JP5296749B2 - 部品認識装置および表面実装機 - Google Patents

部品認識装置および表面実装機 Download PDF

Info

Publication number
JP5296749B2
JP5296749B2 JP2010156733A JP2010156733A JP5296749B2 JP 5296749 B2 JP5296749 B2 JP 5296749B2 JP 2010156733 A JP2010156733 A JP 2010156733A JP 2010156733 A JP2010156733 A JP 2010156733A JP 5296749 B2 JP5296749 B2 JP 5296749B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead
component
imaging
image
height
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2010156733A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010261965A (ja
Inventor
伸章 田端
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yamaha Motor Co Ltd
Original Assignee
Yamaha Motor Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yamaha Motor Co Ltd filed Critical Yamaha Motor Co Ltd
Priority to JP2010156733A priority Critical patent/JP5296749B2/ja
Publication of JP2010261965A publication Critical patent/JP2010261965A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5296749B2 publication Critical patent/JP5296749B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

本発明は、電子部品の端子が位置する実装面を複数の方向から撮像し、画像処理によって前記端子の高さを検出する部品認識装置および表面実装機に関するものである。
従来、例えば電子部品をプリント配線板に実装するための表面実装機は、前記電子部品(以下、これを実装用部品という)を吸着ノズルによって吸着して部品供給部からプリント配線板上の実装位置に移載する構成が採られている。前記部品供給部は、実装用部品を供給するテープフィーダを備え、プリント配線板が搬送される搬送経路の側方に配設されている。
この種の従来の表面実装機は、前記吸着ノズルに吸着された実装用部品の吸着位置を検出したり、前記実装用部品の良否判定を行うために、前記実装部品を下方から撮像手段によって撮像し、画像処理を行う部品認識装置を装備している。この部品認識装置による良否判定は、実装用部品がQFP(Quad Flat Package) のように複数のリードが側方に突出している半導体装置である場合は、リードの欠損の有無や、横方向への折れおよび高さのばらつき(仮想実装面に対する各リードの浮き・沈み)が許容値内に入っているか否かを検出することによって行っている。一方、実装用部品がBGA(Ball Grid Array) やCSP(Chip Size Package) などの半導体装置である場合の前記良否判定は、パッケージの下面から突出する半球状端子の有無や、この半球状端子の高さのばらつきが許容値内に入っているか否かを検出することによって行っている。
前記リードや半球状端子の高さを検出することができる従来の部品認識装置としては、例えば特許文献1に記載されたものがある。この特許文献1に示された部品認識装置は、実装用部品のリード実装面に斜め下方から光を照射する照明装置と、実装用部品の端子が位置する実装面を複数の異なる方向から撮像するカメラと、このカメラにより撮像された撮像方向の異なる二つの画像から画像処理によってリードの高さを検出する画像処理装置とを備えている。前記画像処理装置は、前記二つの画像を合成することにより3次元画像を作り、この3次元画像を解析することによってリードの浮き・沈みの有無や高さ方向の変形量を検出する構成が採られている。
この種の従来の部品認識装置は、前記表面実装機の他に、例えば実装用部品を検査する部品検査装置にも装備されている。
なお、本出願人は、本明細書に記載した先行技術文献情報で特定される先行技術文献以外には、本発明に密接に関連する先行技術文献を出願時までに見付け出すことはできなかった。
特開平7−151522号公報(第2−3頁、図1)
従来、表面実装機や部品検査装置においては、実装用部品や検査用電子部品のリードや半球状端子の高さの検出をより一層高い精度で行うようにすることが要請されている。しかし、上述した従来の部品認識装置は、QFPのリードやBGA,CSPの半球状端子の高さの検出精度をさらに向上させるには限界があり、前記要請に応えることはできなかった。この主な原因としては、QFPのリードは、いわゆる打ち抜き加工によって形成されているために先端部に反りやばりが発生していることが考えられ、半球状端子については、表面の状態如何によって光が反射したりしなかったりするために、画像中に写る形状が一定になり難いことが考えられる。
従来のQFPのリードの先端部を図8に示す。図8は従来のQFPのリードの先端部を拡大して示す側面図である。同図に示すように、QFPのリード101の先端部(半田付け用アウターリード部分)は、打ち抜き加工時に反り(同図中に符号102で示す)が生じたり、ばり103が形成されることがある。例えば、リード101の先端部が大きく上側に反っている場合は、矢印Aで示す垂直方向から見たときのリード先端の位置と、矢印Bで示す斜め方向から見たときのリード先端の位置とが異なることになる。
この結果、リード101の先端部を前記B方向から撮像した画像から測定されたリード先端部の長さは、前記A方向から撮像した画像から測定されたリード先端部の長さより短くなるため、画像処理装置はこのリード先端部の下面が正しい位置(真の位置H1)より浮き上がった位置(誤測定位置H2)にあると判定してしまう。すなわち、このように反り102が生じたリード101は、高さの検出誤差が大きくなる。なお、前記先端部から突出するばり103によっても前記同様に検出誤差が大きくなることが知られている。
また、前記リード101を前記A方向から撮像した画像とB方向から撮像した画像とを合成することによって形成された三次元画像は、図9に示すように、一方向に(例えば同図において上側から下側に)濃淡が検出される。図9はリードの高さを検出するときの画像処理を説明するための図である。同図において、左右方向に延びるリード101Aは、両側部で濃淡が変わることから検出点が二箇所になる。一方、同図において上下方向に延びるリード101Bは、先端部のみで濃淡が変わることから検出点が一箇所になる。すなわち、この上下方向に延びるリード101Bは検出点が一箇所で相対的にデータ量が少ないことと、上述したようにリード先端部は検出誤差が大きくなることとから、従来の部品認識装置は、QFPのリード101の高さのばらつきの検出精度を高めることには限界があった。
一方、BGAやCSPの半球状端子は、その表面の粗さが必ずしも均一ではなく、表面が鏡面や鏡面に近い光沢面に形成されていたり、粗面に形成されていることがある。表面が鏡面または鏡面に近い光沢面である場合は、図10(a)に示すように、半球状端子104の一部しか撮像することができず、これとは逆に表面が粗面に形成されている場合は、表面の略全域で照明の光りが乱反射するようになって半球状端子104の写る範囲が広くなる。図10(a)に示す0°画像は、半球状端子104をパッケージ下面とは直交する垂直な方向A{図10(b)参照}から撮像した画像で、図10(a)に示す40°画像は、半球状端子104を斜め方向Bから撮像した画像である。
このように画像中に写る半球状端子104の形状がその表面の粗さに対応して変化するために、撮像方向の異なる二つの画像を合成するときに二つの画像中の半球状端子104の中心(最下点)を正しく合わせることが難しくなる。また、0°画像と40°画像とでは半球状端子104の形状が大きく異なるため、これらの画像に基づいて半球状端子104の高さを検出するときにリード101の高さを検出するときと同等のアルゴリズムで行うと検出誤差が大きくなる。なお、半球状端子専用のアルゴリズムを用いることは、ソフトウェアの新規開発が必要になるとともに、メモリーの増設などコストアップになるために避けなければならない。
このように半球状端子104の中心を正確に検出することが難しいことと、撮像方向の異なる二つの画像に写る半球状端子104の形状が大きく異なることとから、従来の部品認識装置においては、BGAやCSPの半球状端子104の高さのばらつきの検出精度をさらに向上させることは難しかった。
本発明はこのような問題を解消するためになされたもので、QFPのリードやBGA,CSPの半球状端子の高さのばらつきの検出精度をより一層向上させることができる部品認識装置および表面実装機を提供することを目的とする。
この目的を達成するために、本発明に係る部品認識装置は、プリント配線板に実装される電子部品におけるパッケージの互いに向かい合う2側部に設けられた第1のリード群の複数のリードと、前記パッケージの他の2側部に設けられた第2のリード群の複数のリードとの高さを検出する機能と、前記電子部品におけるパッケージの実装面に複数突設された半球状端子の高さを検出する機能とを有する部品認識手段と、前記第1、第2のリード群の複数のリードと前記半球状端子とを撮像する撮像装置とを備え、前記撮像装置は、前記第1、第2のリード群の複数のリードと前記半球状端子とを前記第1のリード群または第2のリード群のリードの延びる方向から見て他方のリード群のリードの延びる方向に対して傾斜する斜め方向から斜め画像を撮像する単一の第1の撮像手段を有する斜め撮像部と、前記第1、第2のリード群の複数のリードを前記パッケージ下面とは直交する垂直方向から垂直画像を撮像する単一の第2の撮像手段を有する垂直撮像部とを備え、前記斜め撮像部は、前記電子部品の下面に斜め下方から撮像用の光を照射する第1の照明手段と、この第1の照明手段から照射されて前記電子部品の下面の下面で反射した反射光を下方側へ反射させるミラーと、前記ミラーで反射された光を受光する前記第1の撮像手段とを備え、前記垂直撮像部は、前記電子部品の下面に下方から光を照射する第2の照明手段と、この第2の照明手段から照射されて前記電子部品によって下方へ反射した光を受光する前記第2の撮像手段とを備え、前記第1の撮像手段は、前記第2の撮像手段の下方に位置付けられ、前記第1の照明手段は、前記第2の照明手段の側方に配置され、前記部品認識手段は、前記第1、第2のリード群の高さを検出するにあたって一方のリード群について撮像を行った後に前記電子部品を実装面とは直交する軸線回りに90°回転させて他方のリード群について撮像を行い、かつ前記半球状端子の高さを検出するにあたっては、斜め画像を撮像した後に前記電子部品を実装面とは直交する軸線回りに180°回転させた状態で再度斜め画像を撮像して行うものであって、前記電子部品を90°回転させる以前に撮像した前記垂直画像と前記斜め画像とによって一方のリード群のリード高さを検出するとともに、回転させる以前に撮像した前記垂直画像と回転後に撮像した前記斜め画像とによって他方のリード群のリード高さを検出する形態と、前記電子部品を90°回転させる以前に撮像した前記垂直画像によってリードの位置を検出し、前記電子部品を90°回転させる以前に撮像した前記斜め画像と回転後に撮像した前記斜め画像とによって前記第1のリード群のリード高さと前記第2のリード群のリード高さとを検出する形態とのうちいずれか一方の形態を採って構成されているものである。
請求項に記載した発明に係る表面実装機は、基台上にプリント配線板搬送用のコンベアと、コンベア側方においてプリント配線板の搬送方向に並べて配置され、多数のテープフィーダが配列された部品供給部と、部品装着用の吸着ヘッドが搭載され、基台上方において搬送方向と前後方向に移動可能なヘッドユニットと、基台上に配置された撮像装置と、コンベアの移動、ヘッドユニットの移動および動作、および撮像装置による撮像を制御し、撮像された画像に基づき部品認識を行う部品認識手段を備えた制御装置とを備え、テープフィーダから吸着した部品を、撮像装置の上方を経由してプリント配線板の所定の実装位置の上方に移動し、部品認識結果に基づきプリント配線板上に移載する表面実装機であって、撮像装置と部品認識手段からなる部品認識装置が、請求項1記載の部品認識装置からなり、前記撮像装置は、前記搬送方向の2つの前記部品供給部の間に配置され、前記斜め画像は搬送方向に傾く方向から撮像し、半球状端子を有する実装用部品に対しては前記半球状端子の高さを検出し、かつリードを有する実装用部品に対しては前記リードの高さを検出するものである。なお、ここでいう端子またはリードとは、QFPのリードやBGA,CSPの半球状端子を含む。
本発明によれば、電子部品を実装面とは直交する軸線回りに回転させることにより、電子部品がQFPである場合は、図9において上下方向に延びるリードを左右方向に延びるように方向転換した状態で撮像することができる。この結果、QFPの全てのリードについて高い精度で高さを検出することができる。
一方、電子部品がBGA,CSPである場合は、半球状端子を斜め方向の一方と斜め方向の他方とから撮像した画像によって半球状端子の高さを検出することができるから、半球状端子を形状が近似するように撮像することができる。この結果、画像処理により半球状端子の高さを、リードの高さを検出するときと同様のアルゴリズムを用いて高い精度で検出することができる。
したがって、本発明によれば、QFPや、BGA,CSPのリード・半球状端子の高さを従来に較べて高い精度で検出することができる部品認識装置を提供することができる。
また、本発明によれば、QFPの二つの方向(縦方向と横方向)に延びるリードについてそれぞれより一層高い精度で高さを検出することができる。また、QFPのリードを斜め方向から撮像する撮像手段を一つとすることができるから、斜め方向から撮像する撮像手段を二つ使用する場合に較べて部品認識装置の水平方向の幅を小さく形成することができる。このため、この発明によれば、高い検出精度を有しながらもコンパクトな部品認識装置を実現することができる。
また、本発明によれば、BGAやCSPの半球状端子を斜め方向から撮像する撮像手段を一つとすることができるから、斜め方向から撮像する撮像手段を二つ使用する場合に較べて部品認識装置の水平方向の幅を小さく形成することができる。このため、この発明によれば、高い検出精度を有しながらもコンパクトな部品認識装置を実現することができる。また、垂直方向から撮像する撮像手段と、斜め方向から撮像する撮像手段とを用いる従来の部品認識装置と較べると、電子部品を実装面と直交する軸線回りに180°回転させて撮像するために二つの画像の視差を大きくとることができる。このため、この発明によれば、コンパクトで、しかも半球状端子の高さの検出精度がより一層高い部品認識装置を提供することができる。
本発明に係る表面実装機は、電子部品の端子またはリードの高さをより一層高い精度で検出することができる部品認識装置を装備しているから、実装用部品の良否判定をより一層高い精度で行うことができるようになり、部品実装の信頼性が高くなる。
本発明に係る部品認識装置を装備した表面実装機の平面図である。 表面実装機の上部の正面図である。 部品認識装置を示す図である。 表面実装機の制御系を示すブロック図である。 部品認識装置の動作を示すフローチャートである。 リードの画像を示す図である。 部品認識装置の他の実施の形態を示す平面図である。 リードの先端部を拡大して示す側面図である。 画像処理を説明するための図である。 半球状端子を示す図である。
以下、本発明に係る部品認識装置の一実施の形態を図1ないし図6によって詳細に説明する。ここでは、本発明に係る部品認識装置を表面実装機に装備した場合について説明する。
図1は本発明に係る部品認識装置を装備した表面実装機の平面図、図2は表面実装機の上部の正面図、図3は部品認識装置を示す図で、同図(a)は屈折レンズを介して照射される光の経路を示す斜視図、同図(b)は、図1のIII−III矢視図である。図4は表面実装機の制御系を示すブロック図、図5は部品認識装置の動作を示すフローチャート、図6はリードの画像を示す図で、同図(a)は垂直画像を示し、同図(b)は斜め画像を示す。
これらの図において、符号1で示すものは、この実施の形態による表面実装機を示す。この表面実装機1の基台1a上には、プリント配線板搬送用のコンベア2が配置され、プリント配線板Pが前記コンベア2上を搬送されて所定の装着作業位置で停止するように構成されている。前記コンベア2の前後方向(図1では上下方向)にはそれぞれ部品供給部3が配置されている。これら部品供給部3には、前記コンベア2と平行して取付座3aがそれぞれ設けられている。各取付座3aには、各種部品を供給するための多数のフィーダーが配設され、図示の例では多数のテープフィーダー4が並列に、かつ各々位置決めされた状態で固定されている。各テープフィーダー4は、それぞれIC、トランジスタ、コンデンサ等の小片状の電子部品を所定の間隔をおいて収納、保持したテープがリールから導出されるように構成されており、またテープ送り出し端には送り機構が具備され、後述する吸着ヘッド13により実装用部品がピックアップされるにつれてテープが間欠的に送り出されるように構成されている。
前記基台1aの上方には、図1および図2に示すように、部品装着用ヘッドユニット5が装備され、このヘッドユニット5はX軸方向(コンベア2と平行な方向)およびY軸方向(図1におけるコンベア2と直交する方向)に移動することができるように構成されている。
すなわち、前記基台1aには、ヘッドユニット5の支持部材6がY軸方向の固定レール7に移動可能に配置され、支持部材6上にヘッドユニット5がX軸方向のガイド部材8に沿って移動可能に支持されている。そして、Y軸サーボモータ9によりボールねじ10を介して支持部材6のY軸方向の移動が行なわれるとともに、X軸サーボモータ11によりボールねじ12を介してヘッドユニット5のX軸方向の移動が行なわれる。
前記ヘッドユニット5には部品装着用の複数の吸着ヘッド13が搭載されており、当実施形態では8本の吸着ヘッド13がX軸方向に一列に並べて配設されている。また、各吸着ヘッド13のZ軸方向の下端(図2)には吸着ノズル14が設けられており、部品吸着時には図外の負圧供給手段から吸着ノズル14に負圧が供給され、この負圧による吸引力で部品が吸着される。
前記吸着ヘッド13は、それぞれヘッドユニット5のフレームに対してZ軸方向(図2参照)の移動およびR軸(ノズル中心軸)回りの回転が可能とされ、サーボモータを駆動源とする昇降駆動手段15(図4参照)および回転駆動手段16(図4参照)により駆動されるように構成されている。これらの昇降駆動手段15と回転駆動手段16の動作は、後述する制御装置17(図4参照)によって制御される。なお、前記コンベア2や、前記Y軸サーボモータ9とX軸サーボモータ11の動作も制御装置17によって制御される。
前記ヘッドユニット5の移動範囲内であって基台1a上の部品供給部3近傍には、撮像装置20が設けられ、この撮像装置20により前記吸着ノズル14に吸着された実装用部品の下面が撮像される。
前記撮像装置20は、図3(b)に示すように、前記基台1aに対して固定されるベースプレート21を備えている。このベースプレート21の上端部には、前記吸着ノズル14に吸着された実装用部品Dの下面に斜め下方から撮像用の光を照射する第1の照明手段30と、実装用部品Dの下面に垂直方向から撮像用の光を照射する第2の照明手段31とが固定されている。
前記第1および第2の照明手段30,31は、Y方向とZ方向とに並ぶ複数のLED32を光源として構成されている。第1の照明手段30のLED32は、前記ベースプレート21のX方向の略中央位置の上方に搬送された実装用部品Dの下面に対してXZ平面上で鉛直方向に対して略40°の傾斜角で自然光Sを照射するようにベースプレート21に固定されている。第2の照明手段31のLED32は、前記実装用部品Dの下面に鉛直方向の下方から自然光Sを照射するようにベースプレート21に固定されている。また、前記各LED32の自然光Sの照射経路上には、屈折レンズ33が設けられている。
前記屈折レンズ33は、前記各LED32から照射された自然光Sを所定の平面(例えば、ベースプレート21や、屈折レンズ33のLED32側表面の先端部どうしを結ぶ平面)に略直交する平行光あるいは略平行光になるように屈折させる。この屈折レンズ33におけるLED32とは反対側の表面は、かまぼこ状に凸に形成されており、図3(a)に示すように、平行光あるいは略平行光は、屈折レンズ33から出射するときに、Y軸方向には平行あるいは略平行を維持したまま屈曲されて、平面状屈曲光HとなりY軸方向の直線状の集光位置SIに集光される。
この集光位置SIに前記実装用部品Dの下面位置が一致するように、吸着ヘッド13のZ軸方向位置が調整される。また、図3(a)に示すように、集光位置SI上において、LED32のY軸方向の配置ピッチに対応した高集光部SI1、SI2、SI3が形成され、Y軸方向に明るい部位と、相対的に暗い部位とが交互に生じることになるので、前記屈折レンズ33と実装用部品Dとの間には、前記平面状屈曲光HをY軸方向にのみ拡散させるディフューザ34が配設され、このディフューザ34により各平面状屈曲光Hは、実装用部品D側へ向かうにつれてY軸方向で扇状に広がり、Y軸方向において略均一な明るさとなる。
すなわち、屈折レンズ33およびディフューザ34により前記照明手段30の各LED32から照射された自然光Sが平面状屈曲光Hに屈曲され、これら平面状屈曲光Hが実装用部品Dの下面に集光されるとともに、それぞれY軸方向へ拡散することによって、各平面状屈曲光Hが実装用部品Dの下面でY軸方向へ延びる集光位置SIに対して照射されることとなる。第1の照明手段30から前記集光位置SIへ照射された各平面状屈曲光Hは、当該集光位置SIを基準とするYZ平面の面対称となる左側へ反射し、この反射光Rはミラー35により下方側へ反射されることとなる。一方、第2の照明手段からの光は実装用部品Dの下面によって下方へ反射する。
前記ミラー35によって反射した光は第1のカメラ36が受光し、第2の照明手段31の光は実装用部品Dによって下方へ反射した後に第2のカメラ37が受光する。これらの第1および第2のカメラ36,37は、撮像素子としてラインセンサ(図示せず)を使用しており、それぞれ前記ベースプレート21に固定されている。前記第1のカメラ36によって本発明でいう第1の撮像手段が構成され、前記第2のカメラ37によって本発明でいう第2の撮像手段が構成されている。なお、この実施の形態では、第1のカメラ36が第2のカメラ37の下方に位置付けられているが、これらのカメラ36,37の位置は光路を遮ることがない位置であれば適宜変更することができる。これらの第1および第2の照明手段30,31の点灯・消灯の切換えと、第1および第2のカメラ36,37の撮像動作は後述する制御装置17が制御する。
前記制御装置17は、図4に示すように、前記コンベア2の動作を制御する搬送系制御手段41と、前記ヘッドユニット5の移動および動作を制御する実装系制御手段42と、前記撮像装置20を図5にフローチャートとして示すプログラムに基づいて動作させるとともにQFPのリードやBGA,CSPの半球状端子の高さを検出する部品認識手段43とを備えている。この部品認識手段43と前記撮像装置20とによって本発明でいう部品認識装置が構成されている。
ここで、制御装置17(前記部品認識手段43)の詳細な構成を表面実装機1の動作の説明と合わせて図5に示すフローチャートによって詳細に説明する。
表面実装機1は、図5のステップS1において、テープフィーダー4上の実装用部品Dを吸着ノズル14に吸着させ、ヘッドユニット5をX方向とY方向とに移動させてテープフィーダー4からプリント配線板P上の所定の実装位置に移載する。この表面実装機1は、前記実装行程の途中で実装用部品Dの吸着の有無を含めた正誤および吸着位置を検出したり、実装用部品Dのリードや半球状端子などの変形、欠損の有無および高さなどを検出するために、実装用部品Dを前記撮像装置20の上方でX方向に移動させ、前記第1および第2のカメラ36,37によって下方から撮像する。このとき、ヘッドユニット5に対する吸着ヘッド13の上下方向の高さは、第1および第2のカメラ36,37により実装用部品Dの鮮明な画像が取得できる高さに設定されている。
制御装置17は、前記ステップS1で吸着ノズル14に実装用部品Dを吸着させた後、ステップS2において、この実装用部品DがQFPなどのリードを有するものであるか、BGA,CSPなどの半球状端子を有するものであるか否かを判定する。このとき、制御装置17は、実装用部品DがQFPなどのリードを有するものである場合は、ステップS3に進み、第2の照明手段31と第2のカメラ37とを使用して実装用部品Dを垂直方向からその実装面(プリント配線板Pと対向する下面)とリードとが写るように撮像する。
この第2のカメラ37によって撮像された画像を以下「垂直画像」という。このときに撮像された垂直画像を図6(a)に示す。
次に、制御装置17は、ステップS4で各リードの位置を検出し、実装用部品Dを位置決めするための補正量を求めるとともに、リードピッチと長さとを検出する。そして、ステップS5において、制御装置17は、第1の照明手段30と第1のカメラ36とを使用して実装用部品Dの実装面とリードとを斜め下方向から撮像する。このときに斜めから撮像された画像を図6(b)に示す。この第1のカメラ36によって撮像された画像を以下「斜め画像」という。制御装置17は、ステップS6において、前記斜め画像に撮像されているリードの位置を検出し、この斜め画像と前記ステップS3で撮像した垂直画像とを用いて第1の高さデータを求める。この第1の高さデータは、図9においては左右方向に延びるリード101Aの高さデータである。同図において上下方向に延びるリードの高さデータは、後述するステップS12で求める。
しかる後、制御装置17は、ステップS7において、この実装用部品Dのリードが2方向(X方向)に延びるもののみであるか否かを判定する。この判定結果がNO、すなわち実装用部品DがQFPである場合は、ステップS8に進み、制御装置17は、回転駆動手段16を動作させて吸着ヘッド13を垂直な軸線上で90°回転させる。そして、制御装置17は、ステップS9で第2の照明手段31と第2のカメラ37とによって垂直画像を撮像し、この垂直画像に撮像されているリードの位置をステップS10で検出した後、ステップS11で第1の照明手段30と第1のカメラ36とを使用して斜め画像を撮像する。制御装置17は、この斜め画像に撮像されているリードの位置をステップS12で検出し、この斜め画像と、前記ステップS9で撮像した垂直画像とに基づいて第2の高さデータを求める。この第2の高さデータは、図9においては上下方向に延びるリード101Bの高さデータとなる。
次に、制御装置17は、ステップS13において、前記ステップS6で求めた第1の高さデータとステップS12で求めた第2の高さデータとに基づいて全てのリードの高さを検出する。なお、前記ステップS7でリードが2方向に延びるもののみであると判定された場合もステップS13に進む。次に、制御装置17は、ステップS14において、前記全てのリードの高さデータに基づいて実装用部品Dのリードの先端部の平坦度等を判定(コプラナリティ判定)する。このコプラナリティ判定により良品であると判定された実装用部品Dは、ステップS15でヘッドユニット5がプリント配線板Pの所定の実装位置の上方に移動し、ステップS16でプリント配線板P上に移載される。
前記ステップS2において実装用部品DがBGAやCSPであると判定された場合は、ステップS17に示すように、第2の照明手段31と第2のカメラ37とによって実装用部品Dのパッケージの実装面(プリント配線板Pと対向する下面)と半球状端子とが写るように垂直画像を撮像し、ステップS18で各半球状端子の位置を検出し、実装用部品Dを位置決めするための補正量を求めるとともに、半球状端子の欠損の有無を検出する。BGAやCSPを垂直方向から撮像するに当たっては、第2の照明手段31の代わりに、実装用用部品Dに側方から光を照射する照明手段(図示せず)を使用することができる。
このように垂直画像から各種の検出と判定を行った後、制御装置17は、ステップS19で第1の照明手段30と第1のカメラ36とを使用して前記実装面と半球状端子とが写るように斜め画像を撮像し、この斜め画像から半球状端子の頂点の位置を検出する(ステップS20)。そして、制御装置17は、ステップS21で回転駆動手段16を動作させて吸着ヘッド13を垂直な軸線上で180°回転させ、ステップS22で第1の照明手段30と第1のカメラ36とを使用して斜め画像を撮像する。しかる後、制御装置17は、前記ステップ19で撮像した斜め画像と、前記ステップS22で撮像した斜め画像とを使用して画像処理により各半球状端子の高さを検出し(ステップS13)、ステップS14でコプラナリティ判定を行う。すなわち、回転前に撮像した斜め画像で検出した半球状端子の頂点の位置と、回転後に撮像した斜め画像で検出した半球状端子の頂点の位置とにより、同一の半球状端子の高さを検出し、この検出結果に基づいてコプラナリティ判定を行う。
制御装置17は、ステップS13で半球状端子の高さを検出するに当たって、前記QFPのリードの高さを検出するときと同様のアルゴリズムで行う。その後、制御装置17は、上述したQFPの場合と同様に、判定結果が良好である実装用部品Dのみをプリント配線板Pに実装する(ステップS15〜S16)。
したがって、上述した部品認識装置を装備した表面実装機1においては、実装用部品DがQFPである場合は、実装用部品Dを実装面とは直交する軸線回りに90°回転させることにより、図9において上下方向に延びるリード101Bを左右方向に延びるように方向転換した状態で撮像することができる。このため、この表面実装機1においては、QFPのリードの高さの検出精度を従来より向上させることができた。
一方、実装用部品DがBGA,CSPである場合は、半球状端子を斜め方向の一方と斜め方向の他方とから撮像した二つの斜め画像によって半球状端子の高さを検出することができるから、半球状端子を形状が近似するように撮像することができる。この結果、画像処理により半球状端子の高さを、リードの高さを検出するときと同様のアルゴリズムを用いて高い精度で検出することができる。
したがって、この実施の形態による部品認識装置によれば、QFPや、BGA,CSPのリード・半球状端子の高さを従来の部品認識装置に較べて高い精度で検出することができる。
この実施の形態による表面実装機1に装備した部品認識装置は、QFPの縦方向に延びるリードの高さデータと、横方向に延びるリードの高さデータとを用いて全てのリードの高さを検出し、コプラナリティ判定を行うものであるから、QFPの良否判定を正確に行うことができる。なお、この表面実装機1においては、QFPのリードの高さを検出するに当たっては、下記の各例に示すように行うことができる。
第1例
ステップS6で第1の高さデータを求めた後、この高さデータが良好であると判定された場合には、QFPであってもステップS8〜ステップS12を実施することなくステップS13に進む。
第2例
ステップS3で撮像した垂直画像によってリードの位置を検出し、ステップS5で撮像した斜め画像とステップS11で撮像した斜め画像とを使用して全てのリードの高さを検出する。この方法を採ることによって、90°回転後の垂直画像の撮像行程を省略することができる。
第3例
90°回転を行う以前と以後の撮像順序を変える。すなわち、90°回転を行う以前に斜め画像を撮像してから垂直画像を撮像する。または、90°回転を行った後に斜め画像を撮像してから垂直画像を撮像する。
第4例
ステップS3で撮像した垂直画像とステップS5で撮像した斜め画像とによって第1の高さデータを求め、ステップS3で撮像した垂直画像とステップS11で撮像した斜め画像とによって第2の高さデータを求める。そして、前記第1の高さデータと前記第2の高さデータとによって全てのリードの高さ(最終的な高さ)を検出する。この方法を採ることによっても90°回転後の垂直画像の撮像行程を省略することができる。
上述した実施の形態による表面実装機1に装備した部品認識装置は、第1のカメラ36のみによってリードや半球状端子を斜め方向から撮像する構成を採っているから、斜め方向から撮像する撮像手段を二つ使用する場合に較べて水平方向の幅を小さく形成することができる。このため、この発明によれば、高い検出精度を有しながらもコンパクトな部品認識装置を形成することができる。また、垂直方向から撮像する撮像手段と、斜め方向から撮像する撮像手段とを使用する従来の部品認識装置と較べて、BGAやCSPの半球状端子を撮像するときに実装用部品Dを180°回転させて撮像するために、二つの斜め画像の視差を大きくとることができる。この実施の形態では、第1のカメラ36によって鉛直方向に対して約40°傾いた方向から斜め画像を撮像しているから、前記二つの斜め画像の視差は約80°となる。この実施の形態による表面実装機1においては、このように大きな視差をもつ二つの斜め画像を用いて半球状端子の高さを検出しているから、この点からも従来の部品認識装置に較べて高い精度で前記高さを検出することができる。
この実施の形態による表面実装機1は、BGA,CSPを実装する場合に垂直画像を撮像した後に斜め画像を撮像するように構成されているが、撮像順序は適宜変更することができる。例えば、斜め画像を2回撮像した後に垂直画像を撮像することができる。また、最初の斜め画像を撮像した後に実装用部品Dを回転させる角度は、90°に変えることもできる。さらに、上述した実施の形態では第1および第2のカメラ36,37の撮像素子としてラインセンサを使用する例を示したが、ラインセンサの代わりにエリアセンサを用いることができる。この構成を採る場合は、最初の斜め画像を撮像した後にヘッドユニット5のX方向への移動を停止させた状態で吸着ヘッド13を垂直な軸線上で回転させる。
さらにまた、上述した実施の形態では第1および第2のカメラ36,37を一つのベースプレート21に装着する例を示したが、これらの第1および第2のカメラ36,37はそれぞれ別体に形成し、図7に示すように、Y方向に並べて設置することができる。この構成を採る場合は、同図中に矢印で示すように、最短経路でヘッドユニット5を移動させる。
加えて、上述した実施の形態では、リードがいわゆるガルウイング状に形成され、リード先端部の下面がプリント配線板に半田付けされるQFPを使用する場合について説明したが、リードの形状は適宜変更することができる。例えば、リードは、先端部がプリント配線板のスルーホールに挿入されてプリント配線板の下面側で半田付けされる構造のものでもよい。この場合、第1のカメラ36と第2のカメラ37とでリードを撮像するときの焦点の位置は、実装用部品をプリント配線板に位置決めするうえで最適な高さ方向の位置とすることができる。
なお、本発明に係る部品認識装置は、表面実装機の他に、吸着ノズルによって電子部品を移載する装置であればどのようなものにも適用することができる。例えば、本発明に係る部品認識装置は、吸着ノズルにより吸着された電子部品の外観を撮像して画像処理によってこの電子部品を検査したり、検査台上の電子部品に検査用の所定波形電流を入力し、出力波形により電子部品を検査するとともに、ヘッドユニットに設けられる吸着ノズルにより検査台の上に運搬される電子部品の下面を撮像し、検査台への載置における位置補正をする部品検査装置などにも使用することができる。この部品検査装置は、本発明に係る部品認識装置を装備することによって、リードや半球状端子の高さを従来のものに較べて高い精度で検出することができるようになる。
1…表面実装機、5…ヘッドユニット、13…吸着ヘッド、17…制御装置、20…撮像装置、36…第1のカメラ、37…第2のカメラ、101…リード、104…半球状端子、43…部品認識手段、D…実装用部品。

Claims (2)

  1. プリント配線板に実装される電子部品におけるパッケージの互いに向かい合う2側部に設けられた第1のリード群の複数のリードと、前記パッケージの他の2側部に設けられた第2のリード群の複数のリードとの高さを検出する機能と、前記電子部品におけるパッケージの実装面に複数突設された半球状端子の高さを検出する機能とを有する部品認識手段と、
    前記第1、第2のリード群の複数のリードと前記半球状端子とを撮像する撮像装置とを備え、
    前記撮像装置は、前記第1、第2のリード群の複数のリードと前記半球状端子とを前記第1のリード群または第2のリード群のリードの延びる方向から見て他方のリード群のリードの延びる方向に対して傾斜する斜め方向から斜め画像を撮像する単一の第1の撮像手段を有する斜め撮像部と、前記第1、第2のリード群の複数のリードを前記パッケージ下面とは直交する垂直方向から垂直画像を撮像する単一の第2の撮像手段を有する垂直撮像部とを備え、
    前記斜め撮像部は、前記電子部品の下面に斜め下方から撮像用の光を照射する第1の照明手段と、この第1の照明手段から照射されて前記電子部品の下面の下面で反射した反射光を下方側へ反射させるミラーと、前記ミラーで反射された光を受光する前記第1の撮像手段とを備え、
    前記垂直撮像部は、前記電子部品の下面に下方から光を照射する第2の照明手段と、この第2の照明手段から照射されて前記電子部品によって下方へ反射した光を受光する前記第2の撮像手段とを備え、
    前記第1の撮像手段は、前記第2の撮像手段の下方に位置付けられ、
    前記第1の照明手段は、前記第2の照明手段の側方に配置され、
    前記部品認識手段は、前記第1、第2のリード群の高さを検出するにあたって一方のリード群について撮像を行った後に前記電子部品を実装面とは直交する軸線回りに90°回転させて他方のリード群について撮像を行い、かつ前記半球状端子の高さを検出するにあたっては、斜め画像を撮像した後に前記電子部品を実装面とは直交する軸線回りに180°回転させた状態で再度斜め画像を撮像して行うものであって、
    前記電子部品を90°回転させる以前に撮像した前記垂直画像と前記斜め画像とによって一方のリード群のリード高さを検出するとともに、回転させる以前に撮像した前記垂直画像と回転後に撮像した前記斜め画像とによって他方のリード群のリード高さを検出する形態と、
    前記電子部品を90°回転させる以前に撮像した前記垂直画像によってリードの位置を検出し、前記電子部品を90°回転させる以前に撮像した前記斜め画像と回転後に撮像した前記斜め画像とによって前記第1のリード群のリード高さと前記第2のリード群のリード高さとを検出する形態とのうちいずれか一方の形態を採って構成されていることを特徴とする部品認識装置。
  2. 基台上にプリント配線板搬送用のコンベアと、コンベア側方においてプリント配線板の搬送方向に並べて配置され、多数のテープフィーダが配列された部品供給部と、部品装着用の吸着ヘッドが搭載され、基台上方において搬送方向と前後方向に移動可能なヘッドユニットと、基台上に配置された撮像装置と、コンベアの移動、ヘッドユニットの移動および動作、および撮像装置による撮像を制御し、撮像された画像に基づき部品認識を行う部品認識手段を備えた制御装置とを備え、テープフィーダから吸着した部品を、撮像装置の上方を経由してプリント配線板の所定の実装位置の上方に移動し、部品認識結果に基づきプリント配線板上に移載する表面実装機であって、
    撮像装置と部品認識手段からなる部品認識装置が、請求項1記載の部品認識装置からなり、前記撮像装置は、前記搬送方向の2つの前記部品供給部の間に配置され、前記斜め画像は搬送方向に傾く方向から撮像し、半球状端子を有する実装用部品に対しては前記半球状端子の高さを検出し、かつリードを有する実装用部品に対しては前記リードの高さを検出する表面実装機。
JP2010156733A 2010-07-09 2010-07-09 部品認識装置および表面実装機 Active JP5296749B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010156733A JP5296749B2 (ja) 2010-07-09 2010-07-09 部品認識装置および表面実装機

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010156733A JP5296749B2 (ja) 2010-07-09 2010-07-09 部品認識装置および表面実装機

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004159776A Division JP2005340648A (ja) 2004-05-28 2004-05-28 部品認識方法、部品認識装置、表面実装機および部品検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010261965A JP2010261965A (ja) 2010-11-18
JP5296749B2 true JP5296749B2 (ja) 2013-09-25

Family

ID=43360118

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010156733A Active JP5296749B2 (ja) 2010-07-09 2010-07-09 部品認識装置および表面実装機

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5296749B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015071929A1 (ja) * 2013-11-13 2015-05-21 ヤマハ発動機株式会社 部品撮像装置及びこれを用いた表面実装機
JP2015106603A (ja) * 2013-11-29 2015-06-08 スタンレー電気株式会社 部品装着用光照射撮像装置
CN116783451A (zh) * 2022-01-18 2023-09-19 雅马哈智能机器控股株式会社 生成物品的三维线图的方法及三维线图生成装置及三维形状检查装置
WO2023139660A1 (ja) * 2022-01-18 2023-07-27 ヤマハロボティクスホールディングス株式会社 三次元デジタル顕微鏡

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0718815B2 (ja) * 1989-06-27 1995-03-06 松下電工株式会社 表面検査機
JP3385442B2 (ja) * 1994-05-31 2003-03-10 株式会社ニュークリエイション 検査用光学系および検査装置
JPH08320715A (ja) * 1995-05-24 1996-12-03 Nec Corp Tcp実装装置
JP3995030B2 (ja) * 1996-09-17 2007-10-24 コグネックス・テクノロジー・アンド・インベストメント・コーポレーション 半導体パッケージの検査装置
JPH10104033A (ja) * 1996-09-27 1998-04-24 Komatsu Ltd 画像処理装置のキャリブレーションプレート、これを用いたキャリブレーション装置及び3次元位置計測装置
JPH10170224A (ja) * 1996-12-06 1998-06-26 Toshiba Corp はんだ付け外観検査方法及びその装置
JP3923168B2 (ja) * 1998-03-02 2007-05-30 松下電器産業株式会社 部品認識方法及び部品実装方法
JPH11271889A (ja) * 1998-03-25 1999-10-08 Noritsu Koki Co Ltd 写真処理機器
JPH11351836A (ja) * 1998-06-08 1999-12-24 Hitachi Ltd 立体形状検出装置及びその方法
JP2001042464A (ja) * 1999-08-03 2001-02-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd ステレオ画像生成方法及び装置
JP2001127500A (ja) * 1999-10-25 2001-05-11 Murata Mfg Co Ltd チップマウンタの部品撮像装置
JP2002230523A (ja) * 2000-11-28 2002-08-16 Stk Technology Co Ltd 検査装置
JP2003097924A (ja) * 2001-09-21 2003-04-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd 形状測定装置および測定方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2010261965A (ja) 2010-11-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2937785B2 (ja) 実装機の部品状態検出装置
JP6224727B2 (ja) 部品撮像装置及びこれを用いた表面実装機
JP4804295B2 (ja) 部品認識方法、部品認識装置、表面実装機及び部品検査装置
JP5296749B2 (ja) 部品認識装置および表面実装機
JP2005340648A (ja) 部品認識方法、部品認識装置、表面実装機および部品検査装置
JPWO2018047252A1 (ja) 認識装置
JP4999502B2 (ja) 部品移載装置及び表面実装機
JP6721716B2 (ja) 撮像装置及びこれを用いた表面実装機
JP5297913B2 (ja) 実装機
JP2010050337A (ja) 表面実装機
JP5040829B2 (ja) 部品実装装置および部品実装方法
JP2010157539A (ja) 部品検査装置および部品移載装置
JP6752706B2 (ja) 判定装置、及び、表面実装機
JP4473012B2 (ja) 移載装置、表面実装機、icハンドラー、照明レベル決定方法及びしきい値決定方法
JP4090557B2 (ja) 電子部品の認識方法及び装置
JP4386419B2 (ja) 部品認識装置及び同装置を搭載した表面実装機並びに部品試験装置
CN111725086A (zh) 半导体制造装置以及半导体器件的制造方法
JP2010027903A (ja) 吸着部品の欠損判定方法、体積計算方法及び実装装置
JP6482165B2 (ja) 認識装置および、認識方法
JP2005093906A (ja) 部品認識装置及び同装置を搭載した表面実装機並びに部品試験装置
JP2005127836A (ja) 部品認識方法、部品認識装置、表面実装機、部品試験装置および基板検査装置
JP4298462B2 (ja) 部品認識装置、部品認識方法、表面実装機および部品試験装置
JP4386425B2 (ja) 表面実装機
JP3177083B2 (ja) 自動組立・実装装置及びその方法
JP4509537B2 (ja) 部品認識装置、表面実装機および部品試験装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120605

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120731

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120911

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121031

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130611

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130613

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5296749

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250