JP6638167B2 - プラズマ反応装置用のブッシュユニット - Google Patents

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Description

本発明は、プラズマ反応装置用のブッシュユニットに関し、特に、取替え型のブッシュユニットに関する。
現在、プラズマ反応技術は、例えば、半導体製造工業、表示パネル製造工業、太陽電池製造工業等の様々な産業に広く用いられている。一般的に、プラズマ反応装置は、複数のチャンバー(材料として、アルミニウム合金又はステンレスを含む)からなり、チャンバーの内壁には、絶縁と耐プラズマ侵食の効果を達成するように、保護膜がめっきされ、或いは、アルミナ層やセラミック層が塗布されている。
プラズマ反応チャンバーは、例えばエッチング工程、化学気相堆積(CVD)工程、及び他の基板上に電子部品を製造することに関する工程のような各種類の電子部品の製造プロセスによく用いられる。いろんな方法を利用して、プラズマ密度、形状及び反応チャンバーにおける電気特徴、例えば一般に通常プラズマチャンバーで用いられる容量性や誘導結合RF源を生成及び/又は制御している。例えば、プラズマ補助化学気相堆積(PECVD)工程の期間において、反応ガスは容量性結合ノズルを通して反応チャンバーへ導入され、このノズルは、工程部品によって囲まれた半導体基板の上に配置されている。プラズマがPECVDチャンバーに形成されると、プラズマは反応ガス及び基板と反応して基板に期望の材料層を堆積させる。大ざっぱに言うと、プラズマ生成領域で形成されたプラズマの特徴は、プラズマ生成領域の下流に配置された基板又は反応チャンバー室の一部で実行される堆積、エッチング及び/又は洗浄工程を改善できる。
通常プラズマ反応チャンバーの設計において、生成されたプラズマは基板の表面上に配置され、この設計は望まないスパッタリング及び基板の表面へのダメージを誘発しまうが、これは、プラズマで形成された電子とイオンが基板の表面と相互作用するからである。生成されたプラズマの遊離イオン及び電気アースの部材はほぼ実効電荷を累積することになる。形成された実効電荷は、プラズマで形成された電子及び/又はイオンが基板又はチャンバー室部材の露出表面を衝撃するように誘発され、基板又はチャンバー室部材の露出表面にダメージを与える恐れがある。従って、一部の適用では、反応レートを強化すると共に基板又はチャンバー室部材の表面を有力に衝撃しないように、基板の表面(又はチャンバー室部材の表面)と十分に反応しやすいエネルギーを有するガス遊離基を形成することが期待される。これは、非イオン化されたガス遊離基が基板又は部材の表面に形成した電荷に影響されないからである。ところが、コーティング装置のプラズマ反応チャンバーを用いた場合、由々しい工程ドリフトが生じてしまうことを発見した。この工程ドリフトは、励起ガスがコーティング層における欠陥(例えばコーティング層の空隙や割れ目)を通して構成金属部材の表面と相互作用して引き起こしたと考えられる。コーティング層の問題は、特に、プラズマに酸化物質やフッ化物質(これらの物質は、多数の通常に使用される金属材料を攻撃しそうである)を含んでいる場合にひどく、とりわけユニットの結合箇所で最も発生しやすくなっている。
上記を鑑み、プラズマ反応装置は、定期的に補修と手入れを行うと共に、反応チャンバーの内壁上のめっき層を、例えば、化学エッチング、サンドブラスティング、研削又はターンミリング等の方式で徹底的に除去させる必要がある。しかしながら、各種類の方式によりめっきの除去を行う時に、いずれも例えば反応チャンバーの壁厚が薄くなるとの反応チャンバーの損失を招く恐れがある。一方、反応チャンバーの内壁は、長期にプラズマイオンの衝突を受ける場合にも、部分的にチャンバー壁が損なう可能性がある。上記の理由から、プラズマ反応装置は、一定時間の使用後に、損傷したチャンバーを取替える必要がある。また、チャンバーの損なった位置がチャンバーとチャンバーの接合箇所で生じられると、チャンバー間の気密性不良やプラズマ反応時の磁界ずれを招くことになり、後にプラズマを用いて生じる能率の低下と均一性不足を発生させる。
なお、図1は、従来のプラズマ反応装置10を示している。当該プラズマ反応装置10の中の一部は、スリーピースのチャンバーから構成され、図1に示すような第1のチャンバー11と、第2のチャンバー12と、第3のチャンバー13とを備える。現在の市場では、生産と組立の便宜から、このプラズマ反応装置10の当該第1のチャンバー11は、通常に当該第2のチャンバー12及び当該第3のチャンバー13のそれぞれとの接続面で同一の構造に設計され、例えば、両面をいずれも雄ヘッドに設計して、当該第2のチャンバー12と当該第3のチャンバー13の内部に差し入れたり、両面をいずれも雌ヘッドに設計して、当該第2のチャンバー12と当該第3のチャンバー13の一部を収容したりする。
しかし、プラズマ工程の原理に従って、当該プラズマ反応装置10が運行すると、一定方向の磁力線を生じることになり、両面が同一の構造を有する当該第1のチャンバー11の中の一方の接続面を容易に破壊させる。上記の理由により、チャンバーの破壊された位置がチャンバーとチャンバーの接合箇所で生じるため、やはりチャンバー間の気密性不良やプラズマ反応時の磁界ずれを招くことになり、後にプラズマを用いて生じる能率の低下と均一性不足を発生させる。そのため、長期の使用後に損傷したチャンバーを取替える必要があり、生産のコストを向上させることになる。
よって、チャンバーの部分的な内壁の破壊によって、損傷位置全体のチャンバを取替える必要のないプラズマ反応装置を提供する必要があった。一方、当該プラズマ反応装置は、実際生産で生じた磁力線の方向に応じて、適宜なチャンバーの接続面の構造を変更可能にし、さらにプラズマ反応装置のチャンバーの使用寿命を増加させる。
本発明は、上記従来の技術の問題を解決するために、プラズマ反応装置のチャンバーの内側壁がプラズマの衝撃によって破壊されたり、膜を除去する時にチャンバー壁を損失させたりすることがないように保護できる一方、実際適用のニーズに応じて、チャンバーの接続面をプラズマ反応の磁力線とオーラ原理を満たす構造とする、プラズマ反応装置のチャンバーの内側壁に設けられ、取替え型である、プラズマ反応装置用のブッシュユニットを提供することを目的とする。
上記の目的を達成するために、本発明は、第1のチャンバー及び第2のチャンバーを有するプラズマ反応装置用のブッシュユニットであって、該第1のチャンバーに接続され、該第1のチャンバーの内側壁の構造と相補する第1の接続部と、該第2のチャンバーのドッキング部とドッキングするための第2の接続部とを含み、該第1の接続部及び第2の接続部の両方の横方向の辺サイズが異なっているプラズマ反応装置用のブッシュユニットを提供している。
本発明における好ましい実施例において、該第1の接続部の横方向の辺サイズは、該第2の接続部の横方向の辺サイズよりも小さい。
本発明における好ましい実施例において、該ブッシュユニットの該第1の接続部と該第1のチャンバーとが結合すると、該ブッシュユニットの該第2の接続部は、該第1のチャンバーの第1のポートへ突き出すと共に、該第2のチャンバー内に収容される。
本発明における好ましい実施例において、該第1の接続部の横方向の辺サイズは、該第2の接続部の横方向の辺サイズよりも大きい。
本発明における好ましい実施例において、該ブッシュユニットの該第1の接続部と該第1のチャンバーとが結合すると、該第2のチャンバーの該ドッキング部は、該ブッシュユニットへ突き入れると共に、該ブッシュユニット内に収容される。
本発明における好ましい実施例において、該プラズマ反応装置は第3のチャンバーを備え、該ブッシュユニットは第3の接続部をさらに備え、該第2の接続部に対し、該ブッシュユニットは該第2のチャンバーに連なり、該第3の接続部は、該第3のチャンバーのドッキング部と接続されるものである。
本発明における好ましい実施例において、該第1の接続部及び該第3の接続部の両方の横方向の辺サイズは異なっている。
本発明における好ましい実施例において、該第1の接続部と該第2の接続部の両方の少なくとも一方は、環状構造又は他の幾何学的構造を含んでいる。
本発明における好ましい実施例において、該ブッシュユニットは、さらに第1のブッシュと、第2のブッシュとを備え、該第1のブッシュ及び該第2のブッシュは、該第1のチャンバーと接続するための該第1の接続部と、別のチャンバーに接続するための該第2の接続部とをそれぞれ含み、該第1のブッシュの該第1の接続部及び第2の接続部の両方の横方向の辺サイズは異なり、そして該第2のブッシュの該第1の接続部及び第2の接続部の両方の横方向の辺サイズは異なっている。
本発明における好ましい実施例において、該第1のブッシュ及び該第2のブッシュは、構造が相補する第3の接続部をそれぞれ含み、且つ、該第1のブッシュと該第2のブッシュが該第1のチャンバーにそれぞれ結合すると、該第1のブッシュと該第2のブッシュのそれらの第3の接続部は相互に接合される。
本発明における好ましい実施例において、該ブッシュユニットは、複数のブッシュをさらに備え、該複数のブッシュのそれぞれは、該第1のチャンバーに接続するための該第1の接続部と、別のチャンバーに接続するための該第2の接続部とを含み、該複数のブッシュの該第1の接続部及び第2の接続部の両方の横方向の辺サイズは異なっている。
本発明における好ましい実施例において、該ブッシュユニットの該第2の接続部と該第2のチャンバーの該ドッキング部がドッキングすると、該第2の接続部と該第2のチャンバーとの間には、気密素子を収容するための収容空間が形成される。
本発明における好ましい実施例において、該ブッシュユニットの該第2の接続部は階段状に形成され、第1の階段と、第2の階段と、第3の階段とを備え、該ブッシュユニットの該第2の接続部と該第2のチャンバーの該ドッキング部がドッキングすると、該第2のチャンバーの該ドッキング部は、該第1の階段の第1の水平階段面と該第3の階段の第3の水平階段面に接続され、且つ、該第2の階段と共に該気密素子を収容する該収容空間を形成する。
本発明は、さらに、第1のチャンバー及び複数の第2のチャンバーを有するプラズマ反応装置用のブッシュユニットであって、該第1のチャンバーに接続され、該第1のチャンバーの内側壁の構造と相補する第1の接続部と、該複数の第2のチャンバーのドッキング部とそれぞれドッキングするための複数の第2の接続部とを含み、該第1の接続部及び該第2の接続部それぞれの両方の横方向の辺サイズが異なっているプラズマ反応装置用のブッシュユニットを提供している。
図1は、従来のプラズマ反応装置を示す図である。 図2は、本発明による第1の実施例のブッシュユニットとプラズマ反応装置を示す組立分解図である。 図3は、図2の部分的組立図である。 図4は、図2のブッシュユニットとプラズマ反応装置を示す断面分解図である。 図5は、本発明による第2の実施例のブッシュユニットとプラズマ反応装置を示す断面分解図である。 図6は、本発明による第3の実施例のブッシュユニットとプラズマ反応装置を示す断面組立図である。 図7は、本発明による第4の実施例のブッシュユニットとプラズマ反応装置を示す組立分解図である。 図8は、図7のブッシュユニットとプラズマ反応装置を示す断面分解図である。 図9は、本発明による第5の実施例のブッシュユニットとプラズマ反応装置を示す断面分解図である。 図10は、図9の断面組立図である。 図11は、本発明による第6の実施例のブッシュユニットとプラズマ反応装置を示す断面分解図である。 図12は、本発明による第7の実施例のブッシュユニットの部分的拡大図である。 図13は、本発明による第8の実施例のブッシュユニットの部分的拡大図である。
本発明の上記及び他の目的、特徴並びに長所をより明らかで分かりやすくするために、以下では、特に本発明の好ましい実施例にて、次のように添付図面を参照しながら詳しく説明する。
図2、図3及び図4を参照すると、本発明による第1の実施例のプラズマ反応装置100に用いるブッシュユニット110を示し、図2は、該ブッシュユニット110と該プラズマ反応装置100を示す組立分解図であり、図3は、図2の該ブッシュユニット110と該プラズマ反応装置100を示す部分的組立図であり、図4は、図2の該ブッシュユニット110とプラズマ反応装置100を示す断面分解図である。該プラズマ反応装置100は、第1のチャンバー120と、第2のチャンバー130とを備え、該ブッシュユニット110は、第1の接続部112と、第2の接続部114とを備えている。
また、図2から図4に示すように、該ブッシュユニット110の該第1の接続部112は、該第1のチャンバー120に接続され、該第1の接続部112の外側壁と該第1のチャンバー120に接続される内側壁122同士の構造は相補している。本発明の第1の実施例に示すように、該第1の接続部112の外側壁と該第1のチャンバー120の内側壁122とは、いずれも環状の構造である。これに分かるように、他の実施例において、互いに結合する第1の接続部の外側壁と第1のチャンバー120の内側壁同士は、様々構造の相補する幾何学的構造であってもよい。
一方、該ブッシュユニット110の該第1の接続部112の外側壁と該第1のチャンバー120の内側壁122との間をしまりばめさせるために、例えば、該第1の接続部112の外側壁と該第1のチャンバー120の該内側壁122の接続面に構造が相補するねじ山をそれぞれ形成して、両方間を緊密にロックアップしたり、両方の接し面へのセラミック放熱ペーストのコートや、真空ねじ等の方式によることができるが、これに限定されるものではない。それ以外に、該ブッシュユニット110の該第1の接続部112の外側壁と該第1のチャンバー120の該内側壁122とをしまりばめできるいかなる方法は、いずれも本発明の他の実施例に適用できる。
さらに、図2から図4に示すように、該ブッシュユニット110の該第1の接続部112が該第1のチャンバー120の第1のポート124を介して該第1のチャンバー120にマウントされ、且つ該第1のチャンバー120と結合されると、該ブッシュユニット110の該第2の接続部114を該第1のチャンバー120の該第1のポート124の外に突き出させる。次に、該ブッシュユニット110をさらに該第2のチャンバー130に組立させる。図面に示すように、該ブッシュユニット110の該第2の接続部114は、該第2のチャンバー130のドッキング部132とドッキングするためのものである。
また、図2から図4に示すように、該ブッシュユニット110の該第1の接続部112の横方向の辺サイズC1は、該第2の接続部114の横方向の辺サイズC2と異なっている。もっとはっきり言うと、本発明の第1の実施例に示すように、該第1の接続部112の横方向の辺サイズC1は、該第2の接続部114の横方向の辺サイズC2よりも小さいが、他の実施例において、第1の接続部112の横方向の辺サイズC1を第2の接続部114の横方向の辺サイズC2よりも大きいように設計してもよい。
さらに、該ブッシュユニット110の該第2の接続部114と該第2のチャンバー130を結合させる前に、好適に該第2の接続部114の外側壁の周りにO型環及び/又はセラミック環を置いたり、真空ペーストをコートしたりして、該第1のチャンバー120が該第2のチャンバー130と結合すると、好適な気密性を有するようにする。それ以外に、好適な気密効果を達成できるいかなる方法は、いずれも本発明の他の実施例に適用できる。
図5を参照すると、本発明による第2の実施例のブッシュユニット210とプラズマ反応装置200の断面分解図を示している。該プラズマ反応装置200は、第1のチャンバー130'と、第2のチャンバー230とを含み、また該ブッシュユニット210は、第1の接続部212と、第2の接続部132'とを含んでいる。
また、図5に示すように、該ブッシュユニット210の該第1の接続部212は、該ブッシュユニット210の外側壁に位置し、該ブッシュユニット210の該第2の接続部132'は、該ブッシュユニット210の内側壁に位置し、該ブッシュユニット210の該第1の接続部212の横方向の辺サイズC1は、該第2の接続部132'の横方向の辺サイズC2と異なっている。もっとはっきり言うと、該第1の接続部212の横方向の辺サイズC1は、該第2の接続部132'の横方向の辺サイズC2よりも大きい。
さらに、図5に示すように、該ブッシュユニット210の該第1の接続部212は、該第1のチャンバー130'の内側壁と構造的に相補されて、両方を相互に結合できるようにしている。該ブッシュユニット210の該第2の接続部132'が該ブッシュユニット210の内側壁に位置しているため、該ブッシュユニット210の該第1の接続部212と該第1のチャンバー130'とが結合すると、該第2のチャンバー230のドッキング部232は、該ブッシュユニット210に突き入れると共に、該ブッシュユニット210内に収容され、該ドッキング部232は、該第2のチャンバー230の外側壁の一部に属するものである。そして、同図に示すように、該第2のチャンバー230は、単一のチャンバーと第2のブッシュユニット210'とを相互に組立することによって形成できる。
一方、本発明の単一のブッシュユニットは、複数のプラズマ反応装置のチャンバーに結合されてもよい。例示すると、1つの好ましい実施例において、プラズマ反応装置は、第1のチャンバーと、複数の第2のチャンバーとを備えることができ、またブッシュユニットは、第1の接続部と、複数の第2の接続部とを備えることができ、該第1の接続部は、該第1のチャンバーと接続するためのものであり、且つ、該第1のチャンバーの内側壁と構造が相補している。また、該複数の第2の接続部は、それぞれ該複数の第2のチャンバーのドッキング部にドッキングするためのものである。上記実施例の技術案をより明らかに説明するために、下記の第3の実施例の具体的な記述を参照されたい。
図6を参照すると、本発明による第3の実施例のブッシュユニット310とプラズマ反応装置300の組合後の部分的断面図を示している。該プラズマ反応装置300は、第1のチャンバー320と、第2のチャンバー330と、第3のチャンバー340とを備え、該ブッシュユニット310は、第1の接続部312と、第2の接続部314と、第3の接続部316とを備えている。注意すべきことは、本実施例における該第2のチャンバー330及び該第3のチャンバー340が上記した複数の第2のチャンバーに相当し、また本実施例における該第2の接続部314及び第3の接続部316が上記した複数の第2の接続部に相当している。さらに、図6に示した該第2のチャンバー330と該第3のチャンバー340は同じ構造及びサイズを有しているが、他の好ましい実施例では、異なる構造及びサイズを有する複数の第2のチャンバーを含んでもよく、その分、複数の第2の接続部も異なる構造やサイズを持つようにしてもよい。
また、図6に示すように、該ブッシュユニット310の該第2の接続部314と第3の接続部316は、該第1の接続部312の対向する両側にそれぞれ位置し、該第1の接続部312、該第2の接続部314及び第3の接続部316は、いずれも該ブッシュユニット310の外側壁に形成され、該第1の接続部312は、該第1のチャンバー320の内側壁322と結合するためのものである。さらに、該ブッシュユニット310は、該第2の接続部314を該第2のチャンバー330のドッキング部332に結合することによって、該ブッシュユニット310は該第2のチャンバー330に連なり、さらに、該第3の接続部316を介して該第3のチャンバー340のドッキング部342に結合させる。該ドッキング部332は、該第3のチャンバー340内側壁の一部に属するものである。
さらに、図6に示すように、該ブッシュユニット310の対向両端外側壁は同様に雄ヘッドの構造に設計されている。即ち、該ブッシュユニット310の該第1の接続部312の外側壁と該第1のチャンバー320の該内側壁322を結合すると、該ブッシュユニット310の該第2の接続部314と該第3の接続部316は、それぞれ該第1のチャンバー320の対向する両ポートに突き出される。注意する値打ちがあることは、別の実施例において、プラズマ工程の原理に従って、該プラズマ反応装置300の運行で生じた磁力線方向に応じて、本実施例に類似した該ブッシュユニット310の該第2の接続部314と該第3の接続部316の中の一方を雌ヘッドの構造に設計することができる。その後、ドッキングするチャンバーに第2のブッシュユニットをマウントし、その一端は該チャンバーのポート(図5に示すような第2の実施例の第2のチャンバー230) に突き出される。つまり、該ブッシュユニットの中の一方の接続部は、該ブッシュユニットの内側壁部に設けられ、チャンバーにドッキングするドッキング部を収容するために用いられる。
また、図6に示すように、該ブッシュユニット310の該第1の接続部310の横方向の辺サイズC1は、該第2の接続部314及び第3の接続部316の横方向の辺サイズC2と異なっている。もっとはっきり言うと、該第1の接続部310の横方向の辺サイズC1は、該第2の接続部314及び第3の接続部316の横方向の辺サイズC2よりも大きい。注意すべきことは、本発明の第3の実施例に示した第2のチャンバーと第3のチャンバーの点数は例示に過ぎず、さらに、プラズマ反応装置の種類及びタイプに合わせて、ブッシュユニットの接続されるチャンバーの数を複数にしてもよく、本発明はこれに限定されるものではない。
図7及び図8を参照すると、図7は、本発明による第4の実施例のブッシュユニット410とプラズマ反応装置400を示す組立分解図であり、図8は、図7のプラズマ反応装置400を示す断面分解図である。該プラズマ反応装置400は、内側壁422を有する第1のチャンバー420を含み、該ブッシュユニット410は、第1の接続部412と、第2の接続部414とを含み、該第1の接続部412は、該第1のチャンバー420と結合するためのものであり、該第2の接続部414は、第2のチャンバー(図面せず)と結合するためのものである。
図7及び図8に示すように、該ブッシュユニット410の該第1の接続部412と結合するための該第1のチャンバー420の該内側壁422は、長盤状構造を呈しており、前記実施例における環状構造と異なっている。さらに、該第1の接続部412の最大な横方向辺C1のサイズは、該ブッシュユニット410の該第2の接続部414の横方向辺C2のサイズよりも大きい。
図9及び図10を参照すると、図9は、本発明による第5の実施例のブッシュユニット510とプラズマ反応装置500を示す断面分解図であり、図10は、図9の断面組立図を示している。該プラズマ反応装置500は、内側壁522を有する第1のチャンバー520を含み、該ブッシュユニット510は、該第1のチャンバー520の対向する両端にそれぞれ設けられた第1のブッシュ501及び第2のブッシュ505を含み、該第1のブッシュ501及び該第2のブッシュ505のそれぞれは、該第1のチャンバー520と接続するための第1の接続部512及び512'と、別のチャンバー(図面せず)と接続するための該第2の接続部514及び514'とを含んでいる。
また、図9及び図10に示すように、該ブッシュユニット510の該第1のブッシュ501と該第2のブッシュ505は、いずれも不規則な幾何学的構造である。該第1のブッシュ501及び該第2のブッシュ505は、構造が相補する第3の接続部516及び516'をそれぞれ含み、該第1のブッシュ501と該第2のブッシュ505が該第1のチャンバー520と上下でそれぞれ結合すると、該第1のブッシュ501と該第2のブッシュ505のそれらの第3の接続部516及び516'をさらに互相に接合させる。注意する値打ちがあることは、それらの第3の接続部516及び516'が、例えば、逆鉤状、斜角状又はこのような様々な構造が相補する構造を含んでいる。
さらに、図9及び図10に示すように、該第1のブッシュ501の該第1の接続部512の最大な横方向の辺サイズをC1に定義し、該第1のブッシュ501の該第2の接続部514の横方向の辺サイズをC2に定義し、該第1のブッシュ501の該第3の接続部516の横方向の辺サイズをC3に定義し、C1、C2及びC3のサイズはいずれも異なっている。同じ理由により、該第2のブッシュ505の該第1の接続部512'の横方向の辺サイズC1'は、該第2の接続部514'の横方向の辺サイズC2'及び該第3の接続部516'の横方向の辺サイズC3'とそれぞれ異なる。
図11を参照すると、本発明による第6の実施例のブッシュユニット610とプラズマ反応装置600の断面分解図を示している。該プラズマ反応装置600は、内側壁622を有する第1のチャンバー620を含み、該ブッシュユニット610は、第1のブッシュ602と、第2のブッシュ604と、第3のブッシュ606とを含み、該第1のブッシュ602と第2のブッシュ604は該第1のチャンバー620の一方端に設けられ、該第3のブッシュ606は該第1のチャンバー620の対向する他方端に設けられている。該第1のブッシュ602、該第2のブッシュ604及び該第3のブッシュ606のそれぞれは、該第1のチャンバー620と接続するための第1の接続部6022、6042、6062と、別のチャンバー(図面せず)と接続するための第2の接続部6024、6044、6064とを備えている。
また、図11に示すように、該第1のブッシュ602の該第1の接続部6022の最大な横方向の辺サイズをC1に定義し、該第2の接続部6024の横方向の辺サイズをC2に定義し、また該第3の接続部6026の横方向の辺サイズをC3に定義し、C1のサイズはC2及びC3のサイズと異なっている。同じ理由により、該第2のブッシュ604の該第1の接続部6042の横方向の辺サイズC1'は、該第2の接続部6044の横方向の辺サイズC2'及び該第3の接続部6046の横方向の辺サイズC3'とそれぞれ異なり、該第2のブッシュ606の該第1の接続部6062の横方向の辺サイズC1''は、該第2の接続部6064の横方向の辺サイズC2''及び該第3の接続部6066の横方向の辺サイズC3''とそれぞれ異なっている。
さらに、図11に示すように、該第1のブッシュ602、該第2のブッシュ604及び該第3のブッシュ606のそれぞれは、構造が相補する第3の接続部6026、6046、6066を備え、該第1のブッシュ602、該第2のブッシュ604及び該第3のブッシュ606が該第1のチャンバー620の上下でそれぞれ結合すると、さらに該第1のブッシュ602、該第2のブッシュ604及び該第3のブッシュ606のそれらの第3の接続部6026、6046、6066を互相に接合させる。
上記実施例にて分かるように、本発明はワンピースのブッシュユニットによって1個以上のチャンバーに対応できる以外に、マルチピースのブッシュユニットによって単一のチャンバーに対応することもできる。例えば、本発明の第5の実施例によれば、該ブッシュユニット510は、第1のブッシュ501と、第2のブッシュ505とを備え、これらのブッシュは、それぞれ同一個の第1のチャンバー520と結合し、或いは、第6の実施例のようにスリーピースのブッシュユニット610を備えるが、これに限定されるものではない。
図12を参照すると、本発明による第7の実施例のブッシュユニット710の部分的拡大図を示している。本実施例において、該ブッシュユニット710の第2の接続部714の外形は、二段式の階段状を呈しており、第1の水平階段面7142と、第2の水平階段面7144とを備えている。該ブッシュユニット710の該第2の接続部714が第2のチャンバー730のドッキング部732にドッキングすると、該第2のチャンバー730の該ドッキング部732は、一部の該第1の水平階段面7142と該第2の水平階段面7144に接続されると共に、該第2の接続部714と該第2のチャンバー730との間に密閉した収容空間を形成する。該収容空間は、例えば気密環のような気密素子750を収容するためのものである。
また、図13を参照すると、本発明による第8の実施例のブッシュユニット810の部分的拡大図を示している。該ブッシュユニット810の該第2の接続部814の外形は、三段式の階段状を呈しており、第1の水平階段面8142を有する第1の階段と、第2の水平階段面8144を有する第2の階段と、第3の水平階段面8146を有する第3の階段とを備えている。該ブッシュユニット810の該第2の接続部814が第2のチャンバー830のドッキング部832にドッキングすると、該第2のチャンバー830の該ドッキング部832は、該ブッシュユニット810の該第1の階段の該第1の水平階段面8142と該第3の階段の該第3の水平階段面8146に接続され、且つ、該第2のチャンバー830の該ドッキング部832は該第2の階段と共に気密素子850を収容する収容空間を形成する。注意すべきことは、本発明において、上記図12又は図13に示す様態の気密構造とすることによって、本発明は附加的セラミック環を設けなくても、第1のチャンバーのブッシュユニットと第2のチャンバーとの間の良好な気密効果を確保できるため、製造コストを低下させている。また、上記の配置によって、チャンバーの熱変形やねじれによる気体漏れやプラズマ腐食の問題を避けることもできる。
以上、本発明を好ましい実施例にて開示したが、本発明はこれに限定されるものではなく、本発明の属する技術分野における当業者にとって、本発明の精神や範囲を逸脱しない限り、種々の変更及び飾りが可能であることはもちろんである。よって、本発明の保護範囲は添付する実用新案登録請求の範囲による限定を基準としなければならない。
10 プラズマ反応装置
11 第1のチャンバー
12 第2のチャンバー
13 第3のチャンバー
100 プラズマ反応装置
110 ブッシュユニット
112 第1の接続部
114 第2の接続部
120 第1のチャンバー
122 内側壁
124 第1のポート
130 第2のチャンバー
132 ドッキング部
200 プラズマ反応装置
210 ブッシュユニット
212 第1の接続部
132' 第2の接続部
130' 第1のチャンバー
230 第2のチャンバー
232 ドッキング部
210' 第2のブッシュユニット
300 プラズマ反応装置
310 ブッシュユニット
312 第1の接続部
314 第2の接続部
316 第3の接続部
320 第1のチャンバー
322 内側壁
330 第2のチャンバー
332 ドッキング部
340 第3のチャンバー
342 ドッキング部
400 プラズマ反応装置
410 ブッシュユニット
412 第1の接続部
414 第2の接続部
420 第1のチャンバー
422 内側壁
500 プラズマ反応装置
510 ブッシュユニット
501 第1のブッシュ
505 第2のブッシュ
512、512' 第1の接続部
514、514' 第2の接続部
516、516' 第3の接続部
520 第1のチャンバー
522 内側壁
600 プラズマ反応装置
610 ブッシュユニット
602 第1のブッシュ
604 第2のブッシュ
606 第3のブッシュ
6022、6042、6062 第1の接続部
6024、6044、6064 第2の接続部
6026、6046、6066 第3の接続部
620 第1のチャンバー
622 内側壁
700 プラズマ反応装置
710 ブッシュユニット
714 第2の接続部
7142 第1の水平階段面
7144 第2の水平階段面
730 第2のチャンバー
732 ドッキング部
750 気密素子
800 プラズマ反応装置
810 ブッシュユニット
814 第2の接続部
8142 第1の水平階段面
8144 第2の水平階段面
8146 第3の水平階段面
830 第2のチャンバー
832 ドッキング部
850 気密素子
C1、C2、C3、C1'、C2'、C3'、C1''、C2''、C3''横方向の辺サイズ

Claims (13)

  1. 第1のチャンバー及び第2のチャンバーを有するプラズマ反応装置用のブッシュユニットであって、
    該第1のチャンバーに接続され、該第1のチャンバーの内側壁の構造と相補する第1の接続部と、
    該第2のチャンバーのドッキング部とドッキングするための第2の接続部とを含み、
    該第1の接続部と第2の接続部における前記ドッキングの方向と直交する方向のサイズが異なっており、
    該ブッシュユニットの該第1の接続部と該第1のチャンバーとが結合すると、該ブッシュユニットの該第2の接続部は、該第1のチャンバーの第1のポートへ突き出すと共に、該第2のチャンバー内に収容されるプラズマ反応装置用のブッシュユニット。
  2. 該第1の接続部の前記サイズは、該第2の接続部の前記サイズよりも小さい請求項1に記載のブッシュユニット。
  3. 該第1の接続部の前記サイズは、該第2の接続部の前記サイズよりも大きい請求項1に記載のブッシュユニット。
  4. 該ブッシュユニットの該第1の接続部と該第1のチャンバーとが結合すると、該第2のチャンバーの該ドッキング部は、該ブッシュユニットへ突き入れると共に、該ブッシュユニット内に収容される請求項1に記載のブッシュユニット。
  5. 該プラズマ反応装置は第3のチャンバーを備え、該ブッシュユニットは第3の接続部をさらに備え、該第2の接続部に対し、該ブッシュユニットは該第2のチャンバーに連なり、該第3の接続部は、該第3のチャンバーのドッキング部と接続されるものである請求項1に記載のブッシュユニット。
  6. 該第1の接続部及び該第3の接続部の両方の前記サイズは異なっている請求項5に記載のブッシュユニット。
  7. 該第1の接続部と該第2の接続部の両方の少なくとも一方は、環状構造又は他の幾何学的構造を含んでいる請求項1に記載のブッシュユニット。
  8. 第1のブッシュと、第2のブッシュとをさらに備え、該第1のブッシュ及び該第2のブッシュは、該第1のチャンバーと接続するための該第1の接続部と、別のチャンバーに接続するための該第2の接続部とをそれぞれ含み、該第1のブッシュの該第1の接続部及び第2の接続部の両方の前記サイズは異なり、そして該第2のブッシュの該第1の接続部及び第2の接続部の両方の前記サイズは異なっている請求項1に記載のブッシュユニット。
  9. 該第1のブッシュ及び該第2のブッシュは、構造が相補する第3の接続部をそれぞれ含み、且つ、該第1のブッシュと該第2のブッシュが該第1のチャンバーにそれぞれ結合すると、該第1のブッシュと該第2のブッシュのそれらの第3の接続部は相互に接合される請求項8に記載のブッシュユニット。
  10. 該ブッシュユニットは、複数のブッシュをさらに備え、該複数のブッシュのそれぞれは、該第1のチャンバーに接続するための該第1の接続部と、別のチャンバーに接続するための該第2の接続部とを含み、該複数のブッシュの該第1の接続部及び第2の接続部の両方のサイズは異なっている請求項1に記載のブッシュユニット。
  11. 該ブッシュユニットの該第2の接続部と該第2のチャンバーの該ドッキング部がドッキングすると、該第2の接続部と該第2のチャンバーとの間には、気密素子を収容するための収容空間が形成される請求項1に記載のブッシュユニット。
  12. 該ブッシュユニットの該第2の接続部は階段状に形成され、第1の階段と、第2の階段と、第3の階段とを備え、該ブッシュユニットの該第2の接続部と該第2のチャンバーの該ドッキング部がドッキングすると、該第2のチャンバーの該ドッキング部は、該第1の階段の第1の水平階段面と該第3の階段の第3の水平階段面に接続され、且つ、該第2の階段と共に該気密素子を収容する該収容空間を形成する請求項11に記載のブッシュユニット。
  13. 第1のチャンバー及び複数の第2のチャンバーを有するプラズマ反応装置用のブッシュユニットであって、
    該第1のチャンバーに接続され、該第1のチャンバーの内側壁の構造と相補する第1の接続部と、
    該複数の第2のチャンバーのドッキング部とそれぞれドッキングするための複数の第2の接続部とを含み、
    該第1の接続部及び該第2の接続部それぞれの両方における前記ドッキングの方向と直交する方向のサイズが異なっているプラズマ反応装置用のブッシュユニット。
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