JP6325120B2 - 抵抗変化型メモリデバイスを用いた物理的複製防止機能回路 - Google Patents

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Description

ランダム且つ一意のワンタイム暗号化キーの生成は、特に、キーがローカルで生成されて、マスターキー管理システムによって分配されない場合に、困難である。同じように、製品/部品の一意の識別は、違法製品が市場に供給されることを回避するために部品の信頼性を証明する製造業が直面する困難な課題である。
本開示の実施形態は、以下で与えられている詳細な説明から、及び本開示の様々な実施形態の添付の図面から、より完全に理解されるであろう。なお、実施形態は、本開示を具体的な実施形態に制限するものと解されるべきではなく、単に説明及び理解のためである。
本開示の一実施形態に従って、単一の抵抗変化型メモリデバイスを用いた物理的複製防止機能(PUF;Physically Unclonable Function)回路を表す。
低い抵抗を有する磁気トンネル接合(MTJ;magnetic tunneling junction)に基づいた抵抗変化型メモリデバイスを表す。
高い抵抗を有するMTJに基づいた抵抗変化型メモリデバイスを表す。
本開示の一実施形態に従って、複数の抵抗変化型メモリデバイスを備えたPUF回路を表す。
本開示の一実施形態に従って、複数の抵抗変化型メモリデバイス及び自動ゼロ化コンパレータを備えたPUF回路を表す。
本開示の他の実施形態に従って、複数の抵抗変化型メモリデバイス及び自動ゼロ化コンパレータを備えたPUF回路を表す。
本開示の他の実施形態に従って、図3又は図4のPUF回路のアレイを備えたPUF回路を表す。
本開示の他の実施形態に従って、単一の抵抗変化型メモリデバイスを用いたPUF回路を表す。
本開示の一実施形態に従って、抵抗変化型メモリデバイスを用いたPUF回路を備えたスマートデバイス又はコンピュータデバイス又はSoC(System-on-Chip)である。
上記の適用の両方に対処するいくつかの方法が提案されている。最も一般的な技術の1つは、物理的複製防止機能(PUF)と呼ばれる。PUFにおいて、製造に起因した物理的な変動は、一意のID又はキーを生成するのに利用される。集積回路(IC;integrated circuit)において、そのような変動は顕著であり、統合されたPUF回路を構築するために効果的に利用され得る。それらの統合的性質により、リバース・エンジニアリングを行って基礎をなす回路を特定し、違法回路においてPUFの性質を再現することは、困難である。
結果として、顧客に供給される多くのICはPUF回路を組み込まれている。PUF回路は困難に直面している。例えば、正しいチップが違法チップとして特定される誤拒否率であるFRR(false rejection rate)、及び違法チップが正しいチップとして特定される誤受入率であるFAR(false acceptance rate)がある。FAR及びFRRは、μインター、μイントラ、σインター及びσイントラのようなパラメータに基づき推定され得る。回路に基づくPUF(例えば、0.35μmプロセスノードにおける。)において、μインターは、1.3%近くで達成され得(理想:0%)、μイントラは、50%近くで達成され得る(理想:50%)。既知のPUF回路は、シグニチャを生成するためにトランジスタの閾電圧変動を使用する。しかし、縮小された配置では、PUF性能は低下し、代替のスキームが、理想的なPUF性能を達成するために必要とされる。
いくつかの実施形態では、少なくとも2つの端子を備えた抵抗変化型メモリデバイスと;前記抵抗変化型メモリデバイスの前記少なくとも2つの端子のうちの1つへ結合されるトランジスタと;前記抵抗変化型メモリデバイスの前記少なくとも2つの端子のうちの前記1つへ結合される入力を備えたアナログ/デジタル変換器(ADC;analog-to-digital converter)とを有するPUF回路が記載される。いくつかの実施形態では、夫々のビットセルが独立に制御可能である、複数の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルと;夫々のビットセルへ結合されるアナログ・マルチプレクサと;前記アナログ・マルチプレクサの出力をデジタル表現へ変換するADCとを有するPUF回路が記載される。
いくつかの実施形態では、複数の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルであり、夫々の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルは独立に制御可能であり、夫々の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルは、第1端子が抵抗変化型メモリデバイスへ結合され且つ第2端子がトランジスタへ結合されるように前記第1端子及び前記第2端子を備える、前記複数の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルと;全ての抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルの前記第1端子又は前記第2端子の1つへ結合される入力を備えた自動ゼロ化コンパレータとを有するPUF回路が記載される。いくつかの実施形態では、上記のPUF回路のアレイが記載される。
PUFが生成する一意のランダムな出力は、ワンタイム暗号キー又はマスターキーとしても使用され得る。そのようなキーの利点は、それらがあらゆるPUFに一意であって、製造団体でさえ、外部の団体に全く知られないことである。一実施形態において、PUF回路に使用される抵抗変化型メモリデバイスは、磁気トンネル接合(MTJ)に基づいたデバイスである。他の実施形態では、他のタイプの抵抗変化型メモリデバイスが使用されてよい。例えば、相変化メモリ(PCM;phase change memory)がある。製造のばらつきにより、MTJに基づいたデバイスの抵抗は変化し、一実施形態において、抵抗の差は、電流センサ/電圧センサを用いて特定され得る。一実施形態において、センサの値は、集積回路を認証するためのチャレンジレスポンスペア(CRP;challenge-response pair)を生成するために使用され得る。
従来のPUFと比較して、実施形態はいくつかの利点を提供する。例えば、実施形態は、より小さな物理寸法と、MTJの3D統合とをもたらす。これは、より高いビットが取り込まれることを可能にし、シグニチャの長さ、そしてシグニチャの強さを増大させる。従来のPUF回路と比較して、MTJに基づいたPUF回路は、理想的な、すなわち、従来のPUF回路よりも良いFAR及びFRRを達成しながら、物理的により小さくされ得る。いくつかの実施形態の他の利点は、変動パラメータ(ここでは、MTJデバイスのMgOの厚さ)に対する抵抗の指数関数的依存性であり、これは、MTJデバイスごとの変動をより大きくし、エラーなしで測定され得る一意のシグニチャを生成し、よって、ゼロに近いμインター及びσインターを生成する。このことは、理想的なFAR及びFRRを達成するためにより多くのシグニチャビットを必要とする従来の実施と比較して、更に、PUF回路の面積を低減することができる。
以下の記載において、多くの詳細は、本開示の実施形態のより完全な説明を提供するために論じられる。なお、当業者に明らかなように、本開示の実施形態は、それらの具体的な詳細によらずに実施されてよい。他の事例において、よく知られている構造及びデバイスは、本開示の実施形態を不明りょうにしないように、詳細にではなくむしろ、ブロック図形式において示される。
実施形態の対応する図面において、信号は線により表される点に留意されたい。いくつかの線は、より多くの構成信号の経路を示すよう、より太くされることがあり、且つ/あるいは、主たる情報フロー方向を示すよう、1つ以上の端部で矢印を有することがある。そのような表示は、制限であるよう意図されない。むしろ、線は、回路又は論理ユニットのより容易な理解を助けるよう、1つ以上の例となる実施形態に関連して使用される。設計ニーズ又は好みによって指示されるような、表される信号のいずれもが、いずれか1つの方向において移動し得る1つ以上の信号を実際に有してよく、如何なる適切なタイプの信号スキームによっても実施されてよい。
明細書の全体を通じて、及び特許請求の範囲において、語「接続される(connected)」は、如何なる中間デバイスもなしで接続されているモノの間の直接的な電気接続を意味する。語「結合される(coupled)」は、接続されているモノの間の直接的な電気接続、あるいは、1つ以上の受動的又は能動的な中間デバイスを介した間接的な接続、のいずれか一方を意味する。語「回路(circuit)」は、互いに協働して所望の機能を提供するよう配置されている1つ以上の受動的及び/又は能動的なコンポーネントを意味する。語「信号(signal)」は、少なくとも1つの電流信号、電圧信号又はデータ/クロック信号を意味する。「1つの(a又はan)」及び「前記(the)」の意味は、複数参照を含む。「〜において(in)」の意味は、「〜の中(in)」及び「〜の上(on)」を含む。
語「スケーリング(scaling)」は、一般に、1つのプロセステクノロジから他のプロセステクノロジ技術へ設計(回路図及びレイアウト)を変換することを言う。語「スケーリング」は、一般に、同じテクノロジノード内でレイアウト及びデバイスをダウンサイズすることも言う。語「スケーリング」は、他のパラメータ(例えば、電力供給レベル)に対する信号周波数の調整(例えば、減速)も言う。語「実質的に(substantially)」、「近い(close)」、「近似的に(approximately)」、「近い(near)」及び「約(about)」は、一般に、目標値の±20%内にあることを言う。
特段示されない限り、共通の対象を記載するための序数形容詞「第1(first)」、「第2(second)」及び「第3(third)」などの使用は、同じ対象の異なるインスタンスが参照されていることを単に示し、そのように記載されている対象が時間的に、空間的に、順位付けにおいて、又は何らかの他の方法において所与の順序になければならないことを暗示するよう意図されない。
実施形態のために、トランジスタは、ドレイン、ソース、ゲート、及びバルク端子を含む金属酸化膜半導体(MOS;metal oxide semiconductor)である。トランジスタは、トリゲート又はFinFETトランジスタ、ゲート・オール・アラウンド円柱状トランジスタ(Gate All Around Cylindrical Transistor)、あるいは、カーボンナノチューブ又はスピントロニクスデバイスのようなトランジスタ機能を実装する他のデバイスを更に含んでよい。ソース及びドレイン端子は同じ端子であってよく、ここでは同義的に使用される。当業者に明らかなように、他のトランジスタ、例えば、バイポーラ接合トランジスタ、すなわち、BJT PNP/NPN、BiCMOS、CMOS、eFETなどが、本開示の適用範囲から外れることなしに使用されてよい。語「MN」は、n形トランジスタ(例えば、NMOS、NPN BJTなど)を示し、語「MP」は、p形トランジスタ(例えば、PMOS、PNP BJTなど)を示す。
図1Aは、本開示の一実施形態に従って、単一の抵抗変化型メモリデバイスを用いたPUF回路100を表す。一実施形態において、PUF回路100は、抵抗変化型メモリデバイスに基づくセル101、ADC102、及び論理ユニット103を有する。一実施形態において、論理ユニット103は任意である。一実施形態において、セル101は、トランジスタと直列に結合されている抵抗変化型メモリデバイスRDを含む。一実施形態において、トランジスタはn形トランジスタMNである。他の実施形態では、他のタイプのトランジスタが使用されてよい。一実施形態において、セル101は3つの端子を備え、1つは抵抗変化型メモリデバイスRDへ結合されており、残り2つはトランジスタへ結合されている。セル101はメモリビットセルのようなものであり、故に、第1、第2及び第3の端子はBL(すなわち、ビットライン(bit-line))、SL(すなわち、ソースライン(source-line))及びWL(すなわち、ワードライン(word-line))と標示される。なお、標示は、セル101がプロセッサのメモリに存在すべきことを意味するものではない。一実施形態において、PUF100は、認証されるべきプロセッサにおいてどこにでも存在することができる。
実施形態を説明するために、MTJに基づいた抵抗変化型メモリデバイスがRDのために考えられる。他の実施形態では、他のタイプの抵抗変化型メモリデバイスが使用されてよい。MTJデバイスは、高抵抗(RH)状態及び低抵抗(RL)状態と見なされる2つの不揮発性状態を示す。RH状態とRL状態との間の抵抗は、TMR=(RH−RL)/RL×100%と表されるトンネル磁気抵抗(TMR;Tunneling Magnetic Resistance)と呼ばれるパラメータを用いて捕捉される。一実施形態において、MTJデバイスの固定磁性層はトランジスタへ結合され、MTJデバイスの自由磁性層はBLへ結合される。
図1Bは、低い抵抗を有するMTJに基づいた抵抗変化型メモリデバイス120を表す。MTJデバイス120は、絶縁層122によって分けられている2つの磁性層121及び123(MTJデバイス120の2つの端子を形成する。)を有する。一実施形態において、絶縁層はMgOから形成される。磁性層の1つ(すなわち、層121)は固定(すなわち、ピンニング)層であり、一方、他方の磁性層(すなわち、層123)は自由層である。MTJ抵抗は、MTJの状態と、層121及び123の間に組み込まれているMgO層122の厚さとの指数関数である。この指数関数的依存性により、異なるMgO厚さを有するMTJデバイスは異なる抵抗を有し、この抵抗が、一実施形態において、電流/電圧センサを用いて特定され得る。MTJデバイス120の例において、自由磁性層及び固定磁性層はいずれも、MTJデバイスを通る電流のフローの方向によって引き起こされる同じ磁気方位を有する。同じ磁気方位は、MTJデバイス120の低抵抗RLをもたらす。図1Cは、高い抵抗を有するMTJに基づいた抵抗変化型メモリデバイス130を表す。この例において、自由磁性層131及び固定磁性層121は、磁気方位が逆であり、MTJデバイス130の高抵抗をもたらす。
図1Aを参照し直すと、一実施形態において、RDとトランジスタMNとの間の接合(すなわち、ノードQ)は、ADC102へ結合されている。一実施形態において、BLが電源へ結合されており且つSLが接地へ結合されている場合に、ノードQではアナログ電圧が現れる。このアナログ電圧の大きさは、MgOの厚さに依存する。MgOはMTJデバイス間で変動するので、ノードQでのアナログ電圧も変動する。一実施形態において、ノードQでのアナログ電圧は、ADC102を用いてNビットデジタル出力へ変換される。一実施形態において、Nビットデジタル出力は論理ユニット103によって受け取られ、論理ユニット103は、Nビットデジタル出力を認証シグニチャに変換する。
例えば、論理ユニット103は、暗号化されたシグニチャを生成するよう、暗号化アルゴリズムをNビットデジタル出力に適用してよい。一実施形態において、Nビットデジタル出力は、認証シグニチャによって直接に使用され得る。一実施形態において、シグニチャは、より多くのデジタルビットを生成するよう、ADC102の正確さを高めることによって強化される。一実施形態において、101のアレイ及びADC102は、より長いシグニチャを生成してシグニチャの強さを改善するために使用されてよい。
図2は、本開示の一実施形態に従って、複数の抵抗変化型メモリデバイスを備えたPUF回路200を表す。いずれかの他の図の要素と同じ参照番号(又は名称)を持った図2の要素は、記載されているのと同様にして動作又は機能することができるが、そのように制限されないことが指摘される。
一実施形態において、PUF回路200は、複数のMTJに基づいたメモリセルのアレイ201、アナログ・マルチプレクサ(Mux)202、NビットADC203、並びに論理ユニット204及び205を有する。一実施形態において、アレイ201は、Kが1よりも大きい整数であるとして、‘K’個のMTJに基づいたメモリセル1011−Kを有する。一実施形態において、MTJに基づいたメモリセル1011−Kの夫々は、夫々のBL信号(すなわち、BL1−Kからの信号)、SL信号(すなわち、SL1−Kからの信号)、及びWL信号(すなわち、WL1−Kからの信号)を受信する。一実施形態において、MTJデバイスRD1−Kは、MgOの厚さが様々である点で、互いに異なっている。一実施形態において、夫々のトランジスタMN1−Kは同じサイズを有する。他の実施形態において、夫々のトランジスタMN1−Kは異なるサイズを有してよい。夫々のMTJに基づいたメモリセル(例えば、101)は、図1のMTJに基づいたメモリセル101と同じである。
図2を参照し直すと、アナログMux202は、MTJに基づいたメモリセル1011−Kから夫々、入力Q1−Kを受ける。ここで、ノード、信号、入力/出力のための標示は同義的に使用される。例えば、Qは、文脈に応じて、ノードQ、入力Q、又は信号Qに言及してよい。一実施形態において、アナログMux202は、選択ライン上の選択信号(Select)によって制御可能なパスゲートを用いて実装される。この実施形態において、アナログMux202はK:1マルチプレクサである。一実施形態において、選択信号は、クロック信号(Clock)を受信する論理ユニット204によって制御される。一実施形態において、論理ユニット204は、選択信号にクロック周期ごとの出力(Out)としてQ1−Kの入力のうちの1つを選択させるKビットカウンタを有する。
一実施形態において、アナログMux202の出力は、NビットADC203によって受け取られる。NビットADC203は、アナログ出力Outを、アナログ出力Outを表すNビットのデジタル出力(N−bit output)へ変換する。一実施形態において、Nビット出力は論理ユニット205によって受け取られる。論理ユニット205は、Nビット出力を認証シグニチャ(Signature)に変換する。一実施形態において、論理ユニット205は暗号化ロジックを含む。一実施形態において、NビットADC203からのNビット出力はシグニチャとして直接に使用される。そのような実施形態では、論理ユニット205は迂回又は削除されてよい。図2の実施形態において、異なるクロック周期にわたって選択ラインの異なる組み合わせを使用することによって、シグニチャの強さは改善され得る。一実施形態において、シグニチャの強さは、BL1−K及びSL1−Kの電圧を独立に調整することによっても強化され得る。一実施形態において、BL1−Kは電源へ結合され、SL1−Kは接地へ結合される。
図3は、本開示の一実施形態に従って、複数の抵抗変化型メモリデバイス及び自動ゼロ化コンパレータを備えたPUF回路300を表す。いずれかの他の図の要素と同じ参照番号(又は名称)を持った図3の要素は、記載されているのと同様にして動作又は機能することができるが、そのように制限されないことが指摘される。
実施形態において、PUF回路300は、MTJに基づいたメモリセル1011−Kのアレイ301、自動ゼロ化コンパレータ302、及び論理ユニット303を有する。この実施形態では、ADCは削除されている。一実施形態において、アレイ301はアレイ201と同様である。一実施形態において、BL1−K(図3では標示されず。)は、抵抗Rを介して電源VCCへ結合されている。一実施形態において、SL1−K(図3では標示されず。)は接地へ結合されている。他の実施形態では、SL1−Kは、接地よりも高い又は低い電圧(例えば、接地よりも10mV高い又は低い電圧)へ結合されてよい。一実施形態において、自動ゼロ化コンパレータ302は、キャパシタCを介してBL1−Kへ結合されている。一実施形態において、自動ゼロ化コンパレータ302は、電流に基づくコンパレータである。一実施形態において、自動ゼロ化コンパレータ302は、電圧に基づくコンパレータである。
一実施形態において、自動ゼロ化コンパレータ302は、直列に結合されているインバータi1及びi2を有し、それにより、インバータi1の入力はキャパシタCへ結合され、インバータi1の出力(すなわち、ノードn1)はインバータi2の入力へ結合され、インバータi2の出力はコンパレータの出力ノードへ結合されている。一実施形態において、スイッチSWはインバータi1へ並列に結合されている。一実施形態において、スイッチSWはn形トランジスタである。一実施形態において、スイッチSWはp形トランジスタである。一実施形態において、スイッチSWは、n形及びp形両方のトランジスタの組み合わせである。一実施形態において、自動ゼロ化コンパレータ302の出力Outは、論理ユニット303によって受け取られる。論理ユニット303は、Out信号を認証シグニチャへ変換する。
一実施形態において、アクティブにされたWL1−K(すなわち、それらの各々のトランジスタをオンするWL)の組み合わせに基づき、VM電圧が生成され、前の繰り返しから生成されているVM’と比較される。繰り返しは、ここでは、WL1−Kのコードが選択されている状態を言う。次の繰り返しでは、WL1−Kの別のコードが選択される。一実施形態において、論理ユニット(図示せず。)は、WL1−Kのコードを変更するよう多数の繰り返しをトラバースする。夫々の繰り返しにおいて、1ビット出力Outが生成される。
一実施形態において、前のVM’は、自動ゼロ化コンパレータのノードn1において保持され、スイッチSWが閉じられる(すなわち、ノードn1がインバータi1の入力へ短絡される)場合に自動ゼロ化コンパレータ302によって比較される。一実施形態において、VMにある電圧がVM’にある電圧よりも大きい場合に、出力Outは論理ハイであり、それ以外の場合に、出力Outは論理ローである。MgOの厚さに対する電流の指数関数的依存性により、VM電圧は、繰り返しごとに有意に異なっている。一実施形態において、夫々の繰り返しは、ノードOutで1つの出力ビットをもたらし、‘N’回の繰り返しは‘N’個の出力ビットを生成し、それがシグニチャの長さになる。
図4は、本開示の他の実施形態に従って、複数の抵抗変化型メモリデバイス及び自動ゼロ化コンパレータを備えたPUF回路400を表す。いずれかの他の図の要素と同じ参照番号(又は名称)を持った図4の要素は、記載されているのと同様にして動作又は機能することができるが、そのように制限されないことが指摘される。
図4の実施形態を不明りょうにしないように、図3と図4との間の相違点が論じられる。PUF回路400では、SLが、BLの代わりに自動ゼロ化コンパレータ302へ結合されている。この実施形態では、BL1−Kは接地へ結合されている。一実施形態において、BL1−Kは、接地よりも高い又は低いノード(例えば、接地よりも10mV高い又は低いノード)へ結合される。一実施形態において、SLは、抵抗Rを介して電源VCCへ結合されている。PUF400の動作は、その他の点ではPUF回路300と同様である。
図5は、本開示の他の実施形態に従って、図3又は図4のPUF回路のアレイを備えたPUD回路500を表す。いずれかの他の図の要素と同じ参照番号(又は名称)を持った図5の要素は、記載されているのと同様にして動作又は機能することができるが、そのように制限されないことが指摘される。
一実施形態において、PUF回路500は、PUF回路のX×Yのアレイ501を有する。アレイ501は、ブロック50211−XYの夫々においてPUF回路300及び/又は400を含む。なお、‘X’及び‘Y’は、1よりも大きい整数である。夫々のブロック50211−XYの出力Out11−XYは、出力バスOutを形成するよう結合され、出力バスOutは、次いで、認証シグニチャ(Signiture)を生成する論理ユニット504によって受け取られる。一実施形態において、夫々のブロック50211−XYは、その各々のWLイネーブル信号を受信する。例えば、50211はWL(11)1−Kを受信し、5021YはWL(1Y)1−Kを受信し、502X1はWL(X1)1−Kを受信し、502XYはWL(XY)1−Kを受信する。一実施形態において、論理ユニット504は、Outを暗号化して認証シグニチャを生成するロジックを含む。一実施形態において、論理ユニット504は任意である。そのような実施形態では、Outが認証シグニチャである。
図4の実施形態において、シグニチャは、複数のクロック周期又は複数の繰り返しにわたって生成され、それにより、夫々の繰り返しでは、WL1−Kの中のWLビットの1つ以上が変更される。図5を参照し直すと、PUF回路500は、出力OUT11−XYをOUTとして組み合わせて1クロック周期において50211−XYの夫々について異なるWL1−K設定を供給することでシグニチャを生成して、多数の繰り返しを単一の繰り返しまで減らす。この実施形態において、シグニチャの強さは、アレイのサイズ、すなわち、X×Yの関数である。一実施形態において、PUF回路300/400は、面積が主たる拘束条件である場合に使用されてよく、一方、PUF回路500は、性能(すなわち、速度)が主たる拘束条件である場合に使用されてよい。
いくつかの実施形態において、ここで論じられているPUF回路は、チャレンジレスポンスモードにおいて動作することができる。ここで、チャレンジは所与の入力(例えば、WLイネーブル信号)を指し、レスポンスは出力Outである。そのような実施形態において、PUF回路への特定の入力は、特定のシグニチャ出力を提供する。例えば、PUF回路300/400におけるWLイネーブル信号は、入力チャレンジとして使用されてよく、MTJビットセルの組み合わせにより生じるVM電圧は、シグニチャ・レスポンスを提供するよう自動ゼロ化コンパレータの代わりにADCを用いて変換されてよい。
本開示は、その具体的な実施形態に関連して記載されてきたが、そのような実施形態の多くの代替、変更及び変形は、上記の説明に照らして当業者に明らかであろう。例えば、p形デバイスが、n形デバイスの代わりに、抵抗変化型メモリデバイスと結合されてよい。1つのそのような実施形態は、図6を参照して記載される。
図6は、本開示の他の実施形態に従って、単一の抵抗変化型メモリデバイスを用いたPUF回路600を表す。いずれかの他の図の要素と同じ参照番号(又は名称)を持った図6の要素は、記載されているのと同様にして動作又は機能することができるが、そのように制限されないことが指摘される。
図6は、図1Aのビットセル101と機能上同じようであるメモリビットセル601を備えたPUF回路600を表す。図6の実施形態は、BLがこのときp形トランジスタMPへ結合されており且つSLが抵抗変化型メモリデバイスRD(例えば、MTJに基づいたデバイス)へ結合されている点を除いて、図1Aの実施形態と同様である。一実施形態において、MTJデバイスの固定磁性層はトランジスタMPへ結合されており、一方、MTJデバイスの自由磁性層はSLへ結合されている。機能的に、図6の実施形態は、図1Aの実施形態と同等である。一実施形態において、メモリビットセル601は、図2乃至5のビットセル1011−Kのために(6011−Kとして)使用されてよい。本開示の実施形態は、添付の特許請求の範囲の広範な適用範囲内に収まるように、全てのそのような代替、変更及び変形を包含するよう意図される。
図7は、本開示の一実施形態に従って、抵抗変化型メモリデバイスを用いたPUF回路を備えたスマートデバイス又はコンピュータシステム又はSoC(System-on-Chip)である。いずれかの他の図の要素と同じ参照番号(又は名称)を持った図7の要素は、記載されているのと同様にして動作又は機能することができるが、そのように制限されないことが指摘される。
図7は、フラット・サーフェス・インターフェイス・コネクタが使用され得るモバイルデバイスの実施形態のブロック図を表す。一実施形態において、コンピュータデバイス1600は、コンピュータタブレット、携帯電話機若しくはスマートフォン、無線対応電子リーダー、又は他の無線モバイルデバイスのような、モバイルコンピュータデバイスを表す。特定のコンポーネントが一般的に示されており、そのようなデバイスの全てのコンポーネントがコンピュータデバイス1600において示されているわけでないことが理解されるであろう。
一実施形態において、コンピュータデバイス1600は、実施形態を参照して記載された、抵抗変化型メモリデバイスを用いたPUF回路を備えた、第1プロセッサ1610を含む。コンピュータデバイス1600の他のブロックも、実施形態を参照して記載された、抵抗変化型メモリデバイスを用いたPUF回路を備えた装置を含んでよい。本開示の様々な実施形態は、無線インターフェイスのような、1670内のネットワークインターフェイスを更に有してよく、それにより、システム実施形態は、無線デバイス、例えば、携帯電話機又はパーソナルデジタルアシスタントに組み込まれてよい。
一実施形態において、プロセッサ1610(及びプロセッサ1690)は、マイクロプロセッサ、アプリケーションプロセッサ、マイクロコントローラ、プログラム可能論理デバイス、又は他のプロセッシング手段のような、1つ以上の物理デバイスを含むことができる。プロセッサ1690は任意であってよい。プロセッサ1610によって実行されるプロセッシング動作には、アプリケーション及び/又はデバイス機能が実行されるオペレーティングプラットフォーム又はオペレーティングシステムの実行が含まれる。プロセッシング動作には、人間のユーザによる若しくは他のデバイスによるI/O(入力/出力)に関する動作、電力管理に関する動作、及び/又はコンピュータデバイス1600を他のデバイスへ接続することに関する動作が含まれる。プロセッシング動作には、オーディオI/O及び/又はディスプレイI/Oに関する動作も含まれてよい。
一実施形態において、コンピュータデバイス1600は、オーディオサブシステム1620を有する。オーディオサブシステム1620は、オーディオ機能をコンピュータデバイスに提供することに関連したハードウェア(例えば、オーディオハードウェア及びオーディオ回路)及びソフトウェア(例えば、ドライバ、コーデック)コンポーネントを表す。オーディオ機能には、スピーカ及び/又はヘッドホン出力並びにマイクロホン入力が含まれ得る。そのような機能のためのデバイスは、コンピュータデバイス1600と一体化されるか、あるいは、コンピュータデバイス1600へ接続され得る。一実施形態において、ユーザは、プロセッサ1610によって受け取られて処理されるオーディオコマンドを与えることによって、コンピュータデバイス1600と対話する。
ディスプレイサブシステム1630は、ユーザがコンピュータデバイス1600と対話するための視覚的及び/又は触覚的な表示を提供するハードウェア(例えば、表示デバイス)及びソフトウェア(例えば、ドライバ)を表す。ディスプレイサブシステム1630は、表示をユーザに提供するために使用される特定のスクリーン又はハードウェアデバイスを含む表示インターフェイス1632を含む。一実施形態において、表示インターフェイス1632は、表示に関する少なくとも何らかの処理を実行する、プロセッサ1610とは別個のロジックを含む。一実施形態において、ディスプレイサブシステム1630は、ユーザへ出力及び入力の両方を提供するタッチスクリーン(又はタッチパッド)デバイスを含む。
I/Oコントローラ1640は、ユーザとのインタラクションに関するハードウェアデバイス及びソフトウェアコンポーネントを表す。I/Oコントローラ1640は、オーディオサブシステム1620及び/又はディスプレイサブシステム1630の部分であるハードウェアを管理するよう動作する。加えて、I/Oコントローラ1640は、コンピュータデバイス1600へ接続する追加のデバイスのための接続点を表し、それを通じてユーザはシステムと対話し得る。例えば、コンピュータデバイス1600に取り付けられ得るデバイスには、マイクロホンデバイス、スピーカ若しくはステレオシステム、ビデオシステム若しくは他の表示デバイス、キーボード若しくはキーパッドデバイス、又はカードリーダ若しくは他のデバイスのような特定の用途により使用される他のI/Oデバイスが含まれ得る。
上述されたように、I/Oコントローラ1640は、オーディオサブシステム1620及び/又はディスプレイサブシステム1630と相互作用することができる。例えば、マイクロホン又は他のオーディオデバイスを通じた入力は、コンピュータデバイス1600の1つ以上のアプリケーション又は機能のための入力又はコマンドを与えることができる。加えて、オーディオ出力は、ディスプレイ出力の代わりに、又はそれに加えて供給され得る。他の例では、ディスプレイサブシステム1630がタッチスクリーンを含む場合には、表示デバイスは入力デバイスとしても働き、I/Oコントローラ1640によって少なくとも部分的に管理され得る。I/Oコントローラ1640によって管理されるI/O機能を提供するようコンピュータデバイス1600には更なるボタン又はスイッチも存在することができる。
一実施形態において、I/Oコントローラ1640は、加速度計、カメラ、光センサ若しくは他の環境センサ、又はコンピュータデバイス1600に含まれ得る他のハードウェアのような、デバイスを管理する。入力は、直接的なユーザインタラクションの部分であることができるとともに、環境入力をシステムに与えてその動作(例えば、ノイズのフィルタリング、輝度検出のためのディスプレイの調整、カメラのフラッシュの適用、又は他の機能)に作用することができる。
一実施形態において、コンピュータデバイス1600は、バッテリ電力使用量、バッテリの充電、及び電力節約動作に関する機能を管理するパワーマネージメント1650を含む。メモリサブシステム1660は、情報をコンピュータデバイス1600において記憶するためのメモリデバイスを含む。メモリは、不揮発性(メモリデバイスへの電力が中断される場合に状態が変化しない。)及び/又は揮発性(メモリデバイスへの電力が中断される場合に状態が不定である。)メモリデバイスを含むことができる。メモリサブシステム1660は、アプリケーションデータ、ユーザデータ、音楽、写真、ドキュメント、又は他のデータとともに、コンピュータデバイス1600のアプリケーション及び機能の実行に関するシステムデータ(長期又は一時に関わらず。)を記憶することができる。
実施形態の要素は、コンピュータ実行可能命令(例えば、ここで論じられている如何なる他のプロセスも実施する命令)を記憶するための機械可読媒体(例えば、メモリ1660)としても提供される。機械可読媒体(例えば、メモリ1660)には、制限なしに、フラッシュメモリ、光ディスク、CD−ROM、DVD ROM、RAM、EPROM、EEPROM、磁気若しくは光学式カード、相変化メモリ(PCM)、又は電子若しくはコンピュータ実行可能命令を記憶するのに適した他のタイプの機械可読媒体が含まれてよい。例えば、本開示の実施形態は、遠隔のコンピュータ(例えば、サーバ)から要求元のコンピュータ(例えば、クライアント)へデータ信号によって通信リンク(例えば、モデム又はネットワーク接続)を介して転送され得るコンピュータプログラム(例えば、BIOS)としてダウンロードされてよい。
コネクティビティ1670は、コンピュータデバイス1600が外部のデバイスと通信することを可能にするハードウェアデバイス(例えば、無線及び/又は有線コネクタ並びに通信ハードウェア)及びソフトウェアコンポーネント(例えば、ドライバ、プロトコルスタック)を含む。コンピュータデバイス1600は、他のコンピュータデバイス、無線アクセスポイント又は基地局のような別個のデバイス、並びにヘッドセット、プリンタ又は他のデバイスのような周辺機器であってよい。
コネクティビティ1670は、多種多様なタイプのコネクティビティを含むことができる。一般化するよう、コンピュータデバイス1600は、セルラーコネクティビティ1672及び無線コネクティビティ1674により表されている。セルラーコネクティビティ1672は、GSM(登録商標)(global system for mobile communications)又は変形若しくは派生、CDMA(code division multiple access)又は変形若しくは派生、TDM(time division multiplexing)又は変形若しくは派生、あるいは他のセルラーサービス標準を介して提供されるような、無線キャリアによって提供されるセルラーネットワークコネクティビティを言う。無線コネクティビティ(又は無線インターフェイス)1674は、セルラーではない無線コネクティビティを言い、パーソナルエリアネットワーク(例えば、Bluetooth(登録商標)、近距離通信、など)、ローカルエリアネットワーク(例えば、Wi−Fi(登録商標))、及び/又はワイドエリアネットワーク(例えば、WiMAX(登録商標))、あるいは、他の無線通信を含むことができる。
周辺接続1680は、周辺接続を行うハードウェアインターフェイス及びコネクタ並びにソフトウェアコンポーネント(例えば、ドライバ、プロトコルスタック)を含む。コンピュータデバイス1600は、他のコンピュータデバイスへの周辺機器である(“to”1682)とともに、周辺機器を自身に接続されてよい(“from”1684)。コンピュータデバイス1600は、コンピュータデバイス1600においてコンテンツを管理すること(例えば、ダウンロード及び/又はアップロード、変更、同期化)のような目的のために、他のコンピュータデバイスへ接続するための“ドッキング”コネクタを一般的に備える。加えて、ドッキングコネクタは、コンピュータデバイス1600が、例えば、オーディオビジュアル又は他のシステムへ出力されるコンテンツを制御することを可能にする特定の周辺機器へ、コンピュータデバイス1600が接続することを可能にすることができる。
独自仕様のドッキングコネクタ又は他の独自仕様の接続ハードウェアに加えて、コンピュータデバイス1600は、一般的な又は標準規格に基づいたコネクタを介して周辺機器接続1680を行うことができる。一般的なタイプには、ユニバーサル・シリアル・バス(USB;Universal Serial Bus)コネクタ(多種多様なハードウェアインターフェイスのいずれかを含むことができる。)、ミニディスプレイポート(MDP;MiniDisplayPort)を含むディスプレイポート、高精細マルチメディアインターフェイス(HDMI(登録商標);High Definition Multimedia Interface)、ファイアワイヤ、又は他のタイプが含まれ得る。
「実施形態」、「一実施形態」、「幾つかの実施形態」又は「他の実施形態」との明細書中の言及は、実施形態に関連して記載される特定の機構、構造、又は特性が、必ずしも全ての実施形態ではなく、少なくとも幾つかの実施形態に含まれることを意味する。「実施形態」、「一実施形態」又は「幾つかの実施形態」の様々な出現は、必ずしも全てが同じ実施形態に言及しているわけではない。コンポーネント、機構、構造、又は特性が“含まれ得る”、“含まれてよい”、又は“含まれることがある”と明細書において述べられる場合に、その特定のコンポーネント、機構、構造、又は特性は含まれる必要はない。明細書又は特許請求の範囲において要素を単称形で呼ぶ場合に、それは、その要素がただ1つしか存在しないことを意味するわけではない。明細書及び特許請求の範囲において“更なる”要素と言及する場合に、それは、更なる要素が1つよりも多く存在していることを除外しない。
更に、特定の機構、構造、機能、又は特性は、1つ以上の実施形態において如何なる適切な方法においても組み合わされてよい。例えば、第1及び第2の実施形態に関連する特定の機構、構造、機能、又は特性が相互排他的でない場合にはいつでも、第1の実施形態は第2の実施形態と組み合わされてよい。
加えて、集積回路(IC)チップ及び他のコンポーネントへのよく知られている電力/接地接続は、例示及び議論の簡単のために、且つ、本開示を不明りょうにしないように、提示されている図において図示されてもされなくてもよい。更に、配置は、本開示を不明りょうにしないように、更には、そのようなブロック図配置の実施に関する仕様が、本開示が実装されるべきプラットフォームに大いに依存するという事実を鑑みて(すなわち、そのような仕様は、当業者の範囲内に十分あるべきである。)、ブロック図形式において示されてよい。具体的な詳細(例えば、回路)が、本開示の例となる実施形態を記載するために示される場合に、当業者に当然に、本開示は、そのような具体的な詳細によらずに、又はその変形により、実施され得る。よって、記載は、制限ではなく例示と見なされるべきである。
以下の例は、更なる実施形態に関連する。例における細部は、1つ以上の実施形態においてどこでも使用されてよい。ここで記載される装置の全ての任意の特徴は、方法又はプロセスに関しても実装されてよい。
例えば、装置であって、少なくとも2つの端子を備えた抵抗変化型メモリデバイスと、前記抵抗変化型メモリデバイスの前記少なくとも2つの端子のうちの1つへ結合されるトランジスタと、前記抵抗変化型メモリデバイスの前記少なくとも2つの端子のうちの前記1つへ結合される入力を備えたアナログ/デジタル変換器(ADC)とを有する装置が提供される。一実施形態において、前記ADCは、1ビットコンパレータ又はマルチビットADCのうちの1つである。一実施形態において、前記トランジスタは、ワードラインへ結合されるゲート端子を備える。一実施形態において、前記トランジスタはn形トランジスタである。一実施形態において、前記トランジスタはソースラインへ結合される。一実施形態において、当該装置は、前記ADCの出力を受けて認証シグニチャを生成するロジックを更に有する。
他の例では、システムであって、メモリと、該メモリへ結合され、上記の装置に従う装置を有するプロセッサとを有するシステムが提供される。一実施形態において、当該システムは、前記プロセッサが他のデバイスと通信することを可能にする無線インターフェイスを更に有する。一実施形態において、当該システムはディスプレイユニットを更に有する。一実施形態において、前記ディスプレイユニットはタッチスクリーンである。
他の例では、装置であって、夫々のビットセルが独立に制御可能である、複数の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルと、夫々のビットセルへ結合されるアナログ・マルチプレクサと、該アナログ・マルチプレクサの出力をデジタル表現へ変換するアナログ/デジタル変換器(ADC)とを有する装置が提供される。一実施形態において、前記アナログ・マルチプレクサは選択バスによって制御される。一実施形態において、当該装置は、異なるクロック周期にわたって前記選択バスのビット値を変化させる第1ロジックユニットを更に有する。一実施形態において、前記ADCはマルチビットADCであり、該ADCからの前記デジタル表現はマルチビットバスである。一実施形態において、当該装置は、前記マルチビットバスの値を認証シグニチャに変換する第2ロジックユニットを更に有する。
他の例では、システムであって、メモリと、該メモリへ結合され、上記の装置に従う装置を有するプロセッサとを有するシステムが提供される。一実施形態において、当該システムは、前記プロセッサが他のデバイスと通信することを可能にする無線インターフェイスを更に有する。一実施形態において、当該システムはディスプレイユニットを更に有する。一実施形態において、前記ディスプレイユニットはタッチスクリーンである。
他の例では、装置であって、複数の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルであり、夫々の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルは独立に制御可能であり、夫々の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルは、第1端子が抵抗変化型メモリデバイスへ結合され且つ第2端子がトランジスタへ結合されるように前記第1端子及び前記第2端子を備える、前記複数の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルと、全ての抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルの前記第1端子又は前記第2端子の1つへ結合される入力を備えた自動ゼロ化コンパレータとを有する装置が提供される。
一実施形態において、前記自動ゼロ化コンパレータは、全ての抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルの前記第1端子又は前記第2端子の1つへ結合される入力を備えた第1インバータと、該第1インバータへ並列に結合されるスイッチング・キャパシタとを有する。一実施形態において、前記自動ゼロ化コンパレータは、前記第1インバータと直列に結合される第2インバータを有する。一実施形態において、前記抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルの全てのトランジスタのソース端子は、前記自動ゼロ化コンパレータの入力が全ての抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルの前記第1端子へ結合される場合に接地へ結合される。一実施形態において、全ての抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルの前記第1端子は、前記抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルの全てのトランジスタのソース端子が前記自動ゼロ化コンパレータの入力へ結合される場合に接地へ結合される。
他の例では、システムであって、メモリと、該メモリへ結合され、上記の装置に従う装置を有するプロセッサとを有するシステムが提供される。一実施形態において、当該システムは、前記プロセッサが他のデバイスと通信することを可能にする無線インターフェイスを更に有する。一実施形態において、当該システムはディスプレイユニットを更に有する。一実施形態において、前記ディスプレイユニットはタッチスクリーンである。
他の例では、装置であって、物理的複製防止機能回路(PUF)のアレイを有し、該回路の夫々は、複数の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルであり、夫々の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルは独立に制御可能であり、夫々の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルは、第1端子が抵抗変化型メモリデバイスへ結合され且つ第2端子がトランジスタへ結合されるように前記第1端子及び前記第2端子を備える、前記複数の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルと、全ての抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルの前記第1端子又は前記第2端子の1つへ結合される入力を備えた自動ゼロ化コンパレータとを有する、装置が提供される。
他の例では、システムであって、メモリと、該メモリへ結合され、上記の装置に従う装置を有するプロセッサとを有するシステムが提供される。一実施形態において、当該システムは、前記プロセッサが他のデバイスと通信することを可能にする無線インターフェイスを更に有する。一実施形態において、当該システムはディスプレイユニットを更に有する。一実施形態において、前記ディスプレイユニットはタッチスクリーンである。
読者が本開示の本質及び要点を確かめることを可能にする要約が与えられる。要約は、特許請求の範囲の適用範囲及び意味を制限するためには使用されないとの理解の下で提示される。以下の特許請求の範囲は、これをもって詳細な説明に組み込まれ、夫々の請求項は、別々の実施形態として自立する。

Claims (18)

  1. 装置であって、
    少なくとも2つの端子を備えた抵抗変化型メモリデバイスと、
    前記抵抗変化型メモリデバイスの前記少なくとも2つの端子のうちの1つへ結合されるトランジスタと、
    前記抵抗変化型メモリデバイスの前記少なくとも2つの端子のうちの前記1つへ結合される入力を備えたアナログ/デジタル変換器と
    前記アナログ/デジタル変換器の出力を受けて、当該装置に固有の認証シグニチャを生成するロジックと、
    を有する装置。
  2. 前記抵抗変化型メモリデバイスはMTJデバイスである、
    請求項1に記載の装置。
  3. 前記アナログ/デジタル変換器は、1ビットコンパレータ又はマルチビットADCのうちの1つである、
    請求項1に記載の装置。
  4. 前記トランジスタは、ワードラインへ結合されるゲート端子を備える、
    請求項1に記載の装置。
  5. 前記トランジスタはn形トランジスタである、
    請求項1に記載の装置。
  6. 前記トランジスタは、ソースラインへ結合される、
    請求項1に記載の装置。
  7. 装置であって、
    夫々のビットセルが独立に制御可能である、複数の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルと、
    夫々のビットセルへ結合されるアナログ・マルチプレクサと、
    前記アナログ・マルチプレクサの出力をデジタル表現へ変換するアナログ/デジタル変換器と
    前記デジタル表現を、当該装置に固有の認証シグニチャに変換する論理ユニットと、
    を有する装置。
  8. 前記アナログ・マルチプレクサは、選択バスによって制御される、
    請求項に記載の装置。
  9. 異なるクロック周期にわたって前記選択バスのビット値を変化させる更なる論理ユニットを更に有する
    請求項に記載の装置。
  10. 前記アナログ/デジタル変換器はマルチビットADCであり、
    前記ADCからの前記デジタル表現はマルチビットバスである、
    請求項に記載の装置。
  11. 装置であって、
    複数の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルであり、夫々の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルは独立に制御可能であり、夫々の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルは、第1端子が抵抗変化型メモリデバイスへ結合され且つ第2端子がトランジスタへ結合されるように前記第1端子及び前記第2端子を備える、前記複数の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルと、
    全ての抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルの前記第1端子又は前記第2端子の1つへ結合される入力を備えた自動ゼロ化コンパレータと
    前記自動ゼロ化コンパレータの出力を受けて、当該装置に固有の認証シグニチャを生成する論理ユニットと、
    を有する装置。
  12. 前記自動ゼロ化コンパレータは、
    全ての抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルの前記第1端子又は前記第2端子の1つへ結合される入力を備えた第1インバータと、
    前記第1インバータへ並列に結合されるスイッチング・キャパシタと
    を有する、請求項11に記載の装置。
  13. 前記自動ゼロ化コンパレータは、前記第1インバータと直列に結合される第2インバータを有する、
    請求項12に記載の装置。
  14. 前記抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルの全てのトランジスタのソース端子は、前記自動ゼロ化コンパレータの入力が全ての抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルの前記第1端子へ結合される場合に接地へ結合される、
    請求項12に記載の装置。
  15. 全ての抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルの前記第1端子は、前記抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルの全てのトランジスタのソース端子が前記自動ゼロ化コンパレータの入力へ結合される場合に接地へ結合される、
    請求項12に記載の装置。
  16. 装置であって、
    物理的複製防止機能回路のアレイであり、各物理的複製防止機能回路が
    複数の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルであり、夫々の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルは独立に制御可能であり、夫々の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルは、第1端子が抵抗変化型メモリデバイスへ結合され且つ第2端子がトランジスタへ結合されるように前記第1端子及び前記第2端子を備える、前記複数の抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルと、
    全ての抵抗変化型メモリデバイスに基づくビットセルの前記第1端子又は前記第2端子の1つへ結合される入力を備えた自動ゼロ化コンパレータと
    を有する、物理的複製防止機能回路のアレイと、
    全ての前記物理的複製防止機能回路の前記自動ゼロ化コンパレータの出力を受けて、当該装置に固有の認証シグニチャを生成する論理ユニットと、
    を有する装置。
  17. 前記物理的複製防止機能回路の夫々は、請求項11乃至15のうちいずれか一項に記載の装置を有する、請求項16に記載の装置。
  18. メモリと、
    前記メモリへ結合され、請求項1乃至のうちいずれか一項に記載の装置を有するプロセッサと、
    前記プロセッサが他のデバイスと通信することを可能にする無線インターフェイスと
    を有するシステム。
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