JP6525173B2 - センサ装置 - Google Patents

センサ装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6525173B2
JP6525173B2 JP2017551817A JP2017551817A JP6525173B2 JP 6525173 B2 JP6525173 B2 JP 6525173B2 JP 2017551817 A JP2017551817 A JP 2017551817A JP 2017551817 A JP2017551817 A JP 2017551817A JP 6525173 B2 JP6525173 B2 JP 6525173B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sensor device
capacitor
connection point
quantizer
adder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017551817A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2017086188A1 (ja
Inventor
恭英 高▲瀬▼
恭英 高▲瀬▼
松谷 康之
康之 松谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Publication of JPWO2017086188A1 publication Critical patent/JPWO2017086188A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6525173B2 publication Critical patent/JP6525173B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M3/00Conversion of analogue values to or from differential modulation
    • H03M3/30Delta-sigma modulation
    • H03M3/32Delta-sigma modulation with special provisions or arrangements for power saving, e.g. by allowing a sleep mode, using lower supply voltage for downstream stages, using multiple clock domains, by selectively turning on stages when needed
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/14Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
    • G01D5/24Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying capacitance
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/20Increasing resolution using an n bit system to obtain n + m bits
    • H03M1/208Increasing resolution using an n bit system to obtain n + m bits by prediction
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/66Digital/analogue converters
    • H03M1/74Simultaneous conversion
    • H03M1/80Simultaneous conversion using weighted impedances
    • H03M1/802Simultaneous conversion using weighted impedances using capacitors, e.g. neuron-mos transistors, charge coupled devices
    • H03M1/804Simultaneous conversion using weighted impedances using capacitors, e.g. neuron-mos transistors, charge coupled devices with charge redistribution
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M3/00Conversion of analogue values to or from differential modulation
    • H03M3/30Delta-sigma modulation
    • H03M3/39Structural details of delta-sigma modulators, e.g. incremental delta-sigma modulators
    • H03M3/412Structural details of delta-sigma modulators, e.g. incremental delta-sigma modulators characterised by the number of quantisers and their type and resolution
    • H03M3/422Structural details of delta-sigma modulators, e.g. incremental delta-sigma modulators characterised by the number of quantisers and their type and resolution having one quantiser only
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M3/00Conversion of analogue values to or from differential modulation
    • H03M3/30Delta-sigma modulation
    • H03M3/458Analogue/digital converters using delta-sigma modulation as an intermediate step
    • H03M3/494Sampling or signal conditioning arrangements specially adapted for delta-sigma type analogue/digital conversion systems
    • H03M3/496Details of sampling arrangements or methods

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Compression, Expansion, Code Conversion, And Decoders (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Description

本発明は、アナログ入力信号と予測フィルタから出力される予測値との差分を加算器によって演算し、この差分を量子化器によって量子化してアナログ入力信号をデジタル信号に変換するA/D変換器を備えるセンサ装置に関するものである。
従来、この種のA/D変換器としては、例えば、特許文献1に開示されたオーバーサンプリング型A/D変換器がある。このオーバーサンプリング型A/D変換器は、Δ(デルタ)変調を行うΔ変調器と、ΔΣ(デルタシグマ)変調を行うΔΣ変調器とを併用した混合型変調器であり、Δ変調による入力信号と予測値との差分に対して、ΔΣ変調を行う。
図1(a)はΔ変調器1の構成を示す。量子化器2の出力は遅延器3によって1サンプリング時間遅らせられ、予測フィルタ4によって積分されて予測値として加算器5へ出力される。加算器5は入力信号と予測値との差分を演算し、量子化器2へ出力する。量子化器2は、サンプリングクロックが入力される毎にしきい値の値に応じて入力信号を符号化する。また、同図(b)はΔΣ変調器11の構成を示す。ΔΣ変調器11は、量子化器2の出力を1サンプリング時間遅延させた信号と入力信号との差分を加算器5によって演算する。この差分は、積分器6によって離散時間積分されることで、高い周波数領域で量子化雑音スペクトラムが増加する形にノイズシェーピングされて、量子化器2によって量子化される。同図(c)は混合型変調器12の構成を示す。混合型変調器12は、量子化器2の出力が遅延器3で遅延させられた信号を予測フィルタ4によって積分することで予測値を生成し、加算器5で入力信号と予測値との差分を演算する。そして、この差分に対して、上記のΔΣ変調を行う。つまり、加算器7で、量子化器2の出力を遅延器3によって遅延させた信号と加算器5の出力との差分を演算し、この差分を積分器6によってノイズシェーピングして、量子化器2によって量子化する。
このような混合型変調器12は、Δ変調器1の長所とΔΣ変調器11の長所とを併せ持ち、Δ変調によって入力電圧範囲を広げると共に、ΔΣ変調によって量子化雑音を高域側へ追いやって、必要とされる信号帯域における量子化雑音を低減する。
特開2003−318736号公報
上記従来のA/D変換器を備えるセンサ装置では、加算器5の入力インピーダンスを入力信号源の出力インピーダンスよりも十分高くとらなければならない。このため、容量性の電荷出力素子を入力信号源とした場合、電荷出力素子自身のインピーダンスが高いため、電荷出力素子と加算器5との間にインピーダンス変換回路を設ける必要がある。
また、容量性の電荷出力素子の出力を検出するためには、積分器6において電荷の複製、加算のためにアンプが必要となるが、このアンプを駆動するためにA/D変換器の消費電力が大きくなってしまう。
本発明はこのような課題を解決するためになされたもので、
アナログ入力信号と予測値との差分を演算する加算器と、加算器から出力される差分を量子化してアナログ入力信号をデジタル信号に変換して出力する量子化器と、量子化器から出力されるデジタル信号から予測値を生成し加算器へ出力するデジタル予測フィルタとからなるA/D変換器を備え、
加算器が、容量性電荷出力素子とコンデンサとの直列回路からなる容量型加算器によって構成され、容量性電荷出力素子とコンデンサとの接続点が量子化器の入力に接続されるセンサ装置を構成した。
本構成によれば、量子化器の出力からデジタル予測フィルタによって予測値が生成され、加算器でアナログ入力信号と予測値との差分が演算される。この差分は量子化器によって量子化されて符号化されるため、アナログ入力信号は、加算器と量子化器とデジタル予測フィルタとからなるA/D変換器によってΔ変調されて、デジタル信号に変換される。本構成のセンサ装置では、アナログ入力信号と予測値との差分を演算する加算器が、入力信号源である容量性電荷出力素子とコンデンサとの直列回路からなる容量型加算器によって構成され、容量性電荷出力素子自身の有する容量成分が容量型加算器を構成する容量の一部に用いられる。このため、容量性電荷出力素子がアナログ入力信号と予測値との差分を演算する加算器の一部を構成し、容量性電荷出力素子の出力そのものが増幅されることなく用いられて、容量型加算器における加算演算が行われる。したがって、A/D変換器の入力に設けられる加算器と、入力信号源であるインピーダンスの高い容量性電荷出力素子との間に、従来のようにインピーダンス変換回路を設ける必要が無くなり、アンプも不要であるため、Δ変調を行うA/D変換器を備えるセンサ装置を低消費電力化および小型化して提供することが出来る。
また、本発明は、複数のコンデンサが並列に接続され、デジタル予測フィルタが、各コンデンサへの印加電圧を選択してコンデンサによって前記接続点にかかる電圧値を予測値に応じたアナログ電圧値にD/A変換することを特徴とする。
本構成によれば、デジタル予測フィルタから出力される予測値は、容量型加算器を構成する各コンデンサへの印加電圧がデジタル予測フィルタによって予測値に応じて選択されることで、デジタル値からアナログ電圧値に変換される。このため、容量型加算器において、容量性電荷出力素子が出力するアナログ信号電圧値とデジタル予測フィルタから出力される予測値との加算演算が行えるようになる。
また、本発明は、各コンデンサへの印加電圧の選択が、各コンデンサに接続される各スイッチの切り替え制御を、前記接続点の電圧を上昇させるタイミングに遅れて前記接続点の電圧を低下させるタイミングが到来する各制御信号を各スイッチへ与えることで行われることを特徴とする。
容量性電荷出力素子とコンデンサとの接続点には、寄生ダイオードがつくことがある。例えば、寄生ダイオードのアノードがグラウンドに、カソードが前記接続点に、それぞれ接続されている場合を考える。また、各スイッチの切り替え制御について、制御信号がハイレベルのときに前記接続点の電圧が上がり、ローレベルのときに前記接続点の電圧が下がるとする。この場合、各コンデンサに接続される各スイッチの切り替え制御を、立ち上がりタイミングと立ち下がりタイミングとが同じ各制御信号を各スイッチへ与えることで行うと、各制御信号の生成タイミングによっては、制御信号の立ち下がりタイミングが他の制御信号の立ち上がりタイミングより早くなり、前記接続点に負のグリッチが発生する。負のグリッチが発生すると、寄生ダイオードに順方向の電圧が印加されて寄生ダイオードが導通することになり、容量型加算器に蓄えられた電荷が失われて、容量型加算器の加算演算に誤差が生じる。しかし、本構成によれば、各コンデンサに接続される各スイッチの切り替え制御を、立ち上がりタイミングに遅れて立ち下がりタイミングが到来する各制御信号を各スイッチへ与えることで行うため、制御信号の立ち下がりタイミングには他の制御信号の立ち上がりタイミングが過ぎ、前記接続点に生じるグリッチは負の側には生じずに必ず正の側に生じる。このため、寄生ダイオードには順方向電圧がかからなくなり、寄生ダイオードが導通して容量型加算器に蓄えられた電荷が失われることはなくなる。この結果、容量型加算器における加算演算に誤差が生じることはなくなる。
また、本発明は、容量性電荷出力素子および前記接続点間または前記接続点および量子化器間に接続される抵抗を備えることを特徴とする。
本構成によれば、容量性電荷出力素子において意図せずに大きな電荷が発生した場合に、容量性電荷出力素子および前記接続点間に接続される抵抗によって、大きな電流の容量型加算器への流入が防げるため、容量型加算器を保護することが出来る。
また、本発明は、容量型加算器が受動素子で構成されたループフィルタ、例えば、ラグリードフィルタを備えることを特徴とする。
本構成によれば、容量性電荷出力素子とコンデンサとで構成される容量型加算器によってアナログ入力信号と予測値との差分が演算され、この差分がループフィルタによって積分される。量子化器は積分された差分を量子化するので、Δ変調とΔΣ変調とを併用した混合型変調が行われ、信号対量子化雑音比(SQNR)を改善することが出来る。このループフィルタは受動素子で構成され、しかも、容量型加算器に一体化されるため、従来のように入力信号を積分器で複製するために必要となるアンプが不要になり、混合型変調を行うA/D変換器を備えるセンサ装置を低消費電力化および小型化して提供することが出来る。
上記ラグリードフィルタは、例えば、容量性電荷出力素子および前記接続点間に接続される抵抗と、前記接続点および前記コンデンサ間に接続される抵抗と、前記接続点および前記コンデンサ間に接続される抵抗デジタル予測フィルタとの間に接続される前記コンデンサと、前記量子化器の入力端子および基準電圧間に接続される抵抗とコンデンサの直列回路とから構成される。
また、上記ラグリードフィルタは、例えば、前記接続点および量子化器間に接続される抵抗と、前記接続点およびデジタル予測フィルタ間に接続される前記コンデンサと、前記量子化器の入力端子および基準電圧間に接続される抵抗とコンデンサの直列回路とから構成される。
ラグリードフィルタの前者の上記構成における、容量性電荷出力素子および前記接続点間に接続される抵抗と、前記接続点および前記コンデンサ間に接続される抵抗との2つの抵抗は、ラグリードフィルタの後者の上記構成によれば、前記接続点および量子化器間に接続される1つの抵抗にまとめることが出来る。したがって、ラグリードフィルタの後者の上記構成によれば、前者の上記構成に比べて抵抗の数を減らすことが出来、部品の実装面積を縮小することが出来る。
また、本発明は、量子化器がコンパレータから構成され、コンパレータにおける一対の入力端子の一方の入力端子および基準電圧間に接続される前記直列回路と、一対の入力端子の他方の入力端子および基準電圧間に接続される、前記直列回路と同じインピーダンスを有する抵抗とコンデンサの直列回路とを備えることを特徴とする。
本構成によれば、量子化器を構成するコンパレータにおける一対の各入力端子には、同じインピーダンスを有する抵抗とコンデンサの直列回路がそれぞれ基準電圧との間に平衡に接続される。このため、量子化器の一対の各入力端子に同じノイズが乗った場合、量子化器を構成するコンパレータの一対の入力信号に対する差動動作によってノイズを除去することが出来る。
また、本発明は、前記一対の入力端子をそれぞれ基準電圧に接続するスイッチを備えることを特徴とする。
本構成によれば、A/D変換器を構成する回路が正常に動作する範囲を超えた電荷が容量型加算器に流入した際などに、スイッチを導通させて量子化器の一対の入力端子をそれぞれ基準電圧に接続して、容量型加算器に溜まった電荷をスイッチを介して放電させることで、回路をリセットすることが出来る。
また、本発明は、容量性電荷出力素子の両端子間を短絡するスイッチを備えることを特徴とする。
本構成によれば、容量性電荷出力素子に大きな電荷が発生した場合に、容量性電荷出力素子の両端子間をスイッチによって短絡することで、容量性電荷出力素子をリセットすることが出来る。このため、センサ装置の出力の安定性を高めることが出来る。
本発明によれば、インピーダンス変換回路を設ける必要がなく、また、アンプが不要で小型で低消費電力の、Δ変調または混合型変調を行うA/D変換器を備えるセンサ装置を提供することが出来る。
(a)はΔ変調器の構成を示すブロック回路図、(b)はΔΣ変調器の構成を示すブロック回路図、(c)はΔ変調器とΔΣ変調器とを併用した混合型変調器の構成を示すブロック回路図である。 本発明の第1の実施の形態によるセンサ装置の概略構成を示す回路図である。 本発明の第2の実施の形態によるセンサ装置の概略構成を示す回路図である。 (a)は、本発明の第3の実施の形態によるセンサ装置の概略構成、(b)は、第3の実施の形態の変形例によるセンサ装置の概略構成を示す回路図である。 (a)は、本発明の第4の実施の形態によるセンサ装置の概略構成、(b)は、第4の実施の形態の変形例によるセンサ装置の概略構成を示す回路図である。 本発明の第4の実施の形態の第2変形例によるセンサ装置の概略構成を示す回路図である。 本発明の第5の実施の形態によるセンサ装置の概略構成を示す回路図である。 本発明の第6の実施の形態によるセンサ装置の概略構成を示す回路図である。 本発明の第7の実施の形態によるセンサ装置の概略構成を示す回路図である。 (a)は、本発明の第8の実施の形態によるセンサ装置の概略構成を示す回路図、(b)は、(a)に示すセンサ装置を構成するパターン依存遅延器の構成を示す回路図、(c)は、(b)に示すパターン依存遅延器を構成する遅延回路の構成を示す回路図である。 (a)は、第1〜第7の実施の形態による各センサ装置における各スイッチへ与えられるパルス信号および量子化器に入力される電圧のタイミングチャート図、(b)は、第8の実施の形態によるセンサ装置における各スイッチへ与えられるパルス信号および量子化器に入力される電圧のタイミングチャート図である。
次に、本発明のセンサ装置を実施するための形態について、説明する。
図2は、本発明の第1の実施の形態によるセンサ装置21Aの概略構成を示す回路図である。
センサ装置21Aは、センサとして容量性の電荷出力素子22を備え、電荷出力素子22に生じる電荷によって形成されるアナログ入力信号をデジタル信号doutに変換する。このような容量性の電荷出力素子2としては、例えば、素子の温度変化による焦電効果によって電荷を生じる焦電型赤外センサや、圧電素子に応力を加えると応力に比例した電荷を生じる圧電セラミックス型圧力・振動・衝撃センサなどがある。
電荷出力素子22とコンデンサ23との直列回路は容量型加算器24を構成し、電荷出力素子22とコンデンサ23との接続点Qが量子化器27の入力に接続されている。コンデンサ23は、並列に接続された複数のコンデンサ23a,23b,…23nによって構成される。容量型加算器24は、電荷出力素子22に生じるアナログ入力信号と、デジタル予測フィルタ25から出力される予測値との差分を演算する。すなわち、容量型加算器24は、電荷出力素子22に生じるアナログ入力信号電圧値と、デジタル予測フィルタ25から出力される、反転された予測値に応じたアナログ電圧値とを、電荷出力素子22およびコンデンサ23の各容量が蓄える電荷に応じて加算することで、アナログ入力信号と予測値との差分を演算する。
予測値に応じたアナログ電圧値は、デジタル予測フィルタ25が、各コンデンサ23a,23b,…23nへの印加電圧を選択して、コンデンサ23によって接続点Qにかかる電圧値をデジタルの予測値に応じたアナログの電圧値へD/A変換することで、得られる。各コンデンサ23a,23b,…23nとデジタル予測フィルタ25との間にはスイッチ26a,26b,…26nが設けられており、スイッチ26a,26b,…26nの切り替えにより、各コンデンサ23a,23b,…23nの接続点Qと反対側の端子には、Vrefp電圧またはVrefn電圧が印加される。Vrefp電圧は例えば1[V]に設定され、Vrefn電圧は例えば0[V]に設定される。また、各コンデンサ23a,23b,…23nの容量値は、2×C[F],2×C[F],2×C[F],…2×C[F]に設定される。したがって、デジタル予測フィルタ25が、自身が演算したデジタル値の予測値に応じて各スイッチ26a,26b,…26nの切替状態を制御することで、各コンデンサ23a,23b,…23nへの印加電圧は、各コンデンサ23a,23b,…23nの合成電圧値が予測値に応じたアナログ電圧値になるように、選択される。
量子化器27は、容量型加算器24から出力される差分を、サンプリングクロックclkが入力される毎に量子化して符号化し、アナログ入力信号をデジタル信号doutに変換して出力する。デジタル予測フィルタ25は、量子化器27から出力されるデジタル信号doutからデジタルの予測値を生成し、容量型加算器24へ出力する。
このような第1の実施の形態によるセンサ装置21Aによれば、量子化器27の出力からデジタル予測フィルタ25によって予測値が生成され、容量型加算器24で、電荷出力素子22に生じるアナログ入力信号と予測値との差分が演算される。この差分は量子化器27によって量子化されて符号化されるため、アナログ入力信号は、容量型加算器24と量子化器27とデジタル予測フィルタ25とからなるA/D変換器によってΔ変調されて、デジタル信号doutに変換される。
本実施形態のセンサ装置21Aでは、アナログ入力信号と予測値との差分を演算する加算器が、入力信号源である容量性電荷出力素子22とコンデンサ23との直列回路からなる容量型加算器24によって構成され、容量性電荷出力素子22自身の有する容量成分が容量型加算器24を構成する容量の一部に用いられる。このため、容量性電荷出力素子22が、アナログ入力信号と予測値との差分を演算する加算器の一部を構成し、容量性電荷出力素子22の出力そのものが増幅されることなく用いられて、容量型加算器24における加算演算が行われる。したがって、A/D変換器の入力に設けられる加算器と、入力信号源であるインピーダンスの高い容量性電荷出力素子22との間に、従来のようにインピーダンス変換回路を設ける必要が無くなり、アンプも不要であるため、Δ変調を行うA/D変換器を備えるセンサ装置21Aを低消費電力化および小型化して提供することが出来る。
また、本実施形態のセンサ装置21Aによれば、デジタル予測フィルタ25から出力される予測値は、容量型加算器24を構成する各コンデンサ23a,23b,…23nへの印加電圧がデジタル予測フィルタ25によって予測値に応じて選択されることで、デジタル値からアナログ電圧値に変換される。このため、容量型加算器24において、容量性電荷出力素子22が出力するアナログ信号電圧値とデジタル予測フィルタ25から出力される予測値との加算演算が行えるようになる。
図3は、本発明の第2の実施の形態によるセンサ装置21Bの概略構成を示す回路図である。なお、同図において図2と同一または相当する部分には同一符号を付してその説明は省略する。
第2の実施の形態によるセンサ装置21Bは、容量性電荷出力素子22が抵抗R1を介して接続点Qに接続される点だけが、第1の実施の形態によるセンサ装置21Aと相違する。
この第2の実施の形態によるセンサ装置21Bによれば、容量性電荷出力素子22において意図せずに大きな電荷が発生した場合に、抵抗R1によって、大きな電流の容量型加算器24への流入が防げるため、容量型加算器24を保護することが出来るという効果が奏される。
図4(a)は、本発明の第3の実施の形態によるセンサ装置21Cの概略構成を示す回路図である。なお、同図において図3と同一または相当する部分には同一符号を付してその説明は省略する。
第3の実施の形態によるセンサ装置21Cは、各コンデンサ23a,23b,…23nにそれぞれ直列に抵抗Ra,Rb,…Rnが接続され、容量型加算器24が受動素子で構成されたループフィルタを備える点だけが、第2の実施の形態によるセンサ装置21Bと相違する。抵抗R1と、各コンデンサ23a,23b,…23nおよび各抵抗Ra,Rb,…Rnとは、ラグリードフィルタの一部を構成し、これがループフィルタとして働く。また、抵抗R1は、ラグリードフィルタの一部を構成するのと同時に、第2の実施の形態によるセンサ内蔵A/D変換器21Bと同様に、大きな電流の流入を防いで、容量型加算器24を保護する。
第3の実施の形態によるセンサ装置21Cによれば、容量性電荷出力素子22とコンデンサ23とで構成される容量型加算器24によってアナログ入力信号と予測値との差分が演算され、この差分がループフィルタによって積分されて、ΔΣ変調器と同様にノイズシェーピングされる。量子化器27は積分された差分を量子化するので、Δ変調とΔΣ変調とを併用した混合型変調が行われ、信号対量子化雑音比(SQNR)を改善することが出来る。このループフィルタは抵抗素子とコンデンサ素子との受動素子で構成され、しかも、容量型加算器24に一体化されるため、従来のように入力信号を積分器6(図1参照)で複製するために必要となるアンプが不要になり、混合型変調を行うA/D変換器を備えるセンサ装置21Cを低消費電力化および小型化して提供することが出来る。
図4(b)は、第3の実施の形態の変形例によるセンサ装置21C’の概略構成を示す回路図である。なお、同図において図4(a)と同一または相当する部分には同一符号を付してその説明は省略する。
この変形例によるセンサ装置21C’は、コンデンサ23に直列に抵抗Raが接続される点だけが、第3の実施の形態によるセンサ装置21Cと相違する。抵抗R1と、各コンデンサ23a,23b,…23nおよび抵抗Raとは、ラグリードフィルタの一部を構成し、これがループフィルタとして働く。
この変形例によるセンサ装置21C’によっても、容量性電荷出力素子22とコンデンサ23とで構成される容量型加算器24によってアナログ入力信号と予測値との差分が演算され、この差分がループフィルタによって積分されるので、Δ変調とΔΣ変調とを併用した混合型変調が行われ、第3の実施の形態によるセンサ装置21Cと同様な作用効果が奏される。
図5(a)は、本発明の第4の実施の形態によるセンサ装置21Dの概略構成を示す回路図である。なお、同図において図4(a)と同一または相当する部分には同一符号を付してその説明は省略する。
第4の実施の形態によるセンサ装置21Dは、接続点Qに、抵抗R2とコンデンサ28との直列回路が接続され、この直列回路が接地されている点だけが、第3の実施の形態によるセンサ装置21Cと相違する。抵抗R1と、各コンデンサ23a,23b,…23nおよび各抵抗Ra,Rb,…Rnと、上記の直列回路を構成する抵抗R2およびコンデンサ28とはラグリードフィルタを構成する。
第4の実施の形態によるセンサ装置21Dでは、上記のラグリードフィルタがループフィルタとして作用する。このため、第4の実施の形態によるセンサ装置21Dによっても、混合型変調が行われ、信号対量子化雑音比を改善することが出来る。
図5(b)は、第4の実施の形態の変形例によるセンサ装置21D’の概略構成を示す回路図である。なお、同図において図5(a)と同一または相当する部分には同一符号を付してその説明は省略する。
この変形例によるセンサ装置21D’は、コンデンサ23に直列に抵抗Raが接続される点だけが、第4の実施の形態によるセンサ装置21Dと相違する。抵抗R1と、コンデンサ23および抵抗Raと、抵抗R2およびコンデンサ28の直列回路とはラグリードフィルタを構成する。
この変形例によるセンサ装置21D’によっても、上記のラグリードフィルタがループフィルタとして作用するので、第4の実施の形態によるセンサ装置21Dと同様な作用効果が奏される。
図6は、第4の実施の形態の第2変形例によるセンサ装置21D’’の概略構成を示す回路図である。なお、同図において図5(b)と同一または相当する部分には同一符号を付してその説明は省略する。
この第2変形例によるセンサ装置21D’’は、図5(b)に示す変形例によるセンサ装置21D’における、容量性電荷出力素子22および接続点Q間に接続される抵抗R1と、接続点Qおよびコンデンサ23間に接続される抵抗Raとの2つの抵抗が、接続点Qおよび量子化器27間に接続される1つの抵抗R3にまとめられている点だけが、変形例によるセンサ装置21D’と相違する。コンデンサ23と、抵抗R3と、量子化器27の入力端子および接地電圧間に接続される抵抗R2およびコンデンサ28の直列回路とは、ラグリードフィルタを構成する。この第2変形例によるセンサ装置21D’’によっても、上記のラグリードフィルタがループフィルタとして作用するので、第4の実施の形態によるセンサ装置21Dと同様な作用効果が奏される。さらに、この第2変形例によるセンサ装置21D’’によれば、変形例によるセンサ装置21D’に比べて抵抗の数を減らすことが出来、部品の実装面積を縮小することが出来る。
図7は、本発明の第5の実施の形態によるセンサ装置21Eの概略構成を示す回路図である。なお、同図において図6と同一または相当する部分には同一符号を付してその説明は省略する。
この第5の実施の形態によるセンサ装置21Eは、量子化器27’がコンパレータから構成され、このコンパレータにおける一対の入力端子の一方の入力端子および基準電圧である接地電圧間に、抵抗R2とコンデンサ28の直列回路が接続され、一対の入力端子の他方の入力端子および接地電圧間に、抵抗R4とコンデンサ30の直列回路が接続される点だけが、図6に示す第4の実施の形態の第2変形例によるセンサ装置21D’’と相違する。抵抗R2とコンデンサ28の直列回路と、抵抗R4とコンデンサ30の直列回路とは、同じインピーダンスを有する。
この第5の実施の形態によるセンサ装置21Eによっても、第4の実施の形態の第2変形例によるセンサ装置21D’’と同様な作用効果が奏される。さらに、この第5の実施の形態によるセンサ装置21Eによれば、量子化器27’を構成するコンパレータにおける一対の各入力端子には、同じインピーダンスを有する、抵抗R2とコンデンサ28の直列回路、および抵抗R4とコンデンサ30の直列回路がそれぞれ接地電圧との間に平衡に接続される。このため、量子化器27’の一対の各入力端子に同じノイズが乗った場合、量子化器27’を構成するコンパレータの一対の入力信号に対する差動動作によってノイズを除去することが出来る。
図8は、本発明の第6の実施の形態によるセンサ装置21Fの概略構成を示す回路図である。なお、同図において図7と同一または相当する部分には同一符号を付してその説明は省略する。
この第6の実施の形態によるセンサ装置21Fは、量子化器27’を構成するコンパレータの一対の入力端子をそれぞれ接地電圧に接続するスイッチ31,32を、抵抗R2とコンデンサ28の直列回路、および抵抗R4とコンデンサ30の直列回路のそれぞれに並列に備える点だけが、図7に示す第5の実施の形態によるセンサ装置21Eと相違する。
この第6の実施の形態によるセンサ装置21Fによっても、第5の実施の形態によるセンサ装置21Eと同様な作用効果が奏される。さらに、この第6の実施の形態によるセンサ装置21Fによれば、A/D変換器を構成する回路が正常に動作する範囲を超えた電荷が容量型加算器24に流入した際や、センサ装置21Fの使用開始時などに、スイッチ31,32を導通させて量子化器27’の一対の入力端子をそれぞれ接地電圧に接続して、容量型加算器24に溜まった電荷をスイッチ31,32を介して放電させることで、回路をリセットすることが出来る。
なお、本実施の形態では、スイッチ31,32を、抵抗R2とコンデンサ28の直列回路および抵抗R4とコンデンサ30の直列回路のそれぞれに並列に備えるが、コンデンサ28およびコンデンサ30のそれぞれに並列に備えるように構成してもよい。この構成によっても上記の実施形態と同様な作用効果が奏される。
図9は、本発明の第7の実施の形態によるセンサ装置21Gの概略構成を示す回路図である。なお、同図において図2と同一または相当する部分には同一符号を付してその説明は省略する。
第7の実施の形態によるセンサ装置21Gは、容量性電荷出力素子22の両端子間を短絡するスイッチ29を備える点だけが、第1の実施の形態によるセンサ装置21Aと相違する。
第7の実施の形態によるセンサ装置21Gによれば、容量性電荷出力素子22に大きな電荷が発生した場合に、容量性電荷出力素子22の両端子間をスイッチ29によって短絡することで、容量性電荷出力素子22を任意のタイミングでリセットすることが出来る。このため、センサ装置21Eの出力の安定性を高めることが出来る。また、上述した第2,第3,第4,第5,第6の各実施の形態および変形例によるセンサ装置21B,21C,21C’,21D,21D’,21D’’,21E,21Fおいても、容量性電荷出力素子22の両端子間にこのスイッチ29を同様に設けることで、この第7の実施の形態によるセンサ装置21Gと同様な作用効果が奏される。
図10(a)は、本発明の第8の実施の形態によるセンサ装置21Hの概略構成を示す回路図である。なお、同図において図9と同一または相当する部分には同一符号を付してその説明は省略する。
この第8の実施の形態によるセンサ装置21Hは、予測フィルタ25およびスイッチ26a,26b,…26n間にパターン依存遅延器33を備える点だけが、図9に示す第7の実施の形態によるセンサ装置21Gと相違する。第1〜第7の実施の形態によるセンサ装置21A〜21Gにおける、予測フィルタ25の予測値に応じたアナログ電圧値への変換は、各コンデンサ23a,23b,…23nに接続される各スイッチ26a,26b,…26nへ、図11(a)に示すようなパルス信号Da,Db,…Dnを制御信号として与え、各スイッチ26a,26b,…26nを切り替え制御することで、行われる。パルス信号Da,Db,…Dnがハイレベルのときには容量性電荷出力素子22とコンデンサ23との接続点Qの電圧は上昇し、ローレベルのときには接続点Qの電圧は低下する。パターン依存遅延器33は、各パルス信号Da,Db,…Dnを、図11(b)に示すように、立ち上がりタイミングTuに遅れて立ち下がりタイミングTdが到来するように変換して、各スイッチ26a,26b,…26nへ与える。この第8の実施の形態によるセンサ装置21Hにおける、予測フィルタ25による各コンデンサ23a,23b,…23nへの印加電圧の選択は、このように変換された各パルス信号Da,Db,…Dnが各スイッチ26a,26b,…26nへ与えられて、行われる。
スイッチ29の両端子間には、図10(a)に示すように、寄生ダイオード37がつくことがある。この寄生ダイオード37は、アノードがグラウンドに、カソードが接続点Qにそれぞれ接続され、接続点Qに向かって順方向に寄生する。また、容量性電荷出力素子22を除いた回路部分をIC(集積回路)化してセンサ装置21Hを形成し、接続点QにつながるICの端子に不図示のESD(Electro Static Discharge) 保護素子を接続した場合などにも、同様な寄生ダイオード37が接続点Qにつくことがある。
このような場合、各コンデンサ23a,23b,…23nに接続される各スイッチ26a,26b,…26nの切り替え制御を、図11(a)に示すような、立ち上がりタイミングと立ち下がりタイミングとが同じ各パルス信号Da,Db,…Dnを各スイッチ26a,26b,…26nへ与えることで行うと、各パルス信号Da,Db,…Dnの生成タイミングによっては、例えば、パルス信号Daの立ち下がりタイミングTdが、これに反転する他のパルス信号Dbの立ち上がりタイミングTuよりわずかに早くなり、接続点Qの電圧Vxに図11(a)に示すような負のグリッチNが発生することがある。負のグリッチNが発生して電圧Vxが0[V]を大きく下回ると、寄生ダイオード37に順方向の電圧が印加されて寄生ダイオード37が導通することになり、容量型加算器24に蓄えられた電荷が失われて、容量型加算器24の加算演算に誤差が生じる。
しかし、この第8の実施の形態によるセンサ装置21Hの構成によれば、各コンデンサ23a,23b,…23nに接続される各スイッチ26a,26b,…26nの切り替え制御を、図11(b)に示すような、立ち上がりタイミングTuに遅れて立ち下がりタイミングTdが到来する各パルス信号Da,Db,…Dnを制御信号として各スイッチ26a,26b,…26nへ与えることで行う。したがって、パルス信号Daの立ち下がりタイミングTdには他のパルス信号Dbの立ち上がりタイミングTuが過ぎ、量子化器27の入力に生じるグリッチは、図11(b)に示す接続点Qにおける電圧Vxのように、負の側には生じずに必ず正の側に生じる。このため、寄生ダイオード37には順方向電圧がかからなくなり、寄生ダイオード37が導通して容量型加算器24に蓄えられた電荷が失われることはなくなる。この結果、容量型加算器24における加算演算に誤差が生じることはなくなる。
パターン依存遅延器33は、例えば、図10(b)に示すように、OR回路34の一入力に入る信号を遅延回路35によって遅延させることで、構成される。遅延回路35は、例えば、図10(c)に示すように、インバータ36を偶数個直列に接続することで、構成される。このようにパターン依存遅延器33を構成することで、各パルス信号Da,Db,…Dnのハイレベルからローレベルへの立ち下がり時には、遅延回路35によってOR回路34の一入力に入力される信号のハイレベル時間が遅延されて、OR回路34の出力がローレベルに落ちるまでの時間が遅延される。したがって、この遅延により、図11(b)に示すような、立ち上がりタイミングTuに遅れて立ち下がりタイミングTdが到来する各パルス信号Da,Db,…Dnを生成することが出来る。一方、各パルス信号Da,Db,…Dnのローレベルからハイレベルへの立ち上がり時には、遅延回路35によってOR回路34の一入力に入力される信号のローレベル時間が遅延されるが、OR回路34の他入力に入力される信号は遅延されないため、OR回路34の出力に現れる信号は、立ち上がりタイミングが遅れることなく、直ちにローレベルからハイレベルに変化する。
上述した第1,第2,第3,第4,第5,第6の各実施の形態および変形例によるセンサ装置21A,21B,21C,21C’,21D,21D’,21D’’,21E,21Fおいても、予測フィルタ25およびスイッチ26a,26b,…26n間にパターン依存遅延器33を同様に設けることで、この第8の実施の形態によるセンサ装置21Hと同様な作用効果が奏される。
上記の各実施の形態および変形例によるセンサ装置21A〜21Hは、容量性電荷出力素子22を焦電型赤外センサとした場合には人感センサとして利用され、容量性電荷出力素子22を圧力・振動・衝撃センサとした場合には、工業分野の様々な場面における圧力・振動・衝撃の測定センサに利用される。
21A,21B,21C,21C’,21D,21D’,21D’’,21E,21F,21G,21H…センサ装置
22…容量性電荷出力素子
23(23a,23b,…23n),28,30…コンデンサ
24…容量型加算器
25…デジタル予測フィルタ
26a,26b,…26n、29,31,32…スイッチ
27,27’…量子化器
33…パターン依存遅延器
34…OR回路
35…遅延回路
36…インバータ
37…寄生ダイオード
Ra,Rb,…Rn、R1,R2,R3,R4…抵抗
Q…接続点
Vx…接続点Qの電圧

Claims (11)

  1. アナログ入力信号と予測値との差分を演算する加算器と、前記加算器から出力される前記差分を量子化してアナログ入力信号をデジタル信号に変換して出力する量子化器と、前記量子化器から出力されるデジタル信号から前記予測値を生成し前記加算器へ出力するデジタル予測フィルタとからなるA/D変換器を備え、
    前記加算器は、容量性電荷出力素子とコンデンサとの直列回路からなる容量型加算器によって構成され、前記容量性電荷出力素子とコンデンサとの接続点が前記量子化器の入力に接続されるセンサ装置。
  2. 前記コンデンサは複数が並列に接続され、前記デジタル予測フィルタは、各前記コンデンサへの印加電圧を選択して前記コンデンサによって前記接続点にかかる電圧値を前記予測値に応じたアナログ電圧値にD/A変換することを特徴とする請求項1に記載のセンサ装置。
  3. 各前記コンデンサへの印加電圧の選択は、各前記コンデンサに接続される各スイッチの切り替え制御を、前記接続点の電圧を上昇させるタイミングに遅れて前記接続点の電圧を低下させるタイミングが到来する各制御信号を各前記スイッチへ与えることで行われることを特徴とする請求項2に記載のセンサ装置。
  4. 前記容量性電荷出力素子および前記接続点間または前記接続点および前記量子化器間に接続される抵抗を備えることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載のセンサ装置。
  5. 前記容量型加算器は受動素子で構成されたループフィルタを備えることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のセンサ装置。
  6. 前記ループフィルタはラグリードフィルタであることを特徴とする請求項5に記載のセンサ装置。
  7. 前記ラグリードフィルタは、前記容量性電荷出力素子および前記接続点間に接続される抵抗と、前記接続点および前記コンデンサ間に接続される抵抗と、前記接続点および前記コンデンサ間に接続される抵抗前記デジタル予測フィルタとの間に接続される前記コンデンサと、前記量子化器の入力端子および基準電圧間に接続される抵抗とコンデンサの直列回路とから構成されることを特徴とする請求項6に記載のセンサ装置。
  8. 前記ラグリードフィルタは、前記接続点および前記量子化器間に接続される抵抗と、前記接続点および前記デジタル予測フィルタ間に接続される前記コンデンサと、前記量子化器の入力端子および基準電圧間に接続される抵抗とコンデンサの直列回路とから構成されることを特徴とする請求項6に記載のセンサ装置。
  9. 前記量子化器はコンパレータから構成され、前記コンパレータにおける一対の入力端子の一方の入力端子および基準電圧間に接続される前記直列回路と、前記一対の入力端子の他方の入力端子および基準電圧間に接続される、前記直列回路と同じインピーダンスを有する抵抗とコンデンサの直列回路とを備えることを特徴とする請求項7または請求項8に記載のセンサ装置。
  10. 前記一対の入力端子をそれぞれ基準電圧に接続するスイッチを備えることを特徴とする請求項9に記載のセンサ装置。
  11. 前記容量性電荷出力素子の両端子間を短絡するスイッチを備えることを特徴とする請求項1から請求項10のいずれか1項に記載のセンサ装置。
JP2017551817A 2015-11-20 2016-11-04 センサ装置 Active JP6525173B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015228203 2015-11-20
JP2015228203 2015-11-20
PCT/JP2016/082812 WO2017086188A1 (ja) 2015-11-20 2016-11-04 センサ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2017086188A1 JPWO2017086188A1 (ja) 2018-09-20
JP6525173B2 true JP6525173B2 (ja) 2019-06-05

Family

ID=58717425

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017551817A Active JP6525173B2 (ja) 2015-11-20 2016-11-04 センサ装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US11196441B2 (ja)
JP (1) JP6525173B2 (ja)
CN (1) CN108352842B (ja)
WO (1) WO2017086188A1 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017179508A1 (ja) * 2016-04-15 2017-10-19 株式会社村田製作所 A/d変換器およびそれを備えるセンサ装置
JP2021089157A (ja) * 2019-12-02 2021-06-10 アズビル株式会社 信号処理装置、測定装置、信号処理方法および信号処理プログラム

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6011491B2 (ja) * 1979-06-11 1985-03-26 日本電信電話株式会社 Ad変換回路
JPS57124933A (en) * 1981-01-27 1982-08-04 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Digital-to-analog converter
JP3328593B2 (ja) * 1998-02-25 2002-09-24 株式会社鷹山 マッチドフィルタおよび信号受信装置
JP3975111B2 (ja) * 2002-04-19 2007-09-12 松下電器産業株式会社 混合型変調器、オーバーサンプリング型d/a変換器およびa/d変換器
FI114121B (fi) * 2002-11-04 2004-08-13 Rafsec Oy Menetelmä tuoteanturin valmistamiseksi sekä tuoteanturi
US9371032B2 (en) * 2006-01-10 2016-06-21 Guardian Industries Corp. Moisture sensor and/or defogger with Bayesian improvements, and related methods
WO2008009305A1 (de) * 2006-07-21 2008-01-24 Testo Ag Verfahren zur früherkennung einer schädigung eines kapazitiven sensors und kapazitiver sensor mit diagnosefunktion
US7375666B2 (en) * 2006-09-12 2008-05-20 Cirrus Logic, Inc. Feedback topology delta-sigma modulator having an AC-coupled feedback path
US7696913B2 (en) * 2007-05-02 2010-04-13 Cirrus Logic, Inc. Signal processing system using delta-sigma modulation having an internal stabilizer path with direct output-to-integrator connection
US8421483B2 (en) * 2008-06-13 2013-04-16 Sony Ericsson Mobile Communications Ab Touch and force sensing for input devices
EP2355358A1 (en) * 2010-02-04 2011-08-10 Nxp B.V. An ADC, a temperature sensor, a non-contact transponder, and a method of converting analog signals to digital signals
DE102010031034A1 (de) * 2010-07-07 2012-01-12 Robert Bosch Gmbh Erfassung eines dielektrischen Gegenstandes
US20140167995A1 (en) * 2011-04-11 2014-06-19 Agency For Science, Technology And Research Analog-to-digital converter
US9587964B2 (en) * 2013-06-12 2017-03-07 Microchip Technology Incorporated Capacitive proximity detection using delta-sigma conversion
CN104316087B (zh) * 2014-09-30 2017-01-18 广东合微集成电路技术有限公司 一种电容式传感器的测量电路
WO2017179508A1 (ja) * 2016-04-15 2017-10-19 株式会社村田製作所 A/d変換器およびそれを備えるセンサ装置
US10581453B1 (en) * 2018-12-18 2020-03-03 Robert Bosch Gmbh Precision current-to-digital converter

Also Published As

Publication number Publication date
CN108352842A (zh) 2018-07-31
US20180262204A1 (en) 2018-09-13
US11196441B2 (en) 2021-12-07
WO2017086188A1 (ja) 2017-05-26
JPWO2017086188A1 (ja) 2018-09-20
CN108352842B (zh) 2022-03-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4564058B2 (ja) 同調回路、集積回路、改良型連続時間積分器およびプログラム可能キャパシタアレイ調整ユニット
US7696910B2 (en) Dither circuit and analog digital converter having dither circuit
JP4287884B2 (ja) A/d変換器
TWI426249B (zh) 對象物檢測裝置
EP2198313B1 (en) Switched capacitor measurement circuit for measuring the capacitance of an input capacitor
KR101759390B1 (ko) 전자 측정 회로
JP2010199798A (ja) アナログデジタル変換回路
CN111342840B (zh) 精密的电流到数字转换器
TW200919983A (en) Method and systems for calibrating RC apparatus
JP6525173B2 (ja) センサ装置
US6768436B1 (en) Method and circuit resetting delta sigma modulator
US8169259B2 (en) Active filter, delta-sigma modulator, and system
US10523227B2 (en) A/D converter and sensor apparatus including the same
JP5198427B2 (ja) シグマデルタ変調器
JP2006333053A (ja) アナログデジタル変換器
JP2012225763A (ja) 赤外線検出装置
CN113726328A (zh) 基于闭环振荡器的传感器接口电路
CN113169745A (zh) 至少包括delta-sigma调制器和采样保持元件的电路装置
JP3192256B2 (ja) Δςモジュレータ
JP6371646B2 (ja) 帰還型パルス幅変調器
Chang et al. Wide dynamic-range sigma–delta modulator with adaptive feed-forward coefficients
JP6132095B2 (ja) 信号変換装置
JP4856659B2 (ja) 半導体集積回路装置
JPH11136129A (ja) Pwm変換回路およびそれを用いたセンサ装置
JP6405149B2 (ja) D/a変換回路

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180413

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20181211

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190129

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190219

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190410

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190423

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6525173

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150