JP6489429B2 - ウェーハチャックの目詰まり検査装置及び検査方法 - Google Patents
ウェーハチャックの目詰まり検査装置及び検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6489429B2 JP6489429B2 JP2015045822A JP2015045822A JP6489429B2 JP 6489429 B2 JP6489429 B2 JP 6489429B2 JP 2015045822 A JP2015045822 A JP 2015045822A JP 2015045822 A JP2015045822 A JP 2015045822A JP 6489429 B2 JP6489429 B2 JP 6489429B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer chuck
- clogging
- wafer
- measurement head
- inspection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 66
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 29
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 66
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 25
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 14
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 13
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 4
- 238000005507 spraying Methods 0.000 claims description 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 70
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 32
- 230000008569 process Effects 0.000 description 13
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 12
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 8
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 2
- 239000002173 cutting fluid Substances 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Dicing (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
図1は、実施形態のウェーハチャックの目詰まり検査装置が適用されたダイシング装置10の外観を示した斜視図である。
加工部20には、半導体ウェーハWの表面を撮像するカメラ26が備えられる。加工部20の内部には、対向配置された一対の円盤状のブレード28(一方のブレード28は不図示)と、ブレード28を保護するホイールカバー30が取り付けられた高周波モータ内蔵型のスピンドル32とが設けられている。スピンドル32にブレード28が取り付けられている。
ダイシング装置10では、まず、複数枚の半導体ウェーハWが収納されたカセットが、不図示の搬送装置、又は手動によってロードポート12に載置される。載置されたカセットから半導体ウェーハWが取り出され、搬送手段16によってテーブル18の上面に載置される。この後、半導体ウェーハWの裏面が、テーブル18の吸着部34の上面に真空吸着保持される。これにより、半導体ウェーハWがテーブル18に保持される。
吸着部34の目詰まりを検査する前工程として、吸着部34の上面の平面度を測定し、その平面度情報に基づいて目詰まり検査を行うことが好ましい。
図5は、目詰まり検査装置50として、流量式のエアマイクロメータ52を適用した説明図である。
測定ヘッド64を移動機構部54に取り付け、ノズル66から吸着部34の上面に向けて圧縮エアを噴射しながら、移動機構部72、74によって測定ヘッド64を上面に沿って移動させる。測定ヘッド64の移動軌跡は、例えば、図4に示した電気マイクロメータ40の移動軌跡と同一である。
ダイシング装置10のブレード28が支持されるスピンドル32又は移動機構部54に測定ヘッド64を支持させ、ダイシング装置10の吸着部34及びスピンドル32を水平方向に移動させる移動機構部72、74を、検査装置50の移動部として利用している。そして、ダイシング装置10において、ウェーハWの厚さを測定してウェーハWへの切り込み深さを設定するためのエアマイクロメータの測定ヘッド64と検出部56とを、目詰まり検出用の測定ヘッドと検出部として利用している。
Claims (6)
- 多孔質部材によって構成されたウェーハチャックであって、ウェーハを第1の面にて真空吸着保持するウェーハチャックの目詰まり検査装置において、
前記ウェーハチャックの前記第1の面に対して離間して配置され、前記第1の面に向けて圧縮エアを噴射するノズルを有する測定ヘッドと、
前記測定ヘッドを前記第1の面に沿って相対的に移動させる移動部と、
前記ノズルを通過する前記圧縮エアの流量又は圧力の変化を検出し、該検出した検出結果に基づき前記ウェーハチャックの目詰まりを検出する検出部と、
を備えるウェーハチャックの目詰まり検査装置。 - 前記移動部は、予め取得された前記第1の面の平面度情報に基づき、前記測定ヘッドを前記第1の面に対して一定の距離を保って移動させる請求項1に記載のウェーハチャックの目詰まり検査装置。
- 前記ウェーハチャックは、前記ウェーハをダイシング加工するダイシング装置のウェーハチャックであり、
前記測定ヘッドは、前記ダイシング装置のブレードが支持されるスピンドル又はスピンドル支持部材に支持され、
前記移動部は、前記ダイシング装置の前記ウェーハチャック及び前記スピンドルを水平方向に移動させる移動機構部であり、
前記測定ヘッドと前記検出部とがエアマイクロメータとして構成される請求項1又は2に記載のウェーハチャックの目詰まり検査装置。 - 多孔質部材によって構成されたウェーハチャックであって、ウェーハを第1の面にて真空吸着保持するウェーハチャックの目詰まり検査方法において、
前記ウェーハチャックの前記第1の面に対して測定ヘッドを離間して配置し、前記測定ヘッドのノズルから前記第1の面に向けて圧縮エアを噴射しながら、前記測定ヘッドを前記第1の面に沿って相対的に移動させ、前記ノズルを通過する前記圧縮エアの流量又は圧力の変化を検出し、該検出した検出結果に基づき前記ウェーハチャックの目詰まりを検出するウェーハチャックの目詰まり検査方法。 - 前記測定ヘッドは、予め取得された前記第1の面の平面度情報に基づき、前記第1の面に対して一定の距離を保って移動される請求項4に記載のウェーハチャックの目詰まり検査方法。
- 前記ウェーハチャックの目詰まりが検出されると、前記ウェーハチャックの第1の面に液体を供給し、前記第1の面の反対側の第2の面から前記第1の面に向けてエアを噴射して前記ウェーハチャックを洗浄する請求項4又は5に記載のウェーハチャックの目詰まり検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015045822A JP6489429B2 (ja) | 2015-03-09 | 2015-03-09 | ウェーハチャックの目詰まり検査装置及び検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015045822A JP6489429B2 (ja) | 2015-03-09 | 2015-03-09 | ウェーハチャックの目詰まり検査装置及び検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016167490A JP2016167490A (ja) | 2016-09-15 |
JP6489429B2 true JP6489429B2 (ja) | 2019-03-27 |
Family
ID=56897539
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015045822A Active JP6489429B2 (ja) | 2015-03-09 | 2015-03-09 | ウェーハチャックの目詰まり検査装置及び検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6489429B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2022030051A (ja) * | 2020-08-06 | 2022-02-18 | Towa株式会社 | 切断装置、及び、切断品の製造方法 |
CN117817135B (zh) * | 2024-03-05 | 2024-05-31 | 鑫业诚智能装备(无锡)有限公司 | 一种激光自动标刻装置及标刻方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6013852B2 (ja) * | 2012-09-27 | 2016-10-25 | 株式会社ディスコ | 多孔質材の目詰まり検査方法及び多孔質材の目詰まり検査装置 |
-
2015
- 2015-03-09 JP JP2015045822A patent/JP6489429B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2016167490A (ja) | 2016-09-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6695102B2 (ja) | 加工システム | |
JP2010199227A (ja) | 研削装置 | |
KR20170046572A (ko) | 절삭 장치 | |
JP6618822B2 (ja) | 研削砥石の消耗量検出方法 | |
JP2008155292A (ja) | 基板の加工方法および加工装置 | |
TW200950922A (en) | Blade breakage and abrasion detecting device | |
JP6643654B2 (ja) | 溝深さ検出装置及び溝深さ検出方法 | |
JP2008049445A (ja) | 加工装置 | |
JP6925771B2 (ja) | 加工システム | |
JP6489429B2 (ja) | ウェーハチャックの目詰まり検査装置及び検査方法 | |
TWI712464B (zh) | 不良檢測方法 | |
CN216442328U (zh) | 一种磨削主轴坐标测量机构 | |
KR20160033041A (ko) | 피가공물의 연삭 방법 | |
JP2019084646A (ja) | 板状ワークの加工方法及び加工装置 | |
JP2008062353A (ja) | 研削加工方法および研削加工装置 | |
KR20200014193A (ko) | 연삭 장치의 원점 위치 설정 기구, 및 원점 위치 설정 방법 | |
KR102482181B1 (ko) | 기판의 연마 장치 및 연마 방법 | |
JP6251614B2 (ja) | 被加工物の研削方法 | |
JP2012218102A (ja) | 加工液供給ノズルの品質管理方法 | |
JP7127994B2 (ja) | ドレッシングボード及びドレッシング方法 | |
KR101038548B1 (ko) | 웨이퍼 연삭 장치 및 웨이퍼 연삭 장치용 가공 품질 판정 방법 | |
JP2018114580A (ja) | ウエーハの加工方法及び切削装置 | |
JP6262593B2 (ja) | 研削装置 | |
JP6418030B2 (ja) | カーフ深さ測定装置 | |
JP5679171B2 (ja) | ダイシング装置及びダイシング方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180109 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180921 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180919 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20181113 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190201 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190214 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6489429 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |