JP6038733B2 - 放射線検出ユニットの製造方法 - Google Patents
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Description
本発明は、CT(Computed Tomography)装置用の放射線検出ユニットの製造方法に関する。
従来、X線等の放射線を検出する放射線検出モジュールを複数備えた放射線検出ユニットが知られている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1には、検知器モジュールを複数備えた検知器アセンブリが記載されている。この検知器アセンブリは、上記の複数の検知器モジュールと、チャンネル方向に沿った円弧状の基準支持背骨と、を備えている。複数の検知器モジュールは、チャンネル方向に沿って基準支持背骨に取り付けられている。
上記のような放射線検出ユニットにおいては、放射線の検出精度を向上させるために、放射線検出モジュールの位置精度を向上することが望まれている。また、放射線検出ユニットにおいては、解像度を向上させるために、放射線検出モジュール同士の間の間隔を低減することが望まれている。
本発明は、このような課題を解決するために成されたものであり、放射線検出モジュールの位置精度を向上できると共に、放射線検出モジュール同士の間の間隔を低減できる放射線検出ユニットの製造方法を提供することを目的とする。
本発明の一側面の放射線検出ユニットの製造方法は、放射線を検出する第1放射線検出モジュール及び第2放射線検出モジュールと、第1放射線検出モジュール及び第2放射線検出モジュールのそれぞれを支持するフレームと、備え、第1放射線検出モジュール及び第2放射線検出モジュールのそれぞれは、放射線が入射する入射面と、入射面と反対側に位置する取付部と、入射面の法線に直交する方向に露出した側部と、を有するCT装置用の放射線検出ユニットの製造方法であって、基準面と、基準面から突出した第1突起と、基準面から突出した第2突起と、を有し、第1突起が着脱可能である治具を用い、治具の基準面に第1放射線検出モジュールの入射面を当接させ、第1放射線検出モジュールを位置決めする第1工程と、治具の基準面に第2放射線検出モジュールの入射面を当接させ、第2放射線検出モジュールを位置決めする第2工程と、第1放射線検出モジュール及び第2放射線検出モジュールのそれぞれをフレームに取付ける第3工程と、を備え、第1工程では、第1突起に第1放射線検出モジュールの側部を突き当て、第2工程では、第1工程の後に、第1突起が取り外された領域内に第2放射線検出モジュールを配置すると共に、第2突起に第2放射線検出モジュールの側部を突き当て、第3工程では、第1放射線検出モジュールの取付部、及び、第2放射線検出モジュールの取付部のそれぞれを、フレームと対向させると共にフレームから離間させて、第1放射線検出モジュール及び第2放射線検出モジュールのそれぞれをフレームに取付ける。
この放射線検出ユニットの製造方法では、第1放射線検出モジュール及び第2放射線検出モジュールがそれぞれ別々の工程で位置決めされるため、第1放射線検出モジュール及び第2放射線検出モジュールの寸法誤差及び組立誤差が累積することを抑制できる。したがって、第1放射線検出モジュール及び第2放射線検出モジュールの配列方向における放射線検出モジュールの位置精度を向上できる。また、第1放射線検出モジュールを位置決めするための第1突起は治具から着脱可能であり、第2工程では、第2放射線検出モジュールを位置決めする際、第1突起が取り外された領域に第2放射線検出モジュールが配置されるため、第1放射線検出モジュール及び第2放射線検出モジュールを近接させて配置できる。したがって、放射線検出モジュール同士の間の間隔を低減できる。さらに、第3工程では、第1放射線検出モジュールの入射面及び第2放射線検出モジュールの入射面が互いに共通の基準面に当接された状態で、各放射線検出モジュールの取付部がフレームに対して離間して取り付けられるため、第1放射線検出モジュールの入射面及び第2放射線検出モジュールの入射面の位置を揃えつつ、放射線検出モジュールの寸法誤差及び組立誤差を放射線検出モジュールの取付部とフレームとの間の隙間で吸収できる。したがって、入射面の法線方向における放射線検出モジュールの位置精度を向上できる。以上のように、本発明の一側面の放射線検出ユニットの製造方法によれば、放射線検出モジュールの位置精度を向上できると共に、放射線検出モジュール同士の間の間隔を低減できる。
第1放射線検出モジュールの取付部及び第2放射線検出モジュールの取付部のそれぞれには、棒状部材を挿入可能な孔が設けられており、第3工程では、第1放射線検出モジュールの孔及び第2放射線検出モジュールの孔のそれぞれに、接着剤を充填すると共に棒状部材を挿入し、第1放射線検出モジュール及び第2放射線検出モジュールのそれぞれを棒状部材を介してフレームに取付けてもよい。この場合、第1放射線検出モジュール及び第2放射線検出モジュールのそれぞれを接着剤により高精度且つ強固にフレームに固定できる。
治具は、基準面と、基準面と反対側の面である裏面と、を含む基準治具と、第1突起を有する第1突起治具と、第2突起を有する第2突起治具と、を有し、基準治具には、裏面側から基準面側に第1突起を貫通させる第1貫通孔と、裏面側から基準面側に第2突起を貫通させる第2貫通孔と、が設けられており、第1工程では、基準面から第1突起が突出するように、基準治具と第1突起治具とを組み合わせて使用し、第2工程では、基準治具から第1突起治具を取り外した後に、基準面から第2突起が突出するように、基準治具と第2突起治具とを組み合わせて使用してもよい。この場合、治具から第1突起を取り外す際には、基準治具の裏面側から第1突起治具を取り外すだけでよいので、治具から第1突起を容易に取り外せる。したがって、放射線検出ユニットの組立性を向上できる。
フレームは、CT装置のスライス方向に沿う第1方向に沿って延在しており、第1放射線検出モジュール及び第2放射線検出モジュールを、第1方向に沿ってフレームに取り付けてもよい。この場合、スライス方向における放射線検出モジュールの位置精度を向上できる。
本発明によれば、放射線検出モジュールの位置精度を向上できると共に、放射線検出モジュール同士の間の間隔を低減できる放射線検出ユニットの製造方法を提供することが可能となる。
以下、実施形態に係る放射線検出ユニットの製造方法ついて図面を参照しながら説明する。同一又は相当要素には同一の符号を付し、重複する説明は省略する。
[CT装置]
図1は、実施形態に係る放射線検出ユニットを複数備えたCT装置を示す概略図である。図1に示されるように、CT装置1は、被検体Hに対して、不図示の放射線源から放射線(例えば、X線、γ線等)を照射し、被検体Hを透過した放射線を複数の検出モジュール(放射線検出モジュール)2により検出する。複数の検出モジュール2は、不図示の回転機構(ガントリ)に固定されており、ガントリの回転方向(チャンネル方向)Cに沿って回転し、スライス方向(体軸方向)Sに沿って直線運動する。
図1は、実施形態に係る放射線検出ユニットを複数備えたCT装置を示す概略図である。図1に示されるように、CT装置1は、被検体Hに対して、不図示の放射線源から放射線(例えば、X線、γ線等)を照射し、被検体Hを透過した放射線を複数の検出モジュール(放射線検出モジュール)2により検出する。複数の検出モジュール2は、不図示の回転機構(ガントリ)に固定されており、ガントリの回転方向(チャンネル方向)Cに沿って回転し、スライス方向(体軸方向)Sに沿って直線運動する。
検出モジュール2は、チャンネル方向C及びスライス方向Sのそれぞれに沿って複数配置されている。検出ユニット(放射線検出ユニット)3は、スライス方向Sに沿って配置された複数の検出モジュール2を備えている。
[放射線検出ユニット]
図2は、図1中の放射線検出ユニットを示す斜視図である。ここで、スライス方向Sに沿う方向は第1方向D1であり、チャンネル方向Cの接線に沿う方向(第1方向D1に直交する方向)は第2方向D2であり、検出モジュール2の入射面51a(後述)の法線に沿う方向は第3方向D3である。
図2は、図1中の放射線検出ユニットを示す斜視図である。ここで、スライス方向Sに沿う方向は第1方向D1であり、チャンネル方向Cの接線に沿う方向(第1方向D1に直交する方向)は第2方向D2であり、検出モジュール2の入射面51a(後述)の法線に沿う方向は第3方向D3である。
図2に示されるように、検出ユニット3は、上記の複数の検出モジュール2と、フレーム4と、を備えている。フレーム4は、第1方向D1に沿って延在している。具体的には、フレーム4は、第1方向D1に沿って延在した支持部41と、第1方向D1における支持部41の両端部にそれぞれ位置したフレーム側突当部42,42と、を有している。
支持部41は、長板状を呈している。フレーム側突当部42は、直方体状を呈しており、支持部41の一方の面から突出している。フレーム側突当部42には、ボルトBを通す貫通孔43が設けられている(図10,11参照、詳しくは後述)。複数の検出モジュール2は、第1方向D1に沿って支持部41に取り付けられている。検出モジュール2は、支持部41の一方の面に対して、離間して取り付けられている(図3,4参照、詳しくは後述)。
[放射線検出モジュール]
図3は、図2中の放射線検出モジュールを示す側面図、図4は、図3中のIV-IV矢視図である。図3及び図4に示されるように、検出モジュール2は、検出部5、支持基板6、処理部7、及び、放熱部材8を有している。
図3は、図2中の放射線検出モジュールを示す側面図、図4は、図3中のIV-IV矢視図である。図3及び図4に示されるように、検出モジュール2は、検出部5、支持基板6、処理部7、及び、放熱部材8を有している。
検出部5は、シンチレータ51及びフォトダイオードアレイ52(検出素子)を含んでいる。シンチレータ51は、矩形板状(詳しくは、長方形板状)を呈している(図2参照)。シンチレータ51は、第1方向D1及び第2方向D2に沿って拡がっている。シンチレータ51は、放射線を入射させる入射面51aと、入射面51aと反対側に位置し、入射した放射線に応じてシンチレーション光を出射させる出射面51bと、を含んでいる。入射面51a及び出射面51bのそれぞれは、第1方向D1及び第2方向D2に沿って拡がっている。シンチレータ51は、例えば、TlをドープしたCsI等である。CsIは、多数の針状結晶(柱状結晶)が林立した構造を有している。
フォトダイオードアレイ52は、シンチレータ51からのシンチレーション光を検出する。フォトダイオードアレイ52は、複数のフォトダイオード(検出素子)と、複数のフォトダイオードを含む半導体基板53と、を有している。半導体基板53は、第3方向D3から見た場合にシンチレータ51と実質的に同じ形又はシンチレータ51よりも若干大きい形の矩形板状を呈している。半導体基板53は、第1方向D1及び第2方向D2に沿って拡がっている。複数のフォトダイオードは、半導体基板53おいて、2次元状に並んでいる。半導体基板53は、シンチレータ51からのシンチレーション光を入射させる第1の面53aと、第1の面53aと反対側に位置する第2の面53bと、を含んでいる。第1の面53a及び第2の面53bのそれぞれは、第1方向D1及び第2方向D2に沿って拡がっている。第1の面53a上に、シンチレータ51が位置している。
半導体基板53は、例えばシリコン等により形成されている。フォトダイオードアレイ52は、例えば、裏面入射型であり、その光感応領域が第2の面53b側に位置している。なお、フォトダイオードアレイ52は、表面入射型であってもよく、その光感応領域が第1の面53a側に位置していてもよい。フォトダイオードアレイ52が表面入射型である場合、フォトダイオードと支持基板6のランド電極(後述)とは、半導体基板53の内部に形成された貫通電極を介して接続されてもよく、ワイヤボンディングにより接続されてもよい。
フォトダイオードアレイ52は、シンチレータ51からのシンチレーション光に対して光学的に透明な光学カップリング剤を介して、シンチレータ51の出射面51bに結合されている。フォトダイオードアレイ52は、例えば紫外域〜近赤外域に感度を有している。以上のような検出部5において、第3方向に直交する第1方向D1及び第2方向D2に露出した部分(第3方向D3に沿っている部分)は、側部5aである。
支持基板6は、検出部5及び処理部7を支持している。支持基板6は、第3方向D3から見た場合に半導体基板53と実質的に同じ形の矩形板状を呈している。支持基板6は、第1方向D1及び第2方向D2に沿って拡がっている。支持基板6は、検出部5を支持する第1の面6aと、第1の面6aと反対側に位置し、処理部7を支持する第2の面6bと、を有している。第1の面6a及び第2の面6bのそれぞれは、第1方向D1及び第2方向D2に沿って拡がっている。支持基板6において、第1方向D1及び第2方向D2に露出した部分(第3方向D3に沿っている部分)は、側部6cである。支持基板6と半導体基板53とは、一体化されている。
支持基板6の第1の面6a及び第2の面6bのそれぞれには、ランド電極が形成されている。第1の面6aのランド電極には、バンプ電極を介して、半導体基板53のフォトダイオードが接続されている。第2の面6bのランド電極には、バンプ電極を介して、処理部7が接続されている。支持基板6の内部には、第1の面6a及び第2の面6bのランド電極を互いに接続する導体パターン61が形成されている。
支持基板6は、例えば、セラミックを含むグリーンシートを複数枚積層し、この積層体を焼成することにより形成されている。なお、支持基板6は、有機材料(例えば、ガラスエポキシ等)により形成されていてもよい。
処理部7は、フォトダイオードアレイ52からの信号を処理する。図4に示されるように、処理部7は、ここでは、複数設けられている。処理部7は、第3方向D3から見た場合に支持基板6よりも小さい矩形板状(詳しくは、長方形板状)を呈している。複数の処理部7,7は、第1方向D1において互いに離間している。処理部7は、例えばASIC(Application specific integrated circuit)等である。
放熱部材8は、処理部7,7と熱的に結合されており、処理部7,7で発生した熱を放散する。図5は、図4中の放熱部材を示す斜視図である。図4及び図5に示されるように、放熱部材8は、複数のフィン81を含んでいる。具体的には、第1方向D1及び第3方向D3に沿った放熱部材8の断面は、略櫛状を呈している(図4参照)。複数の櫛歯を連結している部分は、基部82であり、櫛歯の部分は、上記のフィン81である。放熱部材8は、第3方向から見た場合に、支持基板6よりも小さく、略コの字状を呈している(図5参照)。放熱部材8を形成する材料としては、例えば、Al、Cu、真鍮等を使用することができる。
基部82は、略板状を呈している。基部82は、第1方向D1及び第2方向D2に沿って拡がっている。基部82には、処理部7,7が熱的に結合されている。具体的には、基部82において、第1方向D1における中央側の部分は、両端側の部分に対して処理部7側に突出しており、突出した部分が処理部7,7が結合される結合部83となっている。図3に示されるように、結合部83からは、一対の固定部84,84が支持基板6側に突出している。
固定部84は、略直方体状を呈しており、第1方向D1に沿って延在している。一対の固定部84,84は、第2方向D2において互いに離間しており、第2方向D2において結合部83の両端部に位置している。固定部84の突起高さは、処理部7の厚みよりも大きい。固定部84は、樹脂(第1の樹脂)R1により、支持基板6の第2の面6bに固定されている。樹脂R1としては、例えば、エポキシ樹脂系の接着剤等を用いることができる。固定部84,84により形成された支持基板6と結合部83との間の隙間に、上記の処理部7,7が配置されている。
図4に示されるように、結合部83には、処理部7の数に対応して、複数の貫通孔85,85が設けられている。貫通孔85,85は、第1方向D3において、互いに離間している。貫通孔85は、第1方向D1において、対向する一対のフィン81,81の間に設けられている。貫通孔85は、第3方向D3から見た場合に、処理部7と互いに重なっている。
処理部7と結合部83との間には、樹脂(第2の樹脂)R2が挟まれている。樹脂R2としては、高熱伝導性樹脂(例えば、シリコーン樹脂等)を用いることができ、例えば、樹脂R1よりも高い熱伝導率を有する高熱伝導性樹脂を用いることができる。樹脂R2は、例えば、以下のようにして配置できる。まず、支持基板6と固定部84とを、樹脂R1により接着する。続いて、上記の貫通孔85,85から、樹脂R2を処理部7と結合部83との間に挿入する。
フィン81は、基部82から第3方向D3に沿って処理部7側と反対側に突出している。フィン81は、第1方向D1と交差するように拡がる板状を呈している。より詳細には、フィン81は、第1方向D1と実質的に直交するように拡がる板状を呈している。言い換えると、フィン81は、第2方向D2及び第3方向D3に沿って拡がる板状を呈している。対向する一対のフィン81,81の間の隙間のうち、一部の隙間には、対向する一対のフィン81,81を連結する連結部86が設けられている(図5参照)。
連結部86は、第1方向D1に沿って複数(詳しくは、2個)設けられている。連結部86は、第3方向D3から見た場合に、処理部7と重複する位置の隙間に設けられている。連結部86,86は、第1方向D1において、検出モジュール2の中心部に対して対称に配置されている。連結部86,86は、第1方向D1において、上記の樹脂R2の挿入用の貫通孔85,85よりも外側に設けられている。
連結部86の先端部(図3,4において下端部)は、フィン81の先端部よりも突出している。連結部86の先端部は、検出モジュール2において入射面51aと反対側に位置しており、取付部86aとして機能する。
連結部86には、第3方向D3に沿って貫通孔87が設けられている。貫通孔87において、基部82側の部分は、取付部86a側の部分よりも大径になっている。貫通孔87において取付部86a側の部分には、雌ねじが形成されている。検出モジュール2には、信号を外部に取り出すためのFFC(Flexible Flat Cable)9が取り付けられている(図7参照)。
以上のような検出モジュール2と、上記のフレーム4とは、棒状の支持ピン(棒状部材)FPを介して取り付けられている。具体的には、フレーム4の支持部41において、放熱部材8の貫通孔87と対応する位置には、貫通孔44が設けられている。支持ピンFPには、雄ネジが形成されている。支持ピンFPは、支持部41の貫通孔44を通され、放熱部材8の貫通孔87に螺合されている。支持部41と連結部86との間には、隙間gが存在している。
検出モジュール2とフレーム4との固定には、接着剤が使用されている。接着剤としては、例えば、上記の樹脂R1を使用できる。具体的には、貫通孔87には、樹脂R1が挿入されている。なお、樹脂R1と樹脂R2との間には、空隙が形成されていてもよい。連結部86の先端部と支持部41との間には、支持ピンFPを覆うように、樹脂R1が付着している。支持ピンFPにおいて支持部41から突き出た部分(頭部)は、樹脂R1により覆われている。
[放射線検出ユニットの製造方法に使用する治具]
図6は、実施形態に係る放射線検出ユニットの製造方法に使用する治具を示す斜視図である。治具100は、基準治具110と、突起治具120と、を有している。突起治具120は、一つの検出ユニット3に含まれる検出モジュール2の数に応じて、複数準備されている。
図6は、実施形態に係る放射線検出ユニットの製造方法に使用する治具を示す斜視図である。治具100は、基準治具110と、突起治具120と、を有している。突起治具120は、一つの検出ユニット3に含まれる検出モジュール2の数に応じて、複数準備されている。
基準治具110は、上記のフレーム4よりも長い略長板状を呈しており(図10,11参照)、その長手方向が第1方向D1に沿う状態で使用される。基準治具110の一方の面において、第1方向D1における両端側の部分は治具側突当部111,111であり、中央側の部分は基準面115である。
治具側当接部111は、基準面115に対して突出している。治具側当接部111の突出高さは、上記のフレーム4のフレーム側突当部42と治具側当接部111とを突き当てた際に、フレーム4の支持部41と基準治具110の基準面115との間の間隔が、検出モジュール2の高さ(第3方向D3における長さ)よりも大きくなるように、設定されている(図10,11参照)。
治具側突当部111において、上記のフレーム4の貫通孔43に対応した位置には、ボルトB(図10,11参照)を螺合するためのねじ孔112が設けられている。一方側(図6において左側)の治具側突当部111において、ねじ孔112から第1方向D1に沿って離間した位置には、後述する短ピンSPを通すための長孔113が設けられている。長孔113は、第1方向D1に沿って延在している。
他方側の治具側突当部111において、ねじ孔112から第1方向D1に沿って離間した位置には、後述する長ピンLPを通すための貫通孔114が設けられている。治具側突当部111,111のそれぞれにおいて、ねじ孔112から第2方向D2に沿って離間した位置には、フレーム4を突き当てて位置決めするためのピンP1が突出している。ピンP1は、下孔に嵌合されている。
基準面115には、一つの検出ユニット3に含まれる検出モジュール2の数に応じて、複数のチャンバ116が設けられている。チャンバ116は、基準面115から凹んでいる。チャンバ116は、第3方向D3から見た場合に上記の検出部5よりも小さい略矩形状(詳しくは、略長方形状)を呈している。基準治具110には、各チャンバ116と連通した流路がそれぞれ設けられており、各流路には、チャンバ116から空気を吸引可能な配管117が接続されている。
基準面115において、各チャンバ116から第1方向D1に沿って長孔113側(一方の冶具側突当部111側)に離間した位置には、後述するピンMPを通すための貫通孔118が位置している。すなわち、貫通孔118は、一つの検出ユニット3に含まれる検出モジュール2の数に応じて、複数設けられている。基準面115において、各チャンバ116から第2方向D2に沿って離間した位置であって、第1方向D1において各チャンバ116よりもやや外側の位置には、検出モジュール2を突き当てて位置決めするための一対のピンP2,P2が突出している。ピンP2は、下孔に嵌合されている。基準治具110において、基準面115と反対側の面は、裏面119である。
突起治具120のそれぞれは、基準治具110と実質的に同じ長さの長板状を呈しており、その長手方向が第1方向D1に沿う状態で使用される。突起治具120の一方の面において、第1方向D1における一方側(図6において左側)の端部付近には、基準治具110との間で位置決めするための短ピンSPが突出している。突起治具120の一方の面において、他方側の端部付近には、基準治具110との間で位置決めするための長ピンLPが突出している。長ピンLPは、短ピンSPよりも長い。長ピンLP及び短ピンSPのそれぞれは、下孔に嵌合されている。
突起治具120の一方の面には、基準治具110の貫通孔118〜118の位置に対応して、ピンMPを嵌合するためのピン孔121が第1方向D1に沿って複数設けられている。ピンMPは、短ピンSPよりも長く、長ピンLPよりも短い。
複数の突起治具120のうち、長ピンLP側から1番目のピン孔121にピンMPが嵌合された突起治具120は、突起治具120aである。複数の突起治具120のうち、長ピンLP側から2番目のピン孔121にピンMPが嵌合された突起治具120は、突起治具120bである。
複数の突起治具120のうち、長ピンLP側から3番目のピン孔121にピンMPが嵌合された突起治具120は、突起治具120cである。複数の突起治具120のうち、長ピンLP側から4番目のピン孔121にピンMPが嵌合された突起治具120は、突起治具120dである。
[放射線検出ユニットの製造方法]
図7〜図9は、実施形態に係る放射線検出ユニットの製造方法の工程を示す斜視図、図10〜図12は、実施形態に係る放射線検出ユニットの製造方法の工程を示す正面図である。なお、検出モジュール2a〜2dは、上記の検出モジュール2と同じ構成を有している。
図7〜図9は、実施形態に係る放射線検出ユニットの製造方法の工程を示す斜視図、図10〜図12は、実施形態に係る放射線検出ユニットの製造方法の工程を示す正面図である。なお、検出モジュール2a〜2dは、上記の検出モジュール2と同じ構成を有している。
図7に示されるように、本実施形態に係る検出ユニット3の製造方法では、まず、基準治具110と突起治具120a(第1突起治具)とを用いる。基準治具110の基準面115からピンMP(第1突起)が突出するように、貫通孔114側(他方の冶具側突当部111側)から1番目の貫通孔118(第1貫通孔)に対して、裏面119側から基準面115側にピンMPを貫通させ、基準治具110と突起治具120aとを組み合わせる。この際、長孔113に短ピンSPを通し、貫通孔114に長ピンLPを通す。
続いて、貫通孔114側から1番目のチャンバ116aを覆うように、検出モジュール2a(第1放射線検出モジュール)の入射面51aを基準面115に当接させる。第1方向D1において、検出モジュール2aの側部をピンMPに突き当てると共に、第2方向D2において、検出モジュール2aの側部をピンP2,P2に突き当てる。より詳細には、検出部5の側部5a及び支持基板6の側部6c、又は、これらの側部のうちより出っ張っている部分が、ピンMPやピンP2,P2に突き当たる。続いて、配管117を用いてチャンバ116a内の空気を吸引する。以上により、検出モジュール2aが位置決めされる(第1工程)。
続いて、図8に示されるように、基準治具110から突起治具120aを取り外すことにより、基準面115からピンMPを取り外す。続いて、基準治具110と突起治具120b(第2突起治具)とを用いる。基準治具110の基準面115からピンMP(第2突起)が突出するように、貫通孔114側から2番目の貫通孔118(第2貫通孔)に対して、裏面119側から基準面115側にピンMPを貫通させ、基準治具110と突起治具120bとを組み合わせる。この際、長孔113に短ピンSPを通し、貫通孔114に長ピンLPを通す。
続いて、貫通孔114側から2番目のチャンバ116bを覆うように、検出モジュール2b(第2放射線検出モジュール)の入射面51aを基準面115に当接させる。この際、上記の検出モジュール2aの位置決めの際に使用したピンMP(第1突起)が取り外された領域内に、検出モジュール2bを配置する。換言すると、ピンMP(第1突起)が取り外された貫通孔114側から1番目の貫通孔118を入射面51aで覆うように、検出モジュール2bを配置する。これにより、検出モジュール2aと検出モジュール2bとを近接して配置する。
第1方向D1において、検出モジュール2bの側部をピンMPに突き当てると共に、第2方向D2において、検出モジュール2bの側部をピンP2,P2に突き当てる。より詳細には、検出部5の側部5a及び支持基板6の側部6c、又は、これらの側部のうちより出っ張っている部分が、ピンMPやピンP2,P2に突き当たる。続いて、配管117を用いてチャンバ116b内の空気を吸引する。以上により、検出モジュール2bが位置決めされる(第2工程)。
続いて、図9に示されるように、上記の工程を繰り返し、基準治具110と突起治具120cとを用いて検出モジュール2cを位置決めし、基準治具110と突起治具120dとを用いて検出モジュール2dを位置決めする。続いて、各放熱部材8の各貫通孔87に対して、樹脂R1を挿入する。
続いて、図10に示されるように、基準治具110の治具側突当部111,111のそれぞれと、上記のフレーム4のフレーム側突当部42,42のそれぞれとを突き当てる。これにより、検出モジュール2a〜2dのそれぞれにおいて、放熱部材8の取付部86aを、フレーム4の支持部41と対向させると共に、支持部41から離間させる。
フレーム側突当部42の側部を、ピンP1に突き当てる。ボルトBを、フレーム側突当部42の貫通孔43に通し、治具側突当部111のねじ孔112に螺合して、基準治具110とフレーム4とを締め付ける。
この際、支持部41と、検出モジュール2a〜2dの取付部86aとの間には、それぞれ隙間ga〜gdが存在している。検出モジュール2a〜2dにおいて、第3方向D3における各要素の寸法誤差や組立誤差が存在する場合には、検出モジュール2a〜2dの入射面51aが互いに共通の基準面115に当接されていることから、隙間ga〜gdの大きさがばらつくことになる。すなわち、検出モジュール2a〜2dにおける各要素の寸法誤差及び組立誤差が、隙間ga〜gdで吸収されることになる。
続いて、図11に示されるように、支持ピンFPを、フレーム4の貫通孔44のそれぞれに通し、検出モジュール2a〜2dの貫通孔87(図5参照)のそれぞれに螺合する。この際、検出モジュール2a〜2dのそれぞれの入射面51aが基準面115から離れないように、支持ピンFPを貫通孔87に螺合する。
続いて、図12に示されるように、検出モジュール2a〜2dのそれぞれにおいて、取付部86aと支持部41との間に、支持ピンFPを覆うように、樹脂R1を塗布する。各支持ピンFPの頭部を、樹脂R1により覆う。以上により、検出モジュール2a〜2dのそれぞれがフレーム4に固定される(第3工程)。続いて、チャンバ116a〜116dの吸引を解除し、フレーム4から基準治具110を取り外す。以上の工程により、検出ユニット3が製造される。
以上、本実施形態に係る検出ユニット3の製造方法では、検出モジュール2a〜2dがそれぞれ別々の工程で位置決めされるため、検出モジュール2a〜2dの寸法誤差及び組立誤差が累積することを抑制できる。したがって、検出モジュール2a〜2dの配列方向における検出モジュールの位置精度を向上できる。
検出ユニット3の製造方法では、検出モジュール2a〜2dを位置決めするためのピンMPは治具100から着脱可能であり、2番目以降に位置決めされる検出モジュール2b〜2dを位置決めする際、ピンMPが取り外された領域に検出モジュール2b〜2dが配置されるため、検出モジュール2a〜2dを近接させて配置できる。したがって、隣り合う検出モジュール同士の間の間隔を低減できる。
検出ユニット3の製造方法では、検出モジュール2a〜2dの入射面51aが互いに共通の基準面115に当接された状態で、検出モジュール2a〜2dの取付部86aがフレーム4に対して離間して取り付けられるため、検出モジュール2a〜2dの入射面51aの位置を揃えつつ、検出モジュール2a〜2dの寸法誤差及び組立誤差を隙間ga〜gdで吸収できる。したがって、入射面51aの法線方向における検出モジュールの位置精度を向上できる。
検出モジュール2a〜2dの取付部86aのそれぞれには、支持ピンFPを挿入可能な貫通孔87が設けられており、検出モジュール2a〜2dの貫通孔87のそれぞれに、樹脂R1を充填すると共に支持ピンFPを挿入し、検出モジュール2a〜2dのそれぞれを支持ピンFPを介してフレーム4に取付けている。このような方法により、検出モジュール2a〜2dのそれぞれを接着剤(樹脂R1)によりフレーム4に高精度且つ強固に固定できる。
治具100は、基準面115と、基準面115と反対側の面である裏面119と、を含む基準治具110と、ピンMPを有する突起治具120a〜120dと、を有し、基準治具110には、裏面119側から基準面115側にピンMPを貫通させる貫通孔118〜118が設けられており、検出モジュール2aを位置決めする際には、基準面115からピンMPが突出するように、基準治具110と突起治具120aとを組み合わせて使用し、検出モジュール2bを位置決めする際には、基準治具110から突起治具120aを取り外した後に、基準面115からピンMPが突出するように、基準治具110と突起治具120bとを組み合わせて使用する。このような方法により、治具100からピンMPを取り外す際には、基準治具110の裏面119側から突起治具120aを取り外すだけでよいので、治具100からピンMPを容易に取り外せる。したがって、検出ユニット3の組立性を向上できる。
フレーム4は、CT装置1のスライス方向Sに沿う第1方向D1に沿って延在しており、検出モジュール2a〜2dを、第1方向D1に沿ってフレーム4に取り付けている。このような方法により、スライス方向Sにおける検出モジュールの位置精度を向上できる。
以上、実施形態に係る放射線検出ユニットの製造方法について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されない。例えば、上記実施形態では、治具100として、基準治具110と、突起治具120a〜120dと、を用いているが、例えば、以下のように基準治具110のみを用いてもよい。まず、貫通孔118〜118のそれぞれに、ピンMPが直接嵌合されている基準治具110を準備する。
続いて、貫通孔114側から1番目のチャンバ116aを覆うように、検出モジュール2aの入射面51aを基準面115に当接させる。第1方向D1において、検出モジュール2aの側部をピンMPに突き当てると共に、第2方向D2において、検出モジュール2aの側部をピンP2,P2に突き当てる。より詳細には、検出部5の側部5a及び支持基板6の側部6c、又は、これらの側部のうちより出っ張っている方が、ピンMPやピンP2,P2に突き当たる。続いて、配管117を用いてチャンバ116a内の空気を吸引する。以上により、検出モジュール2aが位置決めされる(第1工程)。
続いて、貫通孔114側から1番目のピンMPを基準治具110から抜く。続いて、貫通孔114側から2番目のチャンバ116bを覆うように、検出モジュール2bの入射面51aを基準面115に当接させる。この際、上記の検出モジュール2aの位置決めの際に使用したピンMPが取り外された領域内に、検出モジュール2bを配置する。換言すると、ピンMPが抜かれた貫通孔114側から1番目の貫通孔118を入射面51aで覆うように、検出モジュール2bを配置する。
第1方向D1において、検出モジュール2bの側部をピンMPに突き当てると共に、第2方向D2において、検出モジュール2bの側部をピンP2,P2に突き当てる。より詳細には、検出部5の側部5a及び支持基板6の側部6c、又は、これらの側部のうちより出っ張っている方が、ピンMPやピンP2,P2に突き当たる。続いて、配管117を用いてチャンバ116b内の空気を吸引する。以上により、検出モジュール2bが位置決めされる(第2工程)。
続いて、上記の工程を繰り返し、検出モジュール2c及び検出モジュール2dを位置決めする。後の工程は、上記実施形態と同じである。要は、第1放射線検出モジュールの位置決めに使用する第1突起が着脱可能な治具を使用して、第1放射線検出モジュール及び第2放射線検出モジュールを順番に位置決めし、第2放射線検出モジュールを位置決めする際には、第1突起が取り外された領域に第2放射線検出モジュールを配置すればよい。
上記実施形態では、検出部5はシンチレータ51及びフォトダイオードアレイ52を含む構成のものであるが、検出部5として放射線を直接検出する直接検出型検出素子(例えば、CdTe、CdZnTe等の結晶を用いたもの)が用いられてもよい。各要素の構成、個数及び材質等は、上記実施形態における構成、個数及び材質等に限られず、適宜変更可能である。
1…CT装置、2…検出モジュール(第1放射線検出モジュール、第2放射線検出モジュール)、2a…検出モジュール(第1放射線検出モジュール)、2b,2c…検出モジュール(第1放射線検出モジュール、第2放射線検出モジュール)、2d…(第2放射線検出モジュール)、3…検出ユニット(放射線検出ユニット)、4…フレーム、51a…入射面、86a…取付部、87…貫通孔(棒状部材を挿入可能な孔)、100…治具、110…基準治具、115…基準面、118…貫通孔(第1貫通孔、第2貫通孔)、119…裏面、120a…突起治具(第1突起治具)、120b,120c…突起治具(第1突起治具、第2突起治具)、120d…突起治具(第2突起治具)、FP…支持ピン(棒状部材)、MP…ピン(第1突起、第2突起)、S…スライス方向、D1…第1方向。
Claims (4)
- 放射線を検出する第1放射線検出モジュール及び第2放射線検出モジュールと、前記第1放射線検出モジュール及び前記第2放射線検出モジュールのそれぞれを支持するフレームと、備え、前記第1放射線検出モジュール及び前記第2放射線検出モジュールのそれぞれは、放射線が入射する入射面と、前記入射面と反対側に位置する取付部と、前記入射面の法線に直交する方向に露出した側部と、を有するCT装置用の放射線検出ユニットの製造方法であって、
基準面と、前記基準面から突出した第1突起と、前記基準面から突出した第2突起と、を有し、前記第1突起が着脱可能である治具を用い、
前記治具の前記基準面に前記第1放射線検出モジュールの入射面を当接させ、前記第1放射線検出モジュールを位置決めする第1工程と、
前記治具の前記基準面に前記第2放射線検出モジュールの入射面を当接させ、前記第2放射線検出モジュールを位置決めする第2工程と、
前記第1放射線検出モジュール及び前記第2放射線検出モジュールのそれぞれを前記フレームに取付ける第3工程と、を備え、
前記第1工程では、前記第1突起に前記第1放射線検出モジュールの前記側部を突き当て、
前記第2工程では、前記第1工程の後に、前記第1突起が取り外された領域内に前記第2放射線検出モジュールを配置すると共に、前記第2突起に前記第2放射線検出モジュールの前記側部を突き当て、
前記第3工程では、前記第1放射線検出モジュールの前記取付部、及び、前記第2放射線検出モジュールの前記取付部のそれぞれを、前記フレームと対向させると共に前記フレームから離間させて、前記第1放射線検出モジュール及び前記第2放射線検出モジュールのそれぞれを前記フレームに取付ける、
放射線検出ユニットの製造方法。 - 前記第1放射線検出モジュールの前記取付部、及び、前記第2放射線検出モジュールの前記取付部のそれぞれには、棒状部材を挿入可能な孔が設けられており、
前記第3工程では、前記第1放射線検出モジュールの前記孔及び前記第2放射線検出モジュールの前記孔のそれぞれに、接着剤を充填すると共に前記棒状部材を挿入し、前記第1放射線検出モジュール及び前記第2放射線検出モジュールのそれぞれを前記棒状部材を介して前記フレームに取付ける、
請求項1に記載の放射線検出ユニットの製造方法。 - 前記治具は、
前記基準面と、前記基準面と反対側の面である裏面と、を含む基準治具と、
前記第1突起を有する第1突起治具と、
前記第2突起を有する第2突起治具と、を有し、
前記基準治具には、前記裏面側から前記基準面側に前記第1突起を貫通させる第1貫通孔と、前記裏面側から前記基準面側に前記第2突起を貫通させる第2貫通孔と、が設けられており、
前記第1工程では、前記基準面から前記第1突起が突出するように、前記基準治具と前記第1突起治具とを組み合わせて使用し、
前記第2工程では、前記基準治具から前記第1突起治具を取り外した後に、前記基準面から前記第2突起が突出するように、前記基準治具と前記第2突起治具とを組み合わせて使用する、
請求項1又は2記載の放射線検出ユニットの製造方法。 - 前記フレームは、前記CT装置のスライス方向に沿う第1方向に沿って延在しており、
前記第1放射線検出モジュール及び前記第2放射線検出モジュールを、前記第1方向に沿って前記フレームに取り付ける、
請求項1〜3のいずれか一項記載の放射線検出ユニットの製造方法。
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