JP2022030051A - 切断装置、及び、切断品の製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、本実施の形態に従う切断装置10の一部の平面を模式的に示す図である。図2は、切断装置10の一部の正面を模式的に示す図である。なお、図1及び図2において、矢印XYZの各々が示す方向は共通である。
図7は、ワーク保持ユニット200上に保持されたワークW1の正面を含む図である。図7に示されるように、ワークW1の切断時に、ラバー202は切断テーブル201の上面に配置されており、ワークW1はラバー202の上面に配置されている。
<3-1.高さ位置の検出原理>
図8は、ワークW1の上面の高さ位置によって光源410により投影される光のパターンがどのように変化するかを示す図である。図8に示されるように、切断装置10において、ワークW1の上面の高さ位置が基準位置Z1である場合に、光源410によって発される光のパターンは位置A1に投影される。また、ワークW1の上面の高さ位置が位置Z1+αである場合に光のパターンは位置A2に投影され、ワークW1の上面の高さ位置が位置Z1-αである場合に光のパターンは位置A3に投影される。
図10は、ワークW1に溝GR1が形成されている場合にワークW1に投影される光のパターンの例を説明するための図である。図10に示されるように、ワークW1の上面には、矢印Y方向に延びる溝GR1が形成されている。
図11は、ブレード101によって溝GR2が形成されたワークW1の部分断面を模式的に示す図である。図11に示されるように、仮にブレード101が摩耗していなければ、ワークW1には溝GR21が形成されるはずである。すなわち、ブレード101の側面が摩耗によって薄くなっていなければ、ワークW1には溝GR21が形成されるはずである。溝GR21の側壁は、ワークW1の上面から略垂直に下方に延びている。一方、ブレード101が摩耗して、ブレード101の側面が薄くなっている場合には、例えば、ワークW1に溝GR2が形成される。溝GR2の側壁は、ワークW1の上面からなだらかに傾斜して下方に延びている。
例えば、ワークW1が金属製リードフレームを用いたQFNパッケージ基板であるような場合に、ワークW1の切断によってワークW1の金属端子部分にバリが発生することがある。
上述のように、切断装置10においては、ワークW1のフルカットも行なわれる。ワークW1のフルカットを通じて、ワークW1が載置されているラバー202が劣化する。
<4-1.切断品の製造手順>
図16は、切断品の製造手順を示すフローチャートである。このフローチャートに示される処理は、切断対象のワークW1が準備された後に、制御部500によって実行される。
図18は、ワークW1に形成された溝の深さの検出動作を示すフローチャートである。このフローチャートに示される処理は、上面に溝が形成されたワークW1が撮像ユニット400の下方に位置している状態で、制御部500によって実行される。
図19は、ブレード101の摩耗状態の検出動作を示すフローチャートである。このフローチャートに示される処理は、上面に溝が形成されたワークW1が撮像ユニット400の下方に位置している状態で、制御部500によって実行される。
図20は、ワークW1に形成されたバリ511の有無の検出動作を示すフローチャートである。このフローチャートに示される処理は、切断されたワークW1が撮像ユニット400の下方に位置している状態で、制御部500によって実行される。
図22は、ラバー202の劣化状態の検出動作を示すフローチャートである。このフローチャートに示される処理は、上面にワークW1が載置されていないラバー202が撮像ユニット400の下方に位置している状態で、制御部500によって実行される。
以上のように、本実施の形態に従う切断装置10においては、光源410がワークW1に光のパターンを投影する方向と、撮像部420が光のパターンを撮像する方向とによって形成される角度が0°よりも大きい。したがって、ワークW1の上面の高さ位置に応じて、ワークW1の上面における光のパターンの投影位置が変化する。そのため、切断装置10によれば、高価な部品を用いることなく、光のパターンの投影位置に基づいて、ワークW1の上面の高さ位置を検出することができる。
上記実施の形態の思想は、以上で説明された実施の形態に限定されない。以下、上記実施の形態の思想を適用できる他の実施の形態の一例について説明する。
Claims (9)
- ワークを切断するように構成された切断装置であって、
前記ワークに光のパターンを投影するように構成された光源と、
前記光のパターンを撮像し、第1画像データを生成するように構成された撮像部と、
前記第1画像データに基づいて前記ワークの高さ位置を検出するように構成された検出部とを備え、
前記光源が前記光のパターンを投影する方向と、前記撮像部が前記光のパターンを撮像する方向とによって形成される角度は0°よりも大きい、切断装置。 - 前記検出部は、前記撮像部によって撮像された前記光のパターンの位置に基づいて、前記ワークの高さ位置を検出するように構成されている、請求項1に記載の切断装置。
- 前記ワークは、樹脂成形済み基板である、請求項1又は請求項2に記載の切断装置。
- 前記光源は、前記ワークの斜め方向から前記ワークに向かって前記光のパターンを投影するように構成されている、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の切断装置。
- ブレードをさらに備え、
前記ワークには溝が形成されており、
前記光源は、前記ワークにおける前記溝を含む領域に前記光のパターンを投影するように構成されており、
前記検出部は、前記撮像部によって撮像された前記光のパターンの形状に基づいて前記ブレードの摩耗状態を検出するように構成されている、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の切断装置。 - 前記光源は、前記ワークに形成された金属端子を含む領域に前記光のパターンを投影するように構成されており、
前記検出部は、前記撮像部によって撮像された前記光のパターンの形状に基づいて前記ワークのバリに関する検出を行なうように構成されている、請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の切断装置。 - 前記ワークが載置される吸着部材をさらに備え、
前記光源は、前記吸着部材に前記光のパターンを投影するように構成されており、
前記撮像部は、前記吸着部材を撮像するように構成されており、
前記検出部は、前記撮像部によって撮像された前記吸着部材における前記光のパターンの形状に基づいて前記吸着部材の劣化状態を検出するように構成されている、請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の切断装置。 - 前記撮像部は、前記ワーク上に形成されたマークを撮像し、第2画像データを生成するように構成されており、
前記検出部は、前記第2画像データに基づいて前記ワークの切断位置を検出するように構成されている、請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の切断装置。 - 請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の切断装置を用いた切断品の製造方法であって、
前記ワークに光のパターンを投影するステップと、
前記光のパターンを撮像し、画像データを生成するステップと、
前記画像データに基づいて前記ワークの高さ位置を検出するステップと、
前記ワークの高さ位置に基づいて前記ワークを切断し、前記切断品を製造するステップとを含む、切断品の製造方法。
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