JP5290783B2 - 研削装置のチャックテーブルの基準位置確認方法 - Google Patents

研削装置のチャックテーブルの基準位置確認方法 Download PDF

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Description

本発明は、半導体ウエーハ等の被加工物を研削する研削装置における被加工物を保持するチャックテーブルの基準位置確認方法に関する。
半導体デバイス製造工程においては、略円板形状である半導体ウエーハの表面に格子状に配列されたストリートと呼ばれる分割予定ラインによって複数の領域が区画され、この区画された領域にIC、LSI等のデバイスを形成する。そして、半導体ウエーハをストリートに沿って切断することによりデバイスが形成された領域を分割して個々の半導体デバイスを製造している。また、サファイヤ基板や炭化珪素(SiC)基板の表面に窒化ガリウム系化合物半導体等が積層された光デバイスウエーハもストリートに沿って切断することにより個々の発光ダイオード、レーザーダイオード等の光デバイスに分割され、電気機器に広く利用されている。このようにして分割されるウエーハは、ストリートに沿って切断する前に研削装置によって裏面が研削され、所定の厚みに加工される。
半導体ウエーハの裏面を研削する研削装置は、ウエーハを保持する保持面を備えたチャックテーブルと、該チャックテーブル上に保持されたウエーハを研削する研削ホイールを備えた研削手段と、該研削手段をチャックテーブルの保持面に対して垂直な方向に研削送りする研削送り手段と、チャックテーブル上に保持されたウエーハの厚みを計測する厚み計測機構と、該厚み計測機構からの検出信号に基いて研削送り機構を制御する制御手段を具備している。(例えば、特許文献1参照)
特開昭63−102872号公報
近年、チャックテーブル上に保持されたウエーハの厚みを計測する厚み計測機構として、チャックテーブルの保持面に対して垂直に延びる一対の案内レールと、該一対の案内レール間にリテーナによって支持されたベアリングを介して該一対の案内レールに沿って移動可能に配設され下端に計測ロッドが装着された移動レールと、該移動レールの高さ位置を検出する位置検出手段とを具備する厚み計測機構が用いられている。
而して、上述した厚み計測機構においては、一対の案内レールと移動レールとの間に配設されたベアリングを支持するリテーナが経時的に降下する。このリテーナが所定量降下しストッパーに当接すると、移動レールの下方への移動が規制される。この結果、チャックテーブルの保持面に移動レールの下端に装着された計測ロッドを接触させてチャックテーブルの保持面である基準位置を計測する際に、移動レールの下端に装着された計測ロッドがチャックテーブルの保持面に接触せず該保持面から浮いた状態となり、チャックテーブルの保持面である基準位置を正確に計測することができない。即ち、計測ロッドがチャックテーブルの保持面に接触せず該保持面から浮いた状態であると、制御手段は計測ロッドがチャックテーブルの保持面から浮いた位置で位置検出手段から出力される高さ位置をチャックテーブルの保持面であると判断する。従って、このような状態の厚み計測機構によりチャックテーブルに保持されたウエーハの厚みを計測しつつ研削すると、ウエーハを所望の厚みに研削できないとともに、ウエーハを破損させるばかりでなく、チャックテーブルおよび研削手段を破損させてしまうという問題がある。
本発明は上記事実に鑑みてなされたものであり、その主たる技術課題は、厚み計測機構が正常に作動しているか否かを確認することができる研削装置のチャックテーブルの基準位置確認方法を提供することにある。
上記主たる技術課題を解決するため、本発明によれば、被加工物を保持する保持面を有するチャックテーブルと、該チャックテーブルの保持面に保持された被加工物を研削するための研削手段と、該研削手段を該チャックテーブルの該保持面に垂直な方向に研削送りする研削送り手段と、該チャックテーブルの保持面に保持された被加工物の厚みを計測する厚み計測機構とを具備し、
該厚み計測機構が該チャックテーブルの保持面に対して垂直に延びる一対の案内レールと、該一対の案内レール間にリテーナによって支持されたベアリングを介して該一対の案内レールに沿って移動可能に配設され下端に計測ロッドが装着された移動レールと、該移動レールを該一対の案内レールに沿って上方に移動し該計測ロッドを該チャックテーブルの保持面より上方の退避位置に位置付けるとともに該移動レールを自重で下降せしめる移動レール作動手段と、該移動レールの高さ位置を検出する位置検出手段と、制御手段および表示手段と、を具備している研削装置のチャックテーブルの基準位置確認方法であって、
該計測ロッドを該チャックテーブルの上方である第1の計測位置に位置付けた後、該移動レール作動手段を作動して該移動レールを該退避位置から自重で下降せしめた状態において該位置検出手段が第1の位置信号を該制御手段に出力する第1の位置検出工程と、
該計測ロッドを該チャックテーブルから離隔した第2の計測位置に位置付けた後、該移動レール作動手段を作動して該移動レールを該退避位置から自重で下降せしめた状態において該位置検出手段が第2の位置信号を該制御手段に出力する第2の位置検出工程と、
該第1の位置信号と該第2の位置信号を入力した制御手段が該第1の位置と該第2の位置の差を求め、該第1の位置と該第2の位置の差が所定値以上の場合は該第1の位置をチャックテーブルの基準位置と判定し、該第1の位置と該第2の位置の差が所定値未満の場合には故障と判定し、該判定結果を該表示手段に表示する基準位置確認工程と、を含む、
研削装置のチャックテーブルの基準位置確認方法が提供される。
本発明による研削装置のチャックテーブルの基準位置確認方法によれば、計測ロッドをチャックテーブルの上方である第1の計測位置に位置付けた後に移動レール作動手段を作動して移動レールを退避位置から自重で下降せしめた状態において位置検出手段が出力する第1の位置信号と、計測ロッドをチャックテーブルから離隔した第2の計測位置に位置付けた後に移動レール作動手段を作動して移動レールを退避位置から自重で下降せしめた状態において位置検出手段が出力する第2の位置信号とに基づいて、第1の位置と第2の位置の差が所定値以上の場合は第1の位置をチャックテーブルの基準位置と判定し、第1の位置と第2の位置の差が所定値未満の場合には故障と判定し、判定結果を表示手段に表示するので、厚み計測機構が正常に作動しているか否かを確認することができる。従って、ウエーハの厚みを正確に計測できない状態で研削作業をし続けることにより、ウエーハを所望の厚みに研削できないとともに、ウエーハを破損させたり、チャックテーブルおよび研削手段を破損させてしまうという問題を未然に防止することができる。
本発明に従って構成された研削装置の斜視図。 図1に示す研削装置に装備されるチャックテーブル機構の要部斜視図。 図1に示す研削装置に装備される厚み計測機構の要部斜視図。 図1に示す厚み計測機構の要部断面図。 図1に示す厚み計測機構の要部側面図。 図1に示す研削装置に装備される制御手段のブロック図。 本発明による研削装置のチャックテーブルの基準位置確認方法における第1の位置検出工程の説明図。 本発明による研削装置のチャックテーブルの基準位置確認方法における第2の位置検出工程の説明図。 図1に示す研削装置によって実施する研削作業の説明図。
以下、本発明に従って構成された研削装置の好適な実施形態について、添付図面を参照して更に詳細に説明する。
図1には、本発明に従って構成された研削装置の斜視図が示されている。図1に示す研削装置は、全体を番号2で示す装置ハウジングを具備している。この装置ハウジング2は、細長く延在する直方体形状の主部21と、該主部21の後端部(図1において右上端)に設けられ上下方向に延びる直立壁22とを有している。直立壁22の前面には、上下方向に延びる一対の案内レール221、221が設けられている。この一対の案内レール221、221には、研削手段としての研削ユニット3が上下方向に移動可能に装着されている。
研削ユニット3は、移動基台31と該移動基台31に装着されたスピンドルユニット4を具備している。移動基台31は、後面両側に上下方向に延びる一対の脚部311、311が設けられており、この一対の脚部311、311に上記一対の案内レール221、221と摺動可能に係合する被案内溝312、312が形成されている。このように直立壁22に設けられた一対の案内レール221、221に摺動可能に装着された移動基台31の前面には前方に突出した支持部313が設けられている。この支持部313に研削手段としてのスピンドルユニット4が取り付けられる。
研削手段としてのスピンドルユニット4は、支持部313に装着されたスピンドルハウジング41と、該スピンドルハウジング41に回転自在に配設された回転スピンドル42と、該回転スピンドル42を回転駆動するための駆動源としてのサーボモータ43とを具備している。スピンドルハウジング41に回転可能に支持された回転スピンドル42は、一端部(図1において下端部)がスピンドルハウジング41の下端から突出して配設されており、その一端(図1において下端)にホイールマウント44が設けられている。そして、このホイールマウント44の下面に研削ホイール45が取り付けられる。この研削ホイール45は、環状の砥石基台451と、該環状の砥石基台451の下面に装着された研削砥石452からなる複数のセグメントとによって構成されており、環状の砥石基台451が締結ねじ453によってホイールマウント44に装着される。上記サーボモータ43は、後述する制御手段によって制御される。
図示の実施形態における研削装置は、上記研削ユニット3を上記一対の案内レール221、221に沿って上下方向(後述するチャックテーブルの保持面に対して垂直な方向)に移動せしめる研削送り手段5を備えている。この研削送り手段5は、直立壁22の前側に配設され実質上鉛直に延びる雄ねじロッド51を具備している。この雄ねじロッド51は、その上端部および下端部が直立壁22に取り付けられた軸受部材52および53によって回転自在に支持されている。上側の軸受部材52には雄ねじロッド51を回転駆動するための駆動源としてのパルスモータ54が配設されており、このパルスモータ54の出力軸が雄ねじロッド51に伝動連結されている。移動基台31の後面にはその幅方向中央部から後方に突出する連結部(図示していない)が設けられ、この連結部には上下方向に延びる貫通雌ねじ穴(図示していない)が形成されており、この雌ねじ穴に上記雄ねじロッド51が螺合せしめられている。従って、パルスモータ54が正転すると移動基台31即ち研削ユニット3が下降即ち前進せしめられ、パルスモータ54が逆転すると移動基台31即ち研削ユニット3が上昇即ち後退せしめられる。上記パルスモータ54は、後述する制御手段によって制御される。
上記装置ハウジング2の主部21にはチャックテーブル機構6が配設されている。チャックテーブル機構6は、図2に示すように支持台61とこの支持台61に回転自在に配設されたチャックテーブル62とを含んでいる。支持台61は、ハウジング2の主部21に前後方向(直立壁22の前面に垂直な方向)である矢印23aおよび23bで示す方向に延在する一対の案内レール23、23上に摺動自在に載置されており、後述するチャックテーブル移動機構66によって図1に示す被加工物搬入・搬出域24(図2において実線で示す位置)と上記スピンドルユニット32を構成する研削ホイール45と対向する加工域25(図2において2点鎖線で示す位置)との間で移動せしめられる。
上記チャックテーブル62は、チャックテーブル本体621と、該チャックテーブル本体621の上面に配設された吸着保持チャック622とからなっており、吸着保持チャック622の上面に被加工物であるウエーハを図示しない吸引手段を作動することにより吸引保持するように構成されている。なお、チャックテーブル本体621の上面および吸着保持チャック622の上面は面一に形成されており、従って本明細書においてはチャックテーブル本体621の上面および吸着保持チャック622の上面を被加工物を保持する保持面と定義する。このように構成されたチャックテーブル62は、支持台61上に配設された駆動源としてのサーボモータ63によって回転せしめられるように構成されている。なお、図示の実施形態におけるチャックテーブル機構6は、チャックテーブル62を挿通する穴を有し上記支持台61等を覆い支持台61とともに移動可能に配設されたカバー部材64を備えている。
図2を参照して説明を続けると、図示の実施形態における研削装置は、上記チャックテーブル62を一対の案内レール23に沿って矢印23aおよび23bで示す方向に移動せしめるチャックテーブル移動機構66を具備している。チャックテーブル移動機構66は、一対の案内レール23、23間に配設され案内レール23、23と平行に延びる雄ねじロッド661と、該雄ねじロッド661を回転駆動するサーボモータ662を具備している。雄ねじロッド661は、上記支持台61に設けられたねじ穴611と螺合して、その先端部が一対の案内レール23、23を連結して取り付けられた軸受部材663によって回転自在に支持されている。上記サーボモータ662は、その駆動軸が雄ねじロッド661の基端と伝動連結されている。従って、サーボモータ662が正転すると支持台61即ちチャックテーブル機構6が矢印23aで示す方向に移動し、サーボモータ662が逆転すると支持台61即ちチャックテーブル機構6が矢印23bで示す方向に移動せしめられる。矢印23aおよび23bで示す方向に移動せしめられるチャックテーブル機構6は、図2において実線で示す被加工物搬入・搬出域と2点鎖線で示す加工域に選択的に位置付けられる。
図1に戻って説明を続けると、上記チャックテーブル機構6を構成する支持台61の移動方向両側には、横断面形状が逆チャンネル形状であって、上記一対の案内レール23、23や雄ねじロッド661およびサーボモータ662等を覆っている蛇腹手段67および68が付設されている。蛇腹手段67および68はキャンパス布の如き適宜の材料から形成することができる。蛇腹手段67の前端は前面壁に固定され、後端はチャックテーブル機構6のカバー部材64の前端面に固定されている。蛇腹手段68の前端はチャックテーブル機構6のカバー部材64の後端面に固定され、後端は装置ハウジング2の直立壁22の前面に固定されている。チャックテーブル機構6が矢印23aで示す方向に移動せしめられる際には蛇腹手段67が伸張されて蛇腹手段68が収縮され、チャックテーブル機構6が矢印23bで示す方向に移動せしめられる際には蛇腹手段67が収縮されて蛇腹手段68が伸張せしめられる。
図示の実施形態における研削装置は、上記加工域25付近に配設されチャックテーブル62の保持面に保持された被加工物の厚みを計測する厚み計測機構7を具備している。この厚み計測機構7は、装置ハウジング2の主部21に配設された支持部71と、該支持部71の先端に支持された計測部8とかならなっている。計測部8について、図3乃至図5を参照して説明する。
図3乃至図5に示す厚み計測機構7の計測部8は、ケーシング81と、該ケーシング81内に配設されチャックテーブル2の上面である保持面に対して垂直(上下方向)に延びる一対の案内レール82、82と、該一対の案内レール82、82間にリテーナ83、83によってそれぞれ支持された複数のベアリング84を介して一対の案内レール82、82に沿って移動可能に配設され下端に計測ロッド85が装着された移動レール86と、該移動レール86を該一対の案内レールに沿って上方に移動し計測ロッド85をチャックテーブル62の保持面より上方の退避位置に位置付けるとともに移動レール86を自重で下降せしめる移動レール作動手段87を具備している。一対の案内レール82、82は、対向する面にそれぞれ上下方向に延びる案内溝821が形成されている。また、移動レール86の両側面には、それぞれ上記一対の案内レール82、82に形成された案内溝821と対向して上下方向に延びる被案内溝861、861が設けられている。上記リテーナ83、83によってそれぞれ支持された複数のベアリング84は、一対の案内レール82、82にそれぞれ形成された案内溝821、821と移動レール86の両側面にそれぞれ形成された被案内溝861、861間に配設される。従って、移動レール86は、複数のベアリング84を介して一対の案内レール82、82に沿って移動することができる。この移動レール86の移動に伴って複数のベアリング84を支持するリテーナ83、83も移動レール86の移動距離の2分の1の距離だけ移動する。なお、リテーナ83、83は経時的に降下するので、その降下を規制するためのストッパー830、830が一対の案内レール82、82の下端にそれぞれ取り付けられている。
上記移動レール作動手段87は、図示の実施形態においてはケーシング81の底壁に配設されたエアーシリンダ機構870によって構成されており、そのピストンロッド871の上端が上記移動レール86に突出して設けられた被作動片862の下面に当接するようになっている。このように構成されたエアーシリンダ機構870は、移動レール86および計測ロッド85を図5において2点鎖線で示すチャックテーブル62の保持面より上方の退避位置に位置付けるとともに、移動レール86および計測ロッド85を図5において実線で示すように自重で下降せしめる。なお、移動レール86の下降は、正常の状態においては計測ロッド85の下端がチャックテーブル62の保持面より所定量(例えば5mm )下側に位置するように設定されている。しかるに、上述したようにリテーナ83、83は経時的に降下してストッパー830、830に当接すると移動レール86の降下が規制されるために、計測ロッド85は上記正常の位置より上側に位置付けられ、チャックテーブル62の保持面より上側となる場合がある。
図示の実施形態における厚み計測機構7は、図3に示すように移動レール86の高さ位置を検出する位置検出手段88を具備している。位置検出手段88は、移動レール86に沿って配設されたリニアスケール881と、上記一対の案内レール82、82の一方に配設された読み取りヘッド882とからなっている。この位置検出手段88はその検出信号を後述する制御手段に送る。
図示の実施形態における研削装置は、図6に示す制御手段10を具備している。制御手段10はコンピュータによって構成されており、制御プログラムに従って演算処理する中央処理装置(CPU)101と、制御プログラム等を格納するリードオンリメモリ(ROM)102と、被加工物の目標の厚みや演算結果等を格納する読み書き可能なランダムアクセスメモリ(RAM)103と、入力インターフェース104および出力インターフェース105とを備えている。制御手段10の入力インターフェース104には、上記位置検出手段88の読み取りヘッド882等からの検出信号が入力される。そして、制御手段10の出力インターフェース105からは、上記スピンドルユニット4のサーボモータ43、研削送り手段5のパルスモータ54、チャックテーブル62を回転駆動するためのサーボモータ63、チャックテーブル移動機構66のサーボモータ662、厚み計測機構7の移動レール作動手段87としてのエアーシリンダ機構870、表示手段110等に制御信号を出力する。
図示の実施形態における研削装置は以上のように構成されており、以下その作用について説明する。
先ず、上記厚み計測機構7の計測ロッド85がチャックテーブル62の保持面に確実に接触し基準位置を正確に検出することができるか否かを確認するためのチャックテーブルの基準位置確認作業について説明する。
チャックテーブルの基準位置確認作業は、先ず厚み計測機構7の移動レール作動手段87のエアーシリンダ機構870を作動してピストンロッド871を上昇し、計測ロッド85を図5において2点鎖線で示すようにチャックテーブル62の保持面より上方の退避位置に位置付ける。そして、チャックテーブル移動機構66を作動してチャックテーブル62を厚み計測機構7の計測ロッド85の下側に移動し、計測ロッド85が該チャックテーブルの上方となる第1の計測位置に位置付ける(第1の計測位置位置付け工程)。
次に、移動レール作動手段87のエアーシリンダ機構870を構成するピストンロッド871を下降し、図7に示すように移動レール86を自重にて下降せしめて移動レール86の下端に装着された計測ロッド85をチャックテーブル62の上面である保持面に接触させる。なお、図7に示す実施形態においては計測ロッド85をチャックテーブル62を構成するチャックテーブル本体621の上面に接触した例を示したが、計測ロッド85をチャックテーブル62を構成する吸着保持チャック622の上面に接触させてもよい。このようにチャックテーブル62の保持面に計測ロッド85を接触させた状態において、位置検出手段88は読み取りヘッド882によって読み取った移動レール86の位置を第1の位置 (H1)信号として制御手段10に出力する(第1の位置検出工程)。制御手段10は、位置検出手段88から送られた第1の位置 (H1)をランダムアクセスメモリ(RAM)103に一時格納する。次に、厚み計測機構7の移動レール作動手段87のエアーシリンダ機構870を作動してピストンロッド871を上昇し、計測ロッド85を図5において2点鎖線で示すチャックテーブル62の保持面より上方の退避位置に位置付ける。
上述した第1の位置検出工程を実施したならば、チャックテーブル移動機構66を作動してチャックテーブル62を厚み計測機構7の計測ロッド85の下方である第1の計測位置から離隔した第2の計測位置に位置付ける(第2の計測位置位置付け工程)。従って、チャックテーブル移動機構66は、計測ロッド85とチャックテーブル62を計測ロッド85がチャックテーブル62の上方である第1の計測位置とチャックテーブル62から離隔した第2の計測位置に相対的に位置付ける計測位置位置付け手段として機能する。なお、この計測位置位置付け手段としては、厚み計測機構7に装備してもよい。即ち、計測部8を加工域に位置付けられたチャックテーブル62の上方である第1の計測位置とチャックテーブル62から離隔した第2の計測位置に位置付ける計測位置位置付け手段を厚み計測機構7に装備してもよい。
次に、移動レール作動手段87のエアーシリンダ機構870を構成するピストンロッド871を下降し、図8に示すように移動レール86および計測ロッド85を自重にて下降せしめる。第2の計測位置においては計測ロッド85の下方にはチャックテーブル62が存在しないので、移動レール86に設けられた被作動片862がエアーシリンダ機構870を構成するピストンロッド871に接触して移動が規制されるまで移動レール86が自重にて下降する。このように移動レール86が自重にて下降した状態で、位置検出手段88は読み取りヘッド882によって読み取った移動レール86の位置を第2の位置 (H2)信号として制御手段10に出力する(第2の位置検出工程)。制御手段10は、位置検出手段88から送られた第2の位置 (H2)をランダムアクセスメモリ(RAM)103に一時格納する。
上述したように第1の位置検出工程によって検出された第1の位置 (H1)と第2の位置検出工程によって検出された第2の位置 (H2)を入力した制御手段10は、第1の位置 (H1)と第2の位置 (H2)の差(H1−H2)を求め、該差(H1−H2)が所定値(例えば1mm)以上の場合は第1の位置(H1)をチャックテーブル62の基準位置と判定し、第1の位置(H1)をチャックテーブル62の基準位置としてランダムアクセスメモリ(RAM)103に一時格納するとともに表示手段110に表示する。一方、上記第1の位置 (H1)と第2の位置 (H2)の差(H1−H2)が所定値(例えば1mm)未満の場合には、制御手段10は故障と判定し、表示手段110に表示する(基準位置確認工程)。このように表示手段110に表示された故障表示に基づいて、オペレータは厚み計測機構7が正常に作動しない虞があることを感知し、例えば上記リテーナ83、83がストッパー830、830に当接しているか否かを確認する。リテーナ83、83がストッパー830、830に当接しているか或いは当接寸前であるならば、計測部8を修理にまわしてリテーナ83、83の位置を修正するか新しい計測部8と交換する。
以上のようにしてチャックテーブルの基準位置確認作業を実施し、上記第1の位置(H1)をチャックテーブル62の基準位置としてランダムアクセスメモリ(RAM)103に一時格納したならば、図1に示すようにチャックテーブル62を被加工物搬入・搬出域24に戻し、研削作業を実施する。
研削作業は、被加工物搬入・搬出域24に位置付けられたチャックテーブル62の上面である保持面上に被加工物としてのウエーハ11を載置する。なお、ウエーハ11にはデバイスが形成された表面にデバイスを保護するための保護テープ12が貼着されており、この保護テープ12側をチャックテーブル62の上面である保持面に載置する。従って、チャックテーブル62上に保持されたウエーハ11は、裏面が上側となる。このようにしてチャックテーブル62上に被加工物としてのウエーハ11を載置したならば、制御手段10は図示しない吸引手段を作動する。この結果、チャックテーブル62上に載置されたウエーハ11は、保護テープ12を介してチャックテーブル62上に吸引保持される。このようにして、チャックテーブル62上にウエーハ11を吸引保持したならば、制御手段10は上記チャックテーブル移動機構66のサーボモータ662を作動してチャックテーブル62を矢印23aで示す方向に移動し研削域25に位置付ける。このとき、厚み計測機構7の移動レール作動手段87のエアーシリンダ機構870を作動してピストンロッド871を上昇し、計測ロッド85を図5において2点鎖線で示すチャックテーブル62の保持面より上方の退避位置に位置付け、チャックテーブル62の研削域25への位置付けを妨げないようにしている。
このようにしてチャックテーブル62が研削域25に位置付けられたならば、制御手段10は図9に示すように厚み計測機構7の移動レール作動手段87としてのエアーシリンダ機構870を構成するピストンロッド871を下降し、移動レール86を自重にて下降せしめて移動レール86の下端に装着された計測ロッド85をチャックテーブル62に保持されたウエーハ11の上面(被研削面)に接触させる。次に、制御手段10はチャックテーブル機構6のサーボモータ63を駆動してチャックテーブル62を矢印62aで示す方向に例えば300rpmの回転速度で回転するとともに、研削ユニット3のスピンドルユニット4を構成するサーボモータ43を駆動して研削ホイール45を矢印45aで示す方向に例えば6000rpmの回転速度で回転する。そして、制御手段10は研削送り手段5のパルスモータ54を正転駆動し研削ユニット3を例えば0.5μm/秒の研削送り速度で下降せしめる研削送りを実施し、チャックテーブル62に保持されたウエーハ11を研削加工する。
上記研削加工を実施している際に、厚み計測機構7の位置検出手段88からチャックテーブル62に保持されたウエーハ11の高さ位置(H0)信号が制御手段10に送られている。制御手段10は、チャックテーブル62に保持されたウエーハ11の高さ位置 (H0)と上記チャックテーブル62の基準位置である第1の位置(H1)および保護テープ12の厚み(A)に基づいて、ウエーハ11の厚み(t)を演算する(t=H0−H1−A)。そして、制御手段10は、ウエーハ11の厚み(t)が目標の厚み(T)に達した場合(t≦T)には、研削送り手段5のパルスモータ54を逆転駆動し、研削ユニット3を上昇させて停止し、研削送りを終了する。
以上のように研削作業を実施する前にチャックテーブルの基準位置確認作業を実施し、厚み計測機構7が故障しているか否かを判定して、厚み計測機構7が正常であると判定した場合においてチャックテーブル62の保持面に計測ロッド85が接触している状態の位置をチャックテーブル62の基準位置とするので、ウエーハの厚みを正確に計測しつつ研削作業を実施することができる。従って、ウエーハの厚みを正確に計測できない状態で研削作業をし続けることにより、ウエーハを所望の厚みに研削できないとともに、ウエーハを破損させたり、チャックテーブルおよび研削手段を破損させてしまうという問題を未然に防止することができる。
上述した実施形態においては1個の厚み計測機構7を用いてウエーハ11の厚み(t)を求める例を示したが、2個の厚み計測機構7を用い、一方の厚み計測機構7の計測ロッド85をチャックテーブルを構成するチャックテーブル本体621の上面に接触させ、他方の厚み計測機構7の計測ロッド85をチャックテーブル62に保持されたウエーハ11の上面に接触させて、両厚み計測機構から出力される高さ位置の差と保護テープ12の厚み(A)に基づいてウエーハ11の厚み(t)を求めるようにしてもよい。この場合にも研削作業を実施する前に、2個の厚み計測機構7に対して上述したようにチャックテーブルの基準位置確認作業をそれぞれ実施する。
2:装置ハウジング
3:研削ユニット
4:スピンドルユニット
42:回転スピンドル
45:研削ホイール
5:研削送り手段
6:チャックテーブル機構
62:チャックテーブル
66:チャックテーブル移動機構
7:厚み計測機構
8:計測部
82、82:一対の案内レール
85:計測ロッド
86:移動レール
87:移動レール作動手段
88:位置検出手段
10:制御手段
11:ウエーハ
12:保護テープ

Claims (1)

  1. 被加工物を保持する保持面を有するチャックテーブルと、該チャックテーブルの保持面に保持された被加工物を研削するための研削手段と、該研削手段を該チャックテーブルの該保持面に垂直な方向に研削送りする研削送り手段と、該チャックテーブルの保持面に保持された被加工物の厚みを計測する厚み計測機構とを具備し、
    該厚み計測機構が該チャックテーブルの保持面に対して垂直に延びる一対の案内レールと、該一対の案内レール間にリテーナによって支持されたベアリングを介して該一対の案内レールに沿って移動可能に配設され下端に計測ロッドが装着された移動レールと、該移動レールを該一対の案内レールに沿って上方に移動し該計測ロッドを該チャックテーブルの保持面より上方の退避位置に位置付けるとともに該移動レールを自重で下降せしめる移動レール作動手段と、該移動レールの高さ位置を検出する位置検出手段と、制御手段および表示手段と、を具備している研削装置のチャックテーブルの基準位置確認方法であって、
    該計測ロッドを該チャックテーブルの上方である第1の計測位置に位置付けた後、該移動レール作動手段を作動して該移動レールを該退避位置から自重で下降せしめた状態において該位置検出手段が第1の位置信号を該制御手段に出力する第1の位置検出工程と、
    該計測ロッドを該チャックテーブルから離隔した第2の計測位置に位置付けた後、該移動レール作動手段を作動して該移動レールを該退避位置から自重で下降せしめた状態において該位置検出手段が第2の位置信号を該制御手段に出力する第2の位置検出工程と、
    該第1の位置信号と該第2の位置信号を入力した制御手段が該第1の位置と該第2の位置の差を求め、該第1の位置と該第2の位置の差が所定値以上の場合は該第1の位置をチャックテーブルの基準位置と判定し、該第1の位置と該第2の位置の差が所定値未満の場合には故障と判定し、該判定結果を該表示手段に表示する基準位置確認工程と、を含む、
    研削装置のチャックテーブルの基準位置確認方法。
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