JP6629832B2 - 自動分析装置 - Google Patents

自動分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6629832B2
JP6629832B2 JP2017503375A JP2017503375A JP6629832B2 JP 6629832 B2 JP6629832 B2 JP 6629832B2 JP 2017503375 A JP2017503375 A JP 2017503375A JP 2017503375 A JP2017503375 A JP 2017503375A JP 6629832 B2 JP6629832 B2 JP 6629832B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lid
histories
container
sample
automatic analyzer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017503375A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2016139997A1 (ja
Inventor
西村　浩一
浩一 西村
洋行 高山
洋行 高山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi High Technologies Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Technologies Corp filed Critical Hitachi High Technologies Corp
Publication of JPWO2016139997A1 publication Critical patent/JPWO2016139997A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6629832B2 publication Critical patent/JP6629832B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/10—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
    • G01N35/1079—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices with means for piercing stoppers or septums
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00594—Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
    • G01N35/00613—Quality control
    • G01N35/00623—Quality control of instruments
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/48—Biological material, e.g. blood, urine; Haemocytometers
    • G01N33/50—Chemical analysis of biological material, e.g. blood, urine; Testing involving biospecific ligand binding methods; Immunological testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00594—Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
    • G01N35/00712—Automatic status testing, e.g. at start-up or periodic
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00722—Communications; Identification
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/10—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01L—CHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
    • B01L2200/00—Solutions for specific problems relating to chemical or physical laboratory apparatus
    • B01L2200/14—Process control and prevention of errors
    • B01L2200/141—Preventing contamination, tampering
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00722—Communications; Identification
    • G01N2035/00891—Displaying information to the operator
    • G01N2035/009—Displaying information to the operator alarms, e.g. audible
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/10—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
    • G01N35/1002—Reagent dispensers

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Hematology (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Urology & Nephrology (AREA)
  • Biotechnology (AREA)
  • Cell Biology (AREA)
  • Microbiology (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Description

本発明は、血液や尿などの生体試料の定性・定量分析を行う自動分析装置に関する。
自動分析装置においては、試料容器や試薬容器に収容された収容物を反応容器や子検体容器などに分注して分析処理などの所定の工程を実施している。通常、試料や試薬などの収容物を収容した状態の容器は蓋などの構成により密閉されており、事前に穿孔した蓋にプローブを挿入したり、プローブで直接蓋を穿刺したりして、分注を行っている。
密閉された容器にプローブを繰り返し挿入すると、たとえ事前に穿孔した蓋にプローブを挿入してもプローブが蓋に接触するため、その接触により異物が発生して収容物への混入が懸念される。従い、同一の蓋に繰り返し挿入すればする程、この異物混入リスクが高まることになる。このため、従来技術として、例えば特許文献1のように、プローブの蓋への許容挿入回数Ｎを設定し、挿入回数nが許容挿入回数数を超えた場合に、挿入処理を行わない制御を行う技術が開示されている。
特開２０１２−２１８７１号公報
上記従来技術では、蓋に対する挿入回数の許容回数を決定しており、これにより異物の発生等を抑制することが可能である。しかしながら、上記従来技術では、プローブの摩耗や変形については何ら考慮されていない。つまり、プローブは繰り返し蓋に挿入すればする程、摩耗や変形などにより劣化していくものであるが、プローブ側の劣化による蓋からの異物の発生等については何ら考慮されていない。
蓋自体はゴム等の弾性部材で出来ているため１回の挿入でそれ程プローブの劣化を生じさせないが、近年の分注処理能力の向上のニーズによりプローブの挿入速度が以前に比べて大きくなる傾向にあり、プローブに掛かる１回の挿入負荷は相対的に大きくなってきている。その一方で、プローブの摩耗や変形などの劣化はプローブの切れ味の劣化に繋がり、切れ味が大幅に劣化した場合には、同一蓋への挿入回数に係わらず、異物の発生等の課題が生じる。
結果的にプローブの切れ味が劣化した場合にはプローブを交換することになるが、これまでは異物が発生した段階でオペレータはこの問題に気付きプローブを交換していた。しかしながら、異物が発生した後では、異物発生により分析結果が無駄になったり、交換時間中は分析ができなくなり処理効率が低下する虞があった。
また、期間を目安として交換することも考えられるが、装置の運用状況が施設によって異なるため、プローブの切れ味の劣化度合いと期間の関係を導くことが困難であった。運用状況に係わらず一律に期間でプローブを交換するのは不経済である。例えば、分析回数が少なくプローブの切れ味が劣化しておらずまだ使える場合であっても、プローブ交換をしなければならなくなる。
特許文献１の技術では、プローブの劣化度合いを知ることができず、上記課題を解決することができない。本発明は上記に鑑みてなされたものであり、分注異常や分析結果異常の発生を抑制しつつ、プローブの劣化度合いに応じてプローブを交換することができる自動分析装置を提供することを目的とする。
また、特にプローブは挿入回数が多いため劣化度合いを知ることが有効であるが、蓋に挿入される機構としては、プローブ以外にもブレードや中空管などがあり、これらについても劣化度合いを知ることは交換の目安となるため有効である。
上記目的を達成するために、代表的な本発明は、閉じられた容器の蓋を貫通させて該容器中に挿入する挿入機構と、複数の該容器に跨って前記挿入機構が挿入されることによる前記挿入機構の負荷の累計に相当する挿入履歴数と、前記挿入履歴数の許容値である許容挿入履歴数と、を記憶する記憶部と、前記挿入履歴数と前記許容挿入履歴数とを比較し、前記挿入履歴数が前記許容挿入履歴数に達した場合にオペレータに報知する制御を行う制御部と、を備えた自動分析装置である。
オペレータは許容挿入履歴数に達したことを知ることができるため、蓋の異物を原因とする分注異常や分析結果異常が発生する前に、挿入機構を交換することができる。
本発明によれば、挿入機構の劣化に伴う分注異常や分析結果異常の発生を抑制しつつ、挿入機構の交換を行うことができる。
本発明の第１の実施の形態に係る自動分析装置の分注機構をその周辺構成とともに概略的に示す図である。 記憶部に入力される検体の情報、記憶される各種情報の様子を概念的に示す図である。 サンプリング機構１のサンプリングプローブのサンプル容器への挿入の様子を模式的に示す図である。 分注処理の詳細を示すフローチャートである。 本発明の第２の実施の形態に係る記憶部に入力される検体の情報、記憶される各種情報の様子を概念的に示す図である。 本発明の第２の実施の形態に係るブレード、及び、サンプリング機構のサンプリングプローブのサンプル容器への挿入の様子を模式的に示す図である。 本発明の第２の実施の形態に係る分注処理の詳細を示すフローチャートである。 本発明の第３の実施の形態に係るブレード、中空管、及び、サンプリング機構のサンプリングプローブのサンプル容器への挿入の様子を模式的に示す図である。 本発明の第３の実施の形態に係る分注処理の詳細を示すフローチャートである。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しつつ説明する。
本明細書で使用する「挿入履歴数」とは、複数の蓋付き容器に跨って挿入機構が挿入されることによる挿入機構の負荷の累計に相当する数である。この「挿入履歴数」が挿入機構の劣化度合いの指標となる。また、挿入機構は、プローブ、ブレード、中空管などが相当する。
図１は、本発明の第１の実施の形態に係る自動分析装置の分注機構をその周辺構成とともに概略的に示す図である。
図１において、本実施の形態の自動分析装置１００は、試料７を収容したサンプル容器１０１を載置し、回転駆動されるサンプルディスク１０２と、反応容器１０６を載置し、回転駆動される反応ディスク１０９と、自動分析装置における分析対象となる複数の分析項目に対応する試薬を収容した試薬ボトル１１２を載置し、回転駆動される試薬ディスク１２５と、サンプル容器１０１の試料７を反応容器１０６に分注するサンプリング機構１と、試薬ボトル１１２の試薬を反応容器１０６に分注する試薬分注機構１０８と、自動分析装置１００の各ユニットを含む全体の動作を制御する制御部（コンピュータ）１０３とを備えている。
サンプリング機構１は、上下駆動及び回転駆動されるサンプリングアーム２と、サンプリングアーム２の先端に設けられたサンプリングプローブ１０５とを備えており、自動分析装置１００に設けられたサンプル用シリンジポンプ１０７の動作に伴って、サンプリングプローブ１０５はサンプル容器１０１内の試料７を吸引し、反応容器１０６に吐出することにより試料７の分注を行う。
試薬分注機構１０８もサンプリング機構１と同様の構成を備えており、自動分析装置１００に設けられた試薬用シリンジポンプ１１１の動作に伴って、試薬分注プローブ１１０は試薬ボトル１１２内の試薬を吸引し、反応容器１０６に吐出することにより試薬の分注処理を行う。
制御部（コンピュータ）１０３は、インターフェース１０４を介して自動分析装置１００の各構成ユニットと信号の授受を行うことにより自動分析装置１００全体の動作を制御するものであり、キーボード１２１や表示装置１１８などの入力手段から入力される分析項目等に関する情報や指示に基づいて各試料の分析処理を行う。また、分析結果を表示装置１１８（例えば、ＣＲＴ）に表示したり、プリンタ１１７により印字出力したり、記憶部１２２であるメモリ（例えば、ハードディスク）に記憶したりする。
図２は、記憶部（以下、メモリとも言う）に入力される検体の情報、記憶される各種情報の様子を概念的に示す図である。なお、図２には説明のためにサンプル容器の概略を示している。
図２に示すように、サンプル容器１０１には試料７が収容されており蓋１０１ａにより密閉されている。オペレータは、キーボード１２１などの入力手段により、記憶部１２２に各サンプル容器１０１における検体の情報を入力する。本実施の形態では、検体ＩＤ、容器種類、蓋の有無、測定依頼項目を入力する場合を示している。サンプル容器１０１には、図示しないバーコードやRFIDなどの個体識別標識（検体ＩＤ）が設けられており、収容された試料７を識別可能となっている。本実施の形態では、以下のような情報を有するサンプル容器１０１を例に取り説明する。
（入力情報）
検体ＩＤ：１
容器種類：Ｂ
蓋の有無：有
測定依頼項目：ＴＥＳＴ１〜ＴＥＳＴ６
記憶部１２２に記憶される情報には、上記入力情報のほかに、プローブの挿入履歴を表す数値（以下、挿入履歴数Kとする）が記憶されている。挿入履歴数とは、例えば、以下の式（１）で計算される値とし、kiはi回目の挿入時における挿入履歴数の増加量とする。また、kiはプローブを挿入する蓋の種類やプローブの挿入速度、蓋の温度、穿孔の有無などを変数（a,b,c…）とした関数とする。

K=Σki(a,b,c…) 式（１）
つまり、プローブにかかる１回の負荷量を数値化して、その負荷量を積算することに相当する。負荷量に影響する要素として、プローブの挿入速度、蓋の温度、穿孔の有無が挙げられる。なお上記変数は無く回数のみでも、又は、変数は１以上であればよい。変数は多ければ多い程、負荷量の精度は高くなる。
簡単な例として、同一種類の蓋である場合には、単純に蓋に挿入した回数そのものを挿入履歴数として算出することができる。又は、回数そのものでなくても蓋に挿入した関数に挿入した回数に比例した値であってもよい。つまり、挿入履歴数は、蓋に挿入した回数に比例する値に基づき算出される。
また、異なる種類の蓋を貫通させる場合には、夫々の蓋の貫通時にかかる負荷を考慮する。例えば、蓋の種類ＡとＢがあり、Ａの方がＢよりも硬い蓋であるとする。なお、蓋はゴム栓であるため相対的な硬さを意味する。この場合、蓋Ａの方がプローブに対する負荷が大きいため、負荷係数をＡの方がＢよりも大きくする。例えば、Ａを１．０としＢを０．８とする。蓋ＡとＢに夫々１００００回プローブを挿入した場合、挿入履歴数は、１８０００となる（１００００×１．０＋１００００×０．８）。つまり、挿入履歴数は、蓋の種類に応じた負荷係数と蓋毎の挿入回数に基づき算出される。なお、蓋ＡとＢの硬さがほぼ同等であれば負荷係数を両方とも１．０とし両方の挿入回数の和としてもよい。負荷係数は記憶部１２２に記憶されている。
また、プローブの負荷量として、蓋の種類よりも、蓋へのプローブの挿入速度や、蓋の温度や、蓋の穿孔の有無が支配的な場合が考えられる。プローブの挿入速度は速ければ速い程、プローブの負荷は大きくなる。また、蓋の温度は低ければ硬くなるため温度が低ければプローブの負荷が大きくなる。また、蓋の穿孔が有れば蓋の抵抗が低く穿孔が無ければ蓋の抵抗が高い。このため、穿孔が無ければプローブの負荷が大きい。これらの要素を負荷係数として数値化して、式（１）の関数を決めればよい。つまり、記憶部１２２は、プローブが蓋を貫通させてサンプル容器に挿入するときの条件として、蓋の種類、プローブの挿入速度、蓋の温度、蓋の穿孔の有無のうち、いずれかの条件を負荷係数として記憶し、挿入履歴数は、上記条件に応じた負荷係数と当該条件における挿入回数に基づき算出される。この条件を２つ、３つ、４つと組合せた負荷係数であってもよい。組合せが多い程、負荷量の精度は高くなるためその方が望ましい。
代表的な２つの組合せとして、蓋の種類と蓋の穿孔の有無の組合せが考えられる。例えば、蓋Ａの穿孔の無しの負荷係数を１．０、蓋Ａの穿孔の有りの負荷係数を０．２、蓋Ｂの穿孔の無しの負荷係数を０．８、蓋Ｂの穿孔の有りの負荷係数を０．１とし、夫々の条件での挿入回数を１００００回とすると、挿入履歴数は、２１０００となる（１００００×１．０＋１００００×０．２＋１００００×１００００×０．８＋１００００×０．１）。硬い蓋の穿孔の無しの条件が一番大きい負荷係数となり柔らかい蓋の穿孔の有りの条件が一番小さい負荷係数となる。なお、穿孔の有りの場合の負荷係数を０としてもよい。つまり、挿入履歴数は、この組合せによる負荷係数とこの組合せ毎の挿入回数に基づき算出される。
また、メモリ１２２にはプローブの交換が必要となる挿入履歴数（以下、許容挿入履歴数K0）も記憶されている。
許容挿入履歴数K0は、事前実験で得られた結果などから経験的に得られるものであり、サンプリングプローブ１０５の蓋１０１ａへの挿入によって分注異常や分析結果異常の発生する可能性が実質的にないプローブの挿入履歴数である。
ここで、自動分析装置１００における分析処理の概要を説明する。
まず、試料７を収容したサンプル容器１０１は、サンプルディスク１０２の間欠回転に伴ってサンプル吸引位置へ移送され、その吸引位置に停止中のサンプル容器１０１内にサンプリングプローブ１０５が降下動作される。その下降動作に伴ってサンプリングプローブ１０５の先端が試料７の液面に接触すると液面検出回路１５１から検出信号が出力され、その検出信号はインターフェース１０４を介して制御部１０３に入力される。制御部１０３は、その検出信号に基づいてサンプリングアーム２の図示しない駆動部による下降動作を停止するよう制御する。この状態でサンプリングプローブ１０５内に所定量のサンプルを吸引した後、サンプリングプローブ１０５は上死点まで上昇する。なお、サンプリングプローブ１０５が試料７を所定量吸引している吸引動作中は、サンプリングプローブ１０５とサンプル用シリンジポンプ１０７の間の流路内圧力変動を圧力センサ１５２からの信号を用いて圧力検出回路１５３で監視し、吸引動作中の流路内圧力変動に異常を発見した場合は所定量吸引されていない可能性が高いと判定し、その分析データに対してアラームを付加する。
次にサンプリングアーム２を水平方向に旋回駆動し、反応ディスク１０９の回転動作に伴ってサンプル吐出位置へ移送された反応容器１０６の位置でサンプリングプローブ１０５を下降して、反応容器１０６内へ保持していた試料７を吐出する。その後、試料７が入った反応容器１０６が反応ディスク１０９の回転動作に伴って試薬添加位置まで移動され、該当する分析項目に対応した試薬が試薬分注プローブ１１０から添加される。試料、及び試薬の分注に伴ってサンプル容器１０１内の試料、及び試薬ボトル１１２内の試薬の液面が検出され、その検出結果に基づいて試料、及び試薬の残量等が算出されて記憶部１２２に記憶される。試料、及び試薬が加えられた反応容器１０６内の混合物は、攪拌器１１３により攪拌される。そして、反応ディスク１０９の回転動作に伴う反応容器列の移送中に複数の反応容器が光源１１４からの光束を横切ることにより、各混合物の吸光度、あるいは発光値が測定手段である光度計１１５により測定（測光）される。測定信号（吸光度信号や発光値信号）は、Ａ／Ｄ変換器１１６を経由しインターフェース１０４を介して制御部１０３に入力され、分析項目の濃度が計算される。分析結果は、インターフェース１０４を介してプリンタ１１７に印字出力したり、ＣＲＴなどの表示装置１１８に画面出力したりすると共に、ハードディスクなどの記憶部１２２に記憶される。
測光が終了した反応容器１０６は、洗浄機構１１９の位置に移送され、洗浄用ポンプ１２０による反応容器１０６内への洗浄水の供給、及び廃液の排出によって洗浄される。
なお、図１からもわかるように、サンプル容器１０１のサンプルディスク１０２への配置は、サンプルディスク１０２上へ直接配置する場合や試験管（図示せず）上にサンプル容器１０１を載置する事も可能なユニバーサルな配置に対応可能な構造となっている。また、サンプルディスク１０２は、同心円状に３列のサンプル容器１０１が載置できるように３列の容器保持部が形成されており、サンプリングプローブ１０５によるサンプル吸引位置が各々の列に１個ずつ設定されている。
さらに、サンプリング機構１の分注処理について説明する。
図３は、サンプリング機構１のサンプリングプローブ１０５のサンプル容器１０１への挿入の様子を模式的に示す図である。
図３に示すように、サンプルディスク１０２に載置されたサンプル容器１０１には、試料７が収容されており、蓋１０１ａにより密閉されている。このようなサンプル容器１０１に挿入されるサンプリングプローブ１０５は鋭利な先端形状を有しており、蓋１０１ａに切込みを入れる切込み処理を行う機能と、試料７に浸漬して吸引を行う機能とを備えている。蓋１０１ａへの切込み処理を行う場合（合わせて試料７への浸漬及び吸引を行う場合も含む）、または、既にあけられた蓋１０１ａの切込みを介してサンプル容器１０１内に挿入され試料７に浸漬して吸引を行う場合に挿入履歴数の更新を行う。
図４は、分注処理の詳細を示すフローチャートである。
本実施の形態における分析処理において、制御部１０３はまず、分注処理対象のサンプル容器１０１の検体ＩＤを読み取る（ステップＳ１０）。次に、読み取った検体ＩＤに基づいて、サンプル容器１０１の容器種類、蓋の種類、蓋の有無、測定依頼項目などの情報や、プローブの挿入履歴数K、許容挿入履歴数K0などを記憶部１２２から読み出す（ステップＳ２０）。次に、測定依頼項目があるかどうかを判定し（ステップＳ３０）、その判定結果がＮＯの場合は分注処理を終了し、次の分注処理対象のサンプル容器１０１の分注処理に移行する。ステップＳ３０での判定結果がＹＥＳの場合は、制御部１０３は挿入履歴数Kが許容挿入履歴数K0よりも小さいかどうかを判定し（ステップＳ４０）、その判定結果がＹＥＳの場合は、分注動作（サンプリングプローブ１０５のサンプル容器１０１への蓋１０１ａを介しての挿入、試料７の吸引、及び、反応容器１０６への吐出）を行い（ステップＳ５０）、その後、挿入履歴数Kのインクリメント（K←K+ki）を行う（ステップＳ６０）。足される挿入履歴数kiは、単なる回数により決まる、又は、蓋の種類、プローブの挿入速度、蓋の温度、蓋の穿孔の有無のうちいずれかの条件を考慮した負荷係数により決まる。そして、測定依頼項目を全て終了したかどうかを判定し（ステップＳ７０）、判定結果がＹＥＳであれば、挿入履歴数Kを保存して（ステップＳ８０）、分注処理を終了する。また、ステップＳ４０での判定結果がＮＯの場合は、プローブ交換要求の警告を出力してオペレータに報知し（ステップＳ９０）、挿入履歴数Kを保存して（ステップＳ８０）、分注処理を終了する。また、ステップＳ７０での判定結果がＮＯの場合は、測定依頼項目を全て完了してステップＳ７０での判定結果がＹＥＳになるまでステップＳ４０〜ステップＳ７０の処理を繰り返す。なお、ステップＳ４０〜ステップＳ７０の繰り返し中にステップＳ４０での判定結果がＮＯとなった場合は、繰り返しを終了してプローブ交換要求の警告を出力し（ステップＳ９０）、挿入履歴数Kを保存して（ステップＳ８０）、分注処理を終了する。
上記分注処理において、プローブ交換要求の警告出力がなされて（ステップＳ９０）分注処理を終了した場合、オペレータは対象のサンプル容器１０１をサンプルディスク１０２から取り出して、蓋１０１ａを手動で取り外し、再度、サンプルディスク１０２に載置して分注動作を再開する。この場合（蓋１０１ａの無いサンプル容器１０１を扱う場合）の分注処理では、挿入履歴数Kと許容挿入履歴数K0の比較（ステップＳ４０）、挿入履歴数Kのインクリメント（ステップＳ６０）、及び挿入履歴数Kの保存（ステップＳ８０）は実施せずスキップする。
以上のように構成した本実施の形態において、サンプリングプローブ１０５は、閉じられた容器の蓋を貫通させて該容器中に挿入される挿入機構を構成し、記憶部１２２は、容器への挿入機構の挿入履歴数Kを記憶する。このフローを別のサンプル容器でも繰り返し挿入履歴数Kを累積する。これにより装置の使用を開始してからプローブにかかる負荷のほぼ全てを累積できる。
以上のように構成した本実施の形態の動作を説明する。
まず、分析処理の準備として、サンプルディスク１０２に試料７を収容し蓋１０１ａで塞いだサンプル容器１０１を載置し、試薬ディスク１２５に分析対象となる複数の分析項目に対応する試薬ボトル１１２を載置する。また、キーボード１２１などの入力手段により各サンプル容器１０１に関する検体の情報（検体ＩＤ、容器種類、蓋の種類、蓋の有無、測定依頼項目など）を入力する。この状態で分析処理の開始を指示することにより、自動分析装置における検体の分析処理が開始される。
分析処理では、まず、サンプリング機構１のサンプリングアーム２にとりつけられたサンプリングプローブ１０５によって、サンプル容器１０１に収容された試料７に分注処理が実施され、反応容器１０６に分注される。分注処理では、制御部１０３はまず、分注処理対象のサンプル容器１０１から読み取った検体ＩＤに基づいて、サンプル容器１０１の容器種類、蓋の種類、蓋の有無、測定依頼項目などの情報や、挿入履歴数K、許容挿入履歴数K0などを記憶部１２２から読み出し（図４ステップＳ１０，Ｓ２０）、測定依頼項目が無い場合は分注処理を終了し、次の分注処理対象のサンプル容器１０１の分注処理に移行する（図４のステップＳ３０）。また、測定依頼項目が有り、挿入履歴数Kが許容挿入履歴数K0よりも小さい場合は、測定依頼項目が全て完了するまで分注動作（サンプリングプローブ１０５のサンプル容器１０１への蓋１０１ａを介しての挿入、及び試料７の吸引）、及び、挿入履歴数Kのインクリメントを繰り返し行い（図４のステップＳ４０〜Ｓ７０）、測定依頼項目が全て終了したら挿入履歴数Kを更新保存して分注処理を終了し、次の分注処理対象のサンプル容器１０１の分注処理に移行する（図４のステップＳ８０）。分注処理中に挿入履歴数Kが許容挿入履歴数K0以上となった場合は、プローブ交換要求の警告を出力してオペレータに報知し、挿入履歴数Kを保存して（図４のステップＳ９０，Ｓ８０）、分注処理を終了する。
なお、分注処理において、プローブ交換要求の警告出力がなされて（ステップＳ９０）分注処理を終了した場合、オペレータは対象のサンプル容器１０１をサンプルディスク１０２から取り出して、蓋１０１ａを手動で取り外し、再度、サンプルディスク１０２に載置して、既挿入履歴数に関係なく測定依頼項目が全て完了するまで分注動作を繰り返す。蓋１０１ａの無いサンプル容器１０１を扱う場合についても同様である。
続いて、試薬分注機構１０８の試薬分注プローブ１１０によって、試薬ボトル１１２に収容された試薬が反応容器１０６に分注され、試料、及び試薬が加えられた反応容器１０６内の混合物は、攪拌器１１３により攪拌される。そして、反応ディスク１０９の回転動作に伴う反応容器列の移送中に複数の反応容器が光源１１４からの光束を横切ることにより、各混合物の吸光度、あるいは発光値が測定手段である光度計１１５により測定（測光）される。測定信号（吸光度信号や発光値信号）は、Ａ／Ｄ変換器１１６を経由しインターフェース１０４を介して制御部１０３に入力され、分析項目の濃度が計算される。つまり、光度計１１５の測光結果に基づき試料７の分析項目の濃度分析が行われる。測光が終了した反応容器１０６は、洗浄機構１１９の位置に移送され、洗浄用ポンプ１２０による反応容器１０６内への洗浄水の供給、及び廃液の排出によって洗浄される。
以上のように構成した本実施の形態の効果を説明する。
従来技術においては、各容器種類で許容挿入回数Ｎを設定し、プローブの挿入回数nが許容挿入回数Nを超えた場合に、オペレータにその容器に対する許容挿入回数オーバの警告を告知していた。しかしながら、上記従来技術では、ある１つの容器に対する許容挿入回数を設定しているにすぎず、プローブ側の劣化による蓋からの異物の発生等については何ら考慮されていなかった。そのため、従来技術では、プローブ側の劣化に基づく異物の発生等を防ぐことはできない。例えば、極めて切れ味の悪いプローブであれば１、２回で異物の発生等が生じ得る。
これに対して本実施の形態においては、プローブの挿入履歴を表す挿入履歴数、およびプローブの交換要求を出す閾値である許容挿入履歴数を記憶部１２２に記憶する構成としたので、摩耗や変形といったプローブの負荷量（ダメージ）の累計を管理することで適切なタイミングでプローブ交換要求を告知することができる。すなわち、プローブへのダメージ蓄積量を基準に警告を出すため、分注時の異物発生を抑えつつ、適切なタイミングでプローブ交換要求を告知することができる。
なお、本実施の形態においては、分注処理でプローブの挿入履歴数Kが許容挿入履歴数K0以上である場合には、プローブ交換要求の警告を出力してオペレータに報知して分注処理を終了するよう構成したが、合わせて分析処理を自動的に一時停止するよう構成しても良く、また、それらを設定できるように構成しても良い。または、プローブでサンプルを吸引し、蓋から抜針した後、プローブ外側の洗浄やブローなどの異物除去動作や、プローブ内に保持したサンプルの一部吐出によるつまり除去動作を入れ、その後反応容器に分注するよう構成してもよく、また、それらを実行するか設定できるように構成してもよい。
本発明の第２の実施の形態を図５〜図７を参照しつつ説明する。本実施の形態は、第１の実施の形態に示した構成に加え、サンプリングプローブ１０５の挿入のためにサンプル容器１０１の蓋１０１ａに切込み処理を行うブレード２０５をさらに設け、切込み処理の実施状態（実施の有無）、及び分注処理におけるブレード２０５の蓋１０１ａへの既挿入履歴数を管理するように構成したものである。図５は、記憶部に入力される検体の情報、記憶される各種情報の様子を概念的に示す図であり、図６は本実施の形態に係るブレード２０５、及び、サンプリング機構１のサンプリングプローブ１０５のサンプル容器１０１への挿入の様子を模式的に示す図であり、図７は本実施の形態に係る分注処理の詳細を示すフローチャートである。図中、第１の実施の形態で説明したものと同一の部材には同じ符号を付し説明を省略する。
図５に示すように、サンプル容器１０１には試料７が収容されており蓋１０１ａにより密閉されている。オペレータは、キーボード１２１などの入力手段により、記憶部１２２に各サンプル容器１０１における検体の情報を入力する。本実施の形態では、検体ＩＤ、容器種類、蓋の有無、測定依頼項目を入力する場合を示している。サンプル容器１０１には、図示しないバーコードやRFIDなどの個体識別標識（検体ＩＤ）が設けられており、収容された試料７を識別可能となっている。記憶部１２２に記憶される情報には、オペレータにより入力された情報のほかに、各プローブの挿入履歴数K、切込み処理の実施状態（実施の有無）や、各プローブの許容挿入履歴数K0などが記憶されている。挿入履歴数とは、前記の式（１）で計算される値とし、はi回目の挿入時における挿入履歴数の増加量とする。また、はプローブを挿入する蓋の種類やプローブの挿入速度、蓋の温度、穿孔の有無などを変数（a,b,c…）とした関数とする。
また、記憶部１２２にはプローブの交換が必要となる挿入履歴数（以下、許容挿入履歴数K0）も記憶されている。挿入履歴数K0は、事前実験で得られた結果などから経験的に得られるものであり、サンプリングプローブ１０５の蓋１０１ａへの挿入によって分注異常や分析結果異常の発生する可能性が実質的にないプローブの挿入履歴数である。また、プローブ同様にブレードに対しても挿入履歴数が記憶部に記憶される。
図６に示すように、サンプルディスク１０２に載置されたサンプル容器１０１には、試料７が収容されており、蓋１０１により密閉されている。このようなサンプル容器１０１に挿入されるブレード２０５は鋭利な先端形状を有しており、蓋１０１ａに切込みを入れる切込み処理を行う機能を備えており（図６（ａ）参照）、サンプリングプローブ１０５は切込み処理を行った蓋１０１ａの切込みを介してサンプル容器１０１内に挿入され試料７に浸漬して吸引を行う（図６（ｂ）参照）。蓋１０１ａの切込みを介してサンプル容器１０１内に挿入され試料７に浸漬して吸引を行う場合が前述の挿入履歴数の更新を行う。
図７に示すように、本実施の形態における分析処理においては、コンピュータ１０３はまず、分注処理対象のサンプル容器１０１の検体ＩＤを読み取る（ステップＳ１０）。次に、読み取った検体ＩＤに基づいて、サンプル容器１０１の容器種類、蓋の種類、蓋の有無、測定依頼項目、切込み処理の実施状態（蓋の穿孔の有無）などの検体情報や、挿入履歴数Kや許容挿入履歴数K0などを記憶部１２２から読み出す（ステップＳ２２０）。次に、測定依頼項目があるかどうかを判定し（ステップＳ３０）、その判定結果がＮＯの場合は分注処理を終了し、次の分注処理対象のサンプル容器１０１の分注処理に移行する。ステップＳ３０での判定結果がＹＥＳの場合は、切込み処理が実施済みかどうかを判定し（ステップＳ３５）、判定結果ＹＥＳの場合は、続いて既挿入履歴数Kが許容挿入履歴数K0よりも小さいかどうかを判定する（ステップＳ４０）。また、ステップＳ３５での判定結果がＮＯの場合は切込み処理（検体情報における実施状態の情報の更新を含む）を行い（ステップＳ３６）、続いて挿入履歴数Kが許容挿入履歴数K0よりも小さいかどうかを判定する（ステップＳ４０）。ステップＳ４０での判定結果がＹＥＳの場合は、分注動作（サンプリングプローブ１０５のサンプル容器１０１への蓋１０１ａを介しての挿入、試料７の吸引、及び、反応容器１０６への吐出）を行い（ステップＳ５０）、その後、既挿入履歴数Kのインクリメント（K←K+ki）を行う（ステップＳ６０）。足される挿入履歴数kiは、単なる回数により決まる、又は、蓋の種類、プローブの挿入速度、蓋の温度、蓋の穿孔の有無のうちいずれかの条件を考慮した負荷係数により決まる。そして、測定依頼項目を全て終了したかどうかを判定し（ステップＳ７０）、判定結果がＹＥＳであれば、既挿入履歴数Kを保存して（ステップＳ８０）、分注処理を終了する。また、ステップＳ４０での判定結果がＮＯの場合は、プローブ交換要求の警告を出力してオペレータに報知し（ステップＳ９０）、挿入履歴数Kを保存して（ステップＳ８０）、分注処理を終了する。また、ステップＳ７０での判定結果がＮＯの場合は、測定依頼項目を全て完了してステップＳ７０での判定結果がＹＥＳになるまでステップＳ４０〜ステップＳ７０の処理を繰り返す。なお、ステップＳ４０〜ステップＳ７０の繰り返し中にステップＳ４０での判定結果がＮＯとなった場合は、繰り返しを終了してプローブ交換要求の警告を出力し（ステップＳ９０）、挿入履歴数Kを保存して（ステップＳ８０）、分注処理を終了する。
上記分注処理において、プローブ交換要求の警告出力がなされて（ステップＳ９０）分注処理を終了した場合、オペレータは対象のサンプル容器１０１をサンプルディスク１０２から取り出して、蓋１０１ａを手動で取り外し、再度、サンプルディスク１０２に載置して分注動作を再開する。この場合（蓋１０１ａの無いサンプル容器１０１を扱う場合）の分注処理では、切込み処理の実施状態の確認（ステップＳ３５）、挿入履歴数Kと許容挿入履歴数K0の比較（ステップＳ４０）、挿入履歴数Kのインクリメント（ステップＳ６０）、及び挿入履歴数Kの保存（ステップＳ８０）は実施せずスキップする。
また、ブレードに着目すればブレードに対しても記憶部は挿入履歴数と許容挿入履歴数を記憶する。但し、蓋の穿孔が有る場合には、ブレードを容器に挿入することが実質的にないため、考慮される負荷としては、単なる回数、あるいは、蓋の種類、ブレードの挿入速度、蓋の温度による負荷係数である。ステップＳ３６での切り込み処理を行うことで、その処理条件に合った負荷が算出され、挿入履歴数に加算される。加算される挿入履歴数kiは、単なる回数により決まる、又は、蓋の種類、プローブの挿入速度、蓋の温度の有無のうちいずれかの条件を考慮した負荷係数により決まる。制御部は、プローブと場合と同様に、累積された挿入履歴数と許容挿入履歴数とを比較し、分注処理中に挿入履歴数Kが許容挿入履歴数K0以上となった場合は、ブレード交換要求の警告を出力してオペレータに報知し、挿入履歴数Kを保存する。
以上のように構成した本実施の形態において、サンプリングプローブ１０５は、閉じられた容器の蓋を貫通させて該容器中に挿入される挿入機構を構成し、記憶部１２２は、容器への挿入機構の挿入履歴数を記憶する。このフローを別のサンプル容器でも繰り返しサンプルプローブの挿入履歴数Kを累積する。これにより装置の使用を開始してからプローブにかかる負荷のほぼ全てを累積できる。また、このフローを別のサンプル容器でも繰り返しブレードの挿入履歴数Ｋを蓄積する。これにより装置の使用を開始してからブレードにかかる負荷のほぼ全てを累積できる。
以上のように構成した本実施の形態の動作を説明する。
まず、分析処理の準備として、サンプルディスク１０２に試料７を収容し蓋１０１ａで塞いだサンプル容器１０１を載置し、試薬ディスク１２５に分析対象となる複数の分析項目に対応する試薬ボトル１１２を載置する。また、キーボード１２１などの入力手段により各サンプル容器１０１に関する検体の情報（検体ＩＤ、容器種類、蓋の種類、蓋の有無、測定依頼項目など）を入力する。この状態で分析処理の開始を指示することにより、自動分析装置における検体の分析処理が開始される。
分析処理では、まず、ブレード２０５、及びサンプリング機構１のサンプリングアーム２にとりつけられたサンプリングプローブ１０５によって、サンプル容器１０１に収容された試料７に分注処理が実施され、反応容器１０６に分注される。分注処理では、制御部１０３はまず、分注処理対象のサンプル容器１０１から読み取った検体ＩＤに基づいて、サンプル容器１０１の容器種類、蓋の種類、蓋の有無、測定依頼項目、切込み処理の実施状態などの情報や、挿入履歴数Kや許容挿入履歴数K0などを記憶部１２２から読み出し（図７ステップＳ１０，Ｓ２０）、測定依頼項目が無い場合は分注処理を終了し、次の分注処理対象のサンプル容器１０１の分注処理に移行する（図４のステップＳ３０）。また、測定依頼項目が有る場合は、切込み処理が未実施の場合は切込み処理（検体情報の更新含む）を実施し、切込み処理が実施済みの場合は切込み処理を実施しない（図７のステップＳ３５，Ｓ３６）。続いて、挿入履歴数Kが許容挿入履歴数K0よりも小さい場合は、測定依頼項目が全て完了するまで分注動作（サンプリングプローブ１０５のサンプル容器１０１への蓋１０１ａを介しての挿入、及び試料７の吸引）、及び、挿入履歴数Kのインクリメントを繰り返し行い（図７のステップＳ４０〜Ｓ７０）、測定依頼項目が全て終了したら挿入履歴数Kを更新保存して分注処理を終了し、次の分注処理対象のサンプル容器１０１の分注処理に移行する（図７のステップＳ８０）。分注処理中に挿入履歴数Kが許容挿入履歴数K0以上となった場合は、プローブ交換要求の警告を出力してオペレータに報知し、挿入履歴数Kを保存して（図７のステップＳ９０，Ｓ８０）、分注処理を終了する。
なお、分注処理において、許容挿入履歴数オーバの警告出力がなされて（ステップＳ９０）分注処理を終了した場合、蓋オペレータは対象のサンプル容器１０１をサンプルディスク１０２から取り出して、蓋１０１ａを手動で取り外し、再度、サンプルディスク１０２に載置して、挿入履歴数Kに関係なく測定依頼項目が全て完了するまで分注動作を繰り返す。蓋１０１ａの無いサンプル容器１０１を扱う場合についても同様である。
また、ブレードについても先に説明したとおり、記憶部はブレードの挿入履歴数と許容挿入履歴数を記憶する。ステップＳ３６での切り込み処理を行うことで、その処理条件に合った負荷が算出され、挿入履歴数に加算される。制御部は、プローブと場合と同様に、累積された挿入履歴数と許容挿入履歴数とを比較し、分注処理中に挿入履歴数Kが許容挿入履歴数K0以上となった場合は、ブレード交換要求の警告を出力してオペレータに報知し、挿入履歴数Kを保存する。なお、本実施の形態では、挿入履歴数についてプローブとブレードの両方で算出する例を示したが、ブレードのみに適用してもよい。
続いて、試薬分注機構１０８の試薬分注プローブ１１０によって、試薬ボトル１１２に収容された試薬が反応容器１０６に分注され、試料、及び試薬が加えられた反応容器１０６内の混合物は、攪拌器１１３により攪拌される。そして、反応ディスク１０９の回転動作に伴う反応容器列の移送中に複数の反応容器が光源１１４からの光束を横切ることにより、各混合物の吸光度、あるいは発光値が測定手段である光度計１１５により測定（測光）される。測定信号（吸光度信号や発光値信号）は、Ａ／Ｄ変換器１１６を経由しインターフェース１０４を介して制御部１０３に入力され、分析項目の濃度が計算される。測光が終了した反応容器１０６は、洗浄機構１１９の位置に移送され、洗浄用ポンプ１２０による反応容器１０６内への洗浄水の供給、及び廃液の排出によって洗浄される。
以上のように構成した本実施の形態においても第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
また、サンプル容器１０１の蓋１０１ａへの切込み処理の実施状態、すなわち、実施の有無を記憶部１２２に記憶するように構成したので、試料７の分注に伴う異物の発生及び試料への混入を抑制することができ、分注異常や分析結果異常の発生を抑制することができる。すなわち、ブレード２０５の蓋１０１ａへの挿入状態（切込み処理の実施状態）を記憶部１２２で記憶して管理し、蓋１０１ａへの切込み処理を重複して行わないようにできるので、試料７の分注に伴う異物の発生及び試料への混入を抑制することができ、分注異常や分析結果異常の発生を抑制することができる。
なお、本実施の形態においても、分注処理で分注対象のサンプル容器１０１の挿入履歴数Kが許容挿入履歴数K0以上である場合には、許容挿入履歴数オーバの警告を出力してオペレータに報知して分注処理を終了するよう構成したが、合わせて分析処理を自動的に一時停止するよう構成しても良く、また、それらを設定できるように構成しても良い。または、プローブでサンプルを吸引し、蓋から抜針した後、プローブ外側の洗浄やブローなどの異物除去動作や、プローブ内に保持したサンプルの一部吐出によるつまり除去動作を入れ、その後反応容器に分注するよう構成してもよく、また、それらを実行するか設定できるように構成してもよい。このことは、プローブに限らず、ブレードについても同様である。
本発明の第３の実施の形態を図８及び図９を参照しつつ説明する。本実施の形態は、第２の実施の形態に示した構成に加え、サンプリングプローブ１０５を通すための中空管３０５をさらに設け、分注処理における中空管３０５の蓋１０１ａへの既挿入履歴数を管理するように構成したものである。なお、第２の実施の形態の如く、ブレードの挿入履歴数を管理してもよい。図８は、本実施の形態に係るブレード２０５、中空管３０５、及び、サンプリング機構１のサンプリングプローブ１０５のサンプル容器１０１への挿入の様子を模式的に示す図であり、図９は本実施の形態に係る分注処理の詳細を示すフローチャートである。図中、第１の実施の形態で説明したものと同一の部材には同じ符号を付し説明を省略する。
図８に示すように、サンプルディスク１０９に載置されたサンプル容器１０１には、試料７が収容されており、蓋１０１ａにより密閉されている。このようなサンプル容器１０１に挿入されるブレード２０５は鋭利な先端形状を有しており、蓋１０１ａに切込みを入れる切込み処理を行う機能を備えている（図８（ａ）参照）。中空管３０５は、ブレード２０５による切込み処理を行った蓋１０１ａの切込みを介してサンプル容器１０１内に挿入され（図８（ｂ）参照）、サンプリングプローブ１０５はその中空管３０５の内部を通してサンプル容器１０１内に挿入され試料７に浸漬して吸引を行う（図８（ｃ）参照）。本実施の形態においては、中空管３０５が蓋１０１ａの切込みを介してサンプル容器１０１内に挿入される場合が前述の挿入履歴数にカウントする場合に相当する。
図９に示すように、本実施の形態における分析処理においては、制御部１０３はまず、分注処理対象のサンプル容器１０１の検体ＩＤを読み取る（ステップＳ１０）。次に、読み取った検体ＩＤに基づいて、サンプル容器１０１の容器種類、蓋の有無、測定依頼項目、切込み処理の実施状態などの検体情報や、中空管３０５の挿入履歴数Kや許容挿入履歴数K0などを記憶部１２２から読み出す（ステップＳ３２０）。次に、測定依頼項目があるかどうかを判定し（ステップＳ３０）、その判定結果がＮＯの場合は分注処理を終了し、次の分注処理対象のサンプル容器１０１の分注処理に移行する。ステップＳ３０での判定結果がＹＥＳの場合は、切込み処理が実施済みかどうかを判定し（ステップＳ３５）、判定結果ＹＥＳの場合は、続いて中空管３０５の挿入履歴数Kが許容挿入履歴数K0よりも小さいかどうかを判定する（ステップＳ４０）。また、ステップＳ３５での判定結果がＮＯの場合は切込み処理（検体情報における実施状態の情報の更新を含む）を行い（ステップＳ３６）、続いて中空管３０５の挿入履歴数Kが許容挿入履歴数K0よりも小さいかどうかを判定する（ステップＳ４０）。ステップＳ４０での判定結果がＹＥＳの場合は、分注動作（中空管３０５のサンプル容器１０１への蓋１０１ａを介しての挿入、サンプリングプローブ１０５のサンプル容器１０１への中空管３０５を介しての挿入、試料７の吸引、及び、反応容器１０６への吐出）を行い（ステップＳ５０）、その後、測定依頼項目を全て終了したかどうかを判定し（ステップＳ７０）判定結果がＹＥＳであれば、中空管３０５を蓋１０１ａから抜き、中空管３０５の挿入履歴数Kのインクリメント（K←K+ki）を行い（ステップＳ７０）、挿入履歴数Kを保存して（ステップＳ８０）、分注処理を終了する。足される中空管の挿入履歴数kiは、単なる回数により決まる、又は、蓋の種類、中空管の挿入速度、蓋の温度のうちいずれかの条件を考慮した負荷係数により決まる。また、ステップＳ４０での判定結果がＮＯの場合は、中空管交換要求の警告を出力してオペレータに報知し（ステップＳ９０）、分注処理を終了する。また、ステップＳ７０での判定結果がＮＯの場合は、中空管３０５の蓋１０１ａへの挿入状態を持続したまま、測定依頼項目を全て完了してステップＳ７０での判定結果がＹＥＳになるまでステップＳ５０，Ｓ７０の処理を繰り返す。なお、ステップＳ４０〜ステップＳ７０の繰り返し中にステップＳ４０での判定結果がＮＯとなった場合は、繰り返しを終了して中空管交換要求の警告を出力し（ステップＳ９０）、分注処理を終了する。
上記分注処理において、中空管交換要求の警告出力がなされて（ステップＳ９０）分注処理を終了した場合、オペレータは対象のサンプル容器１０１をサンプルディスク１０２から取り出して、蓋１０１ａを手動で取り外し、再度、サンプルディスク１０２に載置して分注動作を再開する。この場合（蓋１０１ａの無いサンプル容器１０１を扱う場合）の分注処理では、切込み処理の実施状態の確認（ステップＳ３５）、中空管の挿入履歴数Kと許容挿入履歴数K0の比較（ステップＳ４０）、挿入履歴数Kのインクリメント（ステップＳ７５）、及び挿入履歴数Kの保存（ステップＳ８０）は実施せずスキップする。
以上のように構成した本実施の形態において、サンプリングプローブ１０５は、閉じられた容器の蓋を貫通させて該容器中に挿入される挿入機構を構成し、記憶部１２２は、容器への挿入機構の挿入履歴数を記憶する。このフローを別のサンプル容器でも繰り返し中空管の挿入履歴数Kを累積する。これにより装置の使用を開始してから中空管にかかる負荷のほぼ全てを累積できる。
以上のように構成した本実施の形態の動作を説明する。
まず、分析処理の準備として、サンプルディスク１０２に試料７を収容し蓋１０１ａで塞いだサンプル容器１０１を載置し、試薬ディスク１２５に分析対象となる複数の分析項目に対応する試薬ボトル１１２を載置する。また、キーボード１２１などの入力手段により各サンプル容器１０１に関する検体の情報（検体ＩＤ、容器種類、蓋の種類、蓋の有無、測定依頼項目など）を入力する。この状態で分析処理の開始を指示することにより、自動分析装置における検体の分析処理が開始される。
分析処理では、まず、ブレード２０５、及びサンプリング機構１のサンプリングアーム２にとりつけられたサンプリングプローブ１０５によって、サンプル容器１０１に収容された試料７に分注処理が実施され、反応容器１０６に分注される。分注処理では、制御部１０３はまず、分注処理対象のサンプル容器１０１から読み取った検体ＩＤに基づいて、サンプル容器１０１の容器種類、蓋の種類、蓋の有無、測定依頼項目、切込み処理の実施状態などの情報や、中空管３０５の挿入履歴数Kや許容挿入履歴数K0などを記憶部１２２から読み出し（図９ステップＳ１０，Ｓ３２０）、測定依頼項目が無い場合は分注処理を終了し、次の分注処理対象のサンプル容器１０１の分注処理に移行する（図９のステップＳ３０）。また、測定依頼項目が有る場合は、切込み処理が未実施の場合は切込み処理（検体情報の更新含む）を実施し、切込み処理が実施済みの場合は切込み処理を実施しない（図９のステップＳ３５，Ｓ３６）。続いて、中空管の挿入履歴数Kが許容挿入履歴数K0よりも小さい場合は、測定依頼項目が全て完了するまで分注動作（中空管３０５のサンプル容器１０１への蓋１０１ａを介しての挿入、サンプリングプローブ１０５のサンプル容器１０１への中空管３０５を介しての挿入及び試料７の吸引）を繰り返し行い（図９のステップＳ５０，Ｓ７０）、測定依頼項目が全て終了したら、中空管の挿入履歴数Kのインクリメント及び挿入履歴数Kを更新保存して分注処理を終了し、次の分注処理対象のサンプル容器１０１の分注処理に移行する（図９のステップＳ７５，Ｓ８０）。
なお、分注処理において、プローブ交換要求の警告出力がなされて（ステップＳ９０）分注処理を終了した場合、蓋オペレータは対象のサンプル容器１０１をサンプルディスク１０２から取り出して、蓋１０１ａを手動で取り外し、再度、サンプルディスク１０２に載置して、既挿入履歴数ｎに関係なく測定依頼項目が全て完了するまで分注動作を繰り返す。蓋１０１ａの無いサンプル容器１０１を扱う場合についても同様である。
続いて、試薬分注機構１０８の試薬分注プローブ１０５によって、試薬ボトル１１２に収容された試薬が反応容器１０６に分注され、試料、及び試薬が加えられた反応容器１０６内の混合物は、攪拌器１１３により攪拌される。そして、反応ディスク１０９の回転動作に伴う反応容器列の移送中に複数の反応容器が光源１１４からの光束を横切ることにより、各混合物の吸光度、あるいは発光値が測定手段である光度計１１５により測定（測光）される。測定信号（吸光度信号や発光値信号）は、Ａ／Ｄ変換器１１６を経由しインターフェース１０４を介してコンピュータ１０３に入力され、分析項目の濃度が計算される。測光が終了した反応容器１０６は、洗浄機構１１９の位置に移送され、洗浄用ポンプ１２０による反応容器１０６内への洗浄水の供給、及び廃液の排出によって洗浄される。
以上のように構成した本実施の形態においても第１及び第２の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
また、中空管３０５のサンプル容器１０１の蓋１０１ａへの挿入履歴数を記憶部１２２に記憶するように構成したので、試料７の分注に伴う異物の発生及び試料への混入を抑制することができ、分注異常や分析結果異常の発生を抑制することができる。すなわち、中空管３０５の蓋１０１ａへの挿入履歴数を記憶部１２２で記憶して管理し、許容挿入履歴数K0を設定してそれを超える挿入を行わないようにできるので、試料７の分注に伴う異物の発生及び試料への混入を抑制することができ、分注異常や分析結果異常の発生を抑制することができる。
なお、本実施の形態においても、分注処理で分注対象のサンプル容器１０１の挿入履歴数Kが許容挿入履歴数K0以上である場合には、中空管の交換要求の警告を出力してオペレータに報知して分注処理を終了するよう構成したが、合わせて分析処理を自動的に一時停止するよう構成しても良く、また、それらを設定できるように構成しても良い。または、プローブでサンプルを吸引し、蓋から抜針した後、プローブ外側の洗浄やブローなどの異物除去動作や、プローブ内に保持したサンプルの一部吐出によるつまり除去動作を入れ、その後反応容器に分注するよう構成してもよく、また、それらを実行するか設定できるように構成してもよい。
また、本発明の実施の形態においては、容器種類や蓋の種類をオペレータが入力する場合を例にとり説明したが、これに限られず、カメラ等で撮影した容器画像から容器種類や蓋の種類を判定する容器種別判定部又は蓋種別判定部を備える構成や、バーコードやRFIDから判定する構成、反射型センサなどを用いて容器移動時における蓋の通過時間などから判別する構成などとしても良い。また、蓋１０１ａの切込み処理の実施状態をカメラ等で撮影した蓋１０１ａの画像から切込み処理の実施状態を判定する切込み状態判定部を備える構成としても良い。また、検体ＩＤを自動分析装置１００よりも上位のＨＯＳＴコンピュータで管理するようにしてもよく、この場合は、ＨＯＳＴコンピュータが管理する複数の自動分析装置間で既分注回数を共有することができる。さらに、既分注回数の記憶期間を任意に設定可能としてもよく、既分注回数のリセット操作ミスを防止することができる。
さらに、蓋１０１ａの有無を判定する判定部を持たない構成の場合は、挿入機構（プローブ、ブレード、中空管）交換要求の警告出力がなされた対象サンプルに対して、オペレータがキーボード１２１などの入力手段から蓋１０１ａを取り外したという情報を入力しないと当該対象サンプルの分析を再開しない構成としてもよく、この場合には、蓋１０１ａの取り忘れなどのヒューマンエラーの発生確率を低減することができる。
本発明の実施の形態においては、挿入履歴数Kが許容挿入履歴数K0より大きい場合に挿入機構（プローブ、ブレード、中空管）交換要求の警告をオペレータに報知するとともに分注動作を行わない場合を例にとり説明したが、これとは別に挿入履歴数Kと許容挿入履歴数K0との差分がある閾値ΔKより小さくなった場合に、挿入機構交換予告の警告を報知して分注動作を行ってもよい。この場合のある閾値ΔKは固定値としてもよいし、オペレータが設定したり、１日の分注頻度などの統計値から自動で設定したりしてもよい。また、複数の閾値ΔKを設定し、それぞれにおいて異なる警告を報知するようにしてもよい。
１回の穿刺による挿入履歴数Kの増加量を抑えるため、たとえば分注処理能力を落として穿刺動作を変更するようにしたり、蓋部を加温する機構を装置内に持たせたりしても良い。この場合、挿入機構が容器の蓋を貫通する前に、蓋部を加温する加温部を備えることが望ましい。
挿入機構交換後の挿入履歴数Kのリセットは、オペレータがキーボード１２１などの入力手段から入力して行う。このとき、挿入機構の交換忘れなどのヒューマンエラーを防止するため、挿入履歴数Kのリセット作業後に、挿入機構が交換されたかの確認動作（後に詳述）を行わないと分注動作を行わないとする構成としても良い。つまり、挿入履歴数はリセット可能であり、リセットが行われ、かつ、制御部が挿入機構の交換情報を受け付けない場合、制御部は、交換された挿入機構の挿入動作を行わなくするのが望ましい。交換情報の入力は手動でも自動でも構わない。
特に、プローブが交換されたかの判別は、自動で行うことができる。例えば、プローブのカメラ観察や吸引・吐出時の圧力変化の測定、冶具等を使った停止位置チェックなどによって行う。または、プローブの状態を確認するための特殊な蓋付容器で分注動作を実施することで行っても良い。この蓋は、新品のプローブでは分注時に異物が発生しないが、許容挿入履歴数より十分に小さい挿入履歴数のプローブでは分注時に異物が発生するような材質でできている。この際の異物発生有無の確認は、異物との接触により色が変わる試薬を用いて行っても良く、色の変化を吸光度で測定することで行ってもよい。
また、負荷係数は予め記憶部に記憶されているが、この負荷係数は変更することが可能である。施設によって運用環境が異なるため装置を動作させた後に負荷係数を変更した方がよい場合がある。従い、負荷係数の設定を変更する表示装置を備えることが望ましい。
また、負荷係数を変更する場合等には、挿入機構が交換されたときの挿入履歴数を確認したい場合がある。過去の挿入履歴数を参考にしてより精度の高い負荷係数を設定し直すことができるためである。そのため、挿入機構が交換されたときの挿入履歴数を表示する表示装置を備え、記憶部は、挿入機構が交換されたときの挿入履歴数を記憶し、表示装置は交換されたときの挿入履歴数を一覧表示することが望ましい。加えて、この一覧表示には、蓋の種類とその蓋毎の挿入回数もス乳履歴数に並べて表示することが望ましい。
また、挿入履歴数は、劣化度合いを数値化しており、挿入機構の負荷の累積であるが、挿入回数以外の要素や負荷係数以外の要素を加味して、挿入履歴数を算出してもよい。従い、挿入回数に比例した値そのものでなくてもよく、基づくものであれば良い。また、蓋の種類に応じた負荷係数と蓋毎の挿入回数の積分値そのものでなくてもよく、基づくものであれば良い。
また、本実施の形態では、サンプルディスク１０２タイプを例にして説明したが、いわゆるラックタイプの場合であっても本発明は適用できる。ラックタイプの場合には、ラックによりサンプル容器１０１が搬送される。
なお、本発明は上記した実施の形態に限定されるものでなく、発明の概念を逸脱しない限り様々な変形例が含まれる。
１ サンプリング機構
２ サンプリングアーム
７ 試料
１００ 自動分析装置
１０１ サンプル容器
１０１ａ 蓋
１０２ サンプルディスク
１０３ 制御部（コンピュータ）
１０４ インターフェース
１０５ サンプリングプローブ
１０６ 反応容器
１０７ サンプル用シリンジポンプ
１０８ 試薬分注機構
１０９ 反応ディスク
１１０ 試薬分注プローブ
１１１ 試薬用シリンジポンプ
１１２ 試薬ボトル
１１３ 攪拌器
１１４ 光源
１１５ 光度計
１１６ Ａ／Ｄ変換器
１１７ プリンタ
１１８ 表示装置
１１９ 洗浄機構
１２０ 洗浄用ポンプ
１２１ キーボード
１２２ 記憶部（メモリ）
１２５ 試薬ディスク
１５１ 液面検出回路
１５２ 圧力センサ
１５３ 圧力検出回路
２０５ ブレード
３０５ 中空管

Claims (12)

  1. 閉じられた容器の蓋を貫通させて該容器中に挿入する挿入機構と、
    複数の該容器に跨って前記挿入機構が挿入されることによる前記挿入機構の負荷の累計に相当する挿入履歴数と、前記挿入履歴数の許容値である許容挿入履歴数と、を記憶する記憶部と、
    前記挿入履歴数と前記許容挿入履歴数とを比較し、前記挿入履歴数が前記許容挿入履歴数に達した場合にオペレータに報知する制御を行う制御部と、を備え、
    前記挿入機構は、異なる種類の蓋を貫通させて該容器中に挿入する機構であって、
    前記記憶部は、蓋の種類に応じた負荷係数を記憶し、
    前記挿入履歴数は、蓋の種類に応じた負荷係数と蓋毎の挿入回数に基づき、算出されることを特徴とする自動分析装置。
  2. 閉じられた容器の蓋を貫通させて該容器中に挿入する挿入機構と、
    複数の該容器に跨って前記挿入機構が挿入されることによる前記挿入機構の負荷の累計に相当する挿入履歴数と、前記挿入履歴数の許容値である許容挿入履歴数と、を記憶する記憶部と、
    前記挿入履歴数と前記許容挿入履歴数とを比較し、前記挿入履歴数が前記許容挿入履歴数に達した場合にオペレータに報知する制御を行う制御部と、を備え、
    前記記憶部は、前記挿入機構が蓋を貫通させて該容器中に挿入するときの条件として、蓋の種類、前記挿入機構の蓋への挿入速度、蓋の温度、蓋の穿孔の有無のうち、いずれかの条件を負荷係数として記憶し、
    前記挿入履歴数は、前記条件に応じた負荷係数と当該条件における挿入回数に基づき、算出されることを特徴とする自動分析装置。
  3. 閉じられた容器の蓋を貫通させて該容器中に挿入する挿入機構と、
    複数の該容器に跨って前記挿入機構が挿入されることによる前記挿入機構の負荷の累計に相当する挿入履歴数と、前記挿入履歴数の許容値である許容挿入履歴数と、を記憶する記憶部と、
    前記挿入履歴数と前記許容挿入履歴数とを比較し、前記挿入履歴数が前記許容挿入履歴数に達した場合にオペレータに報知する制御を行う制御部と、を備え、
    前記挿入機構は、異なる種類の蓋を貫通させて該容器中に挿入する機構であって、
    前記記憶部は、蓋の種類と蓋の穿孔の有無の組合せによる負荷係数を記憶し、
    前記挿入履歴数は、前記組合せによる負荷係数と前記組合せ毎の挿入回数に基づき、算出されることを特徴とする自動分析装置。
  4. 請求項１〜３のいずれかに記載の自動分析装置において、
    前記負荷係数の設定を変更する表示装置を備えることを特徴とする自動分析装置。
  5. 請求項１〜３のいずれかに記載の自動分析装置において、
    前記挿入機構が前記容器の蓋を貫通する前に、前記蓋を加温する加温部を備えることを特徴とする自動分析装置。
  6. 請求項１〜３のいずれかに記載の自動分析装置において、
    前記挿入機構は、同一種類の蓋を貫通させて該容器中に挿入する機構であって、
    前記挿入履歴数は、前記蓋に挿入した回数に比例する値に基づき、
    算出されることを特徴とする自動分析装置。
  7. 請求項１〜６のいずれかに記載の自動分析装置において、
    前記挿入機構は、前記閉じられた容器に収容された対象物を吸引するためのサンプルプローブであって、
    前記制御部は、前記サンプルプローブの交換要求の警告をオペレータに報知することを特徴とする自動分析装置。
  8. 請求項７記載の自動分析装置において、
    前記制御部は、前記サンプルプローブが交換されたことを自動で判別することを特徴とする自動分析装置。
  9. 請求項１〜６のいずれかに記載の自動分析装置において、
    前記挿入機構は、前記蓋に切り込みを入れて穿孔するために挿入されるブレードであって、
    前記制御部は、前記ブレードの交換要求の警告をオペレータに報知することを特徴とする自動分析装置。
  10. 請求項１〜６のいずれかに記載の自動分析装置において、
    前記閉じられた容器に収容された対象物を吸引するためのサンプルプローブと、
    前記蓋に切り込みを入れて穿孔するために挿入されるブレードと、を備え、
    前記挿入機構は、前記ブレードの挿入による孔を介して前記容器内に挿入される中空管であって、
    前記サンプルプローブは、前記中空管の中空部を介して前記容器内に挿入され、前記対象物を吸引し、
    前記制御部は、前記中空管の交換要求の警告をオペレータに報知することを特徴とする自動分析装置。
  11. 請求項１〜６のいずれかに記載の自動分析装置において、
    前記挿入機構が交換されたときの前記挿入履歴数を表示する表示装置を備え、
    前記記憶部は、前記挿入機構が交換されたときの前記挿入履歴数を記憶し、
    前記表示装置は、前記交換されたときの前記挿入履歴数を一覧表示することを特徴とする自動分析装置。
  12. 請求項１〜６のいずれかに記載の自動分析装置において、
    前記容器は試料を収容するサンプル容器であって、
    前記試料と試薬との混合液を収容する反応容器を載置する反応ディスクと、
    前記反応容器に収容された混合液を測光する光度計と、を備え、
    前記光度計の測光結果に基づき、前記試料の分析項目の濃度分析が行われることを特徴とする自動分析装置。
JP2017503375A 2015-03-02 2016-02-01 自動分析装置 Active JP6629832B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015039787 2015-03-02
JP2015039787 2015-03-02
PCT/JP2016/052848 WO2016139997A1 (ja) 2015-03-02 2016-02-01 自動分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2016139997A1 JPWO2016139997A1 (ja) 2017-12-21
JP6629832B2 true JP6629832B2 (ja) 2020-01-15

Family

ID=56848811

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017503375A Active JP6629832B2 (ja) 2015-03-02 2016-02-01 自動分析装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US10591498B2 (ja)
EP (1) EP3267205B1 (ja)
JP (1) JP6629832B2 (ja)
CN (1) CN107250806B (ja)
WO (1) WO2016139997A1 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7019343B2 (ja) * 2017-08-22 2022-02-15 東芝テック株式会社 薬液滴下装置及びシステム
EP3851858B1 (en) * 2018-09-12 2023-10-11 Hitachi High-Tech Corporation Automatic analysis device
JP7243555B2 (ja) * 2019-09-26 2023-03-22 株式会社島津製作所 試料注入装置
CN116888480A (zh) 2021-03-04 2023-10-13 株式会社日立高新技术 自动分析装置及检体的分注方法
WO2023182167A1 (ja) 2022-03-22 2023-09-28 富士フイルム株式会社 検査装置
WO2023182165A1 (ja) * 2022-03-22 2023-09-28 富士フイルム株式会社 穿孔具

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020049650A1 (en) * 1996-10-16 2002-04-25 Reff Albert A. Method and apparatus for providing inventory control of medical objects
DE69727396T2 (de) * 1996-11-13 2004-10-28 Beckman Coulter, Inc., Fullerton Automatische chemische analysevorrichtung mit mittel zum durchlochen der probenröhrchenstopfen
JP3980031B2 (ja) * 2005-02-09 2007-09-19 株式会社日立製作所 自動分析装置
ES2629330T3 (es) 2006-08-22 2017-08-08 Sysmex Corporation Analizador de muestras
JP4925768B2 (ja) 2006-08-22 2012-05-09 シスメックス株式会社 検体分析装置
JP4979305B2 (ja) * 2006-08-22 2012-07-18 シスメックス株式会社 分析装置
JP2008180640A (ja) * 2007-01-25 2008-08-07 Olympus Corp 自動分析装置、発注管理システムおよび発注管理方法
JP5410254B2 (ja) 2009-12-03 2014-02-05 安井器械株式会社 検体検査の検査前処理方法と装置
JP2012021871A (ja) 2010-07-14 2012-02-02 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP5674440B2 (ja) * 2010-12-01 2015-02-25 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP3180120U (ja) * 2012-09-21 2012-12-06 株式会社島津製作所 キャップピアッシング用穿孔針
JP5988830B2 (ja) 2012-10-30 2016-09-07 シスメックス株式会社 検体分析装置
JP6215018B2 (ja) * 2013-11-26 2017-10-18 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP3267205A1 (en) 2018-01-10
WO2016139997A1 (ja) 2016-09-09
CN107250806B (zh) 2019-09-17
CN107250806A (zh) 2017-10-13
US20180038879A1 (en) 2018-02-08
US10591498B2 (en) 2020-03-17
JPWO2016139997A1 (ja) 2017-12-21
EP3267205B1 (en) 2021-11-17
EP3267205A4 (en) 2018-10-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6629832B2 (ja) 自動分析装置
CN113811773B (zh) 自动分析装置及其清洗方法
EP2154537A1 (en) Analysis device and analysis method
CN115144603A (zh) 自动分析装置以及自动分析方法
US11054433B2 (en) Automated analyzer and control method for same
JP6676489B2 (ja) 自動分析装置で液体をピペッティングする方法
CN111175240A (zh) 自动分析装置
JP6635661B2 (ja) 自動分析装置及び試料希釈攪拌方法
JP2018017676A (ja) 自動分析装置及びプログラム
JP4416579B2 (ja) 自動分析装置
JP2010060522A (ja) 自動分析装置
JP6026110B2 (ja) 自動分析装置
JP2012021871A (ja) 自動分析装置
EP3896454A1 (en) Automated analyzer
JP6121743B2 (ja) 自動分析装置
WO2021079645A1 (ja) 自動分析装置および試薬の分注方法
JP2015102427A (ja) 自動分析装置
JP6219757B2 (ja) 自動分析装置及び異常判定方法
JP2018204962A (ja) 自動分析装置及びプログラム
JP2016125877A (ja) 自動分析装置
JP5205124B2 (ja) 自動分析装置及びその管理方法
JP2016170075A (ja) 自動分析装置及び自動分析方法
JP2015175783A (ja) 自動分析装置
JP2016125879A (ja) 自動分析装置
JP2020052014A (ja) 検体分析装置、検体分析方法およびプログラム

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170922

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20181101

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20181101

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190903

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20191105

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20191119

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20191205

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6629832

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350