JP6503028B2 - 平衡化mems型慣性角度センサ及びそのようなセンサを平衡化するための方法 - Google Patents

平衡化mems型慣性角度センサ及びそのようなセンサを平衡化するための方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6503028B2
JP6503028B2 JP2017151849A JP2017151849A JP6503028B2 JP 6503028 B2 JP6503028 B2 JP 6503028B2 JP 2017151849 A JP2017151849 A JP 2017151849A JP 2017151849 A JP2017151849 A JP 2017151849A JP 6503028 B2 JP6503028 B2 JP 6503028B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mass
sensor
frame
support
electrostatic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017151849A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2018004653A (ja
Inventor
ジャンロイ アラン
ジャンロイ アラン
Original Assignee
サフラン エレクトロニクス アンド ディフェンス
サフラン エレクトロニクス アンド ディフェンス
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by サフラン エレクトロニクス アンド ディフェンス, サフラン エレクトロニクス アンド ディフェンス filed Critical サフラン エレクトロニクス アンド ディフェンス
Publication of JP2018004653A publication Critical patent/JP2018004653A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6503028B2 publication Critical patent/JP6503028B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/56Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces
    • G01C19/5719Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces using planar vibrating masses driven in a translation vibration along an axis
    • G01C19/5733Structural details or topology
    • G01C19/574Structural details or topology the devices having two sensing masses in anti-phase motion
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B3/00Devices comprising flexible or deformable elements, e.g. comprising elastic tongues or membranes
    • B81B3/0018Structures acting upon the moving or flexible element for transforming energy into mechanical movement or vice versa, i.e. actuators, sensors, generators
    • B81B3/0021Transducers for transforming electrical into mechanical energy or vice versa
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B7/00Microstructural systems; Auxiliary parts of microstructural devices or systems
    • B81B7/02Microstructural systems; Auxiliary parts of microstructural devices or systems containing distinct electrical or optical devices of particular relevance for their function, e.g. microelectro-mechanical systems [MEMS]
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81CPROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
    • B81C99/00Subject matter not provided for in other groups of this subclass
    • B81C99/0005Apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of microstructural devices or systems, or methods for manufacturing the same
    • B81C99/0025Apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of microstructural devices or systems not provided for in B81C99/001 - B81C99/002
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81CPROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
    • B81C99/00Subject matter not provided for in other groups of this subclass
    • B81C99/003Characterising MEMS devices, e.g. measuring and identifying electrical or mechanical constants
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81CPROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
    • B81C99/00Subject matter not provided for in other groups of this subclass
    • B81C99/0035Testing
    • B81C99/0045End test of the packaged device

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Gyroscopes (AREA)
  • Micromachines (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)

Description

本発明は、ジャイロメータ又はジャイロスコープのような振動慣性角度センサ及びこのセンサを平衡化するための方法に関する。
本発明は、より厳密には「microelectromechanical system(微小電子機械システム)」の略であるMEMSとも称される微小電子機械センサに関する。これらのセンサは、非常に薄い材料ウェーハー上の一括エッチング(collective etching)により製造される。これらのセンサは、小型で、軽量で、かつ、比較的廉価なので、特殊技術製品と、大量販売製品の両者において、非常に多数の適用分野における採用を可能にしている。
これらのセンサの適用分野は、角度(フリージャイロ)と角速度(レートジャイロ)の慣性測定を含む。
MEMS型振動角度慣性センサは、共振器の精細度により2つの系列に分類される。共振器は変形可能体であってよく、全体としては線対称であり、環形、円筒形、半球体又は円盤である。共振器はまた、弾性要素により支持体に接続された変形不可の1つ以上の質量部からも構成できる。各センサは、変形可能な共振器又は質量部/弾性要素システムを、システムの共振周波数で振動するように設計されているアクチュエータを備え、変形可能な共振器の変形又は質量部/弾性要素システムの動き検出器は、変形可能な共振器又は質量部/弾性要素システムと支持体の間に搭載されている。
何れの振動慣性センサの性能も、共振器の減衰の異方性の安定性に直接依存する。この安定性は、
共振器を共振状態に保つために消費する必要のあるエネルギー量を決定する共振器の時定数τ(機械的過大張力Qをπと周波数fで割ったもの、つまりτ=Q/(π・f))と、
一方では、センサからのエネルギーの外への損失を制限するように、他方では、作動周波数でのセンサの振動環境を通しての共振器の振動の擾乱を制限するようにするための共振器の動的平衡化により決まる。
MEMS型振動センサの分野においては、これは、
比較的高い過大張力を得るための材料としてのシリコンの使用と、
少なくとも2つの質量部であって、逆相で動いて一次平衡化を提供するように対称に搭載された2つの質量部の存在により顕在化される。
このため、最も性能の高いMEMS型振動角度慣性センサは、正方形のパターンに従って配置された4つの質量部を有する。
しかし、これらのセンサにおける性能の向上は、センサの製造欠陥により制限される。
これらの製造欠陥は、振動周波数において、質量部の全体重心の変位に起因する動的不平衡を引き起こす。この動的不平衡は、支持体における反力を引き起こし、従って、振動エネルギーの損失となる。これは、センサのサイズが小さいということが、測定の精度に対する製造欠陥の影響を増大するので、更に厄介なことになる。実際、MEMSに対しては、[製造欠陥/特性的寸法の]比は、肉眼で見えるセンサに対して劣化する。これは、共振器の質量部に関連するより高い動的不平衡につながる。
共振器の小さな質量の結果、不平衡が引き起こす負荷は、共振器が測定できるためには小さ過ぎるので、動的平衡化の欠陥を測定することが難しくなる。更に、仮にこの測定を行うことに成功したとしても、センサのサイズが小さいために、局所的に素材を除去又は追加して不平衡を補正することは難しいであろう。素材を除去又は追加することによるそのような補正は、温度と時間の関数としての不平衡における変化を補償することを可能にしないであろうという欠点を更に露呈するであろう。
振動に対する影響され易さの増大と、機械的弾力性の低下の代償として、不平衡共振器を相当に大きな反動質量部に強固に固定するのが普通である。
幾つかの質量部を有する共振器の場合、これは更にプルーフマス(実効質量)の独立性という結果になる。そして、質量部の変位の一次補償を可能にする機械的結合は、質量部を相互に結合して逆位相における変位に束縛するレバーにより確実となる。そのため、センサの製造は複雑で高価なものとなる。更に、質量部の数と、質量部間の結合レバーの数に起因する自由度の増大により平衡化は困難になり、質量部の1つに対して行われる何れの平衡化補正も他の質量部に対して影響を与えることになる。同じ理由で、補正アルゴリズムによる電子的平衡化は行うのが複雑である。
本発明は、異なるアプローチによる結果であり、その目的は、MEMS型振動角度慣性センサを改良することである。
この目的のため、本発明によれば、支持体と、懸架手段により支持体に関して可動に搭載されたフレームにおいて懸架される少なくとも2つの質量部と、少なくとも1つの静電アクチュエータと、少なくとも1つの静電検出器と、を備えるMEMS型振動慣性角度センサが提供される。このアクチュエータと検出器はそれぞれ、質量部の振動を生成且つ検出するように設計されている。
このため、質量部間のレバーによる直接の機械的結合は除去される。実際、本発明においては、質量部間の機械的結合は、懸架されたフレームにより確保され、それにより、センサの構造を簡素化している。アクチュエータと検出器はそれぞれが、例えば、質量部の1つとフレームの間に搭載され、従来のように作動する。
好ましくは、少なくとも1つの負荷センサがフレームと支持体の間に搭載され、少なくとも1つの静電バネがフレームと質量部の1つの間に搭載され、センサの動的平衡化を、負荷センサの測定信号の関数として確実にするように従属装置として作動される。
平衡化は、この構造では、2つの質量部/懸架システム間の周波数における異方性(又は差異)を測定し、この異方性を除去することにより得ることができる。異方性の測定は、周波数異方性により生成される不平衡の影響を測定することにより間接的な方法で行うことができる。平衡化補正は、好ましくは、静電バネを制御して、負の静電剛性を、最大周波数を有する質量部/懸架システムの剛性に、製造欠陥及び質量部/懸架システムのそれぞれのパラメータにおける一時的及び温度変化による角周波数のおける本質的な差異を補正するように追加することにより、行われる。ゼロスレービングに基づく調整は、正確な基準張力や、センサ処理電子機器のレベルでの安定した利得を必要としない。
本発明の主題は、このセンサを平衡化する方法でもある。
本発明の他の特性及び利点は、本発明の非制限的な特別な実施の形態の下記の記述を読むことにより明らかになろう。
付随する図面を参照する。
本発明のセンサの第1実施の形態の模式図である。 このセンサの動作原理を例示する模式図である。 本発明のセンサの第2実施の形態の模式図である。 本発明のセンサの第3実施の形態の模式図である。 本発明のセンサ用制御ユニットの一実施の形態の模式図である。
図を参照すると、本発明は、フリージャイロ又はレートジャイロを形成するように意図されているMEMS型振動慣性角度センサに関する。
本発明のセンサは、支持体1と、支持体1に対して可動に搭載され、静電アクチュエータ3と静電検出器4に結合されている少なくとも2つの質量部2を備える。
質量部2は、フレーム6において懸架手段5を介して懸架され、フレーム6はそれ自体が懸架手段7により支持体1に接続されている。懸架手段5と7は、センサの質量部の懸架平面を画定するXY平面において等方性を有し、センサの平面に垂直な軸に沿う相当に大きな剛性を呈示するように製造され、それにより、質量部2と平面外のフレーム6の自由度を除去している。質量部2とフレーム6はそれぞれ、平面において3自由度、つまり、(X及びY軸に沿っての)2方向への平行移動と(このX及びY平面に垂直な軸の回りの)回転を有している。
X軸及びY軸のそれぞれに対して、アクチュエータ3と検出器4は、質量部2のそれぞれとフレーム6の間に搭載されている。アクチュエータ3と検出器4は、櫛型電極の形状の既知の構造を有しており、櫛型電極の歯は互いに入り込むように組み合わされている。アクチュエータ3と検出器4の櫛部は、可変ギャップ又は可変表面積を伴う動作モードを有することができる。
質量部2は、同一であり、かつ、正方形であり、その辺上には、アクチュエータ3と検出器4が配置されている。懸架手段5は、各質量部2の頂点に配置されている。
2つの静電バネ8は、フレーム6と質量部2のそれぞれの間に搭載され、それによりそれぞれがX軸及びY軸に沿って作動する。静電バネ8は、櫛型電極の形状の既知の構造を有しており、櫛型電極の歯は、互いに入り込むように組み合わされている。静電バネ8の櫛部は、可変ギャップを伴う動作モードを有する。
不平衡影響検出器、ここでは、より特別に力センサは、懸架手段7に統合され、それにより、フレーム6により支持体1に伝達される負荷を表わしている測定信号を提供する。これらのセンサは、それ自体が知られており、圧電抵抗又は圧電ひずみ計であってよい。
本発明のセンサの製作は、半導体材料のウェーハーをエッチングするための従来の技術に基づいて行われる。ここで使用される半導体材料はシリコンである。
アクチュエータ3と検出器4は、それ自体が知られている電気コネクタにより、同様にそれ自体が知られている制御ユニット9に接続され、制御ユニット9は、アクチュエータ3を制御し、検出器4の信号を処理して、質量部2の変位の平面に垂直な軸の回りの角度の大きさの検出を確実にするようにプログラムされている。
静電バネ8と、懸架手段7に統合されている力センサも、同じように制御ユニット9に接続されており、制御ユニット9は、質量部2の振動周波数の関数として復調された、前記力センサの信号の関数として、静電バネ8を従属装置として作動させるようにプログラムされており、それにより、センサの平衡化を確実にするように振動周波数における不平衡を除去する。
制御ユニットの動作は、図5に示されており、自由度「n」によるセンサの平衡化のための剛性変動Δknの決定の動作が示されている。この図において象徴化して表わされているのは、長軸「a」と短軸「b」の楕円振動である。振動の長軸は、XY座標系における角度θを形成する。ジャイロスコープの実現は、アクチュエータ3のコントロールC1とC2を、センサ4により検出された動きη1、η2の関数として決定することにつながる。η1=a・cosθcosφ+q・sinθsinφと、η2=a・sinθsinφ+q・cosθcosφの値を知れば、a、q、θ及びφの推定はそこから演繹できる。センサ7により検出される負荷ξnを知れば、制御ユニットは、静電バネ8を駆動する設定点としての役割を果たす剛性変動Δknに到達するように値ξn・cosφとξn・sinφを計算する。
図1と2の実施の形態において、質量部2は、2つあり、フレーム6内に並んで搭載されている。フレーム6は、四角形であり、2つの質量部2の1つをそれぞれが受け入れる2つの隣接するハウジング10を備えている。
図2を更に特に参照すると、第1実施の形態に係るセンサは、別の質量部/バネシステム(m0、k0)により外界に接続されている2つの質量部/バネシステム(m1、k1)及び(m2、k2)と見なすことができる。
センサの動作は下、記のデータに基づいてモデル化できる(質量差異と剛性差異はそれぞれδm及びδkと表わされている)。
m1:=m・(1+δm):m2:=m・(1−δm)
k1:=k・(1+δk):k2:=k・(1−δk)
m0:=β・m:k0:=α・k
k:=ω2・m
モデル化により、固有モードの周波数と、有用な固有モードの不平衡と、支持体に対するこの不平衡の反力を計算できる。
このことから、不平衡は、2つの質量部バネシステムの質量mと、αと表わされる比k0/kと、角周波数δωにおける差異に比例するということがいえる。このため、有用モードの不平衡は、下記に等しくなる。
不平衡=2mαδω
外界に伝達される負荷は、同様に下記のように表すことができる。
負荷=2kαδω
上記の式から、本発明の特別なアーキテクチャは、2つの質量部バネシステムの間の角周波数における差異を解消することにより不平衡を解消することを可能にできることが分かり、この差異は、フレーム上の負荷の測定に基づいて観測可能である。従って、センサの平衡化は、本発明に従って、下記のステップに基づいて行うことができる。
質量部間の周波数における異方性を測定する。測定ステップは、製造欠陥に起因するセンサの不平衡のためフレームにより支持体に加えられる負荷を測定することにより行われる。
質量部間の周波数における異方性を補正する。
補正ステップは、この影響を削減するように静電バネ8を制御することにより行われる。懸架手段7に組み込まれた力センサの信号の振動の周波数に関しての変調を利用する従属装置としての作動は、振動の周波数における不平衡を除去するように質量部2とフレーム6間に置かれた静電バネ8の剛性を補正する。
ここでは、補正は、各質量部/バネシステムの製造欠陥及びパラメータにおける一時的及び熱的変化による角周波数における本質的な差異を補正するように、負の静電剛性を、最大周波数を有する質量部/バネシステムの剛性に加えることにより、更に精度よく行われる。
センサの配置により、X軸に沿う2つの固有モード、つまり、質量部m0の変位が少ない状態で同じ周波数を有しない、質量部m1及びm2が同相で変位するモード及び質量部m1及びm2が逆相で変位するモードを得ることが可能になるということが分かるであろう。周波数の差異は、例えば、m0=10*m1/2であれば10%、m0=4*m1/2であれば25%のオーダである。これは、如何なる機械的結合レバーも質量部間に使用することなく、作動中に2つの固有モードが連結する危険性もなく、構造を簡素化する可能性を確証する。
このように、コリオリ経路Y上の動きに従属装置として作動することのない2つの振動質量部を有する閉ループジャイロメータを製作できる。これにより、この経路に対して1次不平衡である固有モードを使用することが可能になる。
図3の実施の形態において、質量部2は、4つあり、正方形パターンに従って配置され、静電バネ8が、X及びY軸それぞれに対して、フレーム6と4つの質量部2のそれぞれの間に置かれている。フレーム6は、正方形であり、質量部2の1つをそれぞれ受け入れる4つの隣接するハウジング10を備えている。
この実施の形態において、4つの質量部の配置により、センサもまたY軸上で一次平衡である。従って、このセンサをジャイロスコープモードにおいて使用することができ、このモードの固有の利点、つまり平均ドリフトの安定性を得ることができる。
図4の実施の形態においては、2つの質量部2.1と2.2があり、同心状に搭載できるように設計されている。フレーム6は、正方形であり、正方環状形の質量部2.1、2.2は、フレーム6のそれぞれの側に置かれている。
従って、質量部2.1、2.2は、同一の固有周波数を有する同化された対称軸を有するフレーム形状を有する。好ましくは、フレーム2.1、2.2の質量は、同一であり、質量部2.1、2.2を懸架する手段は、同一の剛性を有する。これにより、上記に提示した動的モデル化式の前提に従うことが可能になる。
もちろん、本発明は、記載された実施の形態に制限されず、請求項で定義されるような本発明の分野に含まれる如何なる変形例も含む。
全ての質量部2の又は1つを除く全ての質量部2の従属装置として作動する静電バネを有することができる。
測定された不平衡の影響は、フレーム6により支持体1に加えられる負荷、支持体1に対するフレーム6の加速度、支持体1に対するフレーム6の速度、支持体1に対するフレーム6の変位等であってよい。
センサは、記載された形状とは異なる形状を有することができる。質量部とフレームは、センサの平面において、多角形又は少なくとも部分的には曲線形を有することができ、その形状は、外形の1/4を表すパターンの4回の90°回転により描くことができる。
アクチュエータと検出器は、質量部の1つとフレームの間又は質量部の1つと支持体の間に搭載できる。
少なくとも1つの静電アクチュエータ及び少なくとも1つの静電検出器を、フレーム6の懸架7のそれ自体知られている能動的減衰を達成するようにフレーム6と支持体1の間に置くことができる。
本発明は、質量部がフレームにおいて懸架され、図に示された実施の形態と連携して記述された能動的平衡化手段がなくてもよいセンサにも関する。

Claims (9)

  1. 2つの質量部(2)の支持体(1)であって、前記質量部は前記支持体に対して可動に搭載されている支持体と、前記質量部の振動を生成且つ検出するようにそれぞれが設計されている少なくとも1つの静電アクチュエータ(3)及び少なくとも1つの静電検出器(4)と、を備えるMEMS型振動慣性角度センサにおいて、第1の懸架手段により前記支持体に接続されているフレーム(6)を備え、各質量部は、第2の懸架手段により前記フレームに直接接続されており、前記質量部及び前記フレームは、前記支持体に対して3だけの自由度を有し、前記自由度は、前記センサの質量部の懸架平面を画定する面にあり、前記質量部(2)は、前記フレーム(6)の何れかの側で同心状に搭載され、前記質量部の質量は、同一であり、前記質量部を懸架する手段は、同一の剛性を有することを特徴とするセンサ。
  2. 少なくとも1つの静電バネ(8)が、前記質量部の懸架平面を画定する2軸のそれぞれに対して、前記フレームと前記質量部の少なくとも1つの間に搭載され、前記静電バネ(8)は、4つあり、それぞれが前記フレーム(6)と前記質量部(2)のそれぞれの間に搭載されていることを特徴とする請求項1に記載のセンサ。
  3. 少なくとも1つの不平衡影響検出器が前記フレームと前記支持体の間に搭載され、少なくとも1つの静電バネ(8)が前記フレームと前記質量部の1つの間に置かれ、前記不平衡影響検出器の測定信号の関数として前記センサの動的平衡化を確実にするように従属装置として作動することを特徴とする請求項1又は2に記載のセンサ。
  4. 前記静電アクチュエータと前記静電検出器はそれぞれ、前記質量部の1つと前記フレームの間に搭載されていることを特徴とする請求項1に記載のセンサ。
  5. 請求項3に記載のセンサを平衡化するための方法であって、製造欠陥による前記質量部(2)間の周波数における異方性を測定するステップと補正するステップと、を含み、前記測定するステップは、前記異方性に起因する前記センサの不平衡により生成される影響を測定することにより行われ、前記補正するステップは、この影響を減少するように、前記静電バネ(8)のコントロールを従属装置として作動させることにより行われる方法。
  6. 前記測定された不平衡の前記影響は、前記フレーム(6)により前記支持体(1)に加えられる負荷であることを特徴とする請求項5に記載の方法。
  7. 前記測定された不平衡の前記影響は、前記支持体(1)に対する前記フレーム(6)の加速度であることを特徴とする請求項5に記載の方法。
  8. 前記測定された不平衡の前記影響は、前記支持体(1)に対する前記フレーム(6)の速度であることを特徴とする請求項5に記載の方法。
  9. 前記測定された不平衡の前記影響は、前記支持体(1)に対する前記フレーム(6)の変位であることを特徴とする請求項5に記載の方法。
JP2017151849A 2011-12-06 2017-08-04 平衡化mems型慣性角度センサ及びそのようなセンサを平衡化するための方法 Active JP6503028B2 (ja)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR1103733 2011-12-06
FR1103733A FR2983574B1 (fr) 2011-12-06 2011-12-06 Capteur angulaire inertiel de type mems equilibre et procede d'equilibrage d'un tel capteur
US201261650668P 2012-05-23 2012-05-23
US61/650,668 2012-05-23

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014545200A Division JP2015507176A (ja) 2011-12-06 2012-12-03 平衡化mems型慣性角度センサ及びそのようなセンサを平衡化するための方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018004653A JP2018004653A (ja) 2018-01-11
JP6503028B2 true JP6503028B2 (ja) 2019-04-17

Family

ID=45926609

Family Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014545200A Revoked JP2015507176A (ja) 2011-12-06 2012-12-03 平衡化mems型慣性角度センサ及びそのようなセンサを平衡化するための方法
JP2017151849A Active JP6503028B2 (ja) 2011-12-06 2017-08-04 平衡化mems型慣性角度センサ及びそのようなセンサを平衡化するための方法
JP2017003819U Expired - Lifetime JP3214304U (ja) 2011-12-06 2017-08-21 平衡化mems型慣性角度センサ

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014545200A Revoked JP2015507176A (ja) 2011-12-06 2012-12-03 平衡化mems型慣性角度センサ及びそのようなセンサを平衡化するための方法

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017003819U Expired - Lifetime JP3214304U (ja) 2011-12-06 2017-08-21 平衡化mems型慣性角度センサ

Country Status (10)

Country Link
US (1) US9869551B2 (ja)
EP (1) EP2788718B1 (ja)
JP (3) JP2015507176A (ja)
KR (1) KR101700921B1 (ja)
CN (1) CN103998894B (ja)
BR (1) BR112014013173A2 (ja)
CA (1) CA2856171A1 (ja)
FR (1) FR2983574B1 (ja)
RU (1) RU2566534C1 (ja)
WO (1) WO2013083534A2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US12004806B2 (en) 2020-10-22 2024-06-11 Covidien Lp Microwave ablation with tissue temperature monitoring

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR3013442B1 (fr) 2013-11-20 2015-12-18 Sagem Defense Securite Capteur comprenant des masses mobiles et des moyens de detection des mouvements relatifs des masses
FR3013445B1 (fr) * 2013-11-20 2015-11-20 Sagem Defense Securite Capteur a element sensible mobile ayant un fonctionnement mixte vibrant et pendulaire, et procedes de commande d'un tel capteur
FR3013441B1 (fr) 2013-11-20 2015-12-18 Sagem Defense Securite Capteur inertiel a masses sismiques imbriquees et procede de fabrication d'un tel capteur
JP6211463B2 (ja) * 2014-05-23 2017-10-11 日立オートモティブシステムズ株式会社 慣性センサ
FR3022996B1 (fr) * 2014-06-27 2017-12-01 Thales Sa Capteur inertiel angulaire mems fonctionnant en mode diapason
CA2959799C (en) * 2014-08-04 2019-09-10 Faez BA-TIS Piston-tube electrostatic microactuator
KR101693935B1 (ko) * 2014-11-07 2017-01-06 리치테크 테크놀로지 코포레이션 미세전자기계시스템(mems) 디바이스
FI127203B (en) * 2015-05-15 2018-01-31 Murata Manufacturing Co Vibrating micromechanical sensor for angular velocity
KR101673362B1 (ko) 2015-12-14 2016-11-07 현대자동차 주식회사 가속도 센서 및 그 제조 방법
FR3046223B1 (fr) * 2015-12-23 2018-02-16 Safran Systeme de suspension d'une masse mobile comprenant des moyens de liaison de la masse mobile a linearite optimisee
US10371521B2 (en) 2016-05-26 2019-08-06 Honeywell International Inc. Systems and methods for a four-mass vibrating MEMS structure
US10696541B2 (en) 2016-05-26 2020-06-30 Honeywell International Inc. Systems and methods for bias suppression in a non-degenerate MEMS sensor
FR3063992B1 (fr) 2017-03-16 2021-07-16 Commissariat Energie Atomique Micro-dispositif comprenant au moins un element mobile
DE102017204669A1 (de) * 2017-03-21 2018-09-27 Robert Bosch Gmbh Sensoreinrichtung
FR3065800B1 (fr) * 2017-04-27 2019-08-02 Safran Resonateur configure pour etre integre a un capteur angulaire inertiel
CN107192384B (zh) * 2017-07-24 2022-04-05 深迪半导体(绍兴)有限公司 一种mems三轴陀螺仪
FR3102240B1 (fr) * 2019-10-18 2021-10-01 Safran Electronics & Defense Capteur à compensation mécanique de l’anisotropie de fréquence
CN110779510B (zh) * 2019-11-14 2021-07-13 无锡莱斯能特科技有限公司 一种三轴mems陀螺仪
FR3114146B1 (fr) 2020-09-17 2022-08-12 Safran Electronics & Defense capteur vibrant avec unité d’hybridation
CN114264293B (zh) * 2021-11-22 2023-04-11 陕西华燕航空仪表有限公司 一种高抗振动型全对称mems陀螺仪传感器结构

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5241861A (en) 1991-02-08 1993-09-07 Sundstrand Corporation Micromachined rate and acceleration sensor
JP3990450B2 (ja) * 1995-06-07 2007-10-10 ハネウエル・インコーポレーテッド 光ファイバ感知コイル用の固有周波数トラッカ
US5992233A (en) * 1996-05-31 1999-11-30 The Regents Of The University Of California Micromachined Z-axis vibratory rate gyroscope
RU2110768C1 (ru) * 1996-07-10 1998-05-10 Товарищество с ограниченной ответственностью научно-производственная компания "Вектор" Микромеханический вибрационный гироскоп
JP3262082B2 (ja) * 1997-10-16 2002-03-04 株式会社豊田中央研究所 振動式角速度検出器
JP4126833B2 (ja) * 1999-03-12 2008-07-30 株式会社デンソー 角速度センサ装置
US6823733B2 (en) * 2002-11-04 2004-11-30 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Z-axis vibration gyroscope
AU2003302144A1 (en) * 2002-11-15 2004-06-15 The Regents Of The University Of California Dynamically amplified dual mass mems gyroscope
US7036372B2 (en) * 2003-09-25 2006-05-02 Kionix, Inc. Z-axis angular rate sensor
DE10360962B4 (de) * 2003-12-23 2007-05-31 Litef Gmbh Verfahren zur Quadraturbias-Kompensation in einem Corioliskreisel sowie dafür geeigneter Corioliskreisel
DE10360963B4 (de) * 2003-12-23 2007-05-16 Litef Gmbh Verfahren zur Messung von Drehraten/Beschleunigungen unter Verwendung eines Drehraten-Corioliskreisels sowie dafür geeigneter Corioliskreisel
US7421898B2 (en) * 2004-08-16 2008-09-09 The Regents Of The University Of California Torsional nonresonant z-axis micromachined gyroscope with non-resonant actuation to measure the angular rotation of an object
EP1794543B1 (de) 2004-09-27 2009-11-04 Contitemic Microelectronic GmbH Drehratensensor
JP4761076B2 (ja) * 2005-05-24 2011-08-31 独立行政法人 宇宙航空研究開発機構 ジャイロスコープ
JP2007071677A (ja) * 2005-09-07 2007-03-22 Hitachi Ltd コンバインドセンサとその製造方法
WO2007086849A1 (en) * 2006-01-25 2007-08-02 The Regents Of The University Of California Robust six degree-of-freedom micromachined gyroscope with anti-phase drive scheme and method of operation of the same
JP2007271514A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Mitsubishi Electric Corp 角速度センサ
US7444868B2 (en) * 2006-06-29 2008-11-04 Honeywell International Inc. Force rebalancing for MEMS inertial sensors using time-varying voltages
JPWO2008032415A1 (ja) * 2006-09-15 2010-01-21 株式会社日立製作所 角速度センサ
JP4859649B2 (ja) * 2006-12-12 2012-01-25 日立オートモティブシステムズ株式会社 角速度センサ
DE102007030120B4 (de) * 2007-06-29 2010-04-08 Litef Gmbh Drehratensensor
US8443667B2 (en) * 2008-02-21 2013-05-21 The Regents Of The University Of California Temperature-robust MEMS gyroscope with 2-DOF sense-mode addressing the tradeoff between bandwith and gain
US8020440B2 (en) * 2008-05-16 2011-09-20 Rosemount Aerospace Inc. System and method for providing high-range capability with closed-loop inertial sensors
DE102008002748A1 (de) * 2008-06-27 2009-12-31 Sensordynamics Ag Mikro-Gyroskop
US8086328B2 (en) * 2008-08-29 2011-12-27 Honeywell International Inc. Systems and methods for vibration rectification error reduction in closed-loop accelerometer systems
US8256290B2 (en) * 2009-03-17 2012-09-04 Minyao Mao Tri-axis angular rate sensor
US8272266B2 (en) * 2009-04-09 2012-09-25 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Gyroscopes using surface electrodes
JP4868027B2 (ja) * 2009-05-26 2012-02-01 株式会社デンソー 加速度角速度センサ
FR2947333B1 (fr) * 2009-06-30 2011-07-29 Thales Sa Gyroscope micro-usine a detection dans le plan de la plaque usine
US8549915B2 (en) * 2009-10-23 2013-10-08 The Regents Of The University Of California Micromachined gyroscopes with 2-DOF sense modes allowing interchangeable robust and precision operation
FR2953012B1 (fr) * 2009-11-24 2011-11-18 Thales Sa Gyrometre a structure vibrante a au moins un diapason
JP5655501B2 (ja) * 2010-01-05 2015-01-21 セイコーエプソン株式会社 振動素子、振動子、および電子機器
US9021880B2 (en) * 2010-04-30 2015-05-05 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Micromachined piezoelectric three-axis gyroscope and stacked lateral overlap transducer (slot) based three-axis accelerometer
WO2012120464A1 (en) * 2011-03-08 2012-09-13 Y-Sensors Ltd. Planar coriolis gyroscope

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US12004806B2 (en) 2020-10-22 2024-06-11 Covidien Lp Microwave ablation with tissue temperature monitoring

Also Published As

Publication number Publication date
WO2013083534A2 (en) 2013-06-13
WO2013083534A3 (en) 2013-10-17
CA2856171A1 (en) 2013-06-13
JP2015507176A (ja) 2015-03-05
RU2566534C1 (ru) 2015-10-27
US20140299947A1 (en) 2014-10-09
EP2788718A2 (en) 2014-10-15
KR20140095537A (ko) 2014-08-01
JP2018004653A (ja) 2018-01-11
FR2983574B1 (fr) 2014-01-10
JP3214304U (ja) 2018-01-11
EP2788718B1 (en) 2023-10-04
CN103998894B (zh) 2017-12-05
FR2983574A1 (fr) 2013-06-07
US9869551B2 (en) 2018-01-16
CN103998894A (zh) 2014-08-20
BR112014013173A2 (pt) 2017-06-13
KR101700921B1 (ko) 2017-01-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6503028B2 (ja) 平衡化mems型慣性角度センサ及びそのようなセンサを平衡化するための方法
US9689678B2 (en) MEMS balanced inertial angular sensor and method for balancing such a sensor
KR101178692B1 (ko) 코리올리 자이로스코프
US10914584B2 (en) Drive and sense balanced, semi-coupled 3-axis gyroscope
JP6514790B2 (ja) ジャイロスコープ
JP6143430B2 (ja) バイアス補正機能を備えた振動型ジャイロ
JP6363638B2 (ja) 振動マスジャイロスコープシステムおよび方法
JP5991431B2 (ja) 改良された振動ジャイロスコープ
JP6278604B2 (ja) バイアス補正機能を備えた振動型ジャイロ
US11415418B2 (en) Out-of-plane sensing gyroscope robust to external acceleration and rotation
JP5773844B2 (ja) 出力安定性に優れた振動型ジャイロ
JP6305223B2 (ja) バイアス安定化が図られた振動型ジャイロ、及び振動型ジャイロの使用方法
JP2015203604A (ja) 高性能化が図られた振動型ジャイロ
US9303994B2 (en) Planar Coriolis gyroscope
JP2012202799A (ja) バイアス安定性に優れた振動型ジャイロ
US20240110790A1 (en) Method for correcting the measurement from a vibrating angular inertial sensor
KR101306877B1 (ko) 내부감지전극을 갖는 튜닝포크형 자이로스코프
CN116940804A (zh) 具有平面结构的振动陀螺仪
CN116337108A (zh) 微机械惯性角度传感器的校准方法和校准系统

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180619

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180620

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20180918

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20181218

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190219

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190322

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6503028

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250