JP6841708B2 - 発光素子および発光素子の製造方法 - Google Patents
発光素子および発光素子の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6841708B2 JP6841708B2 JP2017070173A JP2017070173A JP6841708B2 JP 6841708 B2 JP6841708 B2 JP 6841708B2 JP 2017070173 A JP2017070173 A JP 2017070173A JP 2017070173 A JP2017070173 A JP 2017070173A JP 6841708 B2 JP6841708 B2 JP 6841708B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- oxide film
- light emitting
- semiconductor
- emitting element
- mask
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 55
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 245
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 48
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 38
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 10
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 4
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 268
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 184
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 26
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 description 15
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 14
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 14
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 12
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 12
- 238000000879 optical micrograph Methods 0.000 description 12
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 10
- 238000007743 anodising Methods 0.000 description 9
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 8
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 8
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 5
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910005191 Ga 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000002048 anodisation reaction Methods 0.000 description 4
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 4
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Substances [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 229910002704 AlGaN Inorganic materials 0.000 description 3
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N Propylene glycol Chemical compound CC(O)CO DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N Ammonium hydroxide Chemical compound [NH4+].[OH-] VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FEWJPZIEWOKRBE-UHFFFAOYSA-N Tartaric acid Natural products [H+].[H+].[O-]C(=O)C(O)C(O)C([O-])=O FEWJPZIEWOKRBE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RNQKDQAVIXDKAG-UHFFFAOYSA-N aluminum gallium Chemical compound [Al].[Ga] RNQKDQAVIXDKAG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N ammonia Natural products N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 235000002906 tartaric acid Nutrition 0.000 description 1
- 239000011975 tartaric acid Substances 0.000 description 1
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 1
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004506 ultrasonic cleaning Methods 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/36—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
- H01L33/40—Materials therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/36—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
- H01L33/38—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/58—Optical field-shaping elements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/62—Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2933/00—Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2933/0008—Processes
- H01L2933/0033—Processes relating to semiconductor body packages
Description
図1〜図4を用いて、本発明の一実施形態に係る発光素子の概要について説明する。第1実施形態では、基板100上にn型半導体層110、活性層120、およびp型半導体層130の順で積層された発光素子10について説明する。本発明に係る実施形態では、p型半導体層130とp型電極160との間に、導電経路が設けられた透光性を有する第1膜が設けられており、当該第1膜によってp型半導体層130とp型電極160とが電気的に接続されている。以下の説明では、上記の第1膜が酸化膜である構成を例示するが、この構成に限定されない。第1膜は透光性を有し、p型半導体層130とp型電極160とを電気的に接続する導電経路を有していればよく、酸化膜以外の膜であってもよい。
図1は、本発明の一実施形態に係る発光素子の全体構成を示す平面図である。図1に示すように、発光素子10は、基板100、半導体構造体140、p型電極160、およびn型電極170を有する。p型電極160およびn型電極170はそれぞれ複数設けられている。図1の例では、半導体構造体140およびp型電極160は平面視において類似した形状を有している。半導体構造体140およびp型電極160は略U字型のパターン(または、長方形の長辺の一部が切り欠きされたパターン)で形成されている。n型電極170はU字型のパターンの凹部(または、長方形の長辺の一部が切り欠きされた領域)に設けられている。p型電極160およびn型電極170は一対で設けられている。ただし、p型電極160およびn型電極170は必ずしも一対である必要はなく、複数のp型電極160に対して1つのn型電極170が設けられていてもよい。
本実施形態では、基板100としてサファイア基板が用いられる。基板100として、シリコン基板、炭化シリコン基板、窒化ガリウム基板、窒化アルミニウム基板などの基板を用いることができる。
図5〜図22を用いて、本発明に係る発光素子の製造方法について説明する。まず、半導体構造体140を活性化するために熱処理を行う。当該熱処理は窒素雰囲気、750℃、10分間の条件で行われる。
2GaN+6h+ → 2Ga3++N2
2Ga3++6OH- → Ga2O3+3H2O
※h+:ホール
上記の反応によって、p型半導体層130のGaNがGa2O3に置換され、p型半導体層130の酸化が進む。上記の陽極酸化では、電流値が一定になるように電圧が制御される。
λ(μm)<1.2398/Eg(eV)
「(酸化膜150の抵抗率)/(マスク400の抵抗率)」
=「(酸化膜150の面積/酸化膜150の膜厚)/(マスク400の面積/マスク400の膜厚)」
=(137,000μm2/0.23μm)/(88,000μm2/1.9μm)
=13
である。ただし、実際の構造では、マスク400に抵抗があるので、実際の「(酸化膜150の抵抗率)/(マスク400の抵抗率)」の値は13よりも小さな値になると考えられる。
図24および図25を用いて、発光素子10の電気特性および発光特性について説明する。図24および図25では、上記で説明した実施形態の発光素子10とその比較例の発光素子90との結果を示す。なお、比較例は、発光素子10から酸化膜150が省略された発光素子である。つまり、発光素子90では、図2における酸化膜150が形成されておらず、p型電極160がp型半導体層130に直接接触している。
図26を用いて酸化膜150に形成された導電経路158の変形例について説明する。図26は、本発明の一実施形態の変形例に係る発光素子の詳細な層構造を示す断面図である。図3では、導電経路158は、第2酸化膜154が形成されていない領域(つまり、第2酸化膜154に形成されたピンホール)においてp型電極160とp型半導体層130とが接続された部分である例を示したが、導電経路158はp型電極160とp型半導体層130とを電気的に接続すればよく、多様な形態で実現可能である。例えば、図26に示すように、第2酸化膜154の中に電流が通過可能な欠陥159が存在し、その欠陥159が導電経路として機能してもよい。この場合、第2酸化膜154の膜厚はおおよそ一定であり、局所的に導電経路として機能する欠陥159が存在している。なお、欠陥159の形状は、欠陥159−1のように直線状であってもよく、欠陥159−2のように屈曲していてもよく、欠陥159−3のように離散的であってもよい。
図27を用いて酸化膜150に形成された導電経路158の変形例について説明する。図27は、本発明の一実施形態の変形例に係る発光素子の詳細な層構造を示す断面図である。図3および図26では、第2酸化膜154の内部に局所的に導電経路158が存在する構成を例示したが、図27に示すように、第2酸化膜154の抵抗率が第1酸化膜152の抵抗率よりも低くてもよい。つまり、第2酸化膜154の全域が導電経路158として機能してもよい。この場合、溝156に相当する領域の酸化膜の抵抗率が第1酸化膜152の抵抗率よりも高くてもよい。
図28を用いて、本発明の一実施形態に係る発光素子の概要について説明する。図28は、本発明の一実施形態の変形例に係る発光素子の詳細な層構造を示す断面図である。図28に示す発光素子10Aは図2に示す発光素子10と類似しているが、発光素子10Aは、p型電極160Aの上にp型パッド190Aが設けられている点、および酸化膜150Aの全域に導電経路158Aが設けられている点において、発光素子10と相違する。以下の発光素子10Aの説明において、図2に示す発光素子10と同じ構成については説明を省略する場合がある。
Claims (17)
- 第1導電型の第1半導体、前記第1半導体の上方に設けられ前記第1導電型とは異なる第2導電型の第2半導体、および前記第1半導体と前記第2半導体との間の活性層を含む半導体構造体と、
前記第1半導体に接続された第1電極と、
前記第2半導体の上方で、前記第2半導体に接続された第2電極と、
前記第2半導体上に設けられた第1酸化膜と、
前記第2半導体と前記第2電極との間に設けられ、平面視において前記第1酸化膜によって囲まれ、前記第2半導体と前記第2電極とを電気的に接続する導電経路が設けられ、透光性を有し、前記第1酸化膜よりも膜厚が大きい第2酸化膜と、
を有する発光素子。 - 前記第2酸化膜は、前記第2半導体の成分を有する膜である請求項1に記載の発光素子。
- 前記第2酸化膜は前記第2半導体よりも高抵抗であり、
前記導電経路は、前記第2酸化膜の内部に設けられている請求項1に記載の発光素子。 - 平面視において、前記第2電極は前記第1酸化膜に囲まれている請求項3に記載の発光素子。
- 前記第1酸化膜と前記第2酸化膜との間に酸化膜の溝が設けられている請求項1に記載の発光素子。
- 前記溝は、前記第2酸化膜の周縁に沿って連続して前記第2酸化膜を囲んでいる請求項5に記載の発光素子。
- 前記第2酸化膜の屈折率は、前記第2半導体の屈折率と空気の屈折率との間の値である請求項3に記載の発光素子。
- 第1導電型の第1半導体、前記第1導電型とは異なる第2導電型かつ前記第1半導体の上方の第2半導体、および前記第1半導体と前記第2半導体との間の活性層を含む半導体構造体において、前記第2半導体の第1領域を露出するマスクを形成し、
前記第1領域の前記第2半導体を酸化して第1酸化膜を形成し、
前記マスクに覆われた第2領域の前記第2半導体の上に透光性を有する第1膜を形成し、
前記マスクを除去し、
前記第2領域の前記第1膜の上方に、前記第2半導体に電気的に接続される第2電極を形成し、
前記第1半導体に電気的に接続される第1電極を形成する発光素子の製造方法。 - 前記第1膜は、前記第2半導体の一部が化学反応することで形成される請求項8に記載の発光素子の製造方法。
- 前記第1膜は、前記第2半導体の一部が酸化することで形成される請求項8に記載の発光素子の製造方法。
- 前記第1酸化膜および前記第1膜は、それぞれ同一工程で形成される請求項10に記載の発光素子の製造方法。
- 前記マスクの膜厚方向の電気抵抗は、前記第1酸化膜の膜厚方向の電気抵抗よりも小さい請求項11に記載の発光素子の製造方法。
- 前記第1膜は、前記マスクが前記第2半導体を覆った状態で形成される請求項12に記載の発光素子の製造方法。
- 前記第1膜は導電経路を含み、
前記導電経路を介して前記第2電極と前記第2半導体とが接続される請求項13に記載の発光素子の製造方法。 - 前記マスクには、前記マスクのパターンの周縁に沿って突出部が設けられている請求項10に記載の発光素子の製造方法。
- 前記突出部は、前記マスクの熱処理によって形成される請求項15に記載の発光素子の製造方法。
- 前記マスクはレジストであり、
前記熱処理は、160℃以上の熱処理である請求項16に記載の発光素子の製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017070173A JP6841708B2 (ja) | 2017-03-31 | 2017-03-31 | 発光素子および発光素子の製造方法 |
KR1020170061845A KR101939334B1 (ko) | 2017-03-31 | 2017-05-18 | 발광소자 및 발광소자의 제조방법 |
CN201880011132.0A CN110506340A (zh) | 2017-03-31 | 2018-02-08 | 发光元件及发光元件的制造方法 |
PCT/KR2018/001682 WO2018182169A1 (ko) | 2017-03-31 | 2018-02-08 | 발광소자 및 발광소자의 제조방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017070173A JP6841708B2 (ja) | 2017-03-31 | 2017-03-31 | 発光素子および発光素子の製造方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018174185A JP2018174185A (ja) | 2018-11-08 |
JP2018174185A5 JP2018174185A5 (ja) | 2019-12-19 |
JP6841708B2 true JP6841708B2 (ja) | 2021-03-10 |
Family
ID=63678086
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017070173A Active JP6841708B2 (ja) | 2017-03-31 | 2017-03-31 | 発光素子および発光素子の製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6841708B2 (ja) |
KR (1) | KR101939334B1 (ja) |
CN (1) | CN110506340A (ja) |
WO (1) | WO2018182169A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7206629B2 (ja) * | 2018-04-27 | 2023-01-18 | セイコーエプソン株式会社 | 発光装置およびプロジェクター |
JP6803595B1 (ja) * | 2020-09-16 | 2020-12-23 | アルディーテック株式会社 | 半導体発光素子チップ集積装置およびその製造方法 |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS51120688A (en) * | 1975-04-16 | 1976-10-22 | Oki Electric Ind Co Ltd | Manufacturing method for semiconductor apparatus |
JPH06314823A (ja) * | 1993-04-28 | 1994-11-08 | Toyoda Gosei Co Ltd | 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子及びその製造方法 |
JP3711055B2 (ja) * | 2001-09-25 | 2005-10-26 | 三洋電機株式会社 | 窒化物系半導体素子の形成方法 |
JP2005005557A (ja) * | 2003-06-13 | 2005-01-06 | Hitachi Cable Ltd | 半導体発光素子の製造方法 |
KR100576849B1 (ko) * | 2003-09-19 | 2006-05-10 | 삼성전기주식회사 | 발광소자 및 그 제조방법 |
US7615798B2 (en) * | 2004-03-29 | 2009-11-10 | Nichia Corporation | Semiconductor light emitting device having an electrode made of a conductive oxide |
JP4977957B2 (ja) * | 2004-03-29 | 2012-07-18 | 日亜化学工業株式会社 | 半導体発光素子 |
KR100631840B1 (ko) * | 2004-06-03 | 2006-10-09 | 삼성전기주식회사 | 플립칩용 질화물 반도체 발광소자 |
JP4254720B2 (ja) * | 2005-02-04 | 2009-04-15 | セイコーエプソン株式会社 | 絶縁化処理前基板、および基板の製造方法 |
JP5047516B2 (ja) * | 2006-03-23 | 2012-10-10 | 昭和電工株式会社 | 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子の製造方法、窒化ガリウム系化合物半導体発光素子及びそれを用いたランプ |
KR100886819B1 (ko) * | 2006-08-23 | 2009-03-04 | 한국광기술원 | 반사막 전극, 이를 구비하는 화합물 반도체 발광소자 및그의 제조방법 |
TWI416766B (zh) * | 2009-01-13 | 2013-11-21 | 具有高度發光效率之發光二極體 | |
JP2011009502A (ja) * | 2009-06-26 | 2011-01-13 | Showa Denko Kk | 発光素子、その製造方法、ランプ、電子機器及び機械装置 |
JP5543164B2 (ja) * | 2009-09-25 | 2014-07-09 | 豊田合成株式会社 | 発光素子 |
KR100999798B1 (ko) * | 2010-02-11 | 2010-12-08 | 엘지이노텍 주식회사 | 반도체 발광소자 및 그 제조방법 |
KR101728545B1 (ko) * | 2010-04-23 | 2017-04-19 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 소자, 발광 소자 제조방법 및 발광 소자 패키지 |
KR20120081801A (ko) * | 2011-01-12 | 2012-07-20 | 삼성엘이디 주식회사 | 반도체 발광 소자 |
KR101791175B1 (ko) * | 2011-06-30 | 2017-10-27 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광소자 및 이를 포함하는 발광소자 패키지 |
KR101907619B1 (ko) * | 2012-03-15 | 2018-10-15 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 소자 |
KR102053279B1 (ko) * | 2013-04-11 | 2019-12-06 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광소자, 발광소자 패키지 및 라이트 유닛 |
JP2015015321A (ja) | 2013-07-03 | 2015-01-22 | 高槻電器工業株式会社 | 半導体発光素子及びその製造方法 |
-
2017
- 2017-03-31 JP JP2017070173A patent/JP6841708B2/ja active Active
- 2017-05-18 KR KR1020170061845A patent/KR101939334B1/ko active IP Right Grant
-
2018
- 2018-02-08 CN CN201880011132.0A patent/CN110506340A/zh active Pending
- 2018-02-08 WO PCT/KR2018/001682 patent/WO2018182169A1/ko active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN110506340A (zh) | 2019-11-26 |
KR20180111419A (ko) | 2018-10-11 |
JP2018174185A (ja) | 2018-11-08 |
KR101939334B1 (ko) | 2019-01-16 |
WO2018182169A1 (ko) | 2018-10-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6162890B2 (ja) | マイクロ発光ダイオード | |
JP6712474B2 (ja) | 発光素子及びこれを含む発光素子パッケージ | |
JP5085283B2 (ja) | 柱状ナノ構造体(ナノロッド)を利用し発光ダイオード(led)の発光効率を引き上げる方法 | |
TWI544656B (zh) | Semiconductor light emitting element and manufacturing method thereof | |
KR101441833B1 (ko) | Ⅲ족 질화물 반도체 발광소자 및 그 제조 방법 | |
JP2009049266A (ja) | 半導体発光素子及び半導体発光装置 | |
TW201210072A (en) | Semiconductor light-emitting device and method of producing the same | |
JP2015039003A (ja) | 光抽出構造を備えた垂直型発光素子 | |
JP2009076896A (ja) | 半導体発光素子 | |
JP3691951B2 (ja) | 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子 | |
JP6841708B2 (ja) | 発光素子および発光素子の製造方法 | |
JP2015092634A (ja) | 発光装置およびその製造方法 | |
JP2005191575A (ja) | 窒化ガリウム系発光ダイオードの構造とその製造方法 | |
JP4301136B2 (ja) | 半導体発光素子およびその製造方法 | |
CN103811614B (zh) | 具有异质材料结构的发光元件及其制造方法 | |
KR101246733B1 (ko) | 분할된 전극구조를 갖는 발광다이오드 | |
KR20090090114A (ko) | 투명 전극을 갖는 발광 다이오드 및 그 제조 방법 | |
CN108649107B (zh) | 一种多功能反射镜的紫外通孔结构的led芯片及其制备方法 | |
JP2005116997A (ja) | 窒化ガリウム系半導体発光素子及びその製造方法 | |
JP5818031B2 (ja) | Led素子 | |
JP2010232556A (ja) | 発光ダイオード素子及びその製造方法 | |
JP2009238931A (ja) | 半導体発光素子およびそれを用いる照明装置ならびに半導体発光素子の製造方法 | |
TW202230831A (zh) | 半導體裝置 | |
JP2006100529A (ja) | 半導体発光素子 | |
TWI258876B (en) | Compound semiconductor light-emitting device and production method thereof |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A80 | Written request to apply exceptions to lack of novelty of invention |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A80 Effective date: 20170419 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191105 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20191105 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20201125 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20201201 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210119 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210202 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210218 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6841708 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |