JP6926626B2 - 研削盤システム - Google Patents

Description

本発明は、研削盤システムに関する。

特許文献１には、研削加工が終了したワークの表面粗さを測定し、その測定結果に基づき、砥石成形を行うか否かの判定を行う研削盤のドレスインターバル制御装置が開示されている。

実開平６−６５７号公報

しかしながら、特許文献１に記載の技術では、ワークの表面粗さを測定している間、次のワークの研削加工を開始できない。従って、研削加工が終了した全てのワークに対して表面粗さを測定する場合、ワークの加工効率が低下する。その一方、作業者の経験等により砥石成形の最適な実施時期を判断することは難しい。

本発明は、最適な時期にツルーイングを行いつつ、工作物の加工効率の向上を図ることができる研削盤システムを提供することを目的とする。

本発明の研削盤システムは、工作物を回転可能に支持する主軸台と、前記工作物を研削する砥石車と、前記砥石車をツルーイングするツルアと、前記砥石車の前記ツルーイングを行う前に、前記砥石車により研削された前記工作物、及び、前記砥石車により研削された前記工作物以外の対象物の何れかである研削対象物の表面粗さを検出するセンサと、前記砥石車に対するツルーイングに関する制御を行う制御装置と、を備える。前記制御装置は、前記砥石車に対するツルーイングを行ってから、次にツルーイングを行うまでに研削する前記工作物の数が研削実施数として設定される研削実施数設定部と、前記ツルアによるツルーイング後に、前記砥石車が研削した前記工作物の数をカウントする研削数カウンタと、前記研削数カウンタによりカウントした前記工作物の数が、前記研削実施数に到達したか否かを判定するツルーイング時期判定部と、前記ツルーイング時期判定部により前回ツルーイングを行ってから前記研削実施数に到達したと判定された場合に、前記砥石車の前記ツルーイングを行うツルーイング実行部と、前記ツルーイング実行部が前記砥石車の前記ツルーイングを行う前に検出した前記センサの検出結果に基づき、現在設定されている前記研削実施数が適切であるか否かを判定し、且つ、当該判定結果に基づき、次回以降に用いる前記研削実施数を再設定する研削数判定部と、を備える。
また、本発明の他の研削盤システムは、工作物を回転可能に支持する主軸台と、前記工作物を研削する砥石車と、前記砥石車をツルーイングするツルアと、前記砥石車との接触により前記砥石車の外径を測定する接触検知ピンと、前記砥石車により研削された前記工作物以外の対象物としての前記接触検知ピンである研削対象物の表面粗さであって、ツルーイングを行う直前に前記砥石車に接触した前記接触検知ピンの表面粗さを検出するセンサと、前記砥石車に対するツルーイングに関する制御を行う制御装置と、を備える。前記制御装置は、前記砥石車に対するツルーイングを行ってから、次にツルーイングを行うまでに研削する前記工作物の数が研削実施数として設定される研削実施数設定部と、前記ツルアによるツルーイング後に、前記砥石車が研削した前記工作物の数をカウントする研削数カウンタと、前記研削数カウンタによりカウントした前記工作物の数が、前記研削実施数に到達したか否かを判定するツルーイング時期判定部と、前記センサの検出結果に基づき、現在設定されている前記研削実施数が適切であるか否かを判定し、且つ、当該判定結果に基づき、次回以降に用いる前記研削実施数を再設定する研削数判定部と、を備える。

本発明の研削盤システムは、ツルーイングを行ってから、次にツルーイングを行うまでに研削する工作物の数を研削実施数として設定し、ツルーイング後に研削した工作物の数が研削実施数に到達した場合に、砥石車に対するツルーイングを行う。よって、研削盤システムは、研削加工が終了した全ての工作物の表面粗さを検出し、その検出結果に基づいてツルーイングの要否を比べる場合と比べて、工作物の研削が終了してから次の工作物の研削を開始するまでの時間を短縮できる。よって、研削盤システムは、工作物の加工効率の向上を図ることができる。

また、研削数判定部は、センサの検出結果に基づき、現在設定されている研削実施数が適切であるか否かを判定し、その判定結果に基づき、次回以降に用いる研削実施数を再設定する。これにより、研削盤システムは、研削実施数の精度を高めることができるので、砥石車に対するツルーイングを適切な時期に行うことができる。

本発明の第一実施形態における研削盤の平面図である。 センサ保持部に保持されたセンサ部の断面図である。 制御装置のブロック図である。 初期化実行部において実行される設定初期化処理を示すフローチャートである。 ツルーイング時期判定部において実行されるツルーイング時期判定処理を示すフローチャートである。 要否判定部において実行される要否判定処理を示すフローチャートである。 研削数判定部において実行される研削数判定処理を示すフローチャートである。 研削数判定処理の中で実行される最適研削数算出処理を示すフローチャートである。 最適研削数算出処理により実行される処理の具体例を示す図である。 第二実施形態における研削盤に設けられた制御装置のブロック図である。 時期判定部において実行される時期判定処理を示すフローチャートである。 時期判定処理の中で実行されるセンシング要否判定処理を示すフローチャートである。 ツルーイング要否判定部において実行されるツルーイング要否判定処理を示すフローチャートである。 研削数判定部により実行される最適研削数算出処理２を示すフローチャートである。 研削数判定部により実行される最適研削数算出処理２を示すフローチャートである。 最適研削数算出処理２により実行される処理の具体例を示す図である。 第三実施形態における研削盤の平面図である。

＜１．第一実施形態＞
（１−１．研削盤１の概略構成）
以下、本発明に係る研削盤システムの実施形態について、図面を参照しながら説明する。まず、図１を参照して、本発明の第一実施形態における研削盤システムの概略構成について説明する。

図１に示すように、研削盤システムは、円筒状の工作物Ｗを回転させながら研削加工を行う１台のテーブルトラバース型の研削盤１から構成される。研削盤システムとしての研削盤１は、ベッド２と、テーブル１０と、主軸台２０と、心押台３０と、砥石台４０と、砥石車５０と、ツルア６０と、クーラント供給装置７０と、定寸装置８０と、エア供給装置９０と、センサ１００と、制御装置１１０とを備える。

ベッド２は、研削盤１の基台となる部位である。ベッド２には、研削条件等に関する各種パラメータが入力される操作盤３が設けられ、操作盤３は、作業者により操作される。テーブル１０は、ベッド２上において、Ｚ軸方向へ移動可能に設けられる。テーブル１０は、Ｚ軸モータ１１を有するねじ送り装置１２を駆動させることにより、Ｚ軸方向へ往復移動する。

主軸台２０は、テーブル１０上に固定される。主軸台２０は、Ｚ軸方向に平行な軸回りに回転する主軸２１と、主軸２１を回転させるための駆動力を付与する主軸モータ２２とを備える。主軸台２０は、主軸２１により工作物Ｗの一端を回転可能に支持し、主軸モータ２２により工作物Ｗを回転駆動する。心押台３０は、テーブル１０上において主軸台２０と対向する位置に設けられ、工作物Ｗの他端を支持する。

砥石台４０は、ベッド２上においてＸ軸方向へ移動可能に設けられる。砥石台４０は、Ｘ軸モータ４１を有するねじ送り機構４２を駆動させることにより、Ｘ軸方向へ往復移動する。砥石車５０は、砥石台４０に対し、Ｚ軸方向に平行な軸回りに回転自在に支持される。砥石車５０は、砥石台４０に固定された砥石車モータ５１から駆動力を付与されることで回転し、工作物Ｗの外周面を研削する。ツルア６０は、主軸台２０に対し、Ｚ軸に平行な軸まわりに回転自在に支持される。ツルア６０は、主軸台２０に設けられたツルアモータ６１から付与される駆動力により回転し、砥石車５０の形状成形や目立てを行う。

クーラント供給装置７０は、ベッド２上に設けられる。クーラント供給装置７０は、砥石台４０に設けられたクーラントノズル（図示せず）を介して、研削部位にクーラントを供給する。定寸装置８０は、テーブル１０を挟んだ砥石車５０の反対側において、工作物Ｗに接触可能に設けられる。定寸装置８０は、砥石車５０により研削された工作物Ｗの外径を計測する。

エア供給装置９０及びセンサ１００は、砥石車５０による工作物Ｗの研削加工が行われる加工領域から、Ｚ軸方向へ離れた位置に設けられる。研削加工が終了した後、主軸台２０及び心押台３０に支持された工作物Ｗは、搬送装置（図示せず）によって加工領域から搬出され、エア供給装置９０及びセンサ１００が設けられた位置に搬送される。

エア供給装置９０は、搬送中の工作物Ｗへ向けてエアを吹き付けるエア吹付部９１を備え、エア吹付部９１から工作物Ｗにエアを吹き付けることで、工作物Ｗの外周面に付着したクーラント等の付着物を除去する。なお、本実施形態では、工作物Ｗにエアを吹き付けているが、エアの代わりに、工作物Ｗに対する加工に影響を与えない不活性ガス等を吹き付けてもよい。

センサ１００は、研削加工後の工作物Ｗに対してセンシングを行い、工作物Ｗの表面粗さを検出する。センサ１００によるセンシングは、工作物Ｗに対する研削加工が終了した後、加工領域とは異なる位置で行われる。この場合、研削盤１は、加工後の工作物Ｗの表面粗さをセンサ１００により検出しながら、加工領域において次の工作物Ｗに対する研削を並行して行うことができる。研削盤１は、工作物Ｗの表面粗さの検出を工作物Ｗの研削と並行して行うので、工作物Ｗの研削加工が終了してから次の工作物Ｗの研削加工を開始するまでの時間の短縮を図ることができる。

（１−２．センサ部１０１の構成）
次に、図２を参照して、センサ１００の構成を説明する。図２に示すように、センサ１００は、センサ部１０１と、センサ保持部１０２と、演算部１０３（図３参照）とを備える。なお、演算部１０３は、センサ１００の内部に配置してもよく、センサ１００の外部に配置し、ケーブル等によりセンサ保持部１０２に接続してもよい。

センサ部１０１は、測定対象物である工作物Ｗの表面粗さを非接触で検出する。なお、センサ部１０１の詳細については後述する。センサ保持部１０２は、センサ部１０１を保持する部位であり、ベッド２（図１参照）上においてＸ軸方向へ移動可能に設けられる。演算部１０３は、センサ部１０１による検出結果に基づき、表面粗さを演算する。

続いて、センサ部１０１について説明する。センサ部１０１は、基板１０４と、発光素子１０５と、第一受光素子１０６及び第二受光素子１０７と、蓋部１０８と、３つのレンズ１０８ａ〜１０８ｃとを備える。

基板１０４は、半導体材料（Ｎ型、Ｐ型、バイポーラ型など）から構成され、センサ保持部１０２の一表面上（図２において下方を向く表面）上に装着される。発光素子１０５は、基板１０４に装着される発光ダイオードであり、センサ保持部１０２の一表面の法線方向（図２下方向）へ向けて発光する。第一受光素子１０６及び第二受光素子１０７は、基板１０４に装着されたフォトダイオードであり、発光素子１０５の近傍に配置される。発光素子１０５、第一受光素子１０６及び第二受光素子１０７は、センサ保持部１０２の長手方向（図２左右方向）に沿って直線状に並設され、発光素子１０５は、第一受光素子１０６と第二受光素子１０７との間に配置される。なお、基板１０４上に配置された発光素子１０５、第一受光素子１０６及び第二受光素子１０７は、仕切板１０９により仕切られている。従って、発光素子１０５からの発光及び第一受光素子１０６及び第二受光素子１０７への受光を効率的に行うことができる。

また、本実施形態では、発光素子１０５として発光ダイオードを用いる場合を例に挙げて説明したが、発光ダイオードの代わりに、エレクトロルミネッセンスやレーザー素子等を発光素子１０５として用いてもよい。また、本実施形態では、第一受光素子１０６及び第二受光素子１０７としてフォトダイオードを用いる場合を例に挙げて説明したが、フォトダイオードの代わりに、ＣＣＤやＣＭＯＳ素子等を第一受光素子１０６及び第二受光素子１０７として用いてもよい。

蓋部１０８は、基板１０４、発光素子１０５、第一受光素子１０６及び第二受光素子１０７を覆う。蓋部１０８には、発光素子１０５、第一受光素子１０６及び第二受光素子１０７のそれぞれと対向する位置にレンズ１０８ａ〜１０８ｃが一つずつ保持される。３つのレンズ１０８ａ〜１０８ｃは、非球面レンズでもよく、検出し易くするためにレンズ形状を変更して、レンズの焦点位置や焦点深度を調整してもよい。

３つのレンズ１０８ａ〜１０８ｃのうち、発光素子１０５と対向する位置に配置されるレンズ１０８ａには、発光素子１０５から照射される光が入射する。レンズ１０８ａは、発光素子１０５から照射された光を屈曲させ、その屈曲させた光を特定の位置Ｐに導く。

３つのレンズ１０８ａ〜１０８ｃのうち、第一受光素子１０６及び第二受光素子１０７と対向する位置に配置されるレンズ１０８ｂ，１０８ｃは、特定の位置Ｐから入射する光を屈曲させ、その屈曲させた光を第一受光素子１０６又は第二受光素子１０７に導く。

ここで、発光素子１０５から光を照射した場合、特定の位置Ｐにおける表面粗さが小さいほど光が散乱しにくいため、第一受光素子１０６及び第二受光素子１０７により検出される光量が大きくなる。そして、演算部１０３は、発光素子１０５から光を照射した際に第一受光素子１０６及び第二受光素子１０７が検出する光量に基づき、特定の位置Ｐにおける表面粗さの演算を行う。即ち、発光素子１０５から光を照射した場合、第一受光素子１０６及び第二受光素子１０７が検出した光量が多ければ、表面粗さが小さいとの演算結果が示され、第一受光素子１０６及び第二受光素子１０７が検出した光量が少なければ、表面粗さが大きいとの演算結果が示される。

なお、実際には、特定の位置Ｐへの入射光と特定の位置からの反射光は広がりを持っており、入射角及び反射角は角度の広がりを有する。従って、演算部１０３は、入射光の分布のうち、最も強度の強いピーク位置における入射角と、反射光の分布のうち、最も強度の高いピーク位置における反射角とが等しい場合、或いは、入射光の広がり分布と反射光の広がり分布とが相似関係にある場合に、入射角と反射角とが等しいと判断する。

このように、センサ部１０１は、工作物Ｗの表面粗さを非接触で検出することができるので、表面粗さの検出に伴って研削加工後の工作物Ｗに傷がつくことを回避できる。さらに、センサ部１０１は、１つの発光素子１０５から照射した場合に、特定の位置Ｐにおいて反射する反射光の変化を、２つの受光素子（第一受光素子１０６及び第二受光素子１０７）で確認することができる。よって、センサ部１０１は、高精度に工作物Ｗの表面粗さを測定することができる。

また、センサ部１０１は、発光素子１０５、第一受光素子１０６及び第二受光素子１０７を１つの基板１０４に配置することで、発光素子１０５、第一受光素子１０６及び第二受光素子１０７を互いに近接した位置に配置できる。よって、センサ部１０１は、発光素子１０５、第一受光素子１０６及び第二受光素子１０７を別々の基板に形成する場合と比べて、センサ部１０１の小型化を図ることができる。

（１−３．制御装置１１０について）
次に、図３を参照して、制御装置１１０について説明する。図３に示すように、制御装置１１０は、研削加工制御部１２０と、ツルーイング制御部１３０と、を備える。

（１−３−１：研削加工制御部１２０）
研削加工制御部１２０は、工作物Ｗに対して行う研削加工に関する制御を行う。研削加工制御部１２０は、例えば、各種モータ（Ｚ軸モータ１１、主軸モータ２２、Ｘ軸モータ４１、砥石車モータ５１）の駆動制御や、クーラント供給装置７０から供給するクーラント量の制御、定寸装置８０による工作物Ｗの径寸法の管理等を行う。研削加工制御部１２０は、１つの工作物Ｗに対する研削加工が終了すると、研削加工が終了した旨の通知をツルーイング制御部１３０に対して行う。なお、研削加工制御部１２０は、工作物Ｗの搬送を行う搬送装置（図示せず）等に関する制御についても行う。

（１−３−２：ツルーイング制御部１３０）
ツルーイング制御部１３０は、砥石車５０に対して行うツルーイングに関する制御を行う。ツルーイング制御部１３０は、ツルーイング実行部１３１と、ツルーイング時期判定部１３２と、要否判定部１３３と、研削数判定部１３４と、初期化実行部１３５とを備える。

ツルーイング実行部１３１は、各種モータの駆動制御等を行うことにより、砥石車５０とツルア６０（図１参照）との位置調整を行い、ツルア６０による砥石車５０のツルーイングを実行する。ツルーイング時期判定部１３２は、ツルーイング後に研削した工作物Ｗの数が、予め定められた研削実施数Ｍに到達したか否かを判定する。

要否判定部１３３は、ツルーイング時期判定部１３２による判定結果に基づき、ツルーイングを行う必要があると判定した場合に、ツルーイング実行部１３１に対してツルーイングの実行を指示する。また、要否判定部１３３は、ツルーイングを行う必要があると判定した場合に、センサ１００による工作物Ｗへのセンシングの要否についても判定する。そして、要否判定部１３３は、センシングを行う必要があると判定した場合には、センサ１００に対してセンシングの実行を指示する。

研削数判定部１３４は、現在設定されている研削実施数Ｍの値が適切であるか否かを判定する。研削数判定部１３４による判定は、研削実施数Ｍに設定する値を変えながら複数回行われる。そして、研削数判定部１３４は、複数回行った判定の結果に基づき、１度のツルーイングで研削可能な工作物Ｗの数である最適研削数を導き出す。こうして導き出された最適研削数は、それ以後において、ツルーイング時期判定部１３２がツルーイングの時期を判定する際に用いられる。

初期化実行部１３５は、作業者による操作盤３の操作（リセットスイッチの操作等）に基づき、設定されている最適研削数のリセットを行う。制御装置１１０は、研削条件の変更等により、最適研削数の再設定を行う必要がある場合に、最適研削数を一旦リセットし、最適研削数の再設定を行うことができる。

さらに、ツルーイング制御部１３０は、研削数カウンタ１４１と、研削実施数設定部１４２と、初期研削数設定部１４３と、研削数到達フラグ１４４と、データ蓄積部１４５と、蓄積数カウンタ１４６と、最大蓄積数設定部１４７と、最適数設定フラグ１４８とを備える。

研削数カウンタ１４１は、ツルーイングを行ってから次のツルーイングを行うまでに砥石車５０が研削した工作物Ｗの数をカウントする。研削数カウンタ１４１は、工作物Ｗの研削加工が終了する毎に１ずつ加算される。そして、ツルーイングを実行した場合、或いは、初期化実行部１３５による処理を実行した場合に、研削数カウンタ１４１の値は、リセットされる。

研削実施数設定部１４２には、ツルーイングを行ってから次のツルーイングを行うまでに砥石車５０が研削する工作物Ｗの数を示す研削実施数Ｍが設定される。初期研削数設定部１４３には、初期化実行部１３５による処理（設定初期化処理、図４参照）が実行された場合に、研削実施数設定部１４２に設定される研削数を示す初期研削数が設定される。なお、初期研削数設定部１４３に設定する値は、自動的に決められる値であってもよく、作業者により決められる値であってもよい。

研削数到達フラグ１４４は、ツルーイング後に研削した研削数の数が研削実施数Ｍに到達したことを示す。研削数到達フラグ１４４は、ツルーイング時期判定部１３２がツルーイングの時期を判定する際に用いられる。研削数到達フラグ１４４は、研削数カウンタ１４１の値が研削実施数Ｍに到達することでオンに切り替わり、ツルーイングが実行されることでオフに切り替わる。

データ蓄積部１４５には、センサ１００により工作物Ｗの表面粗さを検出した場合に、その検出結果に基づいて研削数判定部１３４が行った判定結果に関するデータが蓄積される。蓄積数カウンタ１４６は、データ蓄積部１４５に蓄積されたデータの数を計測する。蓄積数カウンタ１４６の値は、データ蓄積部１４５にデータが蓄積される毎に１ずつ加算される。

最大蓄積数設定部１４７には、データ蓄積部１４５に蓄積するデータの上限数を示す最大蓄積数Ｎが設定される。蓄積数カウンタ１４６の値が最大蓄積数Ｎに到達すると、研削数判定部１３４は、データ蓄積部１４５に蓄積したデータに基づき、現在設定されている研削実施数が適切であるか否かの解析を開始する。

最適数設定フラグ１４８は、研削実施数設定部１４２に最適研削数が設定されていることを示す。最適数設定フラグ１４８は、研削実施数設定部１４２に最適研削数が設定されるとオンに切り替わり、初期化実行部１３５による処理が実行されるとオフに切り替わる。要否判定部１３３は、最適数設定フラグ１４８を参照し、センサ１００による工作物Ｗの表面粗さの検出を行うか否かを判定する。

（１−４．ツルーイング制御部１３０での処理）
次に、ツルーイング制御部１３０により実行される処理について、図４から図９に示すフローチャートを参照しながら説明する。

（１−４−１：設定初期化処理）
最初に、図４を参照して、初期化実行部１３５により実行される設定初期化処理について説明する。図４に示すように、設定初期化処理は、まず、設定初期化の指示があったか否かを判定する（Ｓ１１）。そして、設定初期化処理は、設定初期化の指示がなければ（Ｓ１１：Ｎｏ）、そのまま本処理を終了する。一方、設定初期化処理は、設定初期化の指示があれば（Ｓ１１：Ｙｅｓ）、最適数設定フラグ１４８をオフに切り替える（Ｓ１２）。そして、設定初期化処理は、研削数カウンタ１４１及び蓄積数カウンタ１４６の値をリセットする（Ｓ１３）。さらに、設定初期化処理は、初期研削数設定部１４３に設定された初期研削数の値を研削実施数設定部１４２に設定し（Ｓ１４）、本処理を終了する。

（１−４−２：ツルーイング時期判定処理）
次に、図５を参照して、ツルーイング時期判定部１３２により実行されるツルーイング時期判定処理について説明する。図５に示すように、ツルーイング時期判定処理は、まず、工作物Ｗに対する研削が終了したか否かを判定する（Ｓ２１）。このＳ２１による処理は、例えば、具体的には、工作物Ｗに対する研削加工が終了した旨の通知を研削加工制御部１２０から受けたか否かを判定することによりを行う。

そして、工作物Ｗの研削が終了していなければ（Ｓ２１：Ｎｏ）、ツルーイング時期判定処理は、Ｓ２１の処理へ戻る。一方、工作物Ｗの研削が終了していれば（Ｓ２１：Ｙｅｓ）、ツルーイング時期判定処理は、研削数カウンタ１４１の値に１を加算する（Ｓ２２）。続いて、ツルーイング時期判定処理は、研削数カウンタ１４１の値が研削実施数Ｍに到達したか否かを判定する（Ｓ２３）。その結果、研削数カウンタ１４１の値が研削実施数Ｍに到達していなければ（Ｓ２３：Ｎｏ）、ツルーイング時期判定処理は、Ｓ２１の処理へ戻る。一方、研削数カウンタ１４１の値が研削実施数Ｍに到達していれば（Ｓ２３：Ｙｅｓ）、ツルーイング時期判定処理は、研削数到達フラグ１４４をオンにする（Ｓ２４）。そして、ツルーイング時期判定処理は、研削数カウンタ１４１の値をリセットして（Ｓ２５）、本処理を終了する。

（１−４−３：要否判定処理）
次に、図６を参照して、要否判定部１３３より実行される要否判定処理について説明する。図６に示すように、要否判定処理は、まず、研削数到達フラグ１４４がオンであるか否かを判定する（Ｓ３１）。そして、研削数到達フラグ１４４がオンであれば（Ｓ３１：Ｙｅｓ）、要否判定部１３３は、砥石車５０に対するツルーイングを行う必要があると判断する。よってこの場合、要否判定処理は、ツルーイング実行部１３１に対してツルーイングの実行を指示する（Ｓ３２）。一方、研削数到達フラグ１４４がオフであれば（Ｓ３１：Ｎｏ）、要否判定処理は、Ｓ３１の処理に戻る。

次に、要否判定処理は、最適数設定フラグ１４８がオンであるか否かを判定する（Ｓ５３３）。そして、最適数設定フラグ１４８がオフであれば（Ｓ３３：Ｎｏ）、要否判定部１３３は、最適研削数が設定されていないと判断する。よってこの場合、要否判定処理は、研削数判定部１３３による判定に用いるデータを収集すべく、センサ１００に工作物Ｗのセンシングの実行を指示する（Ｓ３４）。一方、最適数設定フラグ１４８がオンであれば（Ｓ３３：Ｙｅｓ）、要否判定部１３３は、研削実施数には最適研削数が設定されていると判断する。よってこの場合、要否判定処理は、センサ１００によるセンシングを行う必要ないので、Ｓ３４の処理をスキップする。最後に、要否判定処理は、研削数到達フラグ１４４をオフにして（Ｓ３５）、本処理を終了する。

（１−４−４：研削数判定処理）
次に、図７を参照して、研削数判定部１３４により実行される研削数判定処理について説明する。図７に示すように、研削数判定処理は、まず、センサ１００から検出結果を受信したか否かを判定する（Ｓ４１）。そして、検出結果を受信していなければ（Ｓ４１：Ｎｏ）、研削数判定処理は、Ｓ４１の処理へ戻る。一方、検出結果を受信した場合（Ｓ４１：Ｙｅｓ）、研削数判定処理は、センサ１００による検出結果に基づき、ツルーイングの要否判定を行う（Ｓ４２）。

このＳ４２の処理は、ツルーイング直前に研削した工作物Ｗ、即ち、ツルーイング後から数えてＭ番目に研削した工作物Ｗの表面粗さの検出結果に基づき、Ｍ番目の工作物Ｗの研削加工後に、砥石車５０に対するツルーイングを行う必要があったか否かを判定している。つまり、工作物Ｗの表面粗さが良好であれば、研削数判定処理は、一度のツルーイングで研削可能な工作物の数（最適研削数）が、現在設定されている研削実施数Ｍの研削数の値以上であると判断する。一方、工作物の表面粗さが良好でなければ、研削数判定処理は、最適研削数が、現在設定されている研削実施数Ｍの研削数の値未満であると判断する。

Ｓ４２の処理が終了した後、研削数判定処理は、Ｓ４２の処理で得られたツルーイングの要否判定の結果をデータ蓄積部１４５に送信し（Ｓ４３）、蓄積数カウンタ１４６の値に１を加算する（Ｓ４４）。

その後、研削数判定処理は、蓄積数カウンタ１４６の値が最大蓄積数設定部１４７に設定された最大蓄積数Ｎに到達したか否かを判定する（Ｓ４５）。そして、蓄積数カウンタ１４６の値が最大蓄積数Ｎに到達していなければ（Ｓ４５：Ｎｏ）、研削数判定処理は、Ｓ４１の処理へ戻る。一方、蓄積数カウンタ１４６の値が最大蓄積数Ｎに到達した場合（Ｓ４５：Ｙｅｓ）、研削数判定処理は、最適研削数算出処理（Ｓ４６）へ移行する。

次に、図８及び図９を参照して、最適研削数算出処理（Ｓ４６）について説明する。図８に示すように、最適研削数算出処理（Ｓ４６）は、まず、データ蓄積部１４５に蓄積されたデータを取得し、蓄積データの解析を行う（Ｓ５１）。Ｓ５１の処理は、ツルーイングを行う直前に研削した工作物Ｗ、即ち、ツルーイング後から数えてＭ番目に研削した工作物Ｗに関し、工作物Ｗの表面粗さが良好であったか否かの解析を行う。

次に、最適研削数算出処理（Ｓ４６）は、Ｓ５１の処理における解析結果に基づき、Ｍ番目に研削した工作物Ｗの表面粗さが良好であったか否かを判定する（Ｓ５２）。その結果、Ｍ番目に研削した工作物Ｗの表面粗さが良好であれば（Ｓ５２：Ｙｅｓ）、最適研削数算出処理（Ｓ４６）は、続いて、現在設定されている研削実施数Ｍが、初期研削数の値以上であるかを判定する（Ｓ５３）。

その結果、現在設定されている研削実施数Ｍが初期研削数の値未満であれば（Ｓ５３：Ｎｏ）、研削数判定部１３４は、現在設定されている研削実施数Ｍが最適研削数であると判断する。よってこの場合、研削数判定部１３４は、最適数設定フラグ１４８をオンにして（Ｓ５４）、本処理を終了する。これに対し、研削実施数Ｍが初期研削数の値以上であれば（Ｓ５３：Ｙｅｓ）、最適研削数が現在設定されている研削実施数Ｍよりも大きな値である可能性がある。従って、最適研削数算出処理（Ｓ４６）は、現在設定されている研削実施数Ｍの値に１を加算し（Ｓ５５）、本処理を終了する。

一方、Ｓ５２の処理において、Ｍ番目に研削した工作物Ｗの表面粗さが良好でなかった場合（Ｓ５２：Ｎｏ）、研削数判定部１３４は、最適研削数が現在設定されている研削実施数Ｍよりも少ない値であると判断する。よってこの場合、最適研削数算出処理（Ｓ４６）は、現在設定されている研削実施数Ｍの値から１を減算する（Ｓ５６）。

次に、最適研削数算出処理（Ｓ４６）は、Ｓ５６の処理後に設定された研削実施数Ｍが初期研削数の値未満であるかを判定する（Ｓ５７）。その結果、研削実施数Ｍが初期研削数の値以上であれば（Ｓ５７：Ｎｏ）、研削数判定部１３４は、最適研削数がＳ５６の処理後に設定した研削実施数Ｍの値が最適研削数であると判断する。よってこの場合、最適研削数算出処理（Ｓ４６）は、最適数設定フラグ１４８をオンにして（Ｓ５８）、本処理を終了する。一方、研削実施数Ｍが初期研削数の値未満である場合（Ｓ５７：Ｙｅｓ）、研削数判定部１３４は、最適研削数がＳ５６の処理後に設定された研削実施数Ｍの値以下であると判断する。よってこの場合、最適研削数算出処理（Ｓ４６）は、Ｓ５８の処理をスキップして、本処理を終了する。

ここで、最適研削数算出処理の具体例について、図９を参照しながら説明する。図９に示す例では、初期研削数が１００と仮定する。図９に示すように、データ蓄積部１４５には、ツルーイング後から１００番目に研削した工作物Ｗについて、研削加工後の表面粗さの検出結果に基づくツルーイングの要否判定結果が蓄積されている。

研削数判定部１３４は、蓄積されたデータを用いて１回目の蓄積データの解析を行う。そして、結果が良好である（ＯＫである）場合、研削数判定部１３４は、最適研削数が１００以上であると判断する。よってこの場合、最適研削数算出処理（Ｓ４６）は、研削実施数Ｍに１を加算する。そして、最適研削数算出処理（Ｓ４６）は、ツルーイング後から１０１番目に研削した工作物Ｗについて、表面粗さの検出結果に基づくツルーイングの要否判定結果を蓄積する。

その後、研削数判定部１３４は、２回目の蓄積データの解析を行う。そして、結果が良好であれば、研削数判定部１３４は、最適研削数が１０１以上であると判断する。よってこの場合、研削数判定部１３４は、引き続き、研削実施数Ｍの値に１を加算し、３回目の最適研削数判定処理を行う。一方、２回目の最適研削数判定処理において結果が良好でなければ、研削数判定部１３４は、最適研削数の値は１０１未満であると判断する。この場合、１回目の蓄積データの解析において、最適研削数が１００以上であると判断できることから、最適研削数が１００であることが導き出される。

一方、１回目の蓄積データの解析結果が良好でない（ＮＧである）場合、研削数判定部１３４は、最適研削数が１００未満であると判断する。よってこの場合、最適研削数算出処理（Ｓ４６）は、研削実施数Ｍから１を減算する。そして、最適研削数算出処理（Ｓ４６）は、ツルーイング後から９９番目に研削した工作物Ｗについて、研削加工後の表面粗さの検出結果に基づくツルーイングの要否判定結果をデータ蓄積部１４５に蓄積する。

その後、研削数判定部１３４は、２回目の蓄積データの解析を行う。そして、結果が良好でなければ、研削数判定部１３４は、最適研削数が９９未満であると判断する。よってこの場合、研削数判定部１３４は、引き続き、研削実施数Ｍの値から１を減算し、３回目の最適研削数判定処理を行う。一方、２回目の蓄積データの解析結果が良好であれば、１回目の蓄積データの解析において最適研削数が１００未満であると判断できることから、最適研削数が９９であることが導き出される。

このように、研削数判定部１３４は、１回目の最適研削数算出処理による解析結果が良好である場合に、最適研削数が初期研削数以上であると判断する。この場合、研削数判定部１３４は、１回目の研削実施数Ｍの値に１を加え、２回目以降の最適研削数算出処理を行う。その後、表面粗さが良好でない（ＮＧ）であるとの解析結果が初めて得られた場合、そのときに研削実施数に設定された研削数よりも１少ない値が、最適研削数であることが導き出される。

一方、研削数判定部１３４は、１回目の最適研削数算出処理による解析結果が良好でない場合に、最適研削数が初期研削数未満であると判断する。この場合、研削数判定部１３４は、１回目の研削実施数Ｍの値から１を引き、２回目以降の最適研削数算出処理を行う。その後、表面粗さが良好であるとの解析結果が初めて得られた場合、そのときに研削実施数に設定された研削数の値が、最適研削数であることが導き出される。

以上説明したように、研削数判定部１３４は、センサ１００の検出結果に基づき、現在設定されている研削実施数Ｍが適切であるか否かを判定する。そして、研削数判定部１３４は、その判定結果に基づき、次回以降に用いる研削実施数Ｍを再設定しながら、最適研削数を導き出す。これにより、研削盤１は、最適研削数として研削実施数設定部１４２に設定される研削実施数Ｍの確度を高めることができるので、研削盤１は、砥石車５０に対するツルーイングを適切な時期に行うことができる。

なお、本実施形態において、研削盤１は、ツルーイングを行う直前に研削した最後の工作物Ｗ（Ｍ番目に研削した工作物Ｗ）のみに対し、表面粗さの検出を行っている。この場合、研削盤１は、センサ１００による表面粗さの検出を行う工作物Ｗの数を少なくすることができるので、工作物Ｗの研削加工効率の向上を図ることができる。

＜２．第二実施形態＞
次に、図１０から図１３を参照して、第二実施形態における研削盤２０１について説明する。第一実施形態では、ツルーイングを行う直前に研削した１の工作物Ｗのみに対し、表面粗さの検出を行う場合について説明した。これに対し、第二実施形態では、ツルーイングを行う直前に研削した複数の工作物Ｗに対し、表面粗さの検出を行う。なお、上記した第一実施形態と同一の部品には同一の符号を付し、その説明を省略する。

（２−１．制御装置１１０の構成）
図１０に示すように、第二実施形態の制御装置３１０において、ツルーイング制御部３３０は、ツルーイング実行部１３１と、時期判定部３３２と、ツルーイング要否判定部３３３と、初期化実行部１３５とを備える。時期判定部３３２は、ツルーイングを行う時期を判定することに加え、センサ１００によるセンシングの要否についても判定する。ツルーイング要否判定部３３３は、研削数到達フラグ１４４がオンとなった場合に、ツルーイング実行部１３１に対してツルーイングの実行を指示する。

さらに、ツルーイング制御部３３０は、検出開始数設定部３４９を備える。検出開始数設定部３４９には、センサ１００によるセンシングを開始する時期を決定する際に用いる検出開始数が設定される。検出開始数設定部３４９には、研削数判定部３３４により最適研削数を導き出す前段階において想定し得る最適研削数の最低数よりも少ない研削数の値が、研削開始数として設定される。時期判定部３３２は、ツルーイング後に研削した工作物Ｗの数が検出開始数に到達したと判断した場合に、それ以後に研削加工した工作物Ｗに対するセンシングの実行をセンサ１００に指示する。

（２−２．時期判定処理）
次に、図１１を参照して、時期判定部３３２により実行される時期判定処理について説明する。この時期判定処理は、第一実施形態のツルーイング時期判定処理（図５参照）において実行されるＳ２２の処理とＳ２３の処理との間に、Ｓ２２６及びＳ２２７を追加した処理である。

図１１に示すように、時期判定処理は、Ｓ２２の処理後、研削数カウンタ１４１の値が検出開始数設定部３４９に設定された検出開始数以上であるか否かを判定する（Ｓ２２６）。その結果、研削数カウンタ１４１の値が検出開始数未満であれば、（Ｓ２２６：Ｎｏ）、時期判定部３３２は、工作物Ｗへのセンシングを実行する必要がないと判断する。よってこの場合、時期判定処理は、Ｓ２１の処理に戻る。一方、研削数カウンタ１４１の値が検出開始数以上であれば（Ｓ２２６：Ｙｅｓ）、時期判定部３３２は、工作物Ｗへのセンシングを実行する必要があると判断する。よってこの場合、時期判定処理は、図１２に示すセンシング要否判定処理（Ｓ２２７）へ移行する。

図１２に示すように、センシング要否判定処理（Ｓ２２７）は、最適数設定フラグ１４８がオンであるか否かに基づき、センサ１００によるセンシングの要否を判定する。つまり、そもそも最適研削数が設定されている場合には、センサ１００によるセンシングを行う必要がない。従って、最適数設定フラグ１４８がオンであれば（Ｓ３３：Ｎｏ）、センシング要否判定処理（Ｓ２２７）は、Ｓ３４の処理をスキップして、本処理を終了する。一方、最適数設定フラグ１４８がオフであれば（Ｓ３３：Ｎｏ）、センシング要否判定処理（Ｓ２２７）は、センサ１００に対してセンシングの実行を指示し（Ｓ３４）、本処理を終了する。

（２−３．ツルーイング要否判定処理）
次に、図１３を参照して、ツルーイング要否判定部３３３により実行されるツルーイング要否判定処理について説明する。ツルーイング要否判定処理は、第一実施形態の要否判定処理（図６参照）のうち、Ｓ３３及びＳ３４の処理を省略した処理である。これは、第二実施形態では、センサ１００によるセンシングの要否判定が時期判定処理の中で行われる（センシング要否判定処理（Ｓ２２７）、図１２参照）ためである。

（２−４．最適研削数算出処理２）
次に、図１４Ａから図１５を参照して、研削数判定部３３４により実行される最適研削数算出処理２について説明する。本実施形態では、ツルーイングを行う直前に研削した３つの工作物Ｗに対し、表面粗さの検出を行う場合を例に挙げて説明する。最適研削数算出処理２は、第一実施形態における研削数判定処理の中で実行される最適研削数算出処理（Ｓ４６）の代わりに実行される。

図１４Ａ及び１４Ｂに示すように、最適研削数算出処理２は、蓄積データの解析を行い（Ｓ２４１）、その解析結果に基づき、Ｍ番目に研削した工作物Ｗ、即ち、ツルーイングを行う直前に研削した最後の工作物Ｗの表面粗さが良好であったか否かを判定する（Ｓ２４２）。

Ｓ２４２の処理において、Ｍ番目の工作物Ｗの表面粗さが良好であれば（Ｓ２４２：Ｙｅｓ）、最適研削数算出処理２は、続いて、研削実施数Ｍが初期研削数以上であるか否かを判定する（Ｓ２４３）。その結果、研削実施数Ｍが初期研削数未満であれば（Ｓ２４３：Ｎｏ）であれば、最適研削数算出処理２は、現在設定されている研削実施数Ｍが最適研削数であると判断する。よってこの場合、最適研削数算出処理２は、最適数設定フラグ１４８をオンにし（Ｓ２４４）、本処理を終了する。一方、研削実施数Ｍが初期研削数以上であれば（Ｓ２４３：Ｙｅｓ）、研削数判定部３３４は、現在設定されている研削実施数Ｍ以上であると判断する。よってこの場合、最適研削数算出処理２は、現在設定されている研削実施数Ｍの値に３を加算し（Ｓ２４５）、本処理を終了する。

これに対し、Ｓ２４２の処理において、Ｍ番目の工作物の表面粗さが良好でないと判定された場合、最適研削数算出処理２は、図１４Ｂに示すＳ２４６の処理へ移行する。

図１４Ｂに示すように、Ｓ２４６の処理において、最適研削数算出処理２は、（Ｍ−１）番目に研削した工作物Ｗの表面粗さが良好であったか否かを判定する。そして、（Ｍ−１）番目に研削した工作物Ｗの表面粗さが良好であると判定した場合（Ｓ２４６：Ｙｅｓ）、Ｓ２４２の処理においてＭ番目の工作物Ｗの表面粗さは良好でないと判定されていることから、研削数判定部３３４は、（Ｍ−１）が最適研削数であると判断する。よって、最適研削数算出処理２は、（Ｍ―１）の値を研削実施数Ｍに設定し（Ｓ２４７）、最適数設定フラグ１４８をオンにして（Ｓ２４８）、本処理を終了する。

一方、Ｓ２４６の処理において、（Ｍ−１）番目に研削した工作物Ｗの表面粗さが良好でないと判定した場合（Ｓ２４６：Ｎｏ）、最適研削数算出処理２は、続いて、（Ｍ−２）番目に研削した工作物Ｗの表面粗さが良好であったか否かを判定する（Ｓ２４９）。そして、（Ｍ−２）番目に研削した工作物Ｗの表面粗さが良好であると判定した場合（Ｓ２４９：Ｙｅｓ）、研削数判定部３３４は、Ｓ２４８の処理において（Ｍ−１）番目の工作物Ｗの表面粗さは良好でないと判定されていることから、（Ｍ−２）が最適研削数であると判断する。よってこの場合、最適研削数算出処理２は、（Ｍ―２）の値を研削実施数Ｍに設定し（Ｓ２５０）、最適数設定フラグ１４８をオンにし（Ｓ２５１）、本処理を終了する。

Ｓ２４９の処理において、（Ｍ−２）番目に研削した工作物Ｗの表面粗さが良好でないと判定した場合（Ｓ２４９：Ｎｏ）、研削数判定部３３４は、最適研削数が現在設定されている研削実施数Ｍよりも３以上少ない値であると判断する。よってこの場合、最適研削数算出処理２は、現在設定されている研削実施数Ｍから３を引いた値を新たな研削実施数Ｍとし、研削実施数設定部１４２に設定する（Ｓ２５２）。

続いて、最適研削数算出処理２は、Ｓ２５２の処理後に設定された研削実施数Ｍが初期研削数と同一であるか否かを判定する。その結果、研削実施数Ｍが初期研削数と同一であれば（Ｓ２５３：Ｙｅｓ）、研削数判定部３３４は、Ｓ２５２の処理後の研削実施数Ｍ、即ち、初期研削数が最適研削数と判断する。よってこの場合、最適研削数算出処理２は、最適数設定フラグ１４８をオンにし（Ｓ２５４）、本処理を終了する。一方、研削実施数Ｍが初期研削数と同一でなければ（Ｓ２５３：Ｎｏ）、最適研削数算出処理２は、Ｓ２５４の処理をスキップし、本処理を終了する。

ここで、最適研削数算出処理２の具体例について、図１５を参照しながら説明する。図１５に示す例では、初期研削数が１００、検出開始数が９８であると仮定する。図１５に示すように、データ蓄積部１４５には、ツルーイング後から９８番目、９９番目及び１００番目に研削した工作物Ｗについて、研削加工後の表面粗さの検出結果に基づくツルーイングの要否判定結果がそれぞれ蓄積されている。

研削数判定部３３４は、蓄積されたデータを用いて１回目の蓄積データの解析を行う。その結果、ツルーイング後から数えて１００番目に研削した工作物Ｗの判定結果が良好（ＯＫ）であると判定された場合に、研削数判定部３３４は、最適研削数が１００以上であると判断する。よってこの場合、最適研削数算出処理２は、研削実施数Ｍに３を加算する。そして、研削数判定部３３４は、ツルーイング後から１０１〜１０３番目に研削した工作物Ｗについて、研削加工後に検出した工作物Ｗの表面粗さに基づくツルーイングの要否判定結果をデータ蓄積部１４５に蓄積し、２回目の最適研削数判定処理を行う。

一方、１回目の蓄積データの解析を行った結果、ツルーイング後から数えて９９番目までに研削した工作物Ｗの判定結果が良好であり、且つ、１００番目に研削した工作物Ｗの判定結果が良好でない（ＮＧ）と判定された場合には、最適研削数が９９であることが導き出される。よってこの場合には、２回目以降の最適研削数判定処理が不要となる。

また、１回目の蓄積データの解析を行った結果、ツルーイング後から数えて９８番目に研削した工作物Ｗの判定結果が良好であり、且つ、９９番目及び１００番目に研削した工作物Ｗの判定結果が良好でない場合と判定された場合、最適研削数が９８であることが導き出される。よってこの場合も、２回目以降の最適研削数判定処理は不要となる。

これに対し、１回目の最適研削数判定処理による判定の結果、ツルーイング後から数えて９８番目に研削した工作物Ｗの判定結果が良好でないと判定された場合、研削数判定部３３４は、最適研削数が９８未満であると判断する。よってこの場合、最適研削数算出処理２は、研削実施数Ｍから３を減算する。そして、研削数判定部３３４は、ツルーイング後から９５〜９７番目に研削した工作物Ｗについて、研削加工後に検出した表面粗さに基づくツルーイングの要否判定結果をデータ蓄積部１４５に蓄積し、２回目の最適研削数判定処理を行う。

このように、研削数判定部３３４は、ツルーイングを行う直前に研削した複数の工作物Ｗに対して表面粗さの検出を行うことで、最適研削数を早期に導き出すことができる。例えば、図１５に示す例において、結果的に最適研削数が９８（Ｍ−２）又は９９（Ｍ−１）であれば、１度の最適研削数算出処理により最適研削数が確定し、２度目以降の最適研削数算出処理は不要となる。さらに、結果的に最適研削数が９５〜９７，１００〜１０２であれば、２度目の最適研削数算出処理で最適研削数が確定することになり、３度目以降の最適研削数算出処理は不要となる。従って、研削盤２０１は、ツルーイングを行う直前に研削した１本の工作物Ｗのみに対して表面粗さを検出する場合と比べて、最適研削数を早期に導き出すことができる。

＜３．第三実施形態＞
次に、図１６を参照して、第三実施形態について説明する。第一実施形態では、加工後の工作物Ｗの表面粗さを検出する場合について説明した。これに対し、第三実施形態では、砥石車５０による研削される接触検知ピン５６１の端面の表面粗さを検出する。なお、上記した各実施形態と同一の部品には同一の符号を付し、その説明を省略する。

（３−１：研削盤４０１の構成）
図１６に示すように、研削盤４０１において、主軸台４２０には、砥石車５０の位置を検出する位置検出装置５６０が設けられている。位置検出装置５６０は、Ｘ軸方向へ延びる接触検知ピン５６１を備える。接触検知ピン５６１は、砥石車５０の外周面の位置を検出する部位であり、接触検知ピン５６１のＺ軸方向を向く端面に砥石車５０を接触させることで、砥石車５０の位置を検出する。

研削盤４０１は、ツルア６０によるツルーイングを行う前及びツルーイングを行った後に、砥石車５０の外周面を接触検知ピン５６１に接触させる。これにより、研削盤４０１は、ツルーイングによる砥石車５０の外径の変化、即ち、ツルーイングによる切込量を把握することができる。

また、研削盤４０１では、エア供給装置９０及びセンサ１００が、Ｚ軸方向において砥石車５０に隣接する位置に配置される。エア供給装置９０及びセンサ１００は、テーブル１０をＺ軸方向へ移動させることにより、接触検知ピン５６１の端面に対向配置される。研削盤４０１では、ツルーイング前に砥石車５０の外周面に接触した接触検知ピン５６１の端面の表面粗さをセンサ１００により検出し、その検出結果に基づき、研削数判定部１３４による判定を行う。

（３−２：センサ１００による検出を行う際の流れ）
次に、センサ１００による検出を行う際の流れを説明する。研削盤４０１は、砥石車５０に対するツルーイングを開始するにあたり、最初に、砥石車５０の外周面が接触検知ピン５６１の端面と対向する位置までテーブル１０をＺ軸方向へ移動させる。次に、研削盤４０１は、砥石台４０をＸ軸方向へ移動させることにより、砥石車５０の外周面を接触検知ピン５６１に接触させる。その後、研削盤４０１は、砥石車５０の外周面がツルア６０と対向する位置までテーブル１０をＺ軸方向へ移動させ、ツルーイングを行う。

ツルーイング終了後、研削盤４０１は、接触検知ピン５６１の端面がセンサ１００と対向する位置までテーブル１０をＺ軸方向へ移動させる。そして、研削盤４０１は、センサ１００により接触検知ピン５６１の端面の表面粗さを検出する。なお、ツルア６０に対向する位置からセンサ１００に対向するまで砥石車５０を移動させる過程で、接触検知ピン５６１は、エア供給装置９０の前を通過する。このとき、エア供給装置９０は、エア吹付部９１からエアを接触検知ピン５６１の端面に向けて吹付け、エアを接触検知ピン５６１の端面の付着物を吹き飛ばす。これにより、研削盤４０１は、センサ１００により接触検知ピン５６１の端面の表面粗さを検出するにあたり、その検出精度を高めることができる。

センサ１００による検出が終了した後、研削盤４０１は、再び、砥石車５０の外周面を接触検知ピン５６１に接触させるためにテーブル１０及び砥石台４０を移動させる。そして、研削盤４０１は、砥石車５０の外周面を接触検知ピン５６１に接触させ、砥石車５０の形状の変化を把握した後、工作物Ｗの研削を再開する。

また、エア供給装置９０及びセンサ１００は、Ｚ軸方向において隣接した位置に設けられ、センサ１００と砥石車５０との間にエア供給装置９０が配置されている。研削盤４０１は、接触検知ピン５６１の端面の表面粗さを検出し、その検出結果に基づいて砥石車５０に対するツルーイングの要否判定を行う際に、工作物の研削加工中に飛散するクーラント等が付着しにくい位置に、センサ１００を配置することができる。

なお、エア供給装置９０は、エア吹付部９１の向きを調整し、エア吹付部９１から供給されるエアがセンサ部１０１（図２参照）の前を通過するように配置してもよい。この場合、研削盤４０１は、センサ部１０１に向けて飛散するクーラント等をエアで吹き飛ばすことができるので、センサ部１０１に付着物が被着することを防止できる。その結果、研削盤４０１は、付着物に起因するセンサ１００の検出精度の低下を抑制できる。

また、本実施形態において、研削盤４０１は、ツルーイング終了後、砥石車５０を接触検知ピン５６１に接触させる前に、接触検知ピン５６１の表面粗さをセンサ１００により検出しているが、これに限られるものではない。例えば、研削盤４０１は、主軸台４２０に設けられるツルア６０及び位置検出装置５６０の配置を変更することにより、センサ１００による接触検知ピン５６１の端面の表面粗さの検出を、ツルア６０による砥石車５０のツルーイングと並行して行ってもよい。これにより、研削盤４０１は、ツルーイングを行う際に、砥石車５０による工作物Ｗの研削が終了してから次の工作物Ｗの研削を開始するまでに要する時間を短縮できる。よって、研削盤４０１は、研削盤４０１において工作物Ｗの研削を行うにあたり、その加工効率の向上を図ることができる。

＜４．その他＞
以上、上記各実施形態に基づき本発明を説明したが、本発明は上記各形態に何ら限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で種々の変形改良が可能であることは容易に推察できるものである。

例えば、上記各実施形態において、研削盤システムが１台の研削盤１，２０１，４０１から構成される場合について説明したが、これに限られるものではない。例えば、研削盤システムが、複数の研削盤と、それら複数の研削盤が接続されるネットワーク上に設けられる解析部と、を備え、上記各実施形態においてツルーイング制御部１３０，３３０に設けられていた研削数判定部１３４，３３４を、解析部に設けてもよい。これに加え、研削盤システムは、研削数判定部１３４，３３４による判定に用いるデータ蓄積部１４５、蓄積数カウンタ１４６、最大蓄積数設定部１４７等を解析部に設けてもよい。

この場合、解析部には複数の研削盤からデータが送信され、受信したデータがデータ蓄積部１４５に蓄積される。解析部は、蓄積したデータに基づいて解析を行い、設定されている研削実施数Ｍが適切であるか否かを判定する。この場合、研削盤システムは、複数の研削盤から集約されたデータに基づいて、研削実施数Ｍが適切であるか否かの判定を行うに際し、より正確な判定結果を得ることができる。

＜５．効果＞
以上説明したように、研削盤１，２０１，４０１としての研削盤システムは、工作物Ｗを回転可能に支持する主軸台２０，４２０と、工作物Ｗを研削する砥石車５０と、砥石車５０をツルーイングするツルア６０と、工作物Ｗ、及び、砥石車５０により研削した工作物Ｗ以外の対象物の何れかである研削対象物の表面粗さを検出するセンサ１００と、砥石車５０に対するツルーイングに関する制御を行う制御装置１１０，３１０と、を備える。

制御装置１１０は、砥石車５０に対するツルーイングを行ってから、次にツルーイングを行うまでに研削する工作物Ｗの数を研削実施数Ｍとして設定する研削実施数設定部１４２と、ツルア６０によるツルーイング後に、砥石車５０が研削した工作物Ｗの数をカウントする研削数カウンタ１４１と、研削数カウンタ１４１によりカウントした工作物Ｗの数が、研削実施数Ｍに到達したか否かを判定するツルーイング時期判定部１３２又は時期判定部３３２と、センサ１００の検出結果に基づき、設定されている研削実施数Ｍが適切であるか否かを判定し、且つ、当該判定結果に基づき、次回以降に用いる研削実施数Ｍを再設定する研削数判定部１３４，３３４と、を備える。

この研削盤システムによれば、ツルーイングを行ってから、次にツルーイングを行うまでに研削する工作物Ｗの数が研削実施数Ｍとして設定され、研削した工作物Ｗの数が設定された研削実施数Ｍに到達した場合に、砥石車５０に対するツルーイングを行う。即ち、研削盤システムは、全ての工作物Ｗに対し、研削加工が終了する度に、センサ１００による検出結果に基づいてツルーイングの要否を判断する必要がない。従って、研削盤システムは、工作物Ｗの研削が終了してから次の工作物Ｗの研削を開始するまでの時間を短縮できる。

また、研削数判定部１３４，３３４は、センサ１００の検出結果に基づき、現在設定されている研削実施数Ｍが適切であるか否かを判定し、その判定結果に基づき、次回以降に用いる研削実施数Ｍを再設定する。これにより、研削盤システムは、研削実施数Ｍの精度を高めることができるので、砥石車５０に対するツルーイングを適切な時期に行うことができる。

上記した研削盤１，２０１，４０１としての研削盤システムにおいて、研削対象物は、砥石車５０による研削が終了した工作物Ｗである。センサ１００は、工作物Ｗの表面粗さを、加工領域とは異なる位置で検出し、センサ１００による研削対象物としての工作物Ｗの表面粗さの検出は、砥石車５０による工作物Ｗの研削と並行して行われる。この研削盤システムは、センサ１００による研削対象物としての工作物Ｗの表面粗さの検出を、砥石車５０による工作物Ｗの研削と並行して行うことができるので、研削盤システムにおける工作物Ｗの研削加工において、その加工効率の向上を図ることができる。

上記した研削盤１としての研削盤システムにおいて、センサ１００は、ツルーイングを行う直前に研削した工作物Ｗのみに対し、表面粗さの検出を行う。この研削盤システムは、センサ１００による表面粗さの検出を行う工作物Ｗの数を少なくすることができるので、研削盤システムにおける工作物Ｗの研削加工において、その加工効率の向上を図ることができる。

上記した研削盤２０１としての研削盤システムにおいて、センサ１００は、ツルーイングを行う直前に研削した複数の工作物Ｗに対し、表面粗さの検出を行う。この研削盤システムは、複数の工作物Ｗに対して表面粗さの検出を行うことで、最適研削数を早期に導き出すことができるので、研削盤システムにおける工作物Ｗの研削加工において、その加工効率の向上を図ることができる。

上記した研削盤４０１としての研削盤システムは、砥石車５０との接触により砥石車５０の外径を測定する接触検知ピン５６１を備える。研削対象物は、接触検知ピン５６１であり、センサ１００は、ツルーイングを行う直前に砥石車５０に接触した接触検知ピン５６１の表面粗さを検出する。

この研削盤システムは、接触検知ピン５６１の表面粗さを検出することにより、砥石車５０に対するツルーイングの要否判定を行う。この場合、研削盤システムは、工作物の研削加工中に飛散するクーラント等が付着しにくい位置に、センサ１００を配置しやすくすることができるので、付着物に起因するセンサ１００の検出精度の低下を抑制できる。

上記した研削盤４０１としての研削盤システムにおいて、センサ１００による接触検知ピン５６１の表面粗さの検出は、ツルア６０による砥石車５０のツルーイングと並行して行われる。この研削盤システムは、工作物Ｗの研削加工において、その加工効率の向上を図ることができる。

上記した研削盤１，２０１，４０１としての研削盤システムにおいて、センサ１００は、基板１０４と、基板１０４上に装着され、工作物Ｗに向けて発光する発光素子と、基板１０４上において発光素子の近傍に装着され、工作物Ｗからの反射光を受光可能な第一受光素子１０６及び第二受光素子１０７としての受光素子と、受光素子の受光量に基づいて表面粗さを演算する演算部１０３と、を備える。この研削盤システムは、工作物Ｗの表面粗さを非接触で検出することができるので、表面粗さの検出に伴って研削加工後の工作物Ｗに傷がつくことを回避できる。

１，２０１，４０１：研削盤（研削盤システム）、 ２０，４２０：主軸台、 ５０：砥石車、 ６０：ツルア、 １００：センサ、 １０３：演算部、 １０４：基板、 １０５：発光素子、 １０６：第一受光素子（受光素子）、 １０７：第二受光素子（受光素子）、 １３２：ツルーイング時期判定部、 １４１：研削数カウンタ、 １４２：研削実施数設定部、 ３３２：時期判定部（ツルーイング時期判定部）、 ５６１：接触検知ピン、 Ｍ：研削実施数、 Ｗ：工作物

Claims (9)

1. 工作物を回転可能に支持する主軸台と、
   前記工作物を研削する砥石車と、
   前記砥石車をツルーイングするツルアと、
   前記砥石車の前記ツルーイングを行う前に、前記砥石車により研削された前記工作物、及び、前記砥石車により研削された前記工作物以外の対象物の何れかである研削対象物の表面粗さを検出するセンサと、
   前記砥石車に対するツルーイングに関する制御を行う制御装置と、を備え、
   前記制御装置は、
   前記砥石車に対するツルーイングを行ってから、次にツルーイングを行うまでに研削する前記工作物の数が研削実施数として設定される研削実施数設定部と、
   前記ツルアによるツルーイング後に、前記砥石車が研削した前記工作物の数をカウントする研削数カウンタと、
   前記研削数カウンタによりカウントした前記工作物の数が、前記研削実施数に到達したか否かを判定するツルーイング時期判定部と、
   前記ツルーイング時期判定部により前回ツルーイングを行ってから前記研削実施数に到達したと判定された場合に、前記砥石車の前記ツルーイングを行うツルーイング実行部と、
   前記ツルーイング実行部が前記砥石車の前記ツルーイングを行う前に検出した前記センサの検出結果に基づき、現在設定されている前記研削実施数が適切であるか否かを判定し、且つ、当該判定結果に基づき、次回以降に用いる前記研削実施数を再設定する研削数判定部と、を備える、研削盤システム。
2. 工作物を回転可能に支持する主軸台と、
   前記工作物を研削する砥石車と、
   前記砥石車をツルーイングするツルアと、
   前記砥石車との接触により前記砥石車の外径を測定する接触検知ピンと、
   前記砥石車により研削された前記工作物以外の対象物としての前記接触検知ピンである研削対象物の表面粗さであって、ツルーイングを行う直前に前記砥石車に接触した前記接触検知ピンの表面粗さを検出するセンサと、
   前記砥石車に対するツルーイングに関する制御を行う制御装置と、を備え、
   前記制御装置は、
   前記砥石車に対するツルーイングを行ってから、次にツルーイングを行うまでに研削する前記工作物の数が研削実施数として設定される研削実施数設定部と、
   前記ツルアによるツルーイング後に、前記砥石車が研削した前記工作物の数をカウントする研削数カウンタと、
   前記研削数カウンタによりカウントした前記工作物の数が、前記研削実施数に到達したか否かを判定するツルーイング時期判定部と、
   前記センサの検出結果に基づき、現在設定されている前記研削実施数が適切であるか否かを判定し、且つ、当該判定結果に基づき、次回以降に用いる前記研削実施数を再設定する研削数判定部と、を備える、研削盤システム。
3. 前記研削対象物は、前記砥石車による研削が終了した前記工作物であり、
   前記センサは、前記工作物の表面粗さを、加工領域とは異なる位置で検出し、
   前記センサによる前記研削対象物としての前記工作物の表面粗さの検出は、前記砥石車による前記工作物の研削と並行して行われる、請求項１に記載の研削盤システム。
4. 前記センサは、
   ツルーイングを行う直前に研削した一の前記工作物のみに対し、表面粗さの検出を行う、請求項３に記載の研削盤システム。
5. 前記センサは、
   ツルーイングを行う直前に研削した複数の前記工作物に対し、表面粗さの検出を行う、請求項３に記載の研削盤システム。
6. 前記研削盤システムは、
   前記砥石車との接触により前記砥石車の外径を測定する接触検知ピンを備え、
   前記研削対象物は、前記接触検知ピンであり、
   前記センサは、ツルーイングを行う直前に前記砥石車に接触した前記接触検知ピンの表面粗さを検出する、請求項１に記載の研削盤システム。
7. 前記センサによる前記接触検知ピンの表面粗さの検出は、前記ツルアによる前記砥石車のツルーイングと並行して行われる、請求項２又は６に記載の研削盤システム。
8. 前記センサは、
   基板と、
   前記基板上に装着され、前記工作物に向けて発光する発光素子と、
   前記基板上において前記発光素子の近傍に装着され、前記工作物からの反射光を受光可能な受光素子と、
   前記受光素子の受光量に基づいて表面粗さを演算部と、
   を備える、請求項１−７の何れか一項に記載の研削盤システム。
9. 前記研削盤システムは、
   前記主軸台、前記砥石車、前記ツルアを少なくとも備える複数の研削盤と、前記複数の研削盤が接続されるネットワーク上に設けられる解析部と、を備え、
   前記研削数判定部は、前記解析部に設けられ、前記複数の研削盤から送信されたデータに基づいて前記判定且つ前記再設定を行う、請求項１−８の何れか一項に記載の研削盤システム。

Images