JP6681012B2 - 積層回路基板、積層電子部品およびモジュール - Google Patents

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Description

本発明は、積層回路基板に関し、さらに詳しくは、必要な個所が確実に遮蔽され、アイソレーション特性が改善された積層回路基板に関する。
また、本発明は、本発明の積層回路基板を使用した積層電子部品に関し、さらに詳しくは、必要な個所が確実に遮蔽され、アイソレーション特性が改善された積層電子部品に関する。
また、本発明は、本発明の積層回路基板を使用したモジュールに関し、さらに詳しくは、必要な個所が確実に遮蔽され、アイソレーション特性が改善されたモジュールに関する。
積層回路基板や、積層回路基板を使用した積層電子部品や、積層回路基板を使用したモジュールが、種々の電子機器に広く使用されている。
積層回路基板、積層電子部品、モジュールにおいては、周波数の近い信号が流れる配線導体パターンや、外部端子や、ビア導体などを、相互に近い距離に配置せざるを得ない場合がある。このような場合に、両者の間を有効に遮蔽(シールド)しなければ、両者間でいわゆるクロストークが発生し、積層回路基板、積層電子部品、モジュールのアイソレーション特性を低下させてしまう場合がある。
そこで、従来、遮蔽が必要な個所に、グランド電位に接続された線路状の導体パターンを設け、両側のアイソレーションを取る場合があった。
特許文献1(WO2012/105302号公報)に、そのような線路状の導体パターンを備えたモジュールが開示されている。図8に、特許文献1に開示されたモジュール1100の下側主面(底面)を示す。
モジュール1100は、下側主面に、複数の外部端子(裏面端子)202a〜202aaが形成されている。また、このモジュールは、下側主面に、外部端子の1つとして大きなグランド端子203が形成されている。
モジュール1100は、アイソレーションを取りたい外部端子202a〜202aaの間に、一端がグランド端子203に接続され、他端が開放された、複数の線路状の導体パターン204a〜204oが形成されている。たとえば、線路状の導体パターン204aは、外部端子202bと外部端子202cとの間を遮蔽している。また、線路状の導体パターン204bは、外部端子202dと外部端子202eとの間を遮蔽している。同様に、残りの線路状の導体パターン204c〜204oも、それぞれ、両側間を遮蔽している。なお、特許文献1においては、線路状の導体パターン204a〜204oを、両側間に寄生容量が発生することを抑制するためのもの、たとえば線路状の導体パターン204aであれば、外部端子202bと外部端子202cとの間に寄生容量が発生することを抑制するためのものとして説明しているが、線路状の導体パターン204a〜204oは、両側間のアイソレーションを改善するためのものということもできる。
WO2012/105302号公報
しかしながら、モジュール1100の線路状の導体パターン204a〜204oは、それぞれ、一端がグランド端子203に接続されているが、他端が開放されているため、遮蔽効果(シールド効果)が弱いという問題があった。すなわち、まだ、両側間のアイソレーションを改善する機能が不十分であるという問題があった。
本発明は、上述した従来の問題を解決するためになされたものであり、その手段として本発明の積層回路基板は、複数の絶縁体層が積層された積層体と、 絶縁体層の層間に形成された導体パターンと、絶縁体層を貫通して形成されたビア導体と、積層体の下側主面に形成された外部端子と、を備え、積層体の少なくとも1つの側面に、グランド電位に接続されたシールド電極層が形成され、絶縁体層の層間に、被遮蔽要素を包囲する少なくとも1つの包囲導体パターンが、導体パターンの1つとして形成され、包囲導体パターンの両端が、それぞれ、積層体の同一の側面においてシールド電極層に接続され、絶縁体層の積層方向から見たとき、包囲導体パターンとシールド電極層とによって、遮蔽要素が包囲されたものとした。
なお、導体パターンには、包囲導体パターンの他に、配線導体パターン、キャパシタ導体パターン、インダクタ導体パターン、グランド導体パターンなどが存在する。なお、配線導体パターンとは、同一平面上の2カ所を接続するための導体パターンである。キャパシタ導体パターンとは、キャパシタを構成するための導体パターンである。インダクタ導体パターンとは、インダクタを構成するための導体パターンである。グランド導体パターンとは、グランド電位を備えた導体パターンである。
被遮蔽要素は、配線導体パターン、キャパシタ導体パターン、インダクタ導体パターン、ビア導体、外部端子から選ばれた少なくとも1つとすることができる。被遮蔽要素は、包囲導体パターンによって、包囲導体パターンの外部と遮蔽される。
前記包囲導体パターンは、前記被遮蔽要素および前記シールド電極層と反対側の部分が、グランド導体パターンと、相互に接続されたものとすることができる。この場合には、グランド導体パターンが、包囲導体パターンの一部分を構成する。
包囲導体パターンと被遮蔽要素とが、それぞれ、絶縁体層の同一の層間に形成されたものとすることができる。この場合には、包囲導体パターンによって、被遮蔽要素と、包囲導体パターンの外部とを、確実に遮蔽することができる。なお、本出願書類においては、積層体の下側主面および上側主面も、それぞれ、絶縁体層の層間の1つとして扱う。
あるいは、包囲導体パターンと被遮蔽要素とが、絶縁体層の異なる層間に形成されたものとすることができる。すなわち、通常、1層の絶縁体層は厚みが小さいので、包囲導体パターンと被遮蔽要素とが、絶縁体層の異なる層間に形成されていても、包囲導体パターンによって、被遮蔽要素と、包囲導体パターンの外部とを遮蔽することができる。なお、上述したとおり、本出願書類においては、積層体の下側主面および上側主面も、それぞれ、絶縁体層の層間の1つとして扱う。
包囲導体パターンと被遮蔽要素とが、絶縁体層の隣接する異なる層間に形成された場合において、絶縁体層の積層方向に積層体を透視した場合に、包囲導体パターンと被遮蔽要素とが重なりを持たないことが好ましい。この場合には、包囲導体パターンと被遮蔽要素との間に浮遊容量が発生することを防止することができる。あるいは逆に、絶縁体層の積層方向に積層体を透視した場合に、包囲導体パターンと被遮蔽要素とが重なりを持つことも好ましい。この場合には、その包囲導体パターンとその被遮蔽要素との間に構成される容量を、積層回路基板に構成する回路のキャパシタとして利用することができる。
本発明の積層回路基板を使用して、積層電子部品を作製することができる。この場合には、積層体の側面に形成されたシールド電極層が延長され、積層体の上側主面を覆っていることが好ましい。この場合には、積層電子部品の内部の遮蔽が必要な個所が包囲導体パターンによって遮蔽されるため、アイソレーション特性に優れた積層電子部品を得ることができる。また、シールド電極層によって、積層電子部品の内部の回路と外部とが遮蔽されるため、内部の回路が外部のノイズによって影響を受けること、および、内部の回路が外部にノイズを与えることが、それぞれ抑制される。
本発明の積層回路基板を使用して、モジュールを作製することができる。この場合には、積層回路基板の上側主面に実装用端子が形成され、実装用端子に電子部品が実装され、積層回路基板の上側主面に電子部品を覆うように封止樹脂層が形成され、積層回路基板の側面に形成されたシールド電極層が延長され、封止樹脂層の表面をキャップ状に覆っていることが好ましい。この場合には、モジュールの内部の遮蔽が必要な個所が包囲導体パターンによって遮蔽されるため、アイソレーション特性に優れたモジュールを得ることができる。また、シールド電極層によって、モジュールの内部の回路と外部とが遮蔽されるため、内部の回路が外部のノイズによって影響を受けること、および、内部の回路が外部にノイズを与えることが、それぞれ抑制される。
本発明の積層回路基板は、グランド電位に接続された包囲導体パターンによって被遮蔽要素が完全に包囲され、被遮蔽要素が包囲導体パターンの外部から確実に遮蔽されるため、優れたアイソレーション特性を備えている。また、本発明の積層回路基板は、線路状の導体パターンの端部とビア導体とを接続していた従来の積層回路基板に比べて、製造が容易であり、良品率も高い。
また、本発明の積層回路基板を使用した本発明の積層電子部品やモジュールも、優れたアイソレーション特性を備え、製造が容易であり、良品率も高い。
第1実施形態にかかる積層回路基板100を示す断面図である。 積層回路基板100の積層体1を構成する絶縁体層1a〜1gを示す積図である。 第2実施形態にかかるモジュール200を示す断面図である。 第3実施形態にかかる積層回路基板300の積層体61を構成する絶縁体層61aを示す平面図である。 第4実施形態にかかる積層回路基板400の積層体71を構成する絶縁体層71aの下側主面を示す透視図である 第5実施形態にかかる積層回路基板500の積層体81を構成する絶縁体層81b、81cを示す平面図(積図)である。 第6実施形態にかかる積層電子部品600を示す断面図である。 特許文献1に開示されたモジュール1100を示す底面図である。
以下、図面とともに、本発明を実施するための形態について説明する。
なお、各実施形態は、本発明の実施の形態を例示的に示したものであり、本発明が実施形態の内容に限定されることはない。また、異なる実施形態に記載された内容を組合せて実施することも可能であり、その場合の実施内容も本発明に含まれる。また、図面は、明細書の理解を助けるためのものであって、模式的に描画されている場合があり、描画された構成要素または構成要素間の寸法の比率が、明細書に記載されたそれらの寸法の比率と一致していない場合がある。また、明細書に記載されている構成要素が、図面において省略されている場合や、個数を省略して描画されている場合などがある。
[第1実施形態]
図1、図2に、第1実施形態にかかる積層回路基板100を示す。ただし、図1は積層回路基板100の断面図であり、図2は積層回路基板100の積層体1を構成する絶縁体層1a〜1gの積図である。なお、図1は、図2の一点鎖線X-X部分を示している。また、図2は、各絶縁体層1a〜1gの上側主面を示しているが、絶縁体層1aについてのみ、下側主面に形成された外部端子3a〜3uも透視して示している。
積層回路基板100は、積層体1を備える。
本実施形態においては、積層体1の材質に、低温同時焼成セラミックスを使用した。低温同時焼成セラミックスを使用すれば、導体パターン、端子、ビア導体などの形成と、積層体1の焼成とを同時におこなうことができ、製造が容易になる。ただし、積層体1の材質は任意であり、他の種類のセラミックスや、樹脂などであっても良い。
積層体1は、下から順に、7層の絶縁体層1a〜1gが積層されたものからなる。
積層体1には、4つの側面を囲むように、シールド電極層2が形成されている。本実施形態においては、シールド電極層2は、図1に示すように、SUS(ステンレス鋼)からなる下層2aと、Cuからなる中層2bと、SUSからなる上層2cの3層構造に形成されている。なお、図2においては、見やすくするために、シールド電極層2を1層として示している。ただし、シールド電極層2の構造および材質は任意であり、上述した内容には限られない。
シールド電極層2は、後述するように、積層体1の内部に形成されたグランド導体パターン5a、5bと接続され、グランド電位を備えている。シールド電極層2は、積層回路基板100の内部の回路と、外部とを遮蔽し、内部の回路が外部のノイズによって影響を受けること、および、内部の回路が外部にノイズを与えることを、それぞれ抑制している。
以下、積層体1を構成する絶縁体層1a〜1gの詳細について説明する。
絶縁体層1aの下側主面に、外部端子3a〜3uが形成されている。外部端子3uは、外部端子3a〜3tに比べて形状が大きい。外部端子3a〜3tは、外部端子3uの周囲に矩形状に配置されている。外部端子3a〜3tには、信号端子や、制御端子や、グランド端子が含まれている。外部端子3uは、グランド端子である。
絶縁体層1aを貫通して、複数のビア導体(ビア導体4a〜4nなど)が形成されている。なお、ビア導体については、必要がある場合にのみ符号を付与して説明をおこない、必要がない場合には符号の付与および説明を省略する。
絶縁体層1aの上側主面に、グランド導体パターン5aが形成されている。グランド導体パターン5aは、複数個所で、シールド電極層2に接続されている。また、グランド導体パターン5aは、ビア導体4g、4h、4i、4jによって外部端子3uに接続され、ビア導体4kによって外部端子3bに接続され、ビア導体4lによって外部端子3gに接続され、ビア導体4mによって外部端子3pに接続され、ビア導体4nによって外部端子3qに接続されている。
また、絶縁体層1aの上側主面に、包囲導体パターン6a〜6fが形成されている。包囲導体パターン6eと包囲導体パターン6fは、それぞれの一部分が共通化されている。包囲導体パターン6a〜6fは、それぞれ、両端がシールド電極層2に接続されることによって、グランド電位を備えている。
包囲導体パターン6a〜6fには、それぞれ、被遮蔽要素(包囲されて遮蔽される要素)が設けられている。包囲導体パターン6aは、ビア導体4aを包囲して、ビア導体4aと包囲導体パターン6aの外部とを遮蔽している。同様に、包囲導体パターン6bは、ビア導体4bを包囲して、ビア導体4bと包囲導体パターン6bの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6cは、ビア導体4cを包囲して、ビア導体4cと包囲導体パターン6cの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6dは、ビア導体4dを包囲して、ビア導体4dと包囲導体パターン6dの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6eは、ビア導体4eを包囲して、ビア導体4eと包囲導体パターン6eの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6fは、ビア導体4fを包囲して、ビア導体4fと包囲導体パターン6fの外部とを遮蔽している。
また、包囲導体パターン6a〜6fは、層は異なるが、絶縁体層1aの下側主面に形成された外部端子3c、3e、3j、3n、3s、3tも包囲している。すなわち、通常、1層の絶縁体層1aの厚みは非常に薄いため、包囲導体パターン6a〜6fは、層は異なるが、外部端子3c、3e、3j、3n、3s、3tを包囲し、外部と遮蔽する効果を奏している。具体的には、包囲導体パターン6aが、外部端子3cを包囲して、外部端子3cと包囲導体パターン6aの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6bが、外部端子3eを包囲して、外部端子3eと包囲導体パターン6bの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6cが、外部端子3jを包囲して、外部端子3jと包囲導体パターン6cの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6dが、外部端子3nを包囲して、外部端子3nと包囲導体パターン6dの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6eが、外部端子3sを包囲して、外部端子3sと包囲導体パターン6eの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6fが、外部端子3tを包囲して、外部端子3tと包囲導体パターン6fの外部とを遮蔽している。
絶縁体層1bを貫通して、複数のビア導体(ビア導体4a〜4f、4oなど)が形成されている。
絶縁体層1bの上側主面に、キャパシタ導体パターン7a、7bが形成されている。キャパシタ導体パターン7aは、グランド導体パターン5aとの間に構成される容量によってキャパシタを構成している。キャパシタ導体パターン7aは、ビア導体4oによって、外部端子3dに接続されている。キャパシタ導体パターン7bも、グランド導体パターン5aとの間に構成される容量によってキャパシタを構成している。キャパシタ導体パターン7bは、ビア導体4cによって、外部端子3jに接続されている。
また、絶縁体層1bの上側主面に、包囲導体パターン6g〜6lが形成されている。包囲導体パターン6g〜6lは、それぞれ、両端がシールド電極層2に接続されることによって、グランド電位を備えている。包囲導体パターン6gは、ビア導体4aを包囲して、ビア導体4aと包囲導体パターン6gの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6hは、ビア導体4bを包囲して、ビア導体4bと包囲導体パターン6hの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6iは、キャパシタ導体パターン7bおよびビア導体4cを包囲して、キャパシタ導体パターン7b、ビア導体4cと、包囲導体パターン6iの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6jは、ビア導体4dを包囲して、ビア導体4dと包囲導体パターン6jの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6kは、ビア導体4eを包囲して、ビア導体4eと包囲導体パターン6kの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6lは、ビア導体4fを包囲して、ビア導体4fと包囲導体パターン6lの外部とを遮蔽している。
絶縁体層1cを貫通して、複数のビア導体(ビア導体4a、4b、4d〜4f、4pなど)が形成されている。
絶縁体層1cの上側主面に、キャパシタ導体パターン7cが形成されている。キャパシタ導体パターン7cは、キャパシタ導体パターン7aとの間に構成される容量によってキャパシタを構成している。また、キャパシタ導体パターン7cは、後述するグランド導体パターン5bとの間に構成される容量によってキャパシタを構成している。
また、絶縁体層1cの上側主面に、配線導体パターン8aが形成されている。配線導体パターン8aは、ビア導体4pによって、外部端子3lに接続されている。
さらに、絶縁体層1cの上側主面に、包囲導体パターン6m〜6rが形成されている。包囲導体パターン6m〜6rは、それぞれ、両端がシールド電極層2に接続されることによって、グランド電位を備えている。包囲導体パターン6mは、ビア導体4aを包囲して、ビア導体4aと包囲導体パターン6mの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6nは、ビア導体4bを包囲して、ビア導体4bと包囲導体パターン6nの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6oは、配線導体パターン8aおよびビア導体4pを包囲して、配線導体パターン8a、ビア導体4pと、包囲導体パターン6oの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6pは、ビア導体4dを包囲して、ビア導体4dと包囲導体パターン6pの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6qは、ビア導体4eを包囲して、ビア導体4eと包囲導体パターン6qの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6rは、ビア導体4fを包囲して、ビア導体4fと包囲導体パターン6rの外部とを遮蔽している。
絶縁体層1dを貫通して、複数のビア導体(ビア導体4a、4e、4f、4l〜4n、4qなど)が形成されている。
絶縁体層1dの上側主面に、グランド導体パターン5bが形成されている。グランド導体パターン5bは、複数個所で、シールド電極層2に接続されている。また、グランド導体パターン5bは、ビア導体4lから4nによって、グランド導体パターン5aに接続されている。さらに、グランド導体パターン5bは、ビア導体4qによって、外部端子3oに接続されている。
また、絶縁体層1dの上側主面に、包囲導体パターン6s〜6uが形成されている。包囲導体パターン6s〜6uは、それぞれ、両端がシールド電極層2に接続されることによって、グランド電位を備えている。包囲導体パターン6sは、ビア導体4aを包囲して、ビア導体4aと包囲導体パターン6sの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6tは、ビア導体4eを包囲して、ビア導体4eと包囲導体パターン6tの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6uは、ビア導体4fを包囲して、ビア導体4fと包囲導体パターン6uの外部とを遮蔽している。
絶縁体層1eを貫通して、複数のビア導体(ビア導体4a、4e、4f、4r、4sなど)が形成されている。
絶縁体層1eの上側主面に、インダクタ導体パターン9a、9bが形成されている。インダクタ導体パターン9aは、ビア導体4rによって、外部端子3hに接続されている。インダクタ導体パターン9bは、ビア導体4sによって、配線導体パターン8aに接続されている。
また、絶縁体層1eの上側主面に、包囲導体パターン6v〜6yが形成されている。包囲導体パターン6v〜6yは、それぞれ、両端がシールド電極層2に接続されることによって、グランド電位を備えている。包囲導体パターン6vは、ビア導体4aを包囲して、ビア導体4aと包囲導体パターン6vの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6wは、インダクタ導体パターン9aおよびビア導体4rを包囲して、インダクタ導体パターン9a、ビア導体4rと、包囲導体パターン6wの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6xは、ビア導体4eを包囲して、ビア導体4eと包囲導体パターン6xの外部とを遮蔽している。包囲導体パターン6yは、ビア導体4fを包囲して、ビア導体4fと包囲導体パターン6yの外部とを遮蔽している。
絶縁体層1fを貫通して、複数のビア導体が形成されている。
絶縁体層1fの上側主面に、複数の配線導体パターン8b〜8rが形成されている。ただし、配線導体パターン8gと8kは、インダクタ導体パターンとしての機能も果たしている。そして、配線導体パターン8b〜8qが、ビア導体によって、外部端子3a、3c3e、3f、3i、3k、3m、3n、3r〜3t、キャパシタ導体パターン7c、グランド導体パターン5b、インダクタ導体パターン9a、9bに接続されている。なお、これらの詳細な接続関係については、煩雑となるので説明を省略する。
絶縁体層1gを貫通して、複数のビア導体が形成されている。
絶縁体層1gの上側主面に、複数の実装用端子10a〜10tが形成されている。実装用端子10a〜10tは、ビア導体によって、配線導体パターン8b〜8o、8rに接続されている。なお、これらの詳細な接続関係については、煩雑となるので説明を省略する。
外部端子3a〜3t、ビア導体4a〜4sなど、グランド導体パターン5a、5b、包囲導体パターン6a〜6w、キャパシタ導体パターン7a〜7c、配線導体パターン8a〜8r、インダクタ導体パターン9a、9b、実装用端子10a〜10tの材質には、銅、銀など、あるいは、これらの合金を主成分として用いることができる。なお、外部端子3a〜3u、実装用端子10a〜10tの表面には、さらに、めっき層を形成しても良い。
以上の構造からなる第1実施形態にかかる積層回路基板100は、たとえば、従来から一般的に実施されている積層回路基板の製造方法により製造することができる。概略を説明すると、次のとおりである。
まず、所定の材料(低温同時焼成セラミックスなど)を使って複数のセラミックグリーンシートを作製する。次に、セラミックグリーンシートに、ビア導体用の孔を設ける。次に、ビア導体用の孔に導電性ペーストを充填する。併せて、セラミックグリーンシートの主面に、導電性ペーストを塗布して、外部端子3a〜3u、グランド導体パターン5a、5b、包囲導体パターン6a〜6w、キャパシタ導体パターン7a〜7c、配線導体パターン8a〜8r、インダクタ導体パターン9a、9b、実装用端子10a〜10tを形成するためのパターンを形成する。次に、セラミックグリーンシートを積層、加圧して、未焼成のマザー積層体を作製する。次に、未焼成のマザー積層体を、個々の積層回路基板の大きさに切断して、未焼成の積層体を作製する。次に、未焼成の積層体を所定のプロファイルで焼成して、積層体1を作製する。最後に、積層体1の側面に、たとえばスパッタリング法により、下層2a、中層2b、上層2cからなるシールド電極層2を形成して、第1実施形態にかかる積層回路基板100を完成させる。
以上説明したように、第1実施形態にかかる積層回路基板100は、積層体1の層間(絶縁体層1a〜1gの層間)に、包囲導体パターン6a〜6wが形成されている。包囲導体パターン6a〜6wは、両端が、それぞれ、積層体1の側面に形成されたシールド電極層2に接続されている。なお、シールド電極層2は、グランド導体パターン5a、5bに接続されているため、グランド電位を備えている。
包囲導体パターン6a〜6wは、両端が、それぞれ、グランド電位を備えたシールド電極層2に接続されており、かつ、被遮蔽要素を完全に包囲するため、被遮蔽要素と外部とを確実に遮蔽する。したがって、積層回路基板100は、アイソレーション特性が改善されている。
また、積層回路基板100においては、包囲導体パターン6a〜6wの先端と、シールド電極層2とが、一定の幅をもって接続されているため、包囲導体パターン6a〜6wを形成するための導電性ペーストのパターンの塗布位置がずれても、接続不良が発生しない。すなわち、積層回路基板100は、線路状の導体パターンの先端とビア導体とを接続する従来の方法に比べて、製造が容易であり、かつ、不良品の発生率が低い。
さらに、積層回路基板100は、シールド電極層2によって、積層体1の内部の回路と外部とが遮蔽されているため、内部の回路が外部のノイズによって影響を受けること、および、内部の回路が外部にノイズを与えることが、それぞれ抑制されている。
[第2実施形態]
図3に、第2実施形態にかかるモジュール200を示す。ただし、図2はモジュール200の断面図である。
モジュール200は、第1実施形態にかかる積層回路基板100の積層体1に、電子部品51a〜51cなどを実装したものからなる。より具体的には、積層体1の上側主面に形成された実装用端子10a〜10tに、バンプ53や、はんだ54を使って、電子部品51a〜51cなどを実装した。図3において、電子部品51aは、半導体装置を示している。電子部品51b、51cは、キャパシタ、インダクタ、抵抗などの受動部品を示している。ただし、実装される電子部品の種類や個数は任意であり、図3に示すものには限定されない。
さらに、モジュール200においては、積層体1の上側主面に、電子部品51a〜51cなどを覆うように、封止樹脂層55が形成されている。そして、積層体1の側面、および、封止樹脂層55の表面に、SUSからなる下層52aと、Cuからなる中層52bと、SUSからなる上層52cの3層構造からなるシールド電極層52が形成されている。
シールド電極層52には、積層体1の層間(絶縁体層1a〜1gの層間)に形成された包囲導体パターン6a〜6wの、それぞれの両端が接続されている。包囲導体パターン6a〜6wは、被遮蔽要素を完全に包囲し、被遮蔽要素と外部とを確実に遮蔽する。
上述した構造からなる第2実施形態にかかるモジュール200は、たとえば、次の方法で製造することができる。
まず、第1実施形態において説明した方法により、積層体1を作製する。次に、積層体1の上側主面に形成された実装用端子10a〜10tに、バンプ53や、はんだ54を使って、電子部品51a〜51cなどを実装する。次に、積層体1の上側主面に、電子部品51a〜51cなどを覆うように、半溶融状態の樹脂シートを被せ、加圧し、さらに加熱し、樹脂シートを硬化させて封止樹脂層55を形成する。最後に、積層体1の側面、および、封止樹脂層55の表面に、たとえばスパッタリング法により、下層52a、中層52b、上層52cからなるシールド電極層52を形成して、第2実施形態にかかるモジュール200を完成させる。
第2実施形態にかかるモジュール200は、内部の遮蔽が必要な個所が包囲導体パターン6a〜6wによって遮蔽されているため、アイソレーション特性に優れている。
[第3実施形態]
図4に、第3実施形態にかかる積層回路基板300を示す。ただし、図4は、積層回路基板300の積層体61を構成する絶縁体層61aの上側主面を示す平面図である。
第3実施形態にかかる積層回路基板300は、第1実施形態にかかる積層回路基板100に変更を加えた。より具体的には、積層回路基板100においては、絶縁体層1aの上側主面に形成された包囲導体パターン6a〜6fは、いずれも、グランド導体パターン5aから分離していた。積層回路基板300では、これに変更を加えて、絶縁体層61aの上側主面に形成された包囲導体パターン66a〜66fの中間部分を、いずれも、グランド導体パターン65aに接続した。
積層回路基板300においても、包囲導体パターン66a〜66fは、被遮蔽要素であるビア導体4a〜4fと外部とを確実に遮蔽する。加えて、積層回路基板300では、絶縁体層61aの平面方向のスペースが有効に利用されており、積層体61の小型化が可能になっている。
[第4実施形態]
図5に、第4実施形態にかかる積層回路基板400を示す。ただし、図5は、積層回路基板400の積層体71を構成する絶縁体層71aの下側主面を示す透視図である。
第4実施形態にかかる積層回路基板400は、第1実施形態にかかる積層回路基板100に変更を加えた。より具体的には、積層回路基板100においては、包囲導体パターン6a〜6fは、いずれも、絶縁体層1aの上側主面に形成されていた。積層回路基板400では、これに加えて、絶縁体層71aの下側主面にも、包囲導体パターン76a〜76fを形成した。すなわち、積層回路基板400においては、被遮蔽要素である外部端子3c、3e、3j、3s、3tと同じ層(同じ面)に、包囲導体パターン76a〜76fを形成した。そして、包囲導体パターン76aが外部端子3cを包囲し、包囲導体パターン76bが外部端子3eを包囲し、包囲導体パターン76cが外部端子3jを包囲し、包囲導体パターン76dが外部端子3nを包囲し、包囲導体パターン76eが外部端子3sを包囲し、包囲導体パターン76fが外部端子3tを包囲する。包囲導体パターン76a〜76fは、それぞれ、両端が、シールド電極層2に接続されている。
積層回路基板400においては、包囲導体パターン76a〜76fが、それぞれ、同じ層に形成された、外部端子3c、3e、3j、3s、3tと外部とを、より確実に遮蔽している。
[第5実施形態]
図6に、第5実施形態にかかる積層回路基板500を示す。ただし、図6は、積層回路基板500の積層体81を構成する絶縁体層81bと絶縁体層81cとの上側主面を示す平面図(積図)である。
第5実施形態にかかる積層回路基板500は、第1実施形態にかかる積層回路基板100に変更を加えた。より具体的には、積層回路基板100においては、絶縁体層1bの上側主面に形成された包囲導体パターン6jと、絶縁体層1cの上側主面に形成されたキャパシタ導体パターン7cとは、重なりを持たなかった。積層回路基板500では、これに変更を加え、絶縁体層81bの上側主面に、包囲導体パターン6jよりも中心側に延伸した包囲導体パターン86jを形成し、絶縁体層81cの上側主面に、キャパシタ導体パターン7cよりも外周側に延伸したキャパシタ導体パターン87cを形成し、包囲導体パターン86jとキャパシタ導体パターン87cとに重なりを持たせた。そして、包囲導体パターン86jとキャパシタ導体パターン87cとの間に構成される容量により、新たなキャパシタCを追加した。
このように、包囲導体パターン86jを、キャパシタの一方の電極として利用することもできる。なお、包囲導体パターン86jはグランド電位を備えているため、キャパシタCは、いわゆるシャントキャパシタになる。積層回路基板500では、キャパシタCを内部回路の構成要素として活用している。
[第6実施形態]
図7に、第6実施形態にかかる積層電子部品600を示す。ただし、図7は、積層電子部品600の断面図である。
上述した第2実施形態にかかるモジュール200は、第1実施形態にかかる積層回路基板100の上側主面に、電子部品51a〜51cなどを実装していた。第6実施形態にかかる積層電子部品600は、これに代えて、電子部品51a〜51cなどを実装する代わりに、積層体91の内部に、新たにインダクタLや、キャパシタC1、C2などを形成した。
積層電子部品600は、積層体91の内部に、インダクタLや、キャパシタC1、C2などを使って、たとえばLCフィルターなどの回路が構成されている。
また、積層電子部品600は、積層体91の側面および上側主面に、SUSからなる下層92aと、Cuからなる中層92bと、SUSからなる上層92cの3層構造からなるシールド電極層92が形成されている。
さらに、積層電子部品600は、積層体91の層間に、包囲導体パターン96e、96k、96t、96xが形成されている。包囲導体パターン96e、96k、96t、96xは、それぞれ、両端がシールド電極層92に接続されている。包囲導体パターン96e、96k、96t、96xは、いずれも、ビア導体94eを被遮蔽要素として包囲している。
第6実施形態にかかる積層電子部品600は、内部の遮蔽が必要な個所が包囲導体パターン96e、96k、96t、96xによって遮蔽されているため、アイソレーション特性に優れている。
以上、第1実施形態にかかる積層回路基板100、第2実施形態にかかるモジュール200、第3実施形態〜第5実施形態にかかる積層回路基板300〜500、第6実施形態にかかる積層電子部品600について説明した。しかしながら、本発明が上述した内容に限定されることはなく、発明の趣旨に沿って、種々の変更をなすことができる。
たとえば、第1実施形態において、図2に示した、積層回路基板100の積層体1を構成する絶縁体層1a〜1gの積図は、あくまでも例示である。すなわち、積層回路基板100の内部に形成される回路は、上述した内容に限定されることはなく、様々な回路を構成することができる。また、積層体1内に、キャパシタ、インダクタに加えて、抵抗など、他の種類の部品要素を形成しても良い。
また、第2実施形態にかかるモジュール200においては、積層体1の上側主面に、電子部品51a〜51cとして、半導体装置と、キャパシタ、インダクタ、抵抗などの受動部品とが実装されていたが、実装される電子部品の種類は任意であり、上述した内容には限定されない。たとえば、弾性波装置を実装しても良い。
1、91・・・積層体
1a〜1g、61a、71a、81b、81c・・・絶縁層
2、52、92・・・シールド電極層
2a、52a、92a・・・下層
2b、52b、92b・・・中層
2c、52c、92c・・・上層
3a〜3u・・・外部端子
4a〜4s、94e・・・ビア導体
5a、5b・・・グランド導体パターン
6a〜6w、66a〜66f、76a〜76f、86j、96e、96k、96q、96t、96x・・・包囲導体パターン
7a〜7c、87c・・・キャパシタ導体パターン
8a〜8r・・・配線導体パターン
9a、9b・・・インダクタ導体パターン
10a〜10t・・・実装用端子
51a〜51c・・・電子部品
55・・・封止樹脂層

Claims (9)

  1. 複数の絶縁体層が積層された積層体と、
    前記絶縁体層の層間に形成された導体パターンと、
    前記絶縁体層を貫通して形成されたビア導体と、
    前記積層体の下側主面に形成された外部端子と、を備えた積層回路基板であって、
    前記積層体の少なくとも1つの側面に、グランド電位に接続されたシールド電極層が形成され、
    前記絶縁体層の層間に、被遮蔽要素を包囲する少なくとも1つの包囲導体パターンが、前記導体パターンの1つとして形成され、
    前記包囲導体パターンの両端が、それぞれ、前記積層体の同一の前記側面において前記シールド電極層に接続され
    前記絶縁体層の積層方向から見たとき、前記包囲導体パターンと前記シールド電極層とによって、前記遮蔽要素が包囲された積層回路基板。
  2. 前記被遮蔽要素が、配線導体パターン、キャパシタ導体パターン、インダクタ導体パターン、前記ビア導体、前記外部端子から選ばれた少なくとも1つである、請求項1に記載された積層回路基板。
  3. 前記包囲導体パターンは、前記被遮蔽要素および前記シールド電極層と反対側の部分が、グランド導体パターンと、相互に接続されている、請求項1または2のいずれか1項に記載された積層回路基板。
  4. 前記包囲導体パターンと前記被遮蔽要素とが、それぞれ、前記絶縁体層の同一の層間に形成された、請求項1ないし3のいずれか1項に記載された積層回路基板。
  5. 前記包囲導体パターンと前記被遮蔽要素とが、前記絶縁体層の異なる層間に形成された、請求項1ないし3のいずれか1項に記載された積層回路基板。
  6. 前記絶縁体層の積層方向に前記積層体を透視した場合に、前記包囲導体パターンと前記被遮蔽要素とが重なりを持たない、請求項5に記載された積層回路基板。
  7. 前記絶縁体層の積層方向に前記積層体を透視した場合に、前記包囲導体パターンと前記被遮蔽要素とが重なりを持ち、当該包囲導体パターンと当該被遮蔽要素との間に構成される容量によりキャパシタが構成された、請求項5に記載された積層回路基板。
  8. 請求項1ないし7のいずれか1項に記載された積層回路基板を使用した積層電子部品であって、
    前記積層体の側面に形成された前記シールド電極層が延長され、前記積層体の上側主面を覆っている積層電子部品。
  9. 請求項1ないし7のいずれか1項に記載された積層回路基板を使用したモジュールであって、
    前記積層回路基板の上側主面に実装用端子が形成され、
    前記実装用端子に電子部品が実装され、
    前記積層回路基板の上側主面に前記電子部品を覆うように封止樹脂層が形成され、
    前記積層回路基板の側面に形成された前記シールド電極層が延長され、前記封止樹脂層の表面をキャップ状に覆っているモジュール。
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