JP5969221B2 - ボルテージレギュレータ - Google Patents

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Description

本発明は、ボルテージレギュレータに関し、より詳しくは、出力端子に接続されたバックアップ電池等の外部電源からの逆流電流を防止する逆流電流防止機能を備えたボルテージレギュレータに関する。
図3は、逆流電流防止機能を備えたボルテージレギュレータの回路図である。
逆流電流防止機能を備えたボルテージレギュレータは、基準電圧回路401と、エラー・アンプ402と、Nchトランジスタ400と、Pchトランジスタ403、404、405、406と、分圧抵抗407,408と、比較回路430と、を備えている。
電源電圧(VBAT1)は、VDD端子とVSS端子の間に印加される。出力端子OUTにバックアップ電池412と負荷413(例えば、半導体記憶装置)が接続されている。
先ず、VDD端子とVSS端子の間に電源電圧が供給されているときの、ボルテージレギュレータの動作を説明する。電源電圧とバックアップ電池412の電圧(VBAT2)の関係は、一般には、VBAT1>VBAT2である。
エラー・アンプ402は、出力端子OUTの出力電圧VOUTを抵抗407と抵抗408で分圧した帰還電圧VFBと、基準電圧回路401が出力する基準電圧Vrefとの差電圧を増幅して、Pchトランジスタ403のゲートを制御する。出力端子OUTの出力電圧VOUTは一定に保たれる。比較回路430は、入力端子121に入力される電源電圧と入力端子122に入力される出力電圧VOUTを比較し、CONTX端子110とCONT端子111に信号を出力する。
図4に、従来の比較回路430を示す。比較回路430は、定電流回路103と、定電流回路104と、Pchトランジスタ101と、Pchトランジスタ102と、インバータ105と、インバータ106とインバータ108と、レベルシフタ107で構成されている。
電源電圧は出力電圧VOUTよりも高いので、Pchトランジスタ101のゲート−ソース間電圧はPchトランジスタ102のゲート−ソース間電圧よりも高い。従って、Pchトランジスタ102のドレインの電圧は、“L”レベル(VSS端子の電圧)となる。波形整形用のインバータ105及び106によって、インバータ106の出力が接続するCONT端子111の電圧は“L”レベルになる。CONTX端子110の電圧は、レベルシフタ107とインバータ108を介するので、“H”レベル(電源電圧)になる。従って、Pchトランジスタ405がONし、Pchトランジスタ406がOFFするので、Pchトランジスタ403の基板の電圧は電源電圧になる。
次に、電源電圧の供給が減少したときの、ボルテージレギュレータの動作を説明する。電源電圧とバックアップ電池412の電圧の関係は、VBAT1<VBAT2である。
電源電圧が出力電圧VOUTよりも下がると、Pchトランジスタ101のゲート−ソース間電圧がPchトランジスタ102のゲート−ソース間電圧よりも低く。従って、Pchトランジスタ102のドレインの電位は、“H”レベル(出力電圧VOUT)となる。波形整形用のインバータ105及び106によって、インバータ106の出力であるCONT端子111の電圧は“H”レベル(出力電圧VOUT)になる。CONTX端子110の電圧は、レベルシフタ107とインバータ108を介するので“L”レベルになる。従って、Pchトランジスタ405がOFFし、Pchトランジスタ406がONするので、Pchトランジスタ403の基板の電圧は出力電圧VOUTになる。
即ち、Pchトランジスタ403の基板(NWELL)電位を、電源電圧か出力電圧のどちらか高い側に切り替えることで、電源電圧が出力端子122の電圧より下がっても、出力端子OUTからPchトランジスタ403の基板間の寄生ダイオードを介して電流が流れることを防ぐ(例えば、特許文献1参照)。
特開2011−65634号公報
しかしながら、従来の比較回路430では、出力端子122から流入する逆流電流を極力小さく抑えているため、回路の応答速度は遅い。そのため、急峻な電圧変動に対してPchトランジスタ403の基板電圧を切り替える信号が遅れる、と言う課題があった。例えば、電源電圧が急激に高くなった場合、切り替える信号が遅れている間、Pchトランジスタ103の基板間の寄生ダイオードを介して、VDD端子から出力端子OUTへ電流が流れ、出力端子OUTにオーバーシュートが発生してしまう。
そこで、本発明は上記課題を解決して、電源電圧の急峻な変動に対して出力端子OUTに大きなオーバーシュートを発生することなく、安全な動作が可能な逆流電流防止機能を備えたボルテージレギュレータを提供することを目的としている。
本発明の逆流電流防止機能を備えたボルテージレギュレータは、電源電圧と出力電圧を比較する比較回路に電源電圧の立ち上がりを検出する電源電圧変動検出回路を備え、電源電圧が急激に立ち上がった場合に、比較回路の消費電流を制限する定電流回路の電流を増加させ、応答特性を良くする構成とした。
本発明の逆流電流防止機能を備えたボルテージレギュレータによれば、電源電圧と出力電圧を比較する比較回路430の消費電流を制限する定電流回路に、電源電圧の立ち上がりを検出する回路を備えたので、出力端子122へ流入する逆流電流を定常的に増大させることなく、電源電圧の変動に対して十分な応答速度をもってPchトランジスタ403の基板電位を切り替えることが出来るという効果がある。
本発明のボルテージレギュレータの比較回路の回路図である。 本発明のボルテージレギュレータの比較回路の電源電圧変動検出回路の一例を示す回路図である。 逆流電流防止機能を備えたボルテージレギュレータの回路図である。 従来の比較回路の回路図である。
本発明を実施するための形態について、図面を参照して説明する。
本発明の逆流電流防止機能を備えたボルテージレギュレータは、図3に示すように、基準電圧回路401と、エラー・アンプ402と、Nchトランジスタ400と、Pchトランジスタ403、404、405、406と、分圧抵抗407,408と、比較回路430と、を備えている。
出力トランジスタであるPchトランジスタ403は、VDD端子と出力端子OUTの間に接続されている。出力端子OUTとVSS端子の間に、分圧抵抗407、408と、Nchトランジスタ400が直列に接続されている。エラー・アンプ402は、反転入力端子に基準電圧回路401の出力端子が接続され、非反転入力端子に分圧抵抗407、408の接続点が接続され、出力端子はPchトランジスタ403のゲートに接続されている。比較回路430は、入力端子121にVDD端子が接続され、入力端子122に出力端子OUTが接続され、入力端子123にVSS端子が接続され、出力端子110をNchトランジスタ400とPchトランジスタ404、406のゲートに接続され、出力端子111をPchトランジスタ405のゲートに接続される。Pchトランジスタ405のソースとドレインは、VDD端子とPchトランジスタ403の基板に接続される。Pchトランジスタ406のソースとドレインは、出力端子OUTとPchトランジスタ403の基板に接続される。Pchトランジスタ404のソースとドレインは、出力端子OUTとPchトランジスタ403のゲートに接続される。
電源電圧(VBAT1)は、VDD端子とVSS端子の間に印加される。出力端子OUTにバックアップ電池412と負荷413(例えば、半導体記憶装置)が接続されている。
図1は、本発明に係るボルテージレギュレータの比較回路の回路図である。比較回路430は、Pchトランジスタ101と、Pchトランジスタ102と、定電流回路103と、定電流回路104と、インバータ105と、インバータ106と、インバータ108と、レベルシフタ107と、電源電圧変動検出回路109と、を備えている。
Pchトランジスタ101は、ゲートがドレインと、Pchトランジスタ102のゲートと、定電流回路103に接続され、ソースがVDD端子に接続される。Pchトランジスタ102は、ドレインがインバータ105と、定電流回路104に接続され、ソースとバックゲートが出力端子122に接続される。電源電圧変動検出回路109はVDD端子とVSS端子123の間に接続され、出力端子は定電流回路103と定電流回路104に接続される。インバータ105とインバータ106は直列に接続され、電源は出力端子122から供給される。インバータ106の出力は、レベルシフタ107とCONT端子111に接続される。レベルシフタ107の出力は、インバータ108を介してCONTX端子110に接続される。レベルシフタ107とインバータ108の電源は、VDD端子から供給される。
次に、逆流電流防止機能を備えたボルテージレギュレータの動作について説明する。
先ず、VDD端子とVSS端子の間に電源電圧が供給されているときの、ボルテージレギュレータの動作を説明する。電源電圧とバックアップ電池412の電圧(VBAT2)の関係は、VBAT1>VBAT2である。
エラー・アンプ402は、出力端子OUTの出力電圧VOUTを抵抗407と抵抗408で分圧した帰還電圧VFBと、基準電圧回路401が出力する基準電圧Vrefとの差電圧を増幅して、Pchトランジスタ403のゲートを制御する。出力端子OUTの出力電圧VOUTは一定に保たれる。比較回路430は、入力端子121に入力される電源電圧と入力端子122に入力される出力電圧VOUTを比較し、CONTX端子110とCONT端子111に信号を出力する。
電源電圧は出力電圧VOUTよりも高いので、Pchトランジスタ101のゲート−ソース間電圧はPchトランジスタ102のゲート−ソース間電圧よりも高い。従って、Pchトランジスタ102のドレインの電圧は、“L”レベル(VSS端子の電圧)となる。波形整形用のインバータ105及び106によって、インバータ106の出力が接続するCONT端子111の電圧は“L”レベルになる。CONTX端子110の電圧は、レベルシフタ107とインバータ108を介するので、“H”レベル(電源電圧)になる。従って、Nchトランジスタ400はONして、Pchトランジスタ404はOFFする。すなわち、ボルテージレギュレータは、通常に動作する。
また、Pchトランジスタ405がONし、Pchトランジスタ406がOFFするので、Pchトランジスタ403の基板の電圧は電源電圧になる。
次に、電源電圧の供給が減少したときの、ボルテージレギュレータの動作を説明する。電源電圧とバックアップ電池412の電圧の関係は、VBAT1<VBAT2である。
電源電圧が出力電圧VOUTよりも下がると、Pchトランジスタ101のゲート−ソース間電圧がPchトランジスタ102のゲート−ソース間電圧よりも低く。従って、Pchトランジスタ102のドレインの電位は、“H”レベル(出力電圧VOUT)となる。波形整形用のインバータ105及び106によって、インバータ106の出力であるCONT端子111の電圧は“H”レベル(出力電圧VOUT)になる。CONTX端子110の電圧は、レベルシフタ107とインバータ108を介するので“L”レベルになる。従って、Nchトランジスタ400はOFFして、Pchトランジスタ404はONする。電源電圧が低下して、エラー・アンプ402の出力が不定になったとしても、Pchトランジスタ403は、Pchトランジスタ404によってゲートに“H”レベルの電圧が印加されるので、OFFしていることが出来る。
また、Pchトランジスタ405がOFFし、Pchトランジスタ406がONするので、Pchトランジスタ403の基板の電圧は出力電圧VOUTになる。即ち、Pchトランジスタ403の基板(NWELL)電位を、電源電圧か出力電圧のどちらか高い側に切り替えることで、電源電圧が出力電圧VOUTより下がっても、出力端子OUTからPchトランジスタ103の基板間の寄生ダイオードを介して電流が流れることを防ぐ。
次に、この状態で電源電圧が急峻に高くなった場合の、ボルテージレギュレータの動作を説明する。
Pchトランジスタ102のドレインの電位は“L”レベル(VSS端子の電位)となるが、その切り替わりに要する時間は定電流回路104によって制限される。電源電圧変動検出回路109は、電源電圧の変動を検出して、その変動に応じて定電流回路103と定電流回路104に流れる電流を制御する。すなわち、VDD端子の電圧が急峻に高くなった場合、定電流回路103と定電流回路104に流れる電流を一時的に増加させ、Pchトランジスタ102のドレインの電位が“L”レベルに切り替わる時間を短縮する。
以上説明したように、本発明のボルテージレギュレータの比較回路によれば、電源電圧変動検出回路109が電源電圧の急峻な変動を検出し、定電流回路103と定電流回路104に流れる電流を一時的に増加させることによって、CONT端子111とCONTX端子110の信号の切り替わり時間を短縮し、速やかに逆流電流防止機能を働かせることが出来る。従って、バックアップ電池412の動作時間に影響を与えることなく、VOUT端子122のオーバーシュートの発生を防止することが可能となる。
図2は、本発明のボルテージレギュレータの比較回路の電源電圧変動検出回路の一例を示す回路図である。
電源電圧変動検出回路109は、VDD端子とVSS端子の間に直列に接続された、容量201と、抵抗素子であるディプレッション型Nchトランジスタ301と、Nchトランジスタ203及び204で構成されている。定電流回路103と定電流回路104は、夫々ディプレッション型Nchトランジスタ302及び303と、ディプレッション型Nchトランジスタ304及び305と、で構成されている。
容量201とディプレッション型Nchトランジスタ301は微分回路として機能し、VDD端子の変動に応じてNchトランジスタ203及び204のゲートを制御する。すなわち、電源電圧が急峻に高くなった場合、ディプレッション型Nchトランジスタ301のドレインの電圧は高くなって、Nchトランジスタ203及び204のゲートの電圧が高くなってオンするので、定電流回路103と定電流回路104の電流は増加する。従って、CONT端子111とCONTX端子110の信号の切り替わり時間を短縮し、速やかに逆流電流防止機能を働かせることが出来る。
なお、インバータ105以降の回路については、波形整形及びレベル変換された信号を出力できれば、この回路に限定されるものではない。
また、微分回路の抵抗素子として機能するディプレッション型Nchトランジスタ301と、定電流回路を構成するディプレッション型Nchトランジスタ302〜305は同じディプレッション型Nchであるため、製造工程におけるばらつきに相関がある。例えば、ディプレッション型Nchトランジスタのしきい値電圧が低くなると、比較回路430の応答速度は定常的には遅くなるが、電源電圧の変動に対しては早くなる。従って、製造工程におけるばらつきに対して、比較回路430の応答性は比較的小さい相関をもつことが可能となる。従って、微分回路の抵抗素子と定電流回路を構成するトランジスタは、製造工程におけるばらつきに相関があれば、これに限定されない。
103、104 定電流回路
107 レベルシフタ
109 電源電圧変動検出回路
401 基準電圧回路
402 エラー・アンプ
413 負荷
430 比較回路

Claims (1)

  1. 電源端子と出力端子の間に設けられた出力トランジスタと、
    基準電圧と前記出力端子の電圧に基づく電圧とを比較し、前記出力端子の電圧が一定になるように前記出力トランジスタのゲート電圧を制御するエラー・アンプと、
    前記出力トランジスタの基板を前記電源端子に接続するための第1トランジスタと、
    前記出力トランジスタの基板を前記出力端子に接続するための第2トランジスタと、
    前記電源端子と前記出力端子の電圧を比較した結果によって、前記第1トランジスタと前記第2トランジスタを切替え制御する比較回路と、
    を備えたボルテージレギュレータであって、
    前記比較回路は、
    ソースが前記電源端子に接続され、ゲートがドレインに接続され、ドレインが第1定電流回路に接続された第3トランジスタと、
    ソースが前記出力端子に接続され、ゲートが前記第3トランジスタのゲートに接続され、ドレインが第2定電流回路と接続された第4トランジスタと、
    入力端子が前記電源端子に接続され、前記電源端子の電圧を検出した結果によって、前記第1定電流回路と前記第2定電流回路の電流を制御する電源電圧変動検出回路と、を備え、
    前記電源電圧変動検出回路は、前記電源端子と接地端子の間に直列に接続された容量素子と抵抗素子と、
    前記抵抗素子の電圧でゲートが制御され、前記第1定電流回路と前記第2定電流回路の電流を制御する第5トランジスタと第6トランジスタと、を備え
    前記抵抗素子は、前記第1定電流回路と前記第2定電流回路を構成する素子と同一の素子で構成され、
    前記第4トランジスタと前記第2定電流回路の接続点の電圧によって、前記第1トランジスタと前記第2トランジスタのゲートを制御し、前記出力トランジスタの基板の電圧を前記電源端子と前記出力端子の電圧のどちら高いほうに切替えることを特徴とするボルテージレギュレータ。
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