JP6099815B2 - 電子装置を製造する方法 - Google Patents

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Description

本発明は、電子装置を製造する方法に関する。
有機EL(electroluminescence)表示装置や液晶表示装置のような表示装置(電子装置)において用いられる基板は、透明性を有することが要求される。そのため、表示装置において用いられる基板として、透明樹脂フィルムを用いることが知られている(例えば、特許文献1参照)。
基板として用いられる透明樹脂フィルムは、通常、フレキシブル性(可撓性)を有している。そのため、まず、透明樹脂フィルムが、平板状をなす基材の第1の面上に形成(成膜)され、その後、透明樹脂フィルム上に表示装置が備えるべき各部を形成する。最終的に、基材から透明樹脂フィルムを剥離することにより、透明樹脂フィルムと各部とを備える表示装置を製造することができる。
このような表示装置の製造方法において、基材からの透明樹脂フィルムの剥離は、透明樹脂フィルムが形成されている基材の第1の面の反対側の第2の面側から、レーザー光のような光を照射することにより実施される。このような光の照射によって、基材と透明樹脂フィルムとの界面において、基材からの透明樹脂フィルムの剥離が生じる。
ところで、近年、薄膜トランジスタ(TFT)を有する表示装置が用いられている。この薄膜トランジスタ(TFT)は、表示装置内の表示素子のスイッチングを実行するスイッチング素子として機能する。
薄膜トランジスタは、チャネル領域に、例えば、酸化物半導体層を備えている。上述のような表示装置の製造方法を、薄膜トランジスタを備える表示装置を製造するために適用すると、薄膜トランジスタの酸化物半導体層が光に晒されてしまう。特に、上述の製造方法において用いられる光が短波長の光であると、これに起因して、酸化物半導体層に含まれる酸化物半導体材料が変質・劣化するため、表示装置のスイッチング特性に悪影響をおよぼすという問題が生じる。
国際公開第2004/039863号
本発明の目的は、優れたスイッチング特性を有する薄膜トランジスタを含む電子素子形成層を得るための電子素子製造用基板を用いた電子装置を製造する方法を提供することにある。
このような目的は、下記(1)〜(7)に記載の本発明により達成される。
(1)第1の面と該第1の面に対向する第2の面とを備える平板状の基材を用意する工程と、
下記一般式(I)で表される第1の繰り返し単位と下記一般式(II)で表される第2の繰り返し単位とを有する芳香族ポリアミドと前記芳香族ポリアミドを溶解する溶剤とを含有する樹脂組成物を、前記第1の面側に塗布する工程と、
塗布した前記樹脂組成物を280〜400℃で加熱することにより、波長355nmの全光線透過率が10%以下である電子素子形成層を形成する工程と、
前記電子素子形成層の前記基材と反対側の面に電子素子を形成する工程と、
前記電子素子を覆うように被覆層を形成する工程と、
前記基材と前記電子素子形成層との界面において前記基材から前記電子素子形成層を剥離させるために、YAGレーザー光を前記電子素子形成層に照射する工程と、
前記電子素子、前記被覆層、および前記電子素子形成層を含む電子装置を、前記基材から分離する工程と、
を有することを特徴とする電子装置を製造する方法。
Figure 0006099815
(ただし、xは、前記第1の繰り返し単位のmol%を示し、yは、前記第2の繰り返し単位のmol%を示し、nは、1〜4の整数を示し、Ar は、下記一般式(III)で表され、
Figure 0006099815
[q=3、R 、R 、は、水素、ハロゲン、アルキル、置換アルキル、ニトロ、シアノ、チオアルキル、アルコキシ、置換アルコキシ、アリール、置換アリール、アルキルエステル、および置換アルキルエステル、並びにそれらの組み合せからなる群から選択される。]、
Ar は、下記一般式(IV)または(V)で表され、
Figure 0006099815
[p=4、R 、R 、R は、水素、ハロゲン、アルキル、ハロゲン化アルキル等の置換アルキル、ニトロ、シアノ、チオアルキル、アルコキシ、置換アルコキシ、アリール、置換アリール、アルキルエステル、および置換アルキルエステル、並びにそれらの組み合せからなる群から選択され、G は、共有結合、CH 基、C(CH 基、C(CF 基、C(CX 基(但しXはハロゲン)、CO基、O原子、S原子、SO 基、Si(CH 基、9,9−フルオレン基、置換9,9−フルオレン基、およびOZO基からなる群から選択され、Zは、アリール基または置換アリール基である。]、
Ar は、下記一般式(VI)または(VII)で表される。
Figure 0006099815
[t=1〜3、R 、R 10 、R 11 は、水素、ハロゲン、アルキル、置換アルキル、ニトロ、シアノ、チオアルキル、アルコキシ、置換アルコキシ、アリール、置換アリール、アルキルエステル、および置換アルキルエステル、並びにそれらの組み合せからなる群から選択され、G は、共有結合、CH 基、C(CH 基、C(CF 基、C(CX 基(但しXはハロゲン)、CO基、O原子、S原子、SO 基、Si(CH 基、9,9−フルオレン基、置換9,9−フルオレン基、およびOZO基からなる群から選択され、Zは、アリール基または置換アリール基である。])
(2)本発明に係る上述の電子装置を製造する方法において、前記電子素子形成層の熱膨張係数(CTE)は、100ppm/K以下であることが好ましい。
(3)また、本発明に係る上述の電子装置を製造する方法において、前記電子素子形成層の平均厚さは、1〜50μmであることが好ましい。
(4)また、本発明に係る上述の電子装置を製造する方法において、前記芳香族ポリアミドの少なくとも一方の末端は、封止されていることが好ましい。
(5)また、本発明に係る上述の電子装置を製造する方法において、前記樹脂組成物は、さらに、無機フィラーを含有することが好ましい。
(6)また、本発明に係る上述の電子装置を製造する方法において、前記基材の構成材料は、ガラスを含むことが好ましい。
(7)また、本発明に係る上述の電子装置を製造する方法において、前記電子素子形成層の波長400nmの全光線透過率は、70%以上であることが好ましい。
本発明によれば、芳香族ポリアミドと、この芳香族ポリアミドを溶解する溶剤とを含有する樹脂組成物を用いて、波長355nmの全光線透過率が10%以下となる層を形成することができる。かかる樹脂組成物を用いて形成される層は、電子装置が備える電子素子形成層として用いられる。電子素子形成層は、基材に接触するようにして、基材の第1の面(表面)上に設けられている。さらに、電子素子形成層が設けられた基材の第1の面の反対側の第2の面側からレーザー光のような短波長の光を照射することにより、基材の第1の面から電子素子形成層を剥離することができる。本発明の樹脂組成物により形成された層を、電子素子形成層として用いることにより、電子素子形成層の基材と接触している面の側から照射される光が、電子素子形成層の照射された側の面から反対側の面まで透過することを確実に抑制または防止することができる。そのため、かかる光が、電子装置が備える薄膜トランジスタに照射されるのに起因して、電子装置のスイッチング特性に悪影響がおよぼされるのを確実に防止することができる。
本発明の電子装置を製造する方法を、有機エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法として適用することにより製造された有機エレクトロルミネッセンス表示装置の実施形態を示す縦断面図である。 本発明の電子装置を製造する方法を適用して製造されたセンサ素子の実施形態を示す断面図である。 図1に示す有機エレクトロルミネッセンス表示装置または図2に示すセンサ素子を製造する方法(本発明の電子装置を製造する方法)を説明するための縦断面図である。
以下、本発明の電子素子製造用基板を製造する方法、樹脂組成物、電子素子製造用基板、および電子装置を製造する方法について、添付図面に示す好適な実施形態に基づいて詳細に説明する。
まず、本発明の電子素子製造用基板を製造する方法、樹脂組成物、電子素子製造用基板、および電子装置を製造する方法について説明するのに先立って、本発明の電子装置を製造する方法を適用して製造された有機エレクトロルミネッセンス表示装置(有機EL表示装置)およびセンサ素子について説明する。すなわち、最初に、有機エレクトロルミネッセンス表示装置およびセンサ素子が、本発明の電子装置の例として説明される。
<有機EL表示装置>
最初に、本発明の電子装置を製造する方法を適用して製造された有機エレクトロルミネッセンス装置について説明する。図1は、本発明の電子装置を製造する方法を、有機エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法として適用することにより製造された有機エレクトロルミネッセンス表示装置の実施形態を示す縦断面図である。なお、以下の説明では、図1中の上側を「上」、下側を「下」と言う。
図1に示す有機EL表示装置1は、本発明の樹脂組成物で形成された樹脂フィルム(電子素子形成層)Aと、画素毎に対応してそれぞれ設けられた複数の発光素子Cと、発光素子Cをそれぞれ駆動するための複数の薄膜トランジスタBとを有している。以下、図1を参照し、有機EL表示装置1を説明する。
なお、本実施形態において、有機EL表示装置1は、ボトムエミッション構造のディスプレイパネルである。ボトムエミッション構造のディスプレイパネルにおいて、発光素子Cから発せられた光は、図1の下側へ向かって樹脂フィルムAを透過し、有機表示デバイス1の下側から取り出される。
樹脂フィルム(電子素子形成層)A上には、有機EL表示装置1が備える複数の発光素子Cに対応するように複数の薄膜トランジスタBが設けられている。また、これらの薄膜トランジスタBのそれぞれを覆うように、絶縁材料で構成された平坦化層301が、樹脂フィルムA上に形成されている。
各薄膜トランジスタBは、樹脂フィルムA上に形成されたゲート電極200と、ゲート電極200を覆うように設けられたゲート絶縁層201と、ゲート絶縁層201上に設けられたソース電極202およびドレイン電極204と、ソース電極202とドレイン電極204との間のチャネル領域に形成され、酸化物半導体材料からなる半導体層203とを有している。
なお、酸化物半導体材料としては、例えば、非金属元素として、窒素(N)および酸素(O)のうち少なくとも酸素(O)を含み、半金属元素として、ホウ素(B)、シリコン(Si)、ゲルマニウム(Ge)、ヒ素(As)、アンチモン(Sb)、テルル(Te)、およびポロニウム(Po)のうち少なくとも1つを含み、さらに、金属元素として、アルミニウム(Al)、亜鉛(Zn)、ガリウム(Ga)、カドニウム(Cd)、インジウム(In)、錫(Sn)、水銀(Hg)、タリウム(Tl)、テルビウム(Tb)、およびビスマス(Bi)のうち少なくとも1つを含むものが挙げられる。なお、非金属元素は、酸素(O)と窒素(N)とを含む混合物であることが好ましい。さらに、酸化物半導体材料は、インジウム(In)、錫(Sn)、シリコン(Si)、酸素(O)、および窒素(N)を主材料として含むことが好ましい。
このような酸化物半導体材料の具体例としては、金属原料(In,SnO)と絶縁体原料(Si)とを組み合わせたものが挙げられる。
また、平坦化層301上には、各薄膜トランジスタBに対応して、発光素子(有機EL素子)Cが設けられている。
本実施形態において、各発光素子Cは、陽極302および陰極306と、陽極302および陰極306の間に陽極302側からこの順で積層された、正孔輸送層303と、発光層304と、電子輸送層305とを備える。
また、各発光素子Cの陽極302は、導電部300を介して、対応する薄膜トランジスタBのドレイン電極204に電気的に接続されている。
かかる構成を有する発光素子Cを複数備える有機EL表示装置1において、薄膜トランジスタBを用いることにより、各発光素子Cの発光輝度を制御することができる。すなわち、各発光素子Cへ印加する電圧を制御することにより、各発光素子Cの発光輝度を制御することができる。各発光素子Cの発光輝度を制御することにより、有機EL表示装置1がフルカラー表示を実行することが可能となる。また、各発光素子Cを同期して同時に発光させることにより、有機EL表示装置1が単色表示を実行することが可能となる。
さらに、本実施形態では、各発光素子C上には、これらを覆うように封止基板400が形成されている。これにより、発光素子Cの気密性が確保され、酸素や水分が発光素子Cに浸入することを防止することができる。
<センサ素子>
次に、本発明の電子装置を製造する方法を適用して製造されたセンサ素子について説明する。図2は、本発明の電子装置を製造する方法を適用して製造されたセンサ素子の実施形態を示す断面図である。なお、以下の説明では、図2中の上側を「上」、下側を「下」という。
本発明のセンサ素子は、例えば、インプットデバイスに使用可能なセンサ素子である。本発明の1つまたは複数の実施形態において、本発明のセンサ素子は、本発明の樹脂組成物を用いて形成された樹脂フィルム(電子素子形成層)Aを備えるセンサ素子である。また、本発明の1つまたは複数の実施形態において、本発明のセンサ素子は、基材500上の樹脂フィルムA上に形成されるセンサ素子である。さらに、本発明の1つまたは複数の実施形態において、本発明のセンサ素子は、基材500から剥離可能なセンサ素子である。
本発明のセンサ素子の例として、撮像を行うための光学センサ素子、電磁波を検出するための電磁センサ素子、X線等の放射線を検出するための放射線センサ素子、磁場を検出するための磁気センサ素子、静電容量の変化を検出するための静電容量センサ素子、圧力の変化を検出するための圧力センサ素子、タッチセンサ素子、圧電センサ等が挙げられる。
また、本発明のセンサ素子を用いたインプットデバイスの例として、放射線(X線)センサ素子を用いた放射線(X線)撮像装置、光学センサ素子を用いた可視光の撮像装置、磁気センサ素子を用いた磁気センサ装置、タッチセンサ素子または圧力センサ素子を用いたタッチパネル、光学センサ素子を用いた指紋認証装置、圧電センサ素子を用いた発光装置等が挙げられる。また、本発明のセンサ素子を用いたインプットデバイスは、ディスプレイ機能などのアウトプットデバイスとしての機能を有していてもよい。
以下、本発明のセンサ素子の1例として、フォトダイオードを備えた光学センサ素子を説明する。
図2に示すセンサ素子10は、本発明の樹脂組成物を用いて形成された樹脂フィルム(電子素子形成層)Aと、樹脂フィルムA上に設けられた複数の画素回路11とを有している。
センサ素子10において、画素回路11は、フォトダイオード(光電変換素子)11Aと、フォトダイオード11Aに対する駆動素子として機能する薄膜トランジスタ(TFT)11Bとを備えている。樹脂フィルムAを透過した光を各フォトダイオード11Aによって検出することにより、センサ素子10は、光学センサ素子として機能することができる。
ゲート絶縁膜21は、樹脂フィルムA上に設けられており、酸化シリコン(SiO)膜、酸窒化シリコン(SiON)膜および窒化シリコン膜(SiN)のうちの1種よりなる単層膜またはそれらのうちの2種以上よりなる積層膜により構成されている。第1層間絶縁膜12Aは、ゲート絶縁膜21上に設けられており、酸化シリコン膜または窒化シリコン膜等からなる。この第1層間絶縁膜12Aは、後述する薄膜トランジスタ11B上を覆う保護膜(パッシベーション膜)としても機能するようになっている。
フォトダイオード11Aは、樹脂フィルムAの選択的な領域に、ゲート絶縁膜21および第1層間絶縁膜12Aを介して設けられている。フォトダイオード11Aは、第1層間絶縁膜12A上に形成された下部電極24と、n型半導体層25Nと、i型半導体層25Iと、p型半導体層25Pと、上部電極26と、配線層27とを有している。また、下部電極24と、n型半導体層25Nと、i型半導体層25Iと、p型半導体層25Pと、上部電極26と、配線層27は、第1層間絶縁膜12A側からこの順で積層されている。
上部電極26は、例えば光電変換の際の基準電位(バイアス電位)を、n型半導体層25Nと、i型半導体層25Iと、p型半導体層25Pとから構成される光電変換層へ供給するための電極であり、基準電位供給用の電源配線である配線層27に接続されている。この上部電極26は、例えばITO(Indium Tin Oxide)等の透明導電膜により構成されている。
薄膜トランジスタ11Bは、例えば、電界効果トランジスタ(FET:Field Effect Transistor)から構成される。薄膜トランジスタ11Bは、ゲート電極20と、ゲート絶縁膜21と、半導体層22と、ソース電極23Sと、ドレイン電極23Dとを備えている。
ゲート電極20は、例えば、チタン(Ti)、Al、Mo、タングステン(W)、クロム(Cr)等から構成されており、樹脂フィルムA上に形成されている。ゲート絶縁膜21は、ゲート電極20上に形成されている。半導体層22は、チャネル領域を有し、ゲート絶縁膜21上に形成されている。ソース電極23Sおよびドレイン電極23Dは、この半導体層22上に形成されている。本実施形態では、ドレイン電極23Dはフォトダイオード11Aの下部電極24に接続され、ソース電極23Sはセンサ素子10の中継電極28に接続されている。
さらに、本実施形態のセンサ素子10では、このようなフォトダイオード11Aおよび薄膜トランジスタ11Bの上層に、第2層間絶縁膜12B、第1平坦化膜13A、保護膜14、および第2平坦化膜13Bがこの順に積層されている。この第1平坦化膜13Aには、フォトダイオード11Aが形成されている領域付近に対応して、開口部3が形成されている。
かかる構成のセンサ素子10において、外部からセンサ素子10に入射した光は、樹脂フィルムAを透過し、フォトダイオード11Aに到達する。これにより、外部からセンサ素子10に入射した光を検出することができる。
(有機EL表示装置1またはセンサ素子10の製造方法)
以上のような構成の有機EL表示装置1またはセンサ素子10は、本発明の樹脂組成物を用いて、例えば、次のようにして製造される。すなわち、有機EL表示装置1またはセンサ素子10は、本発明の電子装置を製造する方法を適用することにより、製造することができる。
図3は、図1に示す有機EL表示装置または図2に示すセンサ素子を製造する方法(本発明の電子装置を製造する方法)を説明するための縦断面図である。なお、以下の説明では、図3中の上側を「上」、下側を「下」という。
最初に、図1に示す有機エレクトロルミネッセンス表示装置1を製造する方法を説明する。
[1]まず、前述の基板(本発明の電子素子製造用基板)を用意する。該基板(本発明の電子素子製造用基板)は、第1の面と、この第1の面に対向する第2の面とを備える平板状の基材500と、樹脂フィルムAとを備える。樹脂フィルム(電子素子形成層)Aは、基材500の第1の面側に設けられる。
[1−A]まず、前記第1の面および第2面を備え、光透過性を有する基材500を用意する。
基材500の構成材料としては、例えば、ガラス、金属、シリコーン、樹脂等が挙げられる。これら材料は、単独で用いられてもよいし、適宜組み合わせて用いられてもよい。
[1−B]次いで、樹脂フィルムAを、この基材500の第1の面(一方の面)上に形成する。これにより、基材500と、樹脂フィルムAとを備える基板(図3中に示す積層複合材料)が得られる。
この樹脂フィルムAの形成に、本発明の樹脂組成物が用いられる。本発明の樹脂組成物は、芳香族ポリアミドと、この芳香族ポリアミドを溶解する溶剤とを含有している。かかる樹脂組成物を用いることで、芳香族ポリアミドを含有し、波長355nmの全光線透過率が10%以下である樹脂フィルム(電子素子形成層)Aが形成される。
また、樹脂フィルムAを形成する方法としては、例えば、図3(A)に示すように、ダイコート法を用いて基材500の第1の面上に、前記樹脂組成物(ワニス)を塗布した後、この樹脂組成物を乾燥・加熱させる方法が挙げられる(図3(B)参照。)。
なお、樹脂組成物を基材500の第1の面上に塗布(流涎)する方法は、上述のダイコート法に限定されない。インクジェット法、スピンコート法、バーコート法、ロールコート法、ワイヤーバーコート法、ディップコート法のような各種液相成膜法を、塗布(流涎)方法として用いることができる。
また、上述のように、本発明の樹脂組成物は、芳香族ポリアミドと、この芳香族ポリアミドを溶解する溶剤とを含有している。かかる樹脂組成物を用いることで、芳香族ポリアミドを含有し、波長355nmの全光線透過率が10%以下である樹脂フィルムAを形成することができる。この本発明の樹脂組成物については、後に詳述する。
本発明の1つまたは複数の実施形態において、反り変形の抑制および/または寸法安定性向上の観点から、溶剤の沸点の約+40℃〜約+100℃の温度、より好ましくは、溶剤の沸点の約+60℃〜約+80℃の温度、さらに好ましくは、溶剤の沸点の約+70℃の温度下で、樹脂フィルムAに対して熱処理が施される。また、本発明の1つまたは複数の実施形態において、反り変形の抑制および/または寸法安定性向上の観点から、本工程[1−B]における熱処理の温度は、約200〜250℃である。また、本発明の1つまたは複数の実施形態において、反り変形の抑制および/または寸法安定性向上の観点から、本工程[1−B]における加熱時間(期間)は、約1分より長く、約30分より短い。
また、樹脂フィルムAが基材500上に形成される本工程[1−B]は、樹脂組成物を乾燥・加熱した後に、樹脂フィルムAを硬化させる硬化処理工程を含んでもよい。樹脂フィルムAの硬化処理の温度は、加熱装置の能力に依存するが、220〜420℃であることが好ましく、280〜400℃であることがより好ましく、330〜370℃であることがより好ましく、340℃以上、または、340〜370℃であることがさらに好ましい。また、樹脂フィルムAの硬化処理の時間は、5〜300分、または、30〜240分であることが好ましい。
[2]次に、得られた基板が備える樹脂フィルムA上に、形成すべき画素毎に対応するように、薄膜トランジスタBをそれぞれ形成し、その後、これら薄膜トランジスタBを覆うように平坦化層301を形成する。
[2−A]まず、樹脂フィルムA上に、薄膜トランジスタBを形成する。
[2−Aa]最初に、樹脂フィルムA上に、導電膜を形成する。その後、導電膜に対しパターニング処理を施すことにより、ゲート電極200を形成する。
樹脂フィルムA上への導電膜の形成は、アルミニウム、タンタル、モリブデン、チタン、タングステン等の金属材料を、スパッタ法等により、樹脂フィルムA上に塗布(供給)することにより実行することができる。
[2−Ab]次いで、ゲート電極200を覆うように、樹脂フィルムA上にゲート絶縁層201を形成する。
このゲート絶縁層201は、例えば、TEOS(テトラエトキシシラン)や酸素ガスおよび窒素ガスなどを原料ガスとするプラズマCVD法等を用いることで形成される。このようなプラズマCVD法を用いることにより、酸化シリコンまたは窒化シリコンを主材料として構成されるゲート絶縁層201を形成することができる。
[2−Ac]次いで、ゲート絶縁層201上に、導電膜を再度形成する。その後、このゲート絶縁層201上の導電膜に対しパターニング処理を施すことにより、ソース電極202およびドレイン電極204を形成する。
ゲート絶縁層201上への導電膜の形成は、前記工程[2−Aa]で説明したのと同様の方法を用いて実行することができる。
[2−Ad]次いで、ソース電極202とドレイン電極204との間に位置するチャネル領域に半導体層203を形成する。
この半導体層203は、前述した酸化物半導体材料に含まれる半金属元素および/または金属元素を含有する金属ターゲットを用いた酸素(および窒素)含有雰囲気下におけるスパッタ法により形成することができる。
[2−B]次に、薄膜トランジスタBを覆うように、樹脂フィルムA上に平坦化層301を形成するとともに、陽極302と、ドレイン電極204とを電気的に接続する導電部300を形成する。
[2−Ba]まず、樹脂フィルムA、および、この樹脂フィルムA上に形成された薄膜トランジスタBを覆うように、平坦化層301を形成する。
[2−Bb]次いで、コンタクトホールを形成し、その後、コンタクトホール内に導電部300を形成する。
[3]次に、平坦化層301上に、各薄膜トランジスタBにそれぞれ対応するように、発光素子(電子素子)Cを形成する。
[3−A]まず、平坦化層301上に、各導電部300に対応するように、陽極(個別電極)302を形成する。
[3−B]次いで、陽極302を覆うように、正孔輸送層303を形成する。
[3−C]次いで、正孔輸送層303を覆うように、発光層304を形成する。
[3−D]次いで、発光層304を覆うように、電子輸送層305を形成する。
[3−E]次いで、電子輸送層305を覆うように、陰極306を形成する。
なお、上記工程[3−A]〜[3−E]で形成する各層は、例えば、スパッタ法、真空蒸着法、CVD法等の気相成膜法や、インクジェット法、スピンコート法、キャスティング法等の液相成膜法を用いて形成することができる。
[4]次に、封止基板400を用意し、この封止基板(被覆層)400により各発光素子Cの陰極306を覆うことにより、各発光素子Cを封止基板400で封止する。すなわち、発光素子Cを覆うように、封止基板400が形成される。
なお、このような封止基板400による封止は、陰極306と封止基板400との間に接着剤を介在させた後、この接着剤を乾燥させることにより実行することができる。
上記のような工程[1]〜[4]を経ることで、樹脂フィルムAと、薄膜トランジスタBと、発光素子Cと、封止基板400とを備える有機EL表示装置1が基材500上に形成される(図3(C)参照。)。
[5]次に、基材500側から、樹脂フィルム(電子素子形成層)Aに、光を照射する。
これにより、基材500と樹脂フィルムAとの界面において、基材500の第1の面から樹脂フィルムAが剥離する。
その結果、有機EL表示装置(電子装置)1が基材500から分離される(図3(D)参照。)。
樹脂フィルムAに照射される光としては、この樹脂フィルムAへの光の照射により、基材500と樹脂フィルムAとの界面で、基材500の第1の面から樹脂フィルムAを剥離させ得るものであれば特に限定されないが、レーザー光であるのが好ましい。レーザー光を用いることにより、基材500と樹脂フィルムAとの界面において、基材500から樹脂フィルムAをより確実に剥離させることができる。
また、レーザー光としては、パルス発振型または連続発光型のエキシマレーザー、炭酸ガスレーザー、YAGレーザーおよびYVOレーザー等が挙げられる。
上記のような工程[1]〜[5]を経ることで、基材500から分離(剥離)された有機EL表示装置1を得ることができる。
次に、図3に示すセンサ素子を製造する方法を説明する。
[1]まず、上述の図1に示す有機EL表示装置1を製造する方法と同様に、基材500と、基材500上に形成された樹脂フィルム(電子素子形成層)Aとを備える基板(本発明の電子素子製造用基板)を用意する。基材500上に樹脂フィルムAを形成する工程は、上述の有機EL表示装置1を製造する方法と同様であるので、ここでは説明を省略する(図3(A)および図3(B)参照)。
[2]次に、得られた基板が備える樹脂フィルムA上に、上述のセンサ素子10を形成する。樹脂フィルムA上にセンサ素子10を形成する方法は、特に限定されない。樹脂フィルムA上へのセンサ素子10の形成は、従来の方法を所望のセンサ素子を製造するために適宜選択および変更した方法によって実行することができる。
上記のような工程[1]〜[2]を経ることで、樹脂フィルムAと、複数の画素回路11とを備えるセンサ素子10が基材500上に形成される(図3(C)参照。)。
[3]次に、基材500側から、樹脂フィルム(電子素子形成層)Aに、光を照射することによって、センサ素子(電子装置)10を基材500から剥離する(図3(D)参照)。センサ素子10を基材500から剥離する方法は、上述の有機EL表示装置1を基材500から剥離する方法と同様であるので、ここでは説明を省略する。
以上のような工程[1]〜[3]を経ることで、基材500から剥離されたセンサ素子10を得ることができる。
ここで、樹脂フィルムAが短波長から長波長の光透過性を有していると仮定した場合、基材500の第1の面側から樹脂フィルムAに照射された光は、この樹脂フィルムAを透過し、有機EL表示装置1が備える薄膜トランジスタBおよび発光素子Cにまで到達する。この際、照射した光に短波長の光が含まれていると、薄膜トランジスタBが備える半導体層203が含有している酸化物半導体材料が短波長の光に晒されることに起因して変質・劣化し、その結果、有機EL表示装置1のスイッチング特性に悪影響をおよぼすという問題が生じる。
同様に、基板500の第1の面側から樹脂フィルムAに照射された光は、この樹脂フィルムAを透過し、センサ素子10が備えるフォトダイオード11Aおよび薄膜トランジスタ11Bにまで到達する。この際、照射した光に短波長の光が含まれていると、フォトダイード11Aが備える半導体層25N、25I、25Pが含有している酸化物半導体材料および薄膜トランジスタ11Bが備える半導体層22が含有している酸化物半導体材料が短波長の光に晒されることに起因して変質・劣化し、その結果、センサ素子10のスイッチング特性に悪影響をおよぼすという問題が生じる。
かかる問題点を解消することを目的に、本発明では、樹脂フィルムAは、芳香族ポリアミドを含有しており、さらに、樹脂フィルムAの波長355nmの全光線透過率が10%以下となっている。これにより、基材500の第1の面側から樹脂フィルムAに照射された光(特に、短波長の光)が、樹脂フィルムAを透過することを確実に抑制または防止することができる。そのため、かかる光の透過に起因して、有機EL表示装置1またはセンサ素子10のスイッチング特性に悪影響がおよぼされるのを確実に防止することができる。
以上のような構成の樹脂フィルムAは、前述の通り、芳香族ポリアミドと、この芳香族ポリアミドを溶解する溶剤とを含有する本発明の樹脂組成物を用いて形成することができる。以下、この本発明の樹脂組成物の構成材料について詳述する。
[芳香族ポリアミド]
芳香族ポリアミドは、樹脂フィルム(電子素子形成層)Aを形成するための樹脂組成物の主材料として用いられる。樹脂フィルムAの波長355nmの全光線透過率を10%以下とするために、芳香族ポリアミドが樹脂組成物中に含まれる。
また、芳香族ポリアミドを樹脂組成物中に含ませることにより、樹脂フィルムAへの光の照射による、基材500と樹脂フィルムAとの界面における、基材500からの樹脂フィルムAの剥離を効率よく実施することができる。
上記の通り、このような芳香族ポリアミドは、樹脂フィルムAの波長355nmの全光線透過率を10%以下とし得るものであれば、特に限定されないが、例えば、芳香族ポリアミドは、ナフタレン構造を含む主骨格を有することが好ましい。芳香族ポリアミドを樹脂フィルムAの主材料として用いることにより、形成される樹脂フィルムAの全光線透過率を前記範囲内に確実に設定することができる。
また、芳香族ポリアミドは、その主骨格に連結する、カルボキシル基を含んでいることが好ましい。主骨格に連結するカルボキシル基を含む芳香族ポリアミドを用いることにより、形成される樹脂フィルムAの耐溶剤性を向上させることができ、樹脂フィルムA上に、薄膜トランジスタBおよび発光素子Cを形成する際に用いる液状材料の選択の幅が広がる。
さらに、芳香族ポリアミドは、全芳香族ポリアミドであることが好ましい。すなわち、芳香族ポリアミドは、芳香族骨格のみから構成されることが好ましい。全芳香族ポリアミドを用いることにより、形成される樹脂フィルムAの全光線透過率を前記範囲内により確実に設定することができる。なお、全芳香族ポリアミドとは、その主骨格に含まれるアミド結合同士が直鎖状または環状をなす脂肪族化合物で連結されることなく、全て芳香族化合物(芳香族環)で連結されているものを言う。
以上の点を考慮すると、芳香族ポリアミドは、下記一般式(I)で表される第1の繰り返し単位および下記一般式(II)で表される第2の繰り返し単位を有する芳香族ポリアミドであることが好ましい。
Figure 0006099815
(ただし、xは、前記第1の繰り返し単位のmol%を示し、yは、前記第2の繰り返し単位のmol%を示し、nは、1〜4の整数を示し、Arは、下記一般式(III)で表され、
Figure 0006099815
[q=3、R、R、は、水素、ハロゲン(フッ化物、塩化物、臭化物、およびヨウ化物)、アルキル、ハロゲン化アルキル等の置換アルキル、ニトロ、シアノ、チオアルキル、アルコキシ、ハロゲン化アルコキシ等の置換アルコキシ、アリール、ハロゲン化アリール等の置換アリール、アルキルエステル、および置換アルキルエステル、並びにそれらの組み合せからなる群から選択される。]、
Arは、下記一般式(IV)または(V)で表され、
Figure 0006099815
[p=4、R、R、Rは、水素、ハロゲン(フッ化物、塩化物、臭化物、およびヨウ化物)、アルキル、ハロゲン化アルキル等の置換アルキル、ニトロ、シアノ、チオアルキル、アルコキシ、ハロゲン化アルコキシ等の置換アルコキシ、アリール、ハロゲン化アリール等の置換アリール、アルキルエステル、および置換アルキルエステル、並びにそれらの組み合せからなる群から選択され、Gは、共有結合、CH基、C(CH基、C(CF基、C(CX基(但しXはハロゲン)、CO基、O原子、S原子、SO基、Si(CH基、9,9−フルオレン基、置換9,9−フルオレン基、およびOZO基からなる群から選択され、Zは、フェニル基、ビフェニル基、パーフルオロビフェニル基、9,9−ビスフェニルフルオレン基、および置換9,9−ビスフェニルフルオレン基等のアリール基または置換アリール基である。]、
Arは、下記一般式(VI)または(VII)で表され、
Figure 0006099815
[t=1〜3、R、R10、R11は、水素、ハロゲン(フッ化物、塩化物、臭化物、およびヨウ化物)、アルキル、ハロゲン化アルキル等の置換アルキル、ニトロ、シアノ、チオアルキル、アルコキシ、ハロゲン化アルコキシ等の置換アルコキシ、アリール、ハロゲン化アリール等の置換アリール、アルキルエステル、および置換アルキルエステル、並びにそれらの組み合せからなる群から選択され、Gは、共有結合、CH基、C(CH基、C(CF基、C(CX基(但しXはハロゲン)、CO基、O原子、S原子、SO基、Si(CH基、9,9−フルオレン基、置換9,9−フルオレン基、およびOZO基からなる群から選択され、Zは、フェニル基、ビフェニル基、パーフルオロビフェニル基、9,9−ビスフェニルフルオレン基、および置換9,9−ビスフェニルフルオレン基等のアリール基または置換アリール基である。])
また、本発明の1つまたは複数の実施形態において、上記一般式(I)および(II)は、芳香族ポリアミドが極性溶剤または1つ以上の極性溶剤を含む混合溶剤に対して可溶性を有するよう選択される。本発明の1つまたは複数の実施形態において、一般式(I)のxは90.0〜99.99mol%の範囲で変化し、一般式(II)のyは10.0〜0.01mol%の範囲で変化する。本発明の1つまたは複数の実施形態において、一般式(I)のxは90.1〜99.9mol%の範囲で変化し、一般式(II)のyは9.9〜0.1mol%の範囲で変化する。本発明の1つまたは複数の実施形態において、一般式(I)のxは90.0〜99.0mol%の範囲で変化し、一般式(II)のyは10.0〜1.0mol%の範囲で変化する。本発明の1つまたは複数の実施形態において、一般式(I)のxは92.0〜98.0mol%の範囲で変化し、一般式(II)のyは8.0〜2.0mol%の範囲で変化する。本発明の1つまたは複数の実施形態において、一般式(I)および(II)で表される複数の繰り返し単位中のAr、Ar、Arは互いに同一であってもよいし、異なっていてもよい。
また、芳香族ポリアミドは、その数平均分子量(Mn)が、6.0×10以上であることが好ましく、6.5×10以上であることがより好ましく、7.0×10以上であることがより好ましく、7.5×10以上であることがより好ましく、8.0×10以上であることがさらに好ましい。また、数平均分子量が、1.0×10以下であることが好ましく、8.0×10以下であることがより好ましく、6.0×10以下であることがより好ましく、4.0×10以下であることがさらに好ましい。上述の条件を満足する芳香族ポリアミドを用いることにより、有機EL表示装置1またはセンサ素子10における下地層としての機能を樹脂フィルムAに発揮させることが確実にできる。さらに、樹脂フィルムAの全光線透過率を前記範囲内に確実に設定することができる。
なお、本明細書中において、ポリアミドの数平均分子量(Mn)および重量平均分子量(Mw)は、ゲル浸透クロマトグラフィー(Gel Permeation Chromatography)にて測定され、具体的には、下記実施例において用いられる方法によって測定される。
さらに、芳香族ポリアミドの分子量分布(=Mw/Mn)は、5.0以下であることが好ましく、4.0以下であることがより好ましく、3.0以下であることがより好ましく、2.8以下であることがより好ましく、2.6以下であることがより好ましく、2.4以下であることがさらに好ましい。また、芳香族ポリアミドの分子量分布は、2.0以上であることが好ましい。上述の条件を満足する芳香族ポリアミドを用いることにより、有機EL表示装置1またはセンサ素子10における下地層としての機能を樹脂フィルムAに発揮させることが確実にできるとともに、樹脂フィルムAの全光線透過率を前記範囲内に確実に設定することができる。
また、芳香族ポリアミドは、芳香族ポリアミドを合成した後に再沈殿の工程を経ることで得られたものであることが好ましい。再沈殿の工程を経て得られた芳香族ポリアミドを用いることにより、有機EL表示装置1またはセンサ素子10における下地層としての機能を樹脂フィルムAに発揮させることが確実にできるとともに、樹脂フィルムAの全光線透過率を前記範囲内に確実に設定することができる。
本発明の1つまたは複数の実施形態において、芳香族ポリアミドの末端−COOH基および末端−NH基のいずれかまたは双方は末端封止されている。この末端封止は、ポリアミドフィルム(すなわち、樹脂フィルムA)の耐熱性向上の観点から好ましい。ポリアミドの末端は、各末端が−NHである場合、ベンゾイルクロライドを用いた反応によって末端封止することができ、各末端が−COOHである場合、アニリンを用いた反応によって末端封止することができる。しかしながら、末端封止の方法はこれに限定されない。
[無機フィラー]
また、樹脂組成物は、芳香族ポリアミドに加えて、無機フィラーを含むことが好ましい。無機フィラーを含む樹脂組成物を用いることにより、樹脂フィルムAの熱線膨張率を低減させることができる。
この無機フィラーは、特に限定されないが、粒子または繊維であるものが用いられる。
また、無機フィラーの材質は、無機物であれば特に限定されず、例えば、シリカ、アルミナ、酸化チタン等の金属酸化物、マイカ等の鉱物、ガラス、またはこれらの混合物が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合せて用いることができる。なお、ガラスの種類としては、Eガラス、Cガラス、Aガラス、Sガラス、Dガラス、NEガラス、Tガラス、低誘電率ガラス、高誘電率ガラス等が挙げられる。
無機フィラーが繊維である場合、前記繊維の平均繊維径は1〜1000nmであることが好ましい。上述のような平均繊維径を有する無機フィラーを含む樹脂組成物を用いることによって、有機EL表示装置1またはセンサ素子10における下地層としての機能を樹脂フィルムAに発揮させることが確実にできるとともに、樹脂フィルムAの全光線透過率を前記範囲内に確実に設定することができる。
ここで、前記繊維は、複数の単繊維から構成されるものであってもよい。この複数の単繊維は、引き揃えられることなく、かつ相互間にマトリックス樹脂の液状前駆体が入り込むように十分に離隔している。この場合、平均繊維径は複数の単繊維の平均径となる。また、前記繊維は、複数本の単繊維が束状に集合して1本の糸条を構成しているものであってもよく、この場合、平均繊維径は1本の糸条の径の平均値として定義される。平均繊維径は、具体的には実施例の方法で測定される。また、フィルムの透明性向上の観点から、前記繊維の平均繊維径は小さいほど好ましく、また、樹脂組成物(ポリアミド溶液)に含まれるポリアミド樹脂の屈折率と無機フィラーの屈折率とが近いほど好ましい。例えば、繊維に使用する材質とポリアミドの589nmにおける屈折率の差が0.01以下の場合は、繊維径に関わらず透明性の高いフィルムを形成することが可能となる。また、平均繊維径の測定方法としては、例えば電子顕微鏡による観察等が挙げられる。
また、無機フィラーが粒子である場合、前記粒子の平均粒子径は1〜1000nmであることが好ましい。上述のような平均粒子径を有する粒子の形態の無機フィラーを含む樹脂組成物を用いることによって、有機EL表示装置1またはセンサ素子10における下地層としての機能を樹脂フィルムAに発揮させることが確実にできるとともに、樹脂フィルムAの全光線透過率を前記範囲内に確実に設定することができる。
ここで、前記粒子の平均粒子径は、平均投影円相当直径をいい、具体的には実施例において測定される。
前記粒子の形状は、特に限定されないが、例えば、球状もしくは真球状、ロッド状、平板状、またはこれらの結合形状が挙げられる。このような形状を有する無機フィラーを用いることにより、樹脂フィルムAの全光線透過率を前記範囲内に確実に設定することができる。
また、前記粒子の平均粒子径は小さいほど好ましく、さらに、樹脂組成物(ポリアミド溶液)に含まれるポリアミド樹脂の屈折率と無機フィラーの屈折率とが近いほど好ましい。これにより、樹脂フィルムAの透明性のさらなる向上を図ることができる。例えば、粒子に使用する材質とポリアミドの589nmにおける屈折率の差が0.01以下の場合は、粒子径に関わらず透明性の高い樹脂フィルムAを形成することが可能となる。また、平均粒子径の測定方法としては、例えば粒度分布計による測定等が挙げられる。
また、樹脂組成物(ポリアミド溶液)における固形分中の無機フィラーの割合としては、特に限定されないが、1体積%〜50体積%であることが好ましく、2体積%〜40体積%であることがより好ましく、3体積%〜30体積%であることがさらに好ましい。さらに、樹脂組成物(ポリアミド溶液)における固形分中の芳香族ポリアミドの割合は、特に限定されないが、50体積%〜99体積%であることが好ましく、60〜98体積%であることがより好ましく、70〜97体積%であることがさらに好ましい。
なお、本明細書中において、「固形分」とは、樹脂組成物中の溶剤以外の成分をいう。固形分の体積換算、無機フィラーの体積換算、および/またはポリアミドの体積換算は、ポリアミド溶液を調製する際の成分の投入量から算出できる。または、ポリアミド溶液から溶剤を除去することでも算出できる。
[その他の成分]
さらに、樹脂組成物には、必要に応じて、有機EL表示装置1またはセンサ素子10における下地層としての機能が損なわれない程度、および、樹脂フィルムAの全光線透過率が前記範囲内に設定される程度において、酸化防止剤、紫外線吸収剤、染料、顔料、他の無機フィラー等の充填剤等を含んでいてもよい。
[固形分の含有量]
さらに、樹脂組成物中における固形分の比は、1体積%以上であることが好ましく、2体積%以上であることがより好ましく、3体積%以上であることがさらに好ましい。また、樹脂組成物中における固形分の比は、40体積%以下であることが好ましく、30体積%以下であることがより好ましく、20体積%以下であることがさらに好ましい。樹脂組成物中における固形分の比を上述の範囲内に設定することにより、有機EL表示装置1またはセンサ素子10における下地層としての機能を樹脂フィルムAに発揮させることが確実にできるとともに、樹脂フィルムAの全光線透過率を前記範囲内に確実に設定することができる。
[溶剤]
溶剤(溶媒)は、芳香族ポリアミドを溶解し得るものが選択され、樹脂組成物を含むワニス(液状材料)を得るために用いられる。
本発明の1つまたは複数の実施形態において、芳香族ポリアミドの溶剤に対する可溶性向上の観点から、溶剤は極性溶剤または1つ以上の極性溶剤を含む混合溶剤であることが好ましい。本発明の1つまたは複数の実施形態において、芳香族ポリアミドの溶剤に対する可溶性向上および樹脂フィルムAと基材500との間の密着性向上の観点から、溶剤は、クレゾール;N,N−ジメチルアセトミド(DMAc);N−メチル−2−ピロリジノン(NMP);ジメチルスルホキシド(DMSO);1,3−ジメチル−イミダゾリジノン(DMI);N,N−ジメチルホルムアミド(DMF);ブチルセロソルブ(BCS);γ−ブチロラクトン(GBL);もしくはクレゾール、N,N−ジメチルアセトアミド(DMAc)、N−メチル−2−ピロリジノン(NMP)、ジメチルスルホキシド(DMSO)、1,3−ジメチル−イミダゾリジノン(DMI)、N,N−ジメチルホルムアミド(DMF)、ブチルセロソルブ(BCS)、γ−ブチロラクトン(GBL)の少なくとも1つを含む混合溶剤;これらの組み合わせ;またはこれらの極性溶剤を少なくとも1つ含む混合溶剤であることが好ましい。
[樹脂組成物の製造方法]
以上のような樹脂組成物は、例えば、下記の工程(a)〜(d)を含む製造方法を用いて製造することができる。
なお、以下では、樹脂組成物中に無機フィラーが含まれる場合について説明する。
ただし、本発明の樹脂組成物は、下記の製造方法で製造されたものに限定されるものではない。
工程(a)は、少なくとも1つの芳香族ジアミンを溶剤に溶解させることにより、混合物を得るために実行される。工程(b)は、混合物内において、少なくとも1つの芳香族ジアミンを少なくとも1つの芳香族ジカルボン酸ジクロライドと反応させることにより、遊離塩酸とポリアミド溶液を得るために実行される。工程(c)は、捕獲試薬による反応によって、混合物中から、遊離塩酸を除去するために実行される。工程(d)は、無機フィラーを混合物中に添加するために実行される。
本発明のポリアミド溶液を製造する方法の1つまたは複数の実施形態において、芳香族ジカルボン酸ジクロライドとしては、例えば、下記一般式(VIII)で表される化合物が挙げられる。
Figure 0006099815
ここで、q=3、R、R、は、水素、ハロゲン(フッ化物、塩化物、臭化物、およびヨウ化物)、アルキル、ハロゲン化アルキル等の置換アルキル、ニトロ、シアノ、チオアルキル、アルコキシ、ハロゲン化アルコキシ等の置換アルコキシ、アリール、ハロゲン化アリール等の置換アリール、アルキルエステル、および置換アルキルエステル、並びにその組み合せからなる群から選択される。
以上のような芳香族ジカルボン酸ジクロライドとしては、具体的には、下記のものが挙げられる。
2,6−ナフタロイルジクロライド(2,6-naphthaloyl dichloride)(NDC)
Figure 0006099815
4,4’− ビフェニルジカルボニルジクロライド(4,4’-biphenyldicarbonyl dichloride)(BPDC)
Figure 0006099815
本発明のポリアミド溶液を製造する方法の1つまたは複数の実施形態において、芳香族ジアミンは、例えば、下記一般式(IX)から(XII)で表される化合物が挙げられる。
Figure 0006099815
ここで、p=4、m=1または2、t=1〜3、R、R、R、R、R10、R11は、水素、ハロゲン(フッ化物、塩化物、臭化物、およびヨウ化物)、アルキル、ハロゲン化アルキル等の置換アルキル、ニトロ、シアノ、チオアルキル、アルコキシ、ハロゲン化アルコキシ等の置換アルコキシ、アリール、ハロゲン化アリール等の置換アリール、アルキルエステル、および置換アルキルエステル、並びにそれらの組み合せからなる群から選択され、各Rは互いに異なっていてもよく、各Rは互いに異なっていてもよく、各Rは互いに異なっていてもよく、各Rは互いに異なっていてもよく、各R10は互いに異なっていてもよく、各R11は互いに異なっていてもよく、GおよびGは、共有結合、CH基、C(CH基、C(CF基、C(CX基(但しXはハロゲン)、CO基、O原子、S原子、SO基、Si(CH基、9,9−フルオレン基、置換9,9−フルオレン基、およびOZO基からなる群から選択され、Zは、フェニル基、ビフェニル基、パーフルオロビフェニル基、9,9−ビスフェニルフルオレン基、および置換9,9−ビスフェニルフルオレン基等のアリール基または置換アリール基である。
以上のような芳香族ジアミンとしては、具体的には、下記のものが挙げられる。
4,4’−ジアミノ−2,2’−ビストリフルオロメチルベンジジン(4, 4’-diamino-2, 2’-bistrifluoromethylbenzidine)(PFMB)
Figure 0006099815
9,9−ビス(4−アミノフェニル)フルオレン(9, 9-bis(4-aminophenyl)fluorine)(FDA)
Figure 0006099815
9,9−ビス(3−フルオロ−4−アミノフェニル)フルオレン(9,9-bis(3-fluoro-4-aminophenyl)fluorine)(FFDA)
Figure 0006099815
4,4’−ジアミノジフェン酸(4, 4’-diaminodiphenic acid)(DADP)
Figure 0006099815
3,5−ジアミノベンゾイン酸(3, 5-diaminobenzoic acid)(DAB)
Figure 0006099815
4,4’−ジアミノ−2,2’−ビストリフルオロメトキシベンジジン(4,4’-diamino-2,2’-bistrifluoromethoxyl benzidine)(PFMOB)
Figure 0006099815
4,4’−ジアミノ−2,2’−ビストリフルオロメチルジフェニルエーテル(4,4’-diamino-2,2’-bistrifluoromethyl diphenyl ether)(6FODA)
Figure 0006099815
ビス(4−アミノ−2−トリフルオロメチルフェニルオキシル)ベンゼン(bis(4-amino-2-trifluoromethyl phenyloxyl)benzene)(6FOQDA)
Figure 0006099815
ビス(4−アミノ−2−トリフルオロメチルフェニルオキシル)ビフェニル(bis(4-amino-2-trifluoromethyl phenyloxyl)biphenyl)(6FOBDA)
Figure 0006099815
4,4’−ジアミノジフェニルスルホン(4,4’-diaminodiphenyl sulfone)(DDS)
Figure 0006099815
なお、ジアミノジフェニルスルホンは、上記式のような4,4’−ジアミノジフェニルスルホン(4,4’-diaminodiphenyl sulfone)であってもよいし、3,3’−ジアミノジフェニルスルホン(3,3’-diaminodiphenyl sulfone)または2,2’−ジアミノジフェニルスルホン(2,2’-diaminodiphenyl sulfone)であってもよい。
本発明のポリアミド溶液を製造する方法の1つまたは複数の実施形態において、ポリアミドは、溶剤中の縮合重合を介して精製される。ここで、反応中に発生した塩酸は、酸化プロピレン(PrO)のような捕獲試薬によって捕獲される。
本発明の1つまたは複数の実施形態において、本方法内でのポリアミド溶液使用のため、塩酸と捕獲試薬との反応から揮発性生成物が産出される。
本発明の1つまたは複数の実施形態において、本方法内でのポリアミド溶液使用の観点から、捕獲試薬は、酸化プロピレンである。本発明の1つまたは複数の実施形態において、捕獲試薬は、工程(c)の前またはその最中に添加される。工程(c)の前またはその最中に捕獲試薬を添加することにより、工程(c)後の混合物内での凝縮の発生や粘性度を低減させることができ、これにより、ポリアミド溶液の生産性を向上させることができる。捕獲試薬が酸化プロピレンのような有機試薬である場合、これら効果が特に顕著になる。
本発明の1つまたは複数の実施形態において、樹脂フィルムAの耐熱性向上の観点から、本方法は、さらに、ポリアミドの末端−COOH基および末端−NH基の一方または双方を末端封止する工程を含む。ポリアミドの末端は、各末端が−NHである場合、ベンゾイルクロライドを用いた反応によって末端封止することができ、各末端が−COOHである場合、アニリンを用いた反応によって末端封止することができる。しかしながら、末端封止の方法はこれに限定されない。
本発明の1つまたは複数の実施形態において、本方法でのポリアミド溶液使用の観点から、ポリアミドは、最初に、無機フィラーを添加する前の溶剤内での再沈殿および再溶解によって、ポリアミド溶液から分離される。
再沈殿は通常の方法で行うことができる。本発明の1つまたは複数の実施形態において、再沈殿は、例えば、ポリアミドをメタノール、エタノール、イソプロピルアルコール等への添加により沈殿させ、ポリアミドを洗浄し、溶剤に再溶解するにより実行される。
ポリアミド溶液の製造用の溶剤としては、前述のものが使用できる。
本発明の1つまたは複数の実施形態において、本方法でのポリアミド溶液使用の観点から、溶液が無機塩を含まないようポリアミド溶液が製造される。
以上のような工程を経ることにより樹脂組成物を製造することができる。
また、上述のような工程を経て得られた樹脂組成物を用いて形成される樹脂フィルムAは、芳香族ポリアミドを含有する。そのため、樹脂フィルムAの波長355nmの全光線透過率は、好ましくは、10%以下に設定される。より具体的には、樹脂フィルムAの波長355nmの全光線透過率は、5%以下であるのがより好ましく、3%以下であることがより好ましく、2%以下であることがより好ましく、1%であることがさらに好ましい。樹脂フィルムAの波長355nmの全光線透過率を前記範囲内に設定することにより、光(特に、短波長の光)が樹脂フィルムAを透過し、半導体層203に到達することを確実に抑制または防止することができる。
さらに、樹脂フィルムAの波長400nmの全光線透過率は、好ましくは70%以上、より好ましくは75%以上、さらに好ましくは90%以上に設定される。樹脂フィルムAの波長400nmの全光線透過率を前記範囲内に設定することにより、長波長の光が樹脂フィルムAを確実に透過できるようにすることができる。
また、樹脂フィルムAの厚み方向の波長400nmのリタデーション(Rth)は、200.0nm以下であることが好ましく、190.0nm以下であることがより好ましく、180.0nm以下であることがより好ましく、175.0nm以下であることがより好ましく、173.0nm以下であることがさらに好ましい。なお、樹脂フィルム(ポリアミドフィルム)AのRthは、位相差測定装置を用いて算出することができる。
また、樹脂フィルムAは、その熱膨張係数(CTE)が100.0ppm/K以下であることが好ましく、80ppm/K以下であることがより好ましく、60ppm/K以下であることがより好ましく、40ppm/K以下であることがさらに好ましい。なお、樹脂フィルムAのCTEは、熱機械分析装置(TMA)を用いて算出することができる。
RthおよびCTEをそれぞれ前記範囲内にとすることにより、基材500と樹脂フィルムAとを備える基板において、反りが生じるのを的確に抑制または防止することができる。そのため、かかる基板を用いて得られる、有機EL表示装置1またはセンサ素子10の歩留まりを向上させることができる。
なお、樹脂フィルムAを無機フィラーが含まれる構成とする場合、樹脂フィルムA中の無機フィラーの含有量は、樹脂フィルムAの体積に対して1体積%〜50体積%であることが好ましく、2体積%〜40体積%であることがより好ましく、3体積%〜30体積%であることがさらに好ましい。上述のような量の無機フィラーを樹脂フィルムAに添加することによって、樹脂フィルムAのRthおよびCTEの大きさをそれぞれ前記範囲内に容易に設定することができる。なお、樹脂フィルムAの体積換算、および/または無機フィラーの体積換算は、樹脂組成物を調製する際の成分の投入量から算出でき、あるいは、樹脂フィルムAの体積を測定することで得ることができる。
また、樹脂フィルムAの平均厚さは、特に限定されないが、例えば、50μm以下であることが好ましく、30μm以下であることがより好ましく、20μm以下であることがさらに好ましい。さらに、樹脂フィルムAの平均厚さは、1μm以上であることが好ましく、2μm以上であることがより好ましく、3μm以上であることがさらに好ましい。上述のような平均厚さを有する樹脂フィルムAを用いることにより、有機EL表示装置1またはセンサ素子10における下地層としての機能を樹脂フィルムAに発揮させることが確実にできるとともに、樹脂フィルムAにおけるクラック発生を確実に抑制または防止することができる。
以上、本発明の電子素子製造用基板を製造する方法、樹脂組成物、電子素子製造用基板、および電子装置を製造する方法を実施形態に基づいて説明したが、本発明はこれらに限定されるものではない。
例えば、本発明の樹脂組成物および電子素子製造用基板において、各構成は、同様の機能を発揮し得る任意のものと置換することができ、あるいは、任意の構成のものを付加することができる。
また、本発明の電子装置を製造する方法において、任意の目的で、1以上の工程を追加することができる。
さらに、前記実施形態では、本発明の電子装置を製造する方法を、有機EL表示装置1およびフォトダイオードを備えるセンサ素子10の製造に適用したが、本発明の電子装置を製造する方法は、これに限定されない。例えば、本発明の電子装置を製造する方法は、液晶表示装置のようなその他の表示装置の製造に適用できる他、電子素子としてセンサ素子を備えるインプットデバイスの製造、電子素子としてディスプレイ用素子を備える表示装置の製造、電子素子として光学素子を備える光学装置の製造、電子素子として光電変換素子を備える太陽電池の製造等の各種電子装置の製造に適用することができる。また、電子素子としては、薄膜トランジスタおよびフォトダイオードに限らず、有機EL素子のような発光素子、光電変換素子、圧電素子等が挙げられる。
実施例
以下、実施例に基づいて本発明をより具体的に説明する。
1.樹脂組成物の調製および樹脂フィルムの形成
[実施例1]
[樹脂組成物の調製]
<1>溶液を得るため、機械式攪拌機と、窒素注入口および排出口を備える250ml三首丸底フラスコに、PFMB(3.042g、0.0095mol)、DAB(0.0761g、0.0005mol)、およびDMAc(30ml)を加えた。
<2>PFMBおよびDABが完全に溶解した後、PrO(1.4g、0.024mol)を溶液に添加した。その後、溶液を0℃まで冷却した。
<3>撹拌中に、IPC(Isophthaloyl dichloride:1.909g、0.0090mol)およびNDC(0.253g、0.001mol)を溶液に添加し、その後、フラスコ壁をDMAc(1.5ml)で洗浄した。
<4>2時間後、ベンゾイルクロライド(0.032g、0.23mmol)を溶液に添加し、さらに2時間撹拌した。
[樹脂フィルム(ポリアミドフィルム)の形成]
調製した樹脂組成物を用いて、ガラス基板上に樹脂フィルムを形成した。
すなわち、まず、樹脂組成物を平坦なガラス基板(10cm×10cm、Corning Inc., U.S.A.社製、「EAGLE XG」)上にスピンコート法により塗布した。
次に、樹脂組成物を、60℃で30分以上乾燥し、フィルムを得た。その後、温度を60℃から350℃に加熱し、真空または不活性雰囲気下で30分間350℃を維持し、フィルムを硬化処理することで、ガラス基板上に樹脂フィルムを形成した。
なお、得られた樹脂フィルムの厚みは10.2μmであった。
[実施例2]
前記工程<3>に用いるジクロライド成分として、IPCとNDCとの組み合わせに代えて、IPC(1.697g、0.00800mol)と、TPC(Terephthaloyl dichloride:0.212g、0.00100mol)と、NDC(0.253g、0.00100mol)との組み合わせとしたこと以外は、前記実施例1と同様にして、樹脂組成物を調製した後、この樹脂組成物を用いてガラス基板上に樹脂フィルムを形成した。
なお、得られた樹脂フィルムの厚みは約10.0μmであった。
[実施例3]
前記工程<3>に用いるジクロライド成分として、IPCとNDCとの組み合わせに代えて、IPC(1.485g、0.00700mol)と、TPC(0.212g、0.00100mol)と、NDC(0.506g、0.00200mol)との組み合わせとしたこと以外は、前記実施例1と同様にして、樹脂組成物を調製した後、この樹脂組成物を用いてガラス基板上に樹脂フィルムを形成した。
なお、得られた樹脂フィルムの厚みは約10.6μmであった。
[実施例4]
前記工程<3>に用いるジクロライド成分として、IPCとNDCとの組み合わせを、IPC(1.697g、0.00800mol)と、NDC(0.506g、0.00200mol)との組み合わせとしたこと以外は、前記実施例1と同様にして、樹脂組成物を調製した後、この樹脂組成物を用いてガラス基板上に樹脂フィルムを形成した。
なお、得られた樹脂フィルムの厚みは約10.1μmであった。
[実施例5]
前記工程<3>に用いるジクロライド成分として、IPCとNDCとの組み合わせを、IPC(0.636g、0.00300mol)と、NDC(1.772g、0.00700mol)との組み合わせとしたこと以外は、前記実施例1と同様にして、樹脂組成物を調製した後、この樹脂組成物を用いてガラス基板上に樹脂フィルムを形成した。
なお、得られた樹脂フィルムの厚みは約10.5μmであった。
[実施例6]
前記工程<3>に用いるジクロライド成分として、IPCとNDCとの組み合わせに代えて、NDC(2.531g、0.00100mol)を単独で用いたこと以外は、前記実施例1と同様にして、樹脂組成物を調製した後、この樹脂組成物を用いてガラス基板上に樹脂フィルムを形成した。
なお、得られた樹脂フィルムの厚みは約10.3μmであった。
[比較例]
前記工程<3>に用いるジクロライド成分として、IPCとNDCとの組み合わせに代えて、IPC(1.909g、0.00900mol)とTPC(0.212g、0.00100mol)との組み合わせとしたこと以外は、前記実施例1と同様にして、樹脂組成物を調製した後、この樹脂組成物を用いてガラス基板上に樹脂フィルムを形成した。
なお、得られた樹脂フィルムの厚みは約10.0μmであった。
2.評価
各実施例および比較例の樹脂組成物から得られた樹脂フィルムを、以下の方法で評価した。
[全光線透過率(波長355nm、400nm)]
樹脂フィルムの波長355nm、400nmの全光線透過率を、分光光度計(N−670、JASCO製)を用いて測定した。
以上のようにして得られた各実施例および比較例の樹脂組成物から得られた樹脂フィルムにおける厚さ、全光線透過率および評価結果を、それぞれ、下記の表1に示す。
表1
Figure 0006099815
表1に示したように、各実施例において得られた樹脂フィルムでは、その波長355nmの全光線透過率が10%以下、かつ波長400nmの全光線透過率が70%以上であるとの優れた結果が得られた。
これに対して、比較例における樹脂フィルムではこれらを満足する十分な結果を得ることができなかった。

Claims (7)

  1. 第1の面と該第1の面に対向する第2の面とを備える平板状の基材を用意する工程と、
    下記一般式(I)で表される第1の繰り返し単位と下記一般式(II)で表される第2の繰り返し単位とを有する芳香族ポリアミドと前記芳香族ポリアミドを溶解する溶剤とを含有する樹脂組成物を、前記第1の面側に塗布する工程と、
    塗布した前記樹脂組成物を280〜400℃で加熱することにより、波長355nmの全光線透過率が10%以下である電子素子形成層を形成する工程と、
    前記電子素子形成層の前記基材と反対側の面に電子素子を形成する工程と、
    前記電子素子を覆うように被覆層を形成する工程と、
    前記基材と前記電子素子形成層との界面において前記基材から前記電子素子形成層を剥離させるために、YAGレーザー光を前記電子素子形成層に照射する工程と、
    前記電子素子、前記被覆層、および前記電子素子形成層を含む電子装置を、前記基材から分離する工程と、
    を有することを特徴とする電子装置を製造する方法。
    Figure 0006099815
    (ただし、xは、前記第1の繰り返し単位のmol%を示し、yは、前記第2の繰り返し単位のmol%を示し、nは、1〜4の整数を示し、Ar は、下記一般式(III)で表され、
    Figure 0006099815
    [q=3、R 、R 、は、水素、ハロゲン、アルキル、置換アルキル、ニトロ、シアノ、チオアルキル、アルコキシ、置換アルコキシ、アリール、置換アリール、アルキルエステル、および置換アルキルエステル、並びにそれらの組み合せからなる群から選択される。]、
    Ar は、下記一般式(IV)または(V)で表され、
    Figure 0006099815
    [p=4、R 、R 、R は、水素、ハロゲン、アルキル、ハロゲン化アルキル等の置換アルキル、ニトロ、シアノ、チオアルキル、アルコキシ、置換アルコキシ、アリール、置換アリール、アルキルエステル、および置換アルキルエステル、並びにそれらの組み合せからなる群から選択され、G は、共有結合、CH 基、C(CH 基、C(CF 基、C(CX 基(但しXはハロゲン)、CO基、O原子、S原子、SO 基、Si(CH 基、9,9−フルオレン基、置換9,9−フルオレン基、およびOZO基からなる群から選択され、Zは、アリール基または置換アリール基である。]、
    Ar は、下記一般式(VI)または(VII)で表される。
    Figure 0006099815
    [t=1〜3、R 、R 10 、R 11 は、水素、ハロゲン、アルキル、置換アルキル、ニトロ、シアノ、チオアルキル、アルコキシ、置換アルコキシ、アリール、置換アリール、アルキルエステル、および置換アルキルエステル、並びにそれらの組み合せからなる群から選択され、G は、共有結合、CH 基、C(CH 基、C(CF 基、C(CX 基(但しXはハロゲン)、CO基、O原子、S原子、SO 基、Si(CH 基、9,9−フルオレン基、置換9,9−フルオレン基、およびOZO基からなる群から選択され、Zは、アリール基または置換アリール基である。])
  2. 前記電子素子形成層の熱膨張係数(CTE)は、100ppm/K以下である請求項に記載の電子装置を製造する方法。
  3. 前記電子素子形成層の平均厚さは、1〜50μmである請求項1または2に記載の電子装置を製造する方法。
  4. 前記芳香族ポリアミドの少なくとも一方の末端は、封止されている請求項1ないしのいずれか1項に記載の電子装置を製造する方法。
  5. 前記樹脂組成物は、さらに、無機フィラーを含有する請求項1ないしのいずれか1項に記載の電子装置を製造する方法。
  6. 前記基材の構成材料は、ガラスを含む請求項1ないし5のいずれか1項に記載の電子装置を製造する方法。
  7. 前記電子素子形成層の波長400nmの全光線透過率は、70%以上である請求項1ないし6のいずれか1項に記載の電子装置を製造する方法。
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