JP5941280B2 - 重合性光酸発生剤 - Google Patents

重合性光酸発生剤 Download PDF

Info

Publication number
JP5941280B2
JP5941280B2 JP2011287304A JP2011287304A JP5941280B2 JP 5941280 B2 JP5941280 B2 JP 5941280B2 JP 2011287304 A JP2011287304 A JP 2011287304A JP 2011287304 A JP2011287304 A JP 2011287304A JP 5941280 B2 JP5941280 B2 JP 5941280B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
group
polymer
alkyl
formula
mmol
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2011287304A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2012140620A5 (ja
JP2012140620A (ja
Inventor
ジェームズ・ダブリュー.サッカレー
スザンヌ・エム.コーリー
ビップル・ジェイン
オーウェンディ・オンゲイ
ジェームズ・エフ.キャメロン
ポール・ジェイ.ラボーメ
アーマド・イー.マッドクル
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rohm and Haas Electronic Materials LLC
Original Assignee
Rohm and Haas Electronic Materials LLC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rohm and Haas Electronic Materials LLC filed Critical Rohm and Haas Electronic Materials LLC
Publication of JP2012140620A publication Critical patent/JP2012140620A/ja
Publication of JP2012140620A5 publication Critical patent/JP2012140620A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5941280B2 publication Critical patent/JP5941280B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/0045Photosensitive materials with organic non-macromolecular light-sensitive compounds not otherwise provided for, e.g. dissolution inhibitors
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07CACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
    • C07C307/00Amides of sulfuric acids, i.e. compounds having singly-bound oxygen atoms of sulfate groups replaced by nitrogen atoms, not being part of nitro or nitroso groups
    • C07C307/02Monoamides of sulfuric acids or esters thereof, e.g. sulfamic acids
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07CACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
    • C07C309/00Sulfonic acids; Halides, esters, or anhydrides thereof
    • C07C309/01Sulfonic acids
    • C07C309/02Sulfonic acids having sulfo groups bound to acyclic carbon atoms
    • C07C309/03Sulfonic acids having sulfo groups bound to acyclic carbon atoms of an acyclic saturated carbon skeleton
    • C07C309/04Sulfonic acids having sulfo groups bound to acyclic carbon atoms of an acyclic saturated carbon skeleton containing only one sulfo group
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07CACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
    • C07C309/00Sulfonic acids; Halides, esters, or anhydrides thereof
    • C07C309/01Sulfonic acids
    • C07C309/02Sulfonic acids having sulfo groups bound to acyclic carbon atoms
    • C07C309/03Sulfonic acids having sulfo groups bound to acyclic carbon atoms of an acyclic saturated carbon skeleton
    • C07C309/07Sulfonic acids having sulfo groups bound to acyclic carbon atoms of an acyclic saturated carbon skeleton containing oxygen atoms bound to the carbon skeleton
    • C07C309/12Sulfonic acids having sulfo groups bound to acyclic carbon atoms of an acyclic saturated carbon skeleton containing oxygen atoms bound to the carbon skeleton containing esterified hydroxy groups bound to the carbon skeleton
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07CACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
    • C07C309/00Sulfonic acids; Halides, esters, or anhydrides thereof
    • C07C309/01Sulfonic acids
    • C07C309/28Sulfonic acids having sulfo groups bound to carbon atoms of six-membered aromatic rings of a carbon skeleton
    • C07C309/41Sulfonic acids having sulfo groups bound to carbon atoms of six-membered aromatic rings of a carbon skeleton containing singly-bound oxygen atoms bound to the carbon skeleton
    • C07C309/42Sulfonic acids having sulfo groups bound to carbon atoms of six-membered aromatic rings of a carbon skeleton containing singly-bound oxygen atoms bound to the carbon skeleton having the sulfo groups bound to carbon atoms of non-condensed six-membered aromatic rings
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07CACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
    • C07C381/00Compounds containing carbon and sulfur and having functional groups not covered by groups C07C301/00 - C07C337/00
    • C07C381/12Sulfonium compounds
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07DHETEROCYCLIC COMPOUNDS
    • C07D333/00Heterocyclic compounds containing five-membered rings having one sulfur atom as the only ring hetero atom
    • C07D333/50Heterocyclic compounds containing five-membered rings having one sulfur atom as the only ring hetero atom condensed with carbocyclic rings or ring systems
    • C07D333/76Dibenzothiophenes
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F220/00Copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and only one being terminated by only one carboxyl radical or a salt, anhydride ester, amide, imide or nitrile thereof
    • C08F220/02Monocarboxylic acids having less than ten carbon atoms; Derivatives thereof
    • C08F220/10Esters
    • C08F220/38Esters containing sulfur
    • C08F220/382Esters containing sulfur and containing oxygen, e.g. 2-sulfoethyl (meth)acrylate
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/0046Photosensitive materials with perfluoro compounds, e.g. for dry lithography
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/039Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists
    • G03F7/0392Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists the macromolecular compound being present in a chemically amplified positive photoresist composition
    • G03F7/0397Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists the macromolecular compound being present in a chemically amplified positive photoresist composition the macromolecular compound having an alicyclic moiety in a side chain
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/20Exposure; Apparatus therefor
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S430/00Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
    • Y10S430/1053Imaging affecting physical property or radiation sensitive material, or producing nonplanar or printing surface - process, composition, or product: radiation sensitive composition or product or process of making binder containing
    • Y10S430/1055Radiation sensitive composition or product or process of making
    • Y10S430/114Initiator containing
    • Y10S430/122Sulfur compound containing
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S430/00Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
    • Y10S430/1053Imaging affecting physical property or radiation sensitive material, or producing nonplanar or printing surface - process, composition, or product: radiation sensitive composition or product or process of making binder containing
    • Y10S430/1055Radiation sensitive composition or product or process of making
    • Y10S430/114Initiator containing
    • Y10S430/122Sulfur compound containing
    • Y10S430/123Sulfur in heterocyclic ring
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S430/00Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
    • Y10S430/1053Imaging affecting physical property or radiation sensitive material, or producing nonplanar or printing surface - process, composition, or product: radiation sensitive composition or product or process of making binder containing
    • Y10S430/1055Radiation sensitive composition or product or process of making
    • Y10S430/114Initiator containing
    • Y10S430/126Halogen compound containing

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Polymers & Plastics (AREA)
  • Materials For Photolithography (AREA)
  • Addition Polymer Or Copolymer, Post-Treatments, Or Chemical Modifications (AREA)
  • Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)

Description

本出願は2010年12月31日に出願された米国仮出願第61/429,009号のノンプロビジョナル出願であり、その仮出願の内容はその全体が参照によって本明細書に組み込まれる。
本明細書においては、フォトレジストポリマーに重合可能な新規光酸発生剤化合物、およびこの重合性光酸発生剤を含むフォトレジスト組成物が開示される。
紫外領域のスペクトル(すなわち、<300nm)において放射線に露光されたときに分解して酸を生じさせる化合物(「光酸発生剤」とも称される)は、マイクロエレクトロニクス用途のための化学増幅型フォトレジストにおいてポリマーの「化学的に増幅された」脱保護もしくは架橋のためのベースである。しかし、この材料の分解生成物のガス放出は、このようなフォトレジストのための露光ツールの光学素子(optics)を覆い、腐蝕する場合があり、そこではこの光学部品は露光されるフォトレジストから数ミリメートル離れているだけである場合がある。
前世代のリソグラフィツール(248nmおよび193nmでの操作)については、例えば、光学部品を清浄化することおよび/または犠牲的バリアもしくはフィルタを含ませかつ屈折性光学素子を使用することによる、ガス放出の損害発生効果を制限するための対策が使用されてきたが、45nm未満のますます小さくなるライン幅において増大した解像度に向かう産業界のトレンド、並びに改良された反射光学素子を使用し、有意により短い波長(13.5nmでの極端紫外線(EUV)領域におけるような)で操作する新たなツールの開発はこのような戦略に適合しない場合がある。よって、ガス放出の制御がフォトレジスト中の組成物レベルで起こるべきであるという目的が存在する。さらに、EUV波長での使用のための改良されたフォトレジストにおいて、ライン幅ラフネスの制御が必要とされ、これはフォトレジストの成分の拡散能力に相関する。
欧州特許出願公開第2026616A2号は、ビニルエーテル由来の保護基を有するフェノール系ポリマーと共に使用される場合に、有用なガス放出特性を有する光酸発生剤を開示する。この光酸発生剤はスルホニウム中心に結合したアリール基(好ましくは少なくとも1つのヒドロキシ基を組み込んでいる)、およびビスアリール基(各アリールがスルホニウム中心に等しく結合している)を有するスルホニウムカチオンをベースにする。
欧州特許出願公開第2026616A2号明細書
上記文献に開示された光酸発生剤は、例えば、トリフェニルスルホニウムカチオンベースの光酸発生剤と比べて改良されたガス放出を示すが、実施例(特に実施例1および9)はこれら光酸発生剤を用いて得られたガス発生における改良が、ライン幅ラフネスを悪化させる場合もあることを示す。
先行技術の上記および他の欠点は、式(I)を有する化合物によって克服されうる:
Figure 0005941280
式中、Qはハロゲン化されているかもしくはハロゲン化されていないC2−30オレフィン含有基であり、Aはフッ素置換C1−30アルキレン基、フッ素置換C3−30シクロアルキレン基、フッ素置換C6−30アリーレン基、もしくはフッ素置換C7−30アルキレン−アリーレン基であり、Zはスルホナート、スルホンアミドもしくはスルホンイミドを含むアニオン性基であり、並びにGは式(II)を有し:
Figure 0005941280
式中、XはSもしくはIであり、各Rはハロゲン化されているかもしくはハロゲン化されておらず、かつ独立してC1−30アルキル基;多環式もしくは単環式C3−30シクロアルキル基;多環式もしくは単環式C4−30アリール基;または前述の少なくとも1種を含む組み合わせである;XがSの場合には、R基の1つは場合によっては、隣の1つのR基に単結合によって結合されており、かつaは2もしくは3である;XがIの場合にはaは2であり、もしくはXがSの場合にはaは3である。
コポリマーは上記化合物を含む。
フォトレジスト組成物は前記コポリマーを含む。
コーティングされた基体は、基体表面上のパターン形成される1以上の層を有する基体、およびパターン形成される前記1以上の層上の前記フォトレジスト組成物の層を含む。
また、電子デバイスを形成する方法は、前記フォトレジスト組成物の層を基体上に適用し;フォトレジスト組成物層を活性化放射線にパターン様に(patternwise)露光し;および露光されたフォトレジスト組成物層を現像してレジストレリーフ像を提供することを含む。
本明細書において開示されるのは、活性化放射線に露光される場合に、特に、改良されたリソグラフィのための放射線、例えば、eビーム、x線および13.5nmの波長を有する極端紫外線(EUV)放射線に露光されるフォトレジスト組成物に使用される場合に、低いガス放出特性を有する新規の重合性光酸発生剤(本明細書においてはPAG)である。この光酸発生剤はこれら化学線に対して高い感度を有し、かつ付加重合したフォトレジストポリマーの骨格に、オレフィンエステル重合性基によって結合されるオニウムカチオンの塩である。これらPAGの分解生成物は、フォトレジスト組成物、露光および処理の類似の条件下で、例えば、ジフェニルヨードニウムもしくはトリフェニルスルホニウムカチオンを有する従来のPAGと比べて低減される。
本明細書において使用される場合、「オニウム」とは、ヨードニウムもしくはスルホニウムカチオンをいう。また、本明細書において使用される場合、「置換」とはハロゲン(すなわち、F、Cl、Br、I)、ヒドロキシ、アミノ、チオール、カルボキシル、カルボキシラート、アミド、ニトリル、チオール、スルフィド、ジスルフィド、ニトロ、C1−10アルキル、C1−10アルコキシ、C6−10アリール、C6−10アリールオキシ、C7−10アルキルアリール、C7−10アルキルアリールオキシ、または前述の少なくとも1種を含む組み合わせのような置換基を含むことを意味する。本明細書において式に関して開示された基もしくは構造は、他に特定されない限りは、または得られた構造の所望の特性にその置換が有意に悪影響を及ぼさない限りは、そのように置換されることができると理解される。また、本明細書において使用される場合、「(メタ)アクリラート」とはアクリラートもしくはメタクリラートを意味し、他に特定されない限りはこれらのいずれかに限定されない。
このPAGは、アニオンがフッ素化スルホン酸、スルホンアミドもしくはスルホンイミドの共役塩基であってさらに重合性基を含む、カチオン−アニオン構造を有する。カチオンはアリール置換オニウム(すなわち、二置換ヨードニウムもしくは三置換スルホニウム)カチオンであり、置換基であるアリール基は、例えばオニウムを含む複素環構造において、もしくは縮合芳香環システムの部分として、1以上の隣のアリール基に結合しているか、または別々で結合していない。
ポリマー結合光酸発生剤は式(I)を有する:
Figure 0005941280
式(I)中、Qはハロゲン化されているかもしくはハロゲン化されていないC2−30オレフィン含有基である。好ましくは、Qは重合性オレフィンを含み、またはヒドロキシ基と反応してアセタールもしくはケタール構造を形成できる基を含む。また、式(I)中、Aは連結基、例えば、フッ素置換C1−30アルキレン基、フッ素置換C3−30シクロアルキレン基、フッ素置換C6−30アリーレン基、もしくはフッ素置換C7−30アルキレン−アリーレン基である。Gは光分解性カチオンである。
連結基Aはポリマー結合PAGに好適なプラットフォームおよび機能性をもたらすあらゆる連結基であり得る。好ましくは、Aはo−、m−もしくはp−置換−C−基、o−、m−もしくはp−置換−C−基、o−、m−もしくはp−置換−(O(CH−C−基(ここで、kは1〜10の整数である)、o−、m−もしくはp−置換−C−基、または−[(C(R−C(=O)O]−C((R(CF−基(ここで、RおよびRはそれぞれ独立してH、F、C1−6フルオロアルキル、もしくはC1−6アルキルであり、bは0もしくは1であり、xは1〜10の整数であり、yおよびzは独立して0〜10の整数であり、合計y+zは少なくとも1である)である。
また、ポリマー結合PAGにおいて、Zはアニオン性基であり、例えば、スルホナート(−SO )、スルホンアミドのアニオン(−SO(N)R’、ここでR’はC1−10アルキルもしくはC6−20アリールである)、またはスルホンイミドのアニオンである。Zがスルホンイミドである場合には、このスルホンイミドは一般構造A−SO−(N)−SO−Y(ここで、Aは上述の通りであり、Yは直鎖もしくは分岐C1−10フルオロアルキル基である)を有する非対称スルホンイミドであり得る。好ましくは、Y基はC1−4ペルフルオロアルキル基であり、かつトリフルオロメタンスルホン酸もしくはペルフルオロブタンスルホン酸のような対応する過フッ素化アルカンスルホン酸から得られる。
Qはラジカル重合性基、例えば、ビニルカルボニルもしくはビニル芳香族基であり得る。ポリマー結合PAGは式(III)もしくは(IV)のものでありうる:
Figure 0005941280
式中、RおよびRはそれぞれ独立して、H、F、C1−6アルキルもしくはC1−6フルオロアルキルである。また、式(III)および(IV)においては、Aはフッ素置換C1−30アルキレン基、フッ素置換C3−30シクロアルキレン基、フッ素置換C6−30アリーレン基、もしくはフッ素置換C7−30アルキレン−アリーレン基であり、Gは式(II)のカチオンである。
式(I)の典型的なポリマー結合PAGには:
Figure 0005941280
(式中、RおよびRはそれぞれ独立して、H、F、C1−6アルキルもしくはC1−6フルオロアルキルであり、kは0〜4の整数であり、lは0〜3の整数であり、Gは式(II)のカチオンである)または上述の少なくとも1種を含む組み合わせが挙げられる。
は式(II)のアリール置換オニウムカチオンであり得る:
Figure 0005941280
式(II)中、Xはオニウムへテロ原子であり、好ましくはSもしくはIである。各Rはハロゲン化されているかもしくはハロゲン化されておらず、かつ等しく(commonly)Xに結合しており、かつ独立してC1−30アルキル基、多環式もしくは単環式C3−30シクロアルキル基、多環式もしくは単環式C6−30アリール基、または前述の少なくとも1種を含む組み合わせである。
場合によっては、XがSである場合には、式(II)におけるGのR基の1つは隣の1つのR基に単結合によって結合されている。例えば、例えば、スルホニウムへテロ原子中心に等しく結合した2つの隣り合うフェニル基は、フェニル基とスルホニウムへテロ原子との間の結合位置に対してオルトで(もしくはメタ、もしくはパラ、または1つのアリールがフェニルであり隣のアリールが異なっている、例えば、ナフチル、アントラシルなどである場合に独立して異なる結合位置で)単結合によって互いにさらに結合されうる。この例におけるこの方法においては、オルト−二置換ビフェニル縮合5員環が得られることができ、この場合ビフェニルが等しくスルホニウムへテロ原子に結合している。
また、式(II)においては、aは2もしくは3であり、XがIの場合にはaは2であり、もしくはXがSの場合にはaは3である。上述の場合、R基の数は独立したR基を言及することができ、または2つのR基が互いに結合しかつXに結合されている場合のXに結合したR基の1/2を言及することができることがさらに認識される。
好ましくは、Gは下記式(V)、(VI)もしくは(VII)を有する:
Figure 0005941280
式中、XはIもしくはSであり、各R、R、RおよびRはそれぞれ独立して、ヒドロキシ、ニトリル、ハロゲン、C1−10アルキル、C1−10フルオロアルキル、C1−10アルコキシ、C1−10フルオロアルコキシ、C6−20アリール、C6−20フルオロアリール、C6−20アリールオキシ、またはC6−20フルオロアリールオキシであり、ArおよびArは独立してC10−30縮合もしくは単結合(singly bonded)多環式アリール基であり;R13はXがIの場合には孤立電子対であり、またはXがSの場合にはC6−20アリール基である;並びに、pは2または3の整数であり、XがIの場合にはpは2であり、XがSの場合にはpは3であり、qおよびrはそれぞれ独立して0〜5の整数であり、sおよびtはそれぞれ独立して0〜4の整数である。
一般式(I)の典型的なポリマー結合PAGには、以下のものが挙げられる:
Figure 0005941280
式中、RはH、F、C1−6アルキルもしくはC1−6フルオロアルキルである。
本明細書において開示されるPAGは好ましくはEUVリソグラフィのためのフォトレジストにおいて有用であり、EUV放射線に露光される場合に、他の波長の放射線を超えて、特異的な吸収および分解特性を望ましく有することができる。例えば、EUV放射線源は、EUV領域の放射スペクトル(約12〜14nm、使用される典型的な放射は13.4〜13.5nmである)に加えて、光酸発生剤が感受性であり得るより長い波長、例えば、248nmおよび/または193nm(これらはDUVおよび193nmリソグラフィに使用されるKrFおよびArFエキシマレーザーについての放射バンドでもある)で放射することができる。本明細書に開示されたPAGの感度は、当該技術分野において「帯域外(Out−of−Band)」(OOB)放射波長と称される他の輝線に対するよりもEUVに対して高く、すなわち、EUV波長でのPAGのフォトスピードは、トリフェニルスルホニウム(TPS)PAGもしくはジ−(t−ブチルフェニル)ヨードニウムPAGのようなより長い波長(248もしくは193nm)で典型的に使用されるPAGのフォトスピードよりも低い(すなわち、「より速い」)。本明細書において開示されたPAGは、248もしくは193nm露光条件に対する、EUV露光条件でのこのPAGを使用して調製されたフォトレジストについてのクリアのための線量(ドース−ツー−クリア:dose−to−clear)(E、mJ/cm単位で報告される)の比率(E0−EUV/E0−248もしくはE0−EUV/E0−193)2.0以下、具体的には1.5以下、具体的には1.3以下、より具体的には1.1以下、およびさらにより具体的には1.0以下として報告される、248もしくは193nm放射線に対するOOB感度を好ましくは有することができる。
このPAGはヨードニウムもしくはスルホニウムPAGを製造するのに使用される好適な一般的方法によって製造されうる。本明細書に開示されるヨードニウム光酸発生剤は一般的にいくつかの様々な方法のいずれかによって製造されうる。例えば、ビス−アリールヨードニウム塩は、強酸性/脱水条件(例えば、硫酸および無水酢酸)下で、電子供与基、例えば、アルキル基、オレフィン基、ヒドロキシ基、エーテル基、他の芳香族基、例えば、電子供与基で置換されたフェニル基(例えば、フェノキシ基)など、および他の類似の基で置換されたC30アリール基と、ヨウ素酸カリウム(KIO)のようなヨウ素酸塩との単純な縮合によって、ビス−アリール置換ヨードニウム塩前駆体を提供することにより製造されうる。より高い収率で、対称置換および非対称置換双方のヨードニウム塩前駆体を製造するのに有用な他の方法には、過ホウ酸ナトリウム(NaBO)および酢酸の存在下でのヨウ化アリールの酸化、そして電子供与基を有する第2のヨウ化アリールとの縮合、またはKoser’s試薬(アリールヒドロキシヨードニウムトシラート、すなわち、Ar−I(OH)(OTs))との縮合が挙げられる。
スルホニウム光酸発生剤は概して、例えば、スルフィニル基とアリールもしくはアルキル化合物との縮合を促進させるのに好適な脱水剤もしくはルイス酸(例えば、硫酸もしくはEaton’s試薬)の存在下で、スルフィニルジアリール化合物(すなわち、上述のようなC6−30アリール基、好ましくは電子供与基で置換されたC6−30アリール基から製造されたジアリールスルホキシド)を別の基、例えば、C6−30アリール化合物もしくはC1−30アルキル基、好ましくは電子供与基を有するものと化合させて、カチオンを生じさせることにより製造されうる。スルフィニルジアリール化合物の縮合は置換基との分子内縮合でもあり得ることが認識される。
これらの方法のいずれかによって製造されるヨードニウムもしくはスルホニウム塩はさらに、好適な酸もしくは酸の塩、イミド、もしくはアミドを使用するメタセシスアニオン交換にかけられて、所望のアニオン(例えば、式(I)について記載されるような、一般式Q−O−(A)−Zのアニオン)を伴う対応するヨードニウムもしくはスルホニウム塩を提供することができる。好ましくは、メタセシスに使用されるアニオンはスルホン酸もしくはその塩、またはスルホンアミドもしくはスルホンイミドの塩である。
本明細書において上述のPAG化合物はフォトレジストを製造するのに有用である。ある実施形態においては、フォトレジストはPAG化合物と、酸感受性官能基を含むポリマーとを含む。
本明細書において上述されるポリマー結合PAG化合物はコポリマーを製造するのに有用である。このコポリマーは好ましくはフォトレジストにおいて有用ないかなるコポリマーであってもよく、限定されないが、例えば、DUV(248nm)および198nm露光のための化学増幅型ポジティブもしくはネガティブトーンフォトレジストに使用されうるフォトレジストを製造するのに有用なポリマーが考えられる。しかし、より好ましくは、コポリマーは改良されたマイクロリソグラフィのための化学線、例えば、本明細書において上述のようなx線、eビームもしくはEUVで像形成するためのフォトレジストを製造するのに有用なものである。この文脈で使用される「コポリマー」は1種のコポリマー、1種より多いコポリマー、もしくは1種以上のコポリマーとフォトレジストにおいて有用な別の1種以上のポリマーとの組み合わせを意味しうると理解される。
好ましいコポリマーは、それぞれがコポリマーに異なる特性を付与する2種以上の重合単位の組み合わせを含むことができる。好ましくは、コポリマーは、ポリマー結合PAG化合物から形成される第1重合単位、酸感受性官能基を含む第2重合単位を含み、および場合によっては、塩基可溶性官能基である極性基含有第3重合単位を含む。
上述のポリマー結合PAG化合物を含む第1単位に加えて、第2重合単位は酸感受性官能基を有するC10−30酸感受性オレフィンエステルモノマーから形成されうる。酸感受性基はオレフィンエステルが結合される第三級アルキル中心を有する環式アルキル基、多環式アルキル基、もしくは芳香族基でありうる。
第2重合単位は下記式:
Figure 0005941280
を有する化合物、または、前述の少なくとも1種を含む組み合わせから形成されることができ、式中、RはH、F、C1−6アルキルもしくはC1−6フルオロアルキルである。好ましい典型的なモノマーには、上記構造におけるRがHもしくは−CH基であるもの(すなわち、(メタ)アクリラート基)が挙げられる。
第3重合単位は塩基可溶性官能基を有する極性10−30 塩基可溶性モノマーから形成されうる。塩基可溶性官能基は、ヘキサフルオロイソプロパノール基および場合によってはヒドロキシのような第2の極性基を有する環式アルキル基もしくは多環式アルキル基のオレフィンエステル、または塩基可溶性官能基としてヘキサフルオロイソプロパノール基もしくはフェノール性ヒドロキシ基を有する芳香族基のオレフィンエステルもしくはビニル芳香族であることができる。
好ましくは、第3重合単位は下記式:
Figure 0005941280
の塩基可溶性モノマー、または前述の少なくとも1種を含む組み合わせから形成されることができ、式中、R10はH、F、C1−6アルキルもしくはC1−6フルオロアルキルである。好ましい典型的なモノマーには、上記構造におけるR10がHもしくは−CH基であるもの(すなわち、(メタ)アクリラート基)が挙げられる。
上で特定されたモノマーの第1および第2の重合単位を含む全てのコポリマーは、本明細書に開示された光酸発生剤を伴うことが意図されると認識される。ポリマー中に、例えば、C8−20ビニル芳香族基、例えば、スチレン、4−ヒドロキシスチレンなど;C7−20環式オレフィン、例えば、ノルボルネンおよび置換ノルボルネン;C4−20オレフィン無水物、例えば、無水マレイン酸、無水イタコン酸、無水シトラコン酸など;他のC10−30(メタ)アクリラートモノマー、例えば、ラクトン官能基を有するもの、例えば、アルファ−(ガンマブチロラクトン)(メタ)アクリラートなど、並びに前述の少なくとも1種を含む組み合わせなどに由来するものをはじめとする追加のモノマー単位がさらに含まれうることが認識される。
フォトレジスト組成物は上述のポリマー結合PAGを有するコポリマーを含む。フォトレジストはこのPAG化合物およびポリマーに加えて、添加剤、例えば、光分解性塩基、および界面活性剤などを含むこともできる。他の添加剤、例えば、溶解速度抑制剤、増感剤、追加のPAGなども含まれうる。フォトレジスト成分は分配およびコーティングのために溶媒中に溶解される。
フォトレジストは光分解性塩基を含むことができる。塩基材料、好ましくは光分解可能カチオンのカルボキシラート塩の包含は酸分解性基からの酸の中和のためのメカニズムを提供し、そして光発生酸の拡散を制限し、それによりフォトレジストにおける向上したコントラストを提供する。
光分解性塩基には、弱酸(pKa>2)、例えば、C1−20カルボン酸などのアニオンと対になった、光分解性カチオンおよび好ましくはPAGを製造するのにも有用なものが挙げられる。典型的なこのカルボン酸には、ギ酸、酢酸、プロピオン酸、酒石酸、コハク酸、シクロヘキシルカルボン酸、安息香酸、サリチル酸、および他のこのようなカルボン酸が挙げられる。光分解性塩基には、カチオンがトリフェニルスルホニウムもしくは下記のいずれかである、以下の構造のカチオン/アニオンペアが挙げられる:
Figure 0005941280
式中、Rは独立して、H、C1−20アルキル、C6−20アリールもしくはC6−20アルキルアリールであり、アニオンは
Figure 0005941280
であり、式中、Rは独立してH、C1−20アルキル、C1−20アルコキシ、C6−20アリールもしくはC6−20アルキルアリールである。他の光分解性塩基には、非イオン性光分解性発色団、例えば、2−ニトロベンジル基およびベンゾイン基などをベースにしたものが挙げられる。典型的な光塩基発生剤はオルト−ニトロベンジルカルバマートである。
代替的にもしくは追加的に、他の添加剤には、光分解性でない塩基であるクエンチャー(quencher)、例えば、ヒドロキシド、カルボキシラート、アミン、イミンおよびアミドをベースにしたものが挙げられうる。好ましくは、このクエンチャーには、C1−30有機アミン、イミンもしくはアミドが挙げられ、または強塩基(例えば、ヒドロキシドもしくはアルコキシド)または弱塩基(例えば、カルボキシラート)のC1−30第四級アンモニウム塩であり得る。典型的なクエンチャーには、アミン、例えば、Troger’s塩基、ヒンダードアミン、例えば、ジアザビシクロウンデセン(DBU)もしくはジアザビシクロノネン(DBM)、またはイオン性クエンチャー、例えば、第四級アルキルアンモニウム塩、例えば、テトラブチルアンモニウムヒドロキシド(TBAH)もしくは乳酸テトラブチルアンモニウムが挙げられる。
界面活性剤には、フッ素化および非フッ素化界面活性剤が挙げられ、好ましくは非イオン性である。典型的なフッ素化非イオン性界面活性剤には、ペルフルオロC界面活性剤、例えば、FC−4430およびFC−4432界面活性剤(3Mコーポレーションから入手可能);並びに、フルオロジオール、例えば、POLYFOX PF−636、PF−6320、PF−656およびPF−6520フルオロ界面活性剤(Omnovaから)が挙げられる。
フォトレジストは、フォトレジストに使用される成分を溶解し、分配し、そしてコーティングするのに概して好適な溶媒をさらに含む。典型的な溶媒には、アニソール、アルコール、例えば、乳酸エチル、1−メトキシ−2−プロパノールおよび1−エトキシ−2プロパノール、エステル、例えば、酢酸n−ブチル、酢酸1−メトキシ−2−プロピル、メトキシエトキシプロピオナート、エトキシエトキシプロピオナート、ケトン、例えば、シクロヘキサノンおよび2−ヘプタノン、並びに上記溶媒の少なくとも1種を含む組み合わせが挙げられる。
本明細書に開示されるフォトレジスト組成物は、固形分の全重量を基準にして50〜99重量%、具体的には55〜95重量%、より具体的には60〜90重量%、およびさらにより具体的には65〜90の量でコポリマーを含むことができる。フォトレジストにおける成分のこの文脈において使用される「コポリマー」は、本明細書に開示されるコポリマーのみ、またはこのコポリマーとフォトレジストにおいて有用な別のポリマーとの組み合わせを意味しうることが理解されるであろう。光分解性塩基は、固形分の全重量を基準にして0.01〜5重量%、具体的には0.1〜4重量%、さらにより具体的には0.2〜3重量%の量でフォトレジスト中に存在しうる。界面活性剤は、固形分の全重量を基準にして0.01〜5重量%、具体的には0.1〜4重量%、およびさらにより具体的には0.2〜3重量%の量で含まれることができる。クエンチャーは、固形分の全重量を基準にして、例えば、0.03〜5重量%の比較的少量で含まれることができる。他の添加剤は、固形分の全重量を基準にして30重量%以下、具体的には20%以下、もしくはより具体的には10%以下の量で含まれうる。フォトレジスト組成物の全固形分量は固形分および溶媒の合計重量を基準にして0.5〜50重量%、具体的には1〜45重量%、より具体的には2〜40重量%、およびさらにより具体的には5〜35重量%でありうる。固形分は、溶媒を除く、コポリマー、光分解性塩基、クエンチャー、界面活性剤、添加されるPAG、および任意成分の添加剤を含むと理解される。
本明細書において開示されたポリマー結合PAGを含むフォトレジストはフォトレジストを含む層を提供するために使用されることができ、この層は比較のフォトレジスト(ポリマー結合PAGを含まないが他のことは同じであるポリマーを含み、およびポリマー結合でない光酸発生剤、例えば、トリフェニルスルホニウムペルフルオロブタンスルホナートを含む)を含む層について得られる濃度よりも低い濃度で揮発性分解生成物を生じさせる。同じ条件下でEUV放射線に露光された場合には、残留ガス分析(RGA)もしくは膜収縮のような方法によって決定されると、ポリマー結合PAGフォトレジストについての揮発性分解生成物の量はこの比較のよりも少ない。
コーティングされた基体はポリマー結合PAGを含むフォトレジストから形成されうる。このコーティングされた基体は(a)基体表面上のパターン形成される1以上の層を有する基体、および(b)パターン形成される1以上の層上の、ポリマー結合PAGを含むフォトレジスト組成物の層を含む。
基体は任意の寸法および形状であることができ、好ましくはフォトリソグラフィに有用なもの、例えば、ケイ素、二酸化ケイ素、シリコンオンインシュレータ(silicon−on−insulator;SOI)、ストレインドシリコン(strained silicon)、ガリウムヒ素、コーティングされた基体、例えば、窒化ケイ素、酸窒化ケイ素、窒化チタン、窒化タンタルでコーティングされた基体、超薄型ゲート(ultrathin gate)酸化物、例えば、酸化ハフニウム、金属もしくは金属コーティングされた基体、例えば、チタン、タンタル、銅、アルミニウム、タングステン、これらの合金およびこれらの組み合わせでコーティングされた基体である。好ましくは、本明細書においては、基体の表面はパターン形成される臨界寸法層、例えば、1以上のゲートレベル層もしくは半導体製造のための基体上の他の臨界寸法層を含む。このような基体には、例えば、直径が20cm、30cmもしくはより大きい寸法、またはウェハ製造に有用な他の寸法を有する円形ウェハとして形成されるケイ素、SOI、ストレインドシリコンおよび他のこのような基体材料が好ましくは挙げられうる。
さらに、電子デバイスを形成する方法は(a)ポリマー結合PAGを含むフォトレジスト組成物の層を基体の表面上に適用し、(b)フォトレジスト組成物層を活性化放射線にパターン様に露光し、および(c)露光されたフォトレジスト組成物層を現像してレジストレリーフ像を提供することを含む。
適用はスピンコーティング、スプレーコーティング、ディップコーティング、ドクターブレーディングなどをはじめとするあらゆる好適な方法によって達成されうる。フォトレジストの層の適用は好ましくは、回転するウェハ上にフォトレジストが分配されるコーティングトラックを使用して、溶媒中のフォトレジストをスピンコーティングすることにより達成される。分配中に、ウェハは4,000rpm以下、好ましくは約500〜3,000rpm、およびより好ましくは1,000〜2,500rpmの速度で回転させられうる。コーティングされたウェハは回転させられて溶媒を除去し、そしてホットプレート上でベークされて、残留する溶媒を除去し、そして膜から自由体積を除いて膜を均一な高密度にする。
次いで、ステッパのような露光ツールを用いてパターン様露光が行われ、露光ツールにおいてはパターンマスクを通して膜が照射され、それによりパターン様に露光される。この方法は好ましくは、極端紫外線(EUV)もしくはeビーム放射線をはじめとする高解像が可能な波長で活性化放射線を発生させる改良型の露光ツールを使用する。活性化放射線を使用する露光は露光領域でPAGを分解して、酸および分解副生成物を発生させ、次いでその酸はポリマーの化学変化をもたらす(酸感受性基をデブロッキング(deblocking)して塩基可溶性基を生じさせるか、あるいは露光領域において架橋反応を触媒する)ことが認識される。この露光ツールの解像度は30nm未満であり得る。
次いで、露光された層を、その膜の露光部分を選択的に除去できる(この場合、フォトレジストはポジティブトーンである)、またはその膜の未露光部分を選択的に除去できる(この場合、フォトレジストは露光領域で架橋可能となり、すなわちネガティブトーンである)好適な現像剤で処理することにより、露光されたフォトレジスト層の現像が達成される。好ましくは、フォトレジストは、酸感受性(脱保護可能な)基を有するポリマーをベースにしたポジティブトーンであり、そして現像剤は好ましくは金属イオンを含まない、テトラアルキルアンモニウムヒドロキシド溶液、例えば、水性の0.26Nのテトラメチルアンモニウムヒドロキシドである。パターンは現像によって形成される。
1以上のこのパターン形成プロセスに使用される場合には、フォトレジストは電子および光電子デバイス、例えば、メモリデバイス、プロセッサチップ(CPU)、グラフィックチップおよび他のこのようなデバイスを製造するために使用されることができる。
本発明は以下の実施例によってさらに例示される。本明細書において使用される全ての化合物および試薬は、手順が以下に示されているもの以外は市販されている。比較PAG1はセントラルガラス(Central Glass)から商業的に得られた。
構造的な特徴付けはOMNI−PROBEを用いるINOVA 500NMRスペクトロメータ(プロトンについて500MHzで操作する)、またはGEMINI300NMRスペクトロメータ(フッ素について282MHzで操作する)(それぞれ、Varianから)における核磁気共鳴(NMR)スペクトル分析によって行われた。ポリマー組成はNOE抑制技術(すなわち、Cr(アセチルアセトナート)およびパルスディレイ>5秒)を使用する125MHzでの定量的13C NMRによって決定された。分子量(Mw)および多分散度(PD)は、1mg/mlのサンプル濃度、および0.02重量%のLiNOを含むテトラヒドロフランで、流速1ml/分で溶離させた、ポリスチレン標準物質を使用して較正された普遍的較正曲線を用いる、架橋スチレン−ジビニルベンゼンカラムを使用するゲル浸透クロマトグラフィ(GPC)によって決定された。
トリフェニルスルホニウム2,3,5,6−テトラフルオロ−4−(メタクリロイルオキシ)ベンゼンスルホナート(比較PAG2)の合成。
4−ヒドロキシ−2,3,5,6−テトラフルオロベンゼンスルホン酸ナトリウム(50g、0.1865mol)が400mLのトリフルオロ酢酸中に懸濁された。メタクリル酸(40g、0.4646mol)が添加され、この混合物が油浴中で70℃に加熱された。75mLのトリフルオロ酢酸無水物が全て一度に添加され、この混合物が70℃で2時間攪拌された。この反応混合物は冷却され、ヒドロキノンの結晶(約12.5mg)が重合を禁止するために添加され、減圧下で溶媒が除去された。このようにして得られた粗生成物のペーストが約125mLのアセトン中に溶解され、ヘプタン中にゆっくりと注がれた。濾別によって沈殿物が集められ、一晩空気乾燥させられ、そしてさらに精製することなく次の工程に使用された。H NMR(500MHz、アセトン−d、δppm):6.5(s,1H)、6.1(s,1H)、2.1(s,3H)。19F NMR(300MHz、アセトン−d、δppm):−156(s,2F)、−140.5(s,2F)。
2,3,5,6−テトラフルオロ−4−(メタクリロイルオキシ)ベンゼンスルホン酸ナトリウム(52.0g、0.1516mol)および臭化トリフェニルスルホニウム(42.50g、0.1238mol)の混合物に300mLの蒸留脱イオン水および300mLのCHClを添加した。この反応混合物を室温で週末にわたって攪拌した。攪拌が停止させられ、有機層が単離され、水酸化アンモニウム1%水溶液(175mL)で2回洗浄され、蒸留脱イオン水(250mL)で5回洗浄され、ろ過された。ヒドロキノンの結晶(約12.5mg)が添加され、減圧下で溶媒が完全に蒸留されて、淡黄色オイルとして生成物を得た。この生成物はさらなる使用のためにアセトニトリル中で50重量%に溶解された。H NMR(500MHz、アセトン−d、δppm):7.8(m,15H)、6.5(s,1H)、6.1(s,1H)、2.1(s,3H)。19F NMR(300MHz、アセトン−d、δppm):−157(s,2F)、−140(s,2F)。
(t−ブチルフェニル)(ジフェニル)スルホニウム1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイル−オキシ)エタン−1−スルホナート(PAG1)の合成。
1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイル−オキシ)エタン−1−スルホン酸トリエチルアンモニウム(5.00g、15.1mmol)および臭化(t−ブチルフェニル)(ジフェニル)スルホニウム(6.00g、15.0mmol)が、30mLのジクロロメタンおよび30mLの脱イオン水と共に、100mL丸底フラスコに入れられた。この混合物は激しく一晩攪拌された。攪拌が停止させられ、この混合物は2つの透明な層に別れ、有機相は30mLの0.1%塩酸水溶液で1回洗浄され、そして30mLの脱イオン水で4回洗浄された。ヒドロキノン(1mg)が添加され、ロータリーエバポレーションによってジクロロメタンが除かれ、無色の粘稠オイルとして生成物を得た(7.2g、87%収率)。このオイルはさらなる使用のためにアセトニトリル中で40重量%に溶解された。H NMR(500MHz、アセトン−d)δ7.9(m,14H)、6.1(s,1H)、5.7(s,1H)、4.7(m,2H)、1.9(s,3H)、1.3(s,9H)。19F NMR(300MHz、アセトン−d)δ−115.7(s,2F)。
(t−ブチルフェニル)(フェニル)ヨードニウム1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイル−オキシ)エタン−1−スルホナート(PAG2)の合成。
1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイル−オキシ)エタン−1−スルホン酸トリエチルアンモニウム(5.00g、15.1mmol)および酢酸(t−ブチルフェニル)(フェニル)ヨードニウム(5.98g、15.1mmol)が、30mLのジクロロメタンおよび30mLの蒸留脱イオン水と共に、100mL丸底フラスコに入れられた。この混合物は激しく一晩攪拌され、次いで停止させられ、そしてこの混合物は2つの透明な層に別れ、有機相は30mLの0.1%(w/w)塩酸水溶液で1回洗浄され、そして30mLの脱イオン水で4回洗浄された。ヒドロキノン(1mg)が添加され、ロータリーエバポレーションによってジクロロメタンが除かれ、無色の粘稠オイルとして生成物を得た(7.6g、89%収率)。このオイルはアセトニトリル中で50重量%に溶解された。H NMR(500MHz、アセトン−d)δ8.4(d,2H)、8.3(d,2H)、7.7(t,1H)、7.6(m,4H)、6.2(s,1H)、5.7(s,1H)、4.7(m,2H)、1.9(s,3H)、1.3(s,9H)。19F NMR(300MHz、アセトン−d)δ−115.4(s,2F)。
ジ(t−ブチルフェニル)ヨードニウム2,3,5,6−テトラフルオロ−1−(メタクリロイル−オキシ)ベンゼン−4−スルホナート(PAG3)の合成。
4−ヒドロキシ−2,3,5,6−テトラフルオロベンゼンスルホン酸ナトリウム(50g、0.1865mol)が400mLのトリフルオロ酢酸中に懸濁された。メタクリル酸(40g、0.4646mol)が添加され、この混合物が油浴中で70℃に加熱された。75mLのトリフルオロ酢酸無水物が全て一度に添加され、この混合物が70℃で2時間攪拌された。この反応混合物は室温まで冷却された。、ヒドロキノンの結晶(約12.5mg)が添加され、減圧下で溶媒が完全に蒸留された。このようにして得られた粗生成物のペーストが約125mLのアセトン中に溶解され、ヘプタン中にゆっくりと注がれた。濾別によって沈殿生成物が集められ、一晩空気乾燥させられ、そしてさらに精製することなく使用された。19F NMR(300MHz、アセトン−d、δppm):−164.40(s,2F)、−142.4(s,2F)。H NMR(500MHz、アセトン−d、δppm):6.47(s,1H)、6.07(s,1H)、2.07(s,3H)。
2,3,5,6−テトラフルオロ−4−(メタクリロイルオキシ)ベンゼンスルホン酸ナトリウム(10.0g、0.0297mol)および酢酸ジ−(tert−ブチルフェニル)ヨードニウム(11.43g、0.0253mol)の混合物に60mLの蒸留脱イオン水および60mLのCHClを添加した。この反応混合物を室温で16時間攪拌した。有機層が脱イオン水で5回洗浄され、硫酸ナトリウムで乾燥させられ、ろ過された。ヒドロキノンの結晶(約12.5mg)が添加され、減圧下で溶媒が除去された、白色粉体として生成物を得た。H NMR(500MHz、アセトン−d、δppm):8.25(d,4H)、7.62(d,4H)、6.48(s,1H)、6.08(s,1H)、2.07(s,3H)、1.34(m,18H)。19F NMR(300MHz、アセトン−d、δppm):−139.95(s,2F)、−156.32(s,2F)。
フェニルジベンゾチオフェニウム1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイルオキシ)エタン−1−スルホナート(PAG4)の合成。
1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイルオキシ)エタン−1−スルホン酸トリエチルアンモニウム(4.00g、12.1mmol)および臭化フェニルジベンゾチオフェニウム(4.50g、31.2mmol)が、30mLのジクロロメタンおよび30mLの蒸留脱イオン水と共に、100mL丸底フラスコに入れられた。この混合物は激しく一晩攪拌された。攪拌が停止させられ、この混合物は2つの透明な層に別れ、有機相は30mLの1%塩酸水溶液で2回洗浄され、そして30mLの蒸留脱イオン水で5回洗浄された。ヒドロキノン(1mg)が添加され、ロータリーエバポレーションによってジクロロメタンが除かれ、固体として生成物を得た(3.9g、80%収率)。H NMR(500MHz、CDCl)δ8.2(m,4H)、7.8(t,2H)、7.7(d,2H)、7.6(m,3H)、7.5(t,2H)、6.2(s,1H)、5.6(s,1H)、4.9(m,2H)、1.9(s,3H)。19F NMR(300MHz、アセトン−d)δ−115.8(s,2F)。
トリフェニルスルホニウム1,1,2,2−テトラフルオロ−4−(メタクリロイルオキシ)ブタン−1−スルホナート(PAG5)の合成。
4−ヒドロキシ−1,1,2,2−テトラフルオロブタン−1−スルホン酸ナトリウムの合成。4−ブロモ3,3,4,4−テトラフルオロ−1−ブタノール(19.92g、88.54mmol)が、60mLのアセトニトリルおよび88mLの水中のNaHCO(22.31g、265.6mmol)およびNa(46.25g、265.6mmol)のスラリーに添加された。この混合物が約55℃で2日間ワックス浴中で攪拌することなく加熱された。温度が約80℃に上げられ、この混合物が攪拌された。追加の亜ジチオン酸ナトリウム(17g)および炭酸水素ナトリウム(15g)が添加された。この反応混合物は周囲温度まで冷却され、全ての固体材料が溶解するように追加の水(100mL)およびアセトニトリル(100mL)が添加された。層が分離した。水層が別にとっておかれ、追加の亜ジチオン酸ナトリウム(30g)および炭酸ナトリウム(38g)が約100mLの水と共にアセトニトリル層(200mL)に添加された。この反応混合物が約85℃で一晩加熱された。この溶液は冷却され、ろ過され、取っておかれた水層と一緒にされ、ロータリーエバポレータで揮発性物質が除かれた。固体が約200mLのエーテルで洗浄され、真空下で乾燥させられた。
上述のように製造された固体は25mLの水に溶かされ、氷浴中で0℃に冷却され、50mLの50%Hが水蒸気の発生下で添加された。この反応混合物は一晩攪拌された。追加の(20mL)Hが添加され、攪拌が続けられた。過酸化物がなくなるまで亜硫酸水素ナトリウムが添加された。このスラリーはろ過され、ロータリーエバポレータで揮発性物質が除去されて、白色固体を得た。
4−ヒドロキシ−1,1,2,2−テトラフルオロブタン−1−スルホン酸の合成。
4−ヒドロキシ−1,1,2,2−テトラフルオロブタン−1−スルホン酸ナトリウムを含んでいた上述の固体がメタノール(100mL)で抽出され、ろ過された。得られた淡黄色溶液は、7.5cmのアンバーライト120H酸イオン交換樹脂を充填した短いカラム(2.5cm直径)を通され、明褐色溶液を得た。追加のメタノールが使用されて、残りのスルホン酸をフラッシュした。減圧下で揮発性物質が除去されて、暗褐色オイルを得た。収率は15.453g、出発4−ブロモ3,3,4,4−テトラフルオロ−1−ブタノールを基準にして77%であった。
3,3,4,4−テトラフルオロブタンスルトンの合成。
4−ヒドロキシ−1,1,2,2−テトラフルオロブタン−1−スルホン酸(6.78g、30.0mmol)が、V−チューブを介してシュレンク管に繋がれた50mLの丸底フラスコに入れられた。このシステムは真空下に置かれ、シュレンク管は液体窒素中に沈められた。このスルホン酸を含むフラスコは加熱ワックス浴に沈められ、温度が徐々に約160℃まで上げられた。生成物であるスルトンおよび水は徐々に留出し、レシーバー容器内で凍結した。融解させた後で、2層が形成していた。下のスルトン層はピペットで取り出され、無水硫酸マグネシウムで乾燥させられ、ろ過されて、無色液体として生成物を得た(3.85g、62%)。H NMR(300MHz、CDCN)δ:4.7(t,2H)、2.7(m,2H)。19F NMR(300MHz、CDCN)δ:−113.3(m,2F)、−124.4(s,2F)。
1,1,2,2−テトラフルオロ−4−(メタクリロイルオキシ)ブタン−1−スルホン酸カリウムの合成。
メタクリル酸(1.708g、19.85mmol)が40mLのTHF中の水素化カリウム(1.150g、28.66mmol)にゆっくりと添加された。一晩攪拌後、反応混合物がろ過され、減圧下で揮発性物質が除去された。3,3,4,4−テトラフルオロブタンスルトン(3.260g、15.66mmol)、メタクリル酸(2.0mL)およびわずかなヒドロキノンの結晶がメタクリル酸カリウムに添加され、この混合物が一晩75℃で加熱された。アセトン(10mL)がこの混合物に添加された。固体が集められ、アセトンで洗浄され、減圧下で乾燥させられた。この固体は水で抽出され、ろ過され、減圧下で揮発性物質が除去されて、白色結晶固体を得た(4.10g、78.8%)。H NMR(300MHz、DO)δ:6.09(s,1H)、5.67(s,1H)、4.44(t,2H)、2.65(m,2H)。19F NMR(300MHz、DO)δ:−112.3(s,2F)、−117.1(s,2F)。
トリフェニルスルホニウム1,1,2,2−テトラフルオロ−4−(メタクリロイルオキシ)ブタン−1−スルホナートの合成。
1,1,2,2−テトラフルオロ−4−(メタクリロイルオキシ)ブタン−1−スルホン酸カリウム(2.00g、6.02mmol)および臭化トリフェニルスルホニウム(2.25g、6.57mmol)が、15mLのジクロロメタンおよび15mLの蒸留脱イオン水と共に、100mL丸底フラスコに入れられた。この混合物は36時間にわたって激しく攪拌された。攪拌は停止させられ、この混合物は2つの透明な層に分かれ、有機層が30mLの1%水酸化アンモニウム水溶液で2回洗浄され、30mLの蒸留脱イオン水で5回洗浄された。ヒドロキノン(1mg)が添加され、ロータリーエバポレーションによってジクロロメタンが除去されて、無色粘稠オイルとして生成物を得た(2.65g、4.76mmol、80%収率)。このオイルはアセトニトリルに溶かされた(50重量%)(3.9g)。H NMR(500MHz、アセトン−d)δ8.0(m,15H)、6.1(s,1H)、5.6(s,1H)、4.4(t,2H)、3.8(m,2H)、1.9(s,3H)。19F NMR(300MHz、アセトン−d)δ−112.7(s,2F)、−119.8(s,2F)。
フェニルジベンゾチオフェニウム1,1,2,2−テトラフルオロ−4−(メタクリロイルオキシ)ブタン−1−スルホナート(PAG6)の合成。
上述のように合成された1,1,2,2−テトラフルオロ−4−(メタクリロイルオキシ)ブタン−1−スルホン酸カリウム(1.91g、5.75mmol)および臭化フェニルジベンゾチオフェニウム(2.14g、6.27mmol)が、15mLのジクロロメタンおよび15mLの蒸留脱イオン水と共に、100mL丸底フラスコに入れられた。この混合物は週末にわたって激しく攪拌された。攪拌は停止させられ、この混合物は2つの透明な層に分かれ、有機層が30mLの1%水酸化アンモニウム水溶液で2回洗浄され、30mLの蒸留脱イオン水で5回洗浄された。ヒドロキノン(1mg)が添加され、ロータリーエバポレーションによってジクロロメタンが除去されて、白色固体として生成物を得た(2.41g、4.35mmol)。H NMR(500MHz、アセトン−d)δ8.0(m,15H)、6.1(s,1H)、5.6(s,1H)、4.4(t,2H)、3.8(m,2H)、1.9(s,3H)。19F NMR(300MHz、アセトン−d)δ−112.7(s,2F)、−119.8(s,2F)。
トリス(4−(2−(2−メトキシエトキシ)エトキシ)フェニル)スルホニウム1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイルオキシ)エタンスルホナート(PAG7)の合成。
4,4’−スルフィニルジフェノールの合成。
エタノール(350mL)中の過酸化水素(HO中30重量%、50mL、0.382mol)およびトリフルオロメタンスルホン酸無水物(32.4mL、0.191mmol、0.5当量)の溶液が、エタノール(1.25L)中の4,4’−チオジフェノール(125g、0.573mol、1.5当量)の溶液に4時間にわたって滴下添加された。完全に添加した後で、この反応混合物が室温で30分間攪拌され、真空濃縮され、酢酸エチル(1L)で希釈され、そして水(600mL)で洗浄された。水層は酢酸エチル(3×600mL)で逆抽出され、合わせた有機層を乾燥させ(NaSO)、真空濃縮した。クルードの固体がメチルtert−ブチルエーテル(1L)で希釈され、一晩攪拌された。沈殿物はメチルtert−ブチルエーテル(3×500mL)で洗浄され、空気乾燥されて、標記化合物(100.50g)を白色固体として定量的収率で提供した。H NMR(500MHz、アセトン−d)δ8.85−9.05(brs,2H)、7.50(d,J8.5Hz,4H)、6.95(d,J8.5Hz,4H)。
(2−(2−メトキシエトキシ)エトキシ)ベンゼンの合成。
フェノール(15.0g、0.159mol)、炭酸カリウム(26.4g、0.191mol、1.2当量)およびテトラメチルエチレンジアミン(0.92g、7.95mmol、0.05当量)がDMSO(100mL)に溶解され、室温で30分間攪拌された。次いで、1−ブロモ−2−(2−メトキシエトキシ)エタン(30.56g、0.166mol、1.04当量)が添加され、この溶液は18時間90℃に加熱され、室温に冷却された。この反応混合物は酢酸エチル(600mL)で希釈され、1Mの水酸化カリウム(3×300mL)で洗浄され、乾燥させられ(NaSO)、そして真空で濃縮されて、標記化合物(16.50g、52%)を橙色オイルとして得た。H NMR(500MHz、(CDCO)δ:7.27(dt,J=8.5Hz,1Hz,2H)、6.94(dd,J=8Hz,1Hz,2H)、6.92(dt,J=8Hz,1Hz,4H)、4.12(t,J=5Hz,2H)、3.80(t,J=5Hz,2H)、3.64(t,J=5Hz,2H)、3.50(t,J=5Hz,2Hz)、3.29(s,3H)。
4,4’−スルフィニルビス((2−(2−メトキシエトキシ)エトキシ)ベンゼン)の合成。
4,4’−スルフィニルジフェノール(20.0g、85.0mmol)、炭酸カリウム(26.6g、0.192mol、2.26当量)およびテトラメチルエチレンジアミン(0.495g、4.25mmol、0.05当量)がDMSO(100mL)中に溶解され、室温で30分間攪拌された。次いで、1−ブロモ−2−(2−メトキシエトキシ)エタン(32.67g、0.179mmol、2.1当量)が添加され、この溶液が90℃で18時間加熱され、室温に冷却された。この反応混合物は酢酸エチル(600mL)で希釈され、水(5×500mL)で洗浄され、乾燥させられ(NaSO)、そして真空で濃縮されて標記化合物(33.40g、90%)を橙色オイルとして得た。H NMR(500MHz、(CDCO)δ:7.59(d,J=8.5Hz,4H)、7.07(d,J=8.5Hz,4H)、4.17(t,J=4.5Hz,4H)、3.80(t,J=5Hz,4H)、3.63(t,J=4.5Hz,4H)、3.48(t,J=4.5Hz,4Hz)、3.28(s,6H)。
ジクロロメタン(80mL)中の4,4’−スルフィニルビス((2−(2−メトキシエトキシ)エトキシ)ベンゼン)(16.09g、36.7mmol)および(2−(2−メトキシエトキシ)エトキシ)ベンゼン(7.20g、36.7mmol、1当量)の溶液に、Eaton’s試薬(64mL)が2時間にわたって滴下添加され、室温で一晩攪拌された。この反応混合物は、水(500mL)の添加によってゆっくりとクエンチされ、酢酸エチル(5×500mL)で抽出された。トリエチルアンモニウム1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイルオキシ)エタンスルホナート(14.59g、44.04mmol、1.2当量)がこの水層に添加され、ジクロロメタン(500mL)および生じた二相混合物が室温で一晩攪拌された。この混合物は水(200mL)で希釈され、層分離し、水性層がジクロロメタン(3×300mL)で抽出され、合わせた有機相が真空で濃縮された。クルードオイルがジクロロメタン(800mL)に溶かされ、水(5×500mL)で洗浄され、真空濃縮され、残留する水がアセトニトリルを用いて共沸で除かれ、標記化合物(26.39g、85%収率)を橙色オイルとして得た。H NMR(500MHz、アセトン−d)δ7.81(d,J=9Hz,4H)、7.35(d,J=9Hz,4H)、6.14−6.16(m,1H)、5.67−5.69(m,1H)、4.74(dd,J=15.5,15Hz,2H)、4.30(t,J=4.5Hz,4H)、3.85(t,J=5Hz,4H)、3.65(t,J=5Hz,4H)、3.49(t,J=4.5Hz,4Hz)、3.28(s,9H)、1.94(m,3H)。
実施例に使用されたポリマー結合PAGは表1に示される通りである。
Figure 0005941280
比較ポリマー例1A(CPEx.1A)
比較PAG1(CP1)を含むポリマーの合成。
2−フェニル−2−プロピルメタクリラート(30.16g、0.1469mol)、アルファ−(ガンマブチロラクトン)メタクリラート(36.54g、0.2147mol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(28.40g、56.5mmol)およびトリフェニルスルホニウム1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイルオキシ)エタン−1−スルホナート(比較PAG1、16.69g、33.9mmol)が、184.14gの乳酸エチル/シクロヘキサノン(70/30 v/v)に溶解された。2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(11.24g、45.2mmol)がモノマー溶液に溶かされた。75℃に設定された油浴中であらかじめ加熱された容器に少量の溶媒(9.6g)が入れられ、5分後、この容器にモノマー溶液が4時間にわたって供給された。この反応混合物はさらに3.5時間加熱された。この反応液は室温まで冷却され、2760gの攪拌されたイソプロピルエーテルおよびメタノール(95:5 w/w)中で沈殿させられた。得られたポリマーは吸引ろ過によって単離され、真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、97g(%)のポリマーを白色粉体として得た。乾燥したポリマー(90g)が溶解させられ、そして再び攪拌されたイソプロピルエーテルおよびメタノール(95:5 w/w)の混合物中で沈殿させられた。得られた再沈殿ポリマーは再び吸引ろ過および真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、79g(88%)のポリマーを白色粉体として得た。13C NMR(500MHz,アセトン−d)組成30/46/14/9モル%、Mw=5,648;Mw/Mn=1.58。
比較ポリマー例1B(CPEx.1B)
比較PAG1を含むポリマーの合成。
2−フェニル−2−プロピルメタクリラート(8.01g、39.2mmol)、アルファ−(ガンマブチロラクトン)メタクリラート(9.80g、57.2mmol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(7.54g、15.1mmol)およびトリフェニルスルホニウム1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイルオキシ)エタン−1−スルホナート(比較PAG1、4.45g、9.0mmol)が、94.0gのアセトニトリル/THF(2/1 v/v)に溶解された。2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(1.5g、6.0mmol)がモノマー溶液に溶かされた。67℃に設定された油浴中であらかじめ加熱された容器に少量の溶媒(4.6g)が入れられ、5分後、この容器にモノマー溶液が2時間にわたって供給された。この反応混合物はさらに2時間加熱された。この反応液は室温まで冷却され、959.5gの攪拌されたイソプロピルエーテルおよびメタノール(90:10 w/w)中で沈殿させられた。得られたポリマーは吸引ろ過によって単離され、真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、15.6g(53%)のポリマーを白色粉体として得た。乾燥したポリマー(11.8g)が溶解させられ、そして再び攪拌されたイソプロピルエーテルおよびメタノール(90:10 w/w)の混合物中で沈殿させられた。得られた再沈殿ポリマーは再び吸引ろ過および真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、10.1g(86%)のポリマーを白色粉体として得た。13C NMR(500MHz,アセトン−d)組成31/47/13/9モル%、Mw=7,258;Mw/Mn=1.59。
比較ポリマー例2(CPEx.2)
比較PAG2を含むポリマーの合成。
2−メチル−2−アダマンチルメタクリラート(27.54g、0.1175mol)、アルファ−(ガンマブチロラクトン)メタクリラート(22.50g、0.1322mol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(14.70g、0.0294mol)およびトリフェニルスルホニウム2,3,5,6−テトラフルオロ−4−(メタクリロイルオキシ)ベンゼンスルホナート、アセトニトリル中50重量%(比較PAG2、16.95g、0.0147mol)が、211mLのアセトニトリル/THF(2/1 v/v)に溶解された。2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(3.65g、0.0147mol)がモノマー溶液に溶かされた。67℃に設定された油浴中であらかじめ加熱された容器に約5〜10mLのモノマー溶液が入れられ、5分後、この容器に残りのモノマー溶液が2時間にわたって供給された。この反応混合物はさらに2時間加熱された。この反応液は室温まで冷却され、2.5Lのメチル−t−ブチルエーテル中で沈殿させられた。得られたポリマーは吸引ろ過によって単離され、真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、39.6g(54%)のポリマーを白色粉体として得た。13C NMR(500MHz,アセトン−d)組成37/45/10/8モル%、Mw=8,360;Mw/Mn=1.75。
ポリマー実施例1(PEx.1)
PAG1を含むポリマーの合成。
2−メチル−2−アダマンチルメタクリラート(6.86g、29.3mmol)、アルファ−(ガンマブチロラクトン)メタクリラート(5.60g、3.29mmol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(3.66g、7.3mmol)およびt−ブチルフェニルジフェニルスルホニウム1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイルオキシ)エタン−1−スルホナート(PAG1;アセトニトリル中40重量%溶液、5.02g、3.70mmol)が、54gのアセトニトリル/テトラヒドロフラン(2:1 v/v)に溶解された。2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(0.91g、3.70mmol)がモノマー溶液に溶かされた。80℃に設定された油浴中であらかじめ加熱された容器に少量(〜5mL)のモノマー溶液が入れられ、5分後、この容器に残りのモノマー溶液が2時間にわたって供給された。この反応混合物はさらに2時間加熱された。この反応液は室温まで冷却され、0.65Lの攪拌されたメチルt−ブチルエーテル中で沈殿させられた。得られたポリマーは吸引ろ過によって単離され、真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、10.3g(55%)のポリマーを白色粉体として得た。13C NMR(500MHz,アセトン−d)組成37/48/9/6モル%;Mw=8,365;Mw/Mn=1.55。
ポリマー実施例2(PEx.2)
PAG2を含むポリマーの合成。
2−メチル−2−アダマンチルメタクリラート(6.86g、29.3mmol)、アルファ−(ガンマブチロラクトン)メタクリラート(5.60g、3.29mmol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(3.66g、7.3mmol)およびt−ブチルフェニルフェニルヨードニウム1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイルオキシ)エタン−1−スルホナート(PAG2;アセトニトリル中50重量%溶液、4.15g、3.70mmol)が、52gのアセトニトリル/テトラヒドロフラン(2:1 v/v)に溶解された。2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(0.91g、3.70mmol)がモノマー溶液に溶かされた。80℃に設定された油浴中であらかじめ加熱された容器に少量(〜5mL)のモノマー溶液が入れられ、5分後、この容器に残りのモノマー溶液が2時間にわたって供給された。この反応混合物はさらに2時間加熱された。この反応液は冷却され、0.65Lの攪拌されたメチルt−ブチルエーテル中で沈殿させられた。得られたポリマーはろ過によって単離され、真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、7.6g(42%)のポリマーを白色粉体として得た。13C NMR(500MHz,アセトン−d)組成37/47/10/9モル%;Mw=10,210;Mw/Mn=1.59。
ポリマー実施例3(PEx.3)
PAG3を含むポリマーの合成。
エチルシクロヘキシルメタクリラート(6.0g、0.0306mol)、ガンマブチロラクトン(7.6g、0.0447mol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(6.07g、0.0118mol)およびジ(t−ブチルフェニル)ヨードニウム2,3,5,6−テトラフルオロ−1−(メタクリロイルオキシ)ベンゼン−4−スルホナート(PAG3、4.98g、0.0771mol)が、68gのTHF/アセトニトリル(1/2 v/v)に溶解された。2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(1.17g、0.0047mol)がモノマー溶液に溶かされた。80℃に設定された油浴中であらかじめ加熱された容器に少量(〜5g)の重合溶媒が入れられ、5分後、この容器に残りのモノマー溶液が2時間にわたって供給された。この反応混合物はさらに2時間加熱された。この反応液は室温まで冷却され、1Lの攪拌されたメチルt−ブチルエーテルおよびメタノール(95/5 v/v)中で沈殿させられた。生じた白色粉体ポリマーはろ過によって単離され、真空で45℃で48時間乾燥させられた(収率15.5g、70%)。Mw=15,100g/mol;Mw/Mn=1.56。
ポリマー実施例4(PEx.4)
PAG4を含むポリマーの合成。
2−フェニル−2−プロピルメタクリラート(6.02g、29.40mmol)、アルファ−(ガンマブチロラクトン)メタクリラート(7.34g、42.90mmol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(5.66g、11.30mmol)およびフェニルジベンゾチオフェニウム1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイルオキシ)エタン−1−スルホナート(PAG4、2.36g、6.80mmol)が、36.8gの乳酸エチル/シクロヘキサノン/テトラヒドロフラン(THF)(60:20:20 w/w)に溶解された。2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(2.24g、9.00mmol)がモノマー溶液に溶かされた。75℃に設定された油浴中であらかじめ加熱された容器に少量(〜5mL)のモノマー溶液が入れられ、5分後、この容器に残りのモノマー溶液が4時間にわたって供給された。この反応混合物はさらに3.5時間加熱された。この反応液は室温まで冷却され、560gの攪拌されたイソプロピルエーテルおよびメタノール(95:5 w/w)中で沈殿させられた。得られたポリマーは吸引ろ過によって単離され、真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、17g(76.3%)のポリマーを白色粉体として得た。乾燥したポリマー(14g)がTHF中に25重量%固形分で溶解させられ、そして再び攪拌されたイソプロピルエーテルおよびメタノール(95:5 w/w)の混合物中で沈殿させられた。得られた再沈殿ポリマーは再び吸引ろ過および真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、12g(86%)のポリマーを白色粉体として得た。13C NMR(500MHz,アセトン−d)組成31/46/14/9モル%;Mw=4,381;Mw/Mn=1.55。
ポリマー実施例5(PEx.5)
PAG5を含むポリマーの合成。
2−フェニル−2−プロピルメタクリラート(3.32g、16.25mmol)、アルファ−(ガンマブチロラクトン)メタクリラート(4.40g、23.75mmol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(3.13g、6.25mmol)およびトリフェニルスルホニウム1,1,2,2−テトラフルオロ−4−(メタクリロイルオキシ)ブタン−1−スルホナート(PAG5;アセトニトリル中50重量%溶液;4.17g、3.75mmol)が、16.8gの乳酸エチル/シクロヘキサノン(70:30 v/v)に溶解された。2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(1.24g、3.75mmol)がモノマー溶液に溶かされた。80℃に設定された油浴中であらかじめ加熱された容器に少量(〜5mL)のモノマー溶液が入れられ、5分後、この容器に残りのモノマー溶液が4時間にわたって供給された。この反応混合物はさらに2時間加熱された。この反応液は室温まで冷却され、1Lの攪拌されたメチルt−ブチルエーテルおよび2−プロパノール(90:10 v/v)中で沈殿させられた。得られたポリマーは吸引ろ過によって単離され、真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、7.3g(58%)のポリマーを白色粉体として得た。13C NMR(500MHz,アセトン−d)組成32/50/10/8モル%;Mw=6,430;Mw/Mn=1.52。
ポリマー実施例6(PEx.6)
PAG6を含むポリマーの合成。
2−フェニル−2−プロピルメタクリラート(3.02g、14.63mmol)、アルファ−(ガンマブチロラクトン)メタクリラート(3.69g、21.38mmol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(2.86g、5.63mmol)およびフェニルジベンゾチオフェニウム1,1,2,2−テトラフルオロ−4−(メタクリロイルオキシ)ブタン−1−スルホナート(PAG6、1.88g、3.38mmol)が、16.8gの乳酸エチル/シクロヘキサノン(70:30 v/v)に溶解された。2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(1.16g、4.50mmol)がモノマー溶液に溶かされた。75℃に設定された油浴中であらかじめ加熱された容器に少量(〜5mL)のモノマー溶液が入れられ、5分後、この容器に残りのモノマー溶液が4時間にわたって供給された。この反応混合物はさらに3.5時間加熱された。この反応液は室温まで冷却され、70mLの攪拌されたイソプロピルエーテルおよびメタノール(95:5 w/w)中で沈殿させられた。得られたポリマーは吸引ろ過によって単離され、真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、6.1g(53%)のポリマーを白色粉体として得た。乾燥したポリマー(5g)がTHF中に25重量%固形分で溶解させられ、そして再び攪拌されたイソプロピルエーテルおよびメタノール(95:5 w/w)の混合物中で沈殿させられた。生じたポリマーは吸引ろ過によって単離され、そして真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、3.6g(72%)のポリマーを白色粉体として得た。13C NMR(500MHz,アセトン−d)組成28/20/12.5/9.5モル%;Mw=4,044;Mw/Mn=1.74。
ポリマー実施例7(PEx.7)
PAG7を含むポリマーの合成。
2−フェニル−2−プロピルメタクリラート(0.41g、mmol)、アルファ−(ガンマブチロラクトン)メタクリラート(0.34g、mmol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(0.58g、mmol)およびトリス(4−(2−(2−メトキシエトキシ)エトキシ)フェニル)スルホニウム1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイルオキシ)エタンスルホナート(PAG8、0.65g、mmol)が、14.2gの乳酸エチル/シクロヘキサノン(70:30 v/v)に溶解され、75℃に設定された油浴中であらかじめ加熱された容器に入れられた。2−フェニル−2−プロピルメタクリラート(4.64g、24.5mmol)、アルファ−(ガンマブチロラクトン)メタクリラート(5.80g、35.8mmol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(4.18g、9.4mmol)、トリス(4−(2−(2−メトキシエトキシ)エトキシ)フェニル)スルホニウム1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイルオキシ)エタンスルホナート(アセトニトリル中に50重量%で溶解されたもの)(PAG7、9.90g、5.60mmol)および2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(1.86g、7.50mmol)が、14.8gの乳酸エチル/シクロヘキサノン(70:30 v/v)に溶解された。この溶液が4時間にわたって前記反応容器に供給された。この反応混合物はさらに3.5時間加熱された。この反応液は室温まで冷却され、370gの攪拌されたイソプロピルエーテルおよびメタノール(90:10 w/w)中で沈殿させられた。得られたポリマーは吸引ろ過によって単離され、真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、8.0g(39%)のポリマーを白色粉体として得た。乾燥したポリマー(7.0g)がTHF中に40重量%固形分で溶解させられ、そして再び攪拌されたイソプロピルエーテルおよびメタノール(80:20 w/w)の混合物中で沈殿させられた。生じたポリマーは吸引ろ過によって単離され、そして真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、5.8g(83%)のポリマーを白色粉体として得た。13C NMR(500MHz,アセトン−d)組成38/49/8/5モル%。
フォトレジスト製造および処理
リソグラフィ性能データを得るために、それぞれ、比較ポリマー例1A、1B、2およびポリマー実施例1〜7のポジティブトーンフォトレジスト組成物である、比較配合物例1A、1Bおよび2、並びに配合物実施例1〜7が準備された。
比較配合物例1A(CFEx.1A)
比較ポリマー1A(1.000g)、テトラメチルアンモニウムヒドロキシドおよび2−ヒドロキシ安息香酸から形成されるクエンチャーの乳酸エチル(EL)中1重量%溶液1.000g、EL中のOmnova(オムノバ)PF656界面活性剤の0.5重量%溶液0.200g、EL溶媒26.100gおよびシクロヘキサン溶媒(CH)11.700gを混合することにより、ポジティブトーンフォトレジスト組成物が製造され、このフォトレジスト組成物はろ過された(0.2μm)。
表2に特定された量に置き換えて、同様の方法で、比較配合物例1Bおよび2(CFEx.1Bおよび2)並びに配合物実施例1〜7(FEx.1〜7)を含むポジティブトーンフォトレジスト組成物が製造された。CFEx.2、FEx.1、およびFEx.3のフォトレジスト配合物はシクロヘキサノンの代わりに溶媒としてPGMEAを使用した。
Figure 0005941280
上記フォトレジスト配合物CFEx.1A、1Bおよび2、並びにFEx1〜7は以下のようにリソグラフィ処理された。フォトレジストはTEL ACT−8(東京エレクトロン株式会社)コーティングトラックもしくは同様の装置を用いて、有機反射防止コーティング(248nm露光についてはAR(商標)9、ロームアンドハースエレクトニックマテリアルズLLC、または193nm露光についてはAR(商標)19、ロームアンドハースエレクトニックマテリアルズLLC、またはEUVについての有機下層)を有する200mmシリコンウェハ上にスピンコートされ、100〜140℃で60〜90秒間ベークされて、厚さ約60nmのレジスト膜を形成した。得られたフォトレジスト層はオープンフレームマスクを通してKrFエキシマレーザー放射線(248nm)、ArFエキシマレーザー放射線(193nm)、またはEUV放射線(eMET、13.5nm)で露光され、90℃〜120℃で60秒間露光後ベークされ、そして0.26Nのテトラメチルアンモニウムヒドロキシド現像剤水溶液で現像されて、ポジティブトーンフォトレジストパターンを形成した。
表3は上記フォトレジスト配合物について得られたE値を記載する。
Figure 0005941280
表4はポリマー結合PAGに含まれるカチオンの分子量および推定相対的サイズ(CambridgeSoft Inc.,から入手可能なケムドロー(ChemDraw)バージョン11での、Sの代わりにCH、またはIの代わりにCHを用いた、体積測定フィーチャに基づく)を記載する。
Figure 0005941280
フォトレジストサンプルのガス放出
配合物実施例3、4および7のフォトレジストサンプルが、EUV露光ドース−ツー−クリア(dose−to−clear)(E)値の2.3〜2.5倍の倍率での、残留ガス分析(RGA)によって分析された。ウェハ上のEUV照射は〜10mmのスポットサイズおよび〜4mW/cmの出力密度(power density)を使用する。このRGA試験は超高真空(〜1.5E−8mbar)下で行われる。RGA方法のさらなる詳細はポレンティエル(Pollentier)らによってProc.SPIE、2009、7271〜7246ページおよびProc.SPIE、2010、7636ページに記載されるのと同様である。
データおよびRGA結果(分子/平方センチメートル;分子/cmで報告される)を含むデータは表5に示される。
Figure 0005941280
表4におけるデータに認められるように、ポリマー実施例4のPDBT PAG、およびポリマー実施例7のMEEPS PAG、およびポリマー実施例3のDTBPI PAGは、トリフェニルスルホニウムベースの比較PAG1および2よりも低いガス放出水準を示す。
比較ポリマー1B(比較PAG1)に対応する比較配合例1B、並びにポリマー4(PAG4)およびポリマー6(PAG6)に対応する配合物実施例4および6についての帯域外放射線性能が決定され、その結果は表6に提供された。
Figure 0005941280
上記表6に認められるように、ポリマー実施例4および6(それぞれ、PAG4および6を有する)のそれぞれは、これら配合物実施例についての248nm(DUV)および193nm(193)波長の双方と比較したEUV波長について、より低い(すなわち、向上した)、全体で0.7未満のOOB値を提供した。比較ポリマー1B(比較PAG1B)に対応する比較配合例1BはE0−EUV/E0−193について3という有意に高いOOB比率を示した。
本明細書に開示された全ての範囲は終点を含み、その終点は互いに独立して組み合わせ可能である。「場合によって」または「任意の」とはその後に記載された事象もしくは状況が起こってもよく、または起こらなくてもよく、そしてその記載はその事象が起こる例およびその事象が起こらない例を含む。本明細書において使用される場合、「組み合わせ」は、ブレンド、混合物、合金もしくは反応生成物を包含する。全ての参考文献は参照により本明細書に組み込まれる。
さらに、用語「第1」、「第2」などは、本明細書においては、順序、品質もしくは重要性を示すものではなく、1つの要素を他のものから区別するために使用されることもさらに留意されたい。

Claims (10)

  1. 下記式
    Figure 0005941280
    式中、各Rは独立して、H、F、C1−6アルキルもしくはC1−6フルオロアルキルであり、G下記式(VI
    Figure 0005941280
    (式VI中、R 、R およびR はそれぞれ独立して、ヒドロキシ、ニトリル、ハロゲン、C 1−10 アルキル、C 1−10 フルオロアルキル、C 1−10 アルコキシ、C 1−10 フルオロアルコキシ、C 6−20 アリール、C 6−20 フルオロアリール、C 6−20 アリールオキシ、またはC 6−20 フルオロアリールオキシであり、rは0〜5の整数であり、sおよびtはそれぞれ独立して0〜4の整数である)のカチオンである]で表されるか、または上記の少なくとも1種を含む組み合わせである、合物。
  2. 記式
    Figure 0005941280
    式中、RはH、F、C1−6アルキルもしくはC1−6フルオロアルキルであるを有する化合物。
  3. 請求項1または2に記載の化合物から形成される第1重合単位、酸感受性官能基を含む第2重合単位、および場合によって、極性基含有第3重合単位を含むコポリマー。
  4. 第2重合単位が下記:
    Figure 0005941280
    (式中、RはH、F、C1−6アルキルもしくはC1−6フルオロアルキルである)の酸感受性モノマー、または、前記の少なくとも1種を含む組み合わせから形成され、並びに
    第3重合単位が下記:
    Figure 0005941280
    (式中、R10はH、F、C1−6アルキルもしくはC1−6フルオロアルキルである)
    から選択される極性モノマー、または、前記の少なくとも1種を含む組み合わせから形成される請求項に記載のコポリマー。
  5. 式(I):
    Figure 0005941280
    [式中、Qはハロゲン化されているかもしくはハロゲン化されていないC 2−30 オレフィン含有基であり、Aはフッ素置換C 1−30 アルキレン基、フッ素置換C 3−30 シクロアルキレン基、フッ素置換C 6−30 アリーレン基、もしくはフッ素置換C 7−30 アルキレン−アリーレン基であり、Zはスルホナート、スルホンアミドもしくはスルホンイミドを含むアニオン性基であり、並びにG は式(VI):
    Figure 0005941280
    (式VI中、R 、R およびR はそれぞれ独立して、ヒドロキシ、ニトリル、ハロゲン、C 1−10 アルキル、C 1−10 フルオロアルキル、C 1−10 アルコキシ、C 1−10 フルオロアルコキシ、C 6−20 アリール、C 6−20 フルオロアリール、C 6−20 アリールオキシ、またはC 6−20 フルオロアリールオキシであり、rは0〜5の整数であり、sおよびtはそれぞれ独立して0〜4の整数である)で表されるカチオンである]
    で表される化合物から形成される第1重合単位、酸感受性官能基を含む第2重合単位、および下記式:
    Figure 0005941280
    (式中、R 10 はH、F、C 1−6 アルキルもしくはC 1−6 フルオロアルキルである)またはこれらの少なくとも1つを含む組み合わせから選択される極性基を含む第3重合単位を含むコポリマー。
  6. 第2重合単位が下記:
    Figure 0005941280
    またはこれらの少なくとも1つを含む組み合わせを含む酸感受性モノマーから形成される、請求項5に記載のコポリマー。
  7. 請求項3〜のいずれか1項に記載のコポリマーを含むフォトレジスト組成物。
  8. (a)基体表面上のパターン形成される1以上の層を有する基体、および
    (b)パターン形成される前記1以上の層上の、請求項に記載のフォトレジスト組成物の層
    を含む、コーティングされた基体。
  9. (a)請求項に記載のフォトレジスト組成物の層を基体上に適用し、
    (b)フォトレジスト組成物層を活性化放射線にパターン様に露光し、および
    (c)露光されたフォトレジスト組成物層を現像してレジストレリーフ像を提供する
    ことを含む、電子デバイスを形成する方法。
  10. 放射線が極端紫外線もしくはeビーム放射線である請求項に記載の方法。
JP2011287304A 2010-12-31 2011-12-28 重合性光酸発生剤 Active JP5941280B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201061429009P 2010-12-31 2010-12-31
US61/429,009 2010-12-31

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2012140620A JP2012140620A (ja) 2012-07-26
JP2012140620A5 JP2012140620A5 (ja) 2012-12-20
JP5941280B2 true JP5941280B2 (ja) 2016-06-29

Family

ID=45491311

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011287304A Active JP5941280B2 (ja) 2010-12-31 2011-12-28 重合性光酸発生剤

Country Status (6)

Country Link
US (1) US8900792B2 (ja)
EP (1) EP2472323A3 (ja)
JP (1) JP5941280B2 (ja)
KR (1) KR101428023B1 (ja)
CN (1) CN102603579B (ja)
TW (1) TWI506013B (ja)

Families Citing this family (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2472322A2 (en) * 2010-12-31 2012-07-04 Rohm and Haas Electronic Materials LLC Photoacid generating monomer and precursor thereof
EP2472323A3 (en) 2010-12-31 2013-01-16 Rohm and Haas Electronic Materials LLC Polymerizable photoacid generators
JP5978137B2 (ja) * 2012-02-23 2016-08-24 東京応化工業株式会社 レジスト組成物、レジストパターン形成方法
JP6297269B2 (ja) * 2012-06-28 2018-03-20 ローム アンド ハース エレクトロニック マテリアルズ エルエルシーRohm and Haas Electronic Materials LLC ポリマー組成物、このポリマー組成物を含むフォトレジスト、およびこのフォトレジストを含むコーティングされた物品
JP6031420B2 (ja) * 2012-08-31 2016-11-24 ダウ グローバル テクノロジーズ エルエルシー 光酸発生剤を含む末端基を含むポリマー、前記ポリマーを含むフォトレジストおよびデバイスの製造方法
US9017934B2 (en) 2013-03-08 2015-04-28 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Photoresist defect reduction system and method
US9543147B2 (en) 2013-03-12 2017-01-10 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Photoresist and method of manufacture
US8932799B2 (en) 2013-03-12 2015-01-13 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Photoresist system and method
US9256128B2 (en) 2013-03-12 2016-02-09 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Method for manufacturing semiconductor device
US9354521B2 (en) 2013-03-12 2016-05-31 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Photoresist system and method
US9245751B2 (en) 2013-03-12 2016-01-26 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Anti-reflective layer and method
US9502231B2 (en) 2013-03-12 2016-11-22 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Photoresist layer and method
US9110376B2 (en) 2013-03-12 2015-08-18 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Photoresist system and method
US9175173B2 (en) 2013-03-12 2015-11-03 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Unlocking layer and method
JP5812030B2 (ja) * 2013-03-13 2015-11-11 信越化学工業株式会社 スルホニウム塩及び高分子化合物、レジスト材料及びパターン形成方法
US9117881B2 (en) 2013-03-15 2015-08-25 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Conductive line system and process
JP6093614B2 (ja) * 2013-03-25 2017-03-08 東京応化工業株式会社 レジスト組成物及びレジストパターン形成方法
US9341945B2 (en) 2013-08-22 2016-05-17 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Photoresist and method of formation and use
US10036953B2 (en) 2013-11-08 2018-07-31 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Photoresist system and method
US10095113B2 (en) 2013-12-06 2018-10-09 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Photoresist and method
US9581901B2 (en) * 2013-12-19 2017-02-28 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Photoacid-generating copolymer and associated photoresist composition, coated substrate, and method of forming an electronic device
US9229319B2 (en) * 2013-12-19 2016-01-05 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Photoacid-generating copolymer and associated photoresist composition, coated substrate, and method of forming an electronic device
US9182669B2 (en) * 2013-12-19 2015-11-10 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Copolymer with acid-labile group, photoresist composition, coated substrate, and method of forming an electronic device
US9761449B2 (en) 2013-12-30 2017-09-12 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Gap filling materials and methods
KR20150086050A (ko) * 2014-01-17 2015-07-27 동우 화인켐 주식회사 신규의 설포닐이미드 염화합물, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 광산 발생제 및 감광성 수지 조성물
US9599896B2 (en) 2014-03-14 2017-03-21 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Photoresist system and method
US9581908B2 (en) 2014-05-16 2017-02-28 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Photoresist and method
US9244345B1 (en) 2014-11-06 2016-01-26 International Business Machines Corporation Non-ionic photo-acid generating polymers for resist applications
US11613519B2 (en) 2016-02-29 2023-03-28 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Photoacid-generating monomer, polymer derived therefrom, photoresist composition including the polymer, and method of forming a photoresist relief image using the photoresist composition
JP6780602B2 (ja) * 2017-07-31 2020-11-04 信越化学工業株式会社 レジスト組成物及びパターン形成方法
KR20210070376A (ko) 2018-11-02 2021-06-14 브레우어 사이언스, 인코포레이션 Pag-고정된 표면 상의 상향식 컨포멀 코팅 및 광패턴화
JP7226095B2 (ja) * 2019-05-24 2023-02-21 信越化学工業株式会社 オニウム塩化合物、化学増幅レジスト組成物、及びパターン形成方法
CN114262404B (zh) * 2020-09-16 2023-06-30 宁波南大光电材料有限公司 光敏树脂及应用该光敏树脂的光刻胶组合物
WO2022056700A1 (zh) * 2020-09-16 2022-03-24 宁波南大光电材料有限公司 光敏树脂及应用该光敏树脂的光刻胶组合物
CN113173870A (zh) * 2021-03-18 2021-07-27 河北凯诺中星科技有限公司 一种樟脑磺酸对苯碘鎓盐的制备方法
US20220397827A1 (en) * 2021-05-28 2022-12-15 Rohm And Haas Electronic Materials Korea Ltd. Composition for photoresist underlayer

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2964557A (en) 1958-03-13 1960-12-13 Rohm & Haas Method for preparing salts of sulfoalkyl methacrylates
JPS4936214B1 (ja) 1970-01-28 1974-09-28
JP3613491B2 (ja) 1996-06-04 2005-01-26 富士写真フイルム株式会社 感光性組成物
US7008749B2 (en) * 2001-03-12 2006-03-07 The University Of North Carolina At Charlotte High resolution resists for next generation lithographies
US7833690B2 (en) 2001-11-05 2010-11-16 The University Of North Carolina At Charlotte Photoacid generators and lithographic resists comprising the same
JP2006219419A (ja) 2005-02-10 2006-08-24 Asahi Kasei Corp パーフルオロビニルエーテルモノマーの製造法
EP1750176A3 (en) * 2005-08-03 2011-04-20 JSR Corporation Positive-type radiation-sensitive resin composition for producing a metal-plating formed material, transcription film and production method of a metal-plating formed material
TWI416253B (zh) 2006-11-10 2013-11-21 Jsr Corp 敏輻射線性樹脂組成物
US7956142B2 (en) 2006-11-10 2011-06-07 Jsr Corporation Polymerizable sulfonic acid onium salt and resin
US7776510B2 (en) 2007-06-13 2010-08-17 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Resist composition, method of forming resist pattern, compound and acid generator
JP5066405B2 (ja) 2007-08-02 2012-11-07 富士フイルム株式会社 電子線、x線又はeuv用レジスト組成物及び該組成物を用いたパターン形成方法
WO2009019793A1 (ja) * 2007-08-09 2009-02-12 Jsr Corporation パターン形成方法並びにそれに用いられる感放射線性樹脂組成物及び感放射線性酸発生基含有樹脂
JP5347349B2 (ja) * 2007-09-18 2013-11-20 セントラル硝子株式会社 2−ブロモ−2,2−ジフルオロエタノール及び2−(アルキルカルボニルオキシ)−1,1−ジフルオロエタンスルホン酸塩類の製造方法
JP5131482B2 (ja) * 2008-02-13 2013-01-30 信越化学工業株式会社 ポジ型レジスト材料及びパターン形成方法
JP4998746B2 (ja) * 2008-04-24 2012-08-15 信越化学工業株式会社 スルホニウム塩を含む高分子化合物、レジスト材料及びパターン形成方法
US8685616B2 (en) * 2008-06-10 2014-04-01 University Of North Carolina At Charlotte Photoacid generators and lithographic resists comprising the same
JP5313579B2 (ja) 2008-07-24 2013-10-09 関東電化工業株式会社 新規なフッ素化された1,2−オキサチオラン2,2−ジオキシドの製造方法
JP5481046B2 (ja) 2008-08-13 2014-04-23 東京応化工業株式会社 レジスト組成物、レジストパターン形成方法、新規な化合物および酸発生剤
JP5841707B2 (ja) * 2008-09-05 2016-01-13 富士フイルム株式会社 ポジ型レジスト組成物、該組成物を用いたパターン形成方法及び該組成物に用いられる樹脂
JP5401910B2 (ja) * 2008-10-17 2014-01-29 セントラル硝子株式会社 重合性アニオンを有する含フッ素スルホン塩類とその製造方法、含フッ素樹脂、レジスト組成物及びそれを用いたパターン形成方法
JP5417150B2 (ja) * 2008-12-18 2014-02-12 富士フイルム株式会社 感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物、レジスト膜、それを用いたパターン形成方法、及び樹脂
TWI485511B (zh) * 2009-03-27 2015-05-21 Jsr Corp 敏輻射線性樹脂組成物及聚合物
JP5851688B2 (ja) * 2009-12-31 2016-02-03 ローム アンド ハース エレクトロニック マテリアルズ エルエルシーRohm and Haas Electronic Materials LLC 感光性組成物
JP5597460B2 (ja) * 2010-01-05 2014-10-01 東京応化工業株式会社 ポジ型レジスト組成物、レジストパターン形成方法、高分子化合物
EP2472323A3 (en) 2010-12-31 2013-01-16 Rohm and Haas Electronic Materials LLC Polymerizable photoacid generators

Also Published As

Publication number Publication date
US8900792B2 (en) 2014-12-02
JP2012140620A (ja) 2012-07-26
EP2472323A2 (en) 2012-07-04
TWI506013B (zh) 2015-11-01
CN102603579B (zh) 2014-12-31
EP2472323A3 (en) 2013-01-16
KR20120078650A (ko) 2012-07-10
TW201240961A (en) 2012-10-16
CN102603579A (zh) 2012-07-25
KR101428023B1 (ko) 2014-08-08
US20120171616A1 (en) 2012-07-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5941280B2 (ja) 重合性光酸発生剤
JP6525377B2 (ja) 複数の酸発生剤化合物を含むフォトレジスト
JP6049250B2 (ja) 光酸発生剤
TWI514080B (zh) 正型光阻組成物,光阻圖型之形成方法
TWI465844B (zh) 光阻組成物,光阻圖型之形成方法,化合物,及酸產生劑
TWI578098B (zh) 光阻組成物、光阻圖型之形成方法及高分子化合物
TWI501029B (zh) 高分子化合物之製造方法
JP6031420B2 (ja) 光酸発生剤を含む末端基を含むポリマー、前記ポリマーを含むフォトレジストおよびデバイスの製造方法
JP5961458B2 (ja) ポリマー組成物およびこれを含むフォトレジスト
TW201100965A (en) Positive resist composition and method of forming resist pattern
TW201634498A (zh) 聚合物、光阻材料及圖案形成方法
TW201003319A (en) Positive resist composition, method of forming resist pattern, and polymeric compound
WO2018074382A1 (ja) 組成物及びそれを用いたデバイスの製造方法
KR20120052884A (ko) 염기 반응성 포토애시드 발생제 및 이를 포함하는 포토레지스트
JP6965232B2 (ja) 塩およびそれを含むフォトレジスト
JP2018135529A (ja) 感光性コポリマー、このコポリマーを含むフォトレジスト組成物、およびこれから形成される物品
TW200841128A (en) Positive resist composition and method of forming resist pattern
TW200914991A (en) Resist composition, method of forming resist pattern, compound and acid generator
JP6595166B2 (ja) アリールアセテートオニウム材料
TW201435491A (zh) 光阻組成物、高分子化合物、化合物及光阻圖型之形成方法
KR102012203B1 (ko) 오늄 화합물 및 그의 합성방법
JP5830503B2 (ja) 酸発生剤化合物およびそれを含むフォトレジスト
TW201229064A (en) Photosensitive copolymer and photoresist composition
JP6948828B2 (ja) ヨードニウム塩化合物、それを含有する光酸発生剤及び組成物、並びに、デバイスの製造方法
JP2020176096A (ja) オニウム塩、組成物及びそれを用いたデバイスの製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A524 Written submission of copy of amendment under article 19 pct

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A524

Effective date: 20121106

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20141020

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150902

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150907

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20151125

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160506

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160520

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5941280

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250