CN105266832A - 放射线检测设备、其控制方法和放射线摄像设备 - Google Patents
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 85
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 44
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title abstract description 21
- 238000003860 storage Methods 0.000 title description 21
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 37
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 29
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 23
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 claims description 23
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 22
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 5
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 5
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 54
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 32
- 230000008569 process Effects 0.000 description 26
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 18
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 11
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 10
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 9
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 7
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 5
- 206010034960 Photophobia Diseases 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 208000013469 light sensitivity Diseases 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 description 3
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 description 3
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 208000032364 Undersensing Diseases 0.000 description 1
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 1
- 230000005260 alpha ray Effects 0.000 description 1
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 1
- 230000005250 beta ray Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 210000000988 bone and bone Anatomy 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000036039 immunity Effects 0.000 description 1
- 230000003116 impacting effect Effects 0.000 description 1
- 230000003902 lesion Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- VIKNJXKGJWUCNN-XGXHKTLJSA-N norethisterone Chemical compound O=C1CC[C@@H]2[C@H]3CC[C@](C)([C@](CC4)(O)C#C)[C@@H]4[C@@H]3CCC2=C1 VIKNJXKGJWUCNN-XGXHKTLJSA-N 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 231100000915 pathological change Toxicity 0.000 description 1
- 230000036285 pathological change Effects 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
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-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/54—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis
- A61B6/542—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis involving control of exposure
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/02—Dosimeters
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/30—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from X-rays
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/71—Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
- H04N25/745—Circuitry for generating timing or clock signals
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/32—Transforming X-rays
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/38—Exposure time
- H05G1/42—Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube
- H05G1/44—Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube in which the switching instant is determined by measuring the amount of radiation directly
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- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Molecular Biology (AREA)
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- Pathology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
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- Signal Processing (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Immunology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Studio Devices (AREA)
Abstract
本发明涉及一种放射线检测设备、其控制方法和放射线摄像设备。放射线检测设备检测放射线并生成与所检测到的放射线的剂量相对应的照射感测信息,基于所生成的照射感测信息来感测是否检测到从放射线发生器照射的放射线,并且从控制器接收控制信号。该设备基于从控制器所接收到的控制信号来对检测放射线的检测能力进行切换。
Description
技术领域
本发明涉及放射线检测技术,尤其涉及可以在无需与放射线发生器交换任何同步信号的情况下获得X射线图像的放射线检测设备及其控制方法。
背景技术
近来,在医疗领域,已经促进了诸如X射线图像等的放射线图像的数字化,从而获得了很多优点。例如,可以通过使得用户能够在向显示装置等进行数字传输时在该显示装置等上快速确认所获得的图像来加速诊断。另外,数字化通过各种图像处理提高了针对细微病变的诊断精度并且使诊断自动化。此外,由于无需确保胶片存储空间,因此医院内的空间效率大幅提高。此外,由于数字传输几乎不存在数据劣化,因此可以将所获得的图像无任何劣化地传输至远处。充分利用这些特征可以通过将在家庭医疗现场或灾害现场等中所获得的图像发送至设备齐全的城市医院来接收来自训练有素的医生的诊断。
使用数字放射线摄像方法的放射线摄像设备已商用并且迅速普及,其中该数字放射线摄像方法通过利用代替胶片的排列成二维矩阵的多个放射线检测元件将放射线转换成电气信号来形成图像。作为这种类型的放射线摄像设备,提出了使用FPD(平板检测器)的X射线检测设备。在这种X射线检测设备中,将微小X射线检测器作为摄像元件配置成二维矩阵,并且各摄像元件将照射被检体所利用的照射的X射线转换成与该照射剂量相对应的电气信号(电荷量),其中,各微小X射线检测器均是通过使固体光电转换元件和将X射线转换成可见光的闪烁体堆叠所获得的。通常,FPD可以通过控制施加至固体光电转换元件的电压来将通过X射线照射所生成的电荷累积在这些元件内。之后,FPD通过将要施加的电压控制为另一电压来从这些固体光电转换元件中读出电荷,并且根据所累积的电荷量来形成图像数据。
在通过使用FPD来获得X射线图像的情况下,考虑到使用中的固体光电转换元件的特性,需要使X射线照射的时刻与检测器累积电荷(摄像)的时刻精确地同步。由于该原因,例如日本专利4684747所公开的,提出了通过在X射线生成器和FPD之间交换同步信号来使X射线照射与摄像时刻同步的X射线摄像系统。更具体地,FPD响应于来自X射线生成器的照射请求信号来准备进行摄像,并且根据利用FPD开始摄像(开始累积电荷)来将照射许可信号发送至X射线生成器,由此利用X射线照射被检体。在日本特开平11-155847所公开的X射线摄像系统中,FPD通过检测在X射线照射时内部所产生的电流的变化来检测X射线照射的时刻,并且响应于作为触发的该检测来开始摄像,由此建立X射线照射和摄像时刻之间的同步。
在X射线生成器和X射线检测设备没有相互交换同步信号的系统中,X射线生成器可以与X射线检测设备是否准备好进行摄像无关地生成X射线。在这种情况下,X射线照射使X射线检测设备的状态大大改变。除非进行适当的处理,否则这会影响通过下一摄像操作所要获得的图像。为了减轻该影响,即使在摄像准备完成之前以及在摄像准备完成之后,X射线检测设备可能也始终检测X射线照射的开始。
然而,如下情况越来越多:由于为了检测X射线照射的开始而处理微弱信号,因此在X射线检测设备始终准备进行X射线的检测的情况下,该设备因外部的电磁波噪声或冲击而将非摄像事件误检测为摄像。由于误检测,导致周期时间缩短、或者从误检测恢复所用的操作负荷增加。这导致摄像效率下降。另外,即使确保了抗噪性,电力消耗也增加。
发明内容
根据本发明的一个方面,提供一种放射线检测设备,包括:检测单元,用于检测放射线,并且生成与所检测到的放射线的剂量相对应的照射感测信息;感测单元,用于基于所述检测单元所生成的所述照射感测信息,来感测是否检测到从放射线发生器照射的放射线;以及通信单元,用于从控制器接收控制信号,其中,所述感测单元基于经由所述通信单元从所述控制器所接收到的控制信号,来对检测所述放射线的检测能力进行切换。
根据本发明的另一方面,提供一种放射线检测设备,包括:放射线传感器,用于通过检测放射线来获得放射线图像;驱动电路,用于向所述放射线传感器供给驱动信号;读出电路,用于读出从所述放射线传感器所输出的电气信号;感测电路,用于基于来自所述放射线传感器的电气信号来感测放射线照射开始;通信电路,用于与外部设备进行通信;以及控制电路,用于根据所述通信电路从所述外部设备所接收到的控制信号,在所述驱动电路通过向所述放射线传感器供给驱动信号来驱动所述放射线传感器的状态下,将所述感测电路的感测照射开始的功能设置成关状态。
根据本发明的又一方面,提供一种放射线检测设备的控制方法,所述控制方法包括以下步骤:检测步骤,用于检测放射线,并且生成与所检测到的放射线的剂量相对应的照射感测信息;感测步骤,用于基于所述检测步骤中所生成的照射感测信息,来感测是否检测到从放射线发生器照射的放射线;以及通信步骤,用于从控制器接收控制信号,其中,在所述感测步骤中,基于在所述通信步骤中从所述控制器所接收到的控制信号,来对检测所述放射线的检测能力进行切换。
通过以下(参考附图)对典型实施例的说明,本发明的其它特征将变得明显。
附图说明
图1是根据第一实施例的X射线摄像系统的框图;
图2是根据第一实施例的X射线检测器的等效电路图;
图3是示意性示出X射线照射时的电流信息的变化的图;
图4是示出根据第一实施例的用于判断X射线照射的开始的处理的流程图;
图5是根据第一实施例的用于判断X射线照射的开始的处理的时序图;
图6是示意性示出光电转换元件的截面结构的图;
图7A~7D是示出光电转换元件的各操作模式中的能带的图;
图8A~8C是X射线检查处理整体的时序图;
图9是示出X射线检测器的驱动时刻的时序图;
图10是示出电流信息中的噪声的时间变化的图;
图11是在感测模式3中感测到X射线的情况下要进行的处理的时序图;
图12是示出在感测模式3中感测到X射线的情况下要进行的处理的流程图(部分1);
图13A和13B是各自例示摄像时的检测波形和振动噪声的图;以及
图14是示出在感测模式3中感测到X射线的情况下要进行的处理的流程图(部分2)。
具体实施方式
以下将参考附图来详细说明本发明的实施例。尽管以下实施例将例示获得X射线图像的情况,但即使在使用作为除X射线以外的放射线的α射线、β射线和γ射线以及其它的电磁波的摄像操作中,也可以获得本发明的效果。
第一实施例
图1是示出根据第一实施例的X射线摄像系统10的结构的框图。根据本实施例的X射线摄像系统包括电源单元105、X射线检测设备100、X射线生成器200、X射线控制器210、计算机装置400、显示装置410和存储装置420。根据本实施例的X射线检测设备100包括具有二维摄像元件120和偏置电源140的X射线检测器110、X射线照射感测单元150、控制单元160、驱动单元165、读出单元170、图像处理单元175、图像存储单元190和通信单元180。
X射线检测设备100包括具有二维摄像元件120和闪烁体的X射线传感器(放射线传感器)。二维摄像元件120是通过使多个固体光电转换元件排列成二维矩阵来形成的。偏置电源140将偏置电压供给至二维摄像元件120。X射线照射感测单元150(感测电路)连接至偏置电源140并且感测X射线照射。控制单元160控制X射线检测设备100的各种操作。读出单元170读出图像数据。图像处理单元175处理所读出的图像。通信单元180是具有天线的通信电路,并且进行从位于外部的控制所用的计算机装置400发送来的控制信号的接收等。尽管假定计算机装置400是一般的PC(个人计算机),但还可以使用智能装置或蜂窝电话。在一些情况下,可以使用医院内服务器或云系统。另外,在一些情况下,可以使用通过将具有显示器的X射线检测设备100并入控制所用的计算机装置400内所获得的系统结构。
X射线生成器200生成脉冲状的X射线220。X射线控制器210控制X射线生成器200的诸如X射线ON/OFF(生成/不生成)操作、管电流和管电压等的X射线生成条件。X射线生成器200所生成的X射线220照射被检体300。透过被检体300的X射线220入射至X射线检测设备100内所配置的二维摄像元件120。二维摄像元件120将X射线220转换成X射线图像(放射线图像)。该X射线图像由读出单元170(读出电路)读出,然后经由图像处理单元175存储在图像存储单元190中。图像存储单元190具有大到足以存储至少一个图像数据的存储容量。
将完全存储在图像存储单元190中的图像数据经由通信单元180发送至外部。在这种情况下,在图像数据存储在图像存储单元190中期间,可以同时将该图像数据发送至外部。然而,可以将所有的图像数据都保持在图像存储单元190中。这是因为,例如在由于通信状态不良因而图像数据的一部分无法发送、以及外部的计算机装置等无法再现准确图像的情况下,X射线检测设备100可以重新发送图像数据。将发送至外部的图像存储在存储装置420中或显示在显示装置410上。通信单元180可以具有有线通信功能或无线通信功能。另外,可以在无需经由计算机装置400的情况下将图像数据存储在存储装置420中。可选地,X射线检测设备100可以并入除图像存储单元190以外的存储单元(未示出)并且可以将图像数据存储在该存储单元中。
另外,电源单元105连接至X射线检测设备100。如果通信单元180具有无线通信功能,则X射线检测设备100通常内置有电池作为电源单元105。如果通信单元180具有有线通信功能,则根据一个实施例,能够进行有线连接的电源作为电源单元105连接至X射线检测设备100。注意,在通信单元180具有有线通信功能的情况下,根据一个实施例,经常使用安装于直立台架上或嵌入工作台中的X射线检测设备。通信单元180有时具有无线通信功能和有线通信功能这两者。在这种情况下,通信单元180的有线通信功能和无线通信功能在相对于托架等安装/拆卸时进行自动切换,因而电源单元105在内置电池和有线电源之间切换。
图2是X射线检测器110的等效电路图。二维摄像元件120由排列成m(行)×n(列)的矩阵的多个像素构成。为了说明简单,图2示出m=3并且n=3的3×3的矩阵。然而,实际的检测设备包括例如m=2800并且n=2800的许多像素。如例示为像素125的各像素由光电转换元件S11、用于将X射线220转换成光电转换元件S11可以感测到的波长带中的光的荧光体(未示出)、以及开关元件T11构成。
各光电转换元件(S11~S33)生成并累积与所入射的X射线的剂量相对应的电荷。透过被检体300的X射线的透过剂量根据X射线所透过的被检体内的包括诸如骨头和内部器官等的构造以及病灶中的哪个部分而在分布上有所不同。各光电转换元件(S11~S33)将以这种方式有所不同的该分布转换成电荷的分布并且累积电荷。作为各光电转换元件(S11~S33),已知有使用非晶硅和多晶硅的各种类型的元件以及CCD。在本实施例中,作为各光电转换元件(S11~S33),使用由非晶硅作为主材料制成并且配置在诸如玻璃基板等的绝缘基板上的MIS光电二极管。然而,可以使用PIN光电二极管。另外,可以适当地使用将放射线直接转换成电荷的直接型转换元件。作为各开关元件(T11~T33),适当地使用具有控制端子和两个主端子的晶体管。本实施例使用TFT(薄膜晶体管)。
在像素125中,示出下部电极侧的电极作为G电极,并且示出上部电极侧的电极作为D电极。在像素125中,D电极电气连接至开关元件的两个主端子其中之一。另一方面,G电极经由共通的偏置布线连接至偏置电源140。在以第一行作为示例的情况下,沿行方向的多个开关元件T11、T12和T13的控制端子共通地连接至第一行的驱动布线g1,并且驱动单元165(驱动电路)针对各行经由驱动布线g1供给用于控制开关元件T11、T12和T13的导通状态的驱动信号。
在以第一列作为示例的情况下,沿列方向的多个开关元件T11、T21和T31中的没有连接至光电转换元件S11、S21和S31的主端子电气连接至第一列的信号布线s1。在开关元件T11、T21和T31处于导通状态的情况下,将与光电转换元件S11、S21和S31中所累积的电荷量相对应的电气信号经由信号布线s1输出至读出单元170。沿列方向的多个信号布线s1~s3将从多个像素所读出的电气信号并行地传输至读出单元170。
读出单元170包括:多路复用器(未示出),用于顺次处理并行读出的电气信号并且输出由此得到的信号作为串行图像信号;以及缓冲器放大器(未示出),用于输出阻抗转换之后的图像信号。AD转换器171将作为从缓冲放大器输出的模拟电气信号的图像信号转换成数字图像数据。
偏置电源140将偏置电压Vb经由偏置布线供给至各光电转换元件(S11~S33)的G电极,并且还输出包含供给至偏置布线的电流量的变化的电流信息。在本实施例中,输出用于感测X射线照射的电流信息的电路(感测电路)包括具有运算放大器和电阻器的电流-电压转换电路141和用于将转换得到的输出电压转换成数字值的AD转换器142。然而,这并非排他性的。例如,可以使用利用分流电阻器的电流-电压转换电路。另外,偏置电源140可以直接输出来自电流-电压转换电路141的输出电压。此外,偏置电源140可以输出与供给至偏置布线的电流量相对应的物理量。
将从偏置电源140输出的电流信息发送至X射线照射感测单元150。使用该信息以通过捕获在X射线照射期间所发生的电流量的变化来感测X射线照射。另外,偏置电源140还包括刷新电压Vr。与电压Vs相同,电压Vr经由偏置布线连接至各光电转换元件(S11~S33)的G电极。在光电转换元件的刷新时间段内,将电压Vr施加至G电极。SW(开关)控制电路143控制要施加至G电极的电压。SW控制电路143进行控制,以在刷新时间段(刷新模式时间段)内施加电压Vr并且在除刷新时间段以外的时间段(光电转换模式时间段)内施加电压Vs。
以下将说明根据本实施例的用于感测X射线照射的方法。作为用于感测X射线照射的信息,可以毫无改变地使用上述的偏置布线的电流信息。X射线照射感测单元150可以通过判断输入电流的采样值是否超过预定阈值来判断X射线照射的开始。设置低的阈值使得X射线照射感测单元150能够快速地感测到X射线照射的开始。然而,在这种情况下,X射线照射感测单元150容易受到例如冲击或磁场噪声的影响,并且可能发生误感测(尽管没有发生X射线照射这一事实但仍判断为发生照射的状态)。与此相对比,在X射线照射感测单元150中设置高的阈值将会降低噪声所引起的误感测的风险。然而,这将使感测X射线照射的时刻延迟。延长从X射线照射的开始直到感测到该X射线照射为止的时间将导致在图像中产生伪影。考虑到该问题,可以缩短从照射的开始直到判断为发生照射为止的时间。可以考虑到这几点来决定最佳感测阈值。
另外,在以低感光度检测X射线的情况下,可以通过调整要施加的偏置电压Vb(例如,通过将电压Vs设置为高电压来设置累积时的低偏置)来降低X射线感测感光度。在这种情况下,待机时间缩短以产生诸如减轻X射线检测元件的负荷并缩短从刷新开始的恢复时间等的优点。然而,毫无改变地使用电流信息将产生感测性能根据X射线的每单位时间的入射剂量而改变的问题。
图3是示意性示出在X射线照射时从偏置电源140输出的电流信息(偏置电流)的图。图3示出第二次X射线照射的状态。分别由第一次照射和第二次照射中的照射时间宽度与偏置电流的值的乘积所定义的面积A和B彼此相等,因而在所获得的图像之间不存在强度差。也就是说,通过第一次照射和第二次照射可以获得相同的图像。另一方面,第一次照射中的X射线照射时间短于第二次照射中的X射线照射时间。这等同于在第一次照射中以较高的管电流输出X射线(假定诸如管电压、被检体以及管和FPD之间的距离等的其它摄像条件保持相同)。此时检查偏置电流的变化表明第一次照射中的波峰值(偏置电流的值)高于第二次照射中的波峰值。因此,如果如图3的虚线所示设置阈值,则可能发生如下情况:第一次照射由于波峰值高于阈值而被感测到,但第二次照射由于波峰值低于阈值而未被感测到。一些X射线生成器无法生成高的管电流。与这种X射线生成器相组合可能会导致无法感测到照射的风险。
为了应对该问题,在本实施例中,X射线照射感测单元150通过对值X[N]进行积分来判断X射线照射是否开始,其中,值X[N]是通过对偏置布线的电流信息进行采样所获得的。图4是X射线照射的开始判断的流程图。图5是X射线照射的开始判断的时序图。首先,X射线照射感测单元150向表示积分值的Sum、表示采样值的索引的n和表示积分区间编号的m分别赋予初始值(步骤S401)。这些初始值分别为Sum=0、n=0并且m=1。将该操作称为积分器复位。然后,X射线照射感测单元150将通过对积分值Sum和表示n个前的采样值的X[n]进行相加所获得的值设置为新的积分值Sum。即,Sum=Sum+X[n](步骤S402)。在这种累积相加之后,X射线照射感测单元150设置n=n+1(步骤S403),然后进行区间判断(步骤S404)。
在步骤S404的区间判断中,如果采样值的索引n没有超过预先指定的第m个积分区间W[m](步骤S404中为“否”),则X射线照射感测单元150再次进行累积相加。如果采样值的索引n超过W[m](步骤S404中为“是”),则X射线照射感测单元150进行感测判断(步骤S405)。在步骤S405的感测判断中,如果积分值Sum超过预先指定的第m个区间中的阈值T[m](步骤S405中为“是”),则X射线照射感测单元150输出表示X射线照射开始的信息(步骤S408)。如果积分值Sum没有超过第m个区间中的阈值T[m](步骤S405中为“否”),则X射线照射感测单元150设置m=m+1(步骤S406),并且进行结束判断(步骤S407)。在步骤S407的结束判断中,如果积分区间编号m没有超过积分区间的数量M(步骤S407中为“否”),则X射线照射感测单元150再次进行累积相加。如果m超过M(步骤S407中为“是”),则X射线照射感测单元150输出表示X射线照射没有开始的X射线信息(步骤S409)。
通常,M是等于或大于1的值。值M越大,可以检测到的照射条件的范围越宽。缩短积分区间将扩大与具有高输出的照射时间短的摄像条件相对应的范围。与此相对比,延长积分区间将扩大与具有低输出的照射时间长的摄像条件相对应的范围。由于自适应的照射条件根据积分区间设置而不同,因此X射线照射感测单元150可以通过按适当的间隔设置多个积分区间而适用于几乎所有的必要的照射条件。
另外,各积分区间中的阈值T[m]可以与积分区间编号m无关地保持恒定、或者可以针对各积分区间而设置为最佳值。通常,可以根据针对各积分区间而不同的电流信号中所包含的噪声量来设置最佳阈值。例如,可以测量噪声量的标准偏差并且将所测量到的标准偏差的整数倍的值设置为阈值。
例如,以下将详细说明在积分区间的数量M为4、第一积分区间W[1]=8、第二积分区间W[2]=16、第三积分区间W[3]=32并且第四积分区间W[4]=64的情况下要进行的操作作为示例。首先,X射线照射感测单元150向表示积分值的Sum、表示采样值的索引的n和表示积分区间编号的m分别赋予初始值(步骤S401)。这些初始值为Sum=0、n=0并且m=1。然后,X射线照射感测单元150将通过对积分值Sum和表示0个之前的采样值的X[0]进行相加所获得的值设置为新的积分值Sum。即,Sum=Sum+X[0](步骤S402)。在这种累积相加之后,X射线照射感测单元150将采样值的索引设置为n=n+1(步骤S403),然后进行区间判断(步骤S404)。在第一次累积相加之后,采样值的索引为n=1,因而没有超过第一积分区间W[1]=8。也就是说,由于在区间判断中为“否”,因此X射线照射感测单元150再次进行累积相加(步骤S404中为“否”→步骤S402)。
在重复这种累积相加8次之后,将通过对8个采样值进行积分所获得的值存储在积分值Sum中。另外,采样值的索引为n=8,因而超过第一积分区间W[1]=8。也就是说,由于在步骤S404的区间判断中获得“是”,因此X射线照射感测单元150进行感测判断(步骤S405)。在该感测判断中,如果积分值Sum没有超过预先指定的第一区间中的阈值T[1],则X射线照射感测单元150将积分区间编号设置为m=m+1(步骤S406),然后进行结束判断(步骤S407)。在第一次感测判断之后,积分区间编号为m=1,因而没有超过表示积分区间的数量的M=4。也就是说,由于在步骤S407的结束判断中获得“否”,因此X射线照射感测单元150再次进行累积相加(步骤S402)。在未超过任意积分区间中的阈值T[m]的状态下X射线照射感测单元150重复进行累积相加64次的情况下,积分区间编号变为m=4。结果,在结束判断中获得“是”(步骤S407中为“是”)。此时,X射线照射感测单元150输出表示没有开始X射线照射的X射线信息(步骤S409)。与此相对比,如果在感测判断中超过阈值T[m],则X射线照射感测单元150输出表示在该时间点X射线照射开始的X射线信息。
上述说明例示了X射线检测设备100通过使用一个积分器来在多个积分区间中进行感测判断的结构。然而,可以与X射线检测设备100中的M个积分区间相对应地准备M个积分器,以通过使用各个积分器来并行进行感测判断。另外,上述说明例示了在任一积分区间中超过阈值的情况下X射线照射感测单元150感测到X射线照射开始的结构。然而,X射线照射感测单元150可以在超过多个积分区间中的阈值的情况下判断为X射线照射开始。
接着将说明光电转换元件(例如,图2中的S11~S33)的操作。如上所述,根据本实施例的各光电转换元件的操作模式包括刷新模式和光电转换模式这两个类型。图6是示意性示出根据本实施例的各光电转换元件的截面的图。在由绝缘基板构成的玻璃基板130上沉积并堆叠各种材料以形成光电转换元件。上部电极135利用透明电极形成。下部电极131由Al或Cr等形成。绝缘层132利用非晶氮化硅膜形成以阻止电子和空穴这两者通过。本征半导体层133利用氢化非晶硅形成,其中该本征半导体层133在光入射时生成电子空穴对,并且用作光电转换层。杂质半导体层134利用n型非晶硅形成,并且用作阻挡空穴从上部电极135向本征半导体层133的注入的空穴阻挡层。
图7A~7D是各光电转换元件的能带图。图7A示出无任何偏置的状态。图7B示出光电转换模式中的状态。图7D示出刷新模式中的状态。在图7B的光电转换模式中,在上部电极135和下部电极131之间施加作为偏置电压的电压Vs,以使得在上部电极135上出现正电压。电压Vs将本征半导体层133中的电子从上部电极135扫出。另一方面,尝试从上部电极135向本征半导体层133注入空穴,但这些空穴被杂质半导体层134阻挡并且无法移动到本征半导体层133。
在这种状态下光入射到本征半导体层133的情况下,通过光电转换效果生成电子空穴对。电子和空穴在不进行复合的情况下根据电场在本征半导体层133中移动。电子从上部电极135被扫出,但空穴被绝缘层132阻挡并且留在绝缘层132的界面上。在光电转换操作继续并且留在绝缘层132的界面上的空穴的数量增加的情况下,施加至本征半导体层133的电场因空穴的影响而变弱。结果,入射光所产生的电子空穴对在不因电场而移动的情况下通过复合而消失,并且光电转换元件失去对光的敏感度。图7C示出此时的能带图。将这种状态称为饱和。
为了使饱和的光电转换元件恢复敏感度,该光电转换元件需要进行被称为刷新的操作。在进行刷新操作的刷新模式中,如图7D所示,在上部电极135和下部电极131之间施加电压Vr,以使得在下部电极131上出现正电压。在刷新模式中,将留在绝缘层132的界面上的空穴从上部电极135扫出,并且代替空穴注入电子,并且这些电子留在绝缘层132的界面上。在这种情况下,在再次将光电转换元件切换为光电转换模式(图7B)的情况下,快速地将所注入的电子从上部电极135扫出,并且施加电压Vs作为偏置电压以使光电转换元件恢复对光的敏感度。
如上所述,各光电转换元件需要定期以刷新模式进行工作以维持对光的敏感度。首先,紧挨在光入射之后需要进行刷新。该时刻与紧挨X射线照射之后的时刻相对应。也就是说,在通过X射线照射获得X射线图像的情况下,各光电转换元件需要以准备进行下一摄像操作的刷新模式进行工作,从而恢复感光度。即使在无任何照射的状态下,在各光电转换元件内也由于温度等的影响而随机产生电荷(暗电流)。这样随机产生的电荷的累积也使各光电转换元件逐渐失去感光度。由于该原因,在无照射的状态持续了预定时间以上的情况下,需要对各光电转换元件进行刷新。
注意,在使用PIN光电二极管等作为二维摄像元件120的情况下,不需要上述的刷新模式本身。然而,在某种驱动改变时要执行的摄像恢复时间缩短模式具有与本实施例中的刷新模式的使用的意义相同的意义。驱动改变例如包括相对于正常模式包含临时偏置停止的偏置变化、驱动时刻的变化和利用另一发光装置的复位操作。
接着将说明X射线检测设备的各X射线感测模式和X射线检查状态之间的关系。图8A~8C是表示X射线感测模式和X射线检查操作整体之间的关系的时序图。图8A~8C示出X射线检测设备100以三个感测模式感测X射线的情况。第一个感测模式是与从X射线检测设备100的摄像结束开始直到摄像准备完成为止的准备时间段相对应的感测模式1。第二个感测模式是与从摄像准备完成开始直到检测到X射线照射为止的照射判断时间段相对应的感测模式2。第三个感测模式是与紧挨在启动之后或与作为触发的照射判断标准的变化同步地进行模式切换之后的X射线照射的可能性低的准备照射判断时间段相对应的感测模式3。从减少无效曝光的观点,可以使与X射线检测相关联的功能保持有效。由于该原因,即使在X射线照射的可能性低的作为准备照射判断时间段的时间段中,X射线检测设备100也根据来自操作员的指示的内容或X射线检测设备100所获取到的信息来检测X射线。
在本实施例中,在感测模式1、感测模式2和感测模式3中分别设置X射线感测的不同阈值。设T1是感测模式1中的阈值、T2是感测模式2中的阈值、并且T3是感测模式3中的阈值,则T3>T1>T2。也就是说,在感测模式2的时间段中设置最高的X射线检测能力,并且在感测模式3的时间段中设置最低的X射线检测能力。感测模式1是与电流信息不稳定的准备时间段相对应的模式。在该模式中,设置高的阈值以防止噪声等所引起的误感测。如上所述,感测模式3是与照射的可能性低的时间段相对应的模式,因而与感测模式1相同,在该模式中设置高的阈值以防止噪声等所引起的误检测。注意,如果很显然在感测模式3的时间段中没有进行X射线照射,则可以将T3设置为无限大,即设置成不进行X射线检测。另外,可以将感测模式2的状态称为感测照射开始的功能的ON(开)状态,并且可以将其余模式的状态称为感测照射开始的功能的OFF(关)状态。
如图8A所示,在确认为接通了电源时,X射线检测设备100首先进行初始化操作。在该初始化期间,X射线照射判断的感测模式处于非感测状态。在初始化操作完成时,感测模式转变为感测模式3(准备照射判断时间段)。根据针对X射线检测设备100的电源状态而针对从启动之后的状态向感测模式3的转变设置不同的条件。如果例如X射线检测设备100被并入直立台架或摄像工作台内并且始终从电源单元105接收电源,则在初始化完成之后,启动之后的状态立即转变为感测模式3。如果X射线检测设备100使用诸如电池等的内部电源,则启动之后的状态不转变为感测模式3,直到接收到来自操作员的明确指示为止,或者在启动时不转变为感测模式3。假定X射线检测设备100利用内置电池进行工作,并且是在该X射线检测设备100附接至托架的情况下没有执行摄像的条件下所安装的。在这种情况下,在X射线检测设备100附接至托架的情况下,该设备可以以非感测模式待机,并且可以在检测到使该设备从托架拆除的行为或者振动或冲击时转变为感测模式3。
在操作员将摄像准备信息输入至计算机装置400的情况下,X射线检测设备100接收并确认检测准备开始命令,然后立即从感测模式3(准备照射判断时间段)经由感测模式1(准备时间段)转变为感测模式2(照射判断时间段)。注意,在X射线检测设备100不是以感测模式3处于待机状态并且在非感测状态下接收到检测准备开始命令的情况下,该设备在处于感测模式1例如数秒之后转变为感测模式2。这是因为,感测模式3中X射线检测设备100内的驱动状态与感测模式1中X射线检测设备100内的驱动状态大致相同,并且需要预定准备时间段以读出X射线图像。注意,在启动电源时进行最初摄像操作的情况下,如图8A所示,X射线检测设备100可以在不经由感测模式1的情况下转变为感测模式2。
在感测模式2的时间段内检测到X射线照射时,X射线检测设备100读出图像并传送该图像。在该时间段内,设备被设置成非感测状态。X射线检测设备100在进行刷新操作之后确认检测准备开始命令时转变为感测模式1,然后在确认摄像许可命令时转变为感测模式2。
图8B示出X射线检测设备100在患者A的摄像结束(感测模式1)之后转变为感测模式3(准备照射判断时间段)的情况。在针对该特定被检体(患者A)的第二次摄像操作完成之后,X射线检测设备100向计算机装置400通知检测准备完成,然后等待来自计算机装置400的放射线摄像许可命令。假定在通知了检测准备完成之后,X射线检测设备100无法在预定时间段(超时时间A)内确认接收到作为指示信号的放射线摄像许可命令。在这种情况下,X射线检测设备100认为操作员无意进行摄像,然后转变为感测模式3(关状态)。
另外,如图8C所示,在从计算机装置400接收到摄像结束命令时,X射线检测设备100可以转变为感测模式3(关状态)。该摄像结束命令是在进行用以指示结束特定被检体的检查的操作输入的情况下发出的。在转变为感测模式3时,利用内置电池进行工作的X射线检测设备100可以在前一摄像操作结束后经过了预定时间(超时时间B:例如,10分钟)的情况下,从感测模式3转变至非感测状态,以节省电池持续时间。与此相对比,如果无需考虑电池持续时间或耐久性,则X射线检测设备100可以继续感测模式3。另外,X射线检测设备100可以在如图8C所示从托架拆卸或感测到振动等时以及在接收到来自计算机装置400的明确指示时从非感测状态中恢复。这是因为,X射线检测设备100认为该时刻的这种操作等可能是一系列的摄像准备操作其中之一。
图9是示出X射线检测器110的驱动时刻的时序图,并且表示从照射感测驱动(初始读取驱动)的某个中间点开始的操作。以下将参考图9来详细说明准备时间段。初始读取驱动是用以从开头行(y=0)起直到最末行(y=m)为止顺次接通光电转换元件的开关元件的驱动操作,并且进行该初始读取驱动以去除源自于光电转换元件内所产生的暗电流的电荷。按预定周期重复初始读取驱动,直到感测到X射线照射为止。在该时间段中,偏置电压Vb始终保持处于电压Vs。
在X射线照射时,通过初始读取所读出的电荷量增加。此时,在偏置行中流动的电流也增加。偏置电流的电流信息输入至X射线照射感测单元150,并且感测到X射线照射开始。在这种情况下,每次进行从一行开始的初始读取时,进行积分以对采样值X[n]进行相加,并且将由此得到的值与预定阈值进行比较以判断照射的开始。在判断为X射线照射开始时,在该时间点停止初始读取驱动(在图9中在第i行上感测到X射线照射开始),并且操作转变为累积电荷的操作。在电荷的累积期间,所有的开关元件均为关。在经过了预定时间之后累积结束的情况下,操作转变为实际读取。通过从开头行(y=0)起直到最末行(y=m)为止顺次接通开关元件来进行实际读取。
在实际读取之后,立即进行刷新。通过将偏置电压Vb设置为电压Vr来进行刷新。此时,X射线检测器110可以针对所有行同时或顺次执行刷新。可选地,X射线检测器110可以将这些行分割成几个块并且针对各块执行刷新。在刷新结束之后,再次开始初始读取。
在电荷的累积、实际读取和刷新操作期间,无法获得X射线照射感测单元150所使用的电流信号,因而无法感测到X射线照射。因此,X射线照射感测单元150为关。另外,由于紧挨在将刷新模式切换为光电转换模式之后电流信号不稳定,因此感测X射线照射的精度下降,直到电流信号变得稳定为止。由于该原因,X射线照射感测单元150有时误感测到进行了X射线照射,也就是说,尽管没有进行X射线照射这一事实,但有时发生“误感测”。因此,需要使X射线照射感测单元150在预定时间段内保持关。然而,如果在X射线照射感测单元150为关的时间段内进行了X射线误照射,则不进行照射感测。这样可能导致对作为被检体的患者进行了不必要的曝光。另外,发生以下问题。
首先,伴随着照射,与正常操作相同,在各光电转换元件中生成电荷。尽管通过初始读取逐渐去除了所生成的电荷,但未去除的电荷累积。如果在准备时间段之后在这种情况下进行摄像,则通过误照射所生成的电荷的残留成分叠加在通过摄像操作所生成的电荷上,这导致所获得的图像的图像质量下降。另外,假定紧挨在误照射之后准备时间段结束,并且开始感测。在这种情况下,由于通过误照射所产生的大量电荷残留,因此通过紧挨在X射线照射感测单元150的操作开始之后的初始读取读出许多电荷。这可能会使X射线照射感测单元150输出误感测到照射时的图像。在这种情况下,由于实际没有进行摄像,因此所获得的图像的图像质量不会达到预定水平。因此,极有可能该图像无法适当地用于进行诊断等。摄像技术人员例如需要针对这种图像进行拍摄损失(misshooting)处理。这可能会增加技术人员的负荷。
另外,由于误照射所产生的电荷,强制使光电转换元件进入如图7C所示那样的状态。结果,像素自身对光的敏感度下降,对入射光的饱和度下降,并且图像的动态范围变窄。这导致图像质量大幅下降。同时,X射线照射感测单元150自身的感光度下降,因而不能精确地感测正常照射。这可能会导致患者重复经历无效曝光。
为了使对患者的无效曝光最小化,X射线检测设备100需要感测到错误的时间段内的曝光并且对各光电转换元件进行刷新。为此,可以使准备时间段最短并且可以在长的时间段内感测X射线照射。在本实施例中,X射线检测设备100具有多个感测模式,并且在准备时间段和感测时间段中使用不同的感测模式,由此紧挨在刷新驱动之后感测照射。
另外,即使在一个患者的摄像结束之后,如上所述,从减少X射线曝光的观点,X射线检测设备100也可以始终继续X射线感测功能。另一方面,始终继续X射线感测功能是在从一个患者的摄像结束开始直到下一患者的摄像准备开始为止的时间段内,尽管在该时间段内X射线照射的概率不高,但也在保持X射线感测功能有效的情况下进行待机。如果在这种时间段内检测到X射线误照射,则例如需要进行拍摄损失处理。这样可能会增加摄像技术人员的负荷。因此,在这种时间段内,在使X射线检测设备100继续X射线检测的情况下,基于明确表示不根据来自操作员的指示或操作进行摄像的意图的信号来改变X射线检测状态是有效的。
在这种情况下,准备时间段(与感测模式1相对应的时间段)是刷新之后的X射线感测所用的电流信号以及偏移成分不稳定的时间段。因此,可以对紧挨在启动X射线检测设备100之后以及紧挨在刷新驱动之后进行相同的设置。X射线检测设备100可以在确保图像质量等的范围内任意设置准备时间段的长度,并且例如将该长度设置为10秒。准备时间段的长度在启动之后和紧挨刷新驱动之后可以相同或者可以是单独设置的。另外,X射线检测设备100例如可以通过使用X射线照射感测单元150监视电流信息的状态,根据该电流信息的状态来自动切换为电流信息变得足够稳定的时间段作为准备时间段。在这种情况下,可以考虑到图像质量等来任意设置所需的电流信息的稳定性程度。
图10是示出电流信息中所包含的噪声量的时间变化的曲线图。在该曲线图上,沿着以刷新驱动的时刻为基准的时间轴标绘电流信息中的噪声在各时间点处的标准偏差(σ)的值。参考图10,显而易见,噪声量紧挨在刷新驱动之后急剧减少,并且在经过了预定时间(在图10中为5秒)之后变得大致稳定。在这种情况下,例如,在噪声的急剧变化在某种程度上已变得稳定的3.3秒~10秒的间隔中设置感测模式1。可以将感测模式1中的阈值T1设置为噪声(σ)的恒定倍数,以抑制噪声的变化所引起的概率性的误感测。例如,将阈值设置为是3.3秒处的σ(3.4)的5倍的T1=17。另一方面,在经过了10秒之后开始感测模式2,并且将T2设置为3.26×5=15.3。
在感测到X射线照射的情况下,与感测模式无关地进行图像累积。在图像读出操作完成时,对各元件进行刷新驱动。通过刷新驱动来复位各检测元件的内部状态,以使得各元件在下一摄像操作时能够展现出期望性能。所读出的图像被处理并且存储在图像存储单元190中。
注意,在感测模式1中感测到X射线的情况下所获得的图像在偏移成分不稳定的状态下经过摄像操作,因而可能无法达到期望的图像质量水平。使用这种图像来进行诊断可能会导致误诊或病变的疏忽。因此,需要谨慎地处理这种图像。另外,在感测模式1中,由于没有进行计算机装置400侧的准备,因此要与所获得的图像关联的信息是不稳定的。在这种情况下,要与所获得的图像关联的信息包括用于识别患者的信息、与摄像区域和摄像技术有关的信息以及诸如管电压和管电流等的摄像执行信息。在将这种信息与图像关联时缺少对这种信息的管理可能会导致患者信息出现混乱。
接着将说明X射线检测设备100在感测模式3(准备照射判断时间段)中感测到X射线照射的情况。图11是根据本实施例的在感测模式3中感测到X射线照射的情况下要进行的处理的时序图。图12是该处理的流程图。参考图11,在启动电源时进行了初始化操作之后,X射线检测设备100以感测模式3待机。在这种情况下,在检测到X射线(在图11中为对患者X进行摄像)时,X射线检测设备100如上所述进行图像累积和读出操作(步骤S1201)。之后,X射线检测设备100将所获得的图像临时存储在图像存储单元190中(步骤S1202),并且判断当前的摄像操作是实际X射线摄像还是与外部磁场噪声或振动/冲击噪声相对应(步骤S1203)。
图13A示出X射线摄像时的检测波形的示例。图13B示出振动噪声的示例。在检测到振动噪声或外部磁场噪声的情况下,获得如图13B所示那样的振动检测波形。因此,这种波形的平均值经常接近像素值“0”,并且经常取负值。由于该原因,图像存储单元190将读出数据作为带符号的图像进行处理并且进行积分。如果积分值没有超过预定阈值,则图像存储单元190判断为伪检测(步骤S1203中为“否”)。如果积分值超过该阈值,则图像存储单元190判断为该数据是X射线图像或者极有可能是X射线图像(步骤S1203中为“是”)。在这种情况下,在等待计算机装置400的准备完成时(步骤S1204),通信单元180传送该图像(步骤S1205)。在这种情况下,显示装置410可以积极显示消息,以使得计算机装置400能够在以下操作中进行选择:在将图像关联至诸如患者信息等的信息时将该图像存储在存储装置420中和进行拍摄损失处理(步骤S1206)。
如果判断为误检测(步骤S1203中为“否”)。则显示装置410不积极地向用户显示任何消息。然后,X射线检测设备100进行刷新和准备驱动,并且以感测模式2→感测模式3的方式待机,以为下一摄像操作的可能性做好准备。如果操作员进行明确的图像获得操作(步骤S1207),则通信单元180将X射线检测设备100已获得的图像传送至计算机装置400(步骤S1208)。计算机装置400可以基于用户的操作来在以下操作中进行选择:在将图像关联至诸如患者信息等的信息时将该图像存储在存储装置420中和进行拍摄损失处理(步骤S1209)。
计算机装置400可以根据与X射线检测设备100的通信状态来判断X射线检测设备100是否准备好进行摄像(准备完成状态),或者可以根据用户等是否进行了某种操作来在判断为X射线检测设备100准备好进行摄像和判断为X射线检测设备100没有准备好进行摄像之间进行切换。在任何情况下,假定紧挨在摄像之后可以安全地接收到图像的状态是摄像就绪状态,并且将摄像就绪状态的时间段视为摄像就绪时间段。与此相对比,将无法进行安全摄像的时间段视为摄像禁止状态,并且将该状态的时间段视为摄像禁止时间段。
在计算机装置400变为准备好进行摄像的情况下,计算机装置400向X射线检测设备100通知相应信息。响应于该操作,将图像存储单元190中所存储的信息经由通信单元180发送至计算机装置400。计算机装置400已接收到要与接下来要获得的图像相关联的患者信息以及其它信息,并且在将所传送的图像关联至这些信息时存储所传送的图像。显示装置410显示所传送的图像。如果该图像的图像质量不足以用于诊断,则计算机装置400可以通过拍摄损失处理等丢弃该图像并且维持可以在相同条件下再次进行摄像的状态。
在这种情况下,X射线检测设备100可以至少向通过以感测模式1感测X射线照射所获得的图像添加表示在不恰当的时间段内进行了照射的图像的信息。另外,X射线检测设备100可以将该信息写入图像数据中作为其头部或者将该信息存储在除图像数据以外的文件中。在接收到附加有这种信息的图像信息时,显示装置410可以将表示在不适当的照射时刻获得了该图像的对话框连同该图像一起进行显示以警告摄像技术人员。另外,可以使该技术人员判断是否需要图像信息、例如判断是否进行拍摄损失处理。通过这些操作,X射线检测设备100甚至可以获得在准备时间段内经过照射所获得的X射线图像,并且计算机装置400可以在将该图像关联至适当信息时对该图像进行管理。
如上所述,根据本实施例,放射线检测设备具有多个感测模式,并且可以通过在准备时间段和感测时间段中分别设置不同的感测模式,来在避免利用放射线发生器的不适当曝光的情况下紧挨在刷新驱动之后进行放射线感测。另外,根据需要进行再摄像处理和传送处理可以在将与所获得的图像相关联的信息与该图像关联时存储该信息。
第二实施例
接着将说明本发明的第二实施例。图14是示出在以感测模式3感测X射线的情况下要进行的处理的流程图。直到执行感测为止的处理与第一实施例中的处理相同。同样在第二实施例中,在X射线照射感测单元150判断为进行了X射线照射并且计算机装置400准备好获得图像的情况下,将图像存储单元190中所存储的所获得的图像信息传送至计算机装置400(步骤S1401~S1403)。接收到图像信息的计算机装置400与第一实施例中的计算机装置400的不同之处在于:在无需存储或显示该图像的情况下,该计算机装置400自动将该图像作为通过拍摄损失所获得的图像进行处理。即使计算机装置400丢弃该图像,X射线检测设备100在通过进行刷新操作准备好进行正常摄像时,也可以通过下一摄像操作获得无任何伪影的图像(步骤S1404和S1405)。
另外,在进行拍摄损失处理的情况下,计算机装置400可以将表示在不恰当的照射时刻获得了图像的信息作为其原因进行记录。同时,显示装置410可以显示表示在不恰当的时刻进行了照射的对话框。计算机装置400可以通过使诸如患者信息和摄像条件等的信息与经过了拍摄损失处理的图像信息相关联来适当地管理针对患者的曝光剂量。另外,计算机装置400还可以通过取消拍摄损失处理来使用该图像作为诊断图像。随后,计算机装置400基于与针对作为通过拍摄损失所获得的图像进行处理的图像的条件相同的条件来针对下一摄像操作维持再摄像启用状态。与此相对比,如果X射线检测设备100判断为没有进行X射线照射,则该设备在无需传送任何图像的情况下立即返回至感测模式3(准备照射判断时间段)并且待机(步骤S1406)。
如上所述,根据本实施例,自动将图像作为通过拍摄损失处理所获得的图像来进行处理可以减轻操作员的负荷并且迅速准备好进行下一摄像操作。这样可以改善工作流程。
其它实施例
根据其它实施例,可以使用利用PIN光电转换元件的二维摄像元件。在这种情况下,不必使用作为电压Vr的电源的刷新电源,并且在图9中在实际读取之后在无需进行刷新的情况下开始准备时间段内的初始读取。在开始初始读取之后经过了一定时间的情况下开始感测模式1下的照射开始感测。根据上述实施例,对在偏置电源中流动的电流进行I/V转换以感测X射线照射的开始。然而,这并非排他性的,并且可以将除二维摄像元件120以外的照射开始所用的X射线照射传感器配置在包括二维摄像元件120和闪烁体的X射线传感器的X射线入射面侧,以感测入射到X射线传感器的X射线的照射。X射线照射传感器连接至驱动单元(驱动电路)165以根据照射的开始向驱动单元165发送信号,由此驱动二维摄像元件120。
本发明的实施例还可以通过如下的方法来实现,即,通过网络或者各种存储介质将执行上述实施例的功能的软件(程序)提供给系统或装置,该系统或装置的计算机或是中央处理单元(CPU)、微处理单元(MPU)读出并执行程序的方法。
尽管已经参考典型实施例说明了本发明,但是应该理解,本发明不限于所公开的典型实施例。所附权利要求书的范围符合最宽的解释,以包含所有这类修改、等同结构和功能。
Claims (19)
1.一种放射线检测设备,包括:
检测单元,用于检测放射线,并且生成与所检测到的放射线的剂量相对应的照射感测信息;
感测单元,用于基于所述检测单元所生成的所述照射感测信息,来感测是否检测到从放射线发生器照射的放射线;以及
通信单元,用于从控制器接收控制信号,
其中,所述感测单元基于经由所述通信单元从所述控制器所接收到的控制信号,来对检测所述放射线的检测能力进行切换。
2.根据权利要求1所述的放射线检测设备,其中,还包括:转换单元,用于将入射光转换成电气信号;以及偏置电源,
其中,所述检测单元生成表示从所述偏置电源供给至所述转换单元的偏置电流的变化的信息作为所述照射感测信息。
3.根据权利要求2所述的放射线检测设备,其中,表示所述偏置电流的变化的信息利用通过对所述偏置电流的值在预定间隔内进行积分所获得的值来表示。
4.根据权利要求2或3所述的放射线检测设备,其中,所述感测单元在基于所述通信单元所接收到的所述控制信号确认为利用所述控制器的放射线摄像的准备完成的情况下,切换至第一检测能力,并且维持所述第一检测能力,直到基于所述照射感测信息检测到所述放射线为止,其中所述第一检测能力高于其它时间段中的检测能力。
5.根据权利要求4所述的放射线检测设备,其中,所述感测单元在基于所述通信单元所接收到的所述控制信号确认为至所述放射线检测设备的开始检测准备的指示的情况下,切换至第二检测能力,并且维持所述第二检测能力,直到确认为所述放射线摄像的准备完成为止,其中所述第二检测能力低于所述第一检测能力。
6.根据权利要求5所述的放射线检测设备,其中,所述感测单元在切换至所述第二检测能力之后没有确认所述放射线摄像的准备完成并且经过了预定时间的情况下,切换至第三检测能力,其中所述第三检测能力低于所述第二检测能力。
7.根据权利要求5所述的放射线检测设备,其中,所述感测单元在确认为启动了所述放射线检测设备的电源的情况下,切换至第三检测能力,并且维持所述第三检测能力,直到确认为至所述放射线检测设备的开始检测准备的指示为止,其中所述第三检测能力低于所述第二检测能力。
8.根据权利要求5所述的放射线检测设备,其中,所述感测单元在切换至所述第二检测能力之后基于所述通信单元所接收到的所述控制信号确认为摄像结束的情况下,切换至第三检测能力,其中所述第三检测能力低于所述第二检测能力。
9.根据权利要求6所述的放射线检测设备,其中,还包括:
存储单元,用于将在所述感测单元维持所述第三检测能力的情况下所述转换单元所获得的电气信号作为图像数据进行存储;以及
判断单元,用于判断所述存储单元所存储的所述图像数据是否是利用从所述放射线发生器照射的放射线所获得的数据,
其中,在所述判断单元判断为所述图像数据是利用从所述放射线发生器照射的放射线所获得的数据的情况下,所述通信单元将所述图像数据发送至所述控制器。
10.根据权利要求9所述的放射线检测设备,其中,在所述判断单元判断为所述图像数据不是利用从所述放射线发生器照射的放射线所获得的数据的情况下,在用户发出了指示的条件下,所述通信单元将所述图像数据发送至所述控制器。
11.根据权利要求5所述的放射线检测设备,其中,在放射线摄像结束之后,所述转换单元转变为刷新驱动,并且在所述感测单元确认为至所述放射线检测设备的开始检测准备的指示的情况下,所述转换单元转变为用于将所述入射光转换成电气信号的驱动。
12.根据权利要求1所述的放射线检测设备,其中,所述感测单元通过将所述检测单元所生成的所述照射感测信息与分别对应于所述检测能力的多个阈值进行比较,来感测所述放射线。
13.根据权利要求1所述的放射线检测设备,其中,所述感测单元通过基于所述通信单元从所述控制器所接收到的控制信号对检测所述放射线的检测能力进行切换,来停止检测所述放射线的功能。
14.一种放射线摄像设备,包括:
根据权利要求1所述的放射线检测设备;以及
控制器,用于将所述控制信号发送至所述放射线检测设备。
15.一种放射线检测设备,包括:
放射线传感器,用于通过检测放射线来获得放射线图像;
驱动电路,用于向所述放射线传感器供给驱动信号;
读出电路,用于读出从所述放射线传感器所输出的电气信号;
感测电路,用于基于来自所述放射线传感器的电气信号来感测放射线照射开始;
通信电路,用于与外部设备进行通信;以及
控制电路,用于根据所述通信电路从所述外部设备所接收到的控制信号,在所述驱动电路通过向所述放射线传感器供给驱动信号来驱动所述放射线传感器的状态下,将所述感测电路的感测照射开始的功能设置成关状态。
16.根据权利要求15所述的放射线检测设备,其中,在将结束针对特定被检体的包括至少一次X射线摄像操作的检查的指示输入至控制器的情况下,所述控制电路根据接收到基于所述检查的结束而从所述控制器所输出的控制信号,来将所述感测电路的感测照射开始的功能设置成关状态。
17.根据权利要求15所述的放射线检测设备,其中,在没有针对控制器指定作为X射线摄像对象的特定被检体的情况下,所述控制电路根据接收到从所述控制器所输出的控制信号,来将所述感测电路的感测照射开始的功能设置成关状态。
18.根据权利要求15所述的放射线检测设备,其中,在预定时间段内没有从控制器接收到对检查的摄像进行许可的指示信号的情况下,所述控制电路根据接收到基于所述检查的结束而从所述控制器所输出的控制信号,来将所述感测电路的感测照射开始的功能设置成关状态。
19.一种放射线检测设备的控制方法,所述控制方法包括以下步骤:
检测步骤,用于检测放射线,并且生成与所检测到的放射线的剂量相对应的照射感测信息;
感测步骤,用于基于所述检测步骤中所生成的照射感测信息,来感测是否检测到从放射线发生器照射的放射线;以及
通信步骤,用于从控制器接收控制信号,
其中,在所述感测步骤中,基于在所述通信步骤中从所述控制器所接收到的控制信号,来对检测所述放射线的检测能力进行切换。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2014135167A JP6577700B2 (ja) | 2014-06-30 | 2014-06-30 | 放射線検出装置、その制御方法、放射線撮影装置、およびプログラム |
JP2014-135167 | 2014-06-30 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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CN105266832A true CN105266832A (zh) | 2016-01-27 |
CN105266832B CN105266832B (zh) | 2021-07-23 |
Family
ID=53298230
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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CN201510374186.1A Active CN105266832B (zh) | 2014-06-30 | 2015-06-30 | 放射线检测设备、其控制方法和放射线摄像设备 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US10288747B2 (zh) |
EP (1) | EP2962640A1 (zh) |
JP (1) | JP6577700B2 (zh) |
CN (1) | CN105266832B (zh) |
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CN107224293B (zh) * | 2016-03-25 | 2020-08-18 | 群创光电股份有限公司 | X射线图像检测系统及其控制方法 |
CN110352038A (zh) * | 2017-02-28 | 2019-10-18 | 富士胶片株式会社 | 放射线检测系统、放射线输出装置以及放射线检测装置 |
CN110574361A (zh) * | 2017-04-27 | 2019-12-13 | 佳能株式会社 | 放射线摄像设备、放射线摄像系统、放射线摄像设备的控制方法和程序 |
CN112740661A (zh) * | 2018-09-28 | 2021-04-30 | 索尼半导体解决方案公司 | 固体成像器件、固体成像器件的控制方法以及电子设备 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20190170881A1 (en) | 2019-06-06 |
US10288747B2 (en) | 2019-05-14 |
EP2962640A1 (en) | 2016-01-06 |
JP6577700B2 (ja) | 2019-09-18 |
CN105266832B (zh) | 2021-07-23 |
US20150378030A1 (en) | 2015-12-31 |
US10585196B2 (en) | 2020-03-10 |
JP2016013149A (ja) | 2016-01-28 |
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C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant |