JP6307532B2 - 電源装置およびそれを用いた試験装置、電源電圧の供給方法 - Google Patents
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Description
なお電源の特性とは、インピーダンスやコンダクタンスの他、インパルス応答など、電源の周波数特性と相関を有する特性をいう。
これにより、DUTが使用される実機環境をエミュレートすることができ、オーバーキルやテストエスケープを低減できる。
i=GMAIN×v
なお理想電源106のインピーダンスはゼロと近似できる。図3(a)のコンダクタンスGMAINは、式(2)で表される。
GMAIN=1/jωL+1/R+jωC …(2)
GTGT=1/jωL’+1/R’+jωC’ …(3)
GCOMP=GTGT−GMAIN
G’=GMAIN+GCOMP=GMAIN+(GTGT−GMAIN)=GTGT …(4)
i’=GCOMP×VDD …(5)
iCOMP=GCOMP×VDD
G=GC+GR+GL
GL1=1/jωL1
GR1=1/R1
GC1=jωC1
GMAIN=GL1+GR1+GC1
GL2=1/jωL2
GR2=1/R2
GC2=jωC2
GTGT=GL2+GR2+GC2
GCOMP=GTGT−GMAIN
=ΔGL+ΔGR+ΔGC
=(GL2−GL1)+(GR2−GR1)+(GC2−GC1) …(6)
が成り立つから、L成分(誘導性)、R成分(抵抗性)、C成分(容量性)それぞれのコンダクタンスの差分ΔGL,ΔGR,ΔGCを、個別に補償すればよいことがわかる。この場合、補償回路104は、図4(c)に示すように、L成分、R成分,C成分を補償する3つの補償ユニット120_1〜120_3に分けて構成することができる。補償ユニット120_1の入出力特性はΔGLに応じて設定され、補償ユニット120_2の入出力特性はΔGRに応じて設定され、補償ユニット120_3の入出力特性はΔGCに応じて設定される。
G=Σi=1:NGi …(7)
たとえばシャント回路122_1は抵抗性のコンダクタンスを有し、シャント回路122_2は誘導性のコンダクタンスを有し、シャント回路122_3は容量性のコンダクタンスを有し、シャント回路122_4は抵抗と容量の直列接続のコンダクタンスを有し、シャント回路122_5は抵抗とインダクタの直列接続のコンダクタンスを有し、シャント回路122_6は、抵抗、容量、インダクタの直列接続のコンダクタンスを有する。この考えを導入することにより、補償回路104の設計を簡素化できる。
算出部130は、差分に相当するコンダクタンスΔGに、検出信号VSが示す電源電圧VDDが印加されたときに流れる電流を示す制御信号VCNTを生成する。
VCNT=ΔG×VDD
iCOMP=VCNT×A
図7は、第1の構成例に係る補償回路104aを示す回路図である。図7の補償回路104aにおいて、算出部130aは、オペアンプを用いた反転増幅器あるいはフィルタで構成される。具体的には算出部130aは、オペアンプ134、入力回路136および帰還回路138を備える。入力回路136のインピーダンスをZIN、帰還回路138のインピーダンスをZFBとするとき、算出部130aの入出力特性は、式(7)で表され、補償電流iCOMPは式(8)で表される。なおここでは、補償電流iCOMPは、負がシンク電流に、正がソース電流に対応するものとする。
VCNT=−ZFB/ZIN×VS …(7)
iCOMP=VCNT×A=−A×ZFB/ZIN×VS …(8)
なお、電流源132の変換ゲインAを負とすることで、iCOMPは正、すなわちソース電流となり、負性のインピーダンス(抵抗、キャパシタ、インダクタンスなど)を補償することができる。
たとえば図4(c)の補償ユニット120_3のように、容量性のコンダクタンスを補償する場合、入力回路136をキャパシタCINで、帰還回路138を抵抗RFBで構成すればよい。この場合、ZIN=1/(jωCIN)であり、補償電流iCOMPは以下の式で表される。
iCOMP=−A×RFB/(jωCIN)−1×VS
補償すべきコンダクタンスがΔGC=jωCで表され、VS=VDDである場合には、式(9)を満たすように、A,RFB,CINの値を設計すればよい。
jωC=−A×RFB/(jωCIN)−1 …(9)
たとえば図4(c)の補償ユニット120_2のように、抵抗性のコンダクタンスを補償する場合、入力回路136を抵抗RINで、帰還回路138を抵抗RFBで構成すればよい。この場合、ZIN=RINであり、補償電流iCOMPは以下の式で表される。
iCOMP=−A×RFB/RIN×VS
補償すべきコンダクタンスの差分がΔGR=1/Rであり、VS=VDDである場合には、式(10)を満たすように、A,RFB,RINの値を設計すればよい。
1/R=−A×RFB/RIN …(10)
補償回路104a(あるいは補償ユニット120a)が補償すべきコンダクタンスの差分が、抵抗Rと容量Cの直列接続である場合、入力回路136をRINとCINの直列接続で、帰還回路138を抵抗RFBで構成すればよい。この場合、ZIN=RIN+(jωCIN)−1であり、補償電流iCOMPは以下の式で表される。
iCOMP=−A×RFB/{RIN+(jωCIN)−1}×VS
補償すべきコンダクタンスの差分ΔGが、ΔG=1/{R+(jωC)−1}であり、VS=VDDである場合、R=RIN/(RFB×A)、C=−CIN×RFB×Aを満たすように、A,RFB,R,Cを設計すればよい。
図4(c)の補償ユニット120_1のように、誘導性のコンダクタンスを補償する場合、入力回路136を抵抗RINで、帰還回路138をキャパシタCFBで構成すればよい。この場合、ZIN=RIN,ZFB=(jωCFB)−1であり、補償電流iCOMPは以下の式で表される。
iCOMP=−A/(jωCFBRIN)×VS
補償すべきコンダクタンスがΔGC=1/jωLで表され、VS=VDDである場合には、式(11)を満たすように、A,RIN,CFBの値を設計すればよい。
L=−CFB×RIN/A …(11)
補償すべきコンダクタンスの差分が、インダクタLと抵抗Rの直列接続である場合、入力回路136を抵抗RINで、帰還回路138を抵抗RFBとキャパシタCFBの並列接続で構成すればよい。
ZIN=RIN
ZFB=1/(RFB −1+jωCFB)
iCOMP=−A/(RIN/RFB+jωCFBRIN)×VS
補償すべきコンダクタンスが、ΔG=1/(R+jωL)で表されるとき、
R=RIN/RFB/A
L=CFBRIN/A
を満たすように、A,RIN,RFB,CFBの値を設計すればよい。
VCNT={jωC1R1+(jωC2R2)−1+(C1+C2)/C2×R1/R2}−1×VS
iCOMP=−A×VCNT
=−A/{jωC1R1+(jωC2R2)−1+(C1+C2)/C2×R1/R2}×VS
…(12)
L=C1R1/A
C=AC2R2
R=(C1+C2)/C2×R1/R2/A
を満たすように、回路定数を定めればよい。
図9は、第3の構成例に係る補償回路104cを示す回路図である。算出部130cは、A/Dコンバータ150、デジタル演算部152、D/Aコンバータ154を含む。A/Dコンバータ150は、検出信号VSをデジタル値DSに変換する。デジタル演算部152は、デジタル演算処理によって、上述の算出部130に対応する演算を行い、制御信号VCNTに相当する制御値DCNTを生成する。D/Aコンバータ154は、制御値DCNTをアナログの制御信号VCNTに変換する。D/Aコンバータ154および電流源132を、電流DACとして一体に構成してもよい。
H(z)=1/(1−az−1)
である。図11(b)、(c)はそれぞれ、直接型I構成、直接型II構成の2次のIIRフィルタであり、それらの伝達特性は、タップ係数a1〜a2,b0〜b2を用いて以下の式で与えられる。
H(z)=(b0+b1z−1+b2z−2)/(1−a1z−1−a2z−2)
図7、図8では、算出部130を反転型の増幅器(フィルタ)で構成したがそれには限定されず、非反転型の増幅器(フィルタ)で構成することも可能である。
図5では、回路網108(回路網114)を、並列な複数のシャント回路122に分解したが本発明はそれには限定されない。たとえばシャント回路122_iの上側の端子と、シャント回路122_i+1の上側の端子の間には、シリーズ回路が挿入されてもよい。つまり回路網108は、シャント回路、シリーズ回路を組み合わせて表現することが可能である。
実施の形態では、図5(a)、(b)を参照して説明したように、分解されたひとつのシャント回路(あるいはシリーズ回路)122を、ひとつの補償ユニット120に対応付けたが、本発明はそれには限定されない。算出部130を、デジタルフィルタで構成する場合には、フィルタのタップ係数を適切に設定することにより、複数の回路122を、ひとつの補償ユニット120で補償することが可能となる。あるいは算出部130をアナログ回路で構成する場合においても、増幅器(フィルタ)の回路構成を変更することで、複数の回路122を、ひとつの補償ユニット120で補償することが可能となる。
実施の形態では、電源装置100の用途として試験装置2を説明したが、それに限定されない。一般的な電子機器、産業機器、車載機器、家電製品等においても、既存の電源回路(メイン電源)に補償回路104を追加することで、所望の電源特性を得ることができる。
Claims (9)
- ターゲット電源の特性をエミュレート可能な電源装置であって、
電源ラインを介して給電対象の回路に接続される出力端子を有し、前記給電対象の回路に供給される電源電圧が目標電圧に近づくように、前記出力端子の電圧を制御する定電圧源であるメイン電源と、
前記電源電圧に応じた検出信号を入力として受け、その出力が前記電源ラインと接続され、前記検出信号に応じた補償電流を、前記電源ラインに注入および引き抜きを行う補償回路と、
を備え、前記補償回路は、前記メイン電源の特性と前記ターゲット電源の特性に応じた入出力特性を有することを特徴とする電源装置。 - 前記入出力特性は、前記メイン電源のコンダクタンスと前記ターゲット電源のコンダクタンスに応じていることを特徴とする請求項1に記載の電源装置。
- 前記入出力特性は、前記メイン電源のコンダクタンスと前記ターゲット電源のコンダクタンスの差分に応じていることを特徴とする請求項2に記載の電源装置。
- 前記補償回路は、
前記差分に相当するコンダクタンスに、前記検出信号が示す前記電源電圧が印加されたときに流れる電流を示す制御信号を生成する算出部と、
前記制御信号に応じた前記補償電流を発生する電流源と、
を含むことを特徴とする請求項3に記載の電源装置。 - 前記算出部は、アナログフィルタもしくはアナログ増幅器を含むことを特徴とする請求項4に記載の電源装置。
- 前記算出部は、デジタルの前記検出信号を受けるデジタルフィルタを含むことを特徴とする請求項4に記載の電源装置。
- 前記メイン電源および前記ターゲット電源それぞれが電気的に並列な複数の回路に分解できるとき、前記補償回路は、ひとつの回路ごとに補償電流を計算する複数の算出部を含むことを特徴とする請求項4に記載の電源装置。
- 被試験デバイスの電源端子に電源電圧を供給する請求項1から7のいずれかに記載の電源装置を備えることを特徴とする試験装置。
- 電源電圧の供給方法であって、
定電圧源であるメイン電源を、前記電源電圧の供給先の回路に、電源ラインを介して接続するステップと、
前記電源ラインに、補償回路の出力を接続するステップと、
前記メイン電源の特性とエミュレーションの対象であるターゲット電源の特性に応じた入出力特性を、前記補償回路に設定するステップと、
前記電源電圧に応じた検出信号を、前記補償回路の入力にフィードバックし、前記補償回路が生成する補償電流を、前記電源電圧の発生ノードに注入および引き抜きを行うステップと、
を備えることを特徴とする方法。
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