JP6790680B2 - 画像読取装置 - Google Patents

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Description

本発明は、画像読取装置に関する。
特許文献1には、原稿画像をイメージセンサーで読み取り、読み取った画像信号をアナログフロントエンド(AFE)でデジタル画像データに変換し、変換されたデジタル画像データをデジタル処理部又はデータ転送部に出力する画像読取装置(スキャナー)が開示されている。
特開2006−314039号公報
シートフィード型やフラットベッド型等の様々な種類のスキャナーが存在し、スキャナーの種類に応じてイメージセンサーやアナログフロントエンド(AFE)の配置が異なるため、イメージセンサーから出力される画像信号が伝搬する配線の長さ(画像信号の負荷容量)はスキャナー毎に異なる。そのため、従来、様々な種類のスキャナーに適用可能な汎用のイメージセンサーでは、想定される最大負荷を駆動するのに必要な大きな駆動能力を有している。
しかしながら、イメージセンサーとアナログフロントエンド(AFE)の配置関係によっては、イメージセンサーの駆動負荷が比較的小さいため、イメージセンサーの駆動能力が過剰となる場合もあり、過剰な電力消費が生じ、また信号転送に伴う過剰なノイズが発生するおそれがあった。
本発明は、以上のような問題に鑑みてなされたものであり、本発明のいくつかの態様によれば、過剰な電力消費や信号転送に伴う過剰なノイズの発生を抑制可能な画像読取装置を提供することができる。
本発明は前述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の態様または適用例として実現することが可能である。
[適用例1]
本適用例に係る画像読取装置は、媒体の第1の面に形成された画像を読み取る第1の画像読取チップと、前記媒体の前記第1の面とは異なる第2の面に形成された画像を読み取る第2の画像読取チップと、を備え、前記第1の画像読取チップは、前記第1の面に形成された前記画像からの光を受けて光電変換する第1の受光素子を含み、第1の画素信号を出力する第1の画素部と、前記第1の画素信号に基づく信号を、第1の駆動能力を含む複数の駆動能力のいずれかで出力可能な第1の出力回路と、前記第1の出力回路の駆動能力を前記複数の駆動能力から選択する第1の出力選択部と、を有し、前記第2の画像読取チップは、前記第2の面に形成された前記画像からの光を受けて光電変換する第2の受光素子を含み、第2の画素信号を出力する第2の画素部と、前記第2の画素信号に基づく信号を、前記第1の駆動能力とは異なる第2の駆動能力を含む複数の駆動能力のいずれかで出力可能な第2の出力回路と、前記第2の出力回路の駆動能力を前記複数の駆動能力から選
択する第2の出力選択部と、を有し、前記第1の出力選択部は、前記第1の駆動能力を選択し、前記第2の出力選択部は、前記第2の駆動能力を選択する。
本適用例に係る画像読取装置では、媒体の第1の面に形成された画像を読み取る第1の画像読取チップにおいて、第1の出力回路の駆動能力が、出力信号の転送配線の負荷の大きさに合わせて過剰にならないように第1の駆動能力に設定され、媒体の第2の面に形成された画像を読み取る第2の画像読取チップにおいて、第2の出力回路の駆動能力が、出力信号の転送配線の負荷の大きさに合わせて過剰にならないように第1の駆動能力とは異なる第2の駆動能力に設定される。従って、本適用例に係る画像読取装置によれば、過剰な電力消費や信号転送に伴う過剰なノイズの発生を抑制しながら、媒体の両面に形成された画像を読み取ることができる。
[適用例2]
上記適用例に係る画像読取装置において、制御基板と、前記第1の画像読取チップと前記制御基板とを電気的に接続する第1の配線と、前記第2の画像読取チップと前記制御基板とを電気的に接続する第2の配線と、を備え、前記第1の出力回路から出力される前記第1の画素信号に基づく信号は、前記第1の配線を伝達して前記制御基板に転送され、前記第2の出力回路から出力される前記第2の画素信号に基づく信号は、前記第2の配線を伝達して前記制御基板に転送され、前記第2の配線は、前記第1の配線よりも長く、前記第2の駆動能力は、前記第1の駆動能力よりも大きくてもよい。
本適用例に係る画像読取装置では、第2の画像読取チップと制御基板とを電気的に接続する第2の配線は、第1の画像読取チップと制御基板とを電気的に接続する第1の配線よりも長いので、第2の配線の負荷が第1の配線の負荷よりも大きくなる。そのため、本適用例に係る画像読取装置では、1の画像読取チップにおいて、第1の出力回路の駆動能力が、出力信号の転送配線の負荷(相対的に小さい負荷)の大きさに合わせて過剰にならないように第1の駆動能力に設定され、第2の画像読取チップにおいて、第2の出力回路の駆動能力が、出力信号の転送配線の負荷(相対的に大きい負荷)の大きさに合わせて過剰にならないように第1の駆動能力よりも大きい第2の駆動能力に設定される。従って、本適用例に係る画像読取装置によれば、過剰な電力消費や信号転送に伴う過剰なノイズの発生を抑制することができる。
[適用例3]
上記適用例に係る画像読取装置において、前記第1の画像読取チップは、第1の端子を有し、前記第1の出力選択部は、前記第1の端子に入力される信号に基づいて、前記第1の出力回路の前記駆動能力を選択し、前記第2の画像読取チップは、第2の端子を有し、前記第2の出力選択部は、前記第2の端子に入力される信号に基づいて、前記第2の出力回路の前記駆動能力を選択してもよい。
本適用例に係る画像読取装置によれば、第1の画像読取チップにおいて、第1の端子に入力される信号に基づいて、第1の出力回路の駆動能力を適切に設定可能であり、第2の画像読取チップにおいて、第2の端子に入力される信号に基づいて、第2の出力回路の駆動能力を適切に設定可能であるので、過剰な電力消費や信号転送に伴う過剰なノイズの発生を抑制することができる。
[適用例4]
上記適用例に係る画像読取装置は、前記第1の画像読取チップ及び前記第2の画像読取チップの動作を制御する制御部を備え、前記第1の端子に入力される前記信号及び前記第2の端子に入力される前記信号の少なくとも一方は、前記制御部から転送されてもよい。
本適用例に係る画像読取装置によれば、制御部から転送される信号に基づいて第1の画像読取チップの第1の出力回路の駆動能力が選択される場合には、画像読取装置の組み立て後に、第1の画像読取チップからの出力信号の負荷の変化に応じて第1の出力回路の駆動能力を変更可能であり、過剰な電力消費や信号転送に伴う過剰なノイズの発生を効果的に抑制することができる。また、本適用例に係る画像読取装置によれば、制御部から転送される信号に基づいて第2の画像読取チップの第2の出力回路の駆動能力が選択される場合には、画像読取装置の組み立て後に、第2の画像読取チップからの出力信号の負荷の変化に応じて第2の出力回路の駆動能力を変更可能であり、過剰な電力消費や信号転送に伴う過剰なノイズの発生を効果的に抑制することができる。
[適用例5]
上記適用例に係る画像読取装置において、前記第1の端子に入力される前記信号及び前記第2の端子に入力される前記信号の少なくとも一方は、前記駆動能力を設定するとともに画像の読み取りの解像度を設定するための信号であってもよい。
本適用例に係る画像読取装置によれば、例えば、第1の画像読取チップの第1の出力回路の駆動能力を設定するための信号と第1の画像読取チップによる画像の読み取りの解像度を設定するための信号とを兼用することができるので、第1の画像読取チップに第1の出力回路の駆動能力を設定するための信号が供給される専用の端子が不要である。また、本適用例に係る画像読取装置によれば、例えば、第2の画像読取チップの第2の出力回路の駆動能力を設定するための信号と第2の画像読取チップによる画像の読み取りの解像度を設定するための信号とを兼用することができるので、第2の画像読取チップに第2の出力回路の駆動能力を設定するための信号が供給される専用の端子が不要である。
[適用例6]
上記適用例に係る画像読取装置において、前記第1の端子及び前記第2の端子の少なくとも一方は、一定の電圧を出力する電圧源に電気的に接続されてもよい。
本適用例に係る画像読取装置によれば、その組み立て時に、第1の画像読取チップの第1の端子を所定の電圧源と接続することにより、第1の画像読取チップの第1の出力回路の駆動能力を容易に設定することができる。また、本適用例に係る画像読取装置によれば、その組み立て時に、第2の画像読取チップの第2の端子を所定の電圧源と接続することにより、第2の画像読取チップの第2の出力回路の駆動能力を容易に設定することができる。
[適用例7]
上記適用例に係る画像読取装置において、前記第1の駆動能力は、前記第1の出力回路の前記複数の駆動能力の中で最小であってもよい。
本適用例に係る画像読取装置によれば、第1の画像読取チップの第1の出力回路が最小の駆動能力に設定されるので、電力消費や第1の画像読取チップからの出力信号の転送に伴うノイズを低減させることができる。
[適用例8]
上記適用例に係る画像読取装置において、前記第1の画像読取チップと前記第2の画像読取チップとは同じ種類のチップであってもよい。
本適用例に係る画像読取装置によれば、第1の画像読取チップの特性と第2の画像読取チップの特性が同様であるため、画像の読み取り精度(画質)のばらつきを小さくすることができる。
第1実施形態のスキャナーの外観を例示した斜視図である。 第1実施形態のスキャナーの断面を例示した図である。 イメージセンサーモジュールの構成を模式的に示す分解斜視図である。 画像読取チップの配置を模式的に示す平面図である。 第1実施形態のスキャナーの機能構成例を示す図である。 解像度設定信号の一例を示す図である。 画像読取チップの機能ブロック図である。 画素部の構成を示す図である。 画像読取チップの各信号のタイミングチャート図である。 出力回路の構成例を示す図である。 出力回路の他の構成例を示す図である。 出力選択部によるデコード論理の真理値表の一例を示す図である。 第2実施形態のスキャナーの機能構成例を示す図である。 第3実施形態のスキャナーの機能構成例を示す図である。 第3実施形態における画像読取チップの機能ブロック図である。 出力制御信号のパターンと駆動能力選択信号との対応関係の一例を示す図である。 第4実施形態のスキャナーの機能構成例を示す図である。 第4実施形態における画像読取チップの機能ブロック図である。 第4実施形態における解像度設定信号の一例を示す図である。
以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて詳細に説明する。用いる図面は説明の便宜上のものである。なお、以下に説明する実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。
以下、添付した図面を参照して、本発明の画像読取装置の一例であるスキャナー1について説明する。
1.第1実施形態
1−1.スキャナーの構造
図1は、第1実施形態のスキャナー1(画像読取装置)の外観を例示した斜視図である。第1実施形態のスキャナー1は、読み取り対象物を光学的に読み取り、画像データを出力する画像読み取り装置である。
図1に示されるように、スキャナー1は、ケース10と、前蓋板20と、後蓋板30と、を備える。
前蓋板20は、略矩形状に形成された板状部21と、脚部22と、を備え、板状部21上に導入口に導入する原稿(「媒体」の一例)を支持する。
ケース10は略筺形状を備え、内部には後述する種々の装置を格納している。ケース10は、給紙口11と、排紙口12と、表示パネル13と、操作スイッチ14と、を備える。給紙口11は、ケース10の上側に配置され、前蓋板20の板状部21上の原稿は、脚部22の間を通って給紙口11に導入される。排紙口12は、給紙口11から導入され、内部装置により画像を読み取られた原稿が排出される。表示パネル13は、ケース10の上側に配置され、スキャナー1の動作状況のほか、読み取り精度や読み取り範囲等につい
て表示する。操作スイッチ14は、スキャナー1の動作や読み取り精度等についての入力を可能にする。
後蓋板30は、前蓋板20の後側に配置され、前蓋板20の閉蓋時に給紙口11を覆うように設けられている。
図2は、スキャナー1の断面を例示した図である。図2を用いて、スキャナー1の動作について説明する。スキャナー1は、ケース10の内部に、給紙ローラー51と、排紙ローラー52と、2つの透過板53a,53bと、2つのイメージセンサーモジュール41(41a,41b)と、メイン基板60とを備える。スキャナー1は、板状部21に載置された原稿を、給紙口11から給紙ローラー51により透過板53aと透過板53bの間に搬送する。原稿が透過板53aと透過板53bの間に搬送されると、イメージセンサーモジュール41aは、透過板53aを介して原稿の第1の面(表面あるいは裏面)に光を照射し、原稿から反射した光(画像からの光)を受けて、光電変換により得られる信号に基づく画像信号を生成することにより、原稿の第1の面に形成された画像を読み取る。同様に、イメージセンサーモジュール41bは、透過板53bを介して原稿の第1の面とは異なる第2の面(裏面あるいは表面)に光を照射し、原稿から反射した光(画像からの光)を受けて、光電変換により得られる信号に基づく画像信号を生成することにより、原稿の第2の面に形成された画像を読み取る。イメージセンサーモジュール41(41a,41b)は、例えば、CIS(Contact Image Sensor)方式のCMOS(Complementary metal−oxide−semiconductor)ラインセンサーである。イメージセンサーモジュール41a,41bがそれぞれ生成した画像信号は、メイン基板60に転送されて処理される。そして、原稿は、1ライン分ずつ読み取られ、読み取りが完了する都度、ローラーにより排紙口12方向に搬送される。読み取られた原稿は排紙ローラー52により排紙口12へ搬送される。
給紙ローラー51及び排紙ローラー52は、原稿を搬送する搬送部を構成しており、第1実施形態のスキャナー1は、いわゆるシートフィード型の両面スキャナーである。
図3は、イメージセンサーモジュール41(41a,41b)の構成を模式的に示す分解斜視図である。図3に示される例では、イメージセンサーモジュール41は、ケース411、光源412、レンズ413、モジュール基板414および画像を読み取るための画像読取チップ415(半導体装置)を含んで構成されている。光源412、レンズ413および画像読取チップ415は、ケース411とモジュール基板414との間に収容されている。ケース411にはスリットが設けられている。光源412は、例えば、R,G,Bの各発光ダイオード(LED:Light emitting diode)を有し、R,G,Bの各発光ダイオード(赤色LED、緑色LED、青色LED)を高速に切り換えながら順番に発光させる。光源412が発する光は当該スリットを介して被読取媒体へ照射され、被読取媒体からのは当該スリットを介してレンズ413に入力される。レンズ413は、入力された光を画像読取チップ415へと導く。
図4は、画像読取チップ415の配置を模式的に示す平面図である。図4に示されるように、複数(m個)の画像読取チップ415が、モジュール基板414上に1次元方向(図4においてはX軸方向)に並べて配置されている。各画像読取チップ415は、一列に配置された多数の受光素子(図7、図8参照)を有しており、各画像読取チップ415が有する受光素子の密度が高いほど、画像を読み取る解像度が高いスキャナー1を実現することができる。また、画像読取チップ415の数が多いほど、大きな画像も読み取り可能なスキャナー1を実現することができる。
1−2.スキャナーの機能構成
図5は、第1実施形態のスキャナー1の機能構成例を示す機能ブロック図である。図5に示される例では、スキャナー1は、制御部200、2つのアナログフロントエンド(AFE)202a,202b及び2つのイメージセンサーモジュール41a,41bを含んで構成されている。イメージセンサーモジュール41a,41bの構成は同じであるため、図5では、イメージセンサーモジュール41aの構成のみが図示されており、イメージセンサーモジュール41bの構成は図示が省略されている。
イメージセンサーモジュール41(41a,41b)は、赤色LED412R、緑色LED412G、青色LED412B及びm個の画像読取チップ415(415−1〜415−m)を含んで構成されている。
赤色LED412R、緑色LED412G及び青色LED412Bは光源412に備えられており、複数の画像読取チップ415は、モジュール基板414上に並べて配置されている。赤色LED412R、緑色LED412G及び青色LED412Bは、それぞれ複数個存在してもよい。
また、制御部200及びアナログフロントエンド(AFE)202a,202bは、モジュール基板414とは異なる、図2に示されるメイン基板60(「制御基板」の一例)に備えられている。制御部200及びアナログフロントエンド(AFE)202a,202bは、それぞれ、集積回路(IC:Integrated Circuit)で実現されてもよい。
制御部200は、イメージセンサーモジュール41(41a,41b)の動作を制御する。まず、制御部200は、イメージセンサーモジュール41a,41bの各々が有する赤色LED412R、緑色LED412G及び青色LED412Bの動作を制御する。具体的には、制御部200は、一定の周期Tで赤色LED412Rに対して一定の露光時間Δtだけ駆動信号DrvRを供給し、赤色LED412Rを発光させる。同様に、制御部200は、周期Tで緑色LED412Gに対して露光時間Δtだけ駆動信号DrvGを供給して緑色LED412Gを発光させ、周期Tで青色LED412Bに対して露光時間Δtだけ駆動信号DrvBを供給して青色LED412Bを発光させる。制御部200は、周期Tの間に、赤色LED412R、緑色LED412G及び青色LED412Bを排他的に1つずつ順番に発光させる。
また、制御部200は、イメージセンサーモジュール41a,41bの各々が有するm個の画像読取チップ415の動作を制御する。具体的には、制御部200は、m個の画像読取チップ415に対して、クロック信号CLK及び解像度設定信号RESを共通に供給する。クロック信号CLKはm個の画像読取チップ415の動作クロック信号であり、m個の画像読取チップ415の各々はクロック信号CLKに基づいて動作する。また、解像度設定信号RESは、スキャナー1による画像の読み取りの解像度を設定するための信号である。解像度設定信号RESがアクティブ(本実施形態ではハイレベル)の期間におけるクロック信号CLKの立ち上がりエッジの数によって、解像度が設定される。
図6に示されるように、本実施形態では、解像度設定信号RESがアクティブ(ハイレベル)の期間におけるクロック信号CLKの立ち上がりエッジの数が2,4,8の場合に、それぞれ、300dpi,600dpi,1200dpiの各解像度が設定されるものとする。
各画像読取チップ415−j(j=1〜m)は、各受光素子が被読取媒体に形成されている画像からの光を受けた後、チップイネーブル信号ENj(本実施形態ではハイパルス信号)を受けると、クロック信号CLKに同期して、各受光素子が受けた光に基づき、解像度設定信号RESによって設定された解像度の画像情報を有する画像信号SOを生成し
、出力する。
本実施形態では、制御部200は、赤色LED412R、緑色LED412G又は青色LED412Bを発光させた後、一定時間(画像読取チップ415−1が画像信号SOの出力を終了するまでの時間)アクティブ(ハイレベル)となるチップイネーブル信号EN1を生成し、イメージセンサーモジュール41aの画像読取チップ415−1(「第1の画像読取チップ」の一例)及びイメージセンサーモジュール41bの画像読取チップ415−1(「第2の画像読取チップ」の一例)に供給する。また、イメージセンサーモジュール41a,41bの各々において、画像読取チップ415−j(j=1〜m)は、画像信号SOの出力を終了する少し前にチップイネーブル信号ENj+1(ハイパルス信号)を生成する。そして、チップイネーブル信号EN2〜ENmは、それぞれ、画像読取チップ415−2〜415−mに供給される。
これにより、イメージセンサーモジュール41a,41bの各々において、赤色LED412R、緑色LED412G又は青色LED412Bが発光した後、m個の画像読取チップ415が順番に画像信号SOを出力することになる。そして、イメージセンサーモジュール41aは、m個の画像読取チップ415が順番に出力する画像信号SOを画像信号SO1として不図示の端子から出力し、イメージセンサーモジュール41bは、m個の画像読取チップ415が順番に出力する画像信号SOを画像信号SO2として不図示の端子から出力する。
画像信号SO1は、イメージセンサーモジュール41a(m個の画像読取チップ415)と、アナログフロントエンド(AFE)202a,202b及び制御部200が実装されているメイン基板60とを電気的に接続する不図示の配線(「第1の配線」の一例)を伝達してメイン基板60に転送される。また、画像信号SO2は、イメージセンサーモジュール41b(m個の画像読取チップ415)と、メイン基板60とを電気的に接続する不図示の配線(「第2の配線」の一例)を伝達してメイン基板60に転送される。
ここで、イメージセンサーモジュール41a,41bの各々において、m個の画像読取チップ415は、入力端子IP4(図7参照)に出力制御信号OEAが供給され、入力端子IP5(図7参照)に出力制御信号OEBが供給され、出力制御信号OEA,OEBに基づいて選択される複数の駆動能力のいずれかで画像信号SOを出力可能である。特に、本実施形態では、イメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415において、入力端子IP4(図7参照)はボンディングワイヤー等を介して一定の電圧VA1を出力する電圧源(不図示)に電気的に接続され、入力端子IP5(図7参照)はボンディングワイヤー等を介して一定の電圧VB1を出力する電圧源(不図示)に電気的に接続される。従って、イメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415には、出力制御信号OEAとして一定電圧VA1の出力制御信号OEA1が供給されるとともに、出力制御信号OEBとして一定電圧VB1の出力制御信号OEB1が供給される。また、イメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415において、入力端子IP4(図7参照)はボンディングワイヤー等を介して一定の電圧VA2を出力する電圧源(不図示)に電気的に接続され、入力端子IP5(図7参照)はボンディングワイヤー等を介して一定の電圧VB2を出力する電圧源(不図示)に電気的に接続される。従って、イメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415には、出力制御信号OEAとして一定電圧VA2の出力制御信号OEA2が供給されるとともに、出力制御信号OEBとして一定電圧VB2の出力制御信号OEB2が供給される。これらの電圧源は、スキャナー1の内部に設けられていてもよいし、その外部に設けられていてもよい。本実施形態では、イメージセンサーモジュール41a,41bにおいて、m個の画像読取チップ415はすべて同じ種類のチップ(同じ構成のICチップ)であり、画像読取チップ415の詳細な回路構成及び動作については後述する。
アナログフロントエンド(AFE)202aは、イメージセンサーモジュール41aが出力する画像信号SO1(m個の画像読取チップ415が順番に出力する画像信号SO)を受け取り、画像信号SO1(各画像信号SO)に対して、増幅処理やA/D変換処理を行って、各受光素子の受光量に応じたデジタル値を含むデジタル信号に変換し、各デジタル信号を順番に制御部200に送信する。
同様に、アナログフロントエンド(AFE)202bは、イメージセンサーモジュール41bが出力する画像信号SO2(m個の画像読取チップ415が順番に出力する画像信号SO)を受け取り、画像信号SO2(各画像信号SO)に対して、増幅処理やA/D変換処理を行って、各受光素子の受光量に応じたデジタル値を含むデジタル信号に変換し、各デジタル信号を順番に制御部200に送信する。
制御部200は、アナログフロントエンド(AFE)202aから順番に送信される各デジタル信号を受け取って、イメージセンサーモジュール41aが読み取った画像情報を生成する。また、アナログフロントエンド(AFE)202bから順番に送信される各デジタル信号を受け取って、イメージセンサーモジュール41bが読み取った画像情報を生成する。
1−3.画像読取チップの構成及び動作
図7は、画像読取チップ415の機能ブロック図である。図7に示される画像読取チップ415は、制御回路100、昇圧回路111、画素駆動回路112、n個の画素部110、CDS(Correlated Double Sampling)回路120、サンプルホールド回路130、出力回路140及び出力選択部150を備えている。画像読取チップ415は、2つの電源端子VDP,VSPからそれぞれ電源電圧VDD(例えば3.3V)及び電源電圧VSS(例えば0V)が供給され、3つの入力端子IP1,IP2,IP3からそれぞれ入力されるチップイネーブル信号EN_I(図5のチップイネーブル信号EN1〜ENmのいずれか)、解像度設定信号RES及びクロック信号CLKと、2つの入力端子IP4,IP5からそれぞれ入力される出力制御信号OEA,OEBと、基準電圧供給端子VRPから供給される基準電圧VREFとに基づいて動作する。
チップイネーブル信号EN_I、解像度設定信号RES及びクロック信号CLKは、制御回路100に入力される。制御回路100は、チップイネーブル信号EN_I、解像度設定信号RES及びクロック信号CLKに基づいて、昇圧回路111、画素駆動回路112、n個の画素部110、CDS回路120及びサンプルホールド回路130の動作を制御する。具体的には、制御回路100は、昇圧回路111を制御する制御信号CPC、画素駆動回路112を制御する制御信号DRC、CDS回路120を制御する制御信号CDSC、サンプルホールド回路130を制御するサンプリング信号SMP、画素部110を制御する画素選択信号SEL0、リセット信号RST及び第2転送制御信号Tx2(Tx2a,Tx2b,Tx2c,Tx2d)及びチップイネーブル信号EN_Oを生成する。制御回路100の具体的な回路構成及び動作については後述する。
昇圧回路111は、制御回路100からの制御信号CPCに基づいて、電源電圧VDDを昇圧し、昇圧された電源電圧をハイレベルとする第1転送制御信号Tx1を生成する。第1転送制御信号Tx1は、露光時間Δtの間に受光素子による光電変換に基づいて生成された電荷(受光素子に蓄積された電荷)を転送するための制御信号であり、n個の画素部110に共通に供給される。
画素駆動回路112は、制御回路100からの制御信号DRCに基づいて、n個の画素部110を駆動する駆動信号Drvを生成する。n個の画素部110は1次元方向に並ん
で設けられており、駆動信号Drvは、駆動信号線311によってn個の画素部110に転送される。そして、i番目(iは1〜nのいずれか)の画素部110は、駆動信号Drvがアクティブ(ハイレベル)、かつ、画素選択信号SELi−1がアクティブ(ハイレベル)のときに、画素選択信号SELiをアクティブ(ハイレベル)にして出力信号(画素信号)を出力する。画素選択信号SELiはi+1番目の画素部110に出力される。
n個の画素部110(「第1の画素部」又は「第2の画素部」の一例)は、被読取媒体の第1の面又は第2の面に形成されている画像からの光を受けて光電変換する受光素子(「第1の受光素子」又は「第2の受光素子」の一例)を含み、それぞれ、第1転送制御信号Tx1、第2転送制御信号Tx2、画素選択信号SEL(SEL0〜SELn−1のいずれか)、リセット信号RST及び駆動信号Drvに基づき、受光素子が露光時間Δtの間に受けた光に応じた電圧の画素信号(「第1の画素信号」又は「第2の画素信号」の一例)を出力する。n個の画素部110から出力される出力信号(画素信号)は、出力信号線301によって順番にCDS回路120に転送される。
n個の画素部110はすべて同じ構成であり、図8は、画素部110(i番目の画素部110)の構成を示す図である。図8に示されるように、画素部110は、4個の受光素子PD1,PD2,PD3,PD4を備えている。すなわち、画素部110は、4画素を含んでいる。
受光素子PD1,PD2,PD3,PD4は、光(本実施形態では、被読取媒体の第1の面又は第2の面に形成されている画像からの光)を受けて電気信号に変換(光電変換)する。本実施形態では、受光素子PD1,PD2,PD3,PD4は、フォトダイオードで構成されており、アノードは接地されている。受光素子PD1のカソードはNMOSトランジスターM11のソースと接続され、受光素子PD2のカソードはNMOSトランジスターM12のソースと接続され、受光素子PD3のカソードはNMOSトランジスターM13のソースと接続され、受光素子PD4のカソードはNMOSトランジスターM14のソースと接続されている。
NMOSトランジスターM11のドレインはNMOSトランジスターM21のソースと接続され、NMOSトランジスターM12のドレインはNMOSトランジスターM22のソースと接続され、NMOSトランジスターM13のドレインはNMOSトランジスターM23のソースと接続され、NMOSトランジスターM14のドレインはNMOSトランジスターM24のソースと接続されている。4つのNMOSトランジスターM11,M12,M13,M14の各ゲートには、第1転送制御信号Tx1が供給される。従って、NMOSトランジスターM11,M12,M13,M14は、第1転送制御信号Tx1に基づいて導通するか否かを切り替えるスイッチとして機能する。
4つのNMOSトランジスターM21,M22,M23,M24の各ドレインは、NMOSトランジスターM3のソース、NMOSトランジスターM4のゲート及び容量C0の一端と共通に接続されている。容量C0の他端は接地されている。NMOSトランジスターM21のゲートには信号Tx2aが供給され、NMOSトランジスターM22のゲートには信号Tx2bが供給され、NMOSトランジスターM23のゲートには信号Tx2cが供給され、NMOSトランジスターM24のゲートには信号Tx2dが供給される。
NMOSトランジスターM3のドレインには、例えば電源電圧VDDが供給され、NMOSトランジスターM3のゲートにはリセット信号RSTが供給される。
NMOSトランジスターM4のドレインには、例えば電源電圧VDDが供給され、NMOSトランジスターM4のソースは、NMOSトランジスターM5のドレインと接続され
ている。
NMOSトランジスターM5のソースは、出力信号線301に接続され、NMOSトランジスターM5のゲートには、フリップフロップ(F/F)の出力信号(画素選択信号SELi)が供給される。
フリップフロップ(F/F)は、画素選択信号SELi−1と駆動信号Drvが入力され、駆動信号Drvの立ち上がりエッジで画素選択信号SELi−1を取り込んで遅延させた画素選択信号SELi出力する。なお、画素選択信号SELiは、不図示の遅延回路を介してフリップフロップ(F/F)の非同期リセット信号となる。そのため、画素選択信号SELiは、アクティブ(ハイレベル)になった後、所望の時間が経過後に非アクティブ(ローレベル)に戻る。
このように構成されたi番目の画素部110は、以下のように動作する。まず、露光時間Δtにおいて、第1転送制御信号Tx1、第2転送制御信号Tx2(TX2a,TX2b,TX2c,TX2d)、画素選択信号SELi−1、駆動信号Drvはすべて非アクティブ(ローレベル)であり、受光素子PD1,PD2,PD3,PD4は、受けた光に応じた電荷(負の電荷)を蓄積する。
次に、第1転送制御信号Tx1のみがアクティブ(ハイレベル)となり、4つのNMOSトランジスターM11,M12,M13,M14がすべてオンする。これにより、受光素子PD1による光電変換に基づいて生成された電荷(受光素子PD1に蓄積された電荷(負の電荷))は、NMOSトランジスターM11を介して、NMOSトランジスターM11のドレインとNMOSトランジスターM21のソースとの接続ノードに形成された中間蓄積容量C1(不図示)に転送されて蓄積される。また、受光素子PD2による光電変換に基づいて生成された電荷(受光素子PD2に蓄積された電荷(負の電荷))は、NMOSトランジスターM12を介して、NMOSトランジスターM12のドレインとNMOSトランジスターM22のソースとの接続ノードに形成された中間蓄積容量C2(不図示)に転送されて蓄積される。また、受光素子PD3による光電変換に基づいて生成された電荷(受光素子PD3に蓄積された電荷(負の電荷))は、NMOSトランジスターM13を介して、NMOSトランジスターM13のドレインとNMOSトランジスターM23のソースとの接続ノードに形成された中間蓄積容量C3(不図示)に転送されて蓄積される。また、受光素子PD4による光電変換に基づいて生成された電荷(受光素子PD4に蓄積された電荷(負の電荷))は、NMOSトランジスターM14を介して、NMOSトランジスターM14のドレインとNMOSトランジスターM24のソースとの接続ノードに形成された中間蓄積容量C4(不図示)に転送されて蓄積される。
次に、第1転送制御信号Tx1が非アクティブ(ローレベル)になり、画素部110に供給される駆動信号Drvは、クロック信号CLKの半周期毎に、アクティブ(ハイレベル)と非アクティブ(ローレベル)を繰り返す。
また、クロック信号CLKの1周期毎に、リセット信号RSTが一定時間アクティブ(ハイレベル)になる。これにより、NMOSトランジスターM3がオンして容量C0が初期化され、容量C0には一定量の電荷(正の電荷)が蓄積される。また、クロック信号CLKの1周期毎に、リセット信号RSTが非アクティブ(ローレベル)に戻った後、第2転送制御信号Tx2を構成する4つの信号Tx2a,Tx2b,Tx2c,Tx2dの少なくとも1つが一定時間アクティブ(ハイレベル)となる。
具体的には、解像度が1200dpiに設定されているときは、まず、クロック信号CLKの1周期において、信号Tx2aのみが一定時間アクティブ(ハイレベル)となる。
次に、クロック信号CLKの1周期において、信号Tx2bのみが一定時間アクティブ(ハイレベル)となる。次に、クロック信号CLKの1周期において、信号Tx2cのみが一定時間アクティブ(ハイレベル)となる。次に、クロック信号CLKの1周期において、信号Tx2dのみが一定時間アクティブ(ハイレベル)となる。4つの信号Tx2a,Tx2b,Tx2c,Tx2dはこれを繰り返す。
また、解像度が600dpiに設定されているときは、まず、クロック信号CLKの1周期において、2つの信号Tx2a,Tx2bのみが同時に一定時間アクティブ(ハイレベル)となる。次に、クロック信号CLKの1周期において、2つの信号Tx2c,Tx2dのみが同時に一定時間アクティブ(ハイレベル)となり、これを繰り返す。
また、解像度が300dpiに設定されているときは、クロック信号CLKの1周期において、4つの信号Tx2a,Tx2b,Tx2c,Tx2dは同時に一定時間アクティブ(ハイレベル)となり、これを繰り返す。
そして、4つの信号Tx2a,Tx2b,Tx2c,Tx2dの少なくとも1つが一定時間アクティブ(ハイレベル)となると、4つのNMOSトランジスターM21,M22,M23,M24の少なくとも1つがオンし、容量C0に蓄積された一定量の電荷(正の電荷)が、中間蓄積容量C1,C2,C3,C4の少なくとも1つに蓄積された電荷(負の電荷)の分だけ減少する。
また、画素信号の読み出し対象の画素部110では、画素選択信号SELi−1が一定時間アクティブ(ハイレベル)となり、リセット信号RSTが非アクティブ(ローレベル)に戻った後、画素選択信号SELiが一定時間アクティブ(ハイレベル)となる。
これにより、NMOSトランジスターM5がONし、容量C0に蓄積された電荷に応じて、NMOSトランジスターM4を流れる電流が変化する。これにより、NMOSトランジスターM4のソース電位が変化し、画素部110から、NMOSトランジスターM4のソース電位に応じた電圧の画素信号が出力信号線301に出力される。
一方、画素信号の読み出し対象でない画素部110では、画素選択信号SELi−1は非アクティブ(ローレベル)を維持するため、画素選択信号SELiもローレベルである。従って、NMOSトランジスターM5はオフしており、画素部110から画素信号は出力されない。
なお、4つのNMOSトランジスターM11,M12,M13,M14のゲート信号には、電荷転送を短時間で効率よく行うため、昇圧回路111の出力が用いられている。
図7に戻り、CDS回路120は、出力信号線301を介して、n個の画素部110からそれぞれ出力される画素信号を順番に含む画像信号Voが入力され、制御回路100からの制御信号CDSCに基づいて動作する。CDS回路120は、n個の画素部110が有する増幅トランジスターの特性ばらつきにより発生し、画像信号Voに重畳されている雑音を、基準電圧VREFを基準とする相関二重サンプリングによって除去する。すなわち、CDS回路120は、n個の画素部110から出力された出力信号(画素信号)に含まれるノイズを低減するノイズ低減回路である。
サンプルホールド回路130は、CDS回路120によって雑音が除去された画像信号をサンプリング信号SMPに基づいてサンプリングし、サンプリングした信号をホールドして出力回路140に出力する。
出力回路140は、サンプルホールド回路130が出力する信号を増幅して画像信号SOを生成する。前述の通り、画像信号SOは出力端子OP1を介して画像読取チップ415から出力され、画像信号SO1又は画像信号SO2としてアナログフロントエンド(AFE)202a又はアナログフロントエンド(AFE)202bに供給される(図5参照)。
特に、本実施形態では、出力回路140(「第1の出力回路」又は「第2の出力回路」の一例)は、画素信号に基づく信号である画像信号SOを、第1の駆動能力を含む複数の駆動能力(あるいは、第1の駆動能力とは異なる第2の駆動能力を含む複数の駆動能力)のいずれかで出力可能である。具体的には、出力回路140は、駆動能力選択信号OE1,OE2が供給され、駆動能力選択信号OE1,OE2に基づいて選択される複数の駆動能力のいずれかで画像信号SOを出力する。
出力選択部150(「第1の出力選択部」又は「第2の出力選択部」の一例)は、入力端子IP4,IP5(「第1の端子」又は「第2の端子」の一例)からそれぞれ入力される出力制御信号OEA,OEBに基づいて、出力回路140の駆動能力を複数の駆動能力から選択する。具体的には、出力選択部150は、入力端子IP4,IP5からそれぞれ入力される出力制御信号OEA,OEBをデコードして駆動能力選択信号OE1,OE2を生成し、出力回路140に供給する。
制御回路100は、出力回路140からの画像信号SOの出力が終了する少し前に、ハイパルス信号であるチップイネーブル信号EN_O(図5のチップイネーブル信号EN2〜ENm+1のいずれか)を生成し、出力端子OP2から次段の画像読取チップ415に出力する。その後、制御回路100は、出力回路140に画像信号SOの出力を停止させて出力端子OP1をハイインピーダンスにする。
図9は、画像読取チップ415の各信号のタイミングチャート図である。なお、図9は、スキャナー1による画像の読み取りの解像度が300dpiに設定された場合のタイミングチャート図である。
図9に示されるように、まず、クロック信号CLKの2周期の間、解像度設定信号RESがハイレベルとなる。そして、露光時間Δtが経過すると、以降、各画素部110には300dpiでの各種の信号が供給される。
まず、クロック信号CLKの数周期の間、第1転送制御信号Tx1がアクティブ(ハイレベル)になる。
次に、チップイネーブル信号EN_I(ハイパルス)が入力されると、クロック信号CLKの1周期の間、画素選択信号SEL0がアクティブ(ハイレベル)になる。
次に、クロック信号CLKの半周期の間、駆動信号Drvがアクティブ(ハイレベル)となり、第1転送制御信号Tx1及び画素選択信号SEL0がともに非アクティブ(ローレベル)になる。また、少し遅れてリセット信号RSTが短い時間アクティブ(ハイレベル)となる。
次に、リセット信号RSTが非アクティブ(ローレベル)に戻った後、第2転送制御信号Tx2を構成する4つの信号Tx2a,Tx2b,Tx2c,Tx2dのすべてが、クロック信号CLKが次に立ち下がるまでアクティブ(ハイレベル)となる。また、画素選択信号SEL1がアクティブ(ハイレベル)となり、これにより、1番目の画素部110からの画素信号が出力信号線301に出力され、画像信号Voがこの画素信号に応じた電
圧になる。この画像信号Voは、CDS回路120によって雑音が除去され、サンプリング信号SMPの立ち下がりに同期して画像信号SOが1番目の画素信号に対応する電圧となる。
次に、クロック信号CLKの半周期の間、駆動信号Drvがアクティブ(ハイレベル)となり、画素選択信号SEL1が非アクティブ(ローレベル)になる。また、少し遅れてリセット信号RSTが短い時間アクティブ(ハイレベル)となる。
次に、リセット信号RSTが非アクティブ(ローレベル)に戻った後、4つの信号Tx2a,Tx2b,Tx2c,Tx2dのすべてが、クロック信号CLKが次に立ち下がるまでアクティブ(ハイレベル)となる。また、画素選択信号SEL2がアクティブ(ハイレベル)となり、これにより、2番目の画素部110からの画素信号が出力信号線301に出力され、画像信号Voがこの画素信号に応じた電圧になる。この画像信号Voは、CDS回路120によって雑音が除去され、サンプリング信号SMPの立ち下がりに同期して画像信号SOが2番目の画素信号に対応する電圧となる。
次に、クロック信号CLKの半周期の間、駆動信号Drvがアクティブ(ハイレベル)となり、画素選択信号SEL2が非アクティブ(ローレベル)になる。また、少し遅れてリセット信号RSTが短い時間アクティブ(ハイレベル)となる。
以降は、同様に、画像信号SOは、サンプリング信号SMPの立ち下がりに同期して、3番目〜n番目までの画素信号に応じた電圧となる。
また、画像信号SOの出力(n番目の画素信号に応じた電圧の出力)が終了する少し前に、チップイネーブル信号EN_O(ハイパルス)が出力され、画像信号SOの出力が終了すると、出力端子OP1がハイインピーダンスになる。
1−4.出力回路の構成
図10は、本実施形態における出力回路140の構成の一例を示す図である。図10に示される出力回路140は、抵抗141、3つのNMOSトランジスター142,143,144及び2つのスイッチ145,146を備えている。
抵抗141は、一端に、例えば電源電圧VDDが供給され、他端はNMOSトランジスター142のドレイン端子と接続されている。この抵抗141の他端における信号は、出力回路140からの出力信号OUTであり、出力信号OUTが画像信号SO(図7参照)となる。
NMOSトランジスター142は、ドレイン端子が抵抗141の他端と接続され、ソース端子が接地されている。また、NMOSトランジスター142のゲート端子には、出力回路140への入力信号INが供給される。この入力信号INは、サンプルホールド回路130(図7参照)の出力信号である。
スイッチ145は、第1端子がNMOSトランジスター142のゲート端子と接続されており、第2端子には例えば電源電圧VSSが供給され、第3端子がNMOSトランジスター143のゲート端子と接続されている。また、スイッチ145の制御端子には、駆動能力選択信号OE1が供給され、駆動能力選択信号OE1がアクティブ(本実施形態ではハイレベル)のときは、スイッチ145の第1端子と第3端子とが導通し、NMOSトランジスター143のゲート端子に入力信号INが供給される。また、駆動能力選択信号OE1が非アクティブ(本実施形態ではローレベル)のときは、スイッチ145の第2端子と第3端子とが導通し、NMOSトランジスター143のゲート端子に例えば電源電圧V
SSが供給される。
NMOSトランジスター143は、ドレイン端子が抵抗141の他端と接続され、ソース端子が接地され、ゲート端子がスイッチ145の第3端子と接続されている。
スイッチ146は、第1端子がNMOSトランジスター142のゲート端子と接続されており、第2端子には例えば電源電圧VSSが供給され、第3端子がNMOSトランジスター144のゲート端子と接続されている。また、スイッチ146の制御端子には、駆動能力選択信号OE2が供給され、駆動能力選択信号OE2がアクティブ(本実施形態ではハイレベル)のときは、スイッチ146の第1端子と第3端子とが導通し、NMOSトランジスター144のゲート端子に入力信号INが供給される。また、駆動能力選択信号OE2が非アクティブ(本実施形態ではローレベル)のときは、スイッチ146の第2端子と第3端子とが導通し、NMOSトランジスター144のゲート端子に例えば電源電圧VSSが供給される。
NMOSトランジスター144は、ドレイン端子が抵抗141の他端と接続され、ソース端子が接地され、ゲート端子がスイッチ146の第3端子と接続されている。
例えば、3つのNMOSトランジスター142,143,144は、閾値やゲートサイズ(W/L)が同じである(製造誤差は許容される)。
このように構成されている出力回路140は、ソース接地回路であり、入力信号INの電圧が、NMOSトランジスター142,143,144が線形領域で動作する所定の範囲に含まれるときは、入力信号INの電圧が高いほど、抵抗141に流れる電流が大きくなる(抵抗141での電圧降下が大きくなる)ため、出力信号OUTの電圧が低くなる。従って、サンプルホールド回路130の出力信号(入力信号IN)の電圧が所定の範囲でのみ変化するようにしておけば、画像信号SO(出力信号OUT)はサンプルホールド回路130の出力信号(入力信号IN)が反転増幅された信号となる。
そして、出力回路140において、駆動能力選択信号OE1と駆動能力選択信号OE2がともに非アクティブ(ローレベル)のときは、NMOSトランジスター142のドレイン−ソース間には電流Iが流れるが、NMOSトランジスター143,144のドレイン−ソース間には電流が流れない。従って、抵抗141には電流Iが流れ、このときの駆動能力(駆動電流)をαとする。
また、駆動能力選択信号OE1がアクティブ(ハイレベル)かつ駆動能力選択信号OE2が非アクティブ(ローレベル)のときは、NMOSトランジスター142,143のドレイン−ソース間にはそれぞれ電流Iが流れるが、NMOSトランジスター144のドレイン−ソース間には電流が流れない。従って、抵抗141には電流Iの2倍の電流が流れ、このときの駆動能力(駆動電流)αはαの2倍である。
また、駆動能力選択信号OE1と駆動能力選択信号OE2がともにアクティブ(ハイレベル)のときは、NMOSトランジスター142,143,144のドレイン−ソース間にそれぞれ電流Iが流れる。従って、抵抗141には電流Iの3倍の電流が流れ、このときの駆動能力(駆動電流)αはαの3倍である。
なお、図10に示される出力回路140では、駆動能力がα,α,αのときの増幅率をそれぞれβ,β,βとすると、βはβの2倍であり、βはβの3倍であるが、出力回路140は、増幅率が一定のまま複数の駆動能力を選択可能な構成の回路であってもよい。
図11は、本実施形態における出力回路140の他の構成の一例を示す図である。図11に示される出力回路140は、5つのCMOSインバーター素子161,162,163,164,165、2つのPMOSトランジスター166,167及び2つのNMOSトランジスター168,169を備えている。
CMOSインバーター素子161は、高電源端子には例えば電源電圧VDDが供給され、低電源端子には例えば電源電圧VSSが供給される。また、CMOSインバーター素子161の入力端子には出力回路140への入力信号INが共通に供給される。この入力信号INは、サンプルホールド回路130(図7参照)の出力信号である。また、CMOSインバーター素子161の出力端子から出力される信号は、出力回路140からの出力信号OUTであり、出力信号OUTが画像信号SO(図7参照)となる。
CMOSインバーター素子164は、入力端子に駆動能力選択信号OE1が供給され、出力端子がPMOSトランジスター166のゲート端子と接続されている。
PMOSトランジスター166は、ゲート端子がCMOSインバーター素子164の出力端子と接続され、ソース端子に例えば電源電圧VDDが供給され、ドレイン端子がCMOSインバーター素子162の高電源端子と接続されている。従って、駆動能力選択信号OE1がアクティブ(ハイレベル)のときに、PMOSトランジスター166のソース−ドレイン間が導通し、CMOSインバーター素子162の高電源端子に例えば電源電圧VDDが供給される。
NMOSトランジスター168は、ゲート端子に駆動能力選択信号OE1が供給され、ソース端子に例えば電源電圧VSSが供給され、ドレイン端子がCMOSインバーター素子162の低電源端子と接続されている。従って、駆動能力選択信号OE1がアクティブ(ハイレベル)のときに、NMOSトランジスター168のソース−ドレイン間が導通し、CMOSインバーター素子162の低電源端子に例えば電源電圧VSSが供給される。
CMOSインバーター素子162は、高電源端子がPMOSトランジスター166のドレイン端子と接続され、低電源端子がNMOSトランジスター168のドレイン端子と接続されている。従って、CMOSインバーター素子162は、駆動能力選択信号OE1がアクティブ(ハイレベル)のときに、高電源端子及び低電源端子にそれぞれ例えば電源電圧VDD及び電源電圧VSSが供給されて動作する。また、CMOSインバーター素子162の入力端子は、CMOSインバーター素子161の入力端子と接続されており、入力信号INが供給される。また、CMOSインバーター素子162の出力端子は、CMOSインバーター素子161の出力端子と接続されている。
CMOSインバーター素子165は、入力端子に駆動能力選択信号OE2が供給され、出力端子がPMOSトランジスター167のゲート端子と接続されている。
PMOSトランジスター167は、ゲート端子がCMOSインバーター素子165の出力端子と接続され、ソース端子に例えば電源電圧VDDが供給され、ドレイン端子がCMOSインバーター素子163の高電源端子と接続されている。従って、駆動能力選択信号OE2がアクティブ(ハイレベル)のときに、PMOSトランジスター167のソース−ドレイン間が導通し、CMOSインバーター素子163の高電源端子に例えば電源電圧VDDが供給される。
NMOSトランジスター169は、ゲート端子に駆動能力選択信号OE2が供給され、ソース端子に例えば電源電圧VSSが供給され、ドレイン端子がCMOSインバーター素
子163の低電源端子と接続されている。従って、駆動能力選択信号OE2がアクティブ(ハイレベル)のときに、NMOSトランジスター169のソース−ドレイン間が導通し、CMOSインバーター素子163の低電源端子に例えば電源電圧VSSが供給される。
CMOSインバーター素子163は、高電源端子がPMOSトランジスター167のドレイン端子と接続され、低電源端子がNMOSトランジスター169のドレイン端子と接続されている。従って、CMOSインバーター素子163は、駆動能力選択信号OE2がアクティブ(ハイレベル)のときに、高電源端子及び低電源端子にそれぞれ例えば電源電圧VDD及び電源電圧VSSが供給されて動作する。また、CMOSインバーター素子163の入力端子は、CMOSインバーター素子161の入力端子と接続されており、入力信号INが供給される。また、CMOSインバーター素子163出力端子は、CMOSインバーター素子161の出力端子と接続されている。
例えば、3つのCMOSインバーター素子161,162,163は、閾値やゲートサイズ(W/L)が同じである(製造誤差は許容される)。
このように構成されている出力回路140は、入力信号INの電圧が、CMOSインバーター素子161,162,163が線形領域で動作する所定の範囲に含まれるときは、入力信号INの電圧が高いほど出力信号OUTの電圧が低くなる。従って、サンプルホールド回路130の出力信号(入力信号IN)の電圧が所定の範囲でのみ変化するようにしておけば、画像信号SO(出力信号OUT)はサンプルホールド回路130の出力信号(入力信号IN)が反転増幅された信号となる。
そして、出力回路140において、駆動能力選択信号OE1と駆動能力選択信号OE2がともに非アクティブ(ローレベル)のときは、CMOSインバーター素子161は動作するが、CMOSインバーター素子162,163は動作しない。従って、CMOSインバーター素子161の高電源端子から出力端子へと電流Iが流れ、このときの駆動能力(駆動電流)をαとする。
また、駆動能力選択信号OE1がアクティブ(ハイレベル)かつ駆動能力選択信号OE2が非アクティブ(ローレベル)のときは、CMOSインバーター素子161,162が動作し、CMOSインバーター素子163は動作しない。従って、CMOSインバーター素子161,162の高電源端子から出力端子へとそれぞれ電流Iが流れ、このときの駆動能力(駆動電流)αはαの2倍である。
また、駆動能力選択信号OE1と駆動能力選択信号OE2がともにアクティブ(ハイレベル)のときは、CMOSインバーター素子161,162,163がともに動作する。従って、CMOSインバーター素子161,162,163の高電源端子から出力端子へとそれぞれ電流Iが流れ、このときの駆動能力(駆動電流)αはαの3倍である。
なお、図11に示される出力回路140では、駆動能力がα,α,αのときの増幅率をそれぞれβ,β,βとすると、β=β=βである。
このように、図10又は図11に示される出力回路140は、いずれも、駆動能力選択信号OE1,OE2の電圧レベルに応じて、画素信号に基づく信号である画像信号SOを、駆動能力α(「第1の駆動能力」の一例)、駆動能力αよりも大きい駆動能力α(「第2の駆動能力」の一例)及び駆動能力α,αよりも大きい駆動能力α(「第2の駆動能力」の一例)のいずれかで出力可能である。駆動能力αは、駆動能力α,α,αの中で最小であり、駆動能力αは、駆動能力α,α,αの中で最大である。
前述の通り、出力選択部150は、入力端子IP4,IP5からそれぞれ入力される出力制御信号OEA,OEBをデコードして駆動能力選択信号OE1,OE2を生成し、出力回路140に供給する。
図12に、出力選択部150によるデコード論理の真理値表の一例を示す。図12に示される例では、出力制御信号OEAと出力制御信号OEBがともにローレベルであれば、駆動能力選択信号OE1,OE2はともにローレベルとなる。従って、入力端子IP4,IP5にそれぞれ供給される一定電圧VA1(あるいはVA2),VB1(あるいはVB2)がともに電源電圧VSS(0V)であれば、図10又は図11に示される出力回路140の駆動能力はαとなる。また、出力制御信号OEAがハイレベルかつ出力制御信号OEBがローレベルであれば、駆動能力選択信号OE1はハイレベルとなり、駆動能力選択信号OE2はローレベルとなる。従って、入力端子IP4に供給される一定電圧VA1(あるいはVA2)が電源電圧VDD(例えば、3.3V)であり、かつ、入力端子IP5に供給される一定電圧VB1(あるいはVB2)が電源電圧VSS(0V)であれば、図10又は図11に示される出力回路140の駆動能力はαとなる。また、出力制御信号OEAがローレベルかつ出力制御信号OEBがハイレベルであれば、駆動能力選択信号OE1,OE2はともにハイレベルとなる。従って、入力端子IP4に供給される一定電圧VA1(あるいはVA2)が電源電圧VSS(0V)であり、かつ、入力端子IP5に供給される一定電圧VB1(あるいはVB2)が電源電圧VDD(例えば、3.3V)であれば、図10又は図11に示される出力回路140の駆動能力はαとなる。
このように、本実施形態における画像読取チップ415は、入力端子IP4,IP5にそれぞれ供給される一定電圧VA1(あるいはVA2),VB1(あるいはVB2)に応じて選択された駆動能力で画像信号SOを出力することが可能であり、汎用性の高いICチップである。
前述の通り、本実施形態のスキャナー1は、原稿が搬送されるシートフィード型の両面スキャナーであるため、イメージセンサーモジュール41a,41bは移動する必要がない。従って、例えば、図2に示されるように、イメージセンサーモジュール41aは、アナログフロントエンド(AFE)202a,202b及び制御部200が実装されているメイン基板60に比較的近い場所に固定され、イメージセンサーモジュール41bは、相対的にメイン基板60から遠い場所に固定される。
そうすると、イメージセンサーモジュール41a(m個の画像読取チップ415)とメイン基板60とを電気的に接続する配線、すなわち、イメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415からアナログフロントエンド(AFE)202aへ画像信号SO1を転送する配線(画像信号SO1の転送配線)は比較的短い。そのため、画像信号SO1の転送配線の負荷は比較的小さく、イメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415の各々の出力回路140の駆動能力はα又はαに設定可能であり、最大の駆動能力αに設定されなくてもよい。すなわち、イメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415の各々において、出力選択部150は、出力回路140の駆動能力として駆動能力α又はαを選択してもよい。特に、イメージセンサーモジュール41aとメイン基板60との距離(画像信号SO1の転送配線の長さ)が非常に短くなるような実装が行われる場合には、イメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415の各々の出力回路140の駆動能力は最小の駆動能力αに設定可能である。すなわち、イメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415の各々において、出力選択部150は、出力回路140の駆動能力として最小の駆動能力αを選択してもよい。
これに対して、イメージセンサーモジュール41b(m個の画像読取チップ415)とメイン基板60とを電気的に接続する配線、すなわち、イメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415からアナログフロントエンド(AFE)202bへ画像信号SO2を転送する配線(画像信号SO2の転送配線)は、画像信号SO1の転送配線よりも長い。例えば、画像信号SO2の転送配線はフレキシブルフラットケーブル等で実現される場合もある。そのため、画像信号SO2の転送配線の負荷は画像信号SO1の転送配線の負荷よりも大きく、イメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415の各々の出力回路140の駆動能力は、イメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415の各々の出力回路140の駆動能力α又はαよりも大きい駆動能力α又はαに設定されてもよい。すなわち、イメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415の各々において、出力選択部150は、出力回路140の駆動能力として駆動能力α又はαを選択してもよい。特に、画像信号SO2の転送配線が非常に長くなるような実装が行われる場合には、イメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415の各々の出力回路140の駆動能力は最大の駆動能力αに設定可能である。すなわち、イメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415の各々において、出力選択部150は、出力回路140の駆動能力として最大の駆動能力αを選択してもよい。
1−5.作用効果
以上に説明したように、第1実施形態のスキャナー1では、原稿の第1の面に形成された画像を読み取るイメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415において、入力端子IP4,IP5にそれぞれ入力される出力制御信号OEA,OEB(出力制御信号OEA1,OEB1)の電圧VA1,VB1に基づいて、出力回路140の駆動能力を、画像信号SO(画像信号SO1)の転送配線の負荷の大きさに合わせて過剰にならないように適切に設定可能である。また、原稿の第2の面に形成された画像を読み取るイメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415において、入力端子IP4,IP5にそれぞれ入力される出力制御信号OEA,OEB(出力制御信号OEA2,OEB2)の電圧VA2,VB2に基づいて、出力回路140の駆動能力を、画像信号SO(画像信号SO2)の転送配線の負荷の大きさに合わせて過剰にならないように適切に設定可能である。従って、第1実施形態のスキャナー1によれば、過剰な電力消費や信号転送に伴う過剰なノイズの発生を抑制しながら、原稿の両面に形成された画像を読み取ることができる。
特に、本実施形態のスキャナー1は、イメージセンサーモジュール41a,41bが移動しないシートフィード型の両面スキャナーであるため、例えば、イメージセンサーモジュール41aはメイン基板60に比較的近い場所に固定され得る。従って、画像信号SO1の転送配線が短く、配線負荷が比較的小さい。そのため、イメージセンサーモジュール41aにおいて、画像読取チップ415の出力回路140の駆動能力は比較的小さいα又はαに設定され、その結果、電力消費や画像信号SOの転送に伴うノイズを低減させることができる。この場合、イメージセンサーモジュール41bはメイン基板60から相対的に遠い場所に固定され、配線負荷が相対的に大きくなるが、イメージセンサーモジュール41bの画像読取チップ415の出力回路140の駆動能力は相対的に大きいα又はαに設定され、その結果、過剰な電力消費や信号転送に伴う過剰なノイズの発生を抑制しながら、画像信号SOの転送を確実に行うことができる。
また、第1実施形態のスキャナー1は、複数の駆動能力から選択された駆動能力で画像信号SOを出力することが可能な汎用性の高い画像読取チップ415を用いるので、スキャナー1に特化した画像読取チップの設計が不要であり、低コスト化が可能である。
また、本実施形態のスキャナー1によれば、その組み立て時に、画像読取チップ415
の入力端子IP4,IP5をそれぞれ一定電圧VA1,VB1を出力する電圧源あるいは一定電圧VA2,VB2を出力する電圧源と接続すればよいので、画像読取チップ415の出力回路140の駆動能力を容易に設定することができる。
なお、本実施形態では、画像読取チップ415において、出力回路140の駆動能力はα,α,αの3種類から選択可能であるが、2種類から選択可能でもよいし、4種類以上から選択可能でもよい。
また、第1実施形態のスキャナー1は、イメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415及びイメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415のいずれか一方にのみ一定電圧の出力制御信号OEA,OEBが供給される構成であってもよい。
2.第2実施形態
以下、第2実施形態のスキャナー1について、第1実施形態と同様の構成要素には同じ符号を付し、第1実施形態と重複する説明を省略し、主に第1実施形態と異なる内容について説明する。
第2実施形態のスキャナー1の構造は第1実施形態(図1〜図4)と同様であるため、その図示及び説明を省略する。また、第2実施形態における画像読取チップ415の機能ブロック図は第1実施形態(図7)と同様であるため、その図示及び説明を省略する。
図13は、第2実施形態のスキャナー1の機能構成例を示す機能ブロック図である。図13に示されるように、第2実施形態のスキャナー1では、イメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415の入力端子IP4,IP5に入力される出力制御信号OEA,OEB(OEA1,OEB1)及びイメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415の入力端子IP4,IP5に入力される出力制御信号OEA,OEB(OEA2,OEB2)は、制御部200から転送される。例えば、制御部200は、イメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415の入力端子IP4に、出力制御信号OEAとして一定電圧VA1の出力制御信号OEA1を供給し、入力端子IP5に出力制御信号OEBとして一定電圧VB1の出力制御信号OEB1を供給する。また、制御部200は、イメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415の入力端子IP4に、出力制御信号OEAとして一定電圧VA2の出力制御信号OEA2を供給し、入力端子IP5に出力制御信号OEBとして一定電圧VB2の出力制御信号OEB2を供給する。
第1実施形態と同様、画像読取チップ415において、出力選択部150は、入力端子IP4,IP5からそれぞれ入力される出力制御信号OEA,OEBを、例えば図12に示されたデコード論理に従ってデコードして駆動能力選択信号OE1,OE2を生成し、出力回路140に供給する。そして、第1実施形態と同様、出力回路140は、例えば、図10又は図11に示される構成の回路であり、駆動能力選択信号OE1,OE2の電圧レベルに応じて、画像信号SOを、駆動能力α,α,αのいずれかで出力する。
以上に説明した第2実施形態のスキャナー1によれば、第1実施形態と同様の効果を奏する。さらに、第2実施形態のスキャナー1では、制御部200から転送される出力制御信号OEA1,OEB1に基づいてイメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415の出力回路140の駆動能力が選択され、制御部200から転送される出力制御信号OEA2,OEB2に基づいてイメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415の出力回路140の駆動能力が選択される。従って、第2実施形態のスキャナー1によれば、スキャナー1の組み立て後に、画像信号SO1の転送配線の負荷の
変化や画像信号SO2の転送配線の負荷の変化に応じて出力回路140の駆動能力を変更可能であり、過剰な電力消費や信号転送に伴う過剰なノイズの発生を効果的に抑制することができる。
なお、第2実施形態のスキャナー1は、制御部200が、イメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415及びイメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415のいずれか一方にのみ出力制御信号OEA,OEBを供給する構成であってもよい。例えば、第2実施形態のスキャナー1は、制御部200が、イメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415の入力端子IP4,IP5に出力制御信号OEA2,OEB2を供給し、イメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415の入力端子IP4,IP5はそれぞれ一定の電圧を出力する電圧源(不図示)に電気的に接続される構成であってもよい。また、第2実施形態のスキャナー1は、制御部200が、イメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415の入力端子IP4,IP5に出力制御信号OEA2,OEB2を供給し、イメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415の入力端子IP4,IP5はそれぞれ一定の電圧を出力する電圧源(不図示)に電気的に接続される構成であってもよい。
3.第3実施形態
以下、第3実施形態のスキャナー1について、第1実施形態又は第2実施形態と同様の構成要素には同じ符号を付し、第1実施形態又は第2実施形態と重複する説明を省略し、主に第1実施形態又は第2実施形態と異なる内容について説明する。
第3実施形態のスキャナー1の構造は第1実施形態(図1〜図4)と同様であるため、その図示及び説明を省略する。
図14は、第3実施形態のスキャナー1の機能構成例を示す機能ブロック図である。また、図15は、画像読取チップ415の機能ブロック図である。図14に示されるように、第3実施形態のスキャナー1では、制御部200は、イメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415(415−1〜415−m)に対して、シリアル信号である出力制御信号OCとして出力制御信号OC1を共通に供給する。また、制御部200は、イメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415(415−1〜415−m)に対して、シリアル信号である出力制御信号OCとして出力制御信号OC2を共通に供給する。出力制御信号OCは、画像読取チップ415において、画像信号SOを出力する出力回路140の駆動能力を設定するための信号である。
ここで、イメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415及びイメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415は、入力端子IP4にシリアル信号である出力制御信号OCが供給され、出力制御信号OCに基づいて選択される複数の駆動能力のいずれかで画像信号SOを出力可能である。本実施形態では、イメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415において、入力端子IP4に入力される出力制御信号OC(出力制御信号OC1)は、制御部200から転送される。同様に、イメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415において、入力端子IP4に入力される出力制御信号OC(出力制御信号OC2)は、制御部200から転送される。
また、本実施形態では、画像読取チップ415において、出力選択部150は、入力端子IP4から入力される出力制御信号OCに基づいて、出力回路140の駆動能力を複数の駆動能力から選択する。具体的には、出力選択部150は、入力端子IP4からそれぞれ入力される出力制御信号OCをクロック信号CLKに基づいてサンプリングし、あらかじめ決められた複数のパターンのいずれかを検出した場合に、検出したパターンに対応づ
けられた駆動能力選択信号OE1,OE2を生成し、出力回路140に供給する。
図16に、出力制御信号OCのパターンと駆動能力選択信号OE1,OE2との対応関係の一例を示す。図16に示される例では、出力制御信号OCがハイレベルの期間におけるクロック信号CLKの立ち上がりエッジの数が2の場合は、駆動能力選択信号OE1,OE2はともにローレベルとなる。従って、この場合、図10又は図11に示される出力回路140の駆動能力はαとなる。また、出力制御信号OCがハイレベルの期間におけるクロック信号CLKの立ち上がりエッジの数が3の場合は、駆動能力選択信号OE1はハイレベルとなり、駆動能力選択信号OE2はローレベルとなる。従って、この場合、図10又は図11に示される出力回路140の駆動能力はαとなる。また、出力制御信号OCがハイレベルの期間におけるクロック信号CLKの立ち上がりエッジの数が4の場合は、駆動能力選択信号OE1,OE2はともにハイレベルとなる。従って、この場合、図10又は図11に示される出力回路140の駆動能力はαとなる。
以上に説明したように、第3実施形態のスキャナー1によれば、第1実施形態と同様の効果を奏する。さらに、第3実施形態のスキャナー1によれば、画像読取チップ415は、シリアル信号である出力制御信号OCに基づいて出力回路140の駆動能力を選択するので、出力回路140の駆動能力を設定するための信号が供給される端子として1つの端子(入力端子IP4)が設けられていればよく、複数の端子(第1実施形態又は第2実施形態における入力端子IP4,IP5)が設けられる必要がない。従って、画像読取チップ415の小型化や低コスト化に有利である。
なお、第3実施形態のスキャナー1は、制御部200が、イメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415及びイメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415のいずれか一方にのみ出力制御信号OCを供給する構成であってもよい。
4.第4実施形態
以下、第4実施形態のスキャナー1について、第1実施形態、第2実施形態又は第3実施形態と同様の構成要素には同じ符号を付し、第1実施形態、第2実施形態又は第3実施形態と重複する説明を省略し、主に第1実施形態、第2実施形態又は第3実施形態と異なる内容について説明する。
第4実施形態のスキャナー1の構造は第1実施形態(図1〜図4)と同様であるため、その図示及び説明を省略する。
図17は、第4実施形態のスキャナー1の機能構成例を示す機能ブロック図である。また、図18は、第4実施形態における画像読取チップ415の機能ブロック図である。図17及び図18に示されるように、第4実施形態のスキャナー1では、イメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415及びイメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415の入力端子IP2に入力される解像度設定信号RESが、出力回路140の駆動能力を設定するための信号として兼用される。すなわち、第4実施形態では、解像度設定信号RESは、出力回路140の駆動能力を設定するとともに画像読取チップ415による画像の読み取りの解像度を設定するための信号である。具体的には、第4実施形態のスキャナー1では、制御部200は、イメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415に対して、シリアル信号である解像度設定信号RESとして解像度設定信号RES1を共通に供給する。また、制御部200は、イメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415に対して、シリアル信号である解像度設定信号RESとして解像度設定信号RES2を共通に供給する。
そして、画像読取チップ415において、出力選択部150は、解像度設定信号RESに基づいて、出力回路140の駆動能力を複数の駆動能力から選択する。具体的には、出力選択部150は、解像度設定信号RESをクロック信号CLKに基づいてサンプリングし、あらかじめ決められた複数のパターンのいずれかを検出した場合に、検出したパターンに対応づけられた駆動能力選択信号OE1,OE2を生成し、出力回路140に供給する。
図19は、第4実施形態における解像度設定信号RESのパターンと解像度及び駆動能力選択信号OE1,OE2との対応関係の一例を示す図である。図19に示される例では、解像度設定信号RESがハイレベルの期間におけるクロック信号CLKの立ち上がりエッジの数が2の場合は、解像度が300dpiに設定されるとともに、駆動能力選択信号OE1,OE2はともにローレベルとなる。従って、この場合、図10又は図11に示される出力回路140の駆動能力はαとなる。また、解像度設定信号RESがハイレベルの期間におけるクロック信号CLKの立ち上がりエッジの数が3の場合は、解像度が300dpiに設定されるとともに、駆動能力選択信号OE1はハイレベルとなり、駆動能力選択信号OE2はローレベルとなる。従って、この場合、図10又は図11に示される出力回路140の駆動能力はαとなる。また、解像度設定信号RESがハイレベルの期間におけるクロック信号CLKの立ち上がりエッジの数が4の場合は、解像度が300dpiに設定されるとともに、駆動能力選択信号OE1,OE2はともにハイレベルとなる。従って、この場合、図10又は図11に示される出力回路140の駆動能力はαとなる。
また、解像度設定信号RESがハイレベルの期間におけるクロック信号CLKの立ち上がりエッジの数が5の場合は、解像度が600dpiに設定されるとともに、駆動能力選択信号OE1,OE2はともにローレベルとなる。従って、この場合、図10又は図11に示される出力回路140の駆動能力はαとなる。また、解像度設定信号RESがハイレベルの期間におけるクロック信号CLKの立ち上がりエッジの数が6の場合は、解像度が600dpiに設定されるとともに、駆動能力選択信号OE1はハイレベルとなり、駆動能力選択信号OE2はローレベルとなる。従って、この場合、図10又は図11に示される出力回路140の駆動能力はαとなる。また、解像度設定信号RESがハイレベルの期間におけるクロック信号CLKの立ち上がりエッジの数が7の場合は、解像度が600dpiに設定されるとともに、駆動能力選択信号OE1,OE2はともにハイレベルとなる。従って、この場合、図10又は図11に示される出力回路140の駆動能力はαとなる。
また、解像度設定信号RESがハイレベルの期間におけるクロック信号CLKの立ち上がりエッジの数が8の場合は、解像度が1200dpiに設定されるとともに、駆動能力選択信号OE1,OE2はともにローレベルとなる。従って、この場合、図10又は図11に示される出力回路140の駆動能力はαとなる。また、解像度設定信号RESがハイレベルの期間におけるクロック信号CLKの立ち上がりエッジの数が9の場合は、解像度が1200dpiに設定されるとともに、駆動能力選択信号OE1はハイレベルとなり、駆動能力選択信号OE2はローレベルとなる。従って、この場合、図10又は図11に示される出力回路140の駆動能力はαとなる。また、解像度設定信号RESがハイレベルの期間におけるクロック信号CLKの立ち上がりエッジの数が10の場合は、解像度が1200dpiに設定されるとともに、駆動能力選択信号OE1,OE2はともにハイレベルとなる。従って、この場合、図10又は図11に示される出力回路140の駆動能力はαとなる。
以上に説明した第4実施形態のスキャナー1によれば、第1実施形態と同様の効果を奏する。さらに、第4実施形態のスキャナー1によれば、画像読取チップ415の出力回路
140の駆動能力を設定するための信号と画像読取チップ415による画像の読み取りの解像度を設定するための信号とを兼用することができるので、画像読取チップ415に出力回路の駆動能力を設定するための信号が供給される専用の端子(第1実施形態におけるIP4端子)が不要である。従って、画像読取チップ415の小型化や低コスト化に有利である。
なお、第4実施形態のスキャナー1は、制御部200が、イメージセンサーモジュール41aのm個の画像読取チップ415及びイメージセンサーモジュール41bのm個の画像読取チップ415のいずれか一方にのみ、出力回路140の駆動能力を設定するための信号として兼用される解像度設定信号RESを転送する構成であってもよい。
以上、本実施形態について説明したが、本発明はこれら本実施形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の態様で実施することが可能である。例えば、上記の各実施形態を適宜組み合わせることも可能である。
本発明は、実施形態で説明した構成と実質的に同一の構成(例えば、機能、方法および結果が同一の構成、あるいは目的および効果が同一の構成)を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成または同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。
1…スキャナー、10…ケース、11…給紙口、12…排紙口、13…表示パネル、14…操作スイッチ、20…前蓋板、21…板状部、22…脚部、30…後蓋板、41,41a,41b…イメージセンサーモジュール、51…給紙ローラー、52…排紙ローラー、53a,53b…透過板、60…メイン基板、100…制御回路、110…画素部、111…昇圧回路、112…画素駆動回路、120…CDS回路、130…サンプルホールド回路、140…出力回路、141…抵抗、142,143,144…NMOSトランジスター、145,146…スイッチ、150…出力選択部、161,162,163,164,165…CMOSインバーター素子、166,167…PMOSトランジスター、168,169…NMOSトランジスター、200…制御部、202a,202b…アナログフロントエンド(AFE)、300…制御信号線、301…出力信号線、311…駆動信号線、411…ケース、412…光源、412R…赤色LED、412G…緑色LED、412B…青色LED、413…レンズ、414…モジュール基板、415,415−1〜415−m…画像読取チップ、IP1,IP2,IP3,IP4,IP5…入力端子、OP1,OP2…出力端子、VDP,VSP…電源端子、VRP…基準電圧供給端子、C0,C1,C2,C3,C4…容量、PD1,PD2,PD3,PD4…受光素子、M11,M12,M13,M14…NMOSトランジスター、M21,M22,M23,M24…NMOSトランジスター、M3,M4,M5…NMOSトランジスター、CLK…クロック信号、CDSC…制御信号、CPC…制御信号、DRC…制御信号、Drv…駆動信号、DrvR,DrvG,DrvB…駆動信号、EN1〜ENm+1,EN_I,EN_O…チップイネーブル信号、OC,OC1,OC2…出力制御信号、OE1,OE2…駆動能力選択信号、OEA,OEA1,OEA2,OEB,OEB1,OEB2…出力制御信号、RES,RES1,RES2…解像度設定信号、RST…リセット信号、SEL0〜SELn…画素選択信号、SMP…サンプリング信号、Tx1…第1転送制御信号、Tx2…第2転送制御信号、Tx2a,Tx2b,Tx2c,Tx2d…信号、Vo…画像信号、SO,SO1,SO2…画像信号、VA1,VA2,VB1,VB2…一定電圧、VDD,VSS…電源電圧、VREF…基準電圧

Claims (6)

  1. 媒体の第1の面に形成された画像を読み取る第1の画像読取チップと、
    前記媒体の前記第1の面とは異なる第2の面に形成された画像を読み取る第2の画像読取チップと、
    を備え、
    前記第1の画像読取チップは、
    前記第1の面に形成された前記画像からの光を受けて光電変換する第1の受光素子を含み、第1の画素信号を出力する第1の画素部と、
    前記第1の画素信号に基づく信号を、第1の駆動能力を含む複数の駆動能力のいずれかで出力可能な第1の出力回路と、
    前記第1の出力回路の駆動能力を前記複数の駆動能力から選択する第1の出力選択部と、
    を有し、
    前記第2の画像読取チップは、
    前記第2の面に形成された前記画像からの光を受けて光電変換する第2の受光素子を含み、第2の画素信号を出力する第2の画素部と、
    前記第2の画素信号に基づく信号を、前記第1の駆動能力とは異なる第2の駆動能力を含む複数の駆動能力のいずれかで出力可能な第2の出力回路と、
    前記第2の出力回路の駆動能力を前記複数の駆動能力から選択する第2の出力選択部と、
    を有し、
    前記第1の出力選択部は、前記第1の駆動能力を選択し、
    前記第2の出力選択部は、前記第2の駆動能力を選択
    前記第1の画像読取チップは、
    第1の端子を有し、
    前記第1の出力選択部は、前記第1の端子に入力される信号に基づいて、前記第1の出力回路の前記駆動能力を選択し、
    前記第2の画像読取チップは、
    第2の端子を有し、
    前記第2の出力選択部は、前記第2の端子に入力される信号に基づいて、前記第2の出力回路の前記駆動能力を選択し、
    前記第1の端子に入力される前記信号及び前記第2の端子に入力される前記信号の少なくとも一方は、前記駆動能力を設定するとともに画像の読み取りの解像度を設定するための信号である、
    ことを特徴とする画像読取装置。
  2. 制御基板と、
    前記第1の画像読取チップと前記制御基板とを電気的に接続する第1の配線と、
    前記第2の画像読取チップと前記制御基板とを電気的に接続する第2の配線と、
    を備え、
    前記第1の出力回路から出力される前記第1の画素信号に基づく信号は、前記第1の配線を伝達して前記制御基板に転送され、
    前記第2の出力回路から出力される前記第2の画素信号に基づく信号は、前記第2の配線を伝達して前記制御基板に転送され、
    前記第2の配線は、前記第1の配線よりも長く、
    前記第2の駆動能力は、前記第1の駆動能力よりも大きい、
    ことを特徴とする請求項1に記載の画像読取装置。
  3. 前記第1の画像読取チップ及び前記第2の画像読取チップの動作を制御する制御部を備え、
    前記第1の端子に入力される前記信号及び前記第2の端子に入力される前記信号の少なくとも一方は、前記制御部から転送される、
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載の画像読取装置。
  4. 前記第1の端子及び前記第2の端子の少なくとも一方は、一定の電圧を出力する電圧源に電気的に接続される、
    ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の画像読取装置。
  5. 前記第1の駆動能力は、前記第1の出力回路の前記複数の駆動能力の中で最小である、
    ことを特徴とする請求項1乃至のいずれか1項に記載の画像読取装置。
  6. 前記第1の画像読取チップと前記第2の画像読取チップとは同じ種類のチップである、
    ことを特徴とする請求項1乃至のいずれか1項に記載の画像読取装置。
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