JP7183907B2 - 電磁波測定点算出プログラム及び放射妨害波測定装置 - Google Patents
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Description
本発明は、電磁波測定点算出プログラム及び放射妨害波測定装置に関する。
電子機器は、周囲の電子機器や通信機器に影響を及ぼす電磁波である放射妨害波を放射することがある。このため、現在では、電子機器が市場へ出荷される前に、放射妨害波の電界強度が国際的に定められた規格の許容値以下であることを確認する放射妨害波試験を行う必要がある。
放射妨害波試験では、放射妨害波の放射源を基準としたアンテナの高さ及び放射源を基準としたアンテナの方位を変化させながらアンテナにより電界強度を測定し、電界強度が最大となる位置を探索する。そして、電界強度が最大となる位置において、放射妨害波の電界強度が一定時間測定され、この電界強度の測定値が国際的に定められた規格の許容値以下であるか否かが確認される。
このような放射妨害波試験を行うための装置として、例えば、特許文献1に記載された放射妨害波測定装置が挙げられる。
電界強度が最大となる位置を探索するためには、アンテナの高さ及び供試体が載置されたターンテーブルの角度を逐一変更して電界分布を測定する必要がある。このため、放射妨害波試験では、膨大な数の測定点ごとに電界強度を測定する必要がある。例えば、情報通信機器の周波数帯域である30MHzから40GHzが測定対象の周波数の範囲である放射妨害波測定を一例として挙げると、アンテナの高さを1mから4mまで変化させ、供試体が載置されたターンテーブルの角度を0度から360度に変化させる必要がある。この場合、アンテナの高さを1cm間隔、ターンテーブルの角度を1度間隔として放射妨害波試験を実施する場合、測定点の数が約14万と膨大になり、放射妨害波試験の実施に必要な時間が非常に長くなってしまう。
また、このような放射妨害波試験では、広い周波数帯域について最大電界強度位置を検出する必要があるため、広い周波数帯域のスペクトルを測定することができるスペクトルアナライザが使用される。このようなスペクトルアナライザとしては、例えば、スーパーヘテロダイン方式のスペクトルアナライザ、FFT(Fast Fourier Transform)方式のスペクトルアナライザが挙げられる。ところが、広い周波数帯域のスペクトルを測定することにより、放射妨害波試験の実施に必要な時間が更に長くなってしまう。
このように、電界強度が最大となるアンテナの高さ及びターンテーブルの角度を探索する作業は、多大な時間を必要とする。このため、特許文献1に開示されている放射妨害波測定装置は、放射妨害波の波長の1/2以下の測定間隔で設定された測定点における放射妨害波の電界強度分布を測定し、これらの測定点の間における電界強度を補間することにより、測定点数を削減し、放射妨害波試験の実施に必要な時間を短縮している。
ところが、特許文献1に開示されている放射妨害波測定装置は、測定点の間隔の最適化を実行しないため、放射妨害波試験の実施に必要な時間を十分に短縮し得ないことがある。また、放射妨害波の周波数が高い場合、放射妨害波の波長が短くなる。このため、例えば、放射妨害波の周波数が10GHzであり、アンテナと供試体との水平方向の距離が3mであり、アンテナの高さを1mから4mまで変化させ、供試体が載置されたターンテーブルの角度を0度から360度に変化させて放射妨害波試験を実施する場合、測定点の数は、約25万と膨大になり、放射妨害波試験の実施に必要な時間が非常に長くなってしまう。
そこで、本発明は、放射妨害波試験の実施に必要な時間を短縮することができる電磁波測定点算出プログラム及び放射妨害波測定装置を提供することを課題とする。
本発明の一態様は、放射妨害波を放射する放射源を含む供試体と前記放射妨害波の電界及び磁界の少なくとも一方の測定を実行するアンテナとの相対的な位置関係及び前記供試体が載置されている床面における前記放射妨害波の反射係数に基づいて、前記アンテナの高さの間隔がサンプリング定理を満たす補正係数を算出する補正係数算出機能と、前記補正係数を使用して前記測定が実行される場合における前記アンテナの高さを順次算出する測定高さ算出機能と、をコンピュータに実行させる電磁波測定点算出プログラムである。
また、本発明の一態様において、前記補正係数算出機能は、前記供試体と前記アンテナとの水平方向の最短距離、前記供試体と前記アンテナとの水平方向の最長距離、前記供試体が載置されている床面から前記供試体までの最短距離及び前記供試体が載置されている前記床面から前記供試体までの最長距離の少なくとも二つを使用して前記補正係数を算出する機能である。
また、本発明の一態様において、前記補正係数算出機能は、次の式(1)又は式(2)と、式(3)とを使用して前記補正係数を算出し、前記測定高さ算出機能は、次の式(4)を使用して前記測定が実行される場合における前記アンテナの高さを順次算出する。
hrx :アンテナの高さ
dmin :供試体とアンテナとの水平方向の最短距離
dmax :供試体とアンテナとの水平方向の最長距離
hmin :供試体が載置されている床面から供試体までの最短距離
hmax :供試体が載置されている床面から供試体までの最長距離
Δhrx :アンテナの高さの変化量
また、本発明の一態様において、電磁波測定点算出プログラムは、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があるか否かを判定する判定機能をコンピュータに更に実行させ、前記補正係数算出機能は、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定された場合、前記式(1)を使用して前記補正係数を算出する。
また、本発明の一態様において、電磁波測定点算出プログラムは、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があるか否かを判定する判定機能をコンピュータに更に実行させ、前記補正係数算出機能は、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があると判定された場合、前記式(2)を使用して前記補正係数を算出し、又は前記補正係数の算出を中止する。
また、本発明の一態様において、前記補正係数算出機能は、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があるか否かに関わらず、前記式(2)を使用して補正係数を算出する。
また、本発明の一態様において、電磁波測定点算出プログラムは、前記放射妨害波の電界及び磁界の少なくとも一方の分布であり、シミュレーション又は実測により得られた第一電磁界分布を取得する第一電磁界分布取得機能と、前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さにおける電界又は磁界をシミュレーション又は実測により取得し、ローパスフィルタを使用して前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さと異なる前記アンテナの高さにおける電界又は磁界を補間することにより得られた第二電磁界分布を取得する第二電磁界分布取得機能と、をコンピュータに更に実行させ、前記判定機能は、前記第一電磁界分布における電界又は磁界の最大値と、前記第二電磁界分布における電界又は磁界の最大値との偏差を算出し、前記偏差が所定の許容値以下である場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定する機能である。
また、本発明の一態様において、電磁波測定点算出プログラムは、前記放射妨害波の電界及び磁界の少なくとも一方の分布であり、シミュレーション又は実測により得られた第一電磁界分布を取得する第一電磁界分布取得機能と、前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さにおける電界又は磁界をシミュレーション又は実測により取得し、ローパスフィルタを使用して前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さと異なる前記アンテナの高さにおける電界又は磁界を補間することにより得られた第二電磁界分布を取得する第二電磁界分布取得機能と、をコンピュータに更に実行させ、前記判定機能は、前記第一電磁界分布における電界又は磁界の最大値と、前記第二電磁界分布における電界又は磁界の最大値との偏差を算出し、前記偏差が所定の許容値を超えている場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があると判定する機能である。
また、本発明の一態様において、電磁波測定点算出プログラムは、前記放射妨害波の電界及び磁界の少なくとも一方の分布であり、シミュレーション又は実測により得られた第一電磁界分布を取得する第一電磁界分布取得機能と、前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さにおける電界又は磁界をシミュレーション又は実測により取得し、ローパスフィルタを使用して前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さと異なる前記アンテナの高さにおける電界又は磁界を補間することにより得られた第二電磁界分布を取得する第二電磁界分布取得機能と、をコンピュータに更に実行させ、前記判定機能は、前記第一電磁界分布における電界又は磁界の最大値と、前記第二電磁界分布における電界又は磁界の最大値との偏差を算出し、前記偏差が所定の閾値以下の前記反射係数に対応している場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定する機能である。
また、本発明の一態様において、電磁波測定点算出プログラムは、前記放射妨害波の電界及び磁界の少なくとも一方の分布であり、シミュレーション又は実測により得られた第一電磁界分布を取得する第一電磁界分布取得機能と、前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さにおける電界又は磁界をシミュレーション又は実測により取得し、ローパスフィルタを使用して前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さと異なる前記アンテナの高さにおける電界又は磁界を補間することにより得られた第二電磁界分布を取得する第二電磁界分布取得機能と、をコンピュータに更に実行させ、前記判定機能は、前記第一電磁界分布における電界又は磁界の最大値と、前記第二電磁界分布における電界又は磁界の最大値との偏差を算出し、前記偏差が所定の閾値を超える前記反射係数に対応にしている場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があると判定する機能である。
また、本発明の一態様において、前記判定機能は、前記反射係数、前記放射妨害波の周波数及び前記放射妨害波の最大の周波数から算出されるサンプリング周波数が次の式(5)を満たす場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定する機能である。
また、本発明の一態様において、前記判定機能は、前記反射係数、前記放射妨害波の周波数及び前記放射妨害波の最大の周波数から算出されるサンプリング周波数が次の式(6)を満たさない場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があると判定する機能である。
また、本発明の一態様において、前記判定機能は、電界及び磁界の少なくとも一方の測定が実行される前記放射妨害波の周波数に対する前記床面の吸収特性が次の式(7)を満たす場合、前記前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定する機能である。
また、本発明の一態様において、前記判定機能は、電界及び磁界の少なくとも一方の測定が実行される前記放射妨害波の周波数に対する前記床面の吸収特性が次の式(8)を満たさない場合、前記前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があると判定する機能である。
また、本発明の一態様において、前記判定機能は、前記判定機能は、前記床面を基準とした高さが0.45λmin及び2.8λmaxのうち大きい方の値以上の電波吸収体が前記床面に敷設されている場合、前記前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定する機能である。
また、本発明の一態様において、前記判定機能は、前記床面を基準とした高さが0.45λmin及び2.8λmaxのうち大きい方の値未満の電波吸収体が前記床面に敷設されている場合又は電波吸収体が敷設されていない場合、前記前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があるいと判定する機能である。
また、本発明の一態様において、放射妨害波測定装置は、上述した電磁波測定点算出プログラムのいずれか一つを実行するコンピュータを備える。
本発明によれば、放射妨害波試験の実施に必要な時間を短縮することができる。
[実施形態]
図1から図21を参照しながら、実施形態に係る放射妨害波測定装置について説明する。図1は、実施形態に係る放射妨害波測定装置の構成の例を示す図である。
図1から図21を参照しながら、実施形態に係る放射妨害波測定装置について説明する。図1は、実施形態に係る放射妨害波測定装置の構成の例を示す図である。
図1に示した放射妨害波測定装置1は、例えば、EMC規格に従って、供試体である供試体100から放射される放射妨害波を測定する放射妨害波試験に利用される装置である。この放射妨害波試験は、試験条件及び試験方法が国際的に定められている。放射妨害波測定装置1は、グランドプレーンを形成している金属床面を備える電波暗室内に配置される。電波暗室の内壁のうち金属床面を除いた壁面には、電波吸収体が貼り付けられている。また、供試体100は、例えば、電子機器であり、放射妨害波を放射する放射源を含んでいる。
図1に示すように、放射妨害波測定装置1は、アンテナ11と、アンテナマスト12と、ターンテーブル13と、電波吸収体14と、コントローラ15と、制御部20と、受信部30とを備える。
アンテナ11は、供試体100を囲む面上に位置する測定点における所定の周波数帯域の放射妨害波を受信する。図2は、実施形態に係る供試体を囲む面上に位置する測定点の例を示す図である。この面は、例えば、中心軸がグランドプレーンに垂直であり、内部に供試体100及び台200を含む円筒の側面である。図2に白丸で示されているように、各測定点は、当該円筒の底面の円の円周方向に沿っている第一軸及び当該円筒の中心軸に平行な軸である第二軸により規定される二次元直交座標上に配置されている。第一軸は、供試体100を基準とした各測定点の高さを示している。第二軸は、供試体100を基準とした各測定点の角度を示している。また、図2に示した測定点は、第一軸に平行な方向及び第二軸に平行な方向において等間隔に配置されている。ただし、図2に示した測定点は、第一軸に平行な方向及び第二軸に平行な方向の少なくとも一方において任意の間隔で配置されていてもよい。
アンテナマスト12は、アンテナ11を昇降可能な形態で支持しており、供試体100から所定の間隔をおいて配置される。ターンテーブル13は、グランドプレーンに設けられた円盤状の回転台であり、グランドプレーンに垂直な軸を中心として回転することができる。供試体100は、ターンテーブル13に載置された台200の上に載置される。電波吸収体14は、グランドプレーンに敷設された角錐状の構造物であり、放射妨害波を吸収する材料、例えば、発泡材により作製されている。
コントローラ15は、高さ変更部151と、方位変更部152とを備える。高さ変更部151は、供試体100が放射する放射妨害波を受信するアンテナ11の供試体100を基準とした高さを変更する高さ変更処理を実行する。具体的には、高さ変更部151は、アンテナマスト12を駆動してアンテナ11を昇降させ、アンテナ11を所定の高さに固定する。方位変更部152は、供試体100を基準としたアンテナ11の方位を変更する方位変更処理を実行する。具体的には、方位変更部152は、高さ変更部151によりアンテナ11が所定の高さに固定された後、ターンテーブル13を駆動して供試体100及び台200を360度回転させる。
制御部20は、判定機能201と、補正係数算出機能202と、測定高さ算出機能203と、第一電磁界分布取得機能204と、第二電磁界分布取得機能205とを備える。
判定機能201は、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があるか否かを判定する機能である。判定機能201が床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がないと判定する場合の具体例及び床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があると判定する場合の具体例については後述する。
補正係数算出機能202は、放射妨害波を放射する放射源を含む供試体100と放射妨害波の電界強度の測定を実行するアンテナ11との相対的な位置関係及び供試体100が載置されている床面における放射妨害波の反射係数に基づいて、アンテナ11の高さの間隔がサンプリング定理を満たす補正係数を算出する機能である。具体的には、補正係数算出機能202は、供試体100とアンテナ11との相対的な位置関係として、供試体100とアンテナ11との水平方向の最短距離、供試体100とアンテナ11との水平方向の最長距離、供試体100が載置されている床面から供試体100までの最短距離及び供試体100が載置されている床面から供試体100までの最長距離の少なくとも二つを使用する。例えば、補正係数算出機能202は、以下に説明する原理に基づいて補正係数を算出する。
任意の点における電界Eは、次の式(9)で表される。
電界強度の二乗は、式(9)を考慮すると次の式(10)で表される。式(10)は、放射源を示す引数n、m、アンテナ11と放射源との距離rn、rm、係数an、am、bn、bm、波数k、供試体100の個数Nを含んでいる。また、式(10)は、電界強度がrn-rmに対して振動する正弦波の和となることを示している。
また、波数kは、2πを測定周波数で除算したものである。このため、放射妨害波測定装置1は、サンプリング定理に基づいた次の式(11)の条件を満たす間隔で放射妨害波の電界強度を測定することにより、電界強度分布を完全に再現することができる。ここで、λは、放射妨害波測定装置1が電界強度を測定する放射妨害波の波長である。
また、アンテナ11と放射源との距離rn、rmをアンテナ11の高さhrxの関数として表すと次の式(12)及び式(13)のようになる。式(12)は、アンテナ11と放射源nとの距離rnがアンテナ11と放射源nとの水平方向の距離dn、放射源nの高さ方向の位置hn及びアンテナ11の高さhrxで表されることを示している。同様に、式(13)は、アンテナ11と放射源mとの距離rmがアンテナ11と放射源mとの水平方向の距離dm、放射源mの高さ方向の位置hm及びアンテナ11の高さhrxで表されることを示している。
また、放射源nの高さ方向の位置hn及び放射源mの高さ方向の位置hmは、床面で反射される放射妨害波がある場合、鏡像原理により正負の値をとり、床面で反射される放射妨害波がない場合、正の値のみをとる。なお、以下の説明では、放射源nの高さ方向の位置hnが放射源mの高さ方向の位置hmよりも低いものとする。
一方、rn-rmの変化量Δ(rn-rm)とアンテナの高さhrxとの関係は、次の式(14)及び式(15)で表される。ここで、Δhrxは、アンテナの高さhrxの変化量である。また、Khは、補正係数である。
また、次の式(16)、式(17)、式(18)及び式(19)が成立する。
式(16)、式(17)、式(18)及び式(19)と、供試体100の寸法とを考慮すると次の式(20)が成立する。
また、供試体100に含まれる放射源から放射される放射妨害波の電界強度の測定を実行するアンテナ11の高さの間隔が次の式(21)を満たす場合、サンプリング定理が満たされる。
さらに、供試体100に含まれる放射源が放射妨害波を放射する方向に関する特徴を記述する次の式(22)が成立する必要がある。式(22)は、波数kがゼロであり、上述した式(9)に含まれる係数an、am、bn及びbmが三角関数である場合を考慮している式である。ここで、hrx_minは、アンテナ11の高さの最小値である。
ここまで、床面で反射される放射妨害波がない場合について説明した。一方、床面で反射される放射妨害波がある場合、放射源nの高さ方向の位置hn及び放射源mの高さ方向の位置hmが正の値だけではなく、負の値もとり得ることを考慮することにより、式(16)、式(17)、式(18)及び式(19)の条件の下で補正係数Khmaxを算出することができる。当該条件を考慮すると、上述した式(20)に含まれるhminを-hmaxで置き換えた次の式(23)が成立する。
つまり、補正係数算出機能202は、床面で反射される放射妨害波がない場合、上述した式(20)を使用して補正係数Khmaxを算出し、床面で反射される放射妨害波がある場合、上述した式(20)を使用して補正係数Khmaxを算出することが好ましい。言い換えると、補正係数算出機能202は、判定機能201により床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がないと判定された場合、式(20)を使用して補正係数を算出することが好ましい。同様に、補正係数算出機能202は、判定機能201により床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があると判定された場合、式(23)を使用して補正係数を算出することが好ましい。
測定高さ算出機能203は、補正係数算出機能202により算出された補正係数Khmaxを使用して測定が実行される場合におけるアンテナ11の高さを順次算出する。具体的には、測定高さ算出機能203は、次の式(24)を使用して測定が実行される場合におけるアンテナ11の高さを順次算出する。
すなわち、測定高さ算出機能203は、上述した式(20)、式(21)及び式(22)を使用することにより、又は上述した式(23)、式(21)及び式(22)を使用することにより、KhmaxΔhrx(hrx)が一定になるように測定が実行される場合におけるアンテナ11の高さの間隔Δhrx(hrx)を算出する。そして、測定高さ算出機能203は、式(24)を使用して各測定点の高さを算出する。
次に、判定機能201が床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がないと判定する場合の具体例及び床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があると判定する場合の具体例について説明する。
第一電磁界分布取得機能204は、放射妨害波又は放射妨害波を想定して設定した放射源からの電界強度分布であり、シミュレーション又は実測により得られた第一電界分布を取得する。
第二電磁界分布取得機能205は、測定高さ算出機能203により算出されたアンテナ11の高さにおける電界強度を第一の電界強度分布から取得し、ローパスフィルタを使用して測定高さ算出機能203により算出されたアンテナ11の高さと異なるアンテナ11の高さにおける電界強度を補間することにより得られた第二電界分布を取得する。
図3は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が100cm、床面から供試体までの最短距離が10cmである場合におけるシミュレーション又は実測により再現された第一電界分布及び当該第一電界強度分布にローパスフィルタを適用して補間することにより取得された第二電界分布の例を示す図である。この第一電界分布は、供試体100のうち供試体100の高さ寸法の最高高さの位置及び最低高さの位置各々に一つずつ配置されており、放射する放射妨害波の振幅及び位相が互いに等しい放射源があるという仮定の下で行われたシミュレーション又は実測により得られた分布である。図3の点線は、第一電界分布を示している。図3の実線は、第二電界分布を示している。
第一電界分布及び第二電界分布のいずれにおいてもアンテナ11の高さの間隔を1cmとして電界強度がプロットされている。ただし、第二電界強度分布は、43点についてのみ第一電界分布のシミュレーション又は実測の結果を使用し、それ以外の測定点ではローパスフィルタを適用することにより補間している。
図3に点線で示された第一電界分布と、図3に実線で示された第二電界分布とを比較すると、ピークの高さとヌル点の高さが良好に再現されていることが分かる。ここで、ヌル点とは、電界強度が極小となるアンテナ11の高さをいう。また、両者を比較すると、ピークの高さの電界強度の大きさも良好に再現されていることが分かる。したがって、第二電界分布は、十分に信頼できると考えられる。なお、両者を比較すると、ヌル点における電界強度の大きさが十分に再現されていない箇所もあるが、放射妨害波試験ではヌル点における電界強度の大きさは使用されないため、特に問題無い。
図4は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が100cm、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が6GHz、当該放射妨害波が水平偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。図5は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が100cm、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が6GHz、当該放射妨害波が垂直偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。図6は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が20cm、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が6GHz、当該放射妨害波が水平偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。図7は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が20cm、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が6GHz、当該放射妨害波が垂直偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。
図4から図7は、いずれも横軸が床面の反射係数を示しており、縦軸が第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差を示している。また、図4から図7は、いずれも床面から供試体100までの最短距離が異なる四つ又は五つのデータを示している。さらに、図4から図7は、いずれも電界強度が測定される放射妨害波の周波数とサンプリング周波数とが等しい場合の図である。
図4の場合、床面の反射係数が約0.01以下になると、床面から供試体100までの最短距離に関わらず、偏差が0.3dB以下まで収束している。図5の場合、床面の反射係数が約0.01以下になると、床面から供試体100までの最短距離に関わらず、偏差が0.5dB以下まで収束している。図6の場合及び図7の場合も、床面の反射係数が約0.01以下になると、床面から供試体100までの最短距離に関わらず、偏差が0.3dB以下まで収束している。つまり、床面の反射係数が0.01以下である場合、床面の反射係数を考慮する必要がないと判定して問題無いといえる。また、ここでは電界強度を測定する放射妨害波の周波数が6GHzについて検討を行ったが、それ以外の周波数についても、サンプリング周波数と測定周波数が、同一周波数という条件であれば、同様のことがいえると考えられる。
そこで、判定機能201は、第一電界分布における電界の最大値と、第二電界分布における電界の最大値との偏差を算出し、当該偏差が所定の許容値以下である場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がないと判定する。或いは、判定機能201は、第一電界分布における電界の最大値と、第二電界分布における電界の最大値との偏差を算出し、当該偏差が所定の許容値を超えている場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があると判定する。
次に、電界強度が測定される放射妨害波の周波数とサンプリング周波数とが異なっている場合について説明する。
図8は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が100cm、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が1GHz、当該放射妨害波が水平偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。図9は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が100cm、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が1GHz、当該放射妨害波が垂直偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。図10は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が20cm、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が1GHz、当該放射妨害波が水平偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。図11は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が20cm、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が1GHz、当該放射妨害波が垂直偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。
図8から図11のいずれの場合でも、床面の反射係数が約0.1以下になると、床面から供試体100までの最短距離に関わらず、偏差が0.1dB以下まで収束している。
そこで、判定機能201は、第一電界分布における電界の最大値と、第二電磁界分布における電界の最大値との偏差を算出し、偏差が所定の閾値以下の反射係数に対応している場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がないと判定する。或いは、判定機能201は、第一電界分布における電界の最大値と、第二電界分布における電界の最大値との偏差を算出し、偏差が所定の閾値を超える反射係数に対応している場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があると判定する。例えば、判定機能201は、シミュレーションにより求められた図4等のグラフを使用してユーザがマウス、キーボード等を使用して入力した反射係数が当該所定の閾値以下であるか否かの判定を実行する。
次に、電界強度が測定される放射妨害波の周波数fをサンプリング周波数fmaxで規格化した量に対して偏差が収束するために必要な床面の反射係数Γについて説明する。図12は、実施形態に係る床面の反射係数と、電界強度を測定する放射妨害波の周波数をサンプリング周波数で規格化して得られる量との関係の例を示す図である。図12は、横軸が電界強度が測定される放射妨害波の周波数fをサンプリング周波数fmaxで規格化した量を示しており、縦軸が-20*log10Γを示している。図12の斜線部に該当する条件が満たされている場合、すなわち次の式(25)を満たす条件が成立している場合、上述した偏差が十分に小さな値に収束しているといえる。
さらに、図13から図16を参照しながら、上述した式(25)の信頼性について考察する。図13は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が100cm、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が3.5GHz、当該放射妨害波が水平偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。図14は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が100cm、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が3.5GHz、当該放射妨害波が垂直偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。図15は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が20cm、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が3.5GHz、当該放射妨害波が水平偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。図16は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が20cm、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が3.5GHz、当該放射妨害波が垂直偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。
電界強度を測定する放射妨害波の周波数が3.5GHzである場合、上述した式(25)から算出される床面の反射係数は、0.0316以下となる。図13の場合及び図14の場合、床面の反射係数が約0.06以下になると、床面から供試体100までの最短距離に関わらず、偏差が0.2dB以下まで収束している。図15の場合及び図16の場合、床面の反射係数が約0.06以下になると、床面から供試体100までの最短距離に関わらず、偏差が0.6dB以下まで収束している。したがって、上述した式(25)は、十分に信頼できるといえる。
ここで、判定機能201は、床面の反射係数、放射妨害波の周波数及び放射妨害波の最大の周波数から算出されるサンプリング周波数が上述した式(25)を満たす場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がないと判定する。或いは、判定機能201は、床面の反射係数、放射妨害波の周波数及び放射妨害波の最大の周波数から算出されるサンプリング周波数が上述した式(25)を満たさない場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があると判定する。
これまでの説明から床面の反射係数が十分に小さい場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がないと考えてよいことが分かる。また、上述した通り、床面で反射される放射妨害波の周波数と、サンプリング周波数とが等しい場合、床面の反射係数が0.01以下であることが好ましい。さらに、上述した式(25)を床面の放射妨害波の吸収特性に変換した次の式(26)が使用されてもよい。
上述した式(25)及び式(26)を使用すると、床面で反射される放射妨害波の周波数と、サンプリング周波数とが等しい場合、床面の放射妨害波の吸収特性は、40dB以上必要であることが分かる。また、床面で反射される放射妨害波の周波数がサンプリング周波数よりも低い場合、床面の放射妨害波の吸収特性は、当該周波数及びサンプリング周波数を上述した式(25)に代入して算出された値以上必要であることが分かる。このような条件を満たす電波吸収体としては、例えば、上述した電波吸収体14が挙げられる。これらを床面に敷き詰めることにより、上述した式(26)が満たされる。
そこで、判定機能201は、電界の測定が実行される放射妨害波の周波数に対する床面の吸収特性が上述した式(26)を満たす場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がないと判定する。或いは、判定機能は、電界の測定が実行される放射妨害波の周波数に対する床面の吸収特性が上述した式(26)を満たさない場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があると判定する。
また、床面を基準とした高さが0.45λmin及び2.8λmaxのうち大きい方の値以上の電波吸収体が床面に敷設されている場合、上述した条件の少なくとも一つが満たされていると考えられる。ここで、λminは、電界強度を測定する放射妨害波の周波数の最小値に相当する波長である。また、λmaxは、電界強度を測定する放射妨害波の周波数の最大値であるサンプリング周波数に相当する波長である。そこで、判定機能201は、床面を基準とした高さが0.45λmin及び2.8λmaxのうち大きい方の値以上の電波吸収体が床面に敷設されている場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がないと判定する。或いは、判定機能201は、床面を基準とした高さが0.45λmin及び2.8λmaxのうち大きい方の値未満の電波吸収体が床面に敷設されている場合又は電波吸収体が敷設されていない場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があると判定する。
図17は、実施形態に係る補間前電界強度分布の一部の例を示す図である。放射妨害波測定装置1は、上述した式(20)又は式(23)を使用して算出した補正係数Khmaxに基づいて順次算出されたアンテナ11の高さにおいて放射妨害波の電界強度を測定し、例えば、図17に示した補間前電界強度を取得する。図17の白丸は、この間隔で測定された電界強度を示している。図17の黒丸は、内挿されたゼロを示している。
図18は、実施形態に係る補間後電界強度分布の一部の例を示す図である。放射妨害波測定装置1は、電界の測定が実行される放射妨害波の周波数と等しい遮断周波数を有するローパスフィルタを図17に示した補間前電界強度に適用することにより、図18に示した補間後電界強度を生成する。図18の白丸は、図17の白丸と同様の電界強度を示している。図18の黒丸は、当該ローパスフィルタを適用して補間することにより再現された電界強度を示している。
受信部30は、例えば、スーパーヘテロダイン方式のスペクトルアナライザ、FFT方式のスペクトルアナライザである。受信部30は、供試体100を囲む面上に位置する測定点における所定の周波数帯域の電界強度を測定する測定処理を実行する。そして、受信部30は、最大の電界強度が測定された測定点において電界強度を一定時間測定する。
図19は、実施形態に係る制御部のハードウエア構成の例を示す図である。図19に示すように、制御部20は、主制御部210と、入力装置220と、出力装置230と、記憶装置240と、バス250とを備える。
主制御部210は、CPU(Central Processing Unit)及びRAM(Random Access Memory)を備えており、入力装置220、出力装置230及び記憶装置240の間でのデータの送受信を制御し、出力装置230及び記憶装置240の動作を制御する。
入力装置220は、放射妨害波測定装置1の操作に必要なデータを入力するために使用される装置、例えば、キーボード、マウス、タッチパネルである。
出力装置230は、放射妨害波測定装置1の動作に関連する情報を出力するために使用される装置、例えば、ディスプレイである。
記憶装置240は、データを記憶させるために使用される装置、例えば、ハードディスク装置、光ディスク装置である。また、記憶装置240は、記憶媒体245を備えており、記憶媒体245にデータを格納し、記憶媒体245からデータを読み出す。記憶媒体245は、データを記憶させるために使用される記憶媒体、例えば、ハードディスク、光ディスクである。また、記憶媒体245は、判定機能201、補正係数算出機能202、測定高さ算出機能203、第一電磁界分布取得機能204及び第二電磁界分布取得機能205それぞれを実現するプログラムを記憶している。この場合、主制御部210は、これらのプログラムを読み出して実行することにより、判定機能201、補正係数算出機能202及び測定高さ算出機能203それぞれの機能を実現させる。
バス250は、主制御部210、入力装置220、出力装置230及び記憶装置240を相互に通信可能に接続している。
次に、図20を参照しながら実施形態に係る放射妨害波測定装置の動作の一例を説明する。図20は、実施形態に係る放射妨害波測定装置が実行する処理の例を示すフローチャートである。
ステップS10において、放射妨害波測定装置1は、測定条件の入力を受け付ける。ここで言う測定条件は、例えば、電界強度を測定する放射妨害波の周波数帯域、グランドプレーンを基準とする高さ方向の測定範囲、高さ方向における測定点の間隔、角度方向の測定範囲、角度方向における測定点の間隔、サンプリング時間、受信部30の検波方式及び周波数分解能帯域幅である。
ステップS20において、補正係数算出機能202は、補正係数の算出に使用する式を選択する。ステップS20の詳細は、後述する。
ステップS30において、測定高さ算出機能203は、ステップS20で選択した式を使用して算出した補正係数を使用して電界を測定するアンテナの高さを算出する。
ステップS40において、コントローラ15は、最も低い高さに配置されている測定点の電界強度を測定可能な高さにアンテナ11の高さを変更し、最も角度が小さな位置に配置されている測定点の電界強度を測定可能な角度までターンテーブル13を回転させる。
ステップS50において、放射妨害波測定装置1は、供試体100を基準としたアンテナ11の高さを維持した状態でターンテーブル13を回転させながら各測定点において所定の周波数帯域で電界強度の測定を実行する。
ステップS60において、放射妨害波測定装置1は、現在のターンテーブルの角度が上限であるか否かを判定する。放射妨害波測定装置1は、現在のターンテーブルの角度が上限であると判定した場合(ステップS60:YES)、処理をステップS70に進め、現在のターンテーブルの角度が上限でないと判定した場合(ステップS60:NO)、処理をステップS50戻す。
ステップS70において、コントローラ15は、アンテナ11の高さを上昇させる。
ステップS80において、放射妨害波測定装置1は、現在のアンテナの高さが上限であるか否かを判定する。放射妨害波測定装置1は、現在のアンテナの高さが上限であると判定した場合(ステップS80:YES)、処理をステップS90に進め、現在のアンテナの高さが上限でないと判定した場合(ステップS80:NO)、処理をステップS50戻す。
ステップS90において、放射妨害波測定装置1は、測定点の間の電界強度にゼロを内挿する。
ステップS100において、放射妨害波測定装置1は、ステップS90でゼロを内挿した補間前電界強度分布にステップS90で算出した遮断周波数を有するローパスフィルタを適用して補間後電界強度分布を生成する。
ステップS110において、放射妨害波測定装置1は、ステップS100で生成された補間後電界強度分布において最大の電界強度となるアンテナの高さ及びターンテーブルの角度を示すデータを取得する。
次に、図21を参照しながら、図20に示したステップS20の詳細、すなわち実施形態に係る放射妨害波測定装置が補正係数を算出する処理の例について説明する。図21は、実施形態に係る放射妨害波測定装置が補正係数を算出する式を選択する処理の例を示すフローチャートである。
ステップS210において、補正係数算出機能202は、補正係数の算出に使用する式を放射妨害波測定装置が判定するか否かを判定する。補正係数算出機能202は、補正係数の算出に使用する式を放射妨害波測定装置が判定すると判定した場合(ステップS210:YES)、処理をステップS220に進め、補正係数の算出に使用する式を放射妨害波測定装置が判定しないと判定した場合(ステップS210:NO)、処理をステップS240に進める。
ステップS220において、補正係数算出機能202は、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があるか否かを判定する。補正係数算出機能202は、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があると判定した場合(ステップS220:YES)、処理をステップS240に進め、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がないと判定した場合(ステップS220:NO)、処理をステップS230に進める。具体的には、補正係数算出機能202は、上述したいすれかの判定に基づいて当該判定を実行する。
ステップS230において、補正係数算出機能202は、上述した式(20)を選択する。
ステップS240において、補正係数算出機能202は、上述した式(23)を選択する。
以上、実施形態に係る放射妨害波測定装置1について説明した。放射妨害波測定装置1は、放射妨害波を放射する放射源を含む供試体100と、放射妨害波の電界の測定を実行するアンテナ11との相対的な位置関係に基づいて、アンテナ11の高さの間隔がサンプリング定理を満たす補正係数を算出する補正係数算出機能202と、補正係数を使用して測定が実行される場合におけるアンテナの高さを順次算出する測定高さ算出機能203とを備える。したがって、放射妨害波測定装置1は、電界を測定する必要があるアンテナ11の高さを絞り込み、放射妨害波試験の実施に必要な時間を短縮することができる。
また、放射妨害波測定装置1は、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があるか否かを判定する判定機能201を実行するコンピュータを備える。したがって、放射妨害波測定装置1は、床面で反射される放射妨害波を考慮して電界を測定する必要があるか否かに応じて適切な式を選択し、正確な補正係数を算出し、上述した効果を奏することができる。
なお、上述した実施形態では、放射妨害波測定装置1が測定点における電界強度を測定し、補間後電界強度分布を生成する場合を例に挙げて説明したが、これに限定されない。例えば、放射妨害波測定装置1が測定点における磁界強度を測定し、補間前磁界強度分布に上述したローパスフィルタを適用して補間後磁界強度分布を生成してもよい。或いは、放射妨害波測定装置1が電界強度ではなく上述した式(2)の一つ目の等号の右側の式の絶対値記号の中身に相当する値を測定し、当該値の分布を測定し、当該値の分布に上述したローパスフィルタを適用して補間してもよい。
また、補正係数算出機能202は、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があると判定された場合、上述した式(23)を使用して補正係数Khmaxを算出する代わりに、補正係数Khmaxの算出を中止してもよい。さらに、この場合、補正係数算出機能202は、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がある旨を報知するよう放射妨害波測定装置1を制御してもよい。
また、補正係数算出機能202は、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があるか否かに関わらず、式(23)を使用して補正係数を算出してもよい。
また、上述した放射妨害波は、供試体100からではなく、放射妨害波を想定して設定された放射源から放射されてもよい。
また、上述した実施形態に係るコントローラ15、制御部20及び受信部30の各機能を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録させ、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませて実行することにより、処理を行ってもよい。また、特に、この記録媒体は、判定機能201、補正係数算出機能202、測定高さ算出機能203、第一電磁界分布取得機能204及び第二電磁界分布取得機能205をコンピュータに実行させるための電磁界分布生成プログラムを記憶していてもよい。
ここで言うコンピュータシステムとは、オペレーティング・システム(Operating System:OS)又は周辺機器等のハードウエアを含むものであってもよい。また、コンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、例えば、フロッピーディスク、光磁気ディスク、ROM(Read Only Memory)、フラッシュメモリ等の書き込み可能な不揮発性メモリ、DVD(Digital Versatile Disc)等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置、ネットワーク又は通信回線を介してプログラムが送信される場合におけるサーバ又はクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように一定時間プログラムを保持しているものも含む。
また、上述したプログラムは、このプログラムを記憶装置等に格納したコンピュータシステムから、伝送媒体を介して、又は、伝送媒体中の伝送波により他のコンピュータシステムに伝送されてもよい。ここで、プログラムを伝送する伝送媒体とは、インターネット等のネットワーク又は電話回線等の通信回線のように情報を伝送する機能を有する媒体のことをいう。
また、上述したプログラムは、上述した機能の一部を実現するためのものであってもよく、上述した機能をコンピュータシステムに既に記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分プログラムであってもよい。上述したプログラムは、例えば、コンピュータが備えるCPU(Central Processing Unit)等のプロセッサにより読み出されて実行される。
以上、本発明の実施形態について図面を参照して詳述したが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々の変形、置換又は設計変更を加えることができる。また、上述した実施形態に記載の構成を組み合わせてもよい。
1…放射妨害波測定装置、11…アンテナ、12…アンテナマスト、13…ターンテーブル、14…電波吸収体、15…コントローラ、151…高さ変更部、152…方位変更部、20…制御部、201…判定機能、202…補正係数算出機能、203…測定高さ算出機能、204…第一電磁界分布取得機能、205…第二電磁界分布取得機能、210…主制御部、220…入力装置、230…出力装置、240…記憶装置、245…記憶媒体、250…バス、30…受信部、100…供試体、200…台
Claims (17)
- 放射妨害波を放射する放射源を含む供試体と前記放射妨害波の電界及び磁界の少なくとも一方の測定を実行するアンテナとの相対的な位置関係及び前記供試体が載置されている床面における前記放射妨害波の反射係数に基づいて、前記アンテナの高さの間隔がサンプリング定理を満たす補正係数を算出する補正係数算出機能と、
前記補正係数を使用して前記測定が実行される場合における前記アンテナの高さを順次算出する測定高さ算出機能と、
をコンピュータに実行させる電磁波測定点算出プログラム。 - 前記補正係数算出機能は、前記供試体と前記アンテナとの水平方向の最短距離、前記供試体と前記アンテナとの水平方向の最長距離、前記供試体が載置されている床面から前記供試体までの最短距離及び前記供試体が載置されている前記床面から前記供試体までの最長距離の少なくとも二つを使用して前記補正係数を算出する機能である、
請求項1に記載の電磁波測定点算出プログラム。 - 前記補正係数算出機能は、次の式(1)又は式(2)と、式(3)とを使用して前記補正係数を算出し、
前記測定高さ算出機能は、次の式(4)を使用して前記測定が実行される場合における前記アンテナの高さを順次算出する、
請求項2に記載の電磁波測定点算出プログラム。
hrx :アンテナの高さ
dmin :供試体とアンテナとの水平方向の最短距離
dmax :供試体とアンテナとの水平方向の最長距離
hmin :供試体が載置されている床面から供試体までの最短距離
hmax :供試体が載置されている床面から供試体までの最長距離
Δhrx :アンテナの高さの変化量
- 前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があるか否かを判定する判定機能をコンピュータに更に実行させ、
前記補正係数算出機能は、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定された場合、前記式(1)を使用して前記補正係数を算出する、
請求項3に記載の電磁波測定点算出プログラム。 - 前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があるか否かを判定する判定機能をコンピュータに更に実行させ、
前記補正係数算出機能は、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があると判定された場合、前記式(2)を使用して前記補正係数を算出し、又は前記補正係数の算出を中止する、
請求項3に記載の電磁波測定点算出プログラム。 - 前記補正係数算出機能は、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があるか否かに関わらず、前記式(2)を使用して補正係数を算出する、
請求項3に記載の電磁波測定点算出プログラム。 - 前記放射妨害波の電界及び磁界の少なくとも一方の分布であり、シミュレーション又は実測により得られた第一電磁界分布を取得する第一電磁界分布取得機能と、
前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さにおける電界又は磁界をシミュレーション又は実測により取得し、ローパスフィルタを使用して前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さと異なる前記アンテナの高さにおける電界又は磁界を補間することにより得られた第二電磁界分布を取得する第二電磁界分布取得機能と、
をコンピュータに更に実行させ、
前記判定機能は、前記第一電磁界分布における電界又は磁界の最大値と、前記第二電磁界分布における電界又は磁界の最大値との偏差を算出し、前記偏差が所定の許容値以下である場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定する機能である、
請求項4に記載の電磁波測定点算出プログラム。 - 前記放射妨害波の電界及び磁界の少なくとも一方の分布であり、シミュレーション又は実測により得られた第一電磁界分布を取得する第一電磁界分布取得機能と、
前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さにおける電界又は磁界をシミュレーション又は実測により取得し、ローパスフィルタを使用して前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さと異なる前記アンテナの高さにおける電界又は磁界を補間することにより得られた第二電磁界分布を取得する第二電磁界分布取得機能と、
をコンピュータに更に実行させ、
前記判定機能は、前記第一電磁界分布における電界又は磁界の最大値と、前記第二電磁界分布における電界又は磁界の最大値との偏差を算出し、前記偏差が所定の許容値を超えている場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があると判定する機能である、
請求項5に記載の電磁波測定点算出プログラム。 - 前記放射妨害波の電界及び磁界の少なくとも一方の分布であり、シミュレーション又は実測により得られた第一電磁界分布を取得する第一電磁界分布取得機能と、
前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さにおける電界又は磁界をシミュレーション又は実測により取得し、ローパスフィルタを使用して前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さと異なる前記アンテナの高さにおける電界又は磁界を補間することにより得られた第二電磁界分布を取得する第二電磁界分布取得機能と、
をコンピュータに更に実行させ、
前記判定機能は、前記第一電磁界分布における電界又は磁界の最大値と、前記第二電磁界分布における電界又は磁界の最大値との偏差を算出し、前記偏差が所定の閾値以下の前記反射係数に対応している場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定する機能である、
請求項4に記載の電磁波測定点算出プログラム。 - 前記放射妨害波の電界及び磁界の少なくとも一方の分布であり、シミュレーション又は実測により得られた第一電磁界分布を取得する第一電磁界分布取得機能と、
前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さにおける電界又は磁界をシミュレーション又は実測により取得し、ローパスフィルタを使用して前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さと異なる前記アンテナの高さにおける電界又は磁界を補間することにより得られた第二電磁界分布を取得する第二電磁界分布取得機能と、
をコンピュータに更に実行させ、
前記判定機能は、前記第一電磁界分布における電界又は磁界の最大値と、前記第二電磁界分布における電界又は磁界の最大値との偏差を算出し、前記偏差が所定の閾値を超える前記反射係数に対応にしている場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があると判定する機能である、
請求項5に記載の電磁波測定点算出プログラム。 - 前記判定機能は、前記床面を基準とした高さが0.45λmin及び2.8λmaxのうち大きい方の値以上の電波吸収体が前記床面に敷設されている場合、前記前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定する機能である、
請求項4に記載の電磁波測定点算出プログラム。 - 前記判定機能は、前記床面を基準とした高さが0.45λmin及び2.8λmaxのうち大きい方の値未満の電波吸収体が前記床面に敷設されている場合又は電波吸収体が敷設されていない場合、前記前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があるいと判定する機能である、
請求項5に記載の電磁波測定点算出プログラム。 - 請求項1から請求項16のいずれか一つに記載の電磁波測定点算出プログラムを実行するコンピュータを備える放射妨害波測定装置。
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