JP6577700B2 - 放射線検出装置、その制御方法、放射線撮影装置、およびプログラム - Google Patents
放射線検出装置、その制御方法、放射線撮影装置、およびプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP6577700B2 JP6577700B2 JP2014135167A JP2014135167A JP6577700B2 JP 6577700 B2 JP6577700 B2 JP 6577700B2 JP 2014135167 A JP2014135167 A JP 2014135167A JP 2014135167 A JP2014135167 A JP 2014135167A JP 6577700 B2 JP6577700 B2 JP 6577700B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detection
- radiation
- ray
- irradiation
- capability
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 345
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 69
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 68
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 20
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 55
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims description 41
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 35
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 28
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 23
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 14
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 11
- 238000002601 radiography Methods 0.000 claims description 5
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 31
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 10
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 7
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 7
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 5
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 230000003902 lesion Effects 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 2
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 210000000988 bone and bone Anatomy 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 210000001835 viscera Anatomy 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
- A61B6/54—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis
- A61B6/542—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis involving control of exposure
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/02—Dosimeters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/71—Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
- H04N25/745—Circuitry for generating timing or clock signals
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/32—Transforming X-rays
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/38—Exposure time
- H05G1/42—Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube
- H05G1/44—Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube in which the switching instant is determined by measuring the amount of radiation directly
Description
図1は第1実施形態によるX線撮影システム10の構成を示すブロック図である。本実施形態によるX線撮影システムは、電源部105、X線検出装置100、X線発生装置200、X線制御装置210、コンピュータ装置400、表示装置410、保存装置420を含む。また、本実施形態によるX線検出装置100は、2次元撮像素子120とバイアス電源140からなるX線検出器110、X線照射検知部150、制御部160、駆動部165、読み出し部170、画像処理部175、画像保存部190、通信部180から構成される。
次に、本発明の第2実施形態について説明する。図14は、検知モード3においてX線検知した場合の処理を示すフローチャートである。検知を行うまでの処理は第1実施形態の処理と同様である。第2実施形態においても、X線が照射されたとX線照射検知部150が判定され、コンピュータ装置400の画像取得準備が整った時点で、撮影され画像保存部190に保存されていた画像情報がコンピュータ装置400に転送される(S1401〜S1403)。ここで、画像情報を受信したコンピュータ装置400は、画像を保存あるいは表示することなく自動的に写損画像として処理する点で第1実施形態と異なっている。コンピュータ装置400によって画像が破棄されても、X線検出装置100はリフレッシュ動作を行って通常撮影に備えることにより、次撮影はアーチファクトの無い画像を撮影できる(S1404〜S1405)。
その他の実施形態として、PIN型の光電変換素子を用いた二次元撮像素子を用いることとしてもよい。この場合、電圧Vrの電源であるリフレッシュ電源は必要なくなり、図9において本読みの後リフレッシュを行わずに準備期間の空読みが開始される。検知モード1での照射開始検知は空読みの開始後時間をおいて開始される。上述の実施形態では、バイアス電源を流れる電流をI-V変換してX線の照射開始を検知しているが、これに限らず、2次元撮像素子120とは別の照射開始用のX線照射検知センサを2次元撮像素子120及びシンチレータを含むX線センサのX線入射面側に配置し、X線センサに入射するX線の照射を検知することとしてもよい。X線照射検知センサは駆動部(駆動回路)165に接続され、照射開始に応じて駆動部165に信号を送信し、2次元撮像素子120を駆動することとしてもよい。
Claims (15)
- 放射線検出装置であって、
放射線を検出して該検出した放射線の量に対応する照射検知用の情報を生成する検出手段と、
前記検出手段により生成された前記照射検知用の情報に基づいて、放射線発生装置から照射された放射線を検出したか否かの検知を行う検知手段と、
制御装置から制御信号を受信する通信手段と、を有し、
前記検知手段は、前記通信手段により制御装置から受信された制御信号に基づいて、前記制御装置による放射線撮影のための準備完了を確認した時点から、他の期間の検出能より前記検知の感度が高い第1の検出能に切り替え、前記照射検知用の情報に基づいて前記放射線を検出する時点まで該第1の検出能を維持し、前記放射線検出装置への検出準備開始の指示を確認した時点から、前記第1の検出能よりも前記検知の感度が低い第2の検出能に切り替え、前記放射線撮影のための準備完了を確認する時点まで該第2の検出能を維持するように、前記放射線の検出のための検出能を切り替えることを特徴とする放射線検出装置。 - 入射した光を電気信号に変換する変換手段と、バイアス電源とを更に有し、
前記情報は、前記バイアス電源から前記変換手段に供給されたバイアス電流の変化の情報に基づくことを特徴とする請求項1に記載の放射線検出装置。 - 前記バイアス電流の変化の情報は、前記バイアス電流の値を所定期間で積分した値によって表されることを特徴とする請求項2に記載の放射線検出装置。
- 前記検知手段は、前記検知の感度を前記第2の検出能に切り替えてから、前記放射線撮影のための準備の完了を確認せずに所定の時間が経過した場合に、前記検知の感度を第3の検出能に切り替え、
前記第3の検出能は前記第2の検出能より前記検知の感度が低いことを特徴とする請求項2または3に記載の放射線検出装置。 - 前記検知手段は、前記放射線検出装置に電源が投入されたことを確認した場合に、前記検知の感度を第3の検出能に切り替え、前記放射線検出装置への検出準備開始の指示を確認する時点まで該第3の検出能を維持し、
前記第3の検出能は前記第2の検出能より前記検知の感度が低いことを特徴とする請求項4に記載の放射線検出装置。 - 前記検知手段は、前記検知の感度を前記第2の検出能に切り替えてから、前記通信手段により受信された前記制御信号に基づいて撮影終了を確認した場合に、前記検知の感度を第3の検出能に切り替え、
前記第3の検出能は前記第2の検出能より前記検知の感度が低いことを特徴とする請求項5に記載の放射線検出装置。 - 前記検知手段が前記第3の検出能で前記検知の感度を維持している間に前記変換手段により得られた電気信号を画像データとして保存する保存手段と、
前記保存手段により保存された前記画像データが前記放射線発生装置から照射された放射線に応じた放射線画像データであるか否かを判定する判定手段を更に有し、
前記判定手段により前記画像データが前記放射線発生装置から照射された放射線により得られたデータであると判定された場合に、前記通信手段は前記制御装置に該画像データを送信することを特徴とする請求項4乃至6のいずれか1項に記載の放射線検出装置。 - 前記判定手段により、前記画像データが前記放射線画像データでないと判定された場合に、ユーザによる指示があることを条件に前記通信手段は前記制御装置に前記画像データを送信することを特徴とする請求項7に記載の放射線検出装置。
- 前記検知手段は、前記情報を閾値と比較することにより前記検知を行うことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の放射線検出装置。
- 前記検知の感度は、前記閾値を高くすることによって低くなり、前記閾値を低くすることによって高くなることを特徴とする請求項9に記載の放射線検出装置。
- 前記検知手段は、前記通信手段により制御装置から受信された制御信号に基づいて、前記検知の感度を変えて前記検知の機能を停止することを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載の放射線検出装置。
- 請求項1乃至11のいずれか1項に記載の放射線検出装置と、
前記放射線検出装置に前記制御信号を送信する前記制御装置と、
を有することを特徴とする放射線撮影装置。 - 放射線発生装置をさらに有することを特徴とする請求項12に記載の放射線撮影装置。
- 放射線検出装置の制御方法であって、
放射線を検出して該検出した放射線の量に対応する照射検知用の情報を生成する検出工程と、
前記検出において生成された前記照射検知用の情報に基づいて、放射線発生装置から照射された放射線を検出したか否かを検知する検知工程と、
制御装置から制御信号を受信する通信工程と、を有し、
前記検知工程において、前記通信工程において制御装置から受信された制御信号に基づいて、前記制御装置による放射線撮影のための準備完了を確認した時点から、他の期間の検出能より前記検知の感度が高い第1の検出能に切り替え、前記照射検知用の情報に基づいて前記放射線を検出する時点まで該第1の検出能を維持し、前記放射線検出装置への検出準備開始の指示を確認した時点から、前記第1の検出能よりも前記検知の感度が低い第2の検出能に切り替え、前記放射線撮影のための準備完了を確認する時点まで該第2の検出能を維持するように、前記放射線の検出のための検出能を切り替えることを特徴とする放射線検出装置の制御方法。 - 請求項14に記載された放射線検出装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014135167A JP6577700B2 (ja) | 2014-06-30 | 2014-06-30 | 放射線検出装置、その制御方法、放射線撮影装置、およびプログラム |
EP15170850.0A EP2962640A1 (en) | 2014-06-30 | 2015-06-05 | Radiation detection apparatus, method of controlling the same, and computer program |
US14/750,038 US10288747B2 (en) | 2014-06-30 | 2015-06-25 | Radiation detection apparatus for changing sensitivity of radiation sensing during control for radiation imaging, method of controlling the same, and non-transitory computer-readable storage medium |
CN201510374186.1A CN105266832B (zh) | 2014-06-30 | 2015-06-30 | 放射线检测设备、其控制方法和放射线摄像设备 |
US16/260,519 US10585196B2 (en) | 2014-06-30 | 2019-01-29 | Radiation detection apparatus for changing sensitivity of radiation sensing during control for radiation imaging, method of controlling the same, and non-transitory computer-readable storage medium |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014135167A JP6577700B2 (ja) | 2014-06-30 | 2014-06-30 | 放射線検出装置、その制御方法、放射線撮影装置、およびプログラム |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018207602A Division JP6600403B2 (ja) | 2018-11-02 | 2018-11-02 | 放射線検出装置、その制御方法、放射線撮影装置、およびプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016013149A JP2016013149A (ja) | 2016-01-28 |
JP6577700B2 true JP6577700B2 (ja) | 2019-09-18 |
Family
ID=53298230
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014135167A Active JP6577700B2 (ja) | 2014-06-30 | 2014-06-30 | 放射線検出装置、その制御方法、放射線撮影装置、およびプログラム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US10288747B2 (ja) |
EP (1) | EP2962640A1 (ja) |
JP (1) | JP6577700B2 (ja) |
CN (1) | CN105266832B (ja) |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102013215702A1 (de) * | 2013-08-08 | 2015-02-12 | Siemens Aktiengesellschaft | Generatorsteuereinrichtung |
KR20160042572A (ko) * | 2014-10-10 | 2016-04-20 | 삼성전자주식회사 | 방사선 촬영 장치, 방사선 촬영 장치의 제어 방법 및 컴퓨터 단층 촬영 장치 |
EP3376543A4 (en) * | 2015-11-12 | 2018-11-21 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Photosensor |
CN107224293B (zh) * | 2016-03-25 | 2020-08-18 | 群创光电股份有限公司 | X射线图像检测系统及其控制方法 |
KR102618120B1 (ko) * | 2016-04-14 | 2023-12-27 | 삼성에스디아이 주식회사 | 이차전지 |
JP6443994B2 (ja) * | 2016-04-15 | 2018-12-26 | つくばテクノロジー株式会社 | ポータブルx線検査装置 |
KR101857796B1 (ko) * | 2016-08-03 | 2018-06-20 | 삼성전자주식회사 | 모바일 엑스선 장치 |
JP6900178B2 (ja) * | 2016-12-07 | 2021-07-07 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影システム用制御装置 |
JP6861512B2 (ja) * | 2016-12-16 | 2021-04-21 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置およびその制御方法 |
WO2018159466A1 (ja) * | 2017-02-28 | 2018-09-07 | 富士フイルム株式会社 | 放射線検出システム、放射線出力装置および放射線検出装置 |
JP6811673B2 (ja) * | 2017-04-25 | 2021-01-13 | 富士フイルム株式会社 | 放射線照射検出システムおよび放射線発生装置 |
JP6990986B2 (ja) * | 2017-04-27 | 2022-01-12 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法及びプログラム |
JP6917774B2 (ja) * | 2017-05-18 | 2021-08-11 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法およびプログラム |
JP7071095B2 (ja) * | 2017-11-15 | 2022-05-18 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置 |
JP7062447B2 (ja) * | 2018-01-19 | 2022-05-06 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、転送制御方法及びプログラム |
JP7376982B2 (ja) * | 2018-08-14 | 2023-11-09 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、放射線撮影システム、情報処理方法およびプログラム |
JP2022002355A (ja) * | 2018-09-28 | 2022-01-06 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 固体撮像素子、固体撮像素子の制御方法および電子機器 |
JP7170497B2 (ja) * | 2018-10-22 | 2022-11-14 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
JP7319809B2 (ja) * | 2019-03-29 | 2023-08-02 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法及び放射線撮像システム |
EP4102259A4 (en) * | 2020-02-06 | 2024-02-14 | Canon Electron Tubes & Devices Co Ltd | RADIATION DETECTOR |
Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3066944B2 (ja) * | 1993-12-27 | 2000-07-17 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置、その駆動方法及びそれを有するシステム |
JP3455577B2 (ja) * | 1994-04-08 | 2003-10-14 | 株式会社東芝 | X線ct装置 |
GB9515762D0 (en) * | 1995-08-01 | 1995-10-04 | Eev Ltd | Imaging apparatus |
EP0796549B1 (en) * | 1995-10-10 | 2004-01-07 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | X-ray examination apparatus comprising an exposure-control system |
JP3413084B2 (ja) | 1997-11-20 | 2003-06-03 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び撮像方法 |
JPH11155847A (ja) | 1997-11-28 | 1999-06-15 | Canon Inc | 放射線撮影装置及び駆動方法 |
JP4684747B2 (ja) | 2005-05-31 | 2011-05-18 | キヤノン株式会社 | 放射線発生装置及び制御方法 |
US7532702B2 (en) * | 2005-11-23 | 2009-05-12 | General Electric Company | Method and system for performing CT image reconstruction with motion artifact correction |
EP2380040B1 (en) * | 2008-12-22 | 2017-02-22 | Koninklijke Philips N.V. | High dynamic range light sensor |
JP2010264085A (ja) * | 2009-05-15 | 2010-11-25 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | 放射線画像撮影装置 |
US8779907B2 (en) * | 2009-08-31 | 2014-07-15 | General Electric Company | Multifunctional switch and detector assembly for a medical imaging system including the same |
US20110095192A1 (en) * | 2009-10-26 | 2011-04-28 | Johnson Kurtis F | Method to increase dynamic range of segmented non-linear devices |
US8766161B2 (en) * | 2009-12-02 | 2014-07-01 | Nucript LLC | System for controling and calibrating single photon detection devices |
JP5653823B2 (ja) * | 2010-06-30 | 2015-01-14 | 富士フイルム株式会社 | 放射線検出素子、及び放射線画像撮影装置 |
CN102780857B (zh) | 2011-05-10 | 2017-03-01 | 富士胶片株式会社 | 放射照像成像设备、放射照像成像系统和控制放射照像成像设备的方法 |
JP5642728B2 (ja) * | 2011-05-10 | 2014-12-17 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置の制御プログラム、及び放射線画像撮影装置の制御方法 |
WO2013002933A2 (en) * | 2011-06-28 | 2013-01-03 | General Electric Company | Autonomous x-ray exposure detection and image acquisition management in a digital x-ray detector |
US9097809B2 (en) | 2011-06-30 | 2015-08-04 | Carestream Health, Inc. | Radiographic detector including trap occupancy change monitor and feedback, imaging apparatus and methods using the same |
JP5657491B2 (ja) * | 2011-08-31 | 2015-01-21 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影プログラム、及び放射線画像撮影方法 |
US8983036B2 (en) * | 2011-12-31 | 2015-03-17 | Carestream Health, Inc. | Radiographic detector with rapid power-up, imaging apparatus and methods using the same |
JP2013141484A (ja) * | 2012-01-10 | 2013-07-22 | Konica Minolta Inc | 放射線画像撮影システム |
JP5986526B2 (ja) | 2012-04-06 | 2016-09-06 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法及び放射線撮像システム |
JP5832966B2 (ja) * | 2012-07-17 | 2015-12-16 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線の照射開始の検出感度制御方法およびプログラム |
JP2014048204A (ja) * | 2012-08-31 | 2014-03-17 | Canon Inc | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
JP6016673B2 (ja) | 2013-02-28 | 2016-10-26 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像システム |
JP5934128B2 (ja) | 2013-02-28 | 2016-06-15 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
-
2014
- 2014-06-30 JP JP2014135167A patent/JP6577700B2/ja active Active
-
2015
- 2015-06-05 EP EP15170850.0A patent/EP2962640A1/en not_active Withdrawn
- 2015-06-25 US US14/750,038 patent/US10288747B2/en active Active
- 2015-06-30 CN CN201510374186.1A patent/CN105266832B/zh active Active
-
2019
- 2019-01-29 US US16/260,519 patent/US10585196B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10585196B2 (en) | 2020-03-10 |
EP2962640A1 (en) | 2016-01-06 |
JP2016013149A (ja) | 2016-01-28 |
CN105266832A (zh) | 2016-01-27 |
US20150378030A1 (en) | 2015-12-31 |
CN105266832B (zh) | 2021-07-23 |
US20190170881A1 (en) | 2019-06-06 |
US10288747B2 (en) | 2019-05-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6577700B2 (ja) | 放射線検出装置、その制御方法、放射線撮影装置、およびプログラム | |
US10206642B2 (en) | Imaging information processing apparatus, X-ray imaging apparatus, X-ray imaging system, control method, and program for causing computer to execute control method | |
US9538969B2 (en) | Management apparatus | |
EP2449967B1 (en) | Radiation image detecting device and method for controlling the same | |
JP5544383B2 (ja) | 放射線画像検出装置および放射線撮影システム | |
US9304210B2 (en) | X-ray detector, method for driving the same, and X ray photographing system including the same | |
JP5473854B2 (ja) | 放射線撮影装置及び放射線撮影システム | |
JP2012247354A (ja) | 放射線画像検出装置及び放射線画像検出方法 | |
JP2005006979A (ja) | 放射線撮像装置、放射線撮像方法、及び、放射線撮像プログラム | |
KR20160070014A (ko) | 방사선 촬상 시스템, 방사선 촬상 시스템을 위한 제어 방법 및 상기 제어 방법을 실행하기 위한 프로그램이 저장된 기억 매체 | |
WO2013125113A1 (ja) | 放射線画像撮影制御装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置の制御方法、及び放射線画像撮影制御プログラム | |
US20140254765A1 (en) | Display control apparatus, display control method, and computer-readable storage medium storing program | |
JP6600403B2 (ja) | 放射線検出装置、その制御方法、放射線撮影装置、およびプログラム | |
JP6425658B2 (ja) | 放射線撮影装置及び情報処理装置 | |
JP2013122458A (ja) | X線検出器、制御装置、及びそれらの制御方法、システム並びにプログラム | |
JP6230249B2 (ja) | 制御装置、放射線撮影システム、制御方法、及びプログラム | |
JP2013003478A (ja) | 撮影用電子機器および撮影システム | |
JP6917774B2 (ja) | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法およびプログラム | |
JP6478524B2 (ja) | 放射線撮像システム、制御方法及びプログラム | |
WO2013125111A1 (ja) | 放射線画像撮影制御装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置の制御方法、及び放射線画像撮影制御プログラム | |
CN116898461A (zh) | 放射线摄影系统及其控制方法 | |
JP6289034B2 (ja) | 放射線撮像システム及び放射線撮像方法 | |
JP5615396B2 (ja) | 画像処理装置、放射線撮影システム、放射線撮像方法及びプログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170609 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180223 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180402 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180427 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20181005 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20181102 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190524 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190529 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190726 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190823 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6577700 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |