JP6699930B2 - 切削装置 - Google Patents

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本発明は、板状の被加工物を切削する切削装置に関する。
半導体ウェーハに代表される板状の被加工物を加工する際には、例えば、環状の切削ブレード等でなる切削ユニットを含む切削装置が使用される。この切削装置は、通常、被加工物を保持するためのチャックテーブルと切削ユニットとを相対的に移動させることで、予め設定された切削条件等に応じて被加工物を切削する。
近年では、切削ユニットを構成する切削ブレードの切削能力を維持するために、切削ブレードを回転させるためのモータの電流値をモニタする方法等が提案されている(例えば、特許文献1参照)。この方法では、モータの電流値が所定の閾値を超えた場合に、プリカットを実施して切削ブレードの切削能力を回復させる。
特開2015−205372号公報
しかしながら、切削ブレードを回転させるモータの電流値は、必ずしも切削ブレードの状態のみによって変動するわけではない。例えば、モータの電流値は、被加工物の異常や不良等によっても変動するので、上述の方法では、常に最適なタイミングでプリカットを実施できなかった。
また、上述の方法で問題となる被加工物の異常や不良の種類、発生のタイミング等を適切に推定できれば、装置や工程等の改善にも役立と考えられる。本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、切削中の被加工物の状態を判定できる切削装置を提供することである。
本発明の一態様によれば、被加工物を保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物を切削ブレードで切削する切削ユニットと、該チャックテーブルと該切削ユニットとを相対的に移動させる移動機構と、該チャックテーブル、該切削ユニット、該移動機構の少なくとも一つに設けられ、切削中の振動、モータの電流又は電圧、荷重、速度、トルク、圧力のいずれかを測定する測定ユニットと、該測定ユニットから出力される信号に基づいて、被加工物の状態を判定する状態判定ユニットと、を備え、該状態判定ユニットは、該切削ユニットによる切削の前に被加工物に施された前工程と、該前工程で発生しうる被加工物の異常又は不良の種類と、該異常又は不良が発生した被加工物を該切削ブレードで切削する際に該測定ユニットで得られるデータと、を関連付けた状態で記憶する記憶部と、該測定ユニットで得られるデータと、該記憶部に記憶された情報と、に基づいて、被加工物に発生した異常又は不良の種類、又は、該異常又は不良が発生した前工程を推定する推定部と、を備える切削装置が提供される。
本発明の一態様において、該状態判定ユニットは、該測定ユニットで得られるデータと、該記憶部に記憶された情報と、に基づいて、被加工物に貼り付けられたテープと被加工物との間への異物又は空気の混入、被加工物の仕上がり厚さの不一致、被加工物の割れ又は欠け、のいずれかが発生したと推定することができる。また、該状態判定ユニットは、該測定ユニットで得られるデータと、該記憶部に記憶された情報と、に基づいて、該異常又は不良が、被加工物にテープを貼り付けるための工程、被加工物を研削又は研磨して薄くするための工程、被加工物を樹脂で被覆するための工程、のいずれかで発生したと推定することができる。また、該切削ユニットのX軸方向の位置を測定するX軸測定ユニットと、該切削ユニットのY軸方向の位置を測定するY軸測定ユニットと、を更に備え、該測定ユニットによる測定と同時に、該X軸測定ユニット及び該Y軸測定ユニットによって加工点のXY座標が測定されても良い。
本発明の一態様に係る切削装置は、切削中の振動、モータの電流又は電圧、荷重、速度、トルク、圧力のいずれかを測定する測定ユニットと、この測定ユニットから出力される信号に基づいて、被加工物の状態を判定する状態判定ユニットと、を備えるので、切削中の被加工物の状態を適切に判定できる。
切削装置の構成例を模式的に示す斜視図である。 被加工物が切削される様子を模式的に示す平面図である。 図3(A)は、測定ユニットで測定される電流の時間変化を示すグラフであり、図3(B)は、図3(A)の領域Aを拡大したグラフである。 被加工物が切削される様子を模式的に示す一部断面側面図である。
添付図面を参照して、本発明の一態様に係る実施形態について説明する。図1は、本実施形態に係る切削装置の構成例を模式的に示す斜視図である。図1に示すように、切削装置(加工装置)2は、各構成要素を収容するための筐体4を備えている。筐体4の内部には、基台6が収容されている。
基台6の上面には、X軸移動機構(移動機構)8が設けられている。X軸移動機構8は、X軸方向(加工送り方向、前後方向)に平行な一対のX軸ガイドレール10を備えており、X軸ガイドレール10には、X軸移動テーブル12がスライド可能に取り付けられている。
X軸移動テーブル12の下面(裏面)側には、ナット(不図示)が設けられており、このナットには、X軸ガイドレール10に平行なX軸ボールねじ14が螺合されている。X軸ボールねじ14の一端部には、X軸パルスモータ16が連結されている。X軸パルスモータ16でX軸ボールねじ14を回転させることで、X軸移動テーブル12は、X軸ガイドレール10に沿ってX軸方向に移動する。このX軸移動機構8には、X軸移動テーブル12のX軸方向の位置を測定するX軸測定ユニット(不図示)が設けられている。
X軸移動テーブル12の上面側(表面側)には、テーブルベース18が設けられている。テーブルベース18の上部には、被加工物11を保持するためのチャックテーブル20が配置されている。チャックテーブル20の周囲には、被加工物11を支持する環状のフレーム15を四方から固定する4個のクランプ20aが設置されている。
被加工物11は、例えば、シリコン等の半導体でなる円形のウェーハであり、その上面(表面)側は、中央のデバイス領域と、デバイス領域を囲む外周余剰領域とに分けられている。デバイス領域は、格子状に配列された分割予定ライン(ストリート)でさらに複数の領域に区画されており、各領域には、IC、LSI等のデバイスが形成されている。
被加工物11の下面(裏面)側には、被加工物11より径の大きいテープ13が貼り付けられている。テープ13の外周部分は、環状のフレーム15に固定されている。すなわち、被加工物11は、テープ13を介してフレーム15に支持されている。なお、本実施形態では、シリコン等の半導体でなる円形のウェーハを被加工物11としているが、被加工物11の材質、形状等に制限はない。例えば、セラミックス、樹脂、金属等の材料でなる任意の形状の基板を被加工物11として用いることもできる。
チャックテーブル20は、モータ(回転駆動源)(不図示)等に連結されており、Z軸方向(鉛直方向、高さ方向)に概ね平行な回転軸の周りに回転する。また、上述したX軸移動機構8でX軸移動テーブル12をX軸方向に移動させれば、チャックテーブル20はX軸方向に加工送りされる。
チャックテーブル20の上面は、被加工物11を保持する保持面20bとなっている。この保持面20bは、X軸方向及びY軸方向(割り出し送り方向、左右方向)に対して概ね平行に形成されており、チャックテーブル20やテーブルベース18の内部に形成された流路(不図示)等を通じて吸引源(不図示)に接続されている。なお、この吸引源の負圧は、テーブルベース18に対してチャックテーブル20を固定する際にも利用される。
チャックテーブル20に近接する位置には、被加工物11をチャックテーブル20へと搬送する搬送機構(不図示)が設けられている。また、X軸移動テーブル12の近傍には、切削時(加工時)に使用された純水等の切削液(加工液)の廃液を一時的に貯留するウォーターケース22が設けられている。ウォーターケース22内に貯留された廃液は、ドレーン(不図示)等を通じて切削装置2の外部に排出される。
基台6の上面には、X軸移動機構8を跨ぐ門型の支持構造24が配置されている。支持構造24の前面上部には、2組の切削ユニット移動機構(移動機構)26が設けられている。各切削ユニット移動機構26は、支持構造24の前面に配置されY軸方向に概ね平行な一対のY軸ガイドレール28を共通に備えている。Y軸ガイドレール28には、各切削ユニット移動機構26を構成するY軸移動プレート30がスライド可能に取り付けられている。
各Y軸移動プレート30の後面(裏面)側には、ナット(不図示)が設けられており、このナットには、Y軸ガイドレール28に平行なY軸ボールねじ32がそれぞれ螺合されている。各Y軸ボールねじ32の一端部には、Y軸パルスモータ34が連結されている。Y軸パルスモータ34でY軸ボールねじ32を回転させれば、Y軸移動プレート30は、Y軸ガイドレール28に沿ってY軸方向に移動する。
各Y軸移動プレート30の前面(表面)には、Z軸方向に概ね平行な一対のZ軸ガイドレール36が設けられている。Z軸ガイドレール36には、Z軸移動プレート38がスライド可能に取り付けられている。
各Z軸移動プレート38の後面(裏面)側には、ナット(不図示)が設けられており、このナットには、Z軸ガイドレール36に平行なZ軸ボールねじ40がそれぞれ螺合されている。各Z軸ボールねじ40の一端部には、Z軸パルスモータ42が連結されている。Z軸パルスモータ42でZ軸ボールねじ40を回転させれば、Z軸移動プレート38は、Z軸ガイドレール36に沿ってZ軸方向に移動する。
各切削ユニット移動機構26には、Y軸移動プレート30のY軸方向の位置を測定するY軸測定ユニット(不図示)が設けられている。また、各切削ユニット移動機構26には、Z軸移動プレート38のZ軸方向の位置を測定するZ軸測定ユニット(不図示)が設けられている。
各Z軸移動プレート38の下部には、被加工物11を切削するための切削ユニット(加工ユニット)44が設けられている。また、切削ユニット44に隣接する位置には、被加工物11を撮像するためのカメラ(撮像ユニット)46が設置されている。各切削ユニット移動機構26で、Y軸移動プレート30をY軸方向に移動させれば、切削ユニット44及びカメラ46は割り出し送りされ、Z軸移動プレート38をZ軸方向に移動させれば、切削ユニット44及びカメラ46は昇降する。
なお、チャックテーブル20に対する切削ユニット44及びカメラ46のX軸方向の位置は、上述したX軸測定ユニットで測定される。また、チャックテーブル20に対する切削ユニット44及びカメラ46のY軸方向の位置は、上述したY軸測定ユニットで測定される。さらに、チャックテーブル20に対する切削ユニット44及びカメラ46のZ軸方向の位置は、上述したZ軸測定ユニットで測定される。
切削ユニット44は、Y軸方向に概ね平行な回転軸となるスピンドル(不図示)を備えている。スピンドルの一端側には、環状の切削ブレード48が装着されている。スピンドルの他端側にはモータ(回転駆動源)(不図示)等が連結されており、切削ブレード48は、スピンドルを介して伝達されるモータのトルクによって回転する。
X軸移動機構8、チャックテーブル20、搬送機構、切削ユニット移動機構26、切削ユニット44、カメラ46等の構成要素は、それぞれ、制御ユニット(状態判定ユニット)50に接続されている。この制御ユニット50は、被加工物11の加工条件等に合わせて、上述した各構成要素を制御する。
また、この制御ユニット50には、切削中に発生するチャックテーブル20や切削ブレード48等の振動、スピンドルを介して切削ブレード48に連結されたモータ等の電流又は電圧、被加工物11に切削ブレード48を切り込ませる際の荷重、チャックテーブル20に対する切削ユニット44等の速度、X軸パルスモータ16等が出力するトルク、チャックテーブル20の内部に形成された流路の圧力、等を測定するための測定ユニット52が接続されている。
測定ユニット52は、例えば、チャックテーブル20や切削ユニット44、X軸移動機構8、切削ユニット移動機構26等に設けられており、測定した振動、電流、電圧、荷重、速度、トルク、圧力等の情報(データ)を制御ユニット50へと送る。制御ユニット50は、例えば、記憶部50aと、推定部50bとを備えている。
記憶部50aには、予め(切削の前に)被加工物11に施される前工程と、前工程で発生しうる被加工物11の異常や不良等の種類と、異常や不良等が発生した被加工物11を切削する際に測定ユニット52で得られる情報と、が互いに関連付けられた状態で記憶されている。
推定部50bは、測定ユニット52で得られる情報と、記憶部50aに記憶されている情報と、に基づいて、前工程において被加工物11に発生した異常や不良等の種類、及び被加工物11に異常や不良等を発生させた前工程を推定する。制御ユニット50は、推定部50bによる推定の結果を、例えば、筐体4の前面に設置されている表示パネル54に表示させる。なお、制御ユニット50は、この推定の結果に基づいて、X軸移動機構8や切削ユニット移動機構26、切削ユニット44等の動作を制御(例えば、停止)しても良い。
切削の前に被加工物11に施される前工程の種類としては、例えば、被加工物11にテープ13を貼り付けてフレーム15を固定するための工程や、被加工物11を研削、研磨して薄くするための工程、被加工物11を樹脂で被覆するための工程等がある。また、前工程で発生しうる異常や不良等の種類としては、例えば、被加工物11の仕上がり厚さの不一致や、被加工物11へのテープ13の貼り付け不良、被加工物11の割れ、欠け等がある。
次に、上述した切削装置2の使用方法の一例について説明する。図2は、被加工物11が切削される様子を模式的に示す平面図である。なお、図2では、切削装置2の構成要素の一部のみを示している。図2に示すように、本実施形態に係る切削装置2で被加工物11を切削する際には、2組の切削ユニット44を互いに干渉しないように割り出し送りする。
具体的には、例えば、被加工物11は、一方の切削ユニット44によって分割予定ライン(ストリート)L1,L2,L3,L4,L5,L6,L7の順に切削される。同時に、被加工物11は、別の切削ユニット44によって分割予定ライン(ストリート)L14,L13,L12,L8,L9,L10,L11の順に切削される。ただし、切削の順序は、各切削ユニット44が互いに干渉しない範囲で任意に変更できる。
本実施形態に係る切削装置2では、例えば、このような手順で被加工物を切削する際に、切削ブレード48を回転させるためのモータ(切削ユニット44内のモータ)の電流を測定ユニット52で測定する。そして、この電流に関する情報を含む信号が測定ユニット52から出力され、制御ユニット50内の推定部50bへと送られる。
図3(A)は、測定ユニット52で測定される電流の時間変化を示すグラフであり、図3(B)は、図3(A)の領域Aを拡大したグラフである。なお、切削ブレード48を回転させるモータの電流を測定ユニット52で検出する際には、同時に、X軸測定ユニット及びY軸測定ユニットで加工点の位置(X軸方向及びY軸方向に平行なXY平面内での座標(XY座標))を測定しておく。
これにより、図3(A)及び図3(B)に示すように、時間及びXY座標に対するモータの電流に関する情報(データ)を取得できる。なお、取得された電流の情報から、後述する判定に不要な部分(例えば、図3(B)に示す切削を実施していない期間t1等)を除去しても良い。
図4は、被加工物11が切削される様子を模式的に示す一部断面側面図である。図4では、テープ13と被加工物11との間に加工屑等の異物17が挟まっている例を示している。この場合には、例えば、異物17の近傍で切削ブレード48の負荷が増大し、それに合わせてモータの電流も増加する。よって、制御ユニット50の推定部50bは、この電流の増加から異物17の存在を推定できる。
具体的には、制御ユニット50の推定部50bは、測定ユニット52で測定された電流との相関が高い情報を、記憶部50aに記憶されている情報から選び出す。例えば、上述のように、異物17の近傍で増加する電流が測定された場合には、この電流の増加に近い態様の情報を記憶部50aの情報から選択する。
上述のように、記憶部50aには、切削の前に被加工物11に施される前工程と、前工程で発生しうる被加工物11の異常や不良等の種類と、異常や不良等が発生した被加工物11を切削する際に測定ユニット52で得られる情報と、が互いに関連付けられた状態で記憶されている。
よって、例えば、測定ユニット52で測定された電流の増加との相関が高い情報を、記憶部50aに記憶されている情報から選び出すことで、テープ13と被加工物11との間に異物17が存在すること(異常や不良)、及び異物17の付着がテープ13を貼り付ける工程(前工程)で発生したことを推定できる。
なお、このモータの電流を測定する方法では、異物17の存在(付着)以外にも、被加工物11の仕上がり厚さの不一致や、被加工物11の割れ、欠け、テープ13と被加工物11との間への空気の混入等を推定できる。具体的に、例えば、被加工物11の仕上がり厚さが薄い場合には、モータの電流が小さくなり、被加工物11の仕上がり厚さが厚い場合には、モータの電流が大きくなる。
一方、被加工物11に割れ、欠けが存在する場合や、テープ13と被加工物11との間に空気が混入した場合には、モータの電流が不安定になる。また、本実施形態では、時間及びXY座標に対するモータの電流の情報を取得しているので、上述のような異常や不良等が発生した位置(XY座標)を併せて推定できる。
以上のように、本実施形態に係る切削装置2は、振動、電流又は電圧、荷重、速度、トルク、圧力等を測定する測定ユニット52と、この測定ユニット52から出力される信号に基づいて、被加工物11の状態を判定する制御ユニット(状態判定ユニット)50と、を備えるので、切削中の被加工物11の状態を適切に判定できる。
なお、本発明は上記実施形態の記載に限定されず、種々変更して実施可能である。例えば、上記実施形態では、切削ブレード48に連結されたモータの電流を測定ユニット52によって測定することで、切削中の被加工物11の状態を判定する例について説明しているが、振動、電圧、荷重、速度、トルク、圧力等を測定することで、切削中の被加工物11の状態を判定しても良い。
その他、上記実施形態に係る構造、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。
2 切削装置(加工装置)
4 筐体
6 基台
8 X軸移動機構(移動機構)
10 X軸ガイドレール
12 X軸移動テーブル
14 X軸ボールねじ
16 X軸パルスモータ
18 テーブルベース
20 チャックテーブル
20a クランプ
20b 保持面
22 ウォーターケース
24 支持構造
26 切削ユニット移動機構(移動機構)
28 Y軸ガイドレール
30 Y軸移動プレート
32 Y軸ボールねじ
34 Y軸パルスモータ
36 Z軸ガイドレール
38 Z軸移動プレート
40 Z軸ボールねじ
42 Z軸パルスモータ
44 切削ユニット(加工ユニット)
46 カメラ(撮像ユニット)
48 切削ブレード
50 制御ユニット(状態判定ユニット)
50a 記憶部
50b 推定部
52 測定ユニット
54 表示パネル
11 被加工物
13 テープ
15 フレーム
17 異物

Claims (4)

  1. 被加工物を保持するチャックテーブルと、
    該チャックテーブルに保持された被加工物を切削ブレードで切削する切削ユニットと、
    該チャックテーブルと該切削ユニットとを相対的に移動させる移動機構と、
    該チャックテーブル、該切削ユニット、該移動機構の少なくとも一つに設けられ、切削中の振動、モータの電流又は電圧、荷重、速度、トルク、圧力のいずれかを測定する測定ユニットと、
    該測定ユニットから出力される信号に基づいて、被加工物の状態を判定する状態判定ユニットと、を備え
    該状態判定ユニットは、
    該切削ユニットによる切削の前に被加工物に施された前工程と、該前工程で発生しうる被加工物の異常又は不良の種類と、該異常又は不良が発生した被加工物を該切削ブレードで切削する際に該測定ユニットで得られるデータと、を関連付けた状態で記憶する記憶部と、
    該測定ユニットで得られるデータと、該記憶部に記憶された情報と、に基づいて、被加工物に発生した異常又は不良の種類、又は、該異常又は不良が発生した前工程を推定する推定部と、を備えることを特徴とする切削装置。
  2. 該状態判定ユニットは、
    該測定ユニットで得られるデータと、該記憶部に記憶された情報と、に基づいて、被加工物に貼り付けられたテープと被加工物との間への異物又は空気の混入、被加工物の仕上がり厚さの不一致、被加工物の割れ又は欠け、のいずれかが発生したと推定することを特徴とする請求項1に記載の切削装置。
  3. 該状態判定ユニットは、
    該測定ユニットで得られるデータと、該記憶部に記憶された情報と、に基づいて、該異常又は不良が、被加工物にテープを貼り付けるための工程、被加工物を研削又は研磨して薄くするための工程、被加工物を樹脂で被覆するための工程、のいずれかで発生したと推定することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の切削装置。
  4. 該切削ユニットのX軸方向の位置を測定するX軸測定ユニットと、
    該切削ユニットのY軸方向の位置を測定するY軸測定ユニットと、を更に備え、
    該測定ユニットによる測定と同時に、該X軸測定ユニット及び該Y軸測定ユニットによって加工点のXY座標が測定されることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の切削装置。
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