JP5941280B2 - 重合性光酸発生剤 - Google Patents
重合性光酸発生剤 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5941280B2 JP5941280B2 JP2011287304A JP2011287304A JP5941280B2 JP 5941280 B2 JP5941280 B2 JP 5941280B2 JP 2011287304 A JP2011287304 A JP 2011287304A JP 2011287304 A JP2011287304 A JP 2011287304A JP 5941280 B2 JP5941280 B2 JP 5941280B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- group
- polymer
- alkyl
- formula
- mmol
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 101
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 70
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims description 68
- 239000000178 monomer Substances 0.000 claims description 33
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 claims description 25
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 claims description 25
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 25
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 23
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 21
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 15
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 13
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 claims description 12
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 125000002733 (C1-C6) fluoroalkyl group Chemical group 0.000 claims description 10
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 claims description 9
- JRZJOMJEPLMPRA-UHFFFAOYSA-N olefin Natural products CCCCCCCC=C JRZJOMJEPLMPRA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- JHRWWRDRBPCWTF-OLQVQODUSA-N captafol Chemical compound C1C=CC[C@H]2C(=O)N(SC(Cl)(Cl)C(Cl)Cl)C(=O)[C@H]21 JHRWWRDRBPCWTF-OLQVQODUSA-N 0.000 claims description 8
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 claims description 6
- 150000001336 alkenes Chemical class 0.000 claims description 5
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 claims description 5
- 125000003709 fluoroalkyl group Chemical group 0.000 claims description 5
- 150000002825 nitriles Chemical class 0.000 claims description 5
- 229940124530 sulfonamide Drugs 0.000 claims description 5
- 150000003456 sulfonamides Chemical class 0.000 claims description 5
- 125000002947 alkylene group Chemical group 0.000 claims description 4
- 125000000732 arylene group Chemical group 0.000 claims description 4
- 125000004104 aryloxy group Chemical group 0.000 claims description 4
- 125000002993 cycloalkylene group Chemical group 0.000 claims description 4
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 claims description 4
- 125000004356 hydroxy functional group Chemical group O* 0.000 claims description 4
- 125000000129 anionic group Chemical group 0.000 claims description 3
- 125000004428 fluoroalkoxy group Chemical group 0.000 claims description 3
- 125000004407 fluoroaryl group Chemical group 0.000 claims description 3
- BDHFUVZGWQCTTF-UHFFFAOYSA-M sulfonate Chemical compound [O-]S(=O)=O BDHFUVZGWQCTTF-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 3
- WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N Acetonitrile Chemical compound CC#N WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 54
- 101000692259 Homo sapiens Phosphoprotein associated with glycosphingolipid-enriched microdomains 1 Proteins 0.000 description 48
- 102100026066 Phosphoprotein associated with glycosphingolipid-enriched microdomains 1 Human genes 0.000 description 48
- YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N Dichloromethane Chemical compound ClCCl YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 42
- 238000005481 NMR spectroscopy Methods 0.000 description 40
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 39
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 39
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 37
- -1 sulfonium cation Chemical class 0.000 description 29
- CSCPPACGZOOCGX-WFGJKAKNSA-N acetone d6 Chemical compound [2H]C([2H])([2H])C(=O)C([2H])([2H])[2H] CSCPPACGZOOCGX-WFGJKAKNSA-N 0.000 description 28
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 28
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 26
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 26
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 24
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 24
- LZCLXQDLBQLTDK-UHFFFAOYSA-N ethyl 2-hydroxypropanoate Chemical compound CCOC(=O)C(C)O LZCLXQDLBQLTDK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 22
- 239000011541 reaction mixture Substances 0.000 description 22
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 22
- QIGBRXMKCJKVMJ-UHFFFAOYSA-N Hydroquinone Chemical compound OC1=CC=C(O)C=C1 QIGBRXMKCJKVMJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 20
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 20
- 235000019198 oils Nutrition 0.000 description 20
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 19
- JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N cyclohexanone Chemical compound O=C1CCCCC1 JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 16
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 14
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 14
- 238000009472 formulation Methods 0.000 description 13
- 239000000047 product Substances 0.000 description 13
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 12
- 238000000967 suction filtration Methods 0.000 description 12
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 229940116333 ethyl lactate Drugs 0.000 description 11
- ZAFNJMIOTHYJRJ-UHFFFAOYSA-N Diisopropyl ether Chemical compound CC(C)OC(C)C ZAFNJMIOTHYJRJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- ICURIFUTRQEJPA-UHFFFAOYSA-N [3,5-bis(1,1,1,3,3,3-hexafluoro-2-hydroxypropan-2-yl)cyclohexyl] 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OC1CC(C(O)(C(F)(F)F)C(F)(F)F)CC(C(O)(C(F)(F)F)C(F)(F)F)C1 ICURIFUTRQEJPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- WYGWHHGCAGTUCH-UHFFFAOYSA-N 2-[(2-cyano-4-methylpentan-2-yl)diazenyl]-2,4-dimethylpentanenitrile Chemical compound CC(C)CC(C)(C#N)N=NC(C)(C#N)CC(C)C WYGWHHGCAGTUCH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- BZLVMXJERCGZMT-UHFFFAOYSA-N Methyl tert-butyl ether Chemical compound COC(C)(C)C BZLVMXJERCGZMT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 101000987219 Sus scrofa Pregnancy-associated glycoprotein 1 Proteins 0.000 description 9
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 description 9
- 239000012953 triphenylsulfonium Substances 0.000 description 9
- PPXAHQRRLKQYTG-UHFFFAOYSA-N 2-phenylpropan-2-yl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OC(C)(C)C1=CC=CC=C1 PPXAHQRRLKQYTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 125000003367 polycyclic group Chemical group 0.000 description 7
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 7
- WLOQLWBIJZDHET-UHFFFAOYSA-N triphenylsulfonium Chemical compound C1=CC=CC=C1[S+](C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 WLOQLWBIJZDHET-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 7
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 6
- 102100024003 Arf-GAP with SH3 domain, ANK repeat and PH domain-containing protein 1 Human genes 0.000 description 6
- IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N Dimethylsulphoxide Chemical compound CS(C)=O IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 101100380306 Homo sapiens ASAP1 gene Proteins 0.000 description 6
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 101150003633 PAG2 gene Proteins 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000010943 off-gassing Methods 0.000 description 6
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 6
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 6
- WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M tetramethylammonium hydroxide Chemical compound [OH-].C[N+](C)(C)C WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 6
- GURJJFGTKGIENU-UHFFFAOYSA-N 1-phenyldibenzothiophen-5-ium;bromide Chemical compound [Br-].[SH+]1C2=CC=CC=C2C2=C1C=CC=C2C1=CC=CC=C1 GURJJFGTKGIENU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 5
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 5
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 5
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 5
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 5
- MGFYSGNNHQQTJW-UHFFFAOYSA-N iodonium Chemical compound [IH2+] MGFYSGNNHQQTJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 description 5
- 238000002390 rotary evaporation Methods 0.000 description 5
- 150000003839 salts Chemical group 0.000 description 5
- 239000012258 stirred mixture Substances 0.000 description 5
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 5
- BKZVDYBZILBKLF-UHFFFAOYSA-N 1,1-difluoro-2-(2-methylprop-2-enoyloxy)ethanesulfonate;triethylazanium Chemical compound CC[NH+](CC)CC.CC(=C)C(=O)OCC(F)(F)S([O-])(=O)=O BKZVDYBZILBKLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- YEJRWHAVMIAJKC-UHFFFAOYSA-N 4-Butyrolactone Chemical compound O=C1CCCO1 YEJRWHAVMIAJKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M Bisulfite Chemical compound OS([O-])=O LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N Methacrylic acid Chemical compound CC(=C)C(O)=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 101100202291 Mus musculus Slc26a6 gene Proteins 0.000 description 4
- IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N N-Heptane Chemical compound CCCCCCC IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- DTQVDTLACAAQTR-UHFFFAOYSA-N Trifluoroacetic acid Chemical compound OC(=O)C(F)(F)F DTQVDTLACAAQTR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000013019 agitation Methods 0.000 description 4
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 description 4
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 4
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 4
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 125000002950 monocyclic group Chemical group 0.000 description 4
- 239000012074 organic phase Substances 0.000 description 4
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N phenol group Chemical group C1(=CC=CC=C1)O ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 4
- BWHMMNNQKKPAPP-UHFFFAOYSA-L potassium carbonate Chemical compound [K+].[K+].[O-]C([O-])=O BWHMMNNQKKPAPP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 4
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 4
- RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-O sulfonium group Chemical group [SH3+] RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 4
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 4
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N sulfuric acid group Chemical group S(O)(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- VDZOOKBUILJEDG-UHFFFAOYSA-M tetrabutylammonium hydroxide Chemical compound [OH-].CCCC[N+](CCCC)(CCCC)CCCC VDZOOKBUILJEDG-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- QAEDZJGFFMLHHQ-UHFFFAOYSA-N trifluoroacetic anhydride Chemical compound FC(F)(F)C(=O)OC(=O)C(F)(F)F QAEDZJGFFMLHHQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000003039 volatile agent Substances 0.000 description 4
- FDYDISGSYGFRJM-UHFFFAOYSA-N (2-methyl-2-adamantyl) 2-methylprop-2-enoate Chemical compound C1C(C2)CC3CC1C(OC(=O)C(=C)C)(C)C2C3 FDYDISGSYGFRJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000000923 (C1-C30) alkyl group Chemical group 0.000 description 3
- XFCXPQZFZAEPCU-UHFFFAOYSA-M 1,1,2,2-tetrafluoro-4-(2-methylprop-2-enoyloxy)butane-1-sulfonate;triphenylsulfanium Chemical compound CC(=C)C(=O)OCCC(F)(F)C(F)(F)S([O-])(=O)=O.C1=CC=CC=C1[S+](C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 XFCXPQZFZAEPCU-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- IDNDBZMCTVQNCN-UHFFFAOYSA-M 1,1-difluoro-2-(2-methylprop-2-enoyloxy)ethanesulfonate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCC(F)(F)S([O-])(=O)=O IDNDBZMCTVQNCN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- WFDIJRYMOXRFFG-UHFFFAOYSA-N Acetic anhydride Chemical group CC(=O)OC(C)=O WFDIJRYMOXRFFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N Ammonium hydroxide Chemical compound [NH4+].[OH-] VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 102100026291 Arf-GAP with SH3 domain, ANK repeat and PH domain-containing protein 2 Human genes 0.000 description 3
- 101710112065 Arf-GAP with SH3 domain, ANK repeat and PH domain-containing protein 2 Proteins 0.000 description 3
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 235000019502 Orange oil Nutrition 0.000 description 3
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 125000002877 alkyl aryl group Chemical group 0.000 description 3
- 239000000908 ammonium hydroxide Substances 0.000 description 3
- XOYZYOURGXJJOC-UHFFFAOYSA-N bis(2-tert-butylphenyl)iodanium Chemical compound CC(C)(C)C1=CC=CC=C1[I+]C1=CC=CC=C1C(C)(C)C XOYZYOURGXJJOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000007942 carboxylates Chemical class 0.000 description 3
- 150000001735 carboxylic acids Chemical class 0.000 description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 description 3
- ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N diphenyl Chemical group C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1 ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 3
- 125000005647 linker group Chemical group 0.000 description 3
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 239000010502 orange oil Substances 0.000 description 3
- YGSDEFSMJLZEOE-UHFFFAOYSA-N salicylic acid Chemical compound OC(=O)C1=CC=CC=C1O YGSDEFSMJLZEOE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 3
- BFSLYBKWTRFFPT-UHFFFAOYSA-N tris[4-[2-(2-methoxyethoxy)ethoxy]phenyl]sulfanium Chemical compound C1=CC(OCCOCCOC)=CC=C1[S+](C=1C=CC(OCCOCCOC)=CC=1)C1=CC=C(OCCOCCOC)C=C1 BFSLYBKWTRFFPT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 3
- BYEAHWXPCBROCE-UHFFFAOYSA-N 1,1,1,3,3,3-hexafluoropropan-2-ol Chemical group FC(F)(F)C(O)C(F)(F)F BYEAHWXPCBROCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FMWOQCFGKLGVLR-UHFFFAOYSA-N 1,1,2,2-tetrafluoro-4-hydroxybutane-1-sulfonic acid Chemical compound OCCC(F)(F)C(F)(F)S(O)(=O)=O FMWOQCFGKLGVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XWRLFRAERDBKFQ-UHFFFAOYSA-N 1,1-difluoro-2-(2-methylprop-2-enoyloxy)ethanesulfonate;1-phenyldibenzothiophen-5-ium Chemical compound CC(=C)C(=O)OCC(F)(F)S([O-])(=O)=O.[SH+]1C2=CC=CC=C2C2=C1C=CC=C2C1=CC=CC=C1 XWRLFRAERDBKFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HUXJXNSHCKHFIL-UHFFFAOYSA-N 1-(2-bromoethoxy)-2-methoxyethane Chemical compound COCCOCCBr HUXJXNSHCKHFIL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KJCFBSDAZAITOD-UHFFFAOYSA-N 1-[2-(2-methoxyethoxy)ethoxy]-4-[4-[2-(2-methoxyethoxy)ethoxy]phenyl]sulfinylbenzene Chemical compound C1=CC(OCCOCCOC)=CC=C1S(=O)C1=CC=C(OCCOCCOC)C=C1 KJCFBSDAZAITOD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ARXJGSRGQADJSQ-UHFFFAOYSA-N 1-methoxypropan-2-ol Chemical compound COCC(C)O ARXJGSRGQADJSQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HOMIPVFSNRXVAD-UHFFFAOYSA-M 2,3,5,6-tetrafluoro-4-(2-methylprop-2-enoyloxy)benzenesulfonate;triphenylsulfanium Chemical compound C1=CC=CC=C1[S+](C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1.CC(=C)C(=O)OC1=C(F)C(F)=C(S([O-])(=O)=O)C(F)=C1F HOMIPVFSNRXVAD-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- UEISEUSZLOAHHL-UHFFFAOYSA-N 2-(2-methoxyethoxy)ethoxybenzene Chemical compound COCCOCCOC1=CC=CC=C1 UEISEUSZLOAHHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WADSJYLPJPTMLN-UHFFFAOYSA-N 3-(cycloundecen-1-yl)-1,2-diazacycloundec-2-ene Chemical compound C1CCCCCCCCC=C1C1=NNCCCCCCCC1 WADSJYLPJPTMLN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JHNLZOVBAQWGQU-UHFFFAOYSA-N 380814_sial Chemical compound CS(O)(=O)=O.O=P(=O)OP(=O)=O JHNLZOVBAQWGQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RQCACQIALULDSK-UHFFFAOYSA-N 4-(4-hydroxyphenyl)sulfinylphenol Chemical compound C1=CC(O)=CC=C1S(=O)C1=CC=C(O)C=C1 RQCACQIALULDSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTTCOQHNKANLOS-UHFFFAOYSA-N 4-bromo-3,3,4,4-tetrafluorobutan-1-ol Chemical compound OCCC(F)(F)C(F)(F)Br RTTCOQHNKANLOS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FUGYGGDSWSUORM-UHFFFAOYSA-N 4-hydroxystyrene Chemical group OC1=CC=C(C=C)C=C1 FUGYGGDSWSUORM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen sulfide Chemical class S RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KWYHDKDOAIKMQN-UHFFFAOYSA-N N,N,N',N'-tetramethylethylenediamine Chemical compound CN(C)CCN(C)C KWYHDKDOAIKMQN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L Sodium Carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C([O-])=O CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- UIIMBOGNXHQVGW-UHFFFAOYSA-M Sodium bicarbonate Chemical compound [Na+].OC([O-])=O UIIMBOGNXHQVGW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 235000011054 acetic acid Nutrition 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- RDOXTESZEPMUJZ-UHFFFAOYSA-N anisole Chemical compound COC1=CC=CC=C1 RDOXTESZEPMUJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000001503 aryl iodides Chemical class 0.000 description 2
- WPYMKLBDIGXBTP-UHFFFAOYSA-N benzoic acid Chemical compound OC(=O)C1=CC=CC=C1 WPYMKLBDIGXBTP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N butyl acetate Chemical compound CCCCOC(C)=O DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 2
- 239000012043 crude product Substances 0.000 description 2
- 125000000753 cycloalkyl group Chemical group 0.000 description 2
- NZNMSOFKMUBTKW-UHFFFAOYSA-N cyclohexanecarboxylic acid Chemical compound OC(=O)C1CCCCC1 NZNMSOFKMUBTKW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007857 degradation product Substances 0.000 description 2
- XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-N dimethylselenoniopropionate Natural products CCC(O)=O XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012776 electronic material Substances 0.000 description 2
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 2
- 238000004868 gas analysis Methods 0.000 description 2
- 238000005227 gel permeation chromatography Methods 0.000 description 2
- CATSNJVOTSVZJV-UHFFFAOYSA-N heptan-2-one Chemical compound CCCCCC(C)=O CATSNJVOTSVZJV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N hydrogen iodide Chemical class I XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002466 imines Chemical class 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000005649 metathesis reaction Methods 0.000 description 2
- BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-N methanoic acid Natural products OC=O BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 2
- 229910000027 potassium carbonate Inorganic materials 0.000 description 2
- AMLAIJACXRHXBG-UHFFFAOYSA-M potassium;1,1,2,2-tetrafluoro-4-(2-methylprop-2-enoyloxy)butane-1-sulfonate Chemical compound [K+].CC(=C)C(=O)OCCC(F)(F)C(F)(F)S([O-])(=O)=O AMLAIJACXRHXBG-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 2
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- LLHKCFNBLRBOGN-UHFFFAOYSA-N propylene glycol methyl ether acetate Chemical compound COCC(C)OC(C)=O LLHKCFNBLRBOGN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000746 purification Methods 0.000 description 2
- 229960004889 salicylic acid Drugs 0.000 description 2
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 2
- JVBXVOWTABLYPX-UHFFFAOYSA-L sodium dithionite Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]S(=O)S([O-])=O JVBXVOWTABLYPX-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- HRJIMEINFSCMIT-UHFFFAOYSA-M sodium;1,1,2,2-tetrafluoro-4-hydroxybutane-1-sulfonate Chemical compound [Na+].OCCC(F)(F)C(F)(F)S([O-])(=O)=O HRJIMEINFSCMIT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- MHCPUQDZFYQSCQ-UHFFFAOYSA-M sodium;2,3,5,6-tetrafluoro-4-(2-methylprop-2-enoyloxy)benzenesulfonate Chemical compound [Na+].CC(=C)C(=O)OC1=C(F)C(F)=C(S([O-])(=O)=O)C(F)=C1F MHCPUQDZFYQSCQ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- HVXPVJLSYQBYCR-UHFFFAOYSA-M sodium;2,3,5,6-tetrafluoro-4-hydroxybenzenesulfonate Chemical compound [Na+].OC1=C(F)C(F)=C(S([O-])(=O)=O)C(F)=C1F HVXPVJLSYQBYCR-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 150000008053 sultones Chemical class 0.000 description 2
- 150000003573 thiols Chemical class 0.000 description 2
- WJKHJLXJJJATHN-UHFFFAOYSA-N triflic anhydride Chemical compound FC(F)(F)S(=O)(=O)OS(=O)(=O)C(F)(F)F WJKHJLXJJJATHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VMJFYMAHEGJHFH-UHFFFAOYSA-M triphenylsulfanium;bromide Chemical compound [Br-].C1=CC=CC=C1[S+](C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 VMJFYMAHEGJHFH-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- ABUIKOPEGIZINI-UHFFFAOYSA-N (1-ethylcyclohexyl) 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OC1(CC)CCCCC1 ABUIKOPEGIZINI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VMHPBVYLIQRFMK-UHFFFAOYSA-N (2-tert-butylphenyl)-diphenylsulfanium Chemical compound CC(C)(C)C1=CC=CC=C1[S+](C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 VMHPBVYLIQRFMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TVRUUEQTCMMODJ-UHFFFAOYSA-M (2-tert-butylphenyl)-diphenylsulfanium;1,1-difluoro-2-(2-methylprop-2-enoyloxy)ethanesulfonate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCC(F)(F)S([O-])(=O)=O.CC(C)(C)C1=CC=CC=C1[S+](C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 TVRUUEQTCMMODJ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- YLDYGUVJBIEIJG-UHFFFAOYSA-M (2-tert-butylphenyl)-diphenylsulfanium;bromide Chemical compound [Br-].CC(C)(C)C1=CC=CC=C1[S+](C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 YLDYGUVJBIEIJG-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- BPMCBRNQNZUUQN-UHFFFAOYSA-N (2-tert-butylphenyl)-phenyliodanium Chemical compound CC(C)(C)C1=CC=CC=C1[I+]C1=CC=CC=C1 BPMCBRNQNZUUQN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QPTKETMVRXEREB-UHFFFAOYSA-M (2-tert-butylphenyl)-phenyliodanium;1,1-difluoro-2-(2-methylprop-2-enoyloxy)ethanesulfonate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCC(F)(F)S([O-])(=O)=O.CC(C)(C)C1=CC=CC=C1[I+]C1=CC=CC=C1 QPTKETMVRXEREB-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- IOVFPYXPFNPATO-UHFFFAOYSA-M (2-tert-butylphenyl)-phenyliodanium;acetate Chemical compound CC([O-])=O.CC(C)(C)C1=CC=CC=C1[I+]C1=CC=CC=C1 IOVFPYXPFNPATO-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- MSLTZKLJPHUCPU-WNQIDUERSA-M (2s)-2-hydroxypropanoate;tetrabutylazanium Chemical compound C[C@H](O)C([O-])=O.CCCC[N+](CCCC)(CCCC)CCCC MSLTZKLJPHUCPU-WNQIDUERSA-M 0.000 description 1
- POILWHVDKZOXJZ-ARJAWSKDSA-M (z)-4-oxopent-2-en-2-olate Chemical compound C\C([O-])=C\C(C)=O POILWHVDKZOXJZ-ARJAWSKDSA-M 0.000 description 1
- JGTNAGYHADQMCM-UHFFFAOYSA-M 1,1,2,2,3,3,4,4,4-nonafluorobutane-1-sulfonate Chemical compound [O-]S(=O)(=O)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F JGTNAGYHADQMCM-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- NWUYHJFMYQTDRP-UHFFFAOYSA-N 1,2-bis(ethenyl)benzene;1-ethenyl-2-ethylbenzene;styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1.CCC1=CC=CC=C1C=C.C=CC1=CC=CC=C1C=C NWUYHJFMYQTDRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CHRJZRDFSQHIFI-UHFFFAOYSA-N 1,2-bis(ethenyl)benzene;styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1.C=CC1=CC=CC=C1C=C CHRJZRDFSQHIFI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JOLQKTGDSGKSKJ-UHFFFAOYSA-N 1-ethoxypropan-2-ol Chemical compound CCOCC(C)O JOLQKTGDSGKSKJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DXMPJWNULAPBAC-UHFFFAOYSA-N 1-phenyldibenzothiophen-5-ium;1,1,2,2-tetrafluoro-4-(2-methylprop-2-enoyloxy)butane-1-sulfonate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCCC(F)(F)C(F)(F)S([O-])(=O)=O.[SH+]1C2=CC=CC=C2C2=C1C=CC=C2C1=CC=CC=C1 DXMPJWNULAPBAC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VMXRUUFRMHNVDM-UHFFFAOYSA-N 1-phenyldibenzothiophene Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=CC=CC2=C1C1=CC=CC=C1S2 VMXRUUFRMHNVDM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QMBSJPZHUJCMJU-UHFFFAOYSA-N 2-(2-ethoxyethoxy)propanoic acid Chemical compound CCOCCOC(C)C(O)=O QMBSJPZHUJCMJU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LODHFNUFVRVKTH-ZHACJKMWSA-N 2-hydroxy-n'-[(e)-3-phenylprop-2-enoyl]benzohydrazide Chemical compound OC1=CC=CC=C1C(=O)NNC(=O)\C=C\C1=CC=CC=C1 LODHFNUFVRVKTH-ZHACJKMWSA-N 0.000 description 1
- QDFXRVAOBHEBGJ-UHFFFAOYSA-N 3-(cyclononen-1-yl)-4,5,6,7,8,9-hexahydro-1h-diazonine Chemical compound C1CCCCCCC=C1C1=NNCCCCCC1 QDFXRVAOBHEBGJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AYKYXWQEBUNJCN-UHFFFAOYSA-N 3-methylfuran-2,5-dione Chemical compound CC1=CC(=O)OC1=O AYKYXWQEBUNJCN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OFNISBHGPNMTMS-UHFFFAOYSA-N 3-methylideneoxolane-2,5-dione Chemical compound C=C1CC(=O)OC1=O OFNISBHGPNMTMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VWGKEVWFBOUAND-UHFFFAOYSA-N 4,4'-thiodiphenol Chemical compound C1=CC(O)=CC=C1SC1=CC=C(O)C=C1 VWGKEVWFBOUAND-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OSWFIVFLDKOXQC-UHFFFAOYSA-N 4-(3-methoxyphenyl)aniline Chemical compound COC1=CC=CC(C=2C=CC(N)=CC=2)=C1 OSWFIVFLDKOXQC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005711 Benzoic acid Substances 0.000 description 1
- 0 CC(C)(*)C(OCC(F)(F)S(O)(=O)=O)=O Chemical compound CC(C)(*)C(OCC(F)(F)S(O)(=O)=O)=O 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N Cyclohexane Chemical compound C1CCCCC1 XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FEWJPZIEWOKRBE-JCYAYHJZSA-N Dextrotartaric acid Chemical compound OC(=O)[C@H](O)[C@@H](O)C(O)=O FEWJPZIEWOKRBE-JCYAYHJZSA-N 0.000 description 1
- BWGNESOTFCXPMA-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen disulfide Chemical compound SS BWGNESOTFCXPMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002841 Lewis acid Substances 0.000 description 1
- 229910013553 LiNO Inorganic materials 0.000 description 1
- CSNNHWWHGAXBCP-UHFFFAOYSA-L Magnesium sulfate Chemical compound [Mg+2].[O-][S+2]([O-])([O-])[O-] CSNNHWWHGAXBCP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M Methacrylate Chemical compound CC(=C)C([O-])=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- PMZURENOXWZQFD-UHFFFAOYSA-L Sodium Sulfate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]S([O-])(=O)=O PMZURENOXWZQFD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- DWAQJAXMDSEUJJ-UHFFFAOYSA-M Sodium bisulfite Chemical compound [Na+].OS([O-])=O DWAQJAXMDSEUJJ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Natural products C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KDYFGRWQOYBRFD-UHFFFAOYSA-N Succinic acid Natural products OC(=O)CCC(O)=O KDYFGRWQOYBRFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N Sulphide Chemical compound [S-2] UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FEWJPZIEWOKRBE-UHFFFAOYSA-N Tartaric acid Natural products [H+].[H+].[O-]C(=O)C(O)C(O)C([O-])=O FEWJPZIEWOKRBE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QYKIQEUNHZKYBP-UHFFFAOYSA-N Vinyl ether Chemical compound C=COC=C QYKIQEUNHZKYBP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LRIUKPUCKCECPT-UHFFFAOYSA-N [hydroxy(phenyl)-$l^{3}-iodanyl] 4-methylbenzenesulfonate Chemical compound C1=CC(C)=CC=C1S(=O)(=O)OI(O)C1=CC=CC=C1 LRIUKPUCKCECPT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- DHKHKXVYLBGOIT-UHFFFAOYSA-N acetaldehyde Diethyl Acetal Natural products CCOC(C)OCC DHKHKXVYLBGOIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001241 acetals Chemical class 0.000 description 1
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 description 1
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 1
- 239000012190 activator Substances 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 1
- 150000001335 aliphatic alkanes Chemical class 0.000 description 1
- 150000004703 alkoxides Chemical class 0.000 description 1
- 125000005248 alkyl aryloxy group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003863 ammonium salts Chemical class 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000005349 anion exchange Methods 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 235000010233 benzoic acid Nutrition 0.000 description 1
- ISAOCJYIOMOJEB-UHFFFAOYSA-N benzoin Chemical group C=1C=CC=CC=1C(O)C(=O)C1=CC=CC=C1 ISAOCJYIOMOJEB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012455 biphasic mixture Substances 0.000 description 1
- 235000010290 biphenyl Nutrition 0.000 description 1
- 239000004305 biphenyl Substances 0.000 description 1
- FLJRADUCJPHHJD-UHFFFAOYSA-M bis(2-tert-butylphenyl)iodanium;acetate Chemical compound CC([O-])=O.CC(C)(C)C1=CC=CC=C1[I+]C1=CC=CC=C1C(C)(C)C FLJRADUCJPHHJD-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 description 1
- QDHFHIQKOVNCNC-UHFFFAOYSA-M butane-1-sulfonate Chemical compound CCCCS([O-])(=O)=O QDHFHIQKOVNCNC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- KDYFGRWQOYBRFD-NUQCWPJISA-N butanedioic acid Chemical compound O[14C](=O)CC[14C](O)=O KDYFGRWQOYBRFD-NUQCWPJISA-N 0.000 description 1
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 1
- ROZFGYSIJVTDKH-UHFFFAOYSA-N c(cc1)ccc1[IH]c1ccccc1 Chemical compound c(cc1)ccc1[IH]c1ccccc1 ROZFGYSIJVTDKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 1
- 125000003178 carboxy group Chemical group [H]OC(*)=O 0.000 description 1
- 125000002091 cationic group Chemical group 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 229920001429 chelating resin Polymers 0.000 description 1
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 239000010779 crude oil Substances 0.000 description 1
- 125000006165 cyclic alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- OIWOHHBRDFKZNC-UHFFFAOYSA-N cyclohexyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OC1CCCCC1 OIWOHHBRDFKZNC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012024 dehydrating agents Substances 0.000 description 1
- 238000010511 deprotection reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000003618 dip coating Methods 0.000 description 1
- OZLBDYMWFAHSOQ-UHFFFAOYSA-N diphenyliodanium Chemical compound C=1C=CC=CC=1[I+]C1=CC=CC=C1 OZLBDYMWFAHSOQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 1
- 125000001033 ether group Chemical group 0.000 description 1
- BQUDLWUEXZTHGM-UHFFFAOYSA-N ethyl propaneperoxoate Chemical compound CCOOC(=O)CC BQUDLWUEXZTHGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001900 extreme ultraviolet lithography Methods 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 235000019253 formic acid Nutrition 0.000 description 1
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910000449 hafnium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- WIHZLLGSGQNAGK-UHFFFAOYSA-N hafnium(4+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[Hf+4] WIHZLLGSGQNAGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000005842 heteroatom Chemical group 0.000 description 1
- 125000000623 heterocyclic group Chemical group 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-M hydroxide Chemical compound [OH-] XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 150000004679 hydroxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 150000003949 imides Chemical class 0.000 description 1
- 239000003112 inhibitor Substances 0.000 description 1
- 229940030980 inova Drugs 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- ICIWUVCWSCSTAQ-UHFFFAOYSA-N iodic acid Chemical class OI(=O)=O ICIWUVCWSCSTAQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003456 ion exchange resin Substances 0.000 description 1
- 229920003303 ion-exchange polymer Polymers 0.000 description 1
- 229960004592 isopropanol Drugs 0.000 description 1
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 1
- 150000002596 lactones Chemical group 0.000 description 1
- 150000007517 lewis acids Chemical class 0.000 description 1
- FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N maleic anhydride Chemical compound O=C1OC(=O)C=C1 FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000000956 methoxy group Chemical group [H]C([H])([H])O* 0.000 description 1
- UZKWTJUDCOPSNM-UHFFFAOYSA-N methoxybenzene Substances CCCCOC=C UZKWTJUDCOPSNM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 1
- 238000001393 microlithography Methods 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 125000001624 naphthyl group Chemical group 0.000 description 1
- 238000006386 neutralization reaction Methods 0.000 description 1
- 125000000449 nitro group Chemical group [O-][N+](*)=O 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002736 nonionic surfactant Substances 0.000 description 1
- JFNLZVQOOSMTJK-KNVOCYPGSA-N norbornene Chemical compound C1[C@@H]2CC[C@H]1C=C2 JFNLZVQOOSMTJK-KNVOCYPGSA-N 0.000 description 1
- 150000002848 norbornenes Chemical class 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- MTWNQMHWLWHXGH-XEUPFTBBSA-N pag 8 Chemical compound C([C@H]1O[C@H]([C@@H]([C@@H](OC(C)=O)[C@@H]1OC(C)=O)OC(C)=O)OC[C@H](C(C1O[C@H](COC(C)=O)[C@@H](OC(C)=O)[C@@H]([C@H]1OC(C)=O)O[C@@H]1O[C@H](COC(C)=O)[C@@H](OC(O)=O)[C@@H]([C@H]1OC(C)=O)O[C@@H]1O[C@H](COC(C)=O)[C@@H](OC(C)=O)[C@@H]([C@H]1OC(C)=O)O[C@@H]1O[C@@H]([C@H]([C@H](O[C@H]2[C@@H]([C@@H](OC(O)=O)[C@H](OC(C)=O)[C@@H](COC(C)=O)O2)OC(C)=O)[C@H]1OC(C)=O)OC(C)=O)COC(=O)C)C(O)=O)[C@@H](OC(C)=O)[C@@H](C(CC(C(C)=O)C(C)=O)OC(C)=O)C(C(C)=O)C(C)=O)OC(=C)O[C@@H]1O[C@H](CO)[C@@H](O)[C@H](O)[C@H]1O MTWNQMHWLWHXGH-XEUPFTBBSA-N 0.000 description 1
- FJKROLUGYXJWQN-UHFFFAOYSA-N papa-hydroxy-benzoic acid Natural products OC(=O)C1=CC=C(O)C=C1 FJKROLUGYXJWQN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000005010 perfluoroalkyl group Chemical group 0.000 description 1
- JGTNAGYHADQMCM-UHFFFAOYSA-N perfluorobutanesulfonic acid Chemical compound OS(=O)(=O)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F JGTNAGYHADQMCM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002978 peroxides Chemical class 0.000 description 1
- 125000000951 phenoxy group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(O*)C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- NTTOTNSKUYCDAV-UHFFFAOYSA-N potassium hydride Chemical compound [KH] NTTOTNSKUYCDAV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000105 potassium hydride Inorganic materials 0.000 description 1
- JLKDVMWYMMLWTI-UHFFFAOYSA-M potassium iodate Chemical compound [K+].[O-]I(=O)=O JLKDVMWYMMLWTI-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000001230 potassium iodate Substances 0.000 description 1
- 235000006666 potassium iodate Nutrition 0.000 description 1
- 229940093930 potassium iodate Drugs 0.000 description 1
- LLLCSBYSPJHDJX-UHFFFAOYSA-M potassium;2-methylprop-2-enoate Chemical compound [K+].CC(=C)C([O-])=O LLLCSBYSPJHDJX-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 108010001861 pregnancy-associated glycoprotein 1 Proteins 0.000 description 1
- 235000019260 propionic acid Nutrition 0.000 description 1
- 125000006239 protecting group Chemical group 0.000 description 1
- 150000003242 quaternary ammonium salts Chemical class 0.000 description 1
- IUVKMZGDUIUOCP-BTNSXGMBSA-N quinbolone Chemical compound O([C@H]1CC[C@H]2[C@H]3[C@@H]([C@]4(C=CC(=O)C=C4CC3)C)CC[C@@]21C)C1=CCCC1 IUVKMZGDUIUOCP-BTNSXGMBSA-N 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000030 sodium bicarbonate Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000017557 sodium bicarbonate Nutrition 0.000 description 1
- 229910000029 sodium carbonate Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000010267 sodium hydrogen sulphite Nutrition 0.000 description 1
- 229960001922 sodium perborate Drugs 0.000 description 1
- 229910052938 sodium sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000011152 sodium sulphate Nutrition 0.000 description 1
- YKLJGMBLPUQQOI-UHFFFAOYSA-M sodium;oxidooxy(oxo)borane Chemical compound [Na+].[O-]OB=O YKLJGMBLPUQQOI-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000011343 solid material Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 125000003011 styrenyl group Chemical group [H]\C(*)=C(/[H])C1=C([H])C([H])=C([H])C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 125000000475 sulfinyl group Chemical group [*:2]S([*:1])=O 0.000 description 1
- 150000003460 sulfonic acids Chemical class 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N tantalum nitride Chemical compound [Ta]#N MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010345 tape casting Methods 0.000 description 1
- 235000002906 tartaric acid Nutrition 0.000 description 1
- 239000011975 tartaric acid Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 150000005622 tetraalkylammonium hydroxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- JOXIMZWYDAKGHI-UHFFFAOYSA-N toluene-4-sulfonic acid Chemical compound CC1=CC=C(S(O)(=O)=O)C=C1 JOXIMZWYDAKGHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ITMCEJHCFYSIIV-UHFFFAOYSA-N triflic acid Chemical compound OS(=O)(=O)C(F)(F)F ITMCEJHCFYSIIV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SXPSZIHEWFTLEQ-UHFFFAOYSA-N tröger's base Chemical compound C12=CC=C(C)C=C2CN2C3=CC=C(C)C=C3CN1C2 SXPSZIHEWFTLEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 238000002211 ultraviolet spectrum Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/0045—Photosensitive materials with organic non-macromolecular light-sensitive compounds not otherwise provided for, e.g. dissolution inhibitors
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07C—ACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
- C07C307/00—Amides of sulfuric acids, i.e. compounds having singly-bound oxygen atoms of sulfate groups replaced by nitrogen atoms, not being part of nitro or nitroso groups
- C07C307/02—Monoamides of sulfuric acids or esters thereof, e.g. sulfamic acids
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07C—ACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
- C07C309/00—Sulfonic acids; Halides, esters, or anhydrides thereof
- C07C309/01—Sulfonic acids
- C07C309/02—Sulfonic acids having sulfo groups bound to acyclic carbon atoms
- C07C309/03—Sulfonic acids having sulfo groups bound to acyclic carbon atoms of an acyclic saturated carbon skeleton
- C07C309/04—Sulfonic acids having sulfo groups bound to acyclic carbon atoms of an acyclic saturated carbon skeleton containing only one sulfo group
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07C—ACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
- C07C309/00—Sulfonic acids; Halides, esters, or anhydrides thereof
- C07C309/01—Sulfonic acids
- C07C309/02—Sulfonic acids having sulfo groups bound to acyclic carbon atoms
- C07C309/03—Sulfonic acids having sulfo groups bound to acyclic carbon atoms of an acyclic saturated carbon skeleton
- C07C309/07—Sulfonic acids having sulfo groups bound to acyclic carbon atoms of an acyclic saturated carbon skeleton containing oxygen atoms bound to the carbon skeleton
- C07C309/12—Sulfonic acids having sulfo groups bound to acyclic carbon atoms of an acyclic saturated carbon skeleton containing oxygen atoms bound to the carbon skeleton containing esterified hydroxy groups bound to the carbon skeleton
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07C—ACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
- C07C309/00—Sulfonic acids; Halides, esters, or anhydrides thereof
- C07C309/01—Sulfonic acids
- C07C309/28—Sulfonic acids having sulfo groups bound to carbon atoms of six-membered aromatic rings of a carbon skeleton
- C07C309/41—Sulfonic acids having sulfo groups bound to carbon atoms of six-membered aromatic rings of a carbon skeleton containing singly-bound oxygen atoms bound to the carbon skeleton
- C07C309/42—Sulfonic acids having sulfo groups bound to carbon atoms of six-membered aromatic rings of a carbon skeleton containing singly-bound oxygen atoms bound to the carbon skeleton having the sulfo groups bound to carbon atoms of non-condensed six-membered aromatic rings
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07C—ACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
- C07C381/00—Compounds containing carbon and sulfur and having functional groups not covered by groups C07C301/00 - C07C337/00
- C07C381/12—Sulfonium compounds
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07D—HETEROCYCLIC COMPOUNDS
- C07D333/00—Heterocyclic compounds containing five-membered rings having one sulfur atom as the only ring hetero atom
- C07D333/50—Heterocyclic compounds containing five-membered rings having one sulfur atom as the only ring hetero atom condensed with carbocyclic rings or ring systems
- C07D333/76—Dibenzothiophenes
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08F—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
- C08F220/00—Copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and only one being terminated by only one carboxyl radical or a salt, anhydride ester, amide, imide or nitrile thereof
- C08F220/02—Monocarboxylic acids having less than ten carbon atoms; Derivatives thereof
- C08F220/10—Esters
- C08F220/38—Esters containing sulfur
- C08F220/382—Esters containing sulfur and containing oxygen, e.g. 2-sulfoethyl (meth)acrylate
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/0046—Photosensitive materials with perfluoro compounds, e.g. for dry lithography
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/039—Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists
- G03F7/0392—Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists the macromolecular compound being present in a chemically amplified positive photoresist composition
- G03F7/0397—Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists the macromolecular compound being present in a chemically amplified positive photoresist composition the macromolecular compound having an alicyclic moiety in a side chain
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/20—Exposure; Apparatus therefor
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S430/00—Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
- Y10S430/1053—Imaging affecting physical property or radiation sensitive material, or producing nonplanar or printing surface - process, composition, or product: radiation sensitive composition or product or process of making binder containing
- Y10S430/1055—Radiation sensitive composition or product or process of making
- Y10S430/114—Initiator containing
- Y10S430/122—Sulfur compound containing
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S430/00—Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
- Y10S430/1053—Imaging affecting physical property or radiation sensitive material, or producing nonplanar or printing surface - process, composition, or product: radiation sensitive composition or product or process of making binder containing
- Y10S430/1055—Radiation sensitive composition or product or process of making
- Y10S430/114—Initiator containing
- Y10S430/122—Sulfur compound containing
- Y10S430/123—Sulfur in heterocyclic ring
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S430/00—Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
- Y10S430/1053—Imaging affecting physical property or radiation sensitive material, or producing nonplanar or printing surface - process, composition, or product: radiation sensitive composition or product or process of making binder containing
- Y10S430/1055—Radiation sensitive composition or product or process of making
- Y10S430/114—Initiator containing
- Y10S430/126—Halogen compound containing
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Polymers & Plastics (AREA)
- Materials For Photolithography (AREA)
- Addition Polymer Or Copolymer, Post-Treatments, Or Chemical Modifications (AREA)
- Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)
Description
フォトレジスト組成物は前記コポリマーを含む。
コーティングされた基体は、基体表面上のパターン形成される1以上の層を有する基体、およびパターン形成される前記1以上の層上の前記フォトレジスト組成物の層を含む。
また、電子デバイスを形成する方法は、前記フォトレジスト組成物の層を基体上に適用し;フォトレジスト組成物層を活性化放射線にパターン様に(patternwise)露光し;および露光されたフォトレジスト組成物層を現像してレジストレリーフ像を提供することを含む。
4−ヒドロキシ−2,3,5,6−テトラフルオロベンゼンスルホン酸ナトリウム(50g、0.1865mol)が400mLのトリフルオロ酢酸中に懸濁された。メタクリル酸(40g、0.4646mol)が添加され、この混合物が油浴中で70℃に加熱された。75mLのトリフルオロ酢酸無水物が全て一度に添加され、この混合物が70℃で2時間攪拌された。この反応混合物は冷却され、ヒドロキノンの結晶(約12.5mg)が重合を禁止するために添加され、減圧下で溶媒が除去された。このようにして得られた粗生成物のペーストが約125mLのアセトン中に溶解され、ヘプタン中にゆっくりと注がれた。濾別によって沈殿物が集められ、一晩空気乾燥させられ、そしてさらに精製することなく次の工程に使用された。1H NMR(500MHz、アセトン−d6、δppm):6.5(s,1H)、6.1(s,1H)、2.1(s,3H)。19F NMR(300MHz、アセトン−d6、δppm):−156(s,2F)、−140.5(s,2F)。
1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイル−オキシ)エタン−1−スルホン酸トリエチルアンモニウム(5.00g、15.1mmol)および臭化(t−ブチルフェニル)(ジフェニル)スルホニウム(6.00g、15.0mmol)が、30mLのジクロロメタンおよび30mLの脱イオン水と共に、100mL丸底フラスコに入れられた。この混合物は激しく一晩攪拌された。攪拌が停止させられ、この混合物は2つの透明な層に別れ、有機相は30mLの0.1%塩酸水溶液で1回洗浄され、そして30mLの脱イオン水で4回洗浄された。ヒドロキノン(1mg)が添加され、ロータリーエバポレーションによってジクロロメタンが除かれ、無色の粘稠オイルとして生成物を得た(7.2g、87%収率)。このオイルはさらなる使用のためにアセトニトリル中で40重量%に溶解された。1H NMR(500MHz、アセトン−d6)δ7.9(m,14H)、6.1(s,1H)、5.7(s,1H)、4.7(m,2H)、1.9(s,3H)、1.3(s,9H)。19F NMR(300MHz、アセトン−d6)δ−115.7(s,2F)。
1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイル−オキシ)エタン−1−スルホン酸トリエチルアンモニウム(5.00g、15.1mmol)および酢酸(t−ブチルフェニル)(フェニル)ヨードニウム(5.98g、15.1mmol)が、30mLのジクロロメタンおよび30mLの蒸留脱イオン水と共に、100mL丸底フラスコに入れられた。この混合物は激しく一晩攪拌され、次いで停止させられ、そしてこの混合物は2つの透明な層に別れ、有機相は30mLの0.1%(w/w)塩酸水溶液で1回洗浄され、そして30mLの脱イオン水で4回洗浄された。ヒドロキノン(1mg)が添加され、ロータリーエバポレーションによってジクロロメタンが除かれ、無色の粘稠オイルとして生成物を得た(7.6g、89%収率)。このオイルはアセトニトリル中で50重量%に溶解された。1H NMR(500MHz、アセトン−d6)δ8.4(d,2H)、8.3(d,2H)、7.7(t,1H)、7.6(m,4H)、6.2(s,1H)、5.7(s,1H)、4.7(m,2H)、1.9(s,3H)、1.3(s,9H)。19F NMR(300MHz、アセトン−d6)δ−115.4(s,2F)。
4−ヒドロキシ−2,3,5,6−テトラフルオロベンゼンスルホン酸ナトリウム(50g、0.1865mol)が400mLのトリフルオロ酢酸中に懸濁された。メタクリル酸(40g、0.4646mol)が添加され、この混合物が油浴中で70℃に加熱された。75mLのトリフルオロ酢酸無水物が全て一度に添加され、この混合物が70℃で2時間攪拌された。この反応混合物は室温まで冷却された。、ヒドロキノンの結晶(約12.5mg)が添加され、減圧下で溶媒が完全に蒸留された。このようにして得られた粗生成物のペーストが約125mLのアセトン中に溶解され、ヘプタン中にゆっくりと注がれた。濾別によって沈殿生成物が集められ、一晩空気乾燥させられ、そしてさらに精製することなく使用された。19F NMR(300MHz、アセトン−d6、δppm):−164.40(s,2F)、−142.4(s,2F)。1H NMR(500MHz、アセトン−d6、δppm):6.47(s,1H)、6.07(s,1H)、2.07(s,3H)。
1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイルオキシ)エタン−1−スルホン酸トリエチルアンモニウム(4.00g、12.1mmol)および臭化フェニルジベンゾチオフェニウム(4.50g、31.2mmol)が、30mLのジクロロメタンおよび30mLの蒸留脱イオン水と共に、100mL丸底フラスコに入れられた。この混合物は激しく一晩攪拌された。攪拌が停止させられ、この混合物は2つの透明な層に別れ、有機相は30mLの1%塩酸水溶液で2回洗浄され、そして30mLの蒸留脱イオン水で5回洗浄された。ヒドロキノン(1mg)が添加され、ロータリーエバポレーションによってジクロロメタンが除かれ、固体として生成物を得た(3.9g、80%収率)。1H NMR(500MHz、CDCl3)δ8.2(m,4H)、7.8(t,2H)、7.7(d,2H)、7.6(m,3H)、7.5(t,2H)、6.2(s,1H)、5.6(s,1H)、4.9(m,2H)、1.9(s,3H)。19F NMR(300MHz、アセトン−d6)δ−115.8(s,2F)。
4−ヒドロキシ−1,1,2,2−テトラフルオロブタン−1−スルホン酸ナトリウムの合成。4−ブロモ3,3,4,4−テトラフルオロ−1−ブタノール(19.92g、88.54mmol)が、60mLのアセトニトリルおよび88mLの水中のNaHCO3(22.31g、265.6mmol)およびNa2S2O4(46.25g、265.6mmol)のスラリーに添加された。この混合物が約55℃で2日間ワックス浴中で攪拌することなく加熱された。温度が約80℃に上げられ、この混合物が攪拌された。追加の亜ジチオン酸ナトリウム(17g)および炭酸水素ナトリウム(15g)が添加された。この反応混合物は周囲温度まで冷却され、全ての固体材料が溶解するように追加の水(100mL)およびアセトニトリル(100mL)が添加された。層が分離した。水層が別にとっておかれ、追加の亜ジチオン酸ナトリウム(30g)および炭酸ナトリウム(38g)が約100mLの水と共にアセトニトリル層(200mL)に添加された。この反応混合物が約85℃で一晩加熱された。この溶液は冷却され、ろ過され、取っておかれた水層と一緒にされ、ロータリーエバポレータで揮発性物質が除かれた。固体が約200mLのエーテルで洗浄され、真空下で乾燥させられた。
4−ヒドロキシ−1,1,2,2−テトラフルオロブタン−1−スルホン酸ナトリウムを含んでいた上述の固体がメタノール(100mL)で抽出され、ろ過された。得られた淡黄色溶液は、7.5cmのアンバーライト120H酸イオン交換樹脂を充填した短いカラム(2.5cm直径)を通され、明褐色溶液を得た。追加のメタノールが使用されて、残りのスルホン酸をフラッシュした。減圧下で揮発性物質が除去されて、暗褐色オイルを得た。収率は15.453g、出発4−ブロモ3,3,4,4−テトラフルオロ−1−ブタノールを基準にして77%であった。
4−ヒドロキシ−1,1,2,2−テトラフルオロブタン−1−スルホン酸(6.78g、30.0mmol)が、V−チューブを介してシュレンク管に繋がれた50mLの丸底フラスコに入れられた。このシステムは真空下に置かれ、シュレンク管は液体窒素中に沈められた。このスルホン酸を含むフラスコは加熱ワックス浴に沈められ、温度が徐々に約160℃まで上げられた。生成物であるスルトンおよび水は徐々に留出し、レシーバー容器内で凍結した。融解させた後で、2層が形成していた。下のスルトン層はピペットで取り出され、無水硫酸マグネシウムで乾燥させられ、ろ過されて、無色液体として生成物を得た(3.85g、62%)。1H NMR(300MHz、CD3CN)δ:4.7(t,2H)、2.7(m,2H)。19F NMR(300MHz、CD3CN)δ:−113.3(m,2F)、−124.4(s,2F)。
メタクリル酸(1.708g、19.85mmol)が40mLのTHF中の水素化カリウム(1.150g、28.66mmol)にゆっくりと添加された。一晩攪拌後、反応混合物がろ過され、減圧下で揮発性物質が除去された。3,3,4,4−テトラフルオロブタンスルトン(3.260g、15.66mmol)、メタクリル酸(2.0mL)およびわずかなヒドロキノンの結晶がメタクリル酸カリウムに添加され、この混合物が一晩75℃で加熱された。アセトン(10mL)がこの混合物に添加された。固体が集められ、アセトンで洗浄され、減圧下で乾燥させられた。この固体は水で抽出され、ろ過され、減圧下で揮発性物質が除去されて、白色結晶固体を得た(4.10g、78.8%)。1H NMR(300MHz、D2O)δ:6.09(s,1H)、5.67(s,1H)、4.44(t,2H)、2.65(m,2H)。19F NMR(300MHz、D2O)δ:−112.3(s,2F)、−117.1(s,2F)。
1,1,2,2−テトラフルオロ−4−(メタクリロイルオキシ)ブタン−1−スルホン酸カリウム(2.00g、6.02mmol)および臭化トリフェニルスルホニウム(2.25g、6.57mmol)が、15mLのジクロロメタンおよび15mLの蒸留脱イオン水と共に、100mL丸底フラスコに入れられた。この混合物は36時間にわたって激しく攪拌された。攪拌は停止させられ、この混合物は2つの透明な層に分かれ、有機層が30mLの1%水酸化アンモニウム水溶液で2回洗浄され、30mLの蒸留脱イオン水で5回洗浄された。ヒドロキノン(1mg)が添加され、ロータリーエバポレーションによってジクロロメタンが除去されて、無色粘稠オイルとして生成物を得た(2.65g、4.76mmol、80%収率)。このオイルはアセトニトリルに溶かされた(50重量%)(3.9g)。1H NMR(500MHz、アセトン−d6)δ8.0(m,15H)、6.1(s,1H)、5.6(s,1H)、4.4(t,2H)、3.8(m,2H)、1.9(s,3H)。19F NMR(300MHz、アセトン−d6)δ−112.7(s,2F)、−119.8(s,2F)。
上述のように合成された1,1,2,2−テトラフルオロ−4−(メタクリロイルオキシ)ブタン−1−スルホン酸カリウム(1.91g、5.75mmol)および臭化フェニルジベンゾチオフェニウム(2.14g、6.27mmol)が、15mLのジクロロメタンおよび15mLの蒸留脱イオン水と共に、100mL丸底フラスコに入れられた。この混合物は週末にわたって激しく攪拌された。攪拌は停止させられ、この混合物は2つの透明な層に分かれ、有機層が30mLの1%水酸化アンモニウム水溶液で2回洗浄され、30mLの蒸留脱イオン水で5回洗浄された。ヒドロキノン(1mg)が添加され、ロータリーエバポレーションによってジクロロメタンが除去されて、白色固体として生成物を得た(2.41g、4.35mmol)。1H NMR(500MHz、アセトン−d6)δ8.0(m,15H)、6.1(s,1H)、5.6(s,1H)、4.4(t,2H)、3.8(m,2H)、1.9(s,3H)。19F NMR(300MHz、アセトン−d6)δ−112.7(s,2F)、−119.8(s,2F)。
4,4’−スルフィニルジフェノールの合成。
エタノール(350mL)中の過酸化水素(H2O中30重量%、50mL、0.382mol)およびトリフルオロメタンスルホン酸無水物(32.4mL、0.191mmol、0.5当量)の溶液が、エタノール(1.25L)中の4,4’−チオジフェノール(125g、0.573mol、1.5当量)の溶液に4時間にわたって滴下添加された。完全に添加した後で、この反応混合物が室温で30分間攪拌され、真空濃縮され、酢酸エチル(1L)で希釈され、そして水(600mL)で洗浄された。水層は酢酸エチル(3×600mL)で逆抽出され、合わせた有機層を乾燥させ(Na2SO4)、真空濃縮した。クルードの固体がメチルtert−ブチルエーテル(1L)で希釈され、一晩攪拌された。沈殿物はメチルtert−ブチルエーテル(3×500mL)で洗浄され、空気乾燥されて、標記化合物(100.50g)を白色固体として定量的収率で提供した。1H NMR(500MHz、アセトン−d6)δ8.85−9.05(brs,2H)、7.50(d,J8.5Hz,4H)、6.95(d,J8.5Hz,4H)。
フェノール(15.0g、0.159mol)、炭酸カリウム(26.4g、0.191mol、1.2当量)およびテトラメチルエチレンジアミン(0.92g、7.95mmol、0.05当量)がDMSO(100mL)に溶解され、室温で30分間攪拌された。次いで、1−ブロモ−2−(2−メトキシエトキシ)エタン(30.56g、0.166mol、1.04当量)が添加され、この溶液は18時間90℃に加熱され、室温に冷却された。この反応混合物は酢酸エチル(600mL)で希釈され、1Mの水酸化カリウム(3×300mL)で洗浄され、乾燥させられ(Na2SO4)、そして真空で濃縮されて、標記化合物(16.50g、52%)を橙色オイルとして得た。1H NMR(500MHz、(CD3)2CO)δ:7.27(dt,J=8.5Hz,1Hz,2H)、6.94(dd,J=8Hz,1Hz,2H)、6.92(dt,J=8Hz,1Hz,4H)、4.12(t,J=5Hz,2H)、3.80(t,J=5Hz,2H)、3.64(t,J=5Hz,2H)、3.50(t,J=5Hz,2Hz)、3.29(s,3H)。
4,4’−スルフィニルジフェノール(20.0g、85.0mmol)、炭酸カリウム(26.6g、0.192mol、2.26当量)およびテトラメチルエチレンジアミン(0.495g、4.25mmol、0.05当量)がDMSO(100mL)中に溶解され、室温で30分間攪拌された。次いで、1−ブロモ−2−(2−メトキシエトキシ)エタン(32.67g、0.179mmol、2.1当量)が添加され、この溶液が90℃で18時間加熱され、室温に冷却された。この反応混合物は酢酸エチル(600mL)で希釈され、水(5×500mL)で洗浄され、乾燥させられ(Na2SO4)、そして真空で濃縮されて標記化合物(33.40g、90%)を橙色オイルとして得た。1H NMR(500MHz、(CD3)2CO)δ:7.59(d,J=8.5Hz,4H)、7.07(d,J=8.5Hz,4H)、4.17(t,J=4.5Hz,4H)、3.80(t,J=5Hz,4H)、3.63(t,J=4.5Hz,4H)、3.48(t,J=4.5Hz,4Hz)、3.28(s,6H)。
比較PAG1(CP1)を含むポリマーの合成。
2−フェニル−2−プロピルメタクリラート(30.16g、0.1469mol)、アルファ−(ガンマブチロラクトン)メタクリラート(36.54g、0.2147mol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(28.40g、56.5mmol)およびトリフェニルスルホニウム1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイルオキシ)エタン−1−スルホナート(比較PAG1、16.69g、33.9mmol)が、184.14gの乳酸エチル/シクロヘキサノン(70/30 v/v)に溶解された。2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(11.24g、45.2mmol)がモノマー溶液に溶かされた。75℃に設定された油浴中であらかじめ加熱された容器に少量の溶媒(9.6g)が入れられ、5分後、この容器にモノマー溶液が4時間にわたって供給された。この反応混合物はさらに3.5時間加熱された。この反応液は室温まで冷却され、2760gの攪拌されたイソプロピルエーテルおよびメタノール(95:5 w/w)中で沈殿させられた。得られたポリマーは吸引ろ過によって単離され、真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、97g(%)のポリマーを白色粉体として得た。乾燥したポリマー(90g)が溶解させられ、そして再び攪拌されたイソプロピルエーテルおよびメタノール(95:5 w/w)の混合物中で沈殿させられた。得られた再沈殿ポリマーは再び吸引ろ過および真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、79g(88%)のポリマーを白色粉体として得た。13C NMR(500MHz,アセトン−d6)組成30/46/14/9モル%、Mw=5,648;Mw/Mn=1.58。
比較PAG1を含むポリマーの合成。
2−フェニル−2−プロピルメタクリラート(8.01g、39.2mmol)、アルファ−(ガンマブチロラクトン)メタクリラート(9.80g、57.2mmol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(7.54g、15.1mmol)およびトリフェニルスルホニウム1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイルオキシ)エタン−1−スルホナート(比較PAG1、4.45g、9.0mmol)が、94.0gのアセトニトリル/THF(2/1 v/v)に溶解された。2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(1.5g、6.0mmol)がモノマー溶液に溶かされた。67℃に設定された油浴中であらかじめ加熱された容器に少量の溶媒(4.6g)が入れられ、5分後、この容器にモノマー溶液が2時間にわたって供給された。この反応混合物はさらに2時間加熱された。この反応液は室温まで冷却され、959.5gの攪拌されたイソプロピルエーテルおよびメタノール(90:10 w/w)中で沈殿させられた。得られたポリマーは吸引ろ過によって単離され、真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、15.6g(53%)のポリマーを白色粉体として得た。乾燥したポリマー(11.8g)が溶解させられ、そして再び攪拌されたイソプロピルエーテルおよびメタノール(90:10 w/w)の混合物中で沈殿させられた。得られた再沈殿ポリマーは再び吸引ろ過および真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、10.1g(86%)のポリマーを白色粉体として得た。13C NMR(500MHz,アセトン−d6)組成31/47/13/9モル%、Mw=7,258;Mw/Mn=1.59。
比較PAG2を含むポリマーの合成。
2−メチル−2−アダマンチルメタクリラート(27.54g、0.1175mol)、アルファ−(ガンマブチロラクトン)メタクリラート(22.50g、0.1322mol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(14.70g、0.0294mol)およびトリフェニルスルホニウム2,3,5,6−テトラフルオロ−4−(メタクリロイルオキシ)ベンゼンスルホナート、アセトニトリル中50重量%(比較PAG2、16.95g、0.0147mol)が、211mLのアセトニトリル/THF(2/1 v/v)に溶解された。2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(3.65g、0.0147mol)がモノマー溶液に溶かされた。67℃に設定された油浴中であらかじめ加熱された容器に約5〜10mLのモノマー溶液が入れられ、5分後、この容器に残りのモノマー溶液が2時間にわたって供給された。この反応混合物はさらに2時間加熱された。この反応液は室温まで冷却され、2.5Lのメチル−t−ブチルエーテル中で沈殿させられた。得られたポリマーは吸引ろ過によって単離され、真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、39.6g(54%)のポリマーを白色粉体として得た。13C NMR(500MHz,アセトン−d6)組成37/45/10/8モル%、Mw=8,360;Mw/Mn=1.75。
PAG1を含むポリマーの合成。
2−メチル−2−アダマンチルメタクリラート(6.86g、29.3mmol)、アルファ−(ガンマブチロラクトン)メタクリラート(5.60g、3.29mmol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(3.66g、7.3mmol)およびt−ブチルフェニルジフェニルスルホニウム1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイルオキシ)エタン−1−スルホナート(PAG1;アセトニトリル中40重量%溶液、5.02g、3.70mmol)が、54gのアセトニトリル/テトラヒドロフラン(2:1 v/v)に溶解された。2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(0.91g、3.70mmol)がモノマー溶液に溶かされた。80℃に設定された油浴中であらかじめ加熱された容器に少量(〜5mL)のモノマー溶液が入れられ、5分後、この容器に残りのモノマー溶液が2時間にわたって供給された。この反応混合物はさらに2時間加熱された。この反応液は室温まで冷却され、0.65Lの攪拌されたメチルt−ブチルエーテル中で沈殿させられた。得られたポリマーは吸引ろ過によって単離され、真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、10.3g(55%)のポリマーを白色粉体として得た。13C NMR(500MHz,アセトン−d6)組成37/48/9/6モル%;Mw=8,365;Mw/Mn=1.55。
PAG2を含むポリマーの合成。
2−メチル−2−アダマンチルメタクリラート(6.86g、29.3mmol)、アルファ−(ガンマブチロラクトン)メタクリラート(5.60g、3.29mmol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(3.66g、7.3mmol)およびt−ブチルフェニルフェニルヨードニウム1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイルオキシ)エタン−1−スルホナート(PAG2;アセトニトリル中50重量%溶液、4.15g、3.70mmol)が、52gのアセトニトリル/テトラヒドロフラン(2:1 v/v)に溶解された。2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(0.91g、3.70mmol)がモノマー溶液に溶かされた。80℃に設定された油浴中であらかじめ加熱された容器に少量(〜5mL)のモノマー溶液が入れられ、5分後、この容器に残りのモノマー溶液が2時間にわたって供給された。この反応混合物はさらに2時間加熱された。この反応液は冷却され、0.65Lの攪拌されたメチルt−ブチルエーテル中で沈殿させられた。得られたポリマーはろ過によって単離され、真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、7.6g(42%)のポリマーを白色粉体として得た。13C NMR(500MHz,アセトン−d6)組成37/47/10/9モル%;Mw=10,210;Mw/Mn=1.59。
PAG3を含むポリマーの合成。
エチルシクロヘキシルメタクリラート(6.0g、0.0306mol)、ガンマブチロラクトン(7.6g、0.0447mol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(6.07g、0.0118mol)およびジ(t−ブチルフェニル)ヨードニウム2,3,5,6−テトラフルオロ−1−(メタクリロイルオキシ)ベンゼン−4−スルホナート(PAG3、4.98g、0.0771mol)が、68gのTHF/アセトニトリル(1/2 v/v)に溶解された。2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(1.17g、0.0047mol)がモノマー溶液に溶かされた。80℃に設定された油浴中であらかじめ加熱された容器に少量(〜5g)の重合溶媒が入れられ、5分後、この容器に残りのモノマー溶液が2時間にわたって供給された。この反応混合物はさらに2時間加熱された。この反応液は室温まで冷却され、1Lの攪拌されたメチルt−ブチルエーテルおよびメタノール(95/5 v/v)中で沈殿させられた。生じた白色粉体ポリマーはろ過によって単離され、真空で45℃で48時間乾燥させられた(収率15.5g、70%)。Mw=15,100g/mol;Mw/Mn=1.56。
PAG4を含むポリマーの合成。
2−フェニル−2−プロピルメタクリラート(6.02g、29.40mmol)、アルファ−(ガンマブチロラクトン)メタクリラート(7.34g、42.90mmol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(5.66g、11.30mmol)およびフェニルジベンゾチオフェニウム1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイルオキシ)エタン−1−スルホナート(PAG4、2.36g、6.80mmol)が、36.8gの乳酸エチル/シクロヘキサノン/テトラヒドロフラン(THF)(60:20:20 w/w)に溶解された。2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(2.24g、9.00mmol)がモノマー溶液に溶かされた。75℃に設定された油浴中であらかじめ加熱された容器に少量(〜5mL)のモノマー溶液が入れられ、5分後、この容器に残りのモノマー溶液が4時間にわたって供給された。この反応混合物はさらに3.5時間加熱された。この反応液は室温まで冷却され、560gの攪拌されたイソプロピルエーテルおよびメタノール(95:5 w/w)中で沈殿させられた。得られたポリマーは吸引ろ過によって単離され、真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、17g(76.3%)のポリマーを白色粉体として得た。乾燥したポリマー(14g)がTHF中に25重量%固形分で溶解させられ、そして再び攪拌されたイソプロピルエーテルおよびメタノール(95:5 w/w)の混合物中で沈殿させられた。得られた再沈殿ポリマーは再び吸引ろ過および真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、12g(86%)のポリマーを白色粉体として得た。13C NMR(500MHz,アセトン−d6)組成31/46/14/9モル%;Mw=4,381;Mw/Mn=1.55。
PAG5を含むポリマーの合成。
2−フェニル−2−プロピルメタクリラート(3.32g、16.25mmol)、アルファ−(ガンマブチロラクトン)メタクリラート(4.40g、23.75mmol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(3.13g、6.25mmol)およびトリフェニルスルホニウム1,1,2,2−テトラフルオロ−4−(メタクリロイルオキシ)ブタン−1−スルホナート(PAG5;アセトニトリル中50重量%溶液;4.17g、3.75mmol)が、16.8gの乳酸エチル/シクロヘキサノン(70:30 v/v)に溶解された。2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(1.24g、3.75mmol)がモノマー溶液に溶かされた。80℃に設定された油浴中であらかじめ加熱された容器に少量(〜5mL)のモノマー溶液が入れられ、5分後、この容器に残りのモノマー溶液が4時間にわたって供給された。この反応混合物はさらに2時間加熱された。この反応液は室温まで冷却され、1Lの攪拌されたメチルt−ブチルエーテルおよび2−プロパノール(90:10 v/v)中で沈殿させられた。得られたポリマーは吸引ろ過によって単離され、真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、7.3g(58%)のポリマーを白色粉体として得た。13C NMR(500MHz,アセトン−d6)組成32/50/10/8モル%;Mw=6,430;Mw/Mn=1.52。
PAG6を含むポリマーの合成。
2−フェニル−2−プロピルメタクリラート(3.02g、14.63mmol)、アルファ−(ガンマブチロラクトン)メタクリラート(3.69g、21.38mmol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(2.86g、5.63mmol)およびフェニルジベンゾチオフェニウム1,1,2,2−テトラフルオロ−4−(メタクリロイルオキシ)ブタン−1−スルホナート(PAG6、1.88g、3.38mmol)が、16.8gの乳酸エチル/シクロヘキサノン(70:30 v/v)に溶解された。2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(1.16g、4.50mmol)がモノマー溶液に溶かされた。75℃に設定された油浴中であらかじめ加熱された容器に少量(〜5mL)のモノマー溶液が入れられ、5分後、この容器に残りのモノマー溶液が4時間にわたって供給された。この反応混合物はさらに3.5時間加熱された。この反応液は室温まで冷却され、70mLの攪拌されたイソプロピルエーテルおよびメタノール(95:5 w/w)中で沈殿させられた。得られたポリマーは吸引ろ過によって単離され、真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、6.1g(53%)のポリマーを白色粉体として得た。乾燥したポリマー(5g)がTHF中に25重量%固形分で溶解させられ、そして再び攪拌されたイソプロピルエーテルおよびメタノール(95:5 w/w)の混合物中で沈殿させられた。生じたポリマーは吸引ろ過によって単離され、そして真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、3.6g(72%)のポリマーを白色粉体として得た。13C NMR(500MHz,アセトン−d6)組成28/20/12.5/9.5モル%;Mw=4,044;Mw/Mn=1.74。
PAG7を含むポリマーの合成。
2−フェニル−2−プロピルメタクリラート(0.41g、mmol)、アルファ−(ガンマブチロラクトン)メタクリラート(0.34g、mmol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(0.58g、mmol)およびトリス(4−(2−(2−メトキシエトキシ)エトキシ)フェニル)スルホニウム1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイルオキシ)エタンスルホナート(PAG8、0.65g、mmol)が、14.2gの乳酸エチル/シクロヘキサノン(70:30 v/v)に溶解され、75℃に設定された油浴中であらかじめ加熱された容器に入れられた。2−フェニル−2−プロピルメタクリラート(4.64g、24.5mmol)、アルファ−(ガンマブチロラクトン)メタクリラート(5.80g、35.8mmol)、3,5−ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−ヒドロキシプロパン−2−イル)シクロヘキシルメタクリラート(4.18g、9.4mmol)、トリス(4−(2−(2−メトキシエトキシ)エトキシ)フェニル)スルホニウム1,1−ジフルオロ−2−(メタクリロイルオキシ)エタンスルホナート(アセトニトリル中に50重量%で溶解されたもの)(PAG7、9.90g、5.60mmol)および2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)(1.86g、7.50mmol)が、14.8gの乳酸エチル/シクロヘキサノン(70:30 v/v)に溶解された。この溶液が4時間にわたって前記反応容器に供給された。この反応混合物はさらに3.5時間加熱された。この反応液は室温まで冷却され、370gの攪拌されたイソプロピルエーテルおよびメタノール(90:10 w/w)中で沈殿させられた。得られたポリマーは吸引ろ過によって単離され、真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、8.0g(39%)のポリマーを白色粉体として得た。乾燥したポリマー(7.0g)がTHF中に40重量%固形分で溶解させられ、そして再び攪拌されたイソプロピルエーテルおよびメタノール(80:20 w/w)の混合物中で沈殿させられた。生じたポリマーは吸引ろ過によって単離され、そして真空オーブン内で45℃で48時間乾燥させられて、5.8g(83%)のポリマーを白色粉体として得た。13C NMR(500MHz,アセトン−d6)組成38/49/8/5モル%。
リソグラフィ性能データを得るために、それぞれ、比較ポリマー例1A、1B、2およびポリマー実施例1〜7のポジティブトーンフォトレジスト組成物である、比較配合物例1A、1Bおよび2、並びに配合物実施例1〜7が準備された。
比較ポリマー1A(1.000g)、テトラメチルアンモニウムヒドロキシドおよび2−ヒドロキシ安息香酸から形成されるクエンチャーの乳酸エチル(EL)中1重量%溶液1.000g、EL中のOmnova(オムノバ)PF656界面活性剤の0.5重量%溶液0.200g、EL溶媒26.100gおよびシクロヘキサン溶媒(CH)11.700gを混合することにより、ポジティブトーンフォトレジスト組成物が製造され、このフォトレジスト組成物はろ過された(0.2μm)。
配合物実施例3、4および7のフォトレジストサンプルが、EUV露光ドース−ツー−クリア(dose−to−clear)(E0)値の2.3〜2.5倍の倍率での、残留ガス分析(RGA)によって分析された。ウェハ上のEUV照射は〜10mm2のスポットサイズおよび〜4mW/cm2の出力密度(power density)を使用する。このRGA試験は超高真空(〜1.5E−8mbar)下で行われる。RGA方法のさらなる詳細はポレンティエル(Pollentier)らによってProc.SPIE、2009、7271〜7246ページおよびProc.SPIE、2010、7636ページに記載されるのと同様である。
Claims (10)
- 下記式:
- 請求項1または2に記載の化合物から形成される第1重合単位、酸感受性官能基を含む第2重合単位、および場合によって、極性基含有第3重合単位を含むコポリマー。
- 式(I):
で表される化合物から形成される第1重合単位、酸感受性官能基を含む第2重合単位、および下記式:
- 請求項3〜6のいずれか1項に記載のコポリマーを含むフォトレジスト組成物。
- (a)基体表面上のパターン形成される1以上の層を有する基体、および
(b)パターン形成される前記1以上の層上の、請求項7に記載のフォトレジスト組成物の層
を含む、コーティングされた基体。 - (a)請求項7に記載のフォトレジスト組成物の層を基体上に適用し、
(b)フォトレジスト組成物層を活性化放射線にパターン様に露光し、および
(c)露光されたフォトレジスト組成物層を現像してレジストレリーフ像を提供する
ことを含む、電子デバイスを形成する方法。 - 放射線が極端紫外線もしくはeビーム放射線である請求項9に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201061429009P | 2010-12-31 | 2010-12-31 | |
US61/429,009 | 2010-12-31 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012140620A JP2012140620A (ja) | 2012-07-26 |
JP2012140620A5 JP2012140620A5 (ja) | 2012-12-20 |
JP5941280B2 true JP5941280B2 (ja) | 2016-06-29 |
Family
ID=45491311
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011287304A Active JP5941280B2 (ja) | 2010-12-31 | 2011-12-28 | 重合性光酸発生剤 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8900792B2 (ja) |
EP (1) | EP2472323A3 (ja) |
JP (1) | JP5941280B2 (ja) |
KR (1) | KR101428023B1 (ja) |
CN (1) | CN102603579B (ja) |
TW (1) | TWI506013B (ja) |
Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2472322A2 (en) * | 2010-12-31 | 2012-07-04 | Rohm and Haas Electronic Materials LLC | Photoacid generating monomer and precursor thereof |
EP2472323A3 (en) | 2010-12-31 | 2013-01-16 | Rohm and Haas Electronic Materials LLC | Polymerizable photoacid generators |
JP5978137B2 (ja) * | 2012-02-23 | 2016-08-24 | 東京応化工業株式会社 | レジスト組成物、レジストパターン形成方法 |
JP6297269B2 (ja) * | 2012-06-28 | 2018-03-20 | ローム アンド ハース エレクトロニック マテリアルズ エルエルシーRohm and Haas Electronic Materials LLC | ポリマー組成物、このポリマー組成物を含むフォトレジスト、およびこのフォトレジストを含むコーティングされた物品 |
JP6031420B2 (ja) * | 2012-08-31 | 2016-11-24 | ダウ グローバル テクノロジーズ エルエルシー | 光酸発生剤を含む末端基を含むポリマー、前記ポリマーを含むフォトレジストおよびデバイスの製造方法 |
US9017934B2 (en) | 2013-03-08 | 2015-04-28 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Photoresist defect reduction system and method |
US9543147B2 (en) | 2013-03-12 | 2017-01-10 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Photoresist and method of manufacture |
US8932799B2 (en) | 2013-03-12 | 2015-01-13 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Photoresist system and method |
US9256128B2 (en) | 2013-03-12 | 2016-02-09 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Method for manufacturing semiconductor device |
US9354521B2 (en) | 2013-03-12 | 2016-05-31 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Photoresist system and method |
US9245751B2 (en) | 2013-03-12 | 2016-01-26 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Anti-reflective layer and method |
US9502231B2 (en) | 2013-03-12 | 2016-11-22 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Photoresist layer and method |
US9110376B2 (en) | 2013-03-12 | 2015-08-18 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Photoresist system and method |
US9175173B2 (en) | 2013-03-12 | 2015-11-03 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Unlocking layer and method |
JP5812030B2 (ja) * | 2013-03-13 | 2015-11-11 | 信越化学工業株式会社 | スルホニウム塩及び高分子化合物、レジスト材料及びパターン形成方法 |
US9117881B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-08-25 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Conductive line system and process |
JP6093614B2 (ja) * | 2013-03-25 | 2017-03-08 | 東京応化工業株式会社 | レジスト組成物及びレジストパターン形成方法 |
US9341945B2 (en) | 2013-08-22 | 2016-05-17 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Photoresist and method of formation and use |
US10036953B2 (en) | 2013-11-08 | 2018-07-31 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | Photoresist system and method |
US10095113B2 (en) | 2013-12-06 | 2018-10-09 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | Photoresist and method |
US9581901B2 (en) * | 2013-12-19 | 2017-02-28 | Rohm And Haas Electronic Materials Llc | Photoacid-generating copolymer and associated photoresist composition, coated substrate, and method of forming an electronic device |
US9229319B2 (en) * | 2013-12-19 | 2016-01-05 | Rohm And Haas Electronic Materials Llc | Photoacid-generating copolymer and associated photoresist composition, coated substrate, and method of forming an electronic device |
US9182669B2 (en) * | 2013-12-19 | 2015-11-10 | Rohm And Haas Electronic Materials Llc | Copolymer with acid-labile group, photoresist composition, coated substrate, and method of forming an electronic device |
US9761449B2 (en) | 2013-12-30 | 2017-09-12 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Gap filling materials and methods |
KR20150086050A (ko) * | 2014-01-17 | 2015-07-27 | 동우 화인켐 주식회사 | 신규의 설포닐이미드 염화합물, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 광산 발생제 및 감광성 수지 조성물 |
US9599896B2 (en) | 2014-03-14 | 2017-03-21 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Photoresist system and method |
US9581908B2 (en) | 2014-05-16 | 2017-02-28 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Photoresist and method |
US9244345B1 (en) | 2014-11-06 | 2016-01-26 | International Business Machines Corporation | Non-ionic photo-acid generating polymers for resist applications |
US11613519B2 (en) | 2016-02-29 | 2023-03-28 | Rohm And Haas Electronic Materials Llc | Photoacid-generating monomer, polymer derived therefrom, photoresist composition including the polymer, and method of forming a photoresist relief image using the photoresist composition |
JP6780602B2 (ja) * | 2017-07-31 | 2020-11-04 | 信越化学工業株式会社 | レジスト組成物及びパターン形成方法 |
KR20210070376A (ko) | 2018-11-02 | 2021-06-14 | 브레우어 사이언스, 인코포레이션 | Pag-고정된 표면 상의 상향식 컨포멀 코팅 및 광패턴화 |
JP7226095B2 (ja) * | 2019-05-24 | 2023-02-21 | 信越化学工業株式会社 | オニウム塩化合物、化学増幅レジスト組成物、及びパターン形成方法 |
CN114262404B (zh) * | 2020-09-16 | 2023-06-30 | 宁波南大光电材料有限公司 | 光敏树脂及应用该光敏树脂的光刻胶组合物 |
WO2022056700A1 (zh) * | 2020-09-16 | 2022-03-24 | 宁波南大光电材料有限公司 | 光敏树脂及应用该光敏树脂的光刻胶组合物 |
CN113173870A (zh) * | 2021-03-18 | 2021-07-27 | 河北凯诺中星科技有限公司 | 一种樟脑磺酸对苯碘鎓盐的制备方法 |
US20220397827A1 (en) * | 2021-05-28 | 2022-12-15 | Rohm And Haas Electronic Materials Korea Ltd. | Composition for photoresist underlayer |
Family Cites Families (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2964557A (en) | 1958-03-13 | 1960-12-13 | Rohm & Haas | Method for preparing salts of sulfoalkyl methacrylates |
JPS4936214B1 (ja) | 1970-01-28 | 1974-09-28 | ||
JP3613491B2 (ja) | 1996-06-04 | 2005-01-26 | 富士写真フイルム株式会社 | 感光性組成物 |
US7008749B2 (en) * | 2001-03-12 | 2006-03-07 | The University Of North Carolina At Charlotte | High resolution resists for next generation lithographies |
US7833690B2 (en) | 2001-11-05 | 2010-11-16 | The University Of North Carolina At Charlotte | Photoacid generators and lithographic resists comprising the same |
JP2006219419A (ja) | 2005-02-10 | 2006-08-24 | Asahi Kasei Corp | パーフルオロビニルエーテルモノマーの製造法 |
EP1750176A3 (en) * | 2005-08-03 | 2011-04-20 | JSR Corporation | Positive-type radiation-sensitive resin composition for producing a metal-plating formed material, transcription film and production method of a metal-plating formed material |
TWI416253B (zh) | 2006-11-10 | 2013-11-21 | Jsr Corp | 敏輻射線性樹脂組成物 |
US7956142B2 (en) | 2006-11-10 | 2011-06-07 | Jsr Corporation | Polymerizable sulfonic acid onium salt and resin |
US7776510B2 (en) | 2007-06-13 | 2010-08-17 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Resist composition, method of forming resist pattern, compound and acid generator |
JP5066405B2 (ja) | 2007-08-02 | 2012-11-07 | 富士フイルム株式会社 | 電子線、x線又はeuv用レジスト組成物及び該組成物を用いたパターン形成方法 |
WO2009019793A1 (ja) * | 2007-08-09 | 2009-02-12 | Jsr Corporation | パターン形成方法並びにそれに用いられる感放射線性樹脂組成物及び感放射線性酸発生基含有樹脂 |
JP5347349B2 (ja) * | 2007-09-18 | 2013-11-20 | セントラル硝子株式会社 | 2−ブロモ−2,2−ジフルオロエタノール及び2−(アルキルカルボニルオキシ)−1,1−ジフルオロエタンスルホン酸塩類の製造方法 |
JP5131482B2 (ja) * | 2008-02-13 | 2013-01-30 | 信越化学工業株式会社 | ポジ型レジスト材料及びパターン形成方法 |
JP4998746B2 (ja) * | 2008-04-24 | 2012-08-15 | 信越化学工業株式会社 | スルホニウム塩を含む高分子化合物、レジスト材料及びパターン形成方法 |
US8685616B2 (en) * | 2008-06-10 | 2014-04-01 | University Of North Carolina At Charlotte | Photoacid generators and lithographic resists comprising the same |
JP5313579B2 (ja) | 2008-07-24 | 2013-10-09 | 関東電化工業株式会社 | 新規なフッ素化された1,2−オキサチオラン2,2−ジオキシドの製造方法 |
JP5481046B2 (ja) | 2008-08-13 | 2014-04-23 | 東京応化工業株式会社 | レジスト組成物、レジストパターン形成方法、新規な化合物および酸発生剤 |
JP5841707B2 (ja) * | 2008-09-05 | 2016-01-13 | 富士フイルム株式会社 | ポジ型レジスト組成物、該組成物を用いたパターン形成方法及び該組成物に用いられる樹脂 |
JP5401910B2 (ja) * | 2008-10-17 | 2014-01-29 | セントラル硝子株式会社 | 重合性アニオンを有する含フッ素スルホン塩類とその製造方法、含フッ素樹脂、レジスト組成物及びそれを用いたパターン形成方法 |
JP5417150B2 (ja) * | 2008-12-18 | 2014-02-12 | 富士フイルム株式会社 | 感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物、レジスト膜、それを用いたパターン形成方法、及び樹脂 |
TWI485511B (zh) * | 2009-03-27 | 2015-05-21 | Jsr Corp | 敏輻射線性樹脂組成物及聚合物 |
JP5851688B2 (ja) * | 2009-12-31 | 2016-02-03 | ローム アンド ハース エレクトロニック マテリアルズ エルエルシーRohm and Haas Electronic Materials LLC | 感光性組成物 |
JP5597460B2 (ja) * | 2010-01-05 | 2014-10-01 | 東京応化工業株式会社 | ポジ型レジスト組成物、レジストパターン形成方法、高分子化合物 |
EP2472323A3 (en) | 2010-12-31 | 2013-01-16 | Rohm and Haas Electronic Materials LLC | Polymerizable photoacid generators |
-
2011
- 2011-12-23 EP EP11195707A patent/EP2472323A3/en not_active Withdrawn
- 2011-12-28 JP JP2011287304A patent/JP5941280B2/ja active Active
- 2011-12-29 US US13/339,948 patent/US8900792B2/en active Active
- 2011-12-29 TW TW100149500A patent/TWI506013B/zh active
- 2011-12-30 KR KR1020110147342A patent/KR101428023B1/ko active IP Right Grant
- 2011-12-31 CN CN201110463334.9A patent/CN102603579B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8900792B2 (en) | 2014-12-02 |
JP2012140620A (ja) | 2012-07-26 |
EP2472323A2 (en) | 2012-07-04 |
TWI506013B (zh) | 2015-11-01 |
CN102603579B (zh) | 2014-12-31 |
EP2472323A3 (en) | 2013-01-16 |
KR20120078650A (ko) | 2012-07-10 |
TW201240961A (en) | 2012-10-16 |
CN102603579A (zh) | 2012-07-25 |
KR101428023B1 (ko) | 2014-08-08 |
US20120171616A1 (en) | 2012-07-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5941280B2 (ja) | 重合性光酸発生剤 | |
JP6525377B2 (ja) | 複数の酸発生剤化合物を含むフォトレジスト | |
JP6049250B2 (ja) | 光酸発生剤 | |
TWI514080B (zh) | 正型光阻組成物,光阻圖型之形成方法 | |
TWI465844B (zh) | 光阻組成物,光阻圖型之形成方法,化合物,及酸產生劑 | |
TWI578098B (zh) | 光阻組成物、光阻圖型之形成方法及高分子化合物 | |
TWI501029B (zh) | 高分子化合物之製造方法 | |
JP6031420B2 (ja) | 光酸発生剤を含む末端基を含むポリマー、前記ポリマーを含むフォトレジストおよびデバイスの製造方法 | |
JP5961458B2 (ja) | ポリマー組成物およびこれを含むフォトレジスト | |
TW201100965A (en) | Positive resist composition and method of forming resist pattern | |
TW201634498A (zh) | 聚合物、光阻材料及圖案形成方法 | |
TW201003319A (en) | Positive resist composition, method of forming resist pattern, and polymeric compound | |
WO2018074382A1 (ja) | 組成物及びそれを用いたデバイスの製造方法 | |
KR20120052884A (ko) | 염기 반응성 포토애시드 발생제 및 이를 포함하는 포토레지스트 | |
JP6965232B2 (ja) | 塩およびそれを含むフォトレジスト | |
JP2018135529A (ja) | 感光性コポリマー、このコポリマーを含むフォトレジスト組成物、およびこれから形成される物品 | |
TW200841128A (en) | Positive resist composition and method of forming resist pattern | |
TW200914991A (en) | Resist composition, method of forming resist pattern, compound and acid generator | |
JP6595166B2 (ja) | アリールアセテートオニウム材料 | |
TW201435491A (zh) | 光阻組成物、高分子化合物、化合物及光阻圖型之形成方法 | |
KR102012203B1 (ko) | 오늄 화합물 및 그의 합성방법 | |
JP5830503B2 (ja) | 酸発生剤化合物およびそれを含むフォトレジスト | |
TW201229064A (en) | Photosensitive copolymer and photoresist composition | |
JP6948828B2 (ja) | ヨードニウム塩化合物、それを含有する光酸発生剤及び組成物、並びに、デバイスの製造方法 | |
JP2020176096A (ja) | オニウム塩、組成物及びそれを用いたデバイスの製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A524 | Written submission of copy of amendment under article 19 pct |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A524 Effective date: 20121106 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20141020 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150902 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150907 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20151125 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160506 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160520 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5941280 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |