JP5356740B2 - 研削装置 - Google Patents
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Description
該制御手段は、該研削送り手段を作動して研削送りを開始したら該第1のハイトセンサーおよび該第2のハイトセンサーからの検出信号を所定時間入力して研削時間に対する被加工物の厚み予測値を求め、以後、該第1のハイトセンサーおよび該第2のハイトセンサーからの検出信号に基いて求めた被加工物の厚みが該予測値の許容範囲でない場合には該第1のハイトセンサーおよび該第2のハイトセンサーからの検出信号が異常値であると判断して無視し該研削送り手段による研削送りを継続して実施するとともに該第1のハイトセンサーおよび該第2のハイトセンサーからの検出信号を入力し、該第1のハイトセンサーおよび該第2のハイトセンサーからの検出信号に基いて求めた被加工物の厚みが該予測値の許容範囲ではあるが目標の厚みに達しない場合には該研削送り手段による研削送りを継続して実施するとともに該第1のハイトセンサーおよび該第2のハイトセンサーからの検出信号を入力し、該第1のハイトセンサーおよび該第2のハイトセンサーからの検出信号に基いて求めた被加工物の厚みが該予測値の許容範囲で且つ目標の厚みに達したら該研削送り手段による研削送りを停止する、
ことを特徴とする研削装置が提供される。
図1には、本発明に従って構成された研削装置の斜視図が示されている。図1に示す研削装置は、全体を番号2で示す装置ハウジングを具備している。この装置ハウジング2は、細長く延在する直方体形状の主部21と、該主部21の後端部(図1において右上端)に設けられ実質上鉛直に上方に延びる直立壁22とを有している。直立壁22の前面には、上下方向に延びる一対の案内レール221、221が設けられている。この一対の案内レール221、221に研削手段としての研削ユニット3が上下方向に移動可能に装着されている。
図1に示すように研削装置の被加工物載置域24に位置付けられているチャックテーブル62の上面である保持面上に被加工物としてのウエーハ11を載置する。なお、ウエーハ11にはデバイスが形成された表面にデバイスを保護するための保護テープ12が貼着されており、この保護テープ12側をチャックテーブル62の上面に載置する。従って、チャックテーブル62上に保持されたウエーハ11は、裏面が上側となる。このようにしてチャックテーブル62上に被加工物としてのウエーハ11を載置したならば、制御手段10は図示しない吸引手段を作動する。この結果、チャックテーブル62上に載置されたウエーハ11は、保護テープ12を介してチャックテーブル62上に吸引保持される。このようにして、チャックテーブル62上にウエーハ11を吸引保持したならば、制御手段10は上記チャックテーブル移動機構66のサーボモータ662を作動してチャックテーブル62を矢印23aで示す方向に移動し研削域25に位置付ける。
チャックテーブル62に保持されたウエーハ11は、その中心(P)が研削ホイール45の研削砥石452が通過するように位置付けられる。そして、第1のハイトセンサー71の計測針711をチャックテーブル62の外周部上面に接触させるとともに、第2のハイトセンサー72の計測針721をチャックテーブル62に保持されたウエーハ11の上面(被研削面)に接触させる。そして、制御手段10は研削ホイール45の研削送り速度が例えば0.5μm/秒になるように研削送り手段5のパルスモータ54を制御する。
制御手段10は、先ずステップS1において第1のハイトセンサー71と第2のハイトセンサー72からの検出信号(H1)、(H2)を所定時間(例えば10秒間)入力し、ステップS2に進んで研削時間に対するウエーハ11の厚み予測値を求める。この研削時間に対するウエーハ11の厚み予測値を求めるのは、研削送り速度が同じであってもウエーハWの材質によって研削時間に対する研削量が異なるからである。このステップS2について更に詳細に説明すると、ウエーハ11の厚み(h)と時間(t)とに基いてウエーハの厚み予測値(H)を研削時間(t)の関数として求める(H=f(t))。なお、ウエーハ11の厚み(h)は、第2のハイトセンサー72によって検出されたチャックテーブル62に保持されたウエーハWの上面(被研削面)高さ位置(H2)から第1のハイトセンサーによって検出されたチャックテーブル62の外周部上面の高さ位置(H1)および保護テープ12の厚み(A)減算することによって求める(h=H2−H1−A)。そして、ウエーハ11の厚み(h)が目標の厚み(T:例えば100μm)に達するまでの時間を上記式(H=f(t))に代入して研削時間(t)に対応する厚みの予測値(H)を演算する。この結果、図6に示すように研削時間(t)に対するウエーハ11の厚みの予測値(H)を求めることができる。なお、図6に示す制御マップは上記第1のハイトセンサー71と第2のハイトセンサー72からの検出信号に基いて厚みが700μmのウエーハが目標の厚み(T:100μm)に達するまでの予測値を示したものである。このマップは、上記制御手段10のランダムアクセスメモリ(RAM)103に格納される。
3:研削ユニット
31:移動基台
4:スピンドルユニット
42:回転スピンドル
43:サーボモータ
44:ホイールマウント
45:研削ホイール
5:研削送り手段
54:パルスモータ
6:チャックテーブル機構
62:チャックテーブル
63:サーボモータ
66:チャックテーブル移動機構
71:第1のハイトセンサー
72:第2のハイトセンサー
10:制御手段
11:ウエーハ
12:保護テープ
Claims (1)
- 被加工物を保持する保持面を有するチャックテーブルと、該チャックテーブルの該保持面に保持された被加工物を研削するための研削手段と、該研削手段を該チャックテーブルの該保持面に垂直な方向に研削送りする研削送り手段と、該チャックテーブルの上面の高さ位置を検出する第1のハイトセンサーと、該チャックテーブル上に保持された被加工物の被研削面の高さ位置を検出する第2のハイトセンサーと、該第1のハイトセンサーおよび第2のハイトセンサーからの検出信号に基いて該研削送り手段を制御する制御手段と、を具備する研削装置において、
該制御手段は、該研削送り手段を作動して研削送りを開始したら該第1のハイトセンサーおよび該第2のハイトセンサーからの検出信号を所定時間入力して研削時間に対する被加工物の厚み予測値を求め、以後、該第1のハイトセンサーおよび該第2のハイトセンサーからの検出信号に基いて求めた被加工物の厚みが該予測値の許容範囲でない場合には該第1のハイトセンサーおよび該第2のハイトセンサーからの検出信号が異常値であると判断して無視し該研削送り手段による研削送りを継続して実施するとともに該第1のハイトセンサーおよび該第2のハイトセンサーからの検出信号を入力し、該第1のハイトセンサーおよび該第2のハイトセンサーからの検出信号に基いて求めた被加工物の厚みが該予測値の許容範囲ではあるが目標の厚みに達しない場合には該研削送り手段による研削送りを継続して実施するとともに該第1のハイトセンサーおよび該第2のハイトセンサーからの検出信号を入力し、該第1のハイトセンサーおよび該第2のハイトセンサーからの検出信号に基いて求めた被加工物の厚みが該予測値の許容範囲で且つ目標の厚みに達したら該研削送り手段による研削送りを停止する、
ことを特徴とする研削装置。
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JP2008178706A JP5356740B2 (ja) | 2008-07-09 | 2008-07-09 | 研削装置 |
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