JP5856513B2 - ボルテージレギュレータ - Google Patents

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Description

本発明は、ボルテージレギュレータの突入電流防止回路に関する。
従来のボルテージレギュレータについて説明する。図3は、従来のボルテージレギュレータを示す回路図である。
従来のボルテージレギュレータは、バイアス回路105と、アンプ106と、Nchデプレッショントランジスタ121、122、124、125と、PMOSトランジスタ111と、NMOSトランジスタ123、126、127、128と、抵抗109、110と、容量108と、インバータ107、131、132と、グラウンド端子100と、出力端子103と、電源端子101と、外部端子104と、チップイネーブル端子102で構成されている。
チップイネーブル端子102に入力される制御信号がLoからHiに変化すると、バイアス回路105から電流が流されることで誤差アンプ106が動作する。一方、NMOSトランジスタ123も制御信号がHiになることでオン状態になるため、Nchデプレッショントランジスタ122、NMOSトランジスタ123、外部端子104を介して電流I1が流され、容量108が充電される。外部端子104の電圧がある程度高くなるとNchデプレッショントランジスタ125、NMOSトランジスタ126が動作して基準電圧Vrefを出力する。基準電圧Vrefが立ち上がる前は、アンプ106の出力はHiでPMOSトランジスタ111はオフ状態にされている。基準電圧Vrefが立ち上がるとアンプ106の出力が下がりPMOSトランジスタ111がオン状態にされて、出力端子103の電圧Voutが立ち上がり始める。出力電圧Voutがある程度高くなると、Nchデプレッショントランジスタ124からNchデプレッショントランジスタ125、NMOSトランジスタ126へ電流I2が流れ始める。そして、抵抗109、110によって分圧される電圧VFBも高くなりNMOSトランジスタ127がオン状態にされ、NMOSトランジスタ123のゲート電圧がグラウンド端子100の電圧まで下がる。すると、NMOSトランジスタ123がオフして外部端子104へ流れる電流I1が急速に減少する。
一方、NMOSトランジスタ124を通して外部端子104へ流れる電流I2は、その後もしばらくの間は容量108を充電するのに消費されるため増加するが、容量108がフル充電の状態に近づくに従って減少し、容量108が完全に充電され出力電圧Voutが完全に立ち上がると、Nchデプレッショントランジスタ125、NMOSトランジスタ126へ流す電流I3のみとなる。従って、容量108を追加しても定常状態時の消費電流が増加しないということになる。
こうして、チップイネーブル端子102の制御信号が急速に立ち上がったとしても、出力電圧Voutは徐々に立ち上がり、出力端子103に大きな平滑容量が接続されていたとしても、出力端子103へ向かって流れるラッシュ電流が抑制されるようになる(例えば、特許文献1参照)。
特開2011−239130号公報
しかしながら、従来の技術では、出力電圧Voutが立ち上がった後インバータ132が構成するPMOSトランジスタからNchデプレッショントランジスタ121、NMOSトランジスタ127を介して電流が流れ続ける。従って、ボルテージレギュレータの消費電流が増加するという課題があった。
本発明は、上記課題に鑑みてなされ、ボルテージレギュレータが起動した後は電流を消費しない突入電流防止回路を備えたボルテージレギュレータを提供する。
従来の課題を解決するため、本発明のボルテージレギュレータは以下のような構成とした。
基準電圧を生成する定電圧生成回路と、基準電圧と出力トランジスタが出力する出力電圧を分圧した分圧電圧との差を増幅して出力し、出力トランジスタのゲートを制御するアンプと、外部より回路をオンオフさせる信号が入力される外部端子と、定電圧生成回路を起動する起動回路と、を備えた、起動回路は、定電流回路と、定電流回路と定電圧生成回路の間に接続された第一のトランジスタと、ドレインが第一のトランジスタのゲートに接続され、ゲートに出力電圧に基づく電圧が入力された第二のトランジスタと、ゲートが第二のトランジスタのドレインに接続され、ソースが第二のトランジスタのソースに接続された第一のデプレッショントランジスタと、ゲートが第二のトランジスタのゲートに接続され、ドレインが第二のトランジスタのドレインに接続された第三のトランジスタと、を備えたボルテージレギュレータ。
本発明の突入電流防止回路を備えたボルテージレギュレータは、出力電圧を徐々に立ち上げラッシュ電流を抑制し、出力電圧が立ち上がった後、インバータやチップイネーブル端子から電流が流れることを防止してボルテージレギュレータの消費電流を低減させることができる。
第一の実施形態のボルテージレギュレータを示す回路図である。 第二の実施形態のボルテージレギュレータを示す回路図である。 従来のボルテージレギュレータを示す回路図である。
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。
<第一の実施形態>
図1は、第一の実施形態のボルテージレギュレータの回路図である。
第一の実施形態のボルテージレギュレータは、バイアス回路105と、アンプ106と、Nchデプレッショントランジスタ121、122、124、125と、PMOSトランジスタ111、120と、NMOSトランジスタ123、126、127、128と、抵抗109、110と、容量108と、インバータ107、131、132と、グラウンド端子100と、出力端子103と、電源端子101と、外部端子104と、チップイネーブル端子102で構成されている。インバータ132はNMOSトランジスタ162とPMOSトランジスタ161で構成されている。NMOSトランジスタ123、127、128と、PMOSトランジスタ120と、Nchデプレッショントランジスタ121、122で起動回路171が構成されている。NMOSトランジスタ126と、Nchデプレッショントランジスタ124、125で定電圧回路172が構成されている。
次に、第一の実施形態のボルテージレギュレータの接続について説明する。PMOSトランジスタ162は、ゲートはNMOSトランジスタ162のゲートに接続され、ドレインはNMOSトランジスタ162のドレインに接続され、ソースは電源端子101に接続される。NMOSトランジスタ162のソースはグラウンド端子100に接続され、ゲートはインバータ132の入力、ドレインはインバータ132の出力として動作する。インバータ131は、入力はチップイネーブル端子102に接続され、出力はインバータ132の入力に接続される。バイアス回路105は、入力はインバータ132の出力とNchデプレッショントランジスタ121のドレインとインバータ107の入力に接続され、出力はアンプ106に接続され、電源は電源端子101に接続される。Nchデプレッショントランジスタ121は、ゲートはPMOSトランジスタ120のドレインに接続され、ソースはPMOSトランジスタ120のソース及びバックゲートに接続される。NMOSトランジスタ127は、ゲートはPMOSトランジスタ120のゲートと抵抗109と抵抗110の接続点に接続されドレインはPMOSトランジスタ120のドレインに接続され、ソースはグラウンド端子100に接続される。抵抗109と抵抗110の接続点と出力端子103の間に抵抗109が接続され、抵抗109と抵抗110の接続点とグラウンド端子100の間に抵抗110が接続される。アンプ106は、反転入力端子はNchデプレッショントランジスタ125のゲート及びソースとNMOSトランジスタ126のゲート及びドレインに接続され、非反転入力端子は抵抗109と抵抗110の接続点に接続され、出力はPMOSトランジスタ111のゲートに接続される。PMOSトランジスタ111は、ソースは電源端子101に接続され、ドレインは出力端子103に接続される。Nchデプレッショントランジスタ122は、ゲート及びソースはNMOSトランジスタ123のドレインに接続され、ドレインは電源端子101に接続される。NMOSトランジスタ123は、ゲートはPMOSトランジスタ120のドレインに接続され、ソースはNchデプレッショントランジスタ125のドレインに接続される。NMOSトランジスタ128は、ゲートはインバータ107の出力に接続され、ドレインはNMOSトランジスタ123のソースに接続され、ソースはグラウンド端子100に接続される。Nchデプレッショントランジスタ124は、ゲート及びソースはNchデプレッショントランジスタ125のドレインと外部端子104に接続され、ドレインは出力端子103に接続される。NMOSトランジスタ126のソースはグラウンド端子100に接続される。容量108は外部端子104とグラウンド端子100の間に接続される。
次に、第一の実施形態のボルテージレギュレータの動作について説明する。チップイネーブル端子102に入力される制御信号がLoからHiに変化すると、インバータ回路131はLoを出力し、インバータ回路132はHiを出力してバイアス回路105が動作を開始する。アンプ106はバイアス回路105から電流が流されることで動作する。インバータ107はインバータ132の出力を受けてLoを出力し、NMOSトランジスタ128をオフさせる。抵抗109、110によって分圧される電圧をVFBとすると、制御信号がLoからHiに変化した時VFBはグラウンド端子100と同じ電圧にあるためPMOSトランジスタ120をオンさせる。Nchデプレッショントランジスタ121の閾値をVtnd、PMOSトランジスタ120の閾値をVtp、Nchデプレッショントランジスタ121とPMOSトランジスタ120の接続点をノードA、PMOSトランジスタ120のドレインとNMOSトランジスタ123のゲートの接続点をノードBとする。Vtndと、Vtpは次の関係を満たすように調整する。VOUTが立ち上がった後のVFB電圧を、VFB2とすると
|Vtnd|>|Vtp|・・・式1
かつ、
|Vtnd|<|Vtp|+VFB2・・・式2
となる。
VOUTが立ち上がる前のVFB電圧は0VなのでノードAの電圧は、|Vtp|であり、NMOSトランジスタ127はオフなので、ノードBは0V以上の電圧になる。Nchデプレッショントランジスタ121のゲート−ソース間電圧Vgs121の電圧は、ノードB電圧とノードA電圧の差電圧なので、
Vgs121=(ノードB電圧)−|Vtp|・・・式3
である。Nchデプレッショントランジスタ121がオンできる条件は、
Vgs121>−|Vtnd|・・・式4
となり、式3を代入すると
|Vtnd|>|Vtp|−(ノードB電圧)・・・式5
となる。ここで、VtndとVtpは、式1のように調整されているため、ノードB電圧が0V以上でればNchデプレッショントランジスタ121がオンできる条件を満たし、Nchデプレッショントランジスタ121とPMOSトランジスタ151を介して電流が流れ、ノードBの電圧は上昇する。ノードBの電圧上昇により、NMOSトランジスタ123はオンする。
Nchデプレッショントランジスタ122は電流I1を流し、NMOSトランジスタ123、外部端子104を介して容量108に充電される。外部端子104の電圧がある程度高くなるとNchデプレッショントランジスタ125、NMOSトランジスタ126が動作して基準電圧Vrefを出力する。基準電圧Vrefが立ち上がる前は、アンプ106の出力はHiでPMOSトランジスタ111はオフ状態にされている。基準電圧Vrefが立ち上がるとアンプ106の出力が下がりPMOSトランジスタ111がオン状態にされて、出力端子103の電圧Voutが立ち上がり始める。出力電圧Voutがある程度高くなると、Nchデプレッショントランジスタ124から電流I2が徐々に流れていく。そして、抵抗109、110によって分圧される電圧VFBも高くなりNMOSトランジスタ127がオン状態にされ、NMOSトランジスタ123のゲート電圧がグラウンド端子100の電圧まで下がる。すると、NMOSトランジスタ123がオフして外部端子104へ流れる電流I1が急速に減少する。
一方、NMOSトランジスタ124を通して外部端子104へ流れる電流I2は、その後もしばらくの間は容量108を充電するのに消費されるため増加するが、容量108がフル充電の状態に近づくに従って減少し、容量108が完全に充電され出力電圧Voutが完全に立ち上がると、Nchデプレッショントランジスタ125、NMOSトランジスタ126へ流す電流I3のみとなる。従って、容量108を追加しても定常状態時の消費電流が増加しないということになる。こうして、チップイネーブル端子102の制御信号が急速に立ち上がったとしても、出力電圧Voutは徐々に立ち上がり、出力端子103に大きな平滑容量が接続されていたとしても、出力端子103へ向かって流れるラッシュ電流が抑制されるようになる。
VOUTが立ち上がった後のVFB電圧は前述のようにVFB2と記すので、ノードAの電圧はVFB2+|Vtp|であり、NMOSトランジスタ127はオンなので、ノードBの電圧は0Vになる。Nchデプレッショントランジスタ121のゲート−ソース間電圧Vgs121の電圧は、ノードB電圧とノードA電圧の差電圧なので、
Vgs121=0−(VFB2+|Vtp|)・・・式6
である。Nchデプレッショントランジスタ121がオンできる条件は、式4に示すとおりであるが、式6を代入すると、
|Vtnd|>|Vtp|+VFB2+0・・・式7
となる。ここで、VtndとVtpは、式2のように調整されているため、Nchデプレッショントランジスタ121がオンできる条件を満たさず、オフするので電流が流れなくなる。こうして、出力電圧が立ち上がった後インバータ132が構成するPMOSトランジスタ161からNchデプレッショントランジスタ121を介して電流が流れることを防止することができる。
PMOSトランジスタ120はバックゲートとソースを接続することで寄生ダイオード1151が発生する。チップイネーブル端子102に入力される制御信号がHiからLoに変化すると、ノードBの電荷はPMOSトランジスタ120の寄生ダイオード151、Nchデプレッショントランジスタ121、インバータ132を構成するNMOSトランジスタ162を介して抜けていく。こうして、ノードBの電圧は0Vとなり、その後制御信号がLoからHiに変化した場合でも正常に動作させることができる。
なお、チップイネーブル端子102にインバータ131、132が直列に接続されている場合を説明したが、インバータ131、132がなく外部機器から直接信号が入力される場合でも外部機器から電流が流れることを防ぎ、外部機器の消費電流を低減できる。外部端子104へ電流を流すためNchデプレッショントランジスタ122を用いたが、抵抗や他の構成の定電流回路を用いても同様に動作させることができる。また、PMOSトランジスタ120は、バックゲートをNchデプレッショントランジスタ121のドレインに接続しても同様に寄生ダイオード115が発生し、同様に動作させることができる。
以上により、出力電圧Voutを徐々に立ち上げラッシュ電流を抑制し、出力電圧Voutが立ち上がった後、インバータ161やチップイネーブル端子102からNchデプレッショントランジスタ121、NMOSトランジスタ127を介して電流が流れることを防止することができる。
<第二の実施形態>
図2は、第二の実施形態のボルテージレギュレータの回路図である。図1との違いはNchデプレッショントランジスタ124を抵抗224に変更した点である。抵抗224はNchデプレッショントランジスタ125とNMOSトランジスタ126に電流を流すために用いられる。このような構成でも出力電圧Voutを徐々に立ち上げラッシュ電流を抑制し、出力電圧Voutが立ち上がった後、インバータ161やチップイネーブル端子102からNchデプレッショントランジスタ121、NMOSトランジスタ127を介して電流が流れることを防止することができる。
100 グラウンド端子
101 電源端子
102 チップイネーブル端子
103 出力端子
104 外部端子
105 バイアス回路
106 アンプ
107、131、132 インバータ

Claims (5)

  1. 基準電圧を生成する定電圧生成回路と、
    前記基準電圧と出力トランジスタが出力する出力電圧を分圧した分圧電圧との差を増幅して出力し、前記出力トランジスタのゲートを制御するアンプと、
    外部より回路をオンオフさせる信号が入力される外部端子と、
    前記定電圧生成回路を起動する起動回路と、
    を備えたボルテージレギュレータであって、
    前記起動回路は、
    定電流回路と、
    前記定電流回路と前記定電圧生成回路の間に接続された第一のトランジスタと、
    ドレインが前記第一のトランジスタのゲートに接続され、ゲートに前記出力電圧に基づく電圧が入力された第二のトランジスタと、
    ゲートが前記第二のトランジスタのドレインに接続され、ソースが前記第二のトランジスタのソースに接続された第一のデプレッショントランジスタと、
    ゲートが前記第二のトランジスタのゲートに接続され、ドレインが前記第二のトランジスタのドレインに接続された第三のトランジスタと、
    を備えたことを特徴とするボルテージレギュレータ。
  2. 前記第二のトランジスタは、
    バックゲートが前記第一のデプレッショントランジスタのドレインまたはソースに接続されたことを特徴とする請求項1に記載のボルテージレギュレータ。
  3. 前記定電流回路は、
    ゲートとソースが接続された第二のデプレッショントランジスタを備えたことを特徴とする請求項1または2に記載のボルテージレギュレータ。
  4. 前記定電圧生成回路は、
    ゲートとソースが接続された第三のデプレッショントランジスタと、
    ゲートとソースが接続され、ドレインが前記第三のデプレッショントランジスタのソースに接続された第四のデプレッショントランジスタと、
    ゲートとドレインが前記第四のデプレッショントランジスタのゲートとソースに接続された第四のトランジスタと、
    を備えたことを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載のボルテージレギュレータ。
  5. 前記定電圧生成回路は、
    抵抗と、
    ゲートとソースが接続され、ドレインが前記抵抗に接続された第四のデプレッショントランジスタと、
    ゲートとドレインが前記第四のデプレッショントランジスタのゲートとソースに接続された第四のトランジスタと、
    を備えたことを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載のボルテージレギュレータ。
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