JP6401320B2 - 少なくとも1つの対象を温度調節する装置及び少なくとも2つのセンサからなるセンサ装置の機能能力を検査する方法 - Google Patents

少なくとも1つの対象を温度調節する装置及び少なくとも2つのセンサからなるセンサ装置の機能能力を検査する方法 Download PDF

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Description

本発明は、請求項1と9の前文の特徴を有する、少なくとも1つの対象を温度調節する装置及び少なくとも2つのセンサからなるセンサ装置の機能能力を検査する方法に関する。
温度調節する装置に関する温度及び/又は温度調節する装置と接続されている、温度調節すべき対象の温度を監視するため、あるいはまた、対象を温度調節するために所望の温度を調節することができるようにするために、従来技術から知られた装置は、温度センサを搭載している。
その場合に温度センサは、たとえば意図されない過熱あるいは温度調節する装置の加熱出力及び/又は冷却出力の不足を早期に認識するために、温度調節すべき対象の温度値あるいは又、温度調節する装置自体に関する温度値を検出することができる。温度調節する装置及び/又は温度調節すべき対象に関する温度値を検出するために、個々の温度センサを配置する場合に、もちろん、場合によっては故障していたり、あるいは機能に欠陥のある温度センサを認識できないリスクがあるので、温度調節する装置が温度調節すべき対象を定められたように処理できず、あるいは特に適さない温度調節に基づいて温度調節すべき対象に損傷がもたらされることがある。
このリスクを最小限に抑えるために、温度調節すべき対象及び/又は温度調節する装置の温度値を検出するための2つの温度センサを有する、温度調節する装置がすでに知られている。ここでは、温度値を検出するための1つの温度センサが故障した場合に、他のセンサを利用することが可能である。このように温度調節する装置が2つの温度センサを有する形態は、もちろん材料コストの増大を考慮しなければならない。というのは、付加的な温度センサの使用は、付加的なコストをもたらすからである。
したがって本発明の課題は、上述した従来技術の欠点を少なくとも部分的に回避する、少なくとも1つの対象を温度調節する装置を提供することである。さらに、装置の駆動及び機能安全性を高め、かつ製造コストを節約することができる、少なくとも1つの対象を温度調節する装置を提供しようとしている。
上の課題は、特許請求項1もしくは9の特徴を有する、少なくとも1つの対象を温度調節する装置により、かつ少なくとも2つのセンサからなるセンサ装置の機能能力を検査する方法によって解決される。他の好ましい形態が、下位請求項によって説明される。
少なくとも1つの対象を温度調節するための本発明に係る装置は、それぞれの対象へ熱エネルギ及び/又は冷熱エネルギを放出するための熱電気素子を有している。熱電気素子は、特にペルティエ素子とすることができる。熱電気素子を制御するために、プロセッサユニットが熱電気素子と結合されている。さらに、少なくとも1つの対象を温度調節する装置は、センサ装置を有しており、そのセンサ装置は、熱電気素子の領域内に形成されている実際温度を検出するための少なくとも1つのセンサと、プロセッサユニットの領域内に形成されている実際温度を検出するための、プロセッサユニットの構成要素として形成されている少なくとも1つの他のセンサとを有している。その場合にプロセッサユニットは、センサ装置と接続されている。さらに、プロセッサユニットは、熱電気素子の領域内に形成されている実際温度を検出するための少なくとも1つのセンサと、プロセッサユニットの領域内に形成されている実際温度を検出するための少なくとも1つの他のセンサとによって検出された実際温度を比較するように形成されている。この比較を考慮してプロセッサユニットは、センサ装置の機能能力についての説明を導き出すことができる。その場合に、プロセッサユニットは、実際温度が等しいか、あるいは近似的に等しく形成されている限りにおいて、センサ装置の機能能力を証明することができる。さらにプロセッサユニットは、実際温度が互いにずれており、あるいは所定の枠内で互いにずれている限りにおいて、センサ装置の誤機能についての説明を導き出すことができる。
本発明によれば、プロセッサユニットの領域内に形成されている実際温度を検出するための少なくとも1つの他のセンサが、プロセッサユニットの構成要素として形成されている。多数のプロセッサユニットが、標準的に、実際温度を検出するための内蔵されたセンサを有しているので、このセンサが他のセンサとして、プロセッサユニットの領域内に形成されている実際温度を検出するのに理想的に適している。プロセッサユニットに内蔵されている、この他のセンサは、多くの場合において、約−40℃から+150℃の温度領域を検出するように形成することができる。多くの場合において、プロセッサユニットの領域内に形成されている実際温度を検出するためのこの少なくとも1つの他のセンサは、プロセッサユニットに直接配置されない場合もあり、その場合でも少なくとも1つの他のセンサは、プロセッサユニットの構成要素である。しかし特に好ましい場合において、少なくとも1つの他のセンサは、プロセッサユニットの実際温度を検出するように形成されており、もしくはプロセッサユニットの温度を監視するように形成されている。
少なくとも1つの対象を温度調節するための、本発明に係る装置の実施形態によれば、プロセッサユニットは熱電気素子をゼーベック電圧について検査することができる。さらに、プロセッサユニットは、ゼーベック電圧が存在する場合には、検出された実際温度の比較を阻止し、ゼーベック電圧が存在しない場合には検出された実際温度の比較を許すように、形成されていることができる。ゼーベック電圧とは、通常、熱電気素子の2つの異なる電気導体からなる電流回路内で、2つの電気導体の接触箇所の間に温度差がある場合に生じる電圧を言う。したがって少なくとも1つの対象を温度調節するための本発明に係る装置の熱電気素子においては、特に、熱電気素子の2つの側面の間の温度差が重要であり、その温度差に基づいて電圧をもたらすことができる。熱電気素子は、通常、第1の幅広側面と第2の幅広側面の形式の2つの側面を有している。その場合に第1の幅広側面は、それぞれの対象へ熱エネルギ及び/又は冷熱エネルギを放出するために設けられており、したがって利用側と称することができる。熱電気素子もしくはペルティエ素子の一方の幅広側面上に、さらに、熱電気素子もしくはペルティエ素子を冷却するための手段が添接することができる。この幅広側面は、特に、熱電気素子もしくはペルティエ素子の、排熱を放出するために設けられている、第2の幅広側面もしくは排熱側である。したがってゼーベック電圧が存在しないこと、もしくは熱電気素子の0ボルトあるいは少なくとも近似的に0ボルトのゼーベック電圧が検出されることは、熱電気素子の第1と第2の幅広側面の間に温度差が存在しないこと、もしくは第1と第2の幅広側面上の温度がそれぞれ少なくとも近似的に等しい値を有することを、意味している。熱電気素子をゼーベック電圧について検査する可能性に基づいて、熱電気素子の領域内に形成されている実際温度を検出するための少なくとも1つのセンサを熱電気素子に関して自由に位置決めすることが可能である。というのはゼーベック電圧が存在しない場合には、熱電気素子の第1と第2の幅広側面の間に温度差が存在しないからである。
実際においては、さらに、熱電気素子、プロセッサユニット及びセンサ装置が共通のハウジングによって収容されている実施形態が実証されている。理想的には、熱電気素子、プロセッサユニット及びセンサ装置は、共通のハウジング内部に配置することができる。それによって、検出された実際温度の比較を用いて理想的なやり方でセンサ装置の機能能力についての確実な説明を行うことができる。熱電気素子、プロセッサユニット及びセンサ装置をハウジング内部に配置することによって、熱電気素子、プロセッサユニット及びセンサ装置のための統一的な環境条件をもたらすことができ、もしくは熱電気素子、プロセッサユニット及びセンサ装置を外部の環境影響から保護することができる。
さらに、プロセッサユニット上に、プロセッサユニットの駆動開始時又はその直後に、検出された実際温度の比較を行わせる指示を格納することができる。それによって、他のセンサがプロセッサユニットの自己温度に基づいて加熱され、それによって比較が影響を受けることを、回避することができる。同様に、熱電気素子の自己発熱によって影響を受ける実際温度に対処するために、熱電気素子の駆動開始前、駆動開始時あるいはその直後に熱電気素子の領域内のそれぞれの実際温度を少なくとも1つのセンサによって検出すると、好ましい場合がある。
本発明によれば、少なくとも1つのアキュムレータを冷却するために、上述した特徴を有する本発明に係る装置を使用することができる。さらに、熱電気素子がドリンクホルダに熱エネルギ及び/又は冷熱エネルギを放出するように形成されている場合に、上述した特徴を有する本発明に係る装置を使用することが考えられる。
本発明の他の要素は、少なくとも2つのセンサからなるセンサ装置の機能能力を検査する方法に関する。装置について上述した特徴は、本方法の考えられる実施形態においても同様に設けることができる。さらに、以下に挙げる、方法のための様々な実施形態に関する特徴は、上述した装置において設けることができ、したがって重複して説明しない。方法は、そのために以下のステップを有している:
センサ装置の少なくとも1つのセンサを介して、熱電気素子の領域内に形成されている実際温度を検出し、
プロセッサユニットの構成要素として形成されている、センサ装置の少なくとも1つの他のセンサを介して、熱電気素子と結合されているプロセッサユニットの領域内に形成された実際温度を検出し、
少なくとも1つのセンサ及び少なくとも1つの他のセンサを介して検出された実際温度を比較し、
比較を用いてセンサ装置の機能能力についての説明を行う。
その場合に、熱電気素子の駆動開始前、駆動開始時あるいはその直後に、少なくとも1つのセンサを介して、熱電気素子の領域内に形成されている実際温度が検出されると、好ましいことが明らかにされている。というのは、熱電気素子の領域内に形成されている実際温度は、少なくとも1つの対象を温度調節するための本発明に係る装置に関連してすでに示したように、駆動の間の熱電気素子の自己発熱により、かつ/又はプロセッサユニットの熱放出によって影響を受ける可能性があるからである。
同様に、プロセッサユニットの領域内に形成されている実際温度が駆動の間のプロセッサユニットの自己発熱によって影響を受けることを回避するために、プロセッサユニットの駆動開始時、あるいはその直後に少なくとも1つの他のセンサを介して、プロセッサユニットの領域内に形成されている実際温度が検出されると、有意義である。少なくとも1つのセンサと少なくとも1つの他のセンサを用いて、統一的な環境条件のもとで検出された実際温度を比較することによって、熱電気素子及びプロセッサユニットの領域内で検出すべき実際温度が、少なくとも定められた領域の内部でほぼ同一に形成されていることを、保証することができる。
さらに、熱電気素子のゼーベック電圧を検査することができる。理想的には、熱電気素子によって発生されるゼーベック電圧の検出は、プロセッサユニットを用いて実施される。その場合に、ゼーベック電圧が形成されていない場合には、実際温度の比較が実施される。ゼーベック電圧が形成されている場合には、少なくとも1つのセンサと少なくとも1つの他のセンサによって検出された実際温度の比較は、阻止される。検出すべきゼーベック電圧は、すでに説明したように、熱電気素子の第1と第2の幅広側面の間に温度差がある場合に発生する電圧である。したがってゼーベック電圧が形成されないこと、もしくは0ボルトあるいは少なくとも近似的に0ボルトのゼーベック電圧が検出されることは、熱電気素子の第1と第2の幅広側面の間に温度差が存在せず、第1と第2の幅広側面の温度がそれぞれ少なくとも近似的に等しい値を有することを、意味している。したがって熱電気素子のゼーベック電圧が形成されないことにしたがって、少なくとも1つのセンサによって検出された、熱電気素子の領域内の実際温度と、少なくとも1つの他のセンサによって検出された、プロセッサユニットの領域内の実際温度の比較を実施することができる。ゼーベック電圧が形成されないことは、熱電気素子の第1と第2の幅広側面上に等しいあるいは少なくとも近似的に等しい温度が存在し、温度差が存在しないことの前提である。
したがって、熱電気素子とプロセッサユニットの領域内で形成されている、検出された実際温度が少なくとも近似的に同一の値を有する限りにおいて、熱電気素子の領域内に形成されている実際温度を検出するための少なくとも1つのセンサと、プロセッサユニットの領域内に形成されている実際温度を検出するための少なくとも1つの他のセンサとを有するセンサ装置は機能し得る、と推定することができる。センサユニットの機能能力を長期的に保証するために、熱電気素子の領域内とプロセッサの領域内に形成されている実際温度の比較を、定められた時間インターバルで実施し、もしくは繰り返すと、好ましい場合がある。
以下、本発明の実施例及びその利点を、添付の図面を用いて詳細に説明する。図において個々の部材の互いに対する大きさの比率は、かならずしも実際の大きさの比率に相当するものではない。というのは、幾つかの形状は簡略化され、他の形状は理解しやすくするために他の部材に対する比率において拡大して示されているからである。本発明の同一あるいは同じ作用をする部材については、同一の参照符号が使用される。さらに、見やすくするために、個々の図においては、それぞれの図の説明に必要な参照符号のみが示されている。図示される実施形態は、どのようにして本発明に係る装置及び本発明に係る方法を実施することができるか、の例を示すものでしかなく、排他的制限を表すものではない。
少なくとも1つの対象を温度調節するための本発明に係る装置の実施形態を図式的に示している。 少なくとも1つの対象を温度調節するための本発明に係る装置の他の実施形態を図式的に示している。 少なくとも1つの対象を温度調節するための本発明に係る装置の他の実施形態を図式的に示している。 少なくとも2つのセンサからなるセンサ装置の機能能力を検査するための本発明に係る方法の考えられる実施形態を示すフローチャートである。
図1は、少なくとも1つの対象6(図2を参照)を温度調節するための本発明に係る装置2の実施形態を示している。少なくとも1つの対象6を温度調節するための装置2は、熱電気素子4を有しており、その熱電気素子はペルティエ素子4’として形成されている。装置2は、他の構成要素としてプロセッサユニット12を有しており、そのプロセッサユニットが熱電気素子4に結合されている。プロセッサユニット12は、熱電気素子4を制御及び/又は監視するために設けられている。
プロセッサユニット12は、数字16による参照記号で示される接続によって認識されるように、センサ8と結合されている。さらに、装置2はセンサ装置20を有している。センサ装置20は、熱電気素子4の領域内に形成されている実際温度を検出するために少なくとも1つのセンサ8を有している。理想的には、センサ8としてネガティブ温度係数センサ(Negative Temperature Coefficient Sensor)、短くしてNTCセンサ8’が使用される。この実施例においてセンサ8は、熱電気素子4の幅広側面10に配置されている。さらに、プロセッサユニット12の領域内に形成される実際温度を検出するための少なくとも1つの他のセンサ14が設けられている。他のセンサ14は、プロセッサユニット12の構成要素として形成されている。他のセンサ14は、特にネガティブ温度係数センサ14'とすることができ、それがプロセッサユニット12に内蔵されている。プロセッサユニット12は、センサユニット20と接続されている。そのために同様に接続16を設けることができる。熱電気素子4、プロセッサユニット12及びセンサ装置20は、ハウジング18によって包囲され、もしくはハウジング18によって収容されている。共通のハウジング18内に配置することによって、熱電素子4、プロセッサユニット12及びセンサ装置20のための統一的な環境条件をもたらすことができ、もしくは熱電気素子4、プロセッサユニット12及びセンサ装置20を外部の環境条件から保護することができる。プロセッサユニット12は、センサ8と14によって検出された、熱電気素子4とプロセッサユニット12の領域内に形成されている実際温度を比較するために設けられている。さらにプロセッサユニット12は、検出された実際温度の比較を考慮して、センサユニット20の機能能力に関する説明を行うことができる。プロセッサユニット12は、熱電気素子4をゼーベック電圧について検査するように形成されている。ゼーベック電圧が存在する場合には、プロセッサユニット12は検出された実際温度の比較を阻止し、ゼーベック電圧が存在しない場合には、プロセッサユニット12は比較を実施する。
図2によって、少なくとも1つの対象6を温度調節するための、本発明に係る装置2の他の実施形態が示されている。その場合に装置2の熱電気素子4は、温度調節可能なドリンクホルダ24に熱エネルギ及び/又は冷熱エネルギを放出するために設けられている。温度調節可能なドリンクホルダ24は、収容ユニット26を有しており、その収容ユニット内へ、たとえばドリンク容器6’の形式の対象6を温度調節するために収容することができる。熱電気素子4は、収容ユニット26と結合されている。熱電気素子4の、収容ユニット26に隣接する幅広側面10は、熱電気素子4の利用側10’と称することもできる。というのは利用側10’において熱エネルギ及び/又は冷熱エネルギがそれぞれの対象6へ放出されるからである。冷却ボディ28'の形式の熱電気素子4を冷却する手段28と結合されている、熱電気素子4の他の幅広側面10は、熱電気素子4の排熱側10”と称することができる。装置2は、さらに、センサ装置20を有しており、そのセンサ装置は、熱電気素子4の領域内で形成される実際温度を検出するためのセンサ8と、プロセッサユニット12の構成要素として形成されている、プロセッサユニット12の領域内に形成される実際温度を検出するための他のセンサ14とを有している。センサ8は、熱電気素子4の利用側10’に配置されており、それによってさらに対象6の領域内の実際温度を検出することができる。プロセッサユニット12は、熱電気素子4と結合されており、もしくは参照符号16によって示すように、センサ装置20と接続されている。熱電気素子4、プロセッサユニット12及びセンサ装置20は、共通のハウジング18内に配置されている。冷却する手段28も、ハウジング18内に配置することができる。プロセッサユニット12は、熱電気素子4及びプロセッサユニット12の領域内に形成されている、センサ8と14によって検出された実際温度を比較するために設けられている。プロセッサユニット12を用いて、実際温度を比較することにより、センサ装置20の機能能力についての説明を導き出すことができる。
図3は、少なくとも1つの対象6を温度調節するための、本発明に係る装置2の他の実施形態を開示している。その場合に装置2の熱電気素子4は、アキュムレータ6”を温度調節するために設けられている。熱電気素子4は利用側10'によってアキュムレータ6”に添接しており、熱電気素子4は排熱側10”によって、たとえば冷却剤循環28”の形式の、冷却する手段28と結合されている。熱電気素子4を制御及び/又は監視するために、装置2はプロセッサユニット12を有しており、そのプロセッサユニットが熱電気素子4と結合されている。装置2は、さらにセンサ装置20を有しており、そのセンサ装置は、熱電気素子4の領域内に形成される実際温度を検出するためのセンサ8と、プロセッサユニット12の構成要素として形成されている、プロセッサユニット12の領域内に形成される実際温度を検出するための他のセンサ14とを有している。センサ8は、熱電気素子4の利用側10’の領域に配置されている。プロセッサユニット12は、センサユニット20と接続されている。熱電気素子4、プロセッサユニット12及びセンサ装置20は、共通のハウジング18内に配置されている。さらに、ハウジング18内には、冷却する手段28が配置されている。さらにプロセッサユニット12によって、センサ8と14によって検出された、熱電気素子4とプロセッサユニット12の領域内に形成されている実際温度の比較を実施することが可能である。比較を考慮して、プロセッサユニット12は、センサ装置20の機能能力についての説明を導き出すことができる。
図4には、少なくとも2つのセンサ8、14からなるセンサ装置20の機能能力を検査するための、本発明に係る方法の実施形態のフローチャートが示される。方法の第1のステップ101において、プロセッサユニット12がスタートされ、もしくは開始され、その場合にそれに直接続いて、プロセッサユニット12の構成要素として形成されているセンサ14の実際温度が検出される(ステップ102)。プロセッサユニット12の始動直後に他のセンサ14を読み出すことは、それぞれセンサ14を介して検出された実際温度が、プロセッサユニット12の自己発熱による影響を受けないか、あるいは本質的に受けない、という利点を提供する。
次のステップ103において、熱電気素子4のゼーベック電圧が検査される。検査は、プロセッサユニット12を介して行うことができる。熱電気素子4のゼーベック電圧が形成されていない場合、あるいは0ボルト又は少なくとも近似的に0ボルトの値を有するゼーベック電圧が検出された場合に、方法は続行することができる(ステップ104)。
その場合にステップ(105a)において、熱電気素子4の領域内で形成された実際温度を検出するためのセンサ8が、プロセッサユニット12によって読み出される。理想的には、駆動の間の熱電気素子4の自己発熱により、かつ/又はプロセッサユニット12の熱放出によって、熱電気素子4の領域内に形成される実際温度が影響を受けるのを回避するために、熱電気素子4の始動時に直接、あるいは始動直後にセンサ8も読み出される。ステップ104にしたがって熱電気素子4のゼーベック電圧が0ボルトとは、あるいは少なくとも近似的に0ボルトとは異なる値を有する場合には、センサ装置20を機能能力について検査することは不可能である(ステップ105b)。
熱電気素子4のセンサ8を読み出した後に、ステップ106にしたがってセンサ8によって検出された、熱電気素子4の領域内に形成されている実際温度と、他のセンサ14によって検出された、プロセッサユニット12の領域内に形成されている実際温度の比較が行われる。それが、センサ装置20の機能能力についての説明となる(ステップ107aと107b)。センサ8と14によって検出された実際温度が異なる値を有する場合に、ステップ108bにしたがってセンサ装置20の機能能力がないことが明らかになる。したがってセンサ8と14のいずれかは、エラーなしでは機能しない。ステップ106において比較された、センサ8と14によって検出された定められた領域内の実際温度がほぼ等しい値を有する場合には、センサ装置20のセンサ8と14は機能能力があり、もしくはエラーなしに機能していると、推定することができる。理想的には、センサ8と14によって検出された、熱電気素子4とプロセッサユニット12の領域内に形成されている実際温度の比較は、定められた時間インターバルで繰り返される(ステップ109)。
本発明は、以下の特徴を有する。
[1]
少なくとも1つの対象(6)を温度調節する装置(2)であって、
それぞれの対象(6)へ熱エネルギ及び/又は冷熱エネルギを放出するための熱電気素子(4)、
制御するために熱電気素子(4)に結合されている、プロセッサユニット(12)、及び
センサ装置(20)、
を有し、前記センサ装置が
a)熱電気素子(4)の領域内に形成されている実際温度を検出するための少なくとも1つのセンサ(8)、及び
b)プロセッサユニット(12)の領域内に形成されている実際温度を検出するために、プロセッサユニット(12)の構成要素として形成されている少なくとも1つの他のセンサ(14)、
を有しており、
プロセッサユニット(12)が、センサ装置(20)と接続されており、検出された実際温度を比較するように形成されており、かつ前記比較を考慮してセンサ装置(20)の機能能力についての説明を導き出すことができる、
少なくとも1つの対象を温度調節する装置。
[2]
プロセッサユニット(12)が、熱電気素子(4)をゼーベック電圧について検査することができ、かつプロセッサユニット(12)は、ゼーベック電圧が存在する場合に実際温度の比較を阻止し、ゼーベック電圧が存在しない場合には比較を許すように、形成されている、上記[1]に記載の装置。
[3]
プロセッサユニット(12)上に、プロセッサユニット(12)の駆動開始時あるいはその直後に比較を行わせる指示が格納されている、上記[1]又は[2]に記載の装置。
[4]
熱電気素子(4)が、ペルティエ素子(4')として形成されている、上記[1]から[3]の1つ又は複数に記載の装置。
[5]
ペルティエ素子(4')の幅広側面(10)上に、ペルティエ素子(4')を冷却するための少なくとも1つの手段(28)が添接している、上記[4]に記載の装置。
[6]
熱電気素子(4)、プロセッサユニット(12)及びセンサ装置(20)が、共通のハウジング(18)内に収容されている、上記[1]から[5]の1つ又は複数に記載の装置。
[7]
少なくとも1つのアキュムレータ(6")を温度調節するための、上記[1]から[6]の1つ又は複数に記載の装置(2)の使用。
[8]
熱電気素子(4)が、ドリンクホルダ(24)へ熱エネルギ及び/又は冷熱エネルギを放出するように形成されている、上記[1]から[6]の1つ又は複数に記載の装置(2)の使用。
[9]
少なくとも2つのセンサ(8、14)からなるセンサ装置(20)の機能能力を検査する方法であって、方法が以下のステップを有している:
センサ装置(20)の少なくとも1つのセンサ(8)を介して、熱電気素子(4)の領域内に形成されている実際温度を検出し、
センサ装置の少なくとも1つの他のセンサ(14)を介して、熱電気素子(4)と結合されたプロセッサユニット(12)の領域内に形成されている実際温度を検出し、前記他のセンサ(14)がプロセッサユニット(12)の構成要素として形成されており、
少なくとも1つのセンサ(8、8')及び少なくとも1つの他のセンサ(14)を介して検出された実際温度を比較し、
前記比較を用いてセンサ装置(20)の機能能力に関する説明を行う、
方法。
[10]
熱電気素子(4)の領域内に形成されている実際温度が少なくとも1つのセンサ(8)を介して、熱電気素子(4)の駆動開始前、開始時、あるいはその直後に検出される、上記[9]に記載の方法。
[11]
実際温度が少なくとも1つの他のセンサ(14)を介して、プロセッサユニット(12)の駆動開始時あるいはその直後に検出される、上記[9]又は[10]に記載の方法。
[12]
熱電気素子(4)のゼーベック電圧が検査されて、ゼーベック電圧が形成されていない場合には、検出された実際温度の比較が実施され、あるいはゼーベック電圧が形成されている場合には、比較が阻止される、上記[9]から[11]の1つ又は複数に記載の方法。
2 少なくとも1つの対象を温度調節する装置
4、4’ 熱電気素子、ペルティエ素子
6、6’、6” 対象、ドリンク容器、アキュムレータ
8、8’ センサ、ネガティブ温度係数センサ
10、10’、10” 幅広側面、利用側、排熱側
12 プロセッサユニット
14、14’ 他のセンサ、他のネガティブ温度係数センサ
16 結合
18 ハウジング
20 センサユニット
24 温度調節可能なドリンクホルダ
26 収容ユニット
28、28’、28” 冷却する手段、冷却ボディ、冷却剤循環
101 ステップ1
102 ステップ2
103 ステップ3
104 ステップ4
105a、105b ステップ5
106 ステップ6
107 ステップ7
108a、108b ステップ8
109 ステップ9

Claims (11)

  1. 少なくとも1つの対象(6)を温度調節する装置(2)であって、
    それぞれの前記対象(6)へ熱エネルギ及び/又は冷熱エネルギを放出するための熱電気素子(4)と、
    前記熱電気素子(4)を制御するために前記熱電気素子(4)に結合されている、プロセッサユニット(12)と、
    前記プロセッサユニット(12)と接続されているセンサ装置(20)とを備え、
    前記センサ装置(20)が
    (a)前記熱電気素子(4)の領域内に形成されている実際温度を検出するための少なくとも1つのセンサ(8)、及び
    (b)前記プロセッサユニット(12)の領域内に形成されている実際温度を検出するために、前記プロセッサユニット(12)の構成要素として形成されている少なくとも1つの他のセンサ(14)、
    を有しており、
    前記熱電気素子(4)、前記プロセッサユニット(12)及び前記センサ装置(20)が、共通のハウジング(18)内に収容されており、
    前記プロセッサユニット(12)が、前記少なくとも1つのセンサ(8)によって検出された前記熱電気素子(4)の領域内に形成されている前記実際温度と前記少なくとも1つの他のセンサ(14)によって検出された前記プロセッサユニット(12)の領域内に形成されている前記実際温度とを比較するように形成されており、かつ、
    前記比較を考慮して前記センサ装置(20)の機能能力についての説明を導き出すことができる、
    少なくとも1つの対象(6)を温度調節する装置(2)。
  2. 前記プロセッサユニット(12)が、前記熱電気素子(4)をゼーベック電圧について検査することができ、かつ前記プロセッサユニット(12)が、前記ゼーベック電圧が存在する場合には前記実際温度の比較を阻止し、前記ゼーベック電圧が存在しない場合には前記比較を許すように、形成されている、請求項1に記載の装置。
  3. 前記プロセッサユニット(12)上に、前記プロセッサユニット(12)の駆動開始時あるいはその直後に比較を行わせる指示が格納されている、請求項1又は2に記載の装置。
  4. 前記熱電気素子(4)が、ペルティエ素子(4')として形成されている、請求項1ないし3のいずれか1項に記載の装置。
  5. 前記ペルティエ素子(4')の幅広側面(10)上に、前記ペルティエ素子(4')を冷却するための少なくとも1つの手段(28)が添接されている、請求項4に記載の装置。
  6. 少なくとも1つのアキュムレータ(6")を温度調節するための、請求項1ないし5のいずれか1項に記載の装置(2)の使用。
  7. 前記熱電気素子(4)が、ドリンクホルダ(24)へ熱エネルギ及び/又は冷熱エネルギを放出するように形成されている、請求項1ないし5のいずれか1項に記載の装置(2)の使用。
  8. 少なくとも2つのセンサ(8、14)からなるセンサ装置(20)の機能能力を検査する方法であって、
    前記センサ装置(20)の前記少なくとも2つのセンサ(8、14)のうちの少なくとも1つのセンサ(8)を介して、熱電気素子(4)の領域内に形成されている実際温度を検出するステップと、
    前記センサ装置(20)の少なくとも2つのセンサ(8、14)のうちの少なくとも1つの他のセンサ(14)を介して、前記熱電気素子(4)と結合されたプロセッサユニット(12)の領域内に形成されている実際温度を検出するステップと、
    前記少なくとも1つのセンサ(8、8')を介して検出された前記熱電気素子(4)の領域内に形成されている前記実際温度と前記少なくとも1つの他のセンサ(14)を介して検出された前記プロセッサユニット(12)の領域内に形成されている前記実際温度とを比較するステップと、
    前記比較を用いて前記センサ装置(20)の機能能力に関する説明を行うステップと、
    を含み、
    前記他のセンサ(14)が前記プロセッサユニット(12)の構成要素として形成されており、かつ、
    前記熱電気素子(4)、前記プロセッサユニット(12)及び前記センサ装置(20)が、共通のハウジング(18)内に収容されている、
    前記センサ装置(20)の機能能力を検査する方法。
  9. 前記熱電気素子(4)の領域内に形成されている前記実際温度が前記少なくとも1つのセンサ(8)を介して、前記熱電気素子(4)の駆動開始前、開始時、あるいはその直後に検出される、請求項8に記載の方法。
  10. 前記実際温度が前記少なくとも1つの他のセンサ(14)を介して、前記プロセッサユニット(12)の駆動開始時あるいはその直後に検出される、請求項又は9に記載の方法。
  11. 前記熱電気素子(4)のゼーベック電圧が検査されて、前記ゼーベック電圧が形成されていない場合には、検出された前記実際温度の比較が実施され、あるいは前記ゼーベック電圧が形成されている場合には、前記比較が阻止される、請求項8ないし10のいずれか1項に記載の方法。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56150888A (en) 1980-04-23 1981-11-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Semiconductor laser device
JPS5854712U (ja) 1981-10-09 1983-04-14 三菱電機株式会社 赤外線装置
IT1238453B (it) 1990-02-01 1993-08-18 Eurodomestici Ind Riunite Metodo e dispositivo per il rilevamento del peso di un alimento posto in un forno a microonde al fine di comandare la potenza di funzionamento del magnetron e controllare il trattamento dell'alimento stesso
DE4017475A1 (de) 1990-05-31 1991-12-05 Standard Elektrik Lorenz Ag Anordnung mit einem elektrischen akkumulator
JPH0580861A (ja) 1991-09-19 1993-04-02 Nec Yamagata Ltd 温度制御回路
CN2152805Y (zh) 1993-03-27 1994-01-12 杭州解放电子仪器厂 可调式恒温箱
JP3372792B2 (ja) 1996-11-18 2003-02-04 株式会社エコ・トゥエンティーワン 電子冷蔵庫
JP3795401B2 (ja) 2002-01-11 2006-07-12 エスアイアイ・プリンテック株式会社 温度制御装置及び温度制御方法並びにインクジェット式記録装置
KR100497157B1 (ko) 2002-06-08 2005-06-23 삼성전자주식회사 화장품 저장고 및 그 제어방법
US20040140304A1 (en) 2003-01-22 2004-07-22 Leyendecker Kurt Philip Baby bottle chiller/warmer and method of use
KR100562705B1 (ko) 2003-12-26 2006-03-23 삼성전자주식회사 반도체 제조 설비용 온도 조절 장치
DE102004035014A1 (de) 2004-07-20 2006-02-16 Joachim Krieger Anordnung von Sensorelementen zum zuverlässigen Messen einer Temperatur
US20090084119A1 (en) 2005-08-03 2009-04-02 Alexander Lifson Sytem and method for detecting transducer failure in refrigerant systems
DE102007019093A1 (de) 2007-04-23 2008-11-06 Siemens Ag Vorrichtung mit Temperatursensor und elektronischem Bauelement, insbesondere Raumtemperaturregler
JP5160945B2 (ja) 2008-04-21 2013-03-13 日本モレックス株式会社 ヒートパイプおよび電子機器
JP2011138232A (ja) 2009-12-25 2011-07-14 Toshiba Tec Corp 電子機器およびファン制御方法
FR2986905B1 (fr) * 2012-02-09 2014-02-28 Snecma Procede de refroidissement de composants electroniques dans un turboreacteur d'aeronef
CN202869689U (zh) 2012-11-01 2013-04-10 苏州新亚科技有限公司 能自动识别纠错的双温区单探头
DE102014005574A1 (de) 2014-04-16 2014-11-06 Daimler Ag Getränkehalter für ein Fahrzeug mit wenigstens einem Temperierungselement

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