JP6362865B2 - Ｘ線コンピュータ断層撮影装置及びｘ線発生装置 - Google Patents

Ｘ線コンピュータ断層撮影装置及びｘ線発生装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6362865B2
JP6362865B2 JP2014003523A JP2014003523A JP6362865B2 JP 6362865 B2 JP6362865 B2 JP 6362865B2 JP 2014003523 A JP2014003523 A JP 2014003523A JP 2014003523 A JP2014003523 A JP 2014003523A JP 6362865 B2 JP6362865 B2 JP 6362865B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
discharge
unit
ray
tube voltage
voltage value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2014003523A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014147692A (ja
Inventor
本多　豊正
豊正 本多
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Medical Systems Corp
Original Assignee
Canon Medical Systems Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Medical Systems Corp filed Critical Canon Medical Systems Corp
Priority to JP2014003523A priority Critical patent/JP6362865B2/ja
Priority to PCT/JP2014/050366 priority patent/WO2014109400A1/ja
Publication of JP2014147692A publication Critical patent/JP2014147692A/ja
Priority to US14/746,191 priority patent/US9877694B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6362865B2 publication Critical patent/JP6362865B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
    • A61B6/03—Computed tomography [CT]
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/54—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis
    • A61B6/542—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis involving control of exposure
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
    • A61B6/03—Computed tomography [CT]
    • A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/40—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/44—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis
    • A61B6/4429—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis related to the mounting of source units and detector units
    • A61B6/4435—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis related to the mounting of source units and detector units the source unit and the detector unit being coupled by a rigid structure
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/54—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T11/00—2D [Two Dimensional] image generation
    • G06T11/003—Reconstruction from projections, e.g. tomography
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/02—Constructional details
    • H05G1/04—Mounting the X-ray tube within a closed housing
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08—Electrical details
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08—Electrical details
    • H05G1/10—Power supply arrangements for feeding the X-ray tube
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08—Electrical details
    • H05G1/10—Power supply arrangements for feeding the X-ray tube
    • H05G1/12—Power supply arrangements for feeding the X-ray tube with dc or rectified single-phase ac or double-phase
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08—Electrical details
    • H05G1/10—Power supply arrangements for feeding the X-ray tube
    • H05G1/22—Power supply arrangements for feeding the X-ray tube with single pulses
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08—Electrical details
    • H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08—Electrical details
    • H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/265—Measurements of current, voltage or power
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08—Electrical details
    • H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/30—Controlling
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08—Electrical details
    • H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/30—Controlling
    • H05G1/32—Supply voltage of the X-ray apparatus or tube
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08—Electrical details
    • H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/30—Controlling
    • H05G1/34—Anode current, heater current or heater voltage of X-ray tube
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08—Electrical details
    • H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/30—Controlling
    • H05G1/46—Combined control of different quantities, e.g. exposure time as well as voltage or current
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08—Electrical details
    • H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/54—Protecting or lifetime prediction
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08—Electrical details
    • H05G1/56—Switching-on; Switching-off
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/304—Accessories, mechanical or electrical features electric circuits, signal processing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40—Imaging
    • G01N2223/419—Imaging computed tomograph
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10—Image acquisition modality
    • G06T2207/10072—Tomographic images
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10—Image acquisition modality
    • G06T2207/10116—X-ray image

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • X-Ray Techniques (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Description

本実施形態は、Ｘ線コンピュータ断層撮影装置及びＸ線発生装置に関する。
Ｘ線管に放電が発生する場合がある。Ｘ線管の放電が発生した場合、Ｘ線管への電力の供給を即時的に遮断し、Ｘ線の照射を停止している。そしてＸ線管内の雰囲気が安定した後、再びＸ線管へ電力を供給し、Ｘ線の照射を再開している。放電発生後のＸ線管への電力の供給の遮断に伴うＸ線照射の停止期間は、数十ｍ秒から数百ｍ秒である。その期間は、画像再構成に利用可能なデータを収集できないため、再構成画像にアーチファクトが生じてしまう。そのため、放電現象は診断に支障を来している。
特開平１０−１０６７９２号公報
実施形態の目的は、放電に起因する画像アーチファクトを低減することを可能とするＸ線コンピュータ断層撮影装置及びＸ線発生装置を提供することにある。
本実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影装置は、Ｘ線を発生するＸ線管と、前記Ｘ線管に印加される高電圧を発生するインバータ式高電圧部と、前記Ｘ線管から発生されたＸ線を検出するＸ線検出器と、前記Ｘ線管と前記Ｘ線検出器とを支持する支持機構と、前記Ｘ線検出器からの出力データに基づいて画像データを再構成する再構成部と、を具備するＸ線コンピュータ断層撮影装置であって、前記インバータ式高電圧部は、直流を発生する直流電源部と、前記直流電源部からの直流をスイッチングにより交流に変換するインバータ部と、前記インバータ部からの交流の出力パルスを前記Ｘ線管に印加される高電圧に変換する高電圧変換部と、前記Ｘ線管における放電を検出する検出部と、前記放電が検出されたことを契機として、前記Ｘ線管の実測管電圧値を目標管電圧値までゆるやかに上昇させるため、前記インバータ部のスイッチングを制御して前記インバータ部からの交流の出力パルスのパルス幅又は周波数を変化させる制御部と、を備え、前記制御部は、前記放電が検出された後に実測管電圧値が前記目標管電圧値に復帰するまでの時間をスキャンモードに応じて変化させる。
放電に起因する画像アーチファクトを低減すること
本実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影装置の構成を示す図 図１のＸ線発生装置の構成を示す図 図２のＸ線発生装置により行われるパルス幅変調方式の動作のタイミングチャートの一例を示す図 図２のＸ線発生装置により行われる周波数変調方式の動作のタイミングチャートの一例を示す図 図１のインバータ式高電圧発生部の動作のタイミングチャートを管電圧の時間変化とともに示す図 図１の補正部による投影データの補正処理を説明するための図 従来例に係るインバータ式高電圧発生部の動作のタイミングチャートを管電圧の時間変化とともに示す図 従来例に係るインバータ式高電圧発生部の他の動作のタイミングチャートを管電圧の時間変化とともに示す図
以下、図面を参照しながら本実施形態に係わるＸ線コンピュータ断層撮影装置及びＸ線発生装置を説明する。
図１は、本実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影装置の構成を示す図である。図１に示すように、本実施形態にＸ線コンピュータ断層撮影装置１は、架台１０とコンソール３０とを備える。
架台１０は、開口部が形成された筐体（図示せず）内に回転フレーム１１を装備している。筐体の中心軸Ｚと回転フレーム１１の中心軸（回転軸）Ｚとが一致するように回転フレーム１１は、筐体内に収容されている。回転フレーム１１は、互いに対向して配置されたＸ線管１３とＸ線検出器１５とを装備している。回転フレーム１１は、Ｘ線管１３とＸ線検出器１５とを回転軸Ｚ回りに回転可能に支持している。筐体あるいは回転フレーム１１の開口の内部には、ＦＯＶ（field of view）が設定される。ＦＯＶに被検体（患者）Ｐの撮像領域が含まれるように天板１７が位置決めされる。回転フレーム１１は、回転駆動部１９に接続されている。回転駆動部１９は、架台制御部２１による制御に従って回転フレーム１１を一定の角速度で回転することにより、Ｘ線管１３とＸ線検出器１５とを回転軸Ｚ回りに回転する。
Ｘ線管１３は、インバータ式高電圧発生部２３から高電圧の印加を受けてＸ線を発生する。インバータ式高電圧発生部２３は、架台制御部２１による制御に従う高電圧をＸ線管１３に印加する。インバータ式高電圧発生部２３は、Ｘ線管１３内において放電が発生したことを検出する機能を有している。インバータ式高電圧発生部２３は、放電を検出したことを契機として、さらなる放電の誘発を防止するため、管電圧値を設定管電圧値まで急峻に上昇させるのではなく、管電圧値を時間変化に従って徐々に上昇させる。Ｘ線管１３とインバータ式高電圧発生部２３とはＸ線発生装置２５を構成する。Ｘ線発生装置２５の詳細については後述する。
Ｘ線検出器１５は、Ｘ線管１３から発生されたＸ線を検出する。Ｘ線検出器１５は、２次元状に配列された複数のＸ線検出素子を搭載する。例えば、複数のＸ線検出素子は、回転フレーム１１の回転軸Ｚを中心とした円弧に沿って配列される。この円弧に沿うＸ線検出素子の配列方向はチャンネル方向と呼ばれる。チャンネル方向に沿って配列された複数のＸ線検出素子は、Ｘ線検出素子列と呼ばれる。複数のＸ線検出素子列は、回転軸Ｚに沿う列方向に沿って配列される。各Ｘ線検出素子は、Ｘ線管１３から発生されたＸ線を検出し、検出されたＸ線の強度に応じた電気信号（電流信号）を生成する。生成された電気信号は、データ収集部（ＤＡＳ）２７に供給される。
データ収集部２７は、架台制御部２１による制御に従って、Ｘ線検出器１５を介して電気信号をビュー（ｖｉｅｗ）毎に収集する。よく知られているように、ビューは、回転軸Ｚ周りの回転フレーム１１の回転角度に対応する。また、信号処理的には、ビューは、回転フレーム１１の回転時におけるデータのサンプリング点に対応する。データ収集部２７は、収集されたアナログの電気信号をデジタルデータに変換する。デジタルデータは、生データと呼ばれている。生データは、非接触型の伝送部２９により所定ビュー毎にコンソール３０に供給される。
架台制御部２１は、コンソール３０内のシステム制御部４３による指示に従って、架台１０に搭載された各種機器の制御を統括する。例えば、架台制御部２１は、回転駆動部１９、インバータ式高電圧発生部２３、及びデータ収集部２７を制御する。
コンソール３０は、前処理部３１、補正部３３、再構成部３５、表示部３７、操作部３９、記憶部４１、及びシステム制御部４３を備える。前処理部３１は、伝送部２９から伝送された生データに対数変換や感度補正等の前処理を施す。前処理が施された生データは、投影データと呼ばれる。補正部３３は、放電が検出されたビューを含むビュー区間に属する投影データを、放電ビュー区間よりも時刻的に前のビュー区間に属する投影データと放電ビュー区間よりも時刻的に後のビュー区間に属する投影データとの少なくとも一つに基づいて補正する。再構成部３５は、投影データに基づいて被検体に関する画像データを再構成する。表示部３７は、再構成部３５により発生された画像データを表示機器に表示する。操作部３９は、入力機器によるユーザからの各種指令や情報入力を受け付ける。記憶部４１は、生データや投影データ、画像データを記憶する。また、記憶部４１は、制御プログラムを記憶している。システム制御部４３は、記憶部４１に記憶されている制御プログラムを読み出してメモリ上に展開し、展開された制御プログラムに従って各部を制御する。
以下、本実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影装置の詳細について説明する。
図２は、本実施形態に係るＸ線発生装置２５の構成を示す図である。図２に示すように、Ｘ線発生装置２５は、Ｘ線管１３とインバータ式高電圧発生部２３とを有している。インバータ式高電圧発生部２３は、直流電源部５１、インバータ部５３、高電圧変換部５５、管電圧検出部５７、管電流検出部５９、放電検出部６１、スイッチング制御部６３、及びゲート回路６５を有している。なお、本実施形態に係るインバータ式高電圧発生部２３の動作形式は、方形波型（非共振型）と共振型との何れのタイプにも適用可能である。
直流電源部５１は、架台１０が設置されている検査室等に設けられた電源設備からの交流に基づいて直流を発生する。具体的には、直流電源部５１は、整流回路と平滑コンデンサとを有している。整流回路は、電源設備からの交流を直流に整流する。平滑コンデンサは、整流回路により整流された交流を平滑する。この整流及び平滑により交流が直流に変換される。なお、直流電源部５１に電力を供給する電源は、電源設備のみに限定されず、コンデンサや蓄電池でも良い。
インバータ部５３は、直流電源部５１からの直流をスイッチングにより交流の出力パルスに変換する。インバータ部５３は、直流電源部５１と高電圧変換部５５との間に複数のスイッチを有している。インバータ部５３は、スイッチング制御部６３による制御に従うタイミングで複数のスイッチを選択的に切り替えることにより直流を交流の出力パルスに変換する。インバータ式高電圧発生部２３が方形波型の場合、インバータ部５３は、複数のスイッチを選択的に切り替えることにより、直流電源部５１からの直流電力を方形波の交流電圧パルス及び交流電流パルスに変換する。共振型の場合、インバータ部５３は、複数のスイッチを共振現象を利用して選択的に切り替えることにより、直流電源部５１からの直流電力を方形波の交流電圧パルス及び正弦波の交流電流、または、正弦波の交流電圧及び方形波の交流電流パルスに変換する。複数のスイッチの各々の切替周期に応じてインバータ部５３の出力パルスの周期及びパルス幅が決定される。出力パルスの周期及びパルス幅により管電圧の時間変化速度が調整される。
高電圧変換部５５は、インバータ部５３からの交流の出力パルスを直流の高電圧に変換する。具体的には、高電圧変換部５５は、高電圧変圧器と高電圧整流器とを有している。高電圧変圧器は、インバータ部５３からの出力電圧（一次電圧）を、絶縁磁気回路を介して交流の高電圧（二次電圧）に昇圧する。高電圧整流器は、高電圧変圧器により昇圧された交流の高電圧を直流の高電圧に整流する。この昇圧及び整流により交流の電圧パルスが直流の高電圧に変換される。
Ｘ線管１３は、高電圧変換部５５に陽極側ケーブルと陰極側ケーブルとを介して接続されている。Ｘ線管１３は、容器１３１内に陰極１３３と陽極１３５とを有している。高電圧変換部５５と陽極１３５とは陽極側ケーブルに接続され、高電圧変換部５５と陰極１３３とは陰極側ケーブルに接続される。容器１３１内は、真空に保たれている。陰極１３３は、フィラメント１３７を有している。フィラメント１３７は、図示しないフィラメント加熱変圧器からのフィラメント電流の供給を受けて加熱される。加熱されたフィラメント１３７は、熱電子を放出する。陽極１３５は、回転軸Ｒ回りに回転するターゲット１３９を有している。陰極１３３−陽極１３５間には、陽極側ケーブルと陰極側ケーブルとを介して高電圧変換部５５からの高電圧が印加される。フィラメント１３７から放出された熱電子は、高電圧による電界の作用によりターゲット１３９に衝突する。熱電子とターゲット１３９との相互作用によりＸ線が発生する。熱電子は、ターゲット１３９に衝突した後、陽極１３５から陽極側ケーブルへ流れる。
Ｘ線管１３と高電圧変換部５５との間には、管電圧検出部５７が接続されている。管電圧検出部５７は、陰極１３３−陽極１３５間に印加された高電圧を管電圧として検出する。検出された管電圧値のデータは、放電検出部６１とスイッチング制御部６３とに供給される。
陽極側ケーブルには、管電流検出部５９が接続されている。管電流検出部５９は、陰極１３３から陽極１３５に熱電子が流れることに起因して陽極側ケーブルに流れた電流を管電流として検出する。管電流値のデータは、放電検出部６１とスイッチング制御部６３とに供給される。
放電検出部６１は、管電圧値または管電流値の時間変化に基づいて、Ｘ線管１３に放電が発生したことを検出する。放電は、容器１３１内の真空度が劣化している場合、容器１３１内に絶縁破壊が生じて陰極１３３−陽極１３５間に異常な電流が流れてしまう現象である。放電が発生する場合、管電流が急峻に上昇し、また、管電圧が急峻に下降してしまう。放電検出部６１は、このような放電時に特異的なＸ線管出力値の時間変化を利用して放電を検出する。放電が検出された場合、放電検出部は、放電フラグをＯＦＦからＯＮに切り替える。放電フラグは、スイッチング制御部６３に伝達される。
スイッチング制御部６３は、インバータ部５３によるスイッチングを制御する。スイッチング制御部６３は、放電フラグがＯＮの期間（放電期間）と放電フラグがＯＦＦの期間（非放電期間）とで、インバータ部５３におけるスイッチングの制御方式を切り替える。非放電期間においてスイッチング制御部６３は、通常のフィードバック制御を実行する。すなわち、非放電期間においてスイッチング制御部６３は、管電圧値を設定管電圧値に維持するために、管電圧値と設定管電圧値とを利用してフィードバック制御を実行する。設定管電圧値は、Ｘ線条件として設定される管電圧値であり、画像再構成に用いる生データの収集時に要求される管電圧値である。放電期間においてスイッチング制御部６３は、管電圧値を時間経過に従って設定管電圧値までゆっくり上昇させるように、インバータ部５３のスイッチングを制御する。
図２に示すように、スイッチング制御部６３は、閾値設定部６３１、管電圧制御量決定部６３３、及びスイッチ駆動部６３５を有している。
閾値設定部６３１は、管電圧制御量決定部６３３において利用される閾値を設定する。閾値設定部６３１は、非放電期間と放電期間とにおいて閾値の設定方式を切り替える。非放電期間において閾値設定部６３１は、設定管電圧値を閾値に設定する。放電期間において閾値設定部６３１は、時間経過に従って徐々に設定管電圧値に近づけるように複数の暫定値を時間経過に従って小さい方から順番に閾値に設定する。閾値は、時間経過に従って連続的に上昇されても良いし、段階的に上昇されても良い。
管電圧制御量決定部６３３は、管電圧検出部５７からの管電圧値と閾値設定部６３１からの閾値とに基づいて管電圧制御量を決定する。具体的には、まず管電圧制御量決定部６３３は、管電圧値を閾値と比較する。次に管電圧制御量決定部６３３は、管電圧値と閾値との偏差に従って管電圧制御量を決定する。
スイッチ駆動部６３５は、管電圧制御量決定部６３３により決定された管電圧制御量に応じた切替タイミングでインバータ部５３内の複数のスイッチを個別に切り替える。
図２に示すように、ゲート回路６５は、スイッチング制御部６３のスイッチ駆動部６３５に接続されている。ゲート回路６５は、スイッチ駆動部６３５の駆動と停止とを繰り替える。具体的には、ゲート回路６５は、スイッチ駆動部６３５を駆動するために、架台制御部２１からの開始指令を受けてスイッチ駆動部６３５にゲートパルスを供給する。ゲートパルスの印可を受けたことを契機としてスイッチ駆動部６３５は、上記の通り、複数のスイッチの切り替えを実行する。また、ゲート回路６５は、スイッチ駆動部６３５の駆動を停止するため、架台制御部２１からの停止指令を受けてスイッチ駆動部６３５に停止信号を供給する。停止信号は、スキャンシーケンスの終了時に供給される。停止信号の供給を受けてスイッチ駆動部６３５は、複数のスイッチの切り替えを停止する。これにより、インバータ式高電圧発生部２３の動作が停止する、すなわち、管電圧の印加が停止し、Ｘ線の発生が停止する。
次に、ＣＴスキャン実行時におけるＸ線発生装置２５の動作例をスイッチング制御部６３の動作を中心として説明する。本実施形態に係るスイッチ制御としては、パルス幅変調方式と周波数変調方式とが挙げられる。パルス幅変調方式は、インバータ部５３の出力パルスのパルス幅を経時的に変化させることにより管電圧値を変化させる方式である。周波数変調方式は、インバータ部５３の出力パルスの周波数を経時的に変化させることにより管電圧値を変化させる方式である。以下、パルス幅変調方式の場合と周波数変調方式の場合とについて順番に説明する。なお、以下の説明において放電検出部６１は、管電圧値を利用して放電を検出するものとする。
図３は、Ｘ線発生装置２５により行われるパルス幅変調方式の動作のタイミングチャートの一例を示す図である。図３の（ａ）は、管電圧値のグラフであり、図３の（ｂ）は、インバータ部からの出力パルスの時間変化を示す図であり、図３の（ｃ）は、インバータ部からの出力パルスのパルス幅のグラフである。図３の（ａ）の縦軸は管電圧値に規定され、横軸は時間に規定される。図３の（ｂ）の縦軸は出力パルスの出力値に規定され、横軸は時間に規定される。図３の（ｃ）の縦軸は出力パルスのパルス幅に規定され、横軸は時間に規定される。
ＣＴスキャン中、放電検出部６１は、管電圧検出部５７からの管電圧値の時間微分値をモニタリングし、時間微分値が放電検出のための閾値（以下、放電検出閾値と呼ぶ）を超えるか否かを繰り返し判定する。放電検出部６１は、管電圧値の時間微分値が放電検出閾値を超えていないと判定した場合、放電フラグをＯＦＦに設定する。放電検出閾値は、操作部３９等を介して任意に設定可能である。放電フラグがＯＦＦである非放電期間において閾値設定部６３１は、設定管電圧値Ｔｈｓに閾値を設定する。管電圧制御量決定部６３３は、管電圧検出部５７からの管電圧値を設定管電圧値Ｔｈｓと比較して管電圧制御量を決定する。スイッチ駆動部６３５は、決定された管電圧制御量に従う切替タイミングでインバータ部５３内の各スイッチを個別に切り替え、管電圧制御量に応じたパルス幅の出力パルスがインバータ部５３から出力される。この出力パルスに応じた高電圧が陰極１３３−陽極１３５間に印加される。これにより管電圧値は、設定管電圧値Ｔｈｓに維持される。
Ｘ線管１３の容器１３１内において放電が発生した場合、管電圧が急峻に降下し、管電圧値の時間微分値が急峻に上昇する。放電検出部６１は、管電圧値の時間微分値が放電検出閾値を超えたと判定した場合、放電フラグをＯＮに設定する。放電フラグがＯＮである放電期間において閾値設定部６３１は、複数の暫定閾値Ｔｈを小さい方から順番に閾値に設定する。
具体的には、放電が検出された場合、閾値設定部６３１は、最小の暫定閾値Ｔｈ１を閾値に即時的に設定する。管電圧制御量決定部６３３は、管電圧検出部５７からの管電圧値を最小の暫定閾値Ｔｈ１と比較して管電圧制御量を決定する。スイッチ駆動部６３５は、決定された管電圧制御量に従う切替タイミングでインバータ部５３内の各スイッチを個別に切り替え、管電圧制御量に応じたパルス幅の出力パルスがインバータ部５３から繰り返し出力される。この出力パルスに応じた高電圧が陰極１３３−陽極１３５間に印加される。これにより管電圧値は、第１の暫定閾値Ｔｈ１に向けて上昇する。
所定の条件が満たされた後、閾値設定部６３１は、最小の暫定閾値Ｔｈ１よりも一段階大きい暫定閾値Ｔｈ２に設定する。所定の条件は、例えば、一定期間が経過されたことであっても良いし、管電圧値が閾値まで上昇したことであっても良い。管電圧制御量決定部６３３は、管電圧検出部５７からの管電圧値を第２の暫定閾値Ｔｈ２と比較して管電圧制御量を決定する。スイッチ駆動部６３５は、決定された管電圧制御量に従う切替タイミングでインバータ部５３内の各スイッチを個別に切り替え、管電圧制御量に応じたパルス幅の出力パルスがインバータ部５３から繰り返し出力される。この出力パルスに応じた高電圧が陰極１３３−陽極１３５間に印加される。これにより管電圧値は、第２の暫定閾値Ｔｈ２に向けて上昇する。
このように、所定の条件が満たされる毎に、閾値設定部６３１は、１段階大きい暫定閾値ｔｈに閾値を設定する。その後、同様に、新たに設定された暫定閾値について管電圧制御量が決定され、管電圧制御量に従うタイミングでインバータ部５３内のスイッチが切り替えられる。
放電検出部６１は、放電期間の間、管電圧検出部５７からの管電圧をモニタリングし、管電圧値が放電期間の解除のための閾値（以下、放電期間解除閾値と呼ぶ）に到達したか否かを繰り返し判定している。放電検出部６１は、管電圧値が放電期間解除閾値に到達していないと判定した場合、放電フラグをＯＮに維持する。管電圧値が放電期間解除閾値に到達したと判定した場合、放電フラグをＯＦＦに変更する。これにより放電期間が解除され、非放電期間に移行する。
このようにパルス幅変調方式においてスイッチング制御部６３は、フィードバック制御のための閾値を時間経過に従って徐々に引き上げ、インバータ部５３の出力パルスのパルス幅を徐々に大きくする。これにより、放電により急降下した管電圧値を徐々に設定管電圧値にまで引き上げることができる。
次に、周波数変調方式におけるＸ線発生装置２５の動作例について説明する。なお、パルス幅変調方式におけるＸ線発生装置２５の動作例との重複部分についての説明は省略する。
図４は、Ｘ線発生装置２５により行われる周波数変調方式の動作のタイミングチャートの一例を示す図である。図４の（ａ）は、管電圧値のグラフであり、図４の（ｂ）は、インバータ部５３からの出力パルスの時間変化を示す図であり、図４の（ｃ）は、インバータ部５３からの出力パルスの周波数のグラフである。図４の（ａ）の縦軸は管電圧値に規定され、横軸は時間に規定される。図４の（ｂ）の縦軸は出力パルスの出力値に規定され、横軸は時間に規定される。図４の（ｃ）の縦軸は出力パルスの周波数に規定され、横軸は時間に規定される。
図４に示すように、放電が検出された場合、閾値設定部６３１は、最小の暫定閾値Ｔｈ１を閾値に即時的に設定する。管電圧制御量決定部６３３は、管電圧検出部５７からの管電圧値を最小の暫定閾値Ｔｈ１と比較して管電圧制御量を決定する。スイッチ駆動部６３５は、決定された管電圧制御量に従う切替タイミングでインバータ部５３内の各スイッチを個別に切り替え、管電圧制御量に応じた周波数で出力パルスがインバータ部５３から繰り返し出力される。この出力パルスに応じた高電圧が陰極１３３−陽極１３５間に印加される。これにより管電圧値は、第１の暫定閾値に向けて上昇する。
所定の条件が満たされた後、閾値設定部６３１は、最小の暫定閾値Ｔｈ１よりも一段階大きい暫定閾値Ｔｈ２に設定する。所定の条件は、例えば、一定期間が経過されたことであっても良いし、管電圧値が閾値まで上昇したことであっても良い。管電圧制御量決定部６３３は、管電圧検出部５７からの管電圧値を第２の暫定閾値と比較して管電圧制御量を決定する。スイッチ駆動部６３５は、決定された管電圧制御量に従う切替タイミングでインバータ部５３内の各スイッチを個別に切り替え、管電圧制御量に応じた周波数で出力パルスがインバータ部５３から繰り返し出力される。この出力パルスに応じた高電圧が陰極１３３−陽極１３５間に印加される。これにより管電圧値は、第２の暫定閾値に向けて上昇する。
このようにパルス幅変調方式においてスイッチング制御部６３は、フィードバック制御のための閾値を時間経過に従って徐々に引き上げ、インバータ部５３の出力パルスの周波数を徐々に大きくする。これにより、放電により急降下した管電圧値を徐々に設定管電圧値にまで引き上げることができる。
なお、本実施形態においてゲート回路６５は、放電検出部６１により放電が検出された場合であってもスイッチ駆動部６３５による複数のスイッチの切り替えを継続させる。従って本実施形態に係るインバータ式高電圧発生部２３は、放電が検出された場合であっても作動し続ける。
図５と図７とを参照しながら、本実施形態と従来例とに係るインバータ式高電圧発生部の動作シーケンスを比較する。図５は、本実施形態に係るインバータ式高電圧発生部２３の動作のタイミングチャートを管電圧の時間変化とともに示す図であり、図７は、従来例に係るインバータ式高電圧発生部の動作のタイミングチャートを管電圧の時間変化とともに示す図である。なお従来例とは、放電の発生前後でパルス幅又は周波数を変調しない方式であるとする。図７に示すように、従来例に係るインバータ式高電圧発生部は、放電が検出されたことを契機として、Ｘ線管内の雰囲気が安定するまで作動を停止していた。すなわち、ゲート回路によりスイッチ駆動部のスイッチ切り替えが停止されていた。従って、図７の場合、放電が発生してから管電圧が目標管電圧値に到達するまでの復帰時間（放電期間の時間長）は、１００ｍｓ程度であった。また、図８に示すように、放電が検出された場合であっても目標管電圧値に対応するパルス幅を維持した場合、放電発生からの管電圧値の急峻な立ち上がりにより放電が誘発されたり、インバータ式高電圧発生部が損傷したりしてしまう。
図５に示すように、本実施形態に係るインバータ式高電圧発生部２３は、上記の通り、放電が検出されたことを契機として、管電圧値が目標管電圧値まで緩やかに上昇するようにパルス幅又は周波数を制御する。この際、本実施形態に係るインバータ式高電圧発生部２３は、放電が検出された場合であっても作動し続けている。すなわち、ゲート回路６５によりスイッチ駆動部６３５が停止されず、複数のスイッチの切り替えが継続されている。従って、本実施形態に係るインバータ式高電圧発生部２３は、従来例に比して短い時間で放電期間から回復することができる。
なお、放電により設定管電圧値よりも管電圧値が低下している期間において収集された投影データは、再構成画像にアーチファクトを発生させる。放電が発生している期間は、数ｍ秒と比較的短い。本実施形態に係る補正部３３は、設定管電圧値よりも管電圧値が低下している期間において収集された投影データを、画像再構成に利用できる程度に修復する。
図６は、補正部３３による投影データの補正処理を説明するための図である。図６に示すように、ＣＴスキャン中、Ｘ線管１３は、回転フレームの回転に伴い回転軸Ｚ回りを回転しながら、Ｘ線を照射している。ここで放電期間におけるビュー区間を放電ビュー区間Ｓ１、非放電期間におけるビュー区間を非放電ビュー区間Ｓ２と呼ぶことにする。放電ビュー区間Ｓ１は、放電検出された時点のビューを含んでいる。放電ビュー区間Ｓ１に関する投影データは、管電圧値が設定管電圧値よりも低い状態で収集された生データに基づく。従って、放電ビュー区間Ｓ１に関する投影データは、そのままでは画像再構成に利用することはできない。放電ビュー区間Ｓ１に関する投影データが補正部３３による補正対象となる。
補正部３３は、放電ビュー区間Ｓ１に関する投影データを、非放電ビュー区間Ｓ２であって、放電ビュー区間Ｓ１よりも時刻的に前のビュー区間（以下、放電前ビュー区間と呼ぶ）Ｓ２１に属する投影データと放電ビュー区間Ｓ１よりも時刻的に後のビュー区間（以下、放電後ビュー区間と呼ぶ）Ｓ２２に属する投影データとに基づいて補正する。例えば、補正部３３は、放電前ビュー区間Ｓ２１に関する投影データと放電後ビュー区間Ｓ２２に関する投影データとの少なくとも一方の投影データに基づいて放電ビュー区間にＳ１関する投影データを補正する。例えば、補正部３３は、放電前ビュー区間Ｓ２１と放電後ビュー区間Ｓ２２とは、補正部３３により自動的に設定されても良いし、ユーザにより操作部３９を介して任意に設定可能である。放電前ビュー区間Ｓ２１と放電後ビュー区間Ｓ２２との各々は、複数のビューではなく単一のビューであっても良い。
Ｘ線管１３が複数回周回しないスキャン方式の場合、放電前ビュー区間と放電ビュー区間とは放電ビュー区間に隣接するビュー区間に自動的に設定されると良い。また、放電ビュー区間に関する投影データの各Ｘ線パスと同一のＸ線パスが非放電ビュー区間に存在する場合、放電ビュー区間におけるＸ線パスの投影データを非放電ビュー区間におけるＸ線パスの投影データに置き換えても良い。
Ｘ線管１３が複数回周回するスキャン方式の場合、放電前ビュー区間と放電ビュー区間とは、放電ビュー区間と同一のビュー区間、あるいは、１８０度異なるビュー区間に設定されると良い。さらに天板１７が静止している場合、補正部３３は、放電前ビュー区間に関する投影データまたは放電後ビュー区間に関する投影データで放電ビュー区間に関する投影データを置き換えても良い。
補正処理の終了後、再構成部３５は、放電ビュー区間に関する補正後の投影データと非放電ビュー区間に関する投影データとに基づいて画像を再構成する。再構成画像に含まれる放電に起因するアーチファクト成分は、補正部３３による補正処理を実行しない場合に比して減少する。
なお、画像再構成において、放電ビュー区間に属する投影データを必ずしも用いる必要はない。再構成部３５は、非放電ビュー区間に属する投影データに基づいて画像を再構成しても良い。上記の通り、本実施形態に係るインバータ式高電圧発生部２３は、放電の発生からの復帰時間を従来例に比して短縮することができる。従って、放電ビュー区間に属する投影データを利用しないで再構成された本実施形態に係る画像は、従来例に係る画像に比して放電に起因するアーチファクト成分が少ない。放電ビュー区間に属する投影データを用いるか否かは、ユーザにより操作部３９を介して任意に設定可能である。
また、本実施形態に係るスイッチング制御部６３は、スキャンモードに応じて放電からの復帰までの時間を変更しても良い。例えば、心臓スキャン等の高時間分解能が要求されるスキャンモードの場合、架台制御部２１は、放電が検出された場合であってもスイッチング制御部６３を作動し続けるために、ゲート回路６５に停止指令を供給しない。この場合、スイッチング制御部６３は、放電からの復帰までの時間を従来に比して短縮するため、上記の通り、放電が検出されたことを契機として、実測管電圧値を目標管電圧値まで緩やかに上昇させるために、インバータ部５３の出力パルスのパルス幅又は周波数を変調制御する。
頭部スキャンの場合等の高時間分解能が要求されないスキャンモードの場合、架台制御部２１は、放電が検出されたことを契機としてゲート回路６５に停止指令を即時的に供給する。停止指令を受けたゲート回路６５は、スイッチング制御部６３を一時的に停止する。既定の停止期間は、例えば、Ｘ線管１３内の雰囲気が安定するまでの時間が良い。なお停止期間は、これに限定されず、任意の時間に操作部３９を介して設定可能である。停止期間の経過後、架台制御部２１は、ゲート回路６５に開始指令を即時的に供給する。開始指令の受けたゲート回路６５は、スイッチ駆動部６３５にゲートパルスを供給する。ゲートパルスの印可を受けたことを契機としてスイッチ駆動部６３５は、上記の通り、放電が検出されたことを契機として、実測管電圧値を目標管電圧値まで緩やかに上昇させるために、インバータ部５３の出力パルスのパルス幅又は周波数を変調制御する。
このように、本実施形態に係るスイッチング制御部６３は、スキャンモードに応じて、放電の検出からパルス幅又は周波数の変調制御の開始までの時間を変更することにより、放電からの復帰までの時間を変更する。
以下、本実施形態に係る効果について説明する。
従来例のように放電検出後、管電圧値を設定管電圧値まで急速に上昇させる場合、Ｘ線管内の雰囲気が安定しないので放電を誘発しやすかった。従って従来においては、放電検出時に即時的にＸ線管への電力の供給を遮断し、Ｘ線出力を一時的に停止させ、Ｘ線管内の雰囲気が安定してからＸ線管への電力供給を再開しＸ線出力させていた。この場合、画像再構成に利用不可能な投影データ量が多く、再構成画像に激しいアーチファクトが発生してしまう。また、Ｘ線管への電力供給を遮断することなく、管電圧値を設定管電圧値まで急速に上昇させる場合、さらなる放電が発生し、結果的に画像再構成に利用可能な投影データ量が少なり、やはり再構成画像に激しいアーチファクトが発生してしまう。
本実施形態に係るＸ線発生装置２５は、放電検出後、Ｘ線管１３への電力の供給を遮断することなく、管電圧値を設定管電圧値まで徐々に上昇させる。従って、Ｘ線管１３内の雰囲気を安定させながら管電圧値を設定管電圧値まで上昇させることができるので、放電の誘発を招きにくい。結果的にＸ線発生装置２５は、従来例に比して、迅速に管電圧値を設定管電圧値まで回復させることができ、放電に由来するアーチファクト成分を含むデータ量が従来例に比して少なる。従ってＸ線発生装置２５は、再構成画像のアーチファクトを従来例に比して低減させることができる。また、本実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影装置は、再構成画像の画質を向上させるため、放電ビュー区間に関する投影データを非放電ビュー区間に関する投影データに基づいて修復することができる。
かくして本実施形態によれば、放電に起因する画像アーチファクトを低減することが可能となる。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
１０…架台、１１…回転フレーム、１３…Ｘ線管、１５…Ｘ線検出器、１７…天板、１９…回転駆動部、２１…架台制御部、２３…インバータ式高電圧発生部、２５…Ｘ線発生装置、２７…データ収集部、２９…伝送部、３０…コンソール、３１…前処理部、３３…補正部、３５…再構成部、３７…表示部、３９…操作部、４１…記憶部、４３…システム制御部、５１…直流電源部、５３…インバータ部、５５…高電圧変換部、５７…管電圧検出部、５９…管電流検出部、６１…放電検出部、６３…スイッチング制御部、６５…ゲート回路、６３１…閾値設定部、６３３…管電圧制御量決定部、６３５…スイッチ駆動部

Claims (7)

  1. Ｘ線を発生するＸ線管と、
    前記Ｘ線管に印加される高電圧を発生するインバータ式高電圧部と、
    前記Ｘ線管から発生されたＸ線を検出するＸ線検出器と、
    前記Ｘ線管と前記Ｘ線検出器とを支持する支持機構と、
    前記Ｘ線検出器からの出力データに基づいて画像データを再構成する再構成部と、
    を具備するＸ線コンピュータ断層撮影装置であって、
    前記インバータ式高電圧部は、
    直流を発生する直流電源部と、
    前記直流電源部からの直流をスイッチングにより交流に変換するインバータ部と、
    前記インバータ部からの交流の出力パルスを前記Ｘ線管に印加される高電圧に変換する高電圧変換部と、
    前記Ｘ線管における放電を検出する検出部と、
    前記放電が検出されたことを契機として、前記Ｘ線管の実測管電圧値を目標管電圧値までゆるやかに上昇させるため、前記インバータ部のスイッチングを制御して前記インバータ部からの交流の出力パルスのパルス幅又は周波数を変化させる制御部と、を備え、
    前記制御部は、前記放電が検出された後に実測管電圧値が前記目標管電圧値に復帰するまでの時間をスキャンモードに応じて変化させる、
    Ｘ線コンピュータ断層撮影装置。
  2. 前記制御部は、前記放電が検出されていない場合、前記Ｘ線管の実測管電圧値と目標管電圧値とに従って前記Ｘ線管の実測管電圧値を前記目標管電圧値に即時的に一致させるフィードバック制御を実行する、請求項１記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
  3. 前記インバータ部は、前記直流電源部からの直流を前記交流の出力パルスに変更するための複数のスイッチを有し、
    前記制御部は、前記放電が検出されたことを契機として、前記Ｘ線管の実測管電圧値を前記目標管電圧値までゆるやかに上昇させるように、前記複数のスイッチの各々の切替タイミングを時間経過に伴って変化させる、
    請求項１記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
  4. 前記インバータ式高電圧部は、前記直流電源部からの直流を前記交流の出力パルスに変更するための複数のスイッチを有し、
    前記制御部は、前記実測管電圧値と前記目標管電圧値との偏差に従って管電圧制御量を決定する決定部と、前記管電圧制御量に応じて複数のスイッチを個別に切り替えるスイッチ駆動部と、スイッチ駆動部の作動と停止とを切り替えるゲート回路と、をさらに備え、
    前記スイッチ駆動部は、前記スイッチ駆動部の作動と停止とを切り替えるゲート回路に接続され、
    前記ゲート回路は、前記放電が検出された場合であっても前記スイッチ駆動部を作動し続ける、
    請求項１記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
  5. 前記放電が検出されたビューを含む放電ビュー区間に属する出力データを、前記放電ビュー区間よりも時刻的に前の放電前ビュー区間に属する出力データと、前記放電ビュー区間よりも時刻的に後の放電後ビュー区間に属する出力データとの少なくとも一方に基づいて補正する補正部、をさらに備える請求項１記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
  6. 前記再構成部は、前記放電が検出されたビューを含む放電ビュー区間以外のビュー区間に属する出力データに基づいて前記画像データを再構成する、請求項１記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
  7. 直流を発生する直流電源部と、
    前記直流をスイッチングにより交流の出力パルスに変換するインバータ部と、
    前記交流の出力パルスを高電圧に変換する高電圧変換部と、
    前記高電圧の印加を受けてＸ線を発生するＸ線管と、
    前記Ｘ線管における放電を検出する検出部と、
    前記放電が検出されたことを契機として、前記Ｘ線管の実測管電圧値を目標管電圧値までゆるやかに上昇させるため、前記インバータ部のスイッチングを制御して前記インバータ部からの交流の出力パルスのパルス幅又は周波数を変化させる制御部と、
    を具備するＸ線発生装置であって、
    前記制御部は、前記放電が検出された後に実測管電圧値が前記目標管電圧値に復帰するまでの時間をスキャンモードに応じて変化させる、
    Ｘ線発生装置。
JP2014003523A 2013-01-10 2014-01-10 Ｘ線コンピュータ断層撮影装置及びｘ線発生装置 Active JP6362865B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014003523A JP6362865B2 (ja) 2013-01-10 2014-01-10 Ｘ線コンピュータ断層撮影装置及びｘ線発生装置
PCT/JP2014/050366 WO2014109400A1 (ja) 2013-01-10 2014-01-10 Ｘ線コンピュータ断層撮影装置及びｘ線発生装置
US14/746,191 US9877694B2 (en) 2013-01-10 2015-06-22 X-ray computed tomography apparatus and X-ray generation apparatus

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013002893 2013-01-10
JP2013002893 2013-01-10
JP2014003523A JP6362865B2 (ja) 2013-01-10 2014-01-10 Ｘ線コンピュータ断層撮影装置及びｘ線発生装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014147692A JP2014147692A (ja) 2014-08-21
JP6362865B2 true JP6362865B2 (ja) 2018-07-25

Family

ID=51167044

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014003523A Active JP6362865B2 (ja) 2013-01-10 2014-01-10 Ｘ線コンピュータ断層撮影装置及びｘ線発生装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9877694B2 (ja)
JP (1) JP6362865B2 (ja)
WO (1) WO2014109400A1 (ja)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6479438B2 (ja) * 2014-11-25 2019-03-06 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 Ｘ線高電圧装置、ｘ線コンピュータ断層撮影装置、及びｘ線診断装置
CN105992446B (zh) * 2015-02-05 2018-11-16 锐珂（上海）医疗器材有限公司 x射线成像装置及用于x射线成像的方法
KR101642089B1 (ko) * 2015-06-17 2016-07-22 성균관대학교산학협력단 의료용 전자가속기의 전자총 전원공급장치
KR101689361B1 (ko) * 2015-06-17 2016-12-26 성균관대학교산학협력단 의료용 전자가속기의 삼극관 전자총 전원공급장치
KR101689359B1 (ko) * 2015-06-17 2016-12-23 성균관대학교산학협력단 의료용 전자가속기의 이극관 전자총 전원공급장치
DE102017106747A1 (de) * 2017-03-29 2018-10-04 Erbe Elektromedizin Gmbh Generator zur Versorgung eines Koagulationsinstruments und Steuerungsverfahren für diesen
JP6849521B2 (ja) * 2017-05-01 2021-03-24 キヤノン電子管デバイス株式会社 Ｘ線システムおよびｘ線管検査方法
EP3399341A1 (en) 2017-05-04 2018-11-07 Koninklijke Philips N.V. Dose modulation for a photon scanning apparatus
JP7062514B2 (ja) * 2018-05-22 2022-05-06 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 Ｘ線ｃｔ装置、およびｘ線管制御装置
JP7233972B2 (ja) * 2019-03-04 2023-03-07 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 Ｘ線診断システム
CN110074808A (zh) * 2019-04-30 2019-08-02 上海医乐信息科技有限公司 新能源高压发生器及新能源计算机断层成像设备
US11147151B2 (en) * 2019-05-07 2021-10-12 Shimadzu Corporation Rotary anode type X-ray tube apparatus comprising rotary anode driving device
JP7345342B2 (ja) * 2019-10-04 2023-09-15 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 Ｘ線発生装置およびｘ線ｃｔ装置
KR102675001B1 (ko) * 2022-04-21 2024-06-13 주식회사 레메디 엑스선 발생 장치

Family Cites Families (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4654770A (en) * 1983-12-22 1987-03-31 General Electric Company Current-limit circuit in X-ray generator
US4601051A (en) * 1983-12-22 1986-07-15 General Electric Company Protective circuit for X-ray generator
JPS60262400A (ja) * 1984-06-08 1985-12-25 Hitachi Medical Corp Ｘ線高電圧装置
JPS628499A (ja) * 1985-07-04 1987-01-16 Toshiba Corp 高電圧発生装置
JPH07118915B2 (ja) * 1987-01-30 1995-12-18 株式会社日立メデイコ 共振型ｄｃ−ｄｃコンバ−タ
JPS6489198A (en) * 1987-09-30 1989-04-03 Toshiba Corp X-ray high-voltage device
JPH03210799A (ja) * 1990-01-12 1991-09-13 Toshiba Corp Ｘ線診断装置
JPH0675437B2 (ja) 1990-03-31 1994-09-21 株式会社島津製作所 Ｘ線高電圧装置
US5187737A (en) * 1990-08-27 1993-02-16 Origin Electric Company, Limited Power supply device for X-ray tube
JP2544614Y2 (ja) * 1991-03-15 1997-08-20 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 Ｘ線発生用高電圧発生装置
US5339348A (en) * 1992-11-02 1994-08-16 General Electric Company X-ray tube rotor controller using the main high voltage inverters for acceleration
US5400385A (en) * 1993-09-02 1995-03-21 General Electric Company High voltage power supply for an X-ray tube
US5602897A (en) * 1995-06-29 1997-02-11 Picker International, Inc. High-voltage power supply for x-ray tubes
JPH09115685A (ja) 1995-10-20 1997-05-02 Toshiba Fa Syst Eng Kk Ｘ線発生装置および該ｘ線発生装置を用いたｘ線検査装置
JP3736917B2 (ja) * 1996-09-26 2006-01-18 株式会社日立メディコ インバータ式ｘ線高電圧装置
US6738275B1 (en) * 1999-11-10 2004-05-18 Electromed Internationale Ltee. High-voltage x-ray generator
DE10048146A1 (de) * 2000-09-28 2002-04-11 Philips Corp Intellectual Pty Spannungsversorgung für Röntgengenerator
JP4785265B2 (ja) * 2001-04-12 2011-10-05 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー Ｘ線ｃｔシステムおよびその操作コンソールおよびその制御方法
JP3866955B2 (ja) * 2001-10-12 2007-01-10 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー Ｘ線ｃｔシステムおよびその制御方法
DE10159897A1 (de) * 2001-12-06 2003-06-26 Philips Intellectual Property Spannungsversorgung für Röntgengenerator
JP4306209B2 (ja) * 2002-09-09 2009-07-29 株式会社日立メディコ 中性点接地方式のｘ線発生装置及びこれを用いたｘ線ｃｔ装置
WO2004103033A1 (ja) * 2003-05-15 2004-11-25 Hitachi Medical Corporation X線発生装置
JP4392746B2 (ja) * 2003-05-23 2010-01-06 株式会社日立メディコ Ｘ線高電圧装置
JP4587672B2 (ja) 2004-01-07 2010-11-24 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー 放射線断層撮影装置および放射線断層撮影方法
FR2869480B1 (fr) * 2004-04-21 2006-07-07 Ge Med Sys Global Tech Co Llc Alimentation stabilisee pour tubes a rayons x
CN101111988B (zh) * 2005-01-28 2010-05-26 皇家飞利浦电子股份有限公司 X射线管的模块化供电及其方法
JP5309422B2 (ja) * 2006-02-17 2013-10-09 株式会社島津製作所 Ｘ線高電圧装置
JP5063609B2 (ja) * 2006-10-25 2012-10-31 株式会社日立メディコ Ｘ線発生装置
ATE545194T1 (de) * 2008-03-06 2012-02-15 Koninkl Philips Electronics Nv Steuereinheit für einen gleichstrom-wechselstrom- wandler einer resonanten stromwandlungsschaltung, insbesondere für einen gleichstrom-wechselstrom- wandler zur verwendung in einem hochspannungsgeneratorschaltkreis einer modernen computertomographievorrichtung oder eines röntgensystems
US8588371B2 (en) * 2008-11-05 2013-11-19 Hitachi Medical Corporation Phase shift inverter, X-ray high-voltage device using same, X-ray CT device, and X-ray imaging device
CN102754326B (zh) * 2010-02-09 2014-12-03 株式会社日立医疗器械 电力转换装置、x射线ct装置以及x射线拍摄装置
JP4958052B2 (ja) 2010-02-24 2012-06-20 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー 系統電力平準化装置および画像診断システム
US8861681B2 (en) * 2010-12-17 2014-10-14 General Electric Company Method and system for active resonant voltage switching
JP5758155B2 (ja) * 2011-03-10 2015-08-05 株式会社東芝 Ｘ線ｃｔ装置
US9438120B2 (en) * 2014-01-22 2016-09-06 General Electric Company Systems and methods for fast kilovolt switching in an X-ray system

Also Published As

Publication number Publication date
US20150289352A1 (en) 2015-10-08
JP2014147692A (ja) 2014-08-21
WO2014109400A1 (ja) 2014-07-17
US9877694B2 (en) 2018-01-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6362865B2 (ja) Ｘ線コンピュータ断層撮影装置及びｘ線発生装置
US8184768B2 (en) X-ray CT apparatus and method for controlling X-ray tube
US9992855B2 (en) Energy imaging with controlled rise and fall times
US20080152073A1 (en) X-ray ct apparatus, method of controlling the same, and program
US9717469B2 (en) X-ray computed tomography apparatus, high voltage generation device, and radiological image diagnostic apparatus
US9970889B2 (en) Energy imaging with generally constant energy separation
JP6858648B2 (ja) Ｘ線高電圧装置、ｘ線撮影装置、及び判定回路
JP6822807B2 (ja) Ｘ線コンピュータ断層撮影装置
JP5570746B2 (ja) Ｘ線コンピュータ断層撮像装置
US10660190B2 (en) X-ray computed tomography apparatus
JP7086622B2 (ja) Ｘ線コンピュータ断層撮影装置
JP6313051B2 (ja) Ｘ線コンピュータ断層撮影装置
JP6139262B2 (ja) Ｘ線高電圧装置
JP5685449B2 (ja) Ｘ線高電圧装置およびｘ線ｃｔ装置
CN104904322B (zh) X射线计算机断层摄影装置及x射线发生装置
US10863962B2 (en) X-ray computed tomography apparatus and contrast medium inflow amount detection method
JP6169890B2 (ja) Ｘ線管制御装置及びｘ線ｃｔ装置
JP5716069B2 (ja) Ｘ線ｃｔ装置
JP6173700B2 (ja) Ｘ線高電圧装置及びｘ線ｃｔ装置
JP6858582B2 (ja) Ｘ線撮像装置
JP2017157433A (ja) Ｘ線高電圧装置及びｘ線ｃｔ装置
JP7034628B2 (ja) Ｘ線高電圧装置及びｘ線画像診断装置
JP6359245B2 (ja) Ｘ線コンピュータ断層撮影装置
JP2015231492A (ja) Ｘ線コンピュータ断層撮影装置、ｘ線高電圧装置、管電圧発生方法および管電圧発生プログラム

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20160512

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20161213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20171128

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180123

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180529

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180627

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6362865

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150