前記第1の光学状態および前記第2の光学状態の1つは、検査の絞りモードを備える、請求項1に記載のシステム。
- 前記個別の値は、さらに、照射の個別の波長を含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記個別の値は、さらに、収集または検出の個別の波長を含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記コンピュータサブシステムは、さらに、前記第1の画像データと前記第2の画像データとを組み合わせるのに先立って、前記第1の画像データおよび前記第2の画像データを整列させるように構成されている、請求項1に記載のシステム。
- 前記コンピュータサブシステムは、さらに、前記第1の画像データと前記第2の画像データとを組み合わせるのに先立って、XおよびY投影の相互相関によって前記第1の画像データおよび前記第2の画像データを整列させるように構成されている、請求項1に記載のシステム。
- 前記付加的な画像データは、前記第1の画像データおよび前記第2の画像データより少ないノイズを有する、請求項1に記載のシステム。
- 前記ウエハ上の実質的に同一の位置に対応する前記第1の画像データと前記第2の画像データとの組み合わせは、空間的に一致しない前記第1の画像データおよび前記第2の画像データ内のウエハノイズを前記付加的な画像データから除去する、請求項1に記載のシステム。
- 前記付加的な画像データを用いた前記欠陥の検出は、擬似欠陥またはノイズに対する前記システムの感度を低減させる、請求項1に記載のシステム。
- 前記付加的な画像データを用いた前記欠陥の検出は、
前記付加的な画像データを用いて前記ウエハ上の欠陥である可能性がある対象を識別することと、
前記第1の画像データ、前記第2の画像データ、前記付加的な画像データ、またはそれらのいくつかの組み合わせを用いて判定された、前記欠陥である可能性がある対象に関する画素レベル情報を用いて、前記欠陥である可能性がある対象についての擬似欠陥フィルタリングを実行することにより前記欠陥を識別することと
を含む、請求項1に記載のシステム。 - 前記付加的な画像データを用いた前記欠陥の検出は、
前記付加的な画像データを用いて前記ウエハ上の欠陥である可能性がある対象を識別することと、
前記第1の画像データ、前記第2の画像データ、前記付加的な画像データ、またはそれらのいくつかの組み合わせを用いて判定された、前記欠陥である可能性がある対象の特徴の値を用いて、前記欠陥である可能性がある対象についての擬似欠陥フィルタリングを実行することにより前記欠陥を識別することと
を含む、請求項1に記載のシステム。 - 前記欠陥に対応する前記付加的な画像データの一部は、前記付加的な画像データの前記一部を生成するために組み合わせられる前記第1の画像データおよび前記第2の画像データの一部より大きな信号対ノイズ比を有する、請求項1に記載のシステム。
- 前記ウエハ上の実質的に同一の位置に対応する前記第1の画像データと前記第2の画像データとを組み合わせるステップは、画素レベルで実行され、前記第1の光学状態と前記第2の光学状態の振幅および位相の情報を活用して、前記第1の光学状態および前記第2の光学状態の間の不一致を利用することにより、ノイズおよび擬似欠陥の発生を抑制する、請求項1に記載のシステム。
- ウエハ上の欠陥を検出する方法であって、
検査システムの干渉性の光に関する第1の光学状態と第2の光学状態とを用いて前記検査システムにより前記ウエハを走査することにより、前記ウエハに応じた出力を生成するステップであって、前記第1の光学状態と前記第2の光学状態とは、前記検査システムの少なくとも1つの光学パラメータの個別の値によって定義され、前記個別の値は、前記走査中に前記光が前記ウエハに対して方向づけられる照射の個別の角度を含むステップと、
前記第1の光学状態を用いて生成された前記出力を用いて前記ウエハの表面の第1の画像データを生成し、前記第2の光学状態を用いて生成された前記出力を用いて前記ウエハの前記表面の第2の画像データを生成するステップと、
前記ウエハ上の実質的に同一の位置に対応する前記第1の画像データと前記第2の画像データとを組み合わせるステップであって、それによって、前記ウエハと対応づけられた付加的な画像データを生成するステップと、
前記付加的な画像データを用いて前記ウエハ上の欠陥を検出するステップと
を備え、
前記第1の画像データと前記第2の画像データとを組み合わせるステップは、前記第1の画像データと前記第2の画像データについて画像相関を行うことによって前記付加的な画像データを生成するステップを含む、方法。 - ウエハ上の欠陥を検出するためのコンピュータで実現される方法を実行するためのコンピュータシステム上で実行可能なプログラム命令を含むコンピュータ読み取り可能な媒体であって、前記コンピュータで実現される方法は、
検査システムの干渉性の光に関する第1の光学状態と第2の光学状態とを用いて前記検査システムにより前記ウエハを走査することにより生成された前記ウエハに応じた出力を取得するステップであって、前記第1の光学状態と前記第2の光学状態とは、前記検査システムの少なくとも1つの光学パラメータの個別の値によって定義され、前記個別の値は、前記走査中に前記光が前記ウエハに対して方向づけられる照射の個別の角度を含むステップと、
前記第1の光学状態を用いて生成された前記出力を用いて前記ウエハの表面の第1の画像データを生成し、前記第2の光学状態を用いて生成された前記出力を用いて前記ウエハの前記表面の第2の画像データを生成するステップと、
前記ウエハ上の実質的に同一の位置に対応する前記第1の画像データと前記第2の画像データとを組み合わせるステップであって、それによって、前記ウエハと対応づけられた付加的な画像データを生成するステップと、
前記付加的な画像データを用いて前記ウエハ上の欠陥を検出するステップと
を備え、
前記第1の画像データと前記第2の画像データとを組み合わせるステップは、前記第1の画像データと前記第2の画像データについて画像相関を行うことによって前記付加的な画像データを生成するステップを含む、コンピュータ読み取り可能な媒体。 - ウエハ上の欠陥を検出するように構成されたシステムであって、
検査サブシステムの干渉性の光に関する第1の光学状態および第2の光学状態を用いてウエハを走査し、その結果生じる光を収集または検出することにより、前記ウエハに応じた出力を生成するように構成された検査サブシステムであって、前記第1の光学状態と前記第2の光学状態とは、前記検査サブシステムの少なくとも1つの光学パラメータの個別の値によって定義され、前記個別の値は、個別の波長を含む前記検査サブシステムと、
前記第1の光学状態を用いて生成された前記出力を用いて前記ウエハの表面の第1の画像データを生成し、前記第2の光学状態を用いて生成された前記出力を用いて前記ウエハの前記表面の第2の画像データとを生成し、前記ウエハ上の実質的に同一の位置に対応する前記第1の画像データと前記第2の画像データとを組み合わせ、それにより、前記ウエハと対応づけられた付加的な画像データを生成し、前記付加的な画像データを用いて前記ウエハ上の欠陥を検出するように構成されたコンピュータサブシステムと
を備え、
前記第1の画像データと前記第2の画像データとを組み合わせることは、前記第1の画像データと前記第2の画像データについて画像相関を行うことによって前記付加的な画像データを生成するステップを含む、システム。 - 前記個別の波長は、前記干渉性の光の照射の個別の波長である、請求項19に記載のシステム。
- 前記個別の波長は、収集または検出の個別の波長である、請求項19に記載のシステム。
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