JP6469388B2 - 電界強度算出プログラム、電界強度算出装置及び電界強度算出方法 - Google Patents
電界強度算出プログラム、電界強度算出装置及び電界強度算出方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6469388B2 JP6469388B2 JP2014172937A JP2014172937A JP6469388B2 JP 6469388 B2 JP6469388 B2 JP 6469388B2 JP 2014172937 A JP2014172937 A JP 2014172937A JP 2014172937 A JP2014172937 A JP 2014172937A JP 6469388 B2 JP6469388 B2 JP 6469388B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- printed circuit
- electric field
- intensity
- magnetic field
- field strength
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000005684 electric field Effects 0.000 title claims description 186
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 title claims description 137
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 120
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 76
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 34
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 135
- 230000008569 process Effects 0.000 description 122
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 54
- 230000006870 function Effects 0.000 description 20
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 19
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 10
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 8
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000012886 linear function Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
- G01R29/0807—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by the application
- G01R29/0814—Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/001—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing
- G01R31/002—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing where the device under test is an electronic circuit
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
- G01R31/2817—Environmental-, stress-, or burn-in tests
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Description
コンピュータを、
プリント回路の部品面側の近傍磁界強度分布の測定結果を解析することにより、前記プリント回路の近傍磁界の評価対象周波数成分の最大強度と、前記プリント回路の近傍磁界の評価対象周波数成分の強度が前記最大強度から第1既定率だけ減衰する位置を境界として画定される前記プリント回路の範囲の面積S1とを特定する特定手段、及び、
前記プリント回路の、距離r離れた場所における評価対象周波数における遠方界電界強度Eを、前記面積S1、前記プリント回路の部品面内を流れた場合に前記最大強度の近傍磁界を発生させる電流の電流値id、前記距離r、評価対象周波数f、及び、予め設定されている係数Kdを用いて、以下の算出式により算出する算出手段
として機能させる。
コンピュータを、
プリント回路の部品面側の近傍磁界強度分布の測定結果を解析することにより、前記プリント回路の近傍磁界の評価対象周波数成分の最大強度と、前記プリント回路の近傍磁界の評価対象周波数成分の強度が前記最大強度から第1既定率だけ減衰する位置を境界として画定される前記プリント回路の範囲の面積S1と、前記プリント回路の近傍磁界の評価対象周波数成分の強度が前記最大強度から第2既定率だけ減衰する位置を境界として画定される前記プリント回路の範囲の面積S2とを特定する特定手段、及び、
前記プリント回路の、距離r離れた場所における評価対象周波数における遠方界電界強度Eを、前記面積S1、前記面積S2、前記プリント回路の部品面内を流れた場合に前記最大強度の近傍磁界を発生させる電流の電流値id、前記距離r、評価対象周波数f、及び、予め設定されている係数Kdを用いて、以下の算出式により算出する算出手段
として機能させる。
とを特定する手段となり、前記算出手段が、前記複数の評価対象周波数のそれぞれについて、前記算出式を用いて前記遠方界電界強度Eを算出する手段となるように作成しておいても良い。尚、本発明の第2の態様の電界強度算出プログラムを、各手段が上記のような手段となるように作成しておけば、遠方界電界強度Eを特に精度良く算出することが可能となる。
プリント回路の部品面側の近傍磁界強度分布の測定結果を解析することにより、前記プリント回路の近傍磁界の評価対象周波数成分の最大強度と、前記プリント回路の近傍磁界の評価対象周波数成分の強度が前記最大強度から第1既定率だけ減衰する位置を境界として画定される前記プリント回路の範囲の面積S1と、前記プリント回路の近傍磁界の評価対象周波数成分の強度が前記最大強度から第2既定率だけ減衰する位置を境界として画定される前記プリント回路の範囲の面積S2を特定する特定手段、及び、
前記プリント回路の、距離r離れた場所における評価対象周波数における遠方界電界強度を、前記面積S1、前記面積S2、前記プリント回路の部品面内を流れた場合に前記最大強度の近傍磁界を発生させる電流の電流値id、前記距離r、評価対象周波数f、及び、予め設定されている係数Kdを用いて、以下の算出式により算出する算出手段
を備える。
コンピュータに、
プリント回路の部品面側の近傍磁界強度分布の測定結果を解析することにより、前記プリント回路の近傍磁界の評価対象周波数成分の最大強度と、前記プリント回路の近傍磁界の評価対象周波数成分の強度が前記最大強度から第1既定率だけ減衰する位置を境界として画定される前記プリント回路の範囲の面積S1とを特定するステップ、及び、
前記プリント回路の、距離r離れた場所における評価対象周波数における遠方界電界強度を、前記面積S1、前記プリント回路の部品面内を流れた場合に前記最大強度の近傍磁界を発生させる電流の電流値id、前記距離r、評価対象周波数f、及び、予め設定されている係数Kdを用いて、以下の算出式により算出するステップ
を実行させることにより、遠方界電界強度が算出される。
図1に、本発明の第1実施形態に係る電界強度算出システムの概略構成を示す。
本実施形態に係る電界強度算出システムは、一層基板(片面基板)が用いられたプリント回路40の遠方界電界強度を算出するためのシステムとして開発したものである。図示してあるように、電界強度算出システムは、近傍磁界測定装置10とスペクトラムアナライザ20と演算装置30とを備える。
る。近傍磁界測定装置10は、プリント回路40が載置されるテーブル13と、近磁界プローブ11と、近磁界プローブ11の出力を増幅するためのプリアンプ12と、近磁界プローブ11のテーブル13に対する位置を制御(変更)するための位置制御機構(図示略)とを備える。
作する。
設定受付処理を開始した演算装置30は、以下の情報の設定(入力)を受け付ける状態となる。
・近傍磁界の測定範囲
・近傍磁界の測定間隔
・遠方界電界強度を算出する1つ以上の周波数(以下、評価対象周波数と表記する)
・遠方界電界強度の算出位置の評価対象プリント回路40からの距離r(単位は、m)
出力処理を開始した演算装置30は、後述する測定・算出処理の処理結果に基づき、遠方界電界強度の評価対象周波数依存性を示すグラフをディスプレイ上に表示する。その後、演算装置30は、ユーザの指示に従って、当該グラフを演算装置30に接続されているプリンタに印刷させる処理や、各評価対象周波数における遠方界電界強度のリストをディスプレイ上に表示する処理等を行う。そして、演算装置30は、処理終了がユーザによって指示されたときに、出力処理を終了して、他処理の実行指示を受け付ける状態となる。
測定・算出処理は、図3に示した手順の処理である。
すなわち、この測定・算出処理を開始した演算装置30は、まず、現評価条件情報中の近磁界の測定範囲及び測定間隔に基づき、近傍磁界強度の測定を行う各測定点(測定位置)の座標を算出する(ステップS101)。
測定が完了していなかった場合(ステップS104;NO)には、ステップS102に戻って、次の測定点上に近磁界プローブ11を移動させてから、ステップS103以降の処理を行う。
設定されている比例係数である。オープンエリアにおける遠方界電界強度Eを求めるために、このKdとしては、通常、2.63×10−14が使用される。ただし、Kdとして、1.316×10−14を使用することによって、自由空間における遠方界電界強度Eが求められるようにしておいても良い。
ステップS108の処理を終えた演算装置30は、全ての評価対象周波数に関する処理が完了したか否かを判断する(ステップS109)。全評価対象周波数に関する処理が完了していなかった場合(ステップS109;NO)、演算装置30は、ステップS105に戻って、次の評価対象周波数を注目周波数として特定してから、ステップS106以降の処理を行う。
以下、第1実施形態に係る電界強度算出システムの説明時に用いたものと同じ符号を用いて、本発明の第2実施形態に係る電界強度算出システムの構成及び機能を、説明する。
以下、本発明の第3実施形態に係る電界強度算出システムの構成及び動作を、第2実施形態に係る電界強度算出システムと異なっている点を中心に説明する。
ステップS307の処理を終えた演算装置30は、補正値の加算後の遠方界電界強度Eを注目周波数に対応づけた形で内部に記憶する(ステップS308)。その後、演算装置30は、全ての評価対象周波数に関する処理が完了したか否かを判断する(ステップS309)。全評価対象周波数に関する処理が完了していなかった場合(ステップS309;NO)、演算装置30は、ステップS302に戻って、次の評価対象周波数を注目周波数として特定してから、ステップS303以降の処理を行う。
0は、低い周波数の遠方界電界強度Eの算出精度が、上記した第2実施形態に係る電界強度算出システムの演算装置30よりも高いシステムとなっている。
本発明の第4実施形態に係る電界強度算出システムは、各周波数の遠方界電界強度の算出精度がより高くなるように、第2実施形態に係る電界強度算出システムを改良したシステムである。
と第2減衰率βとの組み合わせを特定できるように、その内容が定められている情報である。
ステップS406の処理を終えた演算装置30は、全ての評価対象周波数に関する処理が完了したか否かを判断する(ステップS407)。そして、演算装置30は、全評価対象周波数に関する処理が完了していなかった場合(ステップS407;NO)には、ステップS402に戻って、次の評価対象周波数を注目周波数として特定してから、ステップS403以降の処理を行う。
本発明の第5実施形態に係る電界強度算出システムは、演算装置30によって図10に示した手順の測定・算出処理が行われるように、第4実施形態に係る電界強度算出システムを改良したシステムである。
、測定・算出処理を開始すると、まず、最大強度位置特定処理(ステップS500)を行う。
上記した各実施形態に係る電界強度算出システムは、各種の変形を行えるものである。例えば、第2〜5実施形態に係る電界強度算出システムの演算装置30に、図3の測定・算出処理(一層基板が用いられたプリント回路40の遠方界電界強度を算出する処理)を行う機能を追加することが出来る。第1〜3実施形態に係る電界強度算出システムの演算装置30に、最大強度位置特定処理等を行う機能を追加することも出来る。
リント回路40の基板の法線との間の角度)を算出する機能を追加することも出来る。また、周波数の高い領域(数GHz)では、プリント回路40から放射される電界の上下方向の指向性が強くなり、その結果として、(1)式や(3)式で算出される電界強度が、誤差が大きなものとなることが考えられる。そのため、近磁界プローブ11の高さを変えることによりプリント回路40の上下方向の近傍磁界分布を測定し、その測定結果に基づき、プリント回路40から上下方向に放射される電界の強度を推定すると共に、その推定結果を用いて、(1)式や(3)式で算出される電界強度に補正をかけるようにしておいても良い。
11 近磁界プローブ
12 プリアンプ
13 テーブル
20 スペクトラムアナライザ
30 演算装置
31 CPU
33 HDD
35 電界強度算出プログラム
40 プリント回路
50 電波暗室
Claims (11)
- コンピュータを、
プリント回路の部品面側の近傍磁界強度分布の測定結果を解析することにより、前記プリント回路の近傍磁界の評価対象周波数成分の最大強度と、前記プリント回路の近傍磁界の評価対象周波数成分の強度が前記最大強度から第1既定率だけ減衰する位置を境界として画定される前記プリント回路の範囲の面積S1とを特定する特定手段、及び、
前記プリント回路の、距離r離れた場所における評価対象周波数における遠方界電界強度Eを、前記面積S1、前記プリント回路の部品面内を流れた場合に前記最大強度の近傍磁界を発生させる電流の電流値id、前記距離r、評価対象周波数f、及び、予め設定されている係数Kdを用いて、以下の算出式により算出する算出手段
として機能させるための電界強度算出プログラム。 - コンピュータを、
プリント回路の部品面側の近傍磁界強度分布の測定結果を解析することにより、前記プリント回路の近傍磁界の評価対象周波数成分の最大強度と、前記プリント回路の近傍磁界の評価対象周波数成分の強度が前記最大強度から第1既定率だけ減衰する位置を境界として画定される前記プリント回路の範囲の面積S1と、前記プリント回路の近傍磁界の評価対象周波数成分の強度が前記最大強度から第2既定率だけ減衰する位置を境界として画定される前記プリント回路の範囲の面積S2とを特定する特定手段、及び、
前記プリント回路の、距離r離れた場所における評価対象周波数における遠方界電界強度Eを、前記面積S1、前記面積S2、前記プリント回路の部品面内を流れた場合に前記最大強度の近傍磁界を発生させる電流の電流値id、前記距離r、評価対象周波数f、及
び、予め設定されている係数Kdを用いて、以下の算出式により算出する算出手段
として機能させるための電界強度算出プログラム。 - 前記第1既定率が1/2である
ことを特徴とする請求項1に記載の電界強度算出プログラム。 - 前記第1既定率が1/2であり、前記第2既定率が1/4である
ことを特徴とする請求項2に記載の電界強度算出プログラム。 - 前記特定手段は、互いに異なる複数の評価対象周波数のそれぞれについて、前記最大強度、前記面積S1及び前記面積S2を特定し、
前記算出手段は、前記複数の評価対象周波数のそれぞれについて、前記算出式を用いて前記遠方界電界強度Eを算出する
ことを特徴とする請求項2又は4に記載の電界強度算出プログラム - 前記特定手段は、互いに異なる複数の評価対象周波数のそれぞれについて、その評価対象周波数に対応づけられている1組の値を前記第1既定率及び前記第2既定率として用いて前記面積S1と前記面積S2とを特定し、
前記算出手段は、前記複数の評価対象周波数のそれぞれについて、前記算出式を用いて前記遠方界電界強度Eを算出する
ことを特徴とする請求項2に記載の電界強度算出プログラム - 前記コンピュータを、さらに、
既定周波数よりも低い評価対象周波数について前記算出手段により算出された遠方界電界強度Eに、評価対象周波数に応じた量の補正を施す補正手段として機能させる
ことを特徴とする請求項5に記載の電界強度算出プログラム - 前記コンピュータを、さらに、
前記コンピュータに接続された、近磁界プローブの前記プリント回路に対する相対位置を変化させることによりプリント回路の回路面側の近傍磁界強度分布を測定する測定装置を制御する制御手段として機能させる
こと特徴とする請求項1から7のいずれか一項に記載の電界強度算出プログラム。 - 前記制御手段は、前記プリント回路の部品面側の近傍磁界強度分布の測定結果を得る前に、前記測定装置を制御することにより近傍磁界の評価対象周波数成分の強度が最大となる前記プリント回路の箇所を探索し、前記プリント回路の部品面側の近傍磁界強度分布の測定結果を得る際に、探索した箇所を含む格子状に並んだ複数の箇所の近傍磁界強度が前記近磁界プローブによって測定されるように前記測定装置を制御する
こと特徴とする請求項8に記載の電界強度算出プログラム。 - プリント回路の部品面側の近傍磁界強度分布の測定結果を解析することにより、前記プリント回路の近傍磁界の評価対象周波数成分の最大強度と、前記プリント回路の近傍磁界の評価対象周波数成分の強度が前記最大強度から第1既定率だけ減衰する位置を境界として画定される前記プリント回路の範囲の面積S1と、前記プリント回路の近傍磁界の評価対象周波数成分の強度が前記最大強度から第2既定率だけ減衰する位置を境界として画定
される前記プリント回路の範囲の面積S2を特定する特定手段、及び、
前記プリント回路の、距離r離れた場所における評価対象周波数における遠方界電界強度を、前記面積S1、前記面積S2、前記プリント回路の部品面内を流れた場合に前記最大強度の近傍磁界を発生させる電流の電流値id、前記距離r、評価対象周波数f、及び、予め設定されている係数Kdを用いて、以下の算出式により算出する算出手段
を備える電界強度算出装置。 - コンピュータに、
プリント回路の部品面側の近傍磁界強度分布の測定結果を解析することにより、前記プリント回路の近傍磁界の評価対象周波数成分の最大強度と、前記プリント回路の近傍磁界の評価対象周波数成分の強度が前記最大強度から第1既定率だけ減衰する位置を境界として画定される前記プリント回路の範囲の面積S1と、前記プリント回路の近傍磁界の評価対象周波数成分の強度が前記最大強度から第2既定率だけ減衰する位置を境界として画定される前記プリント回路の範囲の面積S2とを特定するステップ、及び、
前記プリント回路の、距離r離れた場所における評価対象周波数における遠方界電界強度を、前記面積S1、前記面積S2、前記プリント回路の部品面内を流れた場合に前記最大強度の近傍磁界を発生させる電流の電流値id、前記距離r、評価対象周波数f、及び、予め設定されている係数Kdを用いて、以下の算出式により算出するステップ、
を実行させる電界強度算出方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014172937A JP6469388B2 (ja) | 2014-08-27 | 2014-08-27 | 電界強度算出プログラム、電界強度算出装置及び電界強度算出方法 |
CN201580019013.6A CN106164684B (zh) | 2014-08-27 | 2015-07-23 | 电场强度算出装置及电场强度算出方法 |
US15/116,030 US9977062B2 (en) | 2014-08-27 | 2015-07-23 | Electric field intensity calculation program, electric field intensity calculation apparatus and electric field intensity calculation method |
PCT/JP2015/070985 WO2016031451A1 (ja) | 2014-08-27 | 2015-07-23 | 電界強度算出プログラム、電界強度算出装置及び電界強度算出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014172937A JP6469388B2 (ja) | 2014-08-27 | 2014-08-27 | 電界強度算出プログラム、電界強度算出装置及び電界強度算出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016048190A JP2016048190A (ja) | 2016-04-07 |
JP6469388B2 true JP6469388B2 (ja) | 2019-02-13 |
Family
ID=55399352
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014172937A Active JP6469388B2 (ja) | 2014-08-27 | 2014-08-27 | 電界強度算出プログラム、電界強度算出装置及び電界強度算出方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9977062B2 (ja) |
JP (1) | JP6469388B2 (ja) |
CN (1) | CN106164684B (ja) |
WO (1) | WO2016031451A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI540322B (zh) * | 2012-09-08 | 2016-07-01 | 西凱渥資訊處理科技公司 | 關於近場電磁探針及掃描器之系統,裝置及方法 |
US11054455B2 (en) * | 2017-03-06 | 2021-07-06 | Osaka University | Electromagnetic wave measurement apparatus and electromagnetic wave measurement method |
JP2019148495A (ja) * | 2018-02-27 | 2019-09-05 | 沖電気工業株式会社 | 電磁界シミュレーション装置、電磁界シミュレーション方法、電磁界シミュレーションプログラムおよび近傍界測定器 |
JP7099236B2 (ja) * | 2018-10-05 | 2022-07-12 | 富士通株式会社 | 推定プログラム、推定装置および推定方法 |
CN115412448B (zh) * | 2022-08-24 | 2023-11-21 | 中国联合网络通信集团有限公司 | 网络设备安全评估方法、装置及存储介质 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3489363B2 (ja) | 1996-12-25 | 2004-01-19 | 松下電工株式会社 | 回路基板の電磁障害測定方法および測定装置 |
JP2000304790A (ja) * | 1999-04-23 | 2000-11-02 | Hitachi Ltd | 電磁波発生源探査装置、その方法およびその解析方法 |
JP3741916B2 (ja) * | 1999-12-08 | 2006-02-01 | 株式会社Nec情報システムズ | プリント基板からの電磁放射簡易計算方法、プリント基板からの電磁放射簡易計算装置及び、電磁放射簡易計算プログラムを記録した記録媒体 |
JP4619799B2 (ja) * | 2005-01-20 | 2011-01-26 | 太陽誘電株式会社 | 電界ベクトルの算出方法及びその装置、電界ベクトルの算出プログラム及びそのプログラムを記録した記録媒体 |
JP2009181193A (ja) * | 2008-01-29 | 2009-08-13 | Toshiba It & Control Systems Corp | 無線タグ装置 |
JP2010123640A (ja) * | 2008-11-17 | 2010-06-03 | Opnext Japan Inc | プリント基板及び光伝送装置 |
WO2011047377A2 (en) * | 2009-10-16 | 2011-04-21 | Emprimus, Inc. | Electromagnetic field detection systems and methods |
CN101750546B (zh) * | 2009-12-28 | 2012-10-24 | 北京航空航天大学 | 一种用于近场测试的电磁兼容自适应扫描装置 |
CN102759666B (zh) * | 2012-07-09 | 2014-11-05 | 北京航空航天大学 | 一种印刷电路板远场辐射限制的判断方法 |
JP2014026599A (ja) * | 2012-07-30 | 2014-02-06 | Renesas Electronics Corp | 遠方電界強度予測装置、方法及びプログラム |
JP2015034785A (ja) * | 2013-08-09 | 2015-02-19 | Tdk株式会社 | 遠方電磁界推定方法および装置ならびに近傍電磁界測定装置 |
JP2015215698A (ja) * | 2014-05-08 | 2015-12-03 | 富士通株式会社 | 電磁界シミュレーションプログラム |
-
2014
- 2014-08-27 JP JP2014172937A patent/JP6469388B2/ja active Active
-
2015
- 2015-07-23 WO PCT/JP2015/070985 patent/WO2016031451A1/ja active Application Filing
- 2015-07-23 US US15/116,030 patent/US9977062B2/en active Active
- 2015-07-23 CN CN201580019013.6A patent/CN106164684B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2016048190A (ja) | 2016-04-07 |
US20170168101A1 (en) | 2017-06-15 |
CN106164684B (zh) | 2019-03-01 |
WO2016031451A1 (ja) | 2016-03-03 |
CN106164684A (zh) | 2016-11-23 |
US9977062B2 (en) | 2018-05-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6469388B2 (ja) | 電界強度算出プログラム、電界強度算出装置及び電界強度算出方法 | |
JP2007271317A (ja) | Emi測定装置及びemi測定方法 | |
JP3740942B2 (ja) | 電磁波ノイズ測定装置、方法、及び記録媒体 | |
US20170276712A1 (en) | Radiated emission measuring device | |
JP2005031061A (ja) | 3次元超音波画像化装置 | |
JP5410827B2 (ja) | 電磁波発生源判定方法及び装置 | |
JP7040189B2 (ja) | 電磁波測定点算出装置及び放射妨害波測定装置 | |
JP2011021926A (ja) | 結晶方位解析方法 | |
JP2018201795A (ja) | 医用画像表示装置、タッチ操作制御プログラム及びタッチ操作制御方法 | |
JP2011141165A (ja) | 塗装膜厚測定装置 | |
JP7183907B2 (ja) | 電磁波測定点算出プログラム及び放射妨害波測定装置 | |
JP2003329716A (ja) | 電磁妨害波測定装置 | |
US11050306B2 (en) | Power efficiency measuring apparatus | |
JP5170955B2 (ja) | 電磁波測定方法および電磁波測定装置 | |
JP2000230954A (ja) | 電磁界測定装置および電磁界分布測定方法 | |
JP2006242672A (ja) | 電磁波測定装置 | |
JPH06249899A (ja) | 電磁界分布推定方式 | |
JP7474073B2 (ja) | プログラム、及び放射妨害波測定装置 | |
JP7357566B2 (ja) | 部分放電検出システム | |
JP2001066336A (ja) | 放射電磁波の反射波測定装置 | |
JP2002340504A (ja) | 磁気式位置検出方法及びその装置 | |
JP7183887B2 (ja) | 電磁界分布生成プログラム、フィルタ生成プログラム及び電磁界分布生成装置 | |
JPH1183918A (ja) | 近傍電磁界分布測定装置 | |
JP2012181161A (ja) | 電磁波放射源検出方法および装置 | |
JP2018169201A (ja) | 放射妨害波測定装置、及びその判定方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170612 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180703 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180813 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20181218 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190116 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6469388 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |