JP6652275B2 - シリコン系溶融組成物およびこれを用いたSiC単結晶の製造方法 - Google Patents
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- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 177
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 title claims description 146
- 239000010703 silicon Substances 0.000 title claims description 125
- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims description 102
- 239000000203 mixture Substances 0.000 title claims description 59
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 22
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 204
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 204
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 claims description 107
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 60
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 57
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 40
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 33
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 23
- 239000000155 melt Substances 0.000 claims description 22
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 21
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 20
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 20
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 20
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 claims description 18
- 150000001721 carbon Chemical group 0.000 claims description 17
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 claims description 17
- VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N hafnium atom Chemical compound [Hf] VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 17
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims description 17
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 17
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 239000010432 diamond Substances 0.000 claims description 15
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 238000003775 Density Functional Theory Methods 0.000 claims description 10
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 10
- 102100021164 Vasodilator-stimulated phosphoprotein Human genes 0.000 claims description 8
- 108010054220 vasodilator-stimulated phosphoprotein Proteins 0.000 claims description 8
- 238000004781 supercooling Methods 0.000 claims description 2
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 26
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 26
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 16
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 14
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 14
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 14
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 9
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 7
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 4
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 3
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000000815 Acheson method Methods 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- AZDRQVAHHNSJOQ-UHFFFAOYSA-N alumane Chemical group [AlH3] AZDRQVAHHNSJOQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000002485 combustion reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005314 correlation function Methods 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000003795 desorption Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 239000007770 graphite material Substances 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 239000011812 mixed powder Substances 0.000 description 1
- 238000000329 molecular dynamics simulation Methods 0.000 description 1
- 238000004698 pseudo-potential method Methods 0.000 description 1
- 238000005092 sublimation method Methods 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02107—Forming insulating materials on a substrate
- H01L21/02109—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates
- H01L21/02112—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer
- H01L21/02123—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer the material containing silicon
- H01L21/02167—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer the material containing silicon the material being a silicon carbide not containing oxygen, e.g. SiC, SiC:H or silicon carbonitrides
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B9/00—Single-crystal growth from melt solutions using molten solvents
- C30B9/04—Single-crystal growth from melt solutions using molten solvents by cooling of the solution
- C30B9/08—Single-crystal growth from melt solutions using molten solvents by cooling of the solution using other solvents
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- C30B19/02—Liquid-phase epitaxial-layer growth using molten solvents, e.g. flux
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- C30B19/00—Liquid-phase epitaxial-layer growth
- C30B19/02—Liquid-phase epitaxial-layer growth using molten solvents, e.g. flux
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- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
- C30B29/10—Inorganic compounds or compositions
- C30B29/36—Carbides
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B9/00—Single-crystal growth from melt solutions using molten solvents
- C30B9/04—Single-crystal growth from melt solutions using molten solvents by cooling of the solution
- C30B9/06—Single-crystal growth from melt solutions using molten solvents by cooling of the solution using as solvent a component of the crystal composition
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- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02367—Substrates
- H01L21/0237—Materials
- H01L21/02373—Group 14 semiconducting materials
- H01L21/02378—Silicon carbide
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- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02518—Deposited layers
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- H01L21/02524—Group 14 semiconducting materials
- H01L21/02529—Silicon carbide
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- H01L21/02587—Structure
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Description
本出願は、2015年10月26日付の韓国特許出願第10−2015−0148846号に基づく優先権の利益を主張し、当該韓国特許出願の文献に開示された全ての内容は本明細書の一部として含まれる。
Csi sol=A−B+μ1−μ2 式(1)
式中、Aは、金属原子および炭素原子を含むシリコン結晶格子において、シリコン原子、炭素原子、および金属原子を含む第1評価格子が有する第1エネルギー(A)であり、
Bは、金属原子を含むシリコン結晶格子において、シリコン原子および金属原子を含む第2評価格子が有する第2エネルギー(B)であり、
μ1は、ダイヤモンド結晶構造のシリコンの総エネルギーを単位格子内に存在するシリコン原子数で割った化学ポテンシャルであって−5.422の定数であり、
μ2は、ダイヤモンド結晶構造の炭素の総エネルギーを単位格子内に存在する炭素原子数で割った化学ポテンシャルであって−9.097の定数である。
Csi sol=A−B+μ1−μ2 式(1)
式中、Aは、金属原子および炭素原子を含むシリコン結晶格子において、シリコン原子、炭素原子、および金属原子を含む第1評価格子が有する第1エネルギー(A)であり、
Bは、金属原子を含むシリコン結晶格子において、シリコン原子および金属原子を含む第2評価格子が有する第2エネルギー(B)であり、
μ1は、ダイヤモンド結晶構造のシリコンの総エネルギーを単位格子内に存在するシリコン原子数で割った化学ポテンシャルであって−5.422の定数であり、
μ2は、ダイヤモンド結晶構造の炭素の総エネルギーを単位格子内に存在する炭素原子数で割った化学ポテンシャルであって−9.097の定数である。
Csi sol=A−B+μ1−μ2 式(1)
式中、Aは、金属原子および炭素原子を含むシリコン結晶格子において、金属原子、炭素原子、およびシリコン原子を含む第1評価格子が有する第1エネルギー(A)であり、
Bは、金属原子を含むシリコン結晶格子において、金属原子およびシリコン原子を含む第2評価格子が有する第2エネルギー(B)であり、
μ1は、ダイヤモンド結晶構造のシリコンの総エネルギーを単位格子内に存在するシリコン原子数で割った化学ポテンシャルであって−5.422の定数であり、
μ2は、ダイヤモンド結晶構造の炭素の総エネルギーを単位格子内に存在する炭素原子数で割った化学ポテンシャルであって−9.097の定数である。
Csi sol=A−B+μ1−μ2 式(1)
このように導出された溶解度パラメータ値は、シリコン系溶融組成物が含む金属によって変化する炭素の溶解度を定量的に示す。シリコン系溶融組成物が互いに異なる金属を含む場合、炭素の溶解度は異なり、それぞれは相異なる溶解度パラメータ値を有する。
Claims (23)
- シリコン、炭素、および下記式(1)で定義される溶解度パラメータ(Csi sol)に対して0.70≦Csi sol≦1.510を満足させる金属を含み、
溶液法によってSiC単結晶を形成するためのシリコン系溶融組成物:
Csi sol=A−B+μ1−μ2 式(1)
式中、Aは、金属原子および炭素原子を含むシリコン結晶格子において、金属原子、炭素原子、およびシリコン原子を含む第1評価格子が有する第1エネルギー(A)であり、
Bは、金属原子を含むシリコン結晶格子において、金属原子およびシリコン原子を含む第2評価格子が有する第2エネルギー(B)であり、
μ1は、ダイヤモンド結晶構造のシリコンの総エネルギーを単位格子内に存在するシリコン原子数で割った化学ポテンシャルであって−5.422の定数であり、
μ2は、ダイヤモンド結晶構造の炭素の総エネルギーを単位格子内に存在する炭素原子数で割った化学ポテンシャルであって−9.097の定数であり、
前記第1エネルギー、前記第2エネルギー、前記μ1、および前記μ2は、VASPコードを用いた汎密度関数方法(DFT、Density Functional Theory)を用いて導出する。 - 前記金属は、上記式(1)で定義される溶解度パラメータ(Csi sol)に対して0.72≦Csi sol≦1.36を満足させる、
請求項1に記載のシリコン系溶融組成物。 - 前記金属は、2種以上の金属を含む、
請求項1または2に記載のシリコン系溶融組成物。 - 前記金属は、アルミニウム、ニッケル、ハフニウム、ガリウム、およびタンタルを含む群より選択された少なくとも2種を含む、
請求項3に記載のシリコン系溶融組成物。 - 前記金属は、前記シリコンの総含有量100重量部を基準として25〜85重量部含まれる、
請求項3または4に記載のシリコン系溶融組成物。 - 前記金属は、20〜50at%含まれる、
請求項3から5のいずれか1項に記載のシリコン系溶融組成物。 - 前記金属は、アルミニウム、ニッケル、ハフニウム、ガリウム、およびタンタルを含む群より選択された少なくとも2種を含み、
前記金属は、前記シリコンの総含有量100重量部を基準として25〜85重量部含まれる、
請求項3に記載のシリコン系溶融組成物。 - 前記金属は、アルミニウム、ニッケル、ハフニウム、ガリウム、およびタンタルを含む群より選択された少なくとも2種を含み、
前記金属は、20〜50at%含まれる、
請求項3に記載のシリコン系溶融組成物。 - SiC種結晶を準備する段階と、
シリコン、炭素、および金属を含む溶融液を準備する段階と、
前記溶融液を過冷却させて、前記種結晶上にSiC単結晶を成長させる段階とを含み、
前記金属は、下記式(1)で定義される溶解度パラメータ(Csi sol)に対して0.70≦Csi sol≦1.510を満足させるSiC単結晶の製造方法:
Csi sol=A−B+μ1−μ2 式(1)
式中、Aは、金属原子および炭素原子を含むシリコン結晶格子において、金属原子、炭素原子、およびシリコン原子を含む第1評価格子が有する第1エネルギー(A)であり、
Bは、金属原子を含むシリコン結晶格子において、金属原子およびシリコン原子を含む第2評価格子が有する第2エネルギー(B)であり、
μ1は、ダイヤモンド結晶構造のシリコンの総エネルギーを単位格子内に存在するシリコン原子数で割った化学ポテンシャルであって−5.422の定数であり、
μ2は、ダイヤモンド結晶構造の炭素の総エネルギーを単位格子内に存在する炭素原子数で割った化学ポテンシャルであって−9.097の定数であり、
前記第1エネルギー、前記第2エネルギー、前記μ1、および前記μ2は、VASPコードを用いた汎密度関数方法(DFT、Density Functional Theory)を用いて導出する。 - 前記金属は、上記式(1)で定義される溶解度パラメータ(Csi sol)に対して0.72≦Csi sol≦1.36を満足させる、
請求項9に記載のSiC単結晶の製造方法。 - 前記金属は、2種以上の金属を含む、
請求項9または10に記載のSiC単結晶の製造方法。 - 前記金属は、アルミニウム、ニッケル、ハフニウム、ガリウム、およびタンタルを含む群より選択された少なくとも2種を含む、
請求項11に記載のSiC単結晶の製造方法。 - 前記金属は、前記シリコンの総含有量100重量部を基準として25〜85重量部含まれる、
請求項11または12に記載のSiC単結晶の製造方法。 - 前記金属は、20〜50at%含まれる、
請求項11から13のいずれか1項に記載のSiC単結晶の製造方法。 - 前記金属は、アルミニウム、ニッケル、ハフニウム、ガリウム、およびタンタルを含む群より選択された少なくとも2種を含み、
前記金属は、前記シリコンの総含有量100重量部を基準として25〜85重量部含まれる、
請求項11に記載のSiC単結晶の製造方法。 - 前記金属は、アルミニウム、ニッケル、ハフニウム、ガリウム、およびタンタルを含む群より選択された少なくとも2種を含み、
前記金属は、20〜50at%含まれる、
請求項11に記載のSiC単結晶の製造方法。 - 前記溶融液を準備する段階において、
前記第1評価格子内において、前記金属原子、前記炭素原子、および前記シリコン原子に作用する原子間力が±0.01eV/Å以下である、
請求項9から16のいずれか1項に記載のSiC単結晶の製造方法。 - 前記溶融液を準備する段階において、
前記第2評価格子内において、前記金属原子および前記シリコン原子に作用する原子間力が±0.01eV/Å以下である、
請求項9から17のいずれか1項に記載のSiC単結晶の製造方法。 - 前記溶融液を準備する段階において、
前記第1エネルギーは、
シリコン結晶格子において、シリコン原子を前記金属原子で置換する段階と、
シリコン原子を前記炭素原子で置換して、前記第1評価格子を形成する段階と
により導出される、
請求項9から18のいずれか1項に記載のSiC単結晶の製造方法。 - 前記溶融液を準備する段階において、
前記第2エネルギーは、
シリコン結晶格子において、シリコン原子を前記金属原子で置換して、第2評価格子を形成する段階により導出される、
請求項9から19のいずれか1項に記載のSiC単結晶の製造方法。 - 前記溶融液を準備する段階において、
前記金属原子は、互いに異なる第1金属原子および第2金属原子を含み、
前記第1金属原子と前記第2金属原子との間の距離は、5Å以下である、
請求項9から20のいずれか1項に記載のSiC単結晶の製造方法。 - 前記溶融液を準備する段階において、
前記第1評価格子は、前記炭素原子を基準として半径6Å以内に位置する前記炭素原子、前記シリコン原子、および前記金属原子を含む、
請求項9から21のいずれか1項に記載のSiC単結晶の製造方法。 - 前記溶融液を準備する段階において、
前記第2評価格子は、前記金属原子に隣接して位置するシリコン原子を基準として半径6Å以内に位置するシリコン原子および前記金属原子を含む、
請求項9から22のいずれか1項に記載のSiC単結晶の製造方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2015-0148846 | 2015-10-26 | ||
KR20150148846 | 2015-10-26 | ||
PCT/KR2016/012019 WO2017073983A1 (ko) | 2015-10-26 | 2016-10-25 | 실리콘계 용융 조성물 및 이를 이용한 sic 단결정의 제조 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018528919A JP2018528919A (ja) | 2018-10-04 |
JP6652275B2 true JP6652275B2 (ja) | 2020-02-19 |
Family
ID=58630935
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018505030A Active JP6652275B2 (ja) | 2015-10-26 | 2016-10-25 | シリコン系溶融組成物およびこれを用いたSiC単結晶の製造方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10662547B2 (ja) |
EP (1) | EP3316279B1 (ja) |
JP (1) | JP6652275B2 (ja) |
KR (1) | KR102092231B1 (ja) |
CN (1) | CN107924814B (ja) |
WO (1) | WO2017073983A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11860114B2 (en) * | 2020-03-26 | 2024-01-02 | David Hurwitz | Determining atomic coordinates from X-ray diffraction data |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000264790A (ja) | 1999-03-17 | 2000-09-26 | Hitachi Ltd | 炭化珪素単結晶の製造方法 |
EP1782454A4 (en) * | 2004-07-07 | 2009-04-29 | Ii Vi Inc | LOW DOPED SEMI-INSULATING SILICON CARBIDE CRYSTALS AND METHOD |
JP4179331B2 (ja) | 2006-04-07 | 2008-11-12 | トヨタ自動車株式会社 | SiC単結晶の製造方法 |
JP2008100890A (ja) | 2006-10-20 | 2008-05-01 | Sumitomo Metal Ind Ltd | SiC単結晶の製造方法 |
JP4811354B2 (ja) | 2007-06-11 | 2011-11-09 | トヨタ自動車株式会社 | SiC単結晶の製造方法 |
JP4586857B2 (ja) * | 2008-02-06 | 2010-11-24 | トヨタ自動車株式会社 | p型SiC半導体単結晶の製造方法 |
EP2484815B1 (en) | 2009-09-29 | 2014-12-24 | Fuji Electric Co., Ltd. | METHOD FOR PRODUCING SiC SINGLE CRYSTAL |
KR101121814B1 (ko) | 2010-01-25 | 2012-03-21 | 주식회사 엘지실트론 | 단결정 잉곳 제조방법 |
FR2957542B1 (fr) * | 2010-03-16 | 2012-05-11 | Commissariat Energie Atomique | Procede d'assemblage de pieces en materiaux a base de sic par brasage non-reactif, compositions de brasure, et joint et assemblage obtenus par ce procede. |
US10167573B2 (en) | 2010-11-26 | 2019-01-01 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Method of producing SiC single crystal |
JP5273130B2 (ja) | 2010-11-26 | 2013-08-28 | 信越化学工業株式会社 | SiC単結晶の製造方法 |
KR101464563B1 (ko) | 2013-01-23 | 2014-11-24 | 주식회사 엘지실트론 | 단결정 잉곳, 그 잉곳의 제조 장치 및 방법 |
JP6105447B2 (ja) | 2013-09-30 | 2017-03-29 | 京セラ株式会社 | 結晶の製造方法 |
KR20160078343A (ko) * | 2013-11-12 | 2016-07-04 | 신닛테츠스미킨 카부시키카이샤 | SiC 단결정의 제조 방법 |
JP6129065B2 (ja) | 2013-12-06 | 2017-05-17 | 信越化学工業株式会社 | 炭化珪素の結晶成長方法 |
EP2881499B1 (en) | 2013-12-06 | 2020-03-11 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Method for growing silicon carbide crystal |
JP6014258B2 (ja) * | 2014-01-29 | 2016-10-25 | 京セラ株式会社 | 結晶の製造方法 |
CN105940149A (zh) | 2014-02-27 | 2016-09-14 | 京瓷株式会社 | 碳化硅晶锭、碳化硅晶片、碳化硅晶锭及碳化硅晶片的制造方法 |
JP6216060B2 (ja) * | 2015-01-29 | 2017-10-18 | 京セラ株式会社 | 結晶の製造方法 |
WO2016143398A1 (ja) * | 2015-03-06 | 2016-09-15 | 京セラ株式会社 | 結晶の製造方法 |
-
2016
- 2016-10-25 EP EP16860166.4A patent/EP3316279B1/en active Active
- 2016-10-25 JP JP2018505030A patent/JP6652275B2/ja active Active
- 2016-10-25 US US15/754,830 patent/US10662547B2/en active Active
- 2016-10-25 KR KR1020160139261A patent/KR102092231B1/ko active IP Right Grant
- 2016-10-25 WO PCT/KR2016/012019 patent/WO2017073983A1/ko active Application Filing
- 2016-10-25 CN CN201680048915.7A patent/CN107924814B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2017073983A1 (ko) | 2017-05-04 |
US20180245235A1 (en) | 2018-08-30 |
CN107924814B (zh) | 2021-08-10 |
EP3316279B1 (en) | 2022-02-23 |
JP2018528919A (ja) | 2018-10-04 |
US10662547B2 (en) | 2020-05-26 |
EP3316279A1 (en) | 2018-05-02 |
CN107924814A (zh) | 2018-04-17 |
EP3316279A4 (en) | 2018-06-27 |
KR20170048215A (ko) | 2017-05-08 |
KR102092231B1 (ko) | 2020-03-23 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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